JPH01106370A - エラー検査装置 - Google Patents
エラー検査装置Info
- Publication number
- JPH01106370A JPH01106370A JP26324887A JP26324887A JPH01106370A JP H01106370 A JPH01106370 A JP H01106370A JP 26324887 A JP26324887 A JP 26324887A JP 26324887 A JP26324887 A JP 26324887A JP H01106370 A JPH01106370 A JP H01106370A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は磁気ディスク、光ディスクなどの記憶装置のエ
ラーを検査するのに用いるエラー検査装置に関する。
ラーを検査するのに用いるエラー検査装置に関する。
（従来の技術）
従来の磁気ディスク、光ディスクなどの記憶装置のエラ
ーを検査するためのエラー検査装置としては、記憶装置
に記録した基準データと該記憶装置から再生した再生デ
ータとを比較してエラーの数を数えるもの、及びエラー
の位置、大きさを求めるものが知られており、これによ
り装置全体としての信頼性を評価したり、或は記憶媒体
上の欠陥を評価するためのデータを得ている。
ーを検査するためのエラー検査装置としては、記憶装置
に記録した基準データと該記憶装置から再生した再生デ
ータとを比較してエラーの数を数えるもの、及びエラー
の位置、大きさを求めるものが知られており、これによ
り装置全体としての信頼性を評価したり、或は記憶媒体
上の欠陥を評価するためのデータを得ている。
（発明が解決しようとする問題点）
近年記憶装置の大容量化、高密度化が進むにつれ変調方
式、エラー訂正方式の技術が重要な位置を占めつつある
。この様な変調方式、エラー訂正方式を評価する上では
どの様なデータを記録したときにどの様なパターンのエ
ラーが生じやすいかということを知ることは重要である
。しかしながらその様なエラーパターン毎の発生頻度を
測定する装置はこれまで無かった。
式、エラー訂正方式の技術が重要な位置を占めつつある
。この様な変調方式、エラー訂正方式を評価する上では
どの様なデータを記録したときにどの様なパターンのエ
ラーが生じやすいかということを知ることは重要である
。しかしながらその様なエラーパターン毎の発生頻度を
測定する装置はこれまで無かった。
本発明の目的は、従来知られていなかったエラーパター
ン毎の発生頻度を測定でき、変調方式、エラー訂正方式
の評価に有効なエラー検査装置を提供することにある。
ン毎の発生頻度を測定でき、変調方式、エラー訂正方式
の評価に有効なエラー検査装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本発明のエラー検査装置は、記憶すべきデータとして記
憶装置に書き込ませた基準データと該記憶装置から読み
出しな再生データとを比較して該記憶装置のエラーを検
出する装置であって、前記基準データと前記再生データ
とをそれぞれｎビットずつ（ｎは正の整数）順次入力す
る排他的論理和回路と、この排他的論理和回路の出力で
あるｎビットのエラーパターン信号をアドレス信号とす
るメモリーと、ｎビットの検査毎に前記ｎビットのエラ
ーパターン信号によって選択されたメモリーの１ワード
のデータに１を加える手段とを含んでなることを特徴と
するものである。
憶装置に書き込ませた基準データと該記憶装置から読み
出しな再生データとを比較して該記憶装置のエラーを検
出する装置であって、前記基準データと前記再生データ
とをそれぞれｎビットずつ（ｎは正の整数）順次入力す
る排他的論理和回路と、この排他的論理和回路の出力で
あるｎビットのエラーパターン信号をアドレス信号とす
るメモリーと、ｎビットの検査毎に前記ｎビットのエラ
ーパターン信号によって選択されたメモリーの１ワード
のデータに１を加える手段とを含んでなることを特徴と
するものである。
（作用）
記憶すべきデータとして記憶装置に書き込ませた基準デ
ータと該記憶装置から読み出した再生データとをそれぞ
れｎビットずつ排他的論理和回路に入力すると、前記排
他的論理和回路は基準データと再生データとが異なるビ
ットでは１になり、それらが等しいビットでは０となる
ようなエラーパターン信号を出力する。このｎビットの
エラーパターン信号をメモリーにアドレス信号として入
力し、ｎビットの検査毎に前記ｎビットのエラーパター
ン信号によって選択されたメモリーの１ワードのデータ
に１を加えることにより、該メモリーにはアドレスによ
って表される２のｎ乗通りの各エラーパターン毎の発生
回数が蓄えられる。
ータと該記憶装置から読み出した再生データとをそれぞ
れｎビットずつ排他的論理和回路に入力すると、前記排
他的論理和回路は基準データと再生データとが異なるビ
ットでは１になり、それらが等しいビットでは０となる
ようなエラーパターン信号を出力する。このｎビットの
エラーパターン信号をメモリーにアドレス信号として入
力し、ｎビットの検査毎に前記ｎビットのエラーパター
ン信号によって選択されたメモリーの１ワードのデータ
に１を加えることにより、該メモリーにはアドレスによ
って表される２のｎ乗通りの各エラーパターン毎の発生
回数が蓄えられる。
以下、本発明の実施例を示す図面を参照して、本発明を
一層詳しく説明する。
一層詳しく説明する。
（実施例）
第１図は本発明の実施例を示すブロック図であり、第２
図は第１図実施例中の主な信号の波形を表す波形図であ
る０図において、１は基準データ、２は再生データ、３
は排他的論理和回路、４はエラーパターン信号、５はメ
モリー、６はｎビットのデータが切り替わるタイミング
を表すワードクロック、７はメモリーの内容の増加を制
御するインクリメント制御回路、８はメモリー読み出し
信号、９はメモリーデータ出力、１０はカウンター、１
１はカウンタークロック信号、１２はカウンター出力信
号、１３はメモリー書き込み信号を示す。
図は第１図実施例中の主な信号の波形を表す波形図であ
る０図において、１は基準データ、２は再生データ、３
は排他的論理和回路、４はエラーパターン信号、５はメ
モリー、６はｎビットのデータが切り替わるタイミング
を表すワードクロック、７はメモリーの内容の増加を制
御するインクリメント制御回路、８はメモリー読み出し
信号、９はメモリーデータ出力、１０はカウンター、１
１はカウンタークロック信号、１２はカウンター出力信
号、１３はメモリー書き込み信号を示す。
測定の開始に先立ってメモリー５の内容を０にクリアし
ておくものとする。ｎビットの基準データ１とｎビット
の再生データ２とが排他的論理和回路３に入力すると、
該排他的論理和回路３からエラーパターン信号４が出て
メモリー５・のアドレス信号となる。一方前記基準デー
タ１及び再生データ２が切り替わるタイミングを表すワ
ードクロック６を元にして、インクリメント制御回路７
でメモリー読み出し信号８、カウンタークロック信号１
１、メモリー書き込み信号１３を順次に発生する。
ておくものとする。ｎビットの基準データ１とｎビット
の再生データ２とが排他的論理和回路３に入力すると、
該排他的論理和回路３からエラーパターン信号４が出て
メモリー５・のアドレス信号となる。一方前記基準デー
タ１及び再生データ２が切り替わるタイミングを表すワ
ードクロック６を元にして、インクリメント制御回路７
でメモリー読み出し信号８、カウンタークロック信号１
１、メモリー書き込み信号１３を順次に発生する。
メモリー読み出し信号８により、前記エラーパターン信
号４をアドレスとするメモリー５の内容のデータ９が読
み出され、そのデータ９はカウンター１０にロードされ
る。そして前記カウンタークロック信号１１によりカウ
ンター１０にロードされたデータに１を加える。その後
に前記メモリー書き込み信号１３により、カウンター１
０でデータ９に１を加算して得たデータ１２をメモリー
５に書き込む。
号４をアドレスとするメモリー５の内容のデータ９が読
み出され、そのデータ９はカウンター１０にロードされ
る。そして前記カウンタークロック信号１１によりカウ
ンター１０にロードされたデータに１を加える。その後
に前記メモリー書き込み信号１３により、カウンター１
０でデータ９に１を加算して得たデータ１２をメモリー
５に書き込む。
この様な動作により、第１図の実施例て；は、２のｎ乗
通りのエラーパターン毎の発生回数をメモリー５に記録
することができるから、全データの照合を終了した後に
メモリー５の内容をアドレス毎に読み出すことによりそ
のアドレスによって表されるエラーパターンの発生頻度
を知ることができる。
通りのエラーパターン毎の発生回数をメモリー５に記録
することができるから、全データの照合を終了した後に
メモリー５の内容をアドレス毎に読み出すことによりそ
のアドレスによって表されるエラーパターンの発生頻度
を知ることができる。
（発明の効果）
以上に詳しく述べたように本発明のエラー検査装置によ
れば、エラーパターン毎の発生頻度を知ることができ、
変調方式、エラー訂正方式の評価に非常に有効な情報を
得ることができる。
れば、エラーパターン毎の発生頻度を知ることができ、
変調方式、エラー訂正方式の評価に非常に有効な情報を
得ることができる。
第１図は本発明の一つの実施例を示すブロック図であり
、第２図は第１図実施例における主な信号の波形を示す
波形図である。 図において、１は基準データ、２は再生データ、３は排
他的論理和回路、４はエラーパターン信号、５はメモリ
ー、６はｎビットのデータが切り替わるタイミングを表
すワードクロック、７はメモリーの内容の増加を制御す
るインクリメント制御回路、８はメモリー読み出し信号
、９はメモリー出力データ、１０はカウンター、１１は
カウンタークロック信号、１２はカウンター出力データ
、１３はメモリー書き込み信号をそれぞれ示す。
、第２図は第１図実施例における主な信号の波形を示す
波形図である。 図において、１は基準データ、２は再生データ、３は排
他的論理和回路、４はエラーパターン信号、５はメモリ
ー、６はｎビットのデータが切り替わるタイミングを表
すワードクロック、７はメモリーの内容の増加を制御す
るインクリメント制御回路、８はメモリー読み出し信号
、９はメモリー出力データ、１０はカウンター、１１は
カウンタークロック信号、１２はカウンター出力データ
、１３はメモリー書き込み信号をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 記憶すべきデータとして記憶装置に書き込ませた基準デ
ータと該記憶装置から読み出した再生データとを比較し
て該記憶装置のエラーを検出する装置において、前記基
準データと前記再生データとをそれぞれｎビットずつ（
ｎは正の整数）順次入力する排他的論理和回路と、この
排他的論理和回路の出力であるｎビットのエラーパター
ン信号をアドレス信号とするメモリーと、ｎビットの検
査毎に前記ｎビットのエラーパターン信号によって選択
されたメモリーの１ワードのデータに１を加える手段と
を含んでなることを特徴とするエラー検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26324887A JPH01106370A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | エラー検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26324887A JPH01106370A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | エラー検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01106370A true JPH01106370A (ja) | 1989-04-24 |
Family
ID=17386832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26324887A Pending JPH01106370A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | エラー検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01106370A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003002592A (ja) * | 2001-06-15 | 2003-01-08 | Toyota Industries Corp | 産業車両用のフードの開閉構造 |
| JP2011145908A (ja) * | 2010-01-15 | 2011-07-28 | Panasonic Corp | 情報記録再生装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6472089A (en) * | 1987-09-05 | 1989-03-16 | Bosch Gmbh Robert | Method and apparatus for measuring quality of digital signal |
-
1987
- 1987-10-19 JP JP26324887A patent/JPH01106370A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6472089A (en) * | 1987-09-05 | 1989-03-16 | Bosch Gmbh Robert | Method and apparatus for measuring quality of digital signal |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003002592A (ja) * | 2001-06-15 | 2003-01-08 | Toyota Industries Corp | 産業車両用のフードの開閉構造 |
| JP2011145908A (ja) * | 2010-01-15 | 2011-07-28 | Panasonic Corp | 情報記録再生装置 |
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