JPH07182800A - 磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法 - Google Patents
磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法Info
- Publication number
- JPH07182800A JPH07182800A JP32197693A JP32197693A JPH07182800A JP H07182800 A JPH07182800 A JP H07182800A JP 32197693 A JP32197693 A JP 32197693A JP 32197693 A JP32197693 A JP 32197693A JP H07182800 A JPH07182800 A JP H07182800A
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- disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ディスク装置におけるディスク欠陥洗い
出しの効率改善を図る。 【構成】 複数の種類のテストパターンを順番に用いて
ディスク欠陥洗い出し検査Ａを行った後、検出できたデ
ィスク欠陥数の最も多いテストパターンを用いて再度検
査Ｂを行う。次にこの検査Ｂで検出した新たなディスク
欠陥数ａと検査Ａで得た各テストパターン毎のディスク
欠陥数ｂとの中でディスク欠陥数が最大のテストパター
ンを判断し、このテストパターンを用いて再び検査Ｃを
行う。そして新たなディスク欠陥数ａで当該テストパタ
ーンに対するディスク欠陥数を更新する。この後、検査
Ｃで得た新たなディスク欠陥数ｃと、記憶されている各
テストパターン毎のディスク欠陥数ａまたはｂの中でデ
ィスク欠陥数が最大のテストパターンを判断し、このテ
ストパターンを用いて再び検査Ｄを行い、以降この動作
を繰り返す。
出しの効率改善を図る。 【構成】 複数の種類のテストパターンを順番に用いて
ディスク欠陥洗い出し検査Ａを行った後、検出できたデ
ィスク欠陥数の最も多いテストパターンを用いて再度検
査Ｂを行う。次にこの検査Ｂで検出した新たなディスク
欠陥数ａと検査Ａで得た各テストパターン毎のディスク
欠陥数ｂとの中でディスク欠陥数が最大のテストパター
ンを判断し、このテストパターンを用いて再び検査Ｃを
行う。そして新たなディスク欠陥数ａで当該テストパタ
ーンに対するディスク欠陥数を更新する。この後、検査
Ｃで得た新たなディスク欠陥数ｃと、記憶されている各
テストパターン毎のディスク欠陥数ａまたはｂの中でデ
ィスク欠陥数が最大のテストパターンを判断し、このテ
ストパターンを用いて再び検査Ｄを行い、以降この動作
を繰り返す。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置のデ
ィスク欠陥（ディフェクト）を洗い出す検査装置及び検
査方法に関する。
ィスク欠陥（ディフェクト）を洗い出す検査装置及び検
査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスクは磁性体の一部に欠陥があ
ると、この部分にデータを記録することができない。こ
の欠陥（ディフェクト）は完全には回避することは困難
である。そこで、その対策として、出荷前の検査段階で
ディスク欠陥の洗い出しを行い、洗い出した欠陥箇所に
対するデータのリード／ライトを回避する処理が行われ
ている。
ると、この部分にデータを記録することができない。こ
の欠陥（ディフェクト）は完全には回避することは困難
である。そこで、その対策として、出荷前の検査段階で
ディスク欠陥の洗い出しを行い、洗い出した欠陥箇所に
対するデータのリード／ライトを回避する処理が行われ
ている。
【０００３】従来、ディスク欠陥の洗い出し検査は次の
ようにして行われていた。この検査は基本的には、ある
テストパターンをディスクにライトした後リードし、こ
のリードデータとライトしたテストパターンとを比較照
合してデータの不一致をエラーとして検出し、このエラ
ー箇所に当たるディスクの位置情報をディフェクト情報
として収集することによって行われる。その際、図３に
示すように、テストパターンとしては複数の種類のもの
が用いられ、検査はこれらテストパターンを順番に用い
て、所定の検査終了条件例えば規定回数あるいは規定時
間に達するまで繰り返し行われていた。
ようにして行われていた。この検査は基本的には、ある
テストパターンをディスクにライトした後リードし、こ
のリードデータとライトしたテストパターンとを比較照
合してデータの不一致をエラーとして検出し、このエラ
ー箇所に当たるディスクの位置情報をディフェクト情報
として収集することによって行われる。その際、図３に
示すように、テストパターンとしては複数の種類のもの
が用いられ、検査はこれらテストパターンを順番に用い
て、所定の検査終了条件例えば規定回数あるいは規定時
間に達するまで繰り返し行われていた。
【０００４】ところで、このようなディスク欠陥の洗い
出し検査では、テストパターンの種類がディスク欠陥の
検出性能を大きく左右することになる。その原因として
は、検査対象となる個々のハードディスクドライブにお
けるリード／ライトヘッドの電気的特性のバラツキ等種
々考えられるが、いずれにせよ個々の検査対象に対し
て、どのテストパターンが一回の検査でより多くのディ
スク欠陥を検出できるかは検査を実行してみないと分ら
ない。このような理由から、従来は、いくつかのテスト
パターンを予め用意し、これらのテストパターンを順番
に用いて繰り返し検査を実行する方法を採っていた。
出し検査では、テストパターンの種類がディスク欠陥の
検出性能を大きく左右することになる。その原因として
は、検査対象となる個々のハードディスクドライブにお
けるリード／ライトヘッドの電気的特性のバラツキ等種
々考えられるが、いずれにせよ個々の検査対象に対し
て、どのテストパターンが一回の検査でより多くのディ
スク欠陥を検出できるかは検査を実行してみないと分ら
ない。このような理由から、従来は、いくつかのテスト
パターンを予め用意し、これらのテストパターンを順番
に用いて繰り返し検査を実行する方法を採っていた。
【０００５】しかしながら、検査に用いられるテストパ
ターンの中には、そのときの検査対象に対して検査上き
わめて不向きなものが含まれている場合も少くなく、し
かも従来の検査方法では、このようなテストパターンに
ついても他のテストパターンと同じ回数検査を繰り返し
ているため、効率的にきわめて不利であった。
ターンの中には、そのときの検査対象に対して検査上き
わめて不向きなものが含まれている場合も少くなく、し
かも従来の検査方法では、このようなテストパターンに
ついても他のテストパターンと同じ回数検査を繰り返し
ているため、効率的にきわめて不利であった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような課
題を解決するためのもので、複数の種類のテストパター
ンを用いてディスク欠陥検出を行う際に、各検査サイク
ルで用いるテストパターン選択の最適化を実現し、ディ
スク欠陥洗い出しの効率改善を図ることのできる磁気デ
ィスク装置の検査装置及びその検査方法の提供を目的と
している。
題を解決するためのもので、複数の種類のテストパター
ンを用いてディスク欠陥検出を行う際に、各検査サイク
ルで用いるテストパターン選択の最適化を実現し、ディ
スク欠陥洗い出しの効率改善を図ることのできる磁気デ
ィスク装置の検査装置及びその検査方法の提供を目的と
している。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置の検査装置は上記した目的を達成するために、検査用
データを磁気ディスク装置のディスクにライトした後リ
ードし、リードデータを検査用データと比較することに
よってディスク欠陥を検出する磁気ディスク装置の検査
装置において、複数の種類の検査用データを予め記憶し
た検査データ記憶手段と、検査結果を記憶する検査結果
記憶手段と、検査データ記憶手段に記憶された各検査用
データをそれぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行
い、その都度検出された各検査用データ毎のディスク欠
陥数を検査結果として検査結果記憶手段に記憶する第１
の手段と、検査結果記憶手段に記憶された検査結果を基
に、前記各検査用データ中でディスク欠陥を最も多く検
出できた検査用データを判定する第２の手段と、第２の
手段または第４の手段によって判定された検査用データ
を用いてディスク欠陥の検出を行い、新たに検出された
ディスク欠陥数を求める第３の手段と、第３の手段で求
めた新たなディスク欠陥数及び検査結果記憶手段に記憶
された各検査用データ毎のディスク欠陥数の中でディス
ク欠陥数が最大の検査用データを判定すると共に、新た
なディスク欠陥数を、前記判定された検査用データによ
る過去の検査によって記憶済みのディスク欠陥数に代え
て検査結果記憶手段に記憶する第４の手段とを具備して
いる。
置の検査装置は上記した目的を達成するために、検査用
データを磁気ディスク装置のディスクにライトした後リ
ードし、リードデータを検査用データと比較することに
よってディスク欠陥を検出する磁気ディスク装置の検査
装置において、複数の種類の検査用データを予め記憶し
た検査データ記憶手段と、検査結果を記憶する検査結果
記憶手段と、検査データ記憶手段に記憶された各検査用
データをそれぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行
い、その都度検出された各検査用データ毎のディスク欠
陥数を検査結果として検査結果記憶手段に記憶する第１
の手段と、検査結果記憶手段に記憶された検査結果を基
に、前記各検査用データ中でディスク欠陥を最も多く検
出できた検査用データを判定する第２の手段と、第２の
手段または第４の手段によって判定された検査用データ
を用いてディスク欠陥の検出を行い、新たに検出された
ディスク欠陥数を求める第３の手段と、第３の手段で求
めた新たなディスク欠陥数及び検査結果記憶手段に記憶
された各検査用データ毎のディスク欠陥数の中でディス
ク欠陥数が最大の検査用データを判定すると共に、新た
なディスク欠陥数を、前記判定された検査用データによ
る過去の検査によって記憶済みのディスク欠陥数に代え
て検査結果記憶手段に記憶する第４の手段とを具備して
いる。
【０００８】
【作用】すなわち、本発明における検査手順を説明する
と、まず検査データ記憶手段に記憶された各検査用デー
タをそれぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行う。
このとき個々の検査用データを用いた検査が行われる度
に、検出されたディスク欠陥数を検査結果として検査結
果記憶手段に記憶する。
と、まず検査データ記憶手段に記憶された各検査用デー
タをそれぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行う。
このとき個々の検査用データを用いた検査が行われる度
に、検出されたディスク欠陥数を検査結果として検査結
果記憶手段に記憶する。
【０００９】次に、検査結果記憶手段に記憶された検査
結果を基に、各検査用データ中でディスク欠陥を最も多
く検出できた検査用データを判定し、判定された検査用
データを用いてディスク欠陥の検出を行って新たに検出
されたディスク欠陥数を求める。
結果を基に、各検査用データ中でディスク欠陥を最も多
く検出できた検査用データを判定し、判定された検査用
データを用いてディスク欠陥の検出を行って新たに検出
されたディスク欠陥数を求める。
【００１０】この後、新たなディスク欠陥数及び検査結
果記憶手段に記憶された各検査用データ毎のディスク欠
陥数の中でディスク欠陥数が最大の検査用データを判定
し、この検査用データを用いて再度検査を実行する。そ
して新たなディスク欠陥数を、前記判定された検査用デ
ータによる過去の検査によって記憶済みのディスク欠陥
数に代えて検査結果記憶手段に記憶する。
果記憶手段に記憶された各検査用データ毎のディスク欠
陥数の中でディスク欠陥数が最大の検査用データを判定
し、この検査用データを用いて再度検査を実行する。そ
して新たなディスク欠陥数を、前記判定された検査用デ
ータによる過去の検査によって記憶済みのディスク欠陥
数に代えて検査結果記憶手段に記憶する。
【００１１】以降は、前述した新たなディスク欠陥数及
び各検査用データ毎のディスク欠陥数の中からの最大デ
ィスク欠陥数検査用データの判定、この検査用データを
用いた検査、ディスク欠陥数の更新を繰り返し、例え
ば、検査回数や検査時間が規定に達したところで全検査
工程を終了とする。
び各検査用データ毎のディスク欠陥数の中からの最大デ
ィスク欠陥数検査用データの判定、この検査用データを
用いた検査、ディスク欠陥数の更新を繰り返し、例え
ば、検査回数や検査時間が規定に達したところで全検査
工程を終了とする。
【００１２】したがって、本発明によれば、制御対象に
対して、よりディスク欠陥検出成果の高いテストパター
ンを高頻度に用いて検査を進めることができ、全体検査
効率の大幅改善を図ることができる。
対して、よりディスク欠陥検出成果の高いテストパター
ンを高頻度に用いて検査を進めることができ、全体検査
効率の大幅改善を図ることができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。
説明する。
【００１４】図１は本発明に係る一実施例のＨＤＤ検査
装置の構成を示すブロック図である。 同図に示すよう
に、この検査装置１は、装置全体の制御を行うＣＰＵ１
１と、検査用プログラム及び複数の種類のテストパター
ンを予め格納したＲＯＭ１２と、ディフェクト情報つま
り検査によって欠陥があることが検出されたディスク上
の位置情報（トラック番号及びセクタ番号等）及びエラ
ー回数等が蓄積されるＲＡＭ１３と、ＣＰＵ１１の制御
下で検査対象であるハードディスクドライブ（以下、Ｈ
ＤＤと呼ぶ。）２のリード／ライト動作を含む各種制御
を実行するＨＤＤコントローラ１４を有して構成され
る。
装置の構成を示すブロック図である。 同図に示すよう
に、この検査装置１は、装置全体の制御を行うＣＰＵ１
１と、検査用プログラム及び複数の種類のテストパター
ンを予め格納したＲＯＭ１２と、ディフェクト情報つま
り検査によって欠陥があることが検出されたディスク上
の位置情報（トラック番号及びセクタ番号等）及びエラ
ー回数等が蓄積されるＲＡＭ１３と、ＣＰＵ１１の制御
下で検査対象であるハードディスクドライブ（以下、Ｈ
ＤＤと呼ぶ。）２のリード／ライト動作を含む各種制御
を実行するＨＤＤコントローラ１４を有して構成され
る。
【００１５】そしてＣＰＵ１１は、ＲＯＭ１２に格納さ
れた検査用プログラムに従って、ディスク欠陥の洗い出
し検査のための次のような制御を実行する。
れた検査用プログラムに従って、ディスク欠陥の洗い出
し検査のための次のような制御を実行する。
【００１６】すなわち、ＣＰＵ１１は、まずＲＯＭ１２
からテストパターンを読み出してＨＤＤコントローラ１
４を介してＨＤＤ２に転送し、ＨＤＤ２にディスクへの
テストパターンのライト動作を実行させる。このテスト
パターンのライトはディスク全記録面に対して行われ
る。このライト動作を終了すると、次にＣＰＵ１１はＨ
ＤＤコントローラ１４を通じてＨＤＤ２にリード要求を
出し、ＨＤＤ２にディスクからのテストパターンのリー
ド動作を実行させる。ＣＰＵ１１はＨＤＤ２のリードデ
ータを入力すると、このリードデータをＲＯＭ１２内の
テストパターンデータと比較照合してデータ不一致をエ
ラーとして検出し、このエラー箇所に当たるディスクの
位置情報をＲＡＭ１３にディフェクト情報として書き込
む。そしてディスク全記録面に対してこの処理を繰り返
し、すべてのディフェクト情報の収集後、収集したディ
フェクト情報の数であるエラー回数（ディスク欠陥数）
をＲＡＭ１３に記録する。
からテストパターンを読み出してＨＤＤコントローラ１
４を介してＨＤＤ２に転送し、ＨＤＤ２にディスクへの
テストパターンのライト動作を実行させる。このテスト
パターンのライトはディスク全記録面に対して行われ
る。このライト動作を終了すると、次にＣＰＵ１１はＨ
ＤＤコントローラ１４を通じてＨＤＤ２にリード要求を
出し、ＨＤＤ２にディスクからのテストパターンのリー
ド動作を実行させる。ＣＰＵ１１はＨＤＤ２のリードデ
ータを入力すると、このリードデータをＲＯＭ１２内の
テストパターンデータと比較照合してデータ不一致をエ
ラーとして検出し、このエラー箇所に当たるディスクの
位置情報をＲＡＭ１３にディフェクト情報として書き込
む。そしてディスク全記録面に対してこの処理を繰り返
し、すべてのディフェクト情報の収集後、収集したディ
フェクト情報の数であるエラー回数（ディスク欠陥数）
をＲＡＭ１３に記録する。
【００１７】本実施例の検査装置では、このようなディ
スク欠陥洗い出し検査を複数のテストパターンを用いて
実行する。図２はこの検査手順を示すフローチャートで
ある。なお、この例では、ＲＯＭ１２に１から４番目ま
でのテストパターンが格納されているものとする。
スク欠陥洗い出し検査を複数のテストパターンを用いて
実行する。図２はこの検査手順を示すフローチャートで
ある。なお、この例では、ＲＯＭ１２に１から４番目ま
でのテストパターンが格納されているものとする。
【００１８】まずＣＰＵ１１はＲＯＭ１２から第１番目
のテストパターンを読み出し、このテストパターンによ
る前記ディスク欠陥洗い出し検査Ａ１を実行し、検査結
果であるディフェクト情報及びエラー回数をＲＡＭ１３
に記憶する（ステップ２０１）。この後、２番目のテス
トパターンによる検査Ａ２、３番目のテストパターンに
よる検査Ａ３、４番目のテストパターンによる検査Ａ４
を順番に実行し、その都度、検査結果であるディフェク
ト情報及びエラー回数をＲＡＭ１３に記憶する（ステッ
プ２０２、２０３、２０４）。
のテストパターンを読み出し、このテストパターンによ
る前記ディスク欠陥洗い出し検査Ａ１を実行し、検査結
果であるディフェクト情報及びエラー回数をＲＡＭ１３
に記憶する（ステップ２０１）。この後、２番目のテス
トパターンによる検査Ａ２、３番目のテストパターンに
よる検査Ａ３、４番目のテストパターンによる検査Ａ４
を順番に実行し、その都度、検査結果であるディフェク
ト情報及びエラー回数をＲＡＭ１３に記憶する（ステッ
プ２０２、２０３、２０４）。
【００１９】次にＣＰＵ１１は、各テストパターン中で
エラー回数が最も多いつまりディスク欠陥を最も多く検
出できたテストパターンを判定する（ステップ２０
５）。そしてこのテストパターンを再度ＲＯＭ１２から
読み出し、このテストパターンによる検査Ｂを再び行う
（ステップ２０６）。
エラー回数が最も多いつまりディスク欠陥を最も多く検
出できたテストパターンを判定する（ステップ２０
５）。そしてこのテストパターンを再度ＲＯＭ１２から
読み出し、このテストパターンによる検査Ｂを再び行う
（ステップ２０６）。
【００２０】この後、この検査Ｂでディフェクト情報と
して収集したディスクの位置情報をＲＡＭ１３に既に記
憶されているディスクの位置情報（当該検査で用いたテ
ストパターンによってこれまでに収集されたディスクの
位置情報）と比較することによって、新たに検出された
エラーの回数（ディスク欠陥の数）を求める（ステップ
２０７）。
して収集したディスクの位置情報をＲＡＭ１３に既に記
憶されているディスクの位置情報（当該検査で用いたテ
ストパターンによってこれまでに収集されたディスクの
位置情報）と比較することによって、新たに検出された
エラーの回数（ディスク欠陥の数）を求める（ステップ
２０７）。
【００２１】次に、この新たなエラー回数及びＲＡＭ１
３に既に記憶されている各テストパターン毎のエラー回
数をそれぞれ比較して、その中でエラー回数が最も多い
テストパターンを判定する（ステップ２０８）。そして
このテストパターンを再度ＲＯＭ１２から読み出し、こ
のテストパターンによる検査Ｃを再び行う（ステップ２
０９）。そして、新たなエラー回数を、当該テストパタ
ーンによる検査で記憶済みのエラー回数に代えてＲＡＭ
１３に記憶する（ステップ２１０）。
３に既に記憶されている各テストパターン毎のエラー回
数をそれぞれ比較して、その中でエラー回数が最も多い
テストパターンを判定する（ステップ２０８）。そして
このテストパターンを再度ＲＯＭ１２から読み出し、こ
のテストパターンによる検査Ｃを再び行う（ステップ２
０９）。そして、新たなエラー回数を、当該テストパタ
ーンによる検査で記憶済みのエラー回数に代えてＲＡＭ
１３に記憶する（ステップ２１０）。
【００２２】この後、再びステップ２０７に戻って新た
なエラー回数の算出を行い、以下同様に、ステップ２０
８、２０９、２１０の動作を、検査終了条件である検査
規定回数または規定時間に達するまで繰り返す（ステッ
プ２１１）。その後、全検査工程が終了となる。
なエラー回数の算出を行い、以下同様に、ステップ２０
８、２０９、２１０の動作を、検査終了条件である検査
規定回数または規定時間に達するまで繰り返す（ステッ
プ２１１）。その後、全検査工程が終了となる。
【００２３】そして検査終了後、ＣＰＵ１１は、最も多
い回数使用されたテストパターンを判断し、このテスト
パターンをディスクの予め決められた場所にライトする
ようにＨＤＤ２を制御する。
い回数使用されたテストパターンを判断し、このテスト
パターンをディスクの予め決められた場所にライトする
ようにＨＤＤ２を制御する。
【００２４】なお、ステップ２０８の判定において、２
つのテストパターンについてのエラー回数が共に最大で
あった場合に供え、各テストパターンには優先順位が設
定されている。
つのテストパターンについてのエラー回数が共に最大で
あった場合に供え、各テストパターンには優先順位が設
定されている。
【００２５】かくして本実施例のＨＤＤ検査装置によれ
ば、複数の種類のテストパターンを用いてディスク欠陥
の洗い出しを行う場合において、個々の制御対象に対し
てディスク欠陥検出成果のより高いテストパターンを高
頻度に用いて検査を実行することができ、したがって、
従来の複数のテストパターンをそれぞれ均等な回数用い
てディスク欠陥を洗い出す方式に比べ、効率良くディス
ク欠陥の洗い出しを行うことができる。
ば、複数の種類のテストパターンを用いてディスク欠陥
の洗い出しを行う場合において、個々の制御対象に対し
てディスク欠陥検出成果のより高いテストパターンを高
頻度に用いて検査を実行することができ、したがって、
従来の複数のテストパターンをそれぞれ均等な回数用い
てディスク欠陥を洗い出す方式に比べ、効率良くディス
ク欠陥の洗い出しを行うことができる。
【００２６】また検査で最も多く用いられたテストパタ
ーンをディスクに記録しておくことで、その後検査を行
う機会があれば、このテストパターンを用いて簡易的に
検査を行うことができるという利点がある。
ーンをディスクに記録しておくことで、その後検査を行
う機会があれば、このテストパターンを用いて簡易的に
検査を行うことができるという利点がある。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の磁気ディス
ク装置の検査装置及びその検査方法によれば、複数のテ
ストパターンを繰り返し用いてディスク欠陥の洗い出し
検査を行うにあたり、個々の制御対象に対して、よりデ
ィスク欠陥検出成果の高いテストパターンを高頻度に用
いることが可能になり、全体検査効率の大幅改善を図る
ことができる。
ク装置の検査装置及びその検査方法によれば、複数のテ
ストパターンを繰り返し用いてディスク欠陥の洗い出し
検査を行うにあたり、個々の制御対象に対して、よりデ
ィスク欠陥検出成果の高いテストパターンを高頻度に用
いることが可能になり、全体検査効率の大幅改善を図る
ことができる。
【図１】本発明に係る一実施例のＨＤＤ検査装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】図１のＨＤＤ検査装置による検査の全体的な手
順を示すフローチャートである。
順を示すフローチャートである。
【図３】従来のＨＤＤ検査装置による検査の全体的な手
順を示すフローチャートである。
順を示すフローチャートである。
１…検査装置、２…ハードディスクドライブ、１１…Ｃ
ＰＵ、１２…ＲＯＭ、１３…ＲＡＭ、１４…ＨＤＤコン
トローラ。
ＰＵ、１２…ＲＯＭ、１３…ＲＡＭ、１４…ＨＤＤコン
トローラ。
Claims (3)
- 【請求項１】 検査用データを磁気ディスク装置のディ
スクにライトした後リードし、リードデータを前記検査
用データと比較することによってディスク欠陥を検出す
る磁気ディスク装置の検査装置において、 複数の種類の検査用データを予め記憶した検査データ記
憶手段と、 検査結果を記憶する検査結果記憶手段と、 前記検査データ記憶手段に記憶された各検査用データを
それぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行い、その
都度検出された各検査用データ毎のディスク欠陥数を検
査結果として前記検査結果記憶手段に記憶する第１の手
段と、 前記第１の手段によって前記検査結果記憶手段に記憶さ
れた検査結果を基に、前記各検査用データ中でディスク
欠陥を最も多く検出できた検査用データを判定する第２
の手段と、 前記第２の手段または第４の手段によって判定された検
査用データを用いてディスク欠陥の検出を行い、新たに
検出されたディスク欠陥数を求める第３の手段と、 前記第３の手段で求めた新たなディスク欠陥数及び前記
検査結果記憶手段に記憶された各検査用データ毎のディ
スク欠陥数の中でディスク欠陥数が最大の検査用データ
を判定すると共に、前記新たなディスク欠陥数を、前記
判定された検査用データによる過去の検査によって記憶
済みのディスク欠陥数に代えて前記検査結果記憶手段に
記憶する第４の手段とを具備することを特徴とする磁気
ディスク装置の検査装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の磁気ディスク装置の検査
装置において、 前記第２の手段または前記第４の手段によって最も多く
判定された検査用データを前記磁気ディスク装置のディ
スクに記録する手段をさらに有することを特徴とする磁
気ディスク装置の検査装置。 - 【請求項３】 検査用データを磁気ディスク装置のディ
スクにライトした後リードし、リードデータを前記検査
用データと比較することによってディスク欠陥を検出す
る磁気ディスク装置の検査方法において、 複数の種類の検査用データを予め記憶した検査データ記
憶手段と、検査結果を記憶する検査結果記憶手段とを有
し、 前記検査データ記憶手段に記憶された各検査用データを
それぞれ順番に用いてディスク欠陥の検出を行い、その
都度検出された各検査用データ毎のディスク欠陥数を検
査結果として前記検査結果記憶手段に記憶する工程と、 前記検査結果記憶手段に記憶された検査結果を基に、前
記各検査用データ中でディスク欠陥を最も多く検出でき
た検査用データを判定する第１の判定工程と、 前記第１の判定工程または第２の判定工程にて判定され
た検査用データを用いてディスク欠陥の検出を行い、新
たに検出されたディスク欠陥数を求める工程と、 前記
求めた新たなディスク欠陥数及び前記検査結果記憶手段
に記憶された各検査用データ毎のディスク欠陥数の中で
ディスク欠陥数が最大の検査用データを判定すると共
に、前記新たなディスク欠陥数を、前記判定された検査
用データによる過去の検査によって記憶済みのディスク
欠陥数に代えて前記検査結果記憶手段に記憶する工程と
を有することを特徴とする磁気ディスク装置の検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32197693A JPH07182800A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32197693A JPH07182800A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07182800A true JPH07182800A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18138534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32197693A Withdrawn JPH07182800A (ja) | 1993-12-21 | 1993-12-21 | 磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07182800A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100422428B1 (ko) * | 1996-11-28 | 2004-05-17 | 삼성전자주식회사 | 번-인테스트공정 시간 단축방법 |
-
1993
- 1993-12-21 JP JP32197693A patent/JPH07182800A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100422428B1 (ko) * | 1996-11-28 | 2004-05-17 | 삼성전자주식회사 | 번-인테스트공정 시간 단축방법 |
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