JPH08286841A - エラーログ作成方法及びエラーテスト装置 - Google Patents

エラーログ作成方法及びエラーテスト装置

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JPH08286841A
JPH08286841A JP7274017A JP27401795A JPH08286841A JP H08286841 A JPH08286841 A JP H08286841A JP 7274017 A JP7274017 A JP 7274017A JP 27401795 A JP27401795 A JP 27401795A JP H08286841 A JPH08286841 A JP H08286841A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 反復的に発生するエラーを重複記憶すること
を防止すると共に、補助記憶装置にエラーリストを記憶
した後に更に読み出して処理するという複雑さを解消し
うるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置を提供す
る。 【解決手段】 発生したエラーが臨時欠陥リストに存す
るかを確認し(23)、前記エラーが前記臨時欠陥リストに
存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存する
か否かを確認し(24)、前記エラーが前記エラー頻度リス
トに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リスト
に追加し(26)、前記エラーが前記エラー頻度リストに存
すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻
度を増やし(25)、エラーの発生頻度が欠陥に分類できる
頻度以上の場合に(27)、該エラーを前記臨時欠陥リスト
に追加することにより(28)、一定の回数以上再現性のあ
るエラーを区別し、テストの途中に欠陥リストを更新す
ることにより、エラーリストの容量を低減することがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はエラーログ(error l
og) 作成方法及びエラーテスト装置に係り、特に欠陥(d
efect)検出テスト時にエラーを記憶する過程において、
エラー頻度リストと臨時(temporary) 欠陥リストとを使
用して一定の回数以上の再現性のあるエラーを区別し、
テストの途中で欠陥リストを更新することにより、エラ
ーリストの容量を低減し得るエラーログ作成方法及びエ
ラーテスト装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ハードディスクドライブ等に使
用するメディアにはメディア欠陥が存する。このよう
な、欠陥領域がユーザによりデータ領域として使用され
ると、データの記憶後の再生時に問題を起こす場合があ
る。このような問題発生を防止するために、ハードディ
スク等の製造工程で欠陥を検出して、正常な動作過程で
欠陥のある領域がデータ領域として使用されないように
しなければならない。
【０００３】図１は、従来のハードディスクの製造工程
でのデータ領域のメディア欠陥を検出するためのテスト
方法を示したフローチャートである。これを参照すれ
ば、バーンイン（burn-in)テスト（繰り返し書き込み／
読み出しテスト）が始まると、データを書き込んでから
このデータを読み出すようになる（ステップ１１）。そ
の後、データの書き込み及び読み出しの過程を繰り返し
ながらエラーの発生を検出する（ステップ１２）。エラ
ーが発生すると、そのエラーをエラーリストに保管する
（ステップ１３）。そして、テストが完了すると（ステ
ップ１４）、エラーリストのエラーを順に整列する（ス
テップ１５）。この際、繰り返して発生したエラーをメ
ディア欠陥と認めて欠陥リストを作成し、正常な状態で
欠陥領域がデータ領域として使用されないように、前記
欠陥領域を“欠陥”として分類処理する。そして、この
ように処理された欠陥リストをハードディスクドライブ
のディスクに記憶する（ステップ１６）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来のテスト方法において、データを書き込んだ後読み
出す過程で発生したエラーのリストの一貫性を確保する
ために、エラーと判定するには通常多数回の書き込み／
読み出しのテストを繰り返した結果を使用する。それ
で、再現性の高いメディア欠陥を有するデータ領域は繰
り返し記録／読み出しテストで多数回のエラーを発生す
るようになるが、これらエラーの発生を全て記憶する
と、エラーリストを記憶するための大容量のメモリが必
要となる。
【０００５】また、メモリの容量が制限されている場合
には、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に、保
管されたエラーを整列する時点で補助記憶装置にあるエ
ラーリストを分割してメモリに読み出して処理する。こ
の場合は、エラーを記憶する過程で繰り返して発生する
エラーを重複記憶する場合も考えられ、補助記憶装置に
エラーリストを記憶した後に再び読み出して処理する必
要があって、複雑な操作となる。
【０００６】本発明は、前記のような問題点を改善する
ために創出されたものであり、エラー記憶過程におい
て、反復的に発生するエラーを重複記憶することを防止
すると共に、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後
に更に読み出して処理するという複雑さを解消しうるエ
ラーログ作成方法及びエラーテスト装置を提供すること
にその目的がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明によるエラーログ作成方法は、発生したエ
ラーが臨時欠陥リストに存するか否かを確認するステッ
プと、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなけれ
ば、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確
認するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リスト
に存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに
追加するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リス
トに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの
発生頻度を増やすステップと、エラーの発生頻度が欠陥
に分類できる頻度以上の場合に、該エラーを前記臨時欠
陥リストに追加するステップとを含んでなることを特徴
とする。
【０００８】ここで、エラーの発生頻度が定められた臨
界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶した臨
時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度と
を記録したエラー頻度リストと、発生した各エラーを発
生順に記憶したエラーリストとを、テスト開始前に予め
備えるステップをさらに含む。また、前記臨時欠陥リス
トにエラーが存するか否かを確認するステップ前に、特
定パターン又は任意パターンのデータを書き込み及び読
み出すステップをさらに含む。また、前記特性パターン
又は任意パターンのデータの書き込み及び読み出しにお
いて、欠陥の検出性を高めるために書き込みの条件に所
定のストレスを加える。また、前記所定のストレスとし
ては、データパターンの変更、オフトラック読み出し、
データスレショルドの調整、ハードウェアＥＣＣ訂正能
力の制限、及びシンクパターンの変更などが使用され
る。
【０００９】又、本発明のエラーテスト装置は、少なく
とも、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上である
エラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リスト
と、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録するエ
ラー頻度リストとを含む記憶手段と、エラーテスト中に
前記エラー頻度リストでエラーの発生頻度が所定頻度以
上になった場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに登
録するよう制御する制御手段と、テスト終了後に前記臨
時欠陥リストを被テスト媒体に格納する欠陥リスト格納
手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明の一実施の形態を詳細に説明する。 ＜本実施の形態のエラーテスト装置の構成例＞図３は、
本実施の形態のエラーテスト装置の一構成例を示すブロ
ック図である。尚、本装置は汎用コンピュータ上で実現
されても特殊装置として実現されてもよい。
【００１１】図中、３１は演算・制御用のＣＰＵ、３２
はＣＰＵ３１の実行するプログラムを格納するＲＯＭで
あり、本例ではテストプログラムやリスト作成プログラ
ムから成るバーンインテストプログラム３２ａを含んで
いる。３３は作業用の補助記憶として使用されるＲＡＭ
であり、本例で使用される臨時欠陥リスト３３ａと、エ
ラー頻度リスト３３ｂと、エラーリスト３３ｃとを含ん
でいる。３４は、本装置でテストされるディスク３４ａ
のリード／ライトを行うハードディスクドライブであ
り、エラーテスト後にはディスク３４ａ上に欠陥リスト
３４ｂが記憶される。
【００１２】尚、本実施の形態では、ハードディスクを
例に説明するが、本発明はフロッピーディスク，ＭＤ，
ＤＶＤ等の記憶媒体に適用が可能である。 ＜本実施の形態のエラーテスト装置の動作例＞図２は、
本実施の形態のエラーテスト装置の動作手順を示すフロ
ーチャートである。
【００１３】本実施の形態の方法を遂行するために、ま
ず、エラーの発生頻度が定められた臨界値以上であるエ
ラーを欠陥として分類して記憶する臨時欠陥リスト３３
ａと、エラーの位置とそのエラーの発生頻度を記録した
エラー頻度リスト３３ｂと、発生した各エラーを発生順
に記憶したエラーリスト３３ｃとを用意する。勿論、こ
のようなリストは、上記のように、使用者がコンピュー
タを用いて予め準備する。以上のようなリストの準備が
完了されると、本格的な作業が始まる。
【００１４】即ち、図２のように、バーンインテストが
始まると、まず特定パターン又は任意のパターンのデー
タを書き込む（ステップ２１）。この際、欠陥の検出性
を高めるために読み出しの条件に所定のストレスを加え
る。ここで、このようなストレスとしては、データパタ
ーンの変更、オフトラックの読み出し、データスレショ
ルド（臨界値）の調整、ハードウェアＥＣＣ（Error Co
rrecting Code;誤動作訂正コード）の訂正能力の制限、
そして、シンクパターンの変更などが使用される。スト
レスの付加が完了すると、データを読み出す（ステップ
２１）。そして、このような過程を繰り返しながらエラ
ー発生を確認する（ステップ２２）。
【００１５】このステップ２２でエラーが発生しなけれ
ば、テスト完了ステップに進んでテストを完了するか否
かを確認する（ステップ３０）。そして、前記ステップ
２２でエラーが発生すると、それが臨時欠陥リストに記
録されている欠陥であるか否かを確認する（ステップ２
３）。この際に、臨時欠陥リストに予め記録されている
欠陥ならば、エラーを記憶しない。若し、前記確認ステ
ップ２３で臨時欠陥リスト内に存在しなければ、次にエ
ラー頻度リストに記録されている欠陥であるか否かを確
認する（ステップ２４）。このステップ２４でエラーが
エラー頻度リストに存在すると、エラーの発生頻度を増
やす（ステップ２５）。そして、エラーがエラー頻度リ
ストに存在しなければ、エラーをエラー頻度リストに追
加する（ステップ２６）。
【００１６】その後、エラー発生頻度が欠陥として分類
できる頻度以上であるか否かを確認する（ステップ２
７）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度以上
なら、エラーを臨時欠陥リストに追加し（ステップ２
８）エラーをエラーリストに追加する（ステップ２
９）。エラー発生頻度が欠陥として分類できる頻度未満
なら、単に、エラーをエラーリストに追加する（ステッ
プ２９）。このようにして得た結果は、システムの流れ
に応じてテストを完了するか否かを確認するステップ
（ステップ３０）で、テストを完了してもよいと決めら
れると、臨時欠陥リストをハードディスクドライブ３４
のディスク３４ａに記録し、作業を完了する（ステップ
３１）。
【００１７】すなわち、バーンインテストを完了した後
の臨時欠陥リストは、エラーの発生されたセクタのう
ち、欠陥として分類できる頻度以上のエラー頻度を有す
る全てのセクタを含むようになり、これを最終の欠陥リ
ストとして使用することができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によるエラ
ーログ作成方法及びエラーテスト装置は、欠陥検出テス
ト時のエラーを記憶する過程でエラー頻度リストと臨時
欠陥リストとを使用することにより、一定の回数以上再
現性のあるエラーを区別して、テストの途中に仮欠陥リ
ストを更新することにより、エラーリストの容量を低減
することができる。したがって、エラーを記憶する過程
で繰り返して発生するエラーを重複記憶することを防止
し、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読
み出して処理する複雑な処理を解消する。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のハードディスクの製造工程でデータ領域
のメディア欠陥を検出するためのテスト方法を示したフ
ローチャートである。
【図２】本実施の形態のエラーログ作成方法によりエラ
ーをログする過程を示したフローチャートである。
【図３】本実施の形態のエラーログ作成方法を実現する
エラーテスト装置の構成を示すブロック図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ 9558−5Ｄ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｂ 9558−5Ｄ ５７２Ｆ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 発生したエラーが臨時欠陥リストに存す
    るか否かを確認するステップと、 前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記
    エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認するス
    テップと、 前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前
    記エラーを前記エラー頻度リストに追加するステップ
    と、 前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エ
    ラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やすステ
    ップと、 エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合
    に、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加するステップ
    とを含んでなることを特徴とするエラーログ作成方法。
  2. 【請求項２】 エラーの発生頻度が定められた臨界値以
    上であるエラーを欠陥として分類して記憶した臨時欠陥
    リストと、エラーの位置と該エラーの発生頻度とを記録
    したエラー頻度リストと、発生した各エラーを発生順に
    記憶したエラーリストとを、テスト開始前に予め備える
    ステップをさらに含んでなることを特徴とする請求項１
    記載のエラーログ作成方法。
  3. 【請求項３】 前記臨時欠陥リストにエラーが存するか
    否かを確認するステップ前に、特定パターン又は任意パ
    ターンのデータを書き込み及び読み出すステップをさら
    に含んでなることを特徴とする請求項１記載のエラーロ
    グ作成方法。
  4. 【請求項４】 前記特性パターン又は任意パターンのデ
    ータの書き込み及び読み出しにおいて、欠陥の検出性を
    高めるために書き込みの条件に所定のストレスを加える
    ことを特徴とする請求項３記載のエラーログ作成方法。
  5. 【請求項５】 前記所定のストレスとしては、データパ
    ターンの変更、オフトラック読み出し、データスレショ
    ルドの調整、ハードウェアＥＣＣ訂正能力の制限、及び
    シンクパターンの変更などが使用されることを特徴とす
    る請求項４記載のエラーログ作成方法。
  6. 【請求項６】 少なくとも、エラーの発生頻度が定めら
    れた臨界値以上であるエラーを欠陥として分類して記憶
    する臨時欠陥リストと、エラーの位置と該エラーの発生
    頻度とを記録するエラー頻度リストとを含む記憶手段
    と、 エラーテスト中に前記エラー頻度リストでエラーの発生
    頻度が所定頻度以上になった場合に、該エラーを前記臨
    時欠陥リストに登録するよう制御する制御手段と、 テスト終了後に前記臨時欠陥リストを被テスト媒体に格
    納する欠陥リスト格納手段とを備えることを特徴とする
    エラーテスト装置。
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