JP3717981B2 - エラーログ作成方法及びエラーテスト装置 - Google Patents
エラーログ作成方法及びエラーテスト装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3717981B2 JP3717981B2 JP27401795A JP27401795A JP3717981B2 JP 3717981 B2 JP3717981 B2 JP 3717981B2 JP 27401795 A JP27401795 A JP 27401795A JP 27401795 A JP27401795 A JP 27401795A JP 3717981 B2 JP3717981 B2 JP 3717981B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- list
- frequency
- test
- occurrence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0766—Error or fault reporting or storing
- G06F11/0781—Error filtering or prioritizing based on a policy defined by the user or on a policy defined by a hardware/software module, e.g. according to a severity level
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/0727—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a storage system, e.g. in a DASD or network based storage system
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はエラーログ(error log) 作成方法及びエラーテスト装置に係り、特に欠陥(defect)検出テスト時にエラーを記憶する過程において、エラー頻度リストと臨時(temporary) 欠陥リストとを使用して一定の回数以上の再現性のあるエラーを区別し、テストの途中で欠陥リストを更新することにより、エラーリストの容量を低減し得るエラーログ作成方法及びエラーテスト装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、ハードディスクドライブ等に使用するメディアにはメディア欠陥が存する。このような、欠陥領域がユーザによりデータ領域として使用されると、データの記憶後の再生時に問題を起こす場合がある。このような問題発生を防止するために、ハードディスク等の製造工程で欠陥を検出して、正常な動作過程で欠陥のある領域がデータ領域として使用されないようにしなければならない。
【０００３】
図１は、従来のハードディスクの製造工程でのデータ領域のメディア欠陥を検出するためのテスト方法を示したフローチャートである。
これを参照すれば、バーンイン（burn-in)テスト（繰り返し書き込み／読み出しテスト）が始まると、データを書き込んでからこのデータを読み出すようになる（ステップ１１）。その後、データの書き込み及び読み出しの過程を繰り返しながらエラーの発生を検出する（ステップ１２）。エラーが発生すると、そのエラーをエラーリストに保管する（ステップ１３）。そして、テストが完了すると（ステップ１４）、エラーリストのエラーを順に整列する（ステップ１５）。この際、繰り返して発生したエラーをメディア欠陥と認めて欠陥リストを作成し、正常な状態で欠陥領域がデータ領域として使用されないように、前記欠陥領域を“欠陥”として分類処理する。そして、このように処理された欠陥リストをハードディスクドライブのディスクに記憶する（ステップ１６）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような従来のテスト方法において、データを書き込んだ後読み出す過程で発生したエラーのリストの一貫性を確保するために、エラーと判定するには通常多数回の書き込み／読み出しのテストを繰り返した結果を使用する。それで、再現性の高いメディア欠陥を有するデータ領域は繰り返し記録／読み出しテストで多数回のエラーを発生するようになるが、これらエラーの発生を全て記憶すると、エラーリストを記憶するための大容量のメモリが必要となる。
【０００５】
また、メモリの容量が制限されている場合には、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に、保管されたエラーを整列する時点で補助記憶装置にあるエラーリストを分割してメモリに読み出して処理する。この場合は、エラーを記憶する過程で繰り返して発生するエラーを重複記憶する場合も考えられ、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に再び読み出して処理する必要があって、複雑な操作となる。
【０００６】
本発明は、前記のような問題点を改善するために創出されたものであり、エラー記憶過程において、反復的に発生するエラーを重複記憶することを防止すると共に、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読み出して処理するという複雑さを解消しうるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置を提供することにその目的がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明よるエラーログ作成方法は、データの書き込み及び読み出しテストで発生するエラーの履歴をエラーリストに記憶しながらエラーログを作成するエラーログ作成方法であって、発生したエラーが臨時欠陥リストに存するか否かを確認し、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存すると、以下に記載のステップをスキップするステップと、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに追加するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やすステップと、エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加するステップと、前記エラーを前記エラーリストに追加するステップとを含み、エラーの発生毎に前記ステップを順に繰り返すことを特徴とする。
【０００８】
ここで、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶した臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録したエラー頻度リストと、発生した各エラーを発生順に記憶したエラーリストとを、テスト開始前に予め備えるステップをさらに含んでなる。また、前記臨時欠陥リストにエラーが存するか否かを確認するステップ前に、特定パターン又は任意パターンのデータをエラーテストの対象メディアに書き込み及び読み出すステップをさらに含んでなる。また、前記特性パターン又は任意パターンのデータの書き込み及び読み出しにおいて、欠陥の検出性を高めるために書き込みの条件に所定のストレスを加える。また、前記所定のストレスとしては、データパターンの変更、オフトラック読み出し、データスレショルドの調整、ハードウェアＥＣＣ訂正能力の制限、及びシンクパターンの変更などが使用される。
【０００９】
又、本発明のエラーテスト装置は、データの書き込み及び読み出しを繰返して、メディアのエラーテストを行うエラーテスト装置であって、少なくとも、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録するエラー頻度リストと、発生したエラーを蓄積するエラーリストとを含む記憶手段と、エラーテスト中に前記エラー頻度リストでエラーの発生頻度が所定頻度以上になった場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに登録した後、該エラーの前記エラーヒンドリストへの記録及び前記エラーリストへの蓄積をスキップするよう制御する制御手段と、テスト終了後に前記臨時欠陥リストを被テストメディアに格納する欠陥リスト格納手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の一実施の形態を詳細に説明する。
＜本実施の形態のエラーテスト装置の構成例＞
図３は、本実施の形態のエラーテスト装置の一構成例を示すブロック図である。尚、本装置は汎用コンピュータ上で実現されても特殊装置として実現されてもよい。
【００１１】
図中、３１は演算・制御用のＣＰＵ、３２はＣＰＵ３１の実行するプログラムを格納するＲＯＭであり、本例ではテストプログラムやリスト作成プログラムから成るバーンインテストプログラム３２ａを含んでいる。３３は作業用の補助記憶として使用されるＲＡＭであり、本例で使用される臨時欠陥リスト３３ａと、エラー頻度リスト３３ｂと、エラーリスト３３ｃとを含んでいる。３４は、本装置でテストされるディスク３４ａのリード／ライトを行うハードディスクドライブであり、エラーテスト後にはディスク３４ａ上に欠陥リスト３４ｂが記憶される。
【００１２】
尚、本実施の形態では、ハードディスクを例に説明するが、本発明はフロッピーディスク，ＭＤ，ＤＶＤ等の記憶媒体に適用が可能である。
＜本実施の形態のエラーテスト装置の動作例＞
図２は、本実施の形態のエラーテスト装置の動作手順を示すフローチャートである。
【００１３】
本実施の形態の方法を遂行するために、まず、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リスト３３ａと、エラーの位置とそのエラーの発生頻度を記録したエラー頻度リスト３３ｂと、発生した各エラーを発生順に記憶したエラーリスト３３ｃとを用意する。勿論、このようなリストは、上記のように、使用者がコンピュータを用いて予め準備する。以上のようなリストの準備が完了されると、本格的な作業が始まる。
【００１４】
即ち、図２のように、バーンインテストが始まると、まず特定パターン又は任意のパターンのデータを書き込む（ステップ２１）。この際、欠陥の検出性を高めるために読み出しの条件に所定のストレスを加える。ここで、このようなストレスとしては、データパターンの変更、オフトラックの読み出し、データスレショルド（臨界値）の調整、ハードウェアＥＣＣ（Error Correcting Code;誤動作訂正コード）の訂正能力の制限、そして、シンクパターンの変更などが使用される。ストレスの付加が完了すると、データを読み出す（ステップ２１）。そして、このような過程を繰り返しながらエラー発生を確認する（ステップ２２）。
【００１５】
このステップ２２でエラーが発生しなければ、テスト完了ステップに進んでテストを完了するか否かを確認する（ステップ３０）。そして、前記ステップ２２でエラーが発生すると、それが臨時欠陥リストに記録されている欠陥であるか否かを確認する（ステップ２３）。この際に、臨時欠陥リストに予め記録されている欠陥ならば、エラーを記憶しない。若し、前記確認ステップ２３で臨時欠陥リスト内に存在しなければ、次にエラー頻度リストに記録されている欠陥であるか否かを確認する（ステップ２４）。このステップ２４でエラーがエラー頻度リストに存在すると、エラーの発生頻度を増やす（ステップ２５）。そして、エラーがエラー頻度リストに存在しなければ、エラーをエラー頻度リストに追加する（ステップ２６）。
【００１６】
その後、エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度以上であるか否かを確認する（ステップ２７）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度以上なら、エラーを臨時欠陥リストに追加し（ステップ２８）エラーをエラーリストに追加する（ステップ２９）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度未満なら、単に、エラーをエラーリストに追加する（ステップ２９）。このようにして得た結果は、システムの流れに応じてテストを完了するか否かを確認するステップ（ステップ３０）で、テストを完了してもよいと決められると、臨時欠陥リストをハードディスクドライブ３４のディスク３４ａに記録し、作業を完了する（ステップ３１）。
【００１７】
すなわち、バーンインテストを完了した後の臨時欠陥リストは、エラーの発生されたセクタのうち、欠陥として分類できる頻度以上のエラー頻度を有する全てのセクタを含むようになり、これを最終の欠陥リストとして使用することができる。
【００１８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置は、欠陥検出テスト時のエラーを記憶する過程でエラー頻度リストと臨時欠陥リストとを使用することにより、一定の回数以上再現性のあるエラーを区別して、テストの途中に仮欠陥リストを更新することにより、エラーリストの容量を低減することができる。したがって、エラーを記憶する過程で繰り返して発生するエラーを重複記憶することを防止し、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読み出して処理する複雑な処理を解消する。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のハードディスクの製造工程でデータ領域のメディア欠陥を検出するためのテスト方法を示したフローチャートである。
【図２】本実施の形態のエラーログ作成方法によりエラーをログする過程を示したフローチャートである。
【図３】本実施の形態のエラーログ作成方法を実現するエラーテスト装置の構成を示すブロック図である。
【発明の属する技術分野】
本発明はエラーログ(error log) 作成方法及びエラーテスト装置に係り、特に欠陥(defect)検出テスト時にエラーを記憶する過程において、エラー頻度リストと臨時(temporary) 欠陥リストとを使用して一定の回数以上の再現性のあるエラーを区別し、テストの途中で欠陥リストを更新することにより、エラーリストの容量を低減し得るエラーログ作成方法及びエラーテスト装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、ハードディスクドライブ等に使用するメディアにはメディア欠陥が存する。このような、欠陥領域がユーザによりデータ領域として使用されると、データの記憶後の再生時に問題を起こす場合がある。このような問題発生を防止するために、ハードディスク等の製造工程で欠陥を検出して、正常な動作過程で欠陥のある領域がデータ領域として使用されないようにしなければならない。
【０００３】
図１は、従来のハードディスクの製造工程でのデータ領域のメディア欠陥を検出するためのテスト方法を示したフローチャートである。
これを参照すれば、バーンイン（burn-in)テスト（繰り返し書き込み／読み出しテスト）が始まると、データを書き込んでからこのデータを読み出すようになる（ステップ１１）。その後、データの書き込み及び読み出しの過程を繰り返しながらエラーの発生を検出する（ステップ１２）。エラーが発生すると、そのエラーをエラーリストに保管する（ステップ１３）。そして、テストが完了すると（ステップ１４）、エラーリストのエラーを順に整列する（ステップ１５）。この際、繰り返して発生したエラーをメディア欠陥と認めて欠陥リストを作成し、正常な状態で欠陥領域がデータ領域として使用されないように、前記欠陥領域を“欠陥”として分類処理する。そして、このように処理された欠陥リストをハードディスクドライブのディスクに記憶する（ステップ１６）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような従来のテスト方法において、データを書き込んだ後読み出す過程で発生したエラーのリストの一貫性を確保するために、エラーと判定するには通常多数回の書き込み／読み出しのテストを繰り返した結果を使用する。それで、再現性の高いメディア欠陥を有するデータ領域は繰り返し記録／読み出しテストで多数回のエラーを発生するようになるが、これらエラーの発生を全て記憶すると、エラーリストを記憶するための大容量のメモリが必要となる。
【０００５】
また、メモリの容量が制限されている場合には、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に、保管されたエラーを整列する時点で補助記憶装置にあるエラーリストを分割してメモリに読み出して処理する。この場合は、エラーを記憶する過程で繰り返して発生するエラーを重複記憶する場合も考えられ、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に再び読み出して処理する必要があって、複雑な操作となる。
【０００６】
本発明は、前記のような問題点を改善するために創出されたものであり、エラー記憶過程において、反復的に発生するエラーを重複記憶することを防止すると共に、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読み出して処理するという複雑さを解消しうるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置を提供することにその目的がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明よるエラーログ作成方法は、データの書き込み及び読み出しテストで発生するエラーの履歴をエラーリストに記憶しながらエラーログを作成するエラーログ作成方法であって、発生したエラーが臨時欠陥リストに存するか否かを確認し、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存すると、以下に記載のステップをスキップするステップと、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに追加するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やすステップと、エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加するステップと、前記エラーを前記エラーリストに追加するステップとを含み、エラーの発生毎に前記ステップを順に繰り返すことを特徴とする。
【０００８】
ここで、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶した臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録したエラー頻度リストと、発生した各エラーを発生順に記憶したエラーリストとを、テスト開始前に予め備えるステップをさらに含んでなる。また、前記臨時欠陥リストにエラーが存するか否かを確認するステップ前に、特定パターン又は任意パターンのデータをエラーテストの対象メディアに書き込み及び読み出すステップをさらに含んでなる。また、前記特性パターン又は任意パターンのデータの書き込み及び読み出しにおいて、欠陥の検出性を高めるために書き込みの条件に所定のストレスを加える。また、前記所定のストレスとしては、データパターンの変更、オフトラック読み出し、データスレショルドの調整、ハードウェアＥＣＣ訂正能力の制限、及びシンクパターンの変更などが使用される。
【０００９】
又、本発明のエラーテスト装置は、データの書き込み及び読み出しを繰返して、メディアのエラーテストを行うエラーテスト装置であって、少なくとも、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録するエラー頻度リストと、発生したエラーを蓄積するエラーリストとを含む記憶手段と、エラーテスト中に前記エラー頻度リストでエラーの発生頻度が所定頻度以上になった場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに登録した後、該エラーの前記エラーヒンドリストへの記録及び前記エラーリストへの蓄積をスキップするよう制御する制御手段と、テスト終了後に前記臨時欠陥リストを被テストメディアに格納する欠陥リスト格納手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の一実施の形態を詳細に説明する。
＜本実施の形態のエラーテスト装置の構成例＞
図３は、本実施の形態のエラーテスト装置の一構成例を示すブロック図である。尚、本装置は汎用コンピュータ上で実現されても特殊装置として実現されてもよい。
【００１１】
図中、３１は演算・制御用のＣＰＵ、３２はＣＰＵ３１の実行するプログラムを格納するＲＯＭであり、本例ではテストプログラムやリスト作成プログラムから成るバーンインテストプログラム３２ａを含んでいる。３３は作業用の補助記憶として使用されるＲＡＭであり、本例で使用される臨時欠陥リスト３３ａと、エラー頻度リスト３３ｂと、エラーリスト３３ｃとを含んでいる。３４は、本装置でテストされるディスク３４ａのリード／ライトを行うハードディスクドライブであり、エラーテスト後にはディスク３４ａ上に欠陥リスト３４ｂが記憶される。
【００１２】
尚、本実施の形態では、ハードディスクを例に説明するが、本発明はフロッピーディスク，ＭＤ，ＤＶＤ等の記憶媒体に適用が可能である。
＜本実施の形態のエラーテスト装置の動作例＞
図２は、本実施の形態のエラーテスト装置の動作手順を示すフローチャートである。
【００１３】
本実施の形態の方法を遂行するために、まず、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リスト３３ａと、エラーの位置とそのエラーの発生頻度を記録したエラー頻度リスト３３ｂと、発生した各エラーを発生順に記憶したエラーリスト３３ｃとを用意する。勿論、このようなリストは、上記のように、使用者がコンピュータを用いて予め準備する。以上のようなリストの準備が完了されると、本格的な作業が始まる。
【００１４】
即ち、図２のように、バーンインテストが始まると、まず特定パターン又は任意のパターンのデータを書き込む（ステップ２１）。この際、欠陥の検出性を高めるために読み出しの条件に所定のストレスを加える。ここで、このようなストレスとしては、データパターンの変更、オフトラックの読み出し、データスレショルド（臨界値）の調整、ハードウェアＥＣＣ（Error Correcting Code;誤動作訂正コード）の訂正能力の制限、そして、シンクパターンの変更などが使用される。ストレスの付加が完了すると、データを読み出す（ステップ２１）。そして、このような過程を繰り返しながらエラー発生を確認する（ステップ２２）。
【００１５】
このステップ２２でエラーが発生しなければ、テスト完了ステップに進んでテストを完了するか否かを確認する（ステップ３０）。そして、前記ステップ２２でエラーが発生すると、それが臨時欠陥リストに記録されている欠陥であるか否かを確認する（ステップ２３）。この際に、臨時欠陥リストに予め記録されている欠陥ならば、エラーを記憶しない。若し、前記確認ステップ２３で臨時欠陥リスト内に存在しなければ、次にエラー頻度リストに記録されている欠陥であるか否かを確認する（ステップ２４）。このステップ２４でエラーがエラー頻度リストに存在すると、エラーの発生頻度を増やす（ステップ２５）。そして、エラーがエラー頻度リストに存在しなければ、エラーをエラー頻度リストに追加する（ステップ２６）。
【００１６】
その後、エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度以上であるか否かを確認する（ステップ２７）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度以上なら、エラーを臨時欠陥リストに追加し（ステップ２８）エラーをエラーリストに追加する（ステップ２９）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度未満なら、単に、エラーをエラーリストに追加する（ステップ２９）。このようにして得た結果は、システムの流れに応じてテストを完了するか否かを確認するステップ（ステップ３０）で、テストを完了してもよいと決められると、臨時欠陥リストをハードディスクドライブ３４のディスク３４ａに記録し、作業を完了する（ステップ３１）。
【００１７】
すなわち、バーンインテストを完了した後の臨時欠陥リストは、エラーの発生されたセクタのうち、欠陥として分類できる頻度以上のエラー頻度を有する全てのセクタを含むようになり、これを最終の欠陥リストとして使用することができる。
【００１８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置は、欠陥検出テスト時のエラーを記憶する過程でエラー頻度リストと臨時欠陥リストとを使用することにより、一定の回数以上再現性のあるエラーを区別して、テストの途中に仮欠陥リストを更新することにより、エラーリストの容量を低減することができる。したがって、エラーを記憶する過程で繰り返して発生するエラーを重複記憶することを防止し、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読み出して処理する複雑な処理を解消する。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のハードディスクの製造工程でデータ領域のメディア欠陥を検出するためのテスト方法を示したフローチャートである。
【図２】本実施の形態のエラーログ作成方法によりエラーをログする過程を示したフローチャートである。
【図３】本実施の形態のエラーログ作成方法を実現するエラーテスト装置の構成を示すブロック図である。
Claims (6)
- データの書き込み及び読み出しテストで発生するエラーの履歴をエラーリストに記憶しながらエラーログを作成するエラーログ作成方法であって、
発生したエラーが臨時欠陥リストに存するか否かを確認し、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存すると、以下に記載のステップをスキップするステップと、
前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認するステップと、
前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに追加するステップと、
前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やすステップと、
エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加するステップと、
前記エラーを前記エラーリストに追加するステップとを含み、
エラーの発生毎に前記ステップを順に繰り返すことを特徴とするエラーログ作成方法。 - エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶した臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録したエラー頻度リストと、発生した各エラーを発生順に記憶したエラーリストとを、テスト開始前に予め備えるステップをさらに含んでなることを特徴とする請求項１記載のエラーログ作成方法。
- 前記臨時欠陥リストにエラーが存するか否かを確認するステップ前に、特定パターン又は任意パターンのデータをエラーテストの対象メディアに書き込み及び読み出すステップをさらに含んでなることを特徴とする請求項１記載のエラーログ作成方法。
- 前記特性パターン又は任意パターンのデータの書き込み及び読み出しにおいて、欠陥の検出性を高めるために書き込みの条件に所定のストレスを加えることを特徴とする請求項３記載のエラーログ作成方法。
- 前記所定のストレスとしては、データパターンの変更、オフトラック読み出し、データスレショルドの調整、ハードウェアＥＣＣ訂正能力の制限、及びシンクパターンの変更などが使用されることを特徴とする請求項４記載のエラーログ作成方法。
- データの書き込み及び読み出しを繰返して、メディアのエラーテストを行うエラーテスト装置であって、
少なくとも、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録するエラー頻度リストと、発生したエラーを蓄積するエラーリストとを含む記憶手段と、
エラーテスト中に前記エラー頻度リストでエラーの発生頻度が所定頻度以上になった場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに登録した後、該エラーの前記エラーヒンドリストへの記録及び前記エラーリストへの蓄積をスキップするよう制御する制御手段と、
テスト終了後に前記臨時欠陥リストを被テストメディアに格納する欠陥リスト格納手段とを備えることを特徴とするエラーテスト装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950008118A KR100243314B1 (ko) | 1995-04-07 | 1995-04-07 | 임시 디펙트 리스트를 이용한 에러 로그 방법 |
| KR95-8118 | 1995-04-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08286841A JPH08286841A (ja) | 1996-11-01 |
| JP3717981B2 true JP3717981B2 (ja) | 2005-11-16 |
Family
ID=19411736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27401795A Expired - Fee Related JP3717981B2 (ja) | 1995-04-07 | 1995-10-23 | エラーログ作成方法及びエラーテスト装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6381710B1 (ja) |
| JP (1) | JP3717981B2 (ja) |
| KR (1) | KR100243314B1 (ja) |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR980011310A (ko) * | 1996-07-30 | 1998-04-30 | 김광호 | 메인터넌스실린더내 디펙 처리방법 |
| KR100440791B1 (ko) * | 1997-05-02 | 2004-10-14 | 삼성전자주식회사 | 다이내믹(dynamic)디펙관리방법 |
| KR100510444B1 (ko) * | 1997-12-30 | 2005-09-26 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브의 테스트 이력 관리 방법 |
| US6915375B2 (en) * | 1998-08-31 | 2005-07-05 | Sony Corporation | Memory apparatus and a data-processing apparatus, and method for using the memory apparatus |
| TR200100760T1 (tr) * | 1999-07-16 | 2001-09-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Yazdırma korumalı kusur listesi olan kayıt ortamı |
| US6886108B2 (en) * | 2001-04-30 | 2005-04-26 | Sun Microsystems, Inc. | Threshold adjustment following forced failure of storage device |
| JP3983138B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2007-09-26 | 富士通株式会社 | 障害情報収集プログラムおよび障害情報収集装置 |
| US7233550B2 (en) * | 2002-09-30 | 2007-06-19 | Lg Electronics Inc. | Write-once optical disc, and method and apparatus for recording management information on write-once optical disc |
| JP4270991B2 (ja) * | 2002-10-11 | 2009-06-03 | 株式会社リコー | 情報記録装置、情報記録方法、情報記録用プログラム、情報記録用プログラムを記憶する記憶媒体、及び情報記録システム |
| EP1579447B1 (en) * | 2002-12-11 | 2010-03-24 | LG Electronics Inc. | Method of managing overwrite and method of recording management information on an optical disc write once |
| JP4101088B2 (ja) * | 2003-03-07 | 2008-06-11 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置、情報読取装置、情報記録方法、情報読取方法およびコンピュータプログラム |
| CN101051503B (zh) * | 2003-03-17 | 2010-07-07 | 日本先锋公司 | 一次写入型记录介质、记录装置、重放装置、及记录方法 |
| TWI405191B (zh) * | 2003-05-09 | 2013-08-11 | Lg Electronics Inc | 單寫型光碟及由單寫型光碟回復碟片管理資訊的方法與裝置 |
| US20080043366A1 (en) * | 2003-06-26 | 2008-02-21 | Spectra Logic Corporation | Tape cartridge auxiliary memeory based library |
| US8302111B2 (en) | 2003-11-24 | 2012-10-30 | Time Warner Cable Inc. | Methods and apparatus for hardware registration in a network device |
| US7266726B1 (en) * | 2003-11-24 | 2007-09-04 | Time Warner Cable Inc. | Methods and apparatus for event logging in an information network |
| US7472330B2 (en) * | 2003-11-26 | 2008-12-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Magnetic memory which compares compressed fault maps |
| US9213538B1 (en) | 2004-02-06 | 2015-12-15 | Time Warner Cable Enterprises Llc | Methods and apparatus for display element management in an information network |
| US8078669B2 (en) | 2004-02-18 | 2011-12-13 | Time Warner Cable Inc. | Media extension apparatus and methods for use in an information network |
| JP4125274B2 (ja) * | 2004-08-26 | 2008-07-30 | キヤノン株式会社 | 画像入出力装置および情報処理方法およびコンピュータが読み取り可能なプログラムを格納した記憶媒体およびプログラム |
| JP4763438B2 (ja) * | 2005-12-01 | 2011-08-31 | ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ | 磁気ディスク装置、欠陥セクタの登録方法、およびフライング・ハイトの制御方法 |
| EP1816645A1 (en) * | 2006-02-02 | 2007-08-08 | Thomson Licensing S.A. | Method for controlling the quality of storage media |
| US8615691B2 (en) * | 2006-10-13 | 2013-12-24 | Advantest (Singapore) Pte Ltd | Process for improving design-limited yield by localizing potential faults from production test data |
| US8453026B2 (en) * | 2006-10-13 | 2013-05-28 | Advantest (Singapore) Pte Ltd | Process for improving design limited yield by efficiently capturing and storing production test data for analysis using checksums, hash values, or digital fault signatures |
| US8370818B2 (en) | 2006-12-02 | 2013-02-05 | Time Warner Cable Inc. | Methods and apparatus for analyzing software interface usage |
| JP2009064098A (ja) * | 2007-09-04 | 2009-03-26 | Nec Corp | 運用管理システムおよび定義不足の分析方法 |
| US7848037B2 (en) * | 2007-11-19 | 2010-12-07 | Hitachi Global Storage Technologies, Netherlands, B.V. | Media defect removal in disk drive head testing |
| JP2010160724A (ja) * | 2009-01-09 | 2010-07-22 | Ricoh Co Ltd | メモリ制御システム、メモリ制御方法、メモリ制御プログラム及び記録媒体 |
| WO2013181638A2 (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Ikonopedia, Inc. | Image based analytical systems and processes |
| US8868768B2 (en) | 2012-11-20 | 2014-10-21 | Ikonopedia, Inc. | Secure medical data transmission |
| CN104461842B (zh) * | 2013-09-23 | 2018-02-16 | 伊姆西公司 | 基于日志相似性来处理故障的方法和装置 |
| US11716558B2 (en) | 2018-04-16 | 2023-08-01 | Charter Communications Operating, Llc | Apparatus and methods for integrated high-capacity data and wireless network services |
| US11129213B2 (en) | 2018-10-12 | 2021-09-21 | Charter Communications Operating, Llc | Apparatus and methods for cell identification in wireless networks |
| US11129171B2 (en) | 2019-02-27 | 2021-09-21 | Charter Communications Operating, Llc | Methods and apparatus for wireless signal maximization and management in a quasi-licensed wireless system |
| US11026205B2 (en) | 2019-10-23 | 2021-06-01 | Charter Communications Operating, Llc | Methods and apparatus for device registration in a quasi-licensed wireless system |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3906200A (en) * | 1974-07-05 | 1975-09-16 | Sperry Rand Corp | Error logging in semiconductor storage units |
| US3999051A (en) * | 1974-07-05 | 1976-12-21 | Sperry Rand Corporation | Error logging in semiconductor storage units |
| US4736373A (en) * | 1981-08-03 | 1988-04-05 | Pacific Western Systems, Inc. | Memory tester having concurrent failure data readout and memory repair analysis |
| US4456995A (en) * | 1981-12-18 | 1984-06-26 | International Business Machines Corporation | Apparatus for high speed fault mapping of large memories |
| DE3685078D1 (de) | 1985-09-09 | 1992-06-04 | Hitachi Ltd | Speicherpruefgeraet. |
| US4782487A (en) | 1987-05-15 | 1988-11-01 | Digital Equipment Corporation | Memory test method and apparatus |
| US4876685A (en) | 1987-06-08 | 1989-10-24 | Teradyne, Inc. | Failure information processing in automatic memory tester |
| JPH0642301B2 (ja) | 1987-12-15 | 1994-06-01 | シャープ株式会社 | 記憶媒体の欠陥管理方式 |
| US4964129A (en) | 1988-12-21 | 1990-10-16 | Bull Hn Information Systems Inc. | Memory controller with error logging |
| US4964130A (en) * | 1988-12-21 | 1990-10-16 | Bull Hn Information Systems Inc. | System for determining status of errors in a memory subsystem |
| US5200959A (en) | 1989-10-17 | 1993-04-06 | Sundisk Corporation | Device and method for defect handling in semi-conductor memory |
| US5233614A (en) * | 1991-01-07 | 1993-08-03 | International Business Machines Corporation | Fault mapping apparatus for memory |
| US5422890A (en) | 1991-11-19 | 1995-06-06 | Compaq Computer Corporation | Method for dynamically measuring computer disk error rates |
| US5216672A (en) | 1992-04-24 | 1993-06-01 | Digital Equipment Corporation | Parallel diagnostic mode for testing computer memory |
| US5475693A (en) * | 1994-12-27 | 1995-12-12 | Intel Corporation | Error management processes for flash EEPROM memory arrays |
-
1995
- 1995-04-07 KR KR1019950008118A patent/KR100243314B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-10-12 US US08/542,418 patent/US6381710B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-10-23 JP JP27401795A patent/JP3717981B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100243314B1 (ko) | 2000-02-01 |
| JPH08286841A (ja) | 1996-11-01 |
| US6381710B1 (en) | 2002-04-30 |
| KR960038917A (ko) | 1996-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3717981B2 (ja) | エラーログ作成方法及びエラーテスト装置 | |
| US6625096B1 (en) | Optical disk recording and reproduction method and apparatus as well as medium on which optical disk recording and reproduction program is recorded | |
| US5422890A (en) | Method for dynamically measuring computer disk error rates | |
| US7134051B2 (en) | Disk memory device, disk memory device defect detecting method, and program recording medium | |
| US5751947A (en) | Magnetic disk apparatus having inspection function of recording medium and method of inspecting recording medium in magnetic disk apparatus | |
| JP2656730B2 (ja) | データ回復方法及び装置 | |
| US5935261A (en) | Method and apparatus for detecting handling damage in a disk drive | |
| US6263462B1 (en) | Testing method and tester | |
| US6229743B1 (en) | Method of a reassign block processing time determination test for storage device | |
| JPH06111479A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| US20070177293A1 (en) | Method for recording data freshness degrees by tape drive | |
| JPH1050005A (ja) | 光ディスク欠陥管理方法および装置 | |
| JPH08227557A (ja) | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 | |
| JP3289931B2 (ja) | 情報記録再生装置 | |
| US6785077B2 (en) | Disc drive pattern zero verification test | |
| JPH0675717A (ja) | ハードディスクのリードエラーリカバリ方式 | |
| KR100604931B1 (ko) | 정보 저장 수단의 품질 검사 방법 및 그 장치 | |
| JP2006309810A (ja) | 磁気ディスク装置の製造方法及び磁気ディスク装置 | |
| JPH0714315A (ja) | 情報記録再生装置の交代セクタ管理方法 | |
| JPH07182800A (ja) | 磁気ディスク装置の検査装置及びその検査方法 | |
| JPH02101681A (ja) | ディスク制御方式 | |
| JPH09161415A (ja) | 磁気テープ装置の制御方法 | |
| JPH03144970A (ja) | 情報記録再生方法及びそれに用いる情報記録再生装置 | |
| JPH08161121A (ja) | 記憶媒体のフォーマット処理装置 | |
| JP2001256710A (ja) | 情報記録媒体ドライブの不良判別システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050404 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050704 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20050707 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050822 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050901 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080909 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100909 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110909 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130909 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |