JPH11212731A

JPH11212731A - ファイル装置試験方法

Info

Publication number: JPH11212731A
Application number: JP10012222A
Authority: JP
Inventors: Katsuyuki Kawase; 克之川瀬; Masanori Hirano; 正則平野
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1998-01-26
Filing date: 1998-01-26
Publication date: 1999-08-06

Abstract

(57)【要約】【課題】従来、ファイル装置の媒体全エリアに渡って
書き込みと読み出しの正常性を確認する場合のデータの
照合処理に長時間を要する。【解決手段】メモリ上の１ブロックの固定パターン
（試験用データ）をファイル装置に書き込み、そのデー
タをメモリ上に読み込んだ時に、データの照合は行わず
にそのデータをファイル装置の次の記憶エリアに書き込
む（ステップ１０１〜１０４）。この動作をファイル装
置の記憶媒体の記憶エリアの複数ブロックに対して繰り
返し行い（ステップ１０５〜１０８）、そして、メモリ
上に最後に読み込んだブロックだけに対してデータの照
合を行うことで（ステップ１０９，１１０）、ファイル
装置の機能の正常性を確認する（ステップ１１１，１１
２）ことにより、照合処理時間を短縮する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＰＵ（Central
Processing Unit）に接続されたハードディスク装置等
の外部記憶装置であるファイル装置の機能確認試験の方
法に係わり、特に、大容量のファイル装置に対する試験
を効率的に行うのに好適なファイル装置試験方法に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ハードディスク装置や半導体ファ
イル装置など、記憶媒体を内臓したファイル装置におい
ては、媒体全エリアについて、「０」と「１」の書き込
みと読み出し(読み込み)の正常性を確認する試験とし
て、互いに反転した２つの固定パタ一ン（例えば、５５
ａａ５５ａａＨとａａ５５ａａ５５Ｈ、：「Ｈ」は１６
進表現を示す）を用いて、媒体全エリアに対して書き込
みデータと読み込みデータの照合を行っている。

【０００３】詳しくは、ＣＰＵに接続されたメモリ(メ
インメモリ)上の１ブ口ックの固定パターンデ―タをフ
ァイル装置に書き込み、そのデータをファイル装置から
メモリ上に読み込んで元のデータと照合することを、フ
ァイル装置の媒体全エリアに渡ってブロック数分繰り返
し行っている。このように、従来のファイル装置の試験
方法では、媒体全エリアに渡って書き込みと読み出しの
正常性を確認する場合に、１ブロック毎に全てのデータ
の照合を行っている。そのため、大容量のファイル装置
に対する試験において、照合処理に長時間かかってしま
う。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、従来の技術では、ファイル装置の媒体全エリアに
渡って書き込みと読み出しの正常性を確認する場合のデ
ータの照合処理を短時間で行なうことができない点であ
る。本発明の目的は、これら従来技術の課題を解決し、
大容量のファイル装置に対する試験を効率的に行うこと
を可能とするファイル装置試験方法を提供することであ
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のファイル装置試験方法は、メモリ上の１ブ
ロックの固定パターンをファイル装置に書き込み、その
データをメモリ上に読み込んだ時に、データの照合は行
わずにそのデータをファイル装置の次の記憶エリアに書
き込む。この動作をファイル装置の記憶媒体の記憶エリ
アの複数ブロックに対して繰り返し行い、そして、メモ
リ上に最後に読み込んだブロックだけに対してデータの
照合を行うことで、ファイル装置の機能の正常性を確認
する。このようにすることにより、照合処理時間を短縮
することができる。また、ファイル装置の中で障害の発
生したアドレスを特定するために、ファイル装置からメ
モリ上にデータを読み込む時、メモリのエリアを１ブロ
ックずつずらして読み込みことで、ファイル装置から読
み込まれたデータをメモリ上に全ての残しておく。そし
て、この動作をファイル装置の記憶媒体の記憶エリアの
複数ブロックに対して繰り返し行い、メモリ上に最後に
読み込んだブロックだけデータの照合を行う。このよう
にすることにより、障害が発生した場合、メモリ上に残
っているデータの内、各エリアで障害の発生した可能性
のあるアドレスに該当する部分のデータを容易に検出で
き、ファイル装置上の障害アドレスを短時間で特定する
ことができる。

【０００６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面に
より詳細に説明する。図１は、本発明のファイル装置試
験方法の本発明に係る処理動作の第１の実施例を示すフ
ローチャートであり、図２は、コンピュータシステムで
の図１における処理動作例を示す説明図である。図２に
示す例においては、試験を実施するシステムは、照合処
理とファイル装置の入出力制御を行うＣＰＵ１と、メモ
リ２、および、ハードデイスク装置や半導体ファイル装
置等のファイル装置３で構成されている。

【０００７】ＣＰＵ１は、メモリ２のエリア（１）に対
して固定パターンデータ（例えば、５５ａａ５５ａａ
Ｈ）を１ブロック分用意し、まず、このデータをファイ
ル装置３の記憶エリア（１）に書き込む（Ｗ）。次に、
ファイル装置３の記憶エリア（１）からその内容をメモ
リ２上の別のエリア（２）に読み込む（Ｒ）。さらに、
メモリ２上のエリア（２）のデータをファイル装置３の
次の記憶エリア（２）に書き込み（Ｗ）、そして、ファ
イル装置３の記憶エリア（２）からその内容をメモリ２
上のエリア（２）に読み込む。

【０００８】以下同様に、ファイル装置３ヘの書き込み
（Ｗ）とメモリ２のエリア（２）ヘの読み込み（Ｒ）
を、ファイル装置３の記憶エリア（Ｎ）まで繰り返し行
い、最後に、メモリ２上のエリア（１）とエリア（２）
のデータの内容をＣＰＵ１において照合する。この照合
で不一致が発生した場合は、ファイル装置３の照合単位
（Ｎブロック）の記憶エリア内でどこかに障害があるこ
とが判明する。

【０００９】このような処理動作例を図１により詳細に
説明する。図２のＣＰＵ１により、メモリ２のエリア
（１）に試験用のデータを１ブロック分セットし（ステ
ップ１０１）、カウンタに「ｎ＝１」を、また、所定の
レジスタ等にファイル装置の試験対象の最終エリアを特
定する数値「Ｎ」をセットする（ステップ１０２）。そ
して、メモリのエリア（１）のデータを、まず、ファイ
ル装置３の記憶エリアｎ（ここではｎ＝（１））に書き
込み（ステップ１０３）、次に、ファイル装置３の記憶
エリア（１）からその内容をメモリ２上の別のエリア
（２）に読み込む（ステップ１０４）。

【００１０】ここで、「ｎ」を１つカウントアップして
（ステップ１０５）、メモリ２上のエリア（２）のデー
タをファイル装置３の次の記憶エリアｎ（ここではｎ＝
（２））に書き込み（ステップ１０６）、さらに、ファ
イル装置３の記憶エリア（２）からその内容をメモリ２
上のエリア（２）に読み込む（ステップ１０７）。

【００１１】以下、同様にして、「ｎ＝Ｎ」となるまで
（ステップ１０８）、「ｎ」のカウントアップ（ステッ
プ１０５）とファイル装置３のエリアｎヘの書き込み
（ステップ１０６）およびメモリ２のエリア（２）ヘの
読み込み（ステップ１０７）を繰り返す。「ｎ＝Ｎ」、
すなわち、ファイル装置３の最終記憶エリア（Ｎ）から
のメモリ２上のエリア（２）への読み込みが終了した後
（ステップ１０８）、メモリ２上のエリア（１）とエリ
ア（２）のデータの内容を照合する（ステップ１０
９）。

【００１２】この照合で、不一致が発生しなければ（ス
テップ１１０）、ファイル装置３の照合単位（Ｎブロッ
ク）の記憶エリア内は正常として判定し（ステップ１１
１）、また、不一致が発生した場合は、ファイル装置３
の照合単位（Ｎブロック）の記憶エリア内でどこかに障
害があるとして異常判定する（ステップ１１２）。

【００１３】次に、図３および図４を用いて他の実施例
を説明する。図３は、本発明のファイル装置試験方法の
本発明に係る処理動作の第２の実施例を示すフローチャ
ートであり、図４は、コンピュータシステムでの図３に
おける処理動作例を示す説明図である。図４に示す例に
おいても、試験を実施するシステムは、照合処理とファ
イル装置の入出力制御を行うＣＰＵ１と、メモリ２、お
よび、ハードデイスク装置や半導体ファイル装置等のフ
ァイル装置３で構成されている。

【００１４】ＣＰＵ１は、メモリ２のエリア（１）に対
して固定パターンデータ（例えば、５５ａａ５５ａａ
Ｈ）を１ブロック分用意し、まず、当該データをファイ
ル装置３の記憶エリア（１）に書き込む（Ｗ）。次に、
ファイル装置３の記憶エリア（１）からその内容をメモ
リ上の別のエリア（２）に読み込む（Ｒ）。

【００１５】さらに、メモリ上のエリア（２）のデータ
をファイル装置３の次の記憶エリア（２）に書き込み
（Ｗ）、そして、ファイル装置３の記憶エリア（２）か
ら、その内容をメモリ２上のエリア（３）に読み込む。
以下、同様にして、ファイル装置３ヘの書き込み（Ｗ）
とメモリ２ヘの読み込み（Ｒ）を、ファイル装置３の記
憶エリアＮへの書き込みから、メモリ２のエリアＮ＋１
ヘの読み込みまで繰り返し行う。

【００１６】そして、その後、メモリ２上のエリア
（１）のデータ内容とエリアＮ＋１のデータ内容とを、
ＣＰＵ１において照合する。この照合で不一致が発生し
た場合は、ファイル装置３の照合単位（Ｎブロック）の
記憶エリア内のどこかに障害があることが判明する。

【００１７】このような処理動作例を図３により詳細に
説明する。図４のＣＰＵ１により、メモリ２のエリア
（１）に試験用のデータを１ブロック分セットし（ステ
ップ３０１）、カウンタに「ｎ＝１」および「ｍ＝１」
を、また、所定のレジスタ等にファイル装置の試験対象
の最終エリアを特定する数値「Ｎ」をセットする（ステ
ップ３０２）。

【００１８】そして、メモリのエリア（１）のデータ
を、ファイル装置３の記憶エリアｎ（ここではｎ＝
（１））に書き込み（ステップ３０３）、「ｍ」を１つ
カウントアップした後（ステップ３０４）、ファイル装
置３の記憶エリア（１）のデータをメモリ２上の次のエ
リアｍ（＝２）に読み込む（ステップ３０５）。ここ
で、「ｎ」を１つカウントアップして（ステップ３０
６）、メモリ２上のエリアｍ（＝２）のデータをファイ
ル装置３の次の記憶エリアｎ（＝２）に書き込む（ステ
ップ３０７）。

【００１９】ここで、さらに、「ｍ」を１つカウントア
ップし（ステップ３０８）、その後、ファイル装置３の
記憶エリアｎ（＝２）のデータをメモリ２上のエリアｍ
（＝３）に読み込む（ステップ３０９）。以下、同様に
して、「ｎ＝Ｎ」となるまで（ステップ３１０）、
「ｎ」のカウントアップ（ステップ３０６）とファイル
装置３のエリアｎヘの書き込み（ステップ３０７）、
「ｍ」のカウントアップ（ステップ３０８）、およびメ
モリ２のエリアｍヘの読み込み（ステップ３０９）を繰
り返す。

【００２０】「ｎ＝Ｎ」、すなわち、ファイル装置３の
最終記憶エリア（Ｎ）からのメモリ２上のエリアｍ（＝
Ｎ＋１）への読み込みが終了した後（ステップ３１
０）、メモリ２上のエリア（１）とエリアｍ（＝Ｎ＋
１）のデータの内容を照合する（ステップ３１１）。こ
の照合で、一致であれば（ステップ３１２）、ファイル
装置３の照合単位（Ｎブロック）の記憶エリア内は正常
として判定し（ステップ３１３）．

【００２１】また、不一致が発生した場合は、ファイル
装置３の照合単位（Ｎブロック）の記憶エリア内でどこ
かに障害があるとして判定し、異常処理を行なう（ステ
ップ３１４）。すなわち、ファイル装置３に障害が発生
したと判定した場合には、メモリ２のエリア（１）のデ
ータと各エリア（２）〜（ｍ−１＝Ｎ）のデータとの照
合を順次に行い、障害の発生した可能性のあるエリアを
検出し、ファイル装置３上の障害アドレスを特定する。

【００２２】このような障害アドレスの検出動作に関し
て次の図５を用いて説明する。図５は、図４におけるシ
ステムによるメモリの障害アドレスの検出動作例を示す
説明図である。図４でのメモリ２におけるエリア（１）
とエリアｍ（＝Ｎ＋１）のデータの照合処理において不
一致が発生した場合、メモリ２のエリアｍ（＝Ｎ＋１）
内の障害発生アドレスが判明する。

【００２３】従って、メモリ２のエリア（１）の内でそ
のアドレス（障害発生アドレス）に該当するデータと、
エリア２，３，・・・，ｍ−１（＝Ｎ）まで各エリアの
それぞれの内で、そのアドレス（障害発生アドレス）に
該当するデータの照合とをＣＰＵ１で、順次に行い、最
初に照合不―致になったアドレスに該当するファイル装
置３のアドレスを障害発生アドレスとする。

【００２４】図６は、図５におけるシステムによるメモ
リ障害アドレスの検出動作例を示すフローチャートであ
る。図５のＣＰＵ１は、メモリ２におけるエリア（１）
とエリアｍ（＝Ｎ＋１）のそれぞれのデータの照合処理
において不一致が発生すると（ステップ６０１）、メモ
リ２のエリアｍ（＝Ｎ＋１）内の障害発生アドレスを検
出し（ステップ６０２）、その障害発生アドレスにある
データと、各エリア（２，３，・・・，ｍ−１（＝
Ｎ））内の、障害発生アドレスに対応するデータとの照
合を順次に行い（ステップ６０３）、最初に照合不―致
になった（ステップ６０４）エリアのアドレスに対応す
るファイル装置３のアドレスを障害発生アドレスとして
特定する（ステップ６０５）。

【００２５】以上、図１〜図６を用いて説明したよう
に、本実施例のファイル装置試験方法では、ファイル装
置３の記録媒体全エリアに渡って書き込みと読み出し
（読み込み）の正常性を確認する場合、従来の技術のよ
うに１ブロック毎に全てのデータの照合は行わないの
で、大容量のファイル装置に対する機能確認試験での照
合処理を、従来のファイル装置試験法と同等の精度を保
ちながらも短時間で行なうことができる。

【００２６】尚、本発明は、図１〜図６を用いて説明し
た実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能である。例えば、図５で
示した障害アドレスの検出動作例では、メモリ２のエリ
ア（１）と他のエリア（２〜Ｎ）のそれぞれのデータの
照合を、エリア（２，３，・・・，Ｎ）の順で行ってい
るが、逆の順、すなわち、エリア（Ｎ，Ｎ−１，・・
・，３，２）の順でも良い。この場合、最後に照合不―
致になったメモリ２のエリアのアドレスに対応するファ
イル装置３のアドレスを障害発生アドレスとして特定す
る。

【００２７】

【発明の効果】本発明によれば、ファイル装置の媒体全
エリアに渡って書き込みと読み出しの正常性を確認する
場合のデータの照合処理を短時間で行なうことができ、
大容量のファイル装置に対する試験を効率的に行うこと
が可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のファイル装置試験方法の本発明に係る
処理動作の第１の実施例を示すフローチャートである。

【図２】コンピュータシステムでの図１における処理動
作例を示す説明図である。

【図３】本発明のファイル装置試験方法の本発明に係る
処理動作の第２の実施例を示すフローチャートである。

【図４】コンピュータシステムでの図３における処理動
作例を示す説明図である。

【図５】図４におけるメモリでの障害アドレスの検出動
作例を示す説明図である。

【図６】図５におけるシステムによるメモリ障害アドレ
スの検出動作例を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１：ＣＰＵ、２：メモリ、３：ファイル装置。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ＣＰＵとメモリおよびファイル装置から
なるシステムにおける上記ファイル装置の試験方法であ
って、上記メモリ上の第１のエリアに上記ファイル装置
の試験用のデータを１ブ口ック用意し、上記データを上
記ファイル装置の第１の記憶エリアに書き込むステップ
と、上記ファイル装置の第１の記憶エリアのデータを上
記メモリ上の第２のエリアに読み込むステップと、上記
メモリ上の第２のエリアのデータを上記ファイル装置の
第２の記憶エリアに書き込むステップと、上記ファイル
装置の第２の記憶エリアのデータを上記メモリ上の上記
第２のエリアに読み込むステップと、上記メモリ上の第
２のエリアのデータの上記ファイル装置への書込みおよ
び上記ファイル装置から上記メモリ上の上記第２のエリ
アへの読み込みを、上記ファイル装置の第Ｎ（Ｎ＝３，
４，・・・）の記憶エリアまで繰り返すステップとを有
し、上記メモリ上の上記第１，第２のエリアのそれぞれ
のデータを照合して上記ファイル装置の試験を行うこと
を特徴とするファイル装置試験方法。
【請求項２】ＣＰＵとメモリおよびファイル装置から
なるシステムにおける上記ファイル装置の試験方法であ
って、上記メモリ上の第１のエリアに上記ファイル装置
の試験用のデータを１ブ口ック用意し、上記データを上
記ファイル装置の第１の記憶エリアに書き込むステップ
と、上記ファイル装置の第１の記憶エリアのデータを上
記メモリ上の第２のエリアに読み込むステップと、上記
メモリ上の第２のエリアのデータを上記ファイル装置の
第２の記憶エリアに書き込むステップと、上記ファイル
装置の第２の記憶エリアのデータを上記メモリ上の上記
第３のエリアに読み込むステップと、上記データの上記
メモリから上記ファイル装置への書込みおよび上記ファ
イル装置から上記メモリへの読み込みを、上記ファイル
装置の第Ｎ（Ｎ＝３，４，・・・）の記憶エリアおよび
上記メモリの第Ｎ＋１のエリアまで繰り返すステップと
を有し、上記メモリ上の上記第１のエリアと第Ｎ＋１の
エリアのそれぞれのデータを照合して上記ファイル装置
の試験を行うことを特徴とするファイル装置試験方法。
【請求項３】請求項２に記載のファイル装置試験方法
において、上記メモリ上の上記第１のエリアと第Ｎ＋１
のエリアのそれぞれのデータの照合結果が不一致であれ
ば、上記メモリ上の上記第１のエリアのデータと各エリ
アのデータとを順次照合して最初に不一致となったエラ
ーエリアを検出し、該エラーエリアへのデータの読み込
み元の上記ファイル装置の障害エリアを特定することを
特徴とするファイル装置試験方法。
【請求項４】請求項２に記載のファイル装置試験方法
において、上記メモリ上の上記第１のエリアと第Ｎ＋１
のエリアのそれぞれのデータの照合結果が不一致であれ
ば、上記メモリ上の第Ｎ＋１のエリア内の障害発生アド
レスを判別し、上記メモリの第１のエリア内での上記障
害発生アドレスに対応するデータと、第２，３，・・
・，Ｎの各エリア内での上記障害発生アドレスに対応す
るデータとの照合を順次に行い、最初に照合不―致とな
ったアドレスに対応する上記ファイル装置のアドレスを
障害発生アドレスとして特定することを特徴とするファ
イル装置試験方法。