JPH056517A - 薄膜ヘツドのノイズ検査方法 - Google Patents
薄膜ヘツドのノイズ検査方法Info
- Publication number
- JPH056517A JPH056517A JP16004691A JP16004691A JPH056517A JP H056517 A JPH056517 A JP H056517A JP 16004691 A JP16004691 A JP 16004691A JP 16004691 A JP16004691 A JP 16004691A JP H056517 A JPH056517 A JP H056517A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- test
- thin film
- noise
- film head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ヘッドテスターにおけるヘッドの書込み（Ｗ
Ｒ）と読出し（ＲＤ）の切り替えを多数回行うことによ
り、ポップコーンノイズを効率的に検出して検査時間を
短縮する。 【構成】 ヘッドテスターに装着されたテストディスク
に対して被検査の薄膜ヘッドをローディングし、ディス
クの第１回目の１回転によりテストトラックをイレーズ
する。第２回目の１回転により、テストラックに設けら
れる各セクタごとに、ヘッドをＷＲ動作とＲＤ動作に切
り替えてテストデータの書込みと、切り替えによりヘッ
ドの磁性体の磁区の移動によりに生ずるポップコーンノ
イズＮp の検出を行う。第３回目の１回転により、書込
みされた各セクタのテストデータを読出してサンプリン
グし、テストデータのテストトラックに対する平均レベ
ルＳを求め、検出された各ノイズＮp に対するＳ／Ｎp
比を算出する。
Ｒ）と読出し（ＲＤ）の切り替えを多数回行うことによ
り、ポップコーンノイズを効率的に検出して検査時間を
短縮する。 【構成】 ヘッドテスターに装着されたテストディスク
に対して被検査の薄膜ヘッドをローディングし、ディス
クの第１回目の１回転によりテストトラックをイレーズ
する。第２回目の１回転により、テストラックに設けら
れる各セクタごとに、ヘッドをＷＲ動作とＲＤ動作に切
り替えてテストデータの書込みと、切り替えによりヘッ
ドの磁性体の磁区の移動によりに生ずるポップコーンノ
イズＮp の検出を行う。第３回目の１回転により、書込
みされた各セクタのテストデータを読出してサンプリン
グし、テストデータのテストトラックに対する平均レベ
ルＳを求め、検出された各ノイズＮp に対するＳ／Ｎp
比を算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、薄膜ヘッドのノイズ
の検査方法に関するものである。
の検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク装置に使用される薄膜ヘッ
ドは、製造段階でヘッドテスターにより性能検査が行わ
れる。薄膜ヘッドの場合は俗にポップコーンと呼ばれる
ノイズが発生するので、その測定検査が重要である。図
２により薄膜ヘッド（以下単にヘッドという）に発生す
るポップコーンノイズに対する従来の測定方法を説明す
る。(a) はヘッドテスターの説明図で、テスト用の磁気
ディスク（以下単にディスクという）１はヘッドテスタ
ーのスピンドル２に装着されてθ方向に回転する。これ
に対して、ヘッド３はキャリッジ機構４に支持されてデ
ィスクの半径方向に移動し、テストトラック11をシーク
して停止する。ついで、ヘッドはローディングピン５に
よりディスクの表面に接近してローディングされる。
(b) はポップコーンノイズＮp の発生を説明するもの
で、薄膜ヘッドの磁性体を構成する微小な磁区の移動
が、データの書込み（ＷＲ）と読出し（ＲＤ）の切り替
えに迅速に追従することができず、ＷＲからＲＤに切り
替えた直後の磁区の移動により、ポップコーンノイズＮ
p を発生することがある。これに対して、大型のディス
クの場合は、トラックごとにＷＲとＲＤが切り替えら
れ、切り替えにはヘッドのシーク移動が伴うので、デー
タに対してポップコーンノイズＮp は影響しない。しか
し、３．５〜５．０インチの小型ディスク装置において
は、図(a) に示したｎ個のセクタｓ0 〜ｓ(n-1) ごとに
ＷＲとＲＤの切り替えが行われ、切り替え直後には格別
なスペースが設けられないので、発生したポップコーン
ノイズＮp によりＳ／Ｎp が低下してデータの品質を阻
害する。(c) はポップコーンノイズＮp の従来の測定順
序を示し、ディスクの角度基準を示すインデックス信号
（ＩＮＤＸ）を起点としてトラックの１周に対してテス
トデータがＷＲされ、つづくディスクの１回転によりこ
れがＲＤされて適当にサンプリングされ、トラック１周
に対する平均レベルＳが算出される。次に、ポップコー
ンノイズＮp の測定においてはヘッドはディスクと無関
係でも差し支えないので、上記においてローディングさ
れているヘッドをアンローディング（図示ヘッドロード
オフ）し、ディスクの１回転中にデータの書込みは行わ
ず、ヘッドは単にＷＲの動作のみを行い、つづく１回転
でヘッドをＲＤに切り替えて上記のノイズＮp を検出す
る。さらにディスクをｍ回、回転してこのよなＷＲの動
作とＮp の検出をｍ回繰り返し、えられたノイズＮp に
対する上記のテストデータの平均レベルを求め、各ポッ
プコーンノイズＮP に対し、Ｓ値を基準にしたスライス
をかけ、これを上まわるノイズＮP ＧＡどれくらいカウ
ントされるかでポップコーンノイズに対する良否を判定
する。
ドは、製造段階でヘッドテスターにより性能検査が行わ
れる。薄膜ヘッドの場合は俗にポップコーンと呼ばれる
ノイズが発生するので、その測定検査が重要である。図
２により薄膜ヘッド（以下単にヘッドという）に発生す
るポップコーンノイズに対する従来の測定方法を説明す
る。(a) はヘッドテスターの説明図で、テスト用の磁気
ディスク（以下単にディスクという）１はヘッドテスタ
ーのスピンドル２に装着されてθ方向に回転する。これ
に対して、ヘッド３はキャリッジ機構４に支持されてデ
ィスクの半径方向に移動し、テストトラック11をシーク
して停止する。ついで、ヘッドはローディングピン５に
よりディスクの表面に接近してローディングされる。
(b) はポップコーンノイズＮp の発生を説明するもの
で、薄膜ヘッドの磁性体を構成する微小な磁区の移動
が、データの書込み（ＷＲ）と読出し（ＲＤ）の切り替
えに迅速に追従することができず、ＷＲからＲＤに切り
替えた直後の磁区の移動により、ポップコーンノイズＮ
p を発生することがある。これに対して、大型のディス
クの場合は、トラックごとにＷＲとＲＤが切り替えら
れ、切り替えにはヘッドのシーク移動が伴うので、デー
タに対してポップコーンノイズＮp は影響しない。しか
し、３．５〜５．０インチの小型ディスク装置において
は、図(a) に示したｎ個のセクタｓ0 〜ｓ(n-1) ごとに
ＷＲとＲＤの切り替えが行われ、切り替え直後には格別
なスペースが設けられないので、発生したポップコーン
ノイズＮp によりＳ／Ｎp が低下してデータの品質を阻
害する。(c) はポップコーンノイズＮp の従来の測定順
序を示し、ディスクの角度基準を示すインデックス信号
（ＩＮＤＸ）を起点としてトラックの１周に対してテス
トデータがＷＲされ、つづくディスクの１回転によりこ
れがＲＤされて適当にサンプリングされ、トラック１周
に対する平均レベルＳが算出される。次に、ポップコー
ンノイズＮp の測定においてはヘッドはディスクと無関
係でも差し支えないので、上記においてローディングさ
れているヘッドをアンローディング（図示ヘッドロード
オフ）し、ディスクの１回転中にデータの書込みは行わ
ず、ヘッドは単にＷＲの動作のみを行い、つづく１回転
でヘッドをＲＤに切り替えて上記のノイズＮp を検出す
る。さらにディスクをｍ回、回転してこのよなＷＲの動
作とＮp の検出をｍ回繰り返し、えられたノイズＮp に
対する上記のテストデータの平均レベルを求め、各ポッ
プコーンノイズＮP に対し、Ｓ値を基準にしたスライス
をかけ、これを上まわるノイズＮP ＧＡどれくらいカウ
ントされるかでポップコーンノイズに対する良否を判定
する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】さて、ポップコーンノ
イズＮp の発生頻度は非常に少ないので、上記の方法で
はこれを検出するためにディスクの回転数ｍは、通常数
百回を必要とし、その所要時間は５〜１０秒の長時間と
なる。量産される多数のヘッドを効率的に検査するには
検査時間をできるだけ短縮することが必要である。この
ためにはＷＲとＲＤの切り替えを可能な限り多くすれば
よい。この発明は以上に鑑みてなされたもので、ヘッド
テスターにおけるヘッドのＷＲとＲＤの切り替えをディ
スクの１回転中に多数回行うことにより、ポップコーン
ノイズＮp を効率的に検出して検査時間を短縮する方法
を提供することを目的とするものである。
イズＮp の発生頻度は非常に少ないので、上記の方法で
はこれを検出するためにディスクの回転数ｍは、通常数
百回を必要とし、その所要時間は５〜１０秒の長時間と
なる。量産される多数のヘッドを効率的に検査するには
検査時間をできるだけ短縮することが必要である。この
ためにはＷＲとＲＤの切り替えを可能な限り多くすれば
よい。この発明は以上に鑑みてなされたもので、ヘッド
テスターにおけるヘッドのＷＲとＲＤの切り替えをディ
スクの１回転中に多数回行うことにより、ポップコーン
ノイズＮp を効率的に検出して検査時間を短縮する方法
を提供することを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成した薄膜ヘッドのノイズ検査方法であって、ヘッ
ドテスターにテスト用のハード磁気ディスクを装着し、
これ対して被検査の薄膜ヘッドをローディングする。デ
ィスクの第１回目の１回転によりテストトラックをイレ
ーズする。第２回目の１回転においては、テストラック
に設けられる各セクタごとに、ヘッドを書込み動作と読
出し動作に切り替える。書込み動作によりテストデータ
を書込みを行い、読出し動作により、切り替えによりヘ
ッドの磁性体の磁区の移動によりに生ずるポップコーン
ノイズＮp を検出する。第３回目の１回転においては、
第１回目の１回転により書込みされた各セクタのテスト
データを読出してサンプリングし、テストデータのテス
トトラックに対する平均レベルＳを求め、上記により検
出された各ノイズＮp に対するＳ／Ｎp 比が算出され
る。
を達成した薄膜ヘッドのノイズ検査方法であって、ヘッ
ドテスターにテスト用のハード磁気ディスクを装着し、
これ対して被検査の薄膜ヘッドをローディングする。デ
ィスクの第１回目の１回転によりテストトラックをイレ
ーズする。第２回目の１回転においては、テストラック
に設けられる各セクタごとに、ヘッドを書込み動作と読
出し動作に切り替える。書込み動作によりテストデータ
を書込みを行い、読出し動作により、切り替えによりヘ
ッドの磁性体の磁区の移動によりに生ずるポップコーン
ノイズＮp を検出する。第３回目の１回転においては、
第１回目の１回転により書込みされた各セクタのテスト
データを読出してサンプリングし、テストデータのテス
トトラックに対する平均レベルＳを求め、上記により検
出された各ノイズＮp に対するＳ／Ｎp 比が算出され
る。
【０００５】
【作用】以上のノイズ測定方法においては、ディスクの
第１回目の１回転によりテストトラックがイレーズさ
れ、ディスクに対してローディングされたヘッドは、第
２回目の１回転中に、各セクタごとにＷＲとＲＤが切り
替えられ、テストデータの書込みとポップコーンノイズ
Ｎp の検出がなされる。トラック１周のセクタ数は数十
以上あるので、第２回目の１回転により、発生頻度が非
常に少ないポップコーンノイズＮp が効率的に検出され
る。第３回目の１回転においては、第１回目に書込まれ
たテストデータが読出されてサンプリングされ、その平
均レベルＳが求められてＳ／Ｎp 比が算出され、ポップ
コーンノイズＮp が評価される。以上においてはディス
クは単に３回転するのみでよいから、検査時間は大幅に
短縮される。
第１回目の１回転によりテストトラックがイレーズさ
れ、ディスクに対してローディングされたヘッドは、第
２回目の１回転中に、各セクタごとにＷＲとＲＤが切り
替えられ、テストデータの書込みとポップコーンノイズ
Ｎp の検出がなされる。トラック１周のセクタ数は数十
以上あるので、第２回目の１回転により、発生頻度が非
常に少ないポップコーンノイズＮp が効率的に検出され
る。第３回目の１回転においては、第１回目に書込まれ
たテストデータが読出されてサンプリングされ、その平
均レベルＳが求められてＳ／Ｎp 比が算出され、ポップ
コーンノイズＮp が評価される。以上においてはディス
クは単に３回転するのみでよいから、検査時間は大幅に
短縮される。
【０００６】
【実施例】図１はこの発明の一実施例におけるポップコ
ーンノイズＮp の測定順序を示すもので、ヘッドテスタ
ーにテスト用のディスクを装着して回転し、薄膜ヘッド
をローディングする。ディスクの第１回目の１回転にお
いて、ディスクは適当な手段によりイレーズされ、つい
で第２回目の１回転において、ｎ個の各セクタｓ0〜ｓ
(n-1) ごとに、ヘッドをＷＲ動作とＲＤ動作に切り替
え、各セクタに対してＷＲ動作によるテストデータの書
込みと、ＲＤ動作によるポップコーンノイズＮp の検出
を繰り返す。ついで、第３回目の１回転において、上記
により書込まれたテストデータを読出し、この後にテス
トデータを適当な間隔でサンプリングし、トラックの１
周に対する平均レベルＳを求め、各ポップコーンノイズ
Ｎp に対し、Ｓ値を基準にしたスライスをかけ、これを
上まわるノイズＮP ＧＡどれくらいカウントされるかで
ポップコーンノイズに対する良否を判定する。
ーンノイズＮp の測定順序を示すもので、ヘッドテスタ
ーにテスト用のディスクを装着して回転し、薄膜ヘッド
をローディングする。ディスクの第１回目の１回転にお
いて、ディスクは適当な手段によりイレーズされ、つい
で第２回目の１回転において、ｎ個の各セクタｓ0〜ｓ
(n-1) ごとに、ヘッドをＷＲ動作とＲＤ動作に切り替
え、各セクタに対してＷＲ動作によるテストデータの書
込みと、ＲＤ動作によるポップコーンノイズＮp の検出
を繰り返す。ついで、第３回目の１回転において、上記
により書込まれたテストデータを読出し、この後にテス
トデータを適当な間隔でサンプリングし、トラックの１
周に対する平均レベルＳを求め、各ポップコーンノイズ
Ｎp に対し、Ｓ値を基準にしたスライスをかけ、これを
上まわるノイズＮP ＧＡどれくらいカウントされるかで
ポップコーンノイズに対する良否を判定する。
【０００７】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による薄
膜ヘッドのノイズ測定方法においては、ヘッドのＷＲと
ＲＤの切り替えが各セクタごとに行われ、発生頻度の小
さいポップコーンノイズＮp が、イレーズを含めて都合
３回のディスクの回転により効率的に検出されてＳ／Ｎ
p 比が算出されるもので、数百回転を必要とした従来の
方法に比較して検査時間が大幅に短縮され、多数の薄膜
ヘッドに対する検査効率の向上に寄与するところには大
きいものがある。
膜ヘッドのノイズ測定方法においては、ヘッドのＷＲと
ＲＤの切り替えが各セクタごとに行われ、発生頻度の小
さいポップコーンノイズＮp が、イレーズを含めて都合
３回のディスクの回転により効率的に検出されてＳ／Ｎ
p 比が算出されるもので、数百回転を必要とした従来の
方法に比較して検査時間が大幅に短縮され、多数の薄膜
ヘッドに対する検査効率の向上に寄与するところには大
きいものがある。
【図１】 この発明の一実施例におけるポップコーンノ
イズの測定順序を示す図である。
イズの測定順序を示す図である。
【図２】 薄膜ヘッドのポップコーンノイズに対する従
来の測定方法の説明図で、(a) はヘッドテスターの構成
図、(b) はポップコーンノイズの発生の説明図、(c) は
従来の測定順序の説明図である。
来の測定方法の説明図で、(a) はヘッドテスターの構成
図、(b) はポップコーンノイズの発生の説明図、(c) は
従来の測定順序の説明図である。
１…テスト用の磁気ディスク、ディスク、11…テストト
ラック、 ２…スピンドル、 ３…薄膜ヘッド、ヘッド、 ４…キャリッジ機構、 ５…ローディングピン、 ＩＮＤＸ…インデックス信号、ｓ0 〜ｓ(n-1) …セク
タ、ＷＲ…書込み、 ＲＤ…読出し、Ｓ…テストデータの平均レベル、Ｎp …
ポップコーンノイズ。
ラック、 ２…スピンドル、 ３…薄膜ヘッド、ヘッド、 ４…キャリッジ機構、 ５…ローディングピン、 ＩＮＤＸ…インデックス信号、ｓ0 〜ｓ(n-1) …セク
タ、ＷＲ…書込み、 ＲＤ…読出し、Ｓ…テストデータの平均レベル、Ｎp …
ポップコーンノイズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 テスト用のハード磁気ディスクに対して
被検査の薄膜ヘッドをローディングして、該薄膜ヘッド
の特性を検査するヘッドテスターにおいて、該磁気ディ
スクの第１回目の１回転によりテストトラックをイレー
ズし、第２回目の１回転により該テストトラックに設け
られる各セクタごとに、該薄膜ヘッドを書込み動作と読
出し動作に切り替え、該書込み動作においてテストデー
タを書込み、該読出し動作において、該切り替えにより
該薄膜ヘッドの磁性体の磁区の移動によりに生ずるポッ
プコーンノイズＮp を検出し、第３回目の１回転により
前記第１回目の１回転により書込みされた前記各セクタ
のテストデータを読出してサンプリングし、該サンプリ
ングされたテストデータの前記テストトラックに対する
平均レベルＳを求め、前記第２回目の１回転により検出
された各ノイズＮp に対するＳ／Ｎp 比を算出すること
を特徴とする、薄膜ヘッドのノイズ測定検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16004691A JPH056517A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 薄膜ヘツドのノイズ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16004691A JPH056517A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 薄膜ヘツドのノイズ検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056517A true JPH056517A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=15706754
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16004691A Pending JPH056517A (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 薄膜ヘツドのノイズ検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056517A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
| US6195215B1 (en) | 1997-08-05 | 2001-02-27 | Hewlett-Packard Company | Measurement apparatus for use in recording unit provided with control means for controlling write and read parameters |
-
1991
- 1991-06-03 JP JP16004691A patent/JPH056517A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
| US6195215B1 (en) | 1997-08-05 | 2001-02-27 | Hewlett-Packard Company | Measurement apparatus for use in recording unit provided with control means for controlling write and read parameters |
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