JPH1027319A

JPH1027319A - Ｍｒヘッドのサーマルアスペリティエラー検出方法および磁気ディスクサーティファイア

Info

Publication number: JPH1027319A
Application number: JP24543096A
Authority: JP
Inventors: Sakae Ayabe; 栄綾部
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1996-05-10
Filing date: 1996-08-29
Publication date: 1998-01-27

Abstract

(57)【要約】【課題】ＡＳＰエラーを簡単に検出することができるＭ
ＲヘッドのＡＳＰエラー検出方法および検査装置を提供
することにある。【解決手段】磁気ディスクのトラックに沿って書込まれ
たテストデータをＭＲヘッドにより読出した読出信号に
基づいて前記磁気ディスクについて第１のエラーとして
スパイクエラーおよびポジティブモジュレーションエラ
ーのいずれかを検出し、第２のエラーとしてミッシング
エラーとネガティブモジュレーションエラーのいずれか
のエラーを検出する磁気ディスクサーティファイアにお
いて、前記テストデータの各ビットに対応しかつこのビ
ット複数個分の記録長さを単位として決定される前記ト
ラック上の位置に対応して前記第１のエラーおよび前記
第２のエラーを検出し、前記第１のエラーと前記第２の
エラーとが前記記録長さを単位として決定される前記ト
ラック上の同じ位置にあるときにサーマルアスペリティ
エラーとするものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＭＲヘッド（磁
気抵抗効果ヘッド）のサーマルアスペリティエラー検出
方法およびこの方法を用いる磁気ディスクサーティファ
イア（以下サーテファア）に関し、詳しくは、サーテフ
ァアにおいて、ＭＲヘッドのサーマルアスペリティによ
って発生するエラーを検出することができる検出方法お
よび装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コンピュータシステムに使用されるハー
ド磁気ディスク（以下単に磁気ディスクまたはディスク
という）は、磁気媒体に異常があると書込データまたは
読出データにエラーが生ずるので、サーテファイアによ
り所定のテストデータ、例えば、ＦＦｈのデータをディ
スクの所定のトラック上に書込み、それを読出して、磁
気媒体の良否をサーテファイ（評価）している。なお、
前記のＦＦｈのｈは１６進を示すものでＦＦｈは、オー
ル“１”のビットのデータを意味する。

【０００３】図６は、サーテファイアにより検出するビ
ットエラーについての説明図である。磁気媒体の異常に
より読出データに生ずる各種のエラービットを説明する
と、図６において、(a) は、ビットの消失、いわゆるミ
ッシングエラー（以下ＭＩＳエラー）である。これは、
書込んだ信号を読出したときに、一部のビットについて
の読出信号の波高値が所定値以下に低下し、あるいは消
失することによりそのビットがなくなるものである。読
出信号のレベルが所定の基準電圧値±Ｖm（このレベル
を１００％に採り、通常±１とする。）とすると、この
±Ｖm（＝±１）に対して消失したビットの＋極側と−
極側がサーテファイアに設定された所定の正負の閾値±
Ｖ_S1（基準値１に対してＶ_S1／Ｖm＝０．０１〜０．９
９）と読出信号とが比較されて、読出信号がこれらの閾
値より内側のレベルになっていることで、このエラーが
検出される。なお、前記の基準電圧値±Ｖmは、テスト
データについて１つ前の１トラックの平均読出電圧値あ
るいは１〜ｎトラック分前の複数トラックにおける平均
読出電圧値、あるいは現在の検査トラックの平均読出電
圧値等により与えられる。

【０００４】(b) は、ビットの飛び出し（スパイク）に
よるスパイクエラー（以下ＳＰＫエラー）である。これ
は、一部のビットについての読出信号の波高値が±Ｖm
（＝±１）より大きくなるエラーであって、読出信号の
レベルが所定の正負の閾値±Ｖ_S2と比較され、これら閾
値の範囲を越えていることによりこのエラーが検出され
る。なお、通常、Ｖ_S2／Ｖm＝１．０１〜１．５０であ
る。(c) は、ポジティブモジュレーションエラー（以下
Ｐ−ＭＯＤエラー）であって、複数のビットに対応する
読出信号がプラス側に変調されている状態である。これ
は、各ビットについての信号の包絡線が検出され、この
検出された包絡線の信号レベルが±１（＝±Ｖm）より
大きく膨れてあがっているものである。これは、読出信
号の包絡線の信号レベルが所定の正負の閾値±Ｖ_S3と比
較され、これら閾値の範囲を越えていることにより検出
される。なお、通常、Ｖ_S3／Ｖm＝１．０１〜１．５０
である。

【０００５】(d) は、ネガティブモジュレーションエラ
ー（以下Ｎ−ＭＯＤエラー）であって、複数のビットに
対応する読出信号がマイナス側に変調されている状態で
ある。これは、前記と同様に各ビットについての読出信
号の包絡線が検出され、包絡線の信号レベルが±１より
小さく、縮んでいるものである。これは、包絡線の信号
レベルが所定の正負の閾値±Ｖ_S4と比較され、これら閾
値より内側のレベルになっていることによりこのエラー
が検出される。なお、通常、Ｖ_S4／Ｖm＝０．０１〜
０．９９である。(e) は、エキストラ（沸きだし）エラ
ー（以下ＥＸＴエラー）であって、所定のトラックに書
込まれたテストデータを消去した後に、そのトラックか
らデータを読出したとき、無いはずのビットが湧き出し
た状態である。これは、読出信号のレベルが所定の正負
の閾値±Ｖ_S5と比較され、これら閾値の範囲を越えてい
ることによりこのエラーが検出される。なお、通常、Ｖ
_S5／Ｖm＝０．０１〜０．９９である。

【０００６】なお、上記の各エラーの波形は、通常、波
高値が基準値±１（＝±Ｖm）に対して正側と負側に対
称的に、増大するか、または縮小しているのが特徴であ
って、これらが混在することは稀である。最近のディス
クドライブでは、データの書込みは、従来と同様にコイ
ル形式の磁気ヘッドが使用され、読出しにはＭＲヘッド
が使用されている。そこで、サーテファイアもこれに合
わせて書込みにコイル型の磁気ヘッドを使用し、読出し
にＭＲヘッドを使用している。

【０００７】図７は、従来のサーテファイアの概略の構
成である。これにより磁気ディスクのサーテファイにつ
いて簡単に説明する。磁気ディスク１は、回転機構２の
スピンドル２a に装着されて回転し、ロータリエンコー
ダ２b からのパルスにより、ディスク１の回転基準位置
（インデックス，以下ＩＮＤＸ）とこれよりの回転角度
θ（＝ディスクの回転量）が検出される。回転するディ
スク１に対して、検査装置５の制御部５４の内部に設け
られたＭＰＵ５４１から書込制御ユニット５１に対し
て、トラック番号（Ｔ_rNo.）とテストデータ、例えば、
前記したＦＦｈのデータが与えられる。書込制御ユニッ
ト５１は、ヘッドキャリッジ（図示せず）を駆動してト
ラック番号に応じたディスク１上のトラックへと磁気ヘ
ッドをシークさせて、与えられたテストデータを所定の
電流値の信号に変換してこれを所定のタイミングで書込
／読出回路５０の書込回路へと送り、これを介して磁気
ヘッド３を駆動する。これにより、回転基準位置を示す
ＩＮＤＸ信号を起点として各トラックＴ_Rに対して順次
にテストデータが書込まれる。

【０００８】制御部５４は、ＭＰＵ５４１と制御プログ
ラム等を記憶したメモリ５４２、そしてＣＲＴディスプ
レイ（ＣＲＴ）５４３等を有している。テストデータの
書込みが終了すると、書込／読出回路５０の読出回路を
介してテストデータが書込まれたトラックからＭＲヘッ
ド４によりテストデータを読出され、その読出アナログ
信号（テストデータの各ビットに対応するsin類似のア
ナログ信号）は、エラー検出ユニット５２のアンプ５２
１に加えられ、これにより適当にレベル調整されて、コ
ンパレータ５２２，５２３に入力される。なお、図で
は、磁気ヘッド３とＭＲヘッド４を同一のヘッドに示し
ているが、これらヘッドは１つのヘッドユニットに組込
まれていて、同一トラックに対応している。また、読出
信号の周波数は、書込データのビットの周波数の２倍の
周波数の波形信号になるので、ＦＦｈのデータを２ｆ信
号と呼ぶことがある。これにより、磁気ディスクのトラ
ックにおいて１ビットごとに磁化を反転させる磁気記録
が行われる。

【０００９】さて、サーテファイは、前記したエラーの
種類ごとにテストデータの各ビットに対応してエラーの
検出をする。そのためにエラー検出ユニット５２には、
正側の信号に対応するコンパレータ５２２と負側の信号
に対応するコンパレータ５２３とが設けられていて、Ｍ
ＰＵ５４１により閾値設定回路５６を介してエラーの種
類に応じた閾値±Ｖ_Sがこれらコンパレータにエラー検
査を行う都度、その種別応じて設定される。すなわち、
ＭＩＳエラーの検出ではこれらコンパレータにＶ_S＝Ｖ
_S1が設定され、ＳＰＫエラーの検出ではＶ_S＝Ｖ_S2が設
定され、Ｐ−ＭＯＤエラーの検出ではＶ_S＝Ｖ_S3が設定
され、Ｎ−ＭＯＤの検出ではＶ_S＝Ｖ_S4の閾値が設定さ
れ、そしてＥＸＴエラーの検出ではＶ_S＝Ｖ_S5が設定さ
れる。そこで、ＭＲヘッドから出力される読出アナログ
信号は、コンパレータ５２２，５２３によりそれぞれ、
与えられた閾値と比較される。その結果、これらの出力
として正側のエラービットと負側のエラービットがそれ
ぞれのタイミングで検出される。検出されたエラービッ
トは、エラー検出ユニット５２において、コンパレータ
５２２の出力は直接、そしてコンパレータ５２３の出力
はインバータ５２４を経てＯＲゲート５２５に送出され
る。

【００１０】エラー検出回路５２６は、ディスク１のＩ
ＮＤＸ信号（回転基準位置信号）と回転位置データとを
ロータリエンコーダ２ｂから受け、これらの信号に基づ
いてディスク１のセクタ位置データ（セクタ番号）とそ
のセクタにおけるバイト単位の位置データ（以下これら
をエラー位置データという）とを生成し、さらにエラー
メモリ５３の書込アドレスを生成して、このアドレス信
号で指定されるアドレスに所定のタイミングでエラー位
置データとコンパレータ５２２，５２３により検出され
たエラービット１バイト分のパターンデータ（以下エラ
ービットデータという）とを書込む。このときの、エラ
ービットデータは、例えば、エラーがあるときには
“１”、エラーがないときには“０”のビットパターン
になっていて、その各ビットは、テストデータの各ビッ
トに対応している。したがって、エラービットパターン
の各ビットは、それぞれのテストデータの各ビットのエ
ラーの有無を示す。このようなエラーデータがエラー検
出回路５２６によりアドレスを更新しながらエラーメモ
リ（ＥＲＲ・ＭＥＭ）５３に順次書込まれていく。な
お、前記のエラー位置データは、検査トラック上の位置
を表していて、通常、これは、書き込まれたテストデー
タ１バイト単位の位置データになる。

【００１１】ところで、前記のエラー検出ユニット５２
は、１種類のエラーについて検出するようになっている
が、実際には、エラー検出ユニット５２には、通常、複
数の検出回路が設けられていて、ＭＩＳエラーと、Ｎ−
ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエラーは、一度にそれぞれの
検出回路で検出される。そこで、エラー検出回路５２６
は、通常、エラー位置データとエラービットデータに加
えて、ＭＩＳエラー，Ｎ−ＭＯＤエラー，Ｐ−ＭＯＤエ
ラー等のエラーの種別を示す種別コードをさらに付加し
たエラーデータを生成してＥＲＲ・ＭＥＭ５３の各アド
レスに順次書込む。ＥＸＴエラーとＳＰＫエラーの検査
の場合は、前記のものと同時にはできないので、それぞ
れ別に行われる。これらは、前記ＭＩＳエラーと、Ｎ−
ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエラーの同時検査の後に同じ
トラックに対して行われる。特に、ＥＸＴエラーは、ト
ラックに書き込んだテストデータを消去した後に、両コ
ンパレータ５２２，５２３に閾値±Ｖ_S5が設定されて、
同一トラックからＭＲヘッドにより信号を読出すことに
よるので他の検査とは手順が相違する。

【００１２】これらのエラー検査が行われたときには、
ＥＲＲ・ＭＥＭ５３に１トラック分でかつ前記５種類の
エラーがその種別を含む、図８に示すような、例えば、
４バイトのエラーデータ記憶されることになる。なお、
図８のエラーデータにおいて、最初の１０ビットがセク
タ番号（セクタ位置データ）であり、次の１０ビットが
そのセクタにおけるエラービットデータが位置するバイ
ト位置、その次の８ビット（１バイト）がエラービット
データ、そして最後に種別コードとその他のフラグから
なる４ビットがある。その結果、ＥＲＲ・ＭＥＭ５３に
は、ロータリエンコーダ２ｂの回転角度θに応じて、１
トラックにおけるエラー発生位置に対応してエラービッ
ト“１”が立てられたエラービットデータが、１バイト
単位でかつ１バイト単位区分けされたトラック上の位置
とともに記憶されることになる。

【００１３】制御部５４は、ＥＲＲ・ＭＥＭ５３に、所
定量、例えば、１トラック分（あるいは所定数のセクタ
分）のエラービットが記憶されたときに、エラー位置デ
ータとエラービットデータとからなるエラーデータをＥ
ＲＲ・ＭＥＭ５３から読込み、メモリ５４２に記憶し、
検査対象となったトラック番号ＴNo.とともにハードデ
ィスク（図示せず）等に転送して順次記憶していく。ま
た、制御部５４は、１トラック分の検査データが得られ
ると、検査トラックを更新する。これによりディスク１
の全トラックについて前記の５種類のエラー種別につい
てエラー検査が行われる。ハードディスク等に記憶され
たこのようなエラーデータは、ＭＰＵ５４１により読出
されて適当に編集されてプリンタ（ＰＲＴ）５５により
プリントアウトされ、あるいは、ＣＲＴディスプレイ５
４３に検査結果が表示される。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＭＲヘッド
４にはサーマルアスペリティとよばれる特性がある。す
なわち、一般にＭＲヘッドは、その読出信号の波形が温
度の変化により変る。サーテファイアによるエラー検出
のときに、ディスク１に、もし突起が存在し、これにＭ
Ｒヘッド４が衝突したとすると、そのときに瞬間的に衝
突による発熱によってＭＲヘッドの温度が上昇する。こ
の温度上昇により読出信号の波形が一時的に変形する。
これがサーマルアスペリティ（以下ＡＳＰで表す）と言
われるものである。ＡＳＰによる読出信号の変化は、も
ちろん記録データのエラーとなる有害なものである。一
方、ディスク１においては、突起が存在すると書込み磁
気ヘッド３と読出ＭＲヘッド４とが、これに衝突して破
損する危険性がある。したがって、所定値以上の高さの
突起が絶無あるいはほとんどないことがディスク１の必
要条件とされている。そのためにディスク１は、研磨に
よる突起除去とグライドテストによる突起の有無の検査
が行われている。これにより所定値以上の突起が残留す
るものについては、研磨とグライドテストが繰り返して
行われる。その結果として所定値以上の高さの突起が絶
無あるいはほとんどない状態になっている。

【００１５】しかし、稀ではあるが、所定値以上の突起
が残留してサーテファイ段階で問題になるようなディス
クがある。このようなディスクは、ＭＲヘッド４の読出
信号がＡＳＰにより変形することでサーマルアスペリテ
ィエラー（以下ＡＳＰエラー）が発生する。そこで、こ
れを検出する手段を設けて、これが検出されたときは、
ＭＲヘッドは破損したとみなして良品に交換し、そのデ
ィスクは突起が存在するとして廃棄するなど、適当に処
分することが好ましいが、出願人が知る限りにおいて
は、ＡＰＳエラーの検出や、この検出結果に応じたＭＲ
ヘッドの交換、そして問題となるようなディスクの処分
などは行われていないのが現状である。しかし、現在よ
りもさらに磁気ディスクの記憶密度が高密度になると、
磁気ディスクの信頼性の観点からＡＰＳエラーの検出が
必要になる。また、ＭＲヘッドの交換や問題となるよう
なディスクの処分も必要になると考えられる。この発明
の目的は、このような観点からＡＳＰエラーを簡単に検
出することができるＭＲヘッドのＡＳＰエラー検出方法
を提供することにある。また、この発明の他の目的は、
ＡＳＰエラーを検出することができ、信頼性の高いディ
スク検査が可能な磁気ディスクサーティファイアを提供
することにある。

【００１６】

【課題を解決するための手段】この発明のＭＲヘッドの
ＡＳＰエラー検出方法の特徴は、磁気ディスクのトラッ
クに沿って書込まれたテストデータをＭＲヘッドにより
読出した読出信号に基づいて前記磁気ディスクについて
第１のエラーとしてスパイクエラーおよびポジティブモ
ジュレーションエラーのいずれかを検出し、第２のエラ
ーとしてミッシングエラーとネガティブモジュレーショ
ンエラーのいずれかのエラーを検出する磁気ディスクサ
ーティファイアにおいて、前記テストデータの各ビット
に対応しかつこのビット複数個分の記録長さを単位とし
て決定される前記トラック上の位置に対応して前記第１
のエラーおよび前記第２のエラーを検出し、前記第１の
エラーと前記第２のエラーとが前記記録長さを単位とし
て決定される前記トラック上の同じ位置にあるときにサ
ーマルアスペリティエラーとするものである。

【００１７】また、この発明のサーテファイアの特徴
は、前記の方法を適用した装置であって、前記磁気ディ
スクの回転基準を示す回転基準信号を発生する検出器
と、前記テストデータを書込む書込回路と、前記アナロ
グ信号として前記読出信号を出力する読出回路と、メモ
リと、前記アナログ信号を受けて、このアナログ信号を
所定の閾値と比較して前記テストデータの各ビットに対
応してエラーの有無を示すビットを生成して前記メモリ
にエラーデータとして記憶するエラー検出ユニットと、
前記所定の閾値として前記第１のエラーおよび前記第２
のエラーのいずれか一方を検出する第１の閾値を前記エ
ラー検出ユニットに与えて得られる前記エラーデータを
第１のエラーデータとして前記メモリから得て、かつ、
前記所定の閾値として前記第１のエラーおよび前記第２
のエラーのいずれか他方を検出する第２の閾値を前記エ
ラー検出ユニットに与えて得られる前記エラーデータを
第２のエラーデータとして前記メモリから得て、前記第
１および第２のエラーデータに基づいて、前記テストデ
ータのビット複数個分の記録長さを単位としこれと前記
回転基準信号とにより決定される前記トラック上の同じ
位置に前記第１のエラーおよび前記第２のエラーがある
ときにサーマルアスペリティエラーを検出する制御回路
とを備えるものである。

【００１８】

【発明の実施の形態】さて、図９は、ＡＳＰにより変形
したＭＲヘッドによる読出信号の一例である。ＡＳＰに
よって読出信号の基準電位（ゼロ電位）０があたかも電
位０’に上昇したように波形が正側にシフトしている。
なお、このとき読出信号の正負極性を含めた全体の振幅
（全体からみた波高値）自体はあまり変化しない。ま
た、極性の正負のとりかたによっては、ＡＳＰによって
基準電位（ゼロ電位）が下降して波形が負側にシフトす
ることもある。磁気ディスク上の突起との衝突によるＭ
Ｒヘッドの読出信号波形のこのような基準電位のシフト
による変形は、この発明の発明者による実験によって確
認されている。ここで、ＡＳＰにより変形した波形をみ
ると、この変形波形は、前記した各種類のエラーと類似
のものであって、基準電位０が正側（上側）にシフトし
たときには、ＡＳＰにより変形した読出信号は、正側に
設定されている所定の閾値を越え、負側に設定されてい
る閾値の内側になる。また、逆に、基準電位０が負側
（下側）にシフトしたときには、前記と逆の関係にな
る。

【００１９】このようなことからＡＰＳによる所定以上
の変形波形は、各種類のエラービットに含まれて検出さ
れていると考えることができる。図９の波形からすれ
ば、ＡＰＳの影響は、瞬間的で、波形が短時間の間変化
するので、ディスク上の実質的に同じ位置でまずＳＰＫ
エラーとＭＩＳエラーとが発生することになる。また、
波形のピークが閾値の内側になるエラーは、閾値より飛
び出す側よりもピット数が多くなるので、ＭＯＤエラー
として検出可能である。特に、ＡＰＳの影響が多少瞬間
的でなく、前記の場合より多少緩やかに影響する場合に
はＭＯＤエラーとして検出される。そこで、前記に加え
て、さらにディスク上の同じ位置でＳＰＫエラーとＮ−
ＭＯＤエラーが発生するか、ＭＩＳエラーとＰ−ＭＯＤ
エラーが発生するか、Ｐ−ＭＯＤエラーとＮ−ＭＯＤエ
ラーが発生するかのいずれかでもＡＳＰエラーを検出す
ることができる。

【００２０】なお、現在のところ、ロータリエンコーダ
２ｂで検出される位置は、ディスクの回転むらなどによ
り、図９の各波形の各ピーク位置でエラー検出が確実に
できるほど精度は高くできない。したがって、正側ある
いは負側の隣接したピークで検出されたエラーは、１ビ
ットあるいは数ビット検出位置がシフトすることがあ
る。そこで、前記の同じ位置は、このようなずれも考慮
しなけらばならない。そのため同じ位置は、エラービッ
トが数ビット検出される記録長さの範囲まで拡大し、テ
ストデータについて複数のビットを単位とするデータの
範囲まで広げて考えることが必要である。このようなデ
ータ範囲の下にＡＳＰの検出手段を考えてみると、これ
は、特別に検出をする手段を設ける必要はなく、単に、
サーテファイアによりすでに検出され、記憶されている
各種類のエラービットを利用して、これらに含まれてい
エラービットから前記のＡＳＰエラー条件のものを検出
することでＡＳＰエラーを検出できる。すなわち、ディ
スクの同じ位置において、ＳＰＫエラーとＭＩＳエラー
とが検出されたとき、ＳＰＫエラーとＮ−ＭＯＤエラー
とが検出されたとき、ＭＩＳエラーとＰ−ＭＯＤエラー
とが検出されたとき、そしてＰ−ＭＯＤエラーとＮ−Ｍ
ＯＤエラーとが検出されたときのいずれかであるとき
に、ＡＳＰエラーとすることができる。

【００２１】

【実施例】図４は、図９に示すＡＳＰエラーの波形と、
ＳＰＫエラー，ＭＩＳエラーとの関係を示している。図
４の波形は、ＡＳＰエラーにより正側においてその一部
が飛び出し、負側においてその一部が縮小している。正
側の飛び出し波形は、ＳＰＫエラー検出の際、閾値＋Ｖ
_S2により正側のＳＰＫエラー（以下ＳＰＫ(+) ）のエラ
ービットにより検出され、負側の縮小波形は、ＭＩＳエ
ラー検出の際、閾値−Ｖ_S1により負側のＭＩＳエラー
（ＭＩＳ(-) ）のエラービットにより検出される。一
方、本来のＳＰＫエラーやＭＩＳエラーのエラービット
は、図６において説明したように、正側と負側の振幅が
ほぼ対称的に大きい信号になるか、または、小さい信号
になるものであって、同じ位置に逆の形態のエラーが発
生することはないと考えられる。そこで、図４に示すよ
うに、正側の振幅が大きく、負側の振幅が小さいものは
ＳＰＫエラーやＭＩＳエラーではないと言える。このよ
うなことから、このようなエラービットがあるときには
ＡＳＰエラーであると判定することができる。これがこ
の発明のＡＳＰエラーの判定原理である。なお、上記
は、波形が正側にシフトしている場合のＡＳＰエラーで
ある。波形が負側にシフトしている場合のＡＳＰエラー
は、前記とは逆の関係になる。すなわち、負側にＳＰＫ
エラー（ＳＰＫ(-)）が発生し、正側にＭＩＳエラー
（ＭＩＳ(+) ）が発生する。

【００２２】また、波形のピークが閾値の内側になるエ
ラーは、閾値より飛び出す側よりもビット数が多くなる
ので、ＭＯＤエラーとして検出可能である。さらに、前
記したように、ＡＳＰの影響が多少緩やかに作用する場
合にはＭＯＤエラーとして検出される。そこで、図６の
波形から分かるように、ＳＰＫエラーとＮ−ＭＯＤエラ
ーあるいはＭＩＳエラーとＰ−ＭＯＤエラー、そしてＰ
−ＭＯＤエラーとＮ−ＭＯＤエラーとのそれぞれの組み
合わせによりＡＳＰエラーを検出できる。ディスク１上
のエラー発生の位置は、先に説明したように、ディスク
の回転むら等によりビット記録長さの単位での判定を行
ってもビットずれが発生して正確にはできないので、こ
こでは、１バイト単位の記録長さを位置の単位として採
用し、この範囲で図６に示した各種のエラー検出を行
い、さらに前記ＡＰＳエラーを検出する。また、このよ
うな範囲をエラー検出エリアに設定すると、ビット単位
の判定ではなくなる。さらに、図４や図６に示すエラー
検出と波形との関係から分かるように、極性(+)、(-)を
含めてＳＰＫエラーやＭＩＳエラーを検出する必要はな
くなる。

【００２３】結果として、この発明においては、テスト
データの複数ビット分の長さを位置の単位としてディス
ク上の同じ位置で次のエラーのいずれかが発生する場合
をＡＳＰエラーとして検出する。なお、エラーが検出さ
れる順序はいずれが先でもよい。（１）ＳＰＫエラーとＭＩＳエラーとが発生する場合（２）ＳＰＫエラーとＮ−ＭＯＤエラーとが発生する場
合（３）Ｐ−ＭＯＤエラーとＭＩＳエラーとが発生する場
合（４）Ｐ−ＭＯＤエラーとＮ−ＭＯＤエラーとが発生す
る場合図１は、このようなＡＳＰエラーを検出するサーテファ
イアであって、図７に示すものと同様な構成要素は、同
一符号で示し、その説明を割愛する。図７との相違は、
制御部５４に、ＭＩＳエラー，ＳＰＫエラー，Ｐ−ＭＯ
Ｄエラー，Ｎ−ＭＯＤのそれぞれエラーに対応して設け
られたエラーメモリ５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄを
有することと、制御部５４のメモリ５４２にサーテファ
イ検査プログラム５４４と、ＡＳＰエラー検出プログラ
ム５４５、ＡＳＰエラー判定プログラム５４６、そして
閾値設定プログラム５４７、ＡＳＰエラー値５４８が設
けられていることである。サーテファイ検査プログラム
５４４は、図６の各波形で示す５種類のエラー検査処理
に加えて、さらに、ＡＳＰエラーの検査処理を実行する
プログラムである。

【００２４】ＡＳＰエラーの検査は、従来と同様に、例
えば、テストデータの各ビット対応に１トラック分の前
記５種類のエラーデータをＥＲＲ・ＭＥＭ５３に記憶し
た後にサーテファイ検査プログラム５４４の処理により
ＡＳＰエラー検出プログラム５４５をコールしてＭＰＵ
５４１にこのプログラムを実行させ、さらに、ＡＳＰエ
ラー判定プログラム５４６をコールしてＭＰＵ５４１に
実行させることで行われる。ＭＰＵ５４１は、ＡＳＰエ
ラー検出プログラム５４５を実行することで、図９に示
すエラーデータをＥＲＲ・ＭＥＭ５３からエラーメモリ
５３ａ〜５３ｄへと転送し、エラーメモリ５３ａ〜５３
ｄを参照してＡＳＰエラーを検出し、かつ、その発生数
をカウントする。すなわち、ＭＰＵ５４１は、まず、Ｅ
ＲＲ・ＭＥＭ５３のエラー種別コードを参照してそれが
ＭＩＳエラーのときには、そのエラーについてエラー位
置データ（ディスク１のセクタ位置データ（セクタ番
号）とそのセクタにおけるバイト位置データ）、そして
エラービットデータ（ここでは１バイト分）とを読出し
てエラーメモリ（ＭＩＳ・ＭＥＭ）５３ａに記憶する。
また、参照した種別コードがＳＰＫエラーのときには、
前記のエラー位置データとエラービットデータをエラー
メモリ（ＳＰＫ・ＭＥＭ）５３ｂに記憶する。さらに、
参照した種別コードがＰ−ＭＯＤエラーのときには、前
記のエラー位置データとエラービットデータをエラーメ
モリ（Ｐ−ＭＯＤ・ＭＥＭ）５３ｃに記憶し、そして参
照した種別コードがＮ−ＭＯＤエラーのときには、前記
のエラー位置データとエラービットデータをエラーメモ
リ（Ｎ−ＭＯＤ・ＭＥＭ）５３ｄに記憶する。

【００２５】これをＥＲＲ・ＭＥＭ５３のアドレスを更
新し、この更新に対応してエラーメモリ５３ａ，５３
ｂ，５３ｃ，５３ｄのアドレスも更新しながら行うこと
で、それぞれのメモリにおいて各記憶アドレスの同じア
ドレス位置には同じエラー位置データが記憶されるよう
にエラーデータを転送して、１トラック分のエラーデー
タをエラーの種別に応じたメモリに記憶する。これによ
り、エラー種別に対応するエラーメモリ５３ａ，５３
ｂ，５３ｃ，５３ｄの各メモリには、種別コードを除い
たエラーデータが位置データの位置の順に記憶され、か
つ、同じ位置の位置データは同じアドレスに記憶され
る。この処理の後に、ＡＳＰエラーとして前記（１）〜
（４）の条件のいずれかが成立するか、否かを前記の各
メモリ５３ａ〜５３ｄを参照して判定する。いずれかの
条件が成立したときにＡＳＰエラーとして検出する。さ
らに、これが検出されるごとにＡＳＰエラー値５４８を
インクリメントしていく。

【００２６】各メモリ５３ａ〜５３ｄにエラーデータ転
送後に行うＡＳＰエラーの検出処理について図２に従っ
て説明すると、まず、ＡＰＳエラー値５４８をクリア
し、検索アドレスＡｎ等を初期値に設定し（ステップ１
０１）、ＳＰＫ・ＭＥＭ５３ｂの所定のアドレスＡｎ
（最初は初期値）からエラーデータを読出して（ステッ
プ１０２）、そのうち１バイトのエラービットデータに
エラービットがあるか否かを判定する（ステップ１０
３）。ここで、ＹＥＳとなって、ＳＰＫエラービットが
検出されたときには、ＭＩＳ・ＭＥＭ５３ａの前記と同
じアドレスＡｎをアクセスしてエラーデータを読出して
（ステップ１０４）、そのうち１バイトのエラービット
データにエラービットがあるか否かの判定をする（ステ
ップ１０５）。この判定でＭＩＳのエラービットが存在
したときに、ＳＰＫ・ＭＥＭ５３ｂとＭＩＳ・ＭＥＭ５
３ａのそれぞれのメモリから読出した前記エラー位置デ
ータが一致するか否かを判定し（ステップ１０６）、一
致しているときには、ＡＳＰエラー値５４８をインクリ
メントし（ステップ１０７）、現在のアドレス値Ａｎが
終了アドレスか否かにより検出処理が終了か否かの判定
をし（ステップ１０８）、終了していないときにはアド
レスＡｎをＡｎ＝Ａｎ＋１により更新して（ステップ１
０９）、ステップ１０２へと戻り、前記の処理を繰り返
す。

【００２７】ステップ１０３の判定において、ＳＰＫエ
ラーが読出した１バイトのエラービットデータにないと
きには、ここでの判定がＮＯとなり、ステップ１０３ａ
へと移行する。ステップ１０３ａでは、アドレスＡｎを
変更せずにＰ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｃの前記と同じアド
レスをアクセスしてエラーデータを読出して、そのうち
１バイトのエラービットデータにエラービットがあるか
否かの判定をする（ステップ１０４ａ）。この判定でＰ
−ＭＯＤのエラービットが存在したときには、ステップ
１０４へと移り、ＭＩＳ・ＭＥＭ５３ａの前記と同じア
ドレスＡｎをアクセスしてエラーデータを読出して（ス
テップ１０４）、そのうち１バイトのエラービットデー
タにエラービットがあるか否かの判定をする（ステップ
１０５）。この判定でＭＩＳのエラービットが存在した
ときに、Ｐ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５ｃとＭＩＳ・ＭＥＭ５３
ａのそれぞれのメモリから読出した前記エラー位置デー
タが一致するか否かを判定し（ステップ１０６）、一致
しているときには、ステップ１０７でＡＳＰエラー値５
４８をインクリメントし、ステップ１０８で検出処理が
終了か否かの判定をする。この判定で終了していないと
きにはステップ１０９においてアドレスＡｎを更新し
て、ステップ１０２へと戻り、前記した処理を行う。

【００２８】ステップ１０５の判定において、ＭＩＳエ
ラーが読出した１バイトのエラービットデータにないと
きには、ここでの判定がＮＯとなってステップ１０５ａ
へと移行する。ステップ１０５ａでは、アドレスＡｎを
変えずにＮ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｄのアドレスＡｎから
エラーデータを読出し、そのうち１バイトのエラービッ
トデータにエラービットがあるか否かの判定をし（ステ
ップ１０６ａ）、Ｎ−ＭＯＤのエラービットが存在した
ときには、ステップ１０６へと移り、先のステップ１０
３の判定でＹＥＳのときにはＳＰＫ・ＭＥＭ５３ｂとＮ
−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｄのそれぞれのメモリから読出し
た前記エラー位置データが一致するか否かを判定する。
また、先のステップ１０４ａの判定でＹＥＳのときには
Ｐ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５ｃとＮ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｄの
それぞれのメモリから読出した前記エラー位置データが
一致するか否かを判定する。ここでの一致判定の結果、
一致しているときには、ステップ１０７でＡＳＰエラー
値をインクリメントし、ステップ１０８で検出処理が終
了か否かの判定をし、終了していないときにはステップ
１０９においてアドレスＡｎを更新して、ステップ１０
２へと戻る。また、前記ステップ１０４ａ，１０６ａ，
１０６の各判定において、判定結果がＮＯとなったとき
には、次にステップ１０８へと移行して検出処理が終了
か否かの判定に入る。

【００２９】このようにして、ＭＰＵ５４１は、ＡＳＰ
エラー検出プログラム５４６を実行することでＡＳＰエ
ラーの発生数を前記のステップ１０７においてＡＳＰエ
ラー値５４８として得る。このような処理において、ス
テップ１０８の判定において検出処理が終了したと判定
されたときには、次にＡＳＰエラー判定処理に入る（ス
テップ１１０）。ＡＳＰエラー判定処理では、ＭＰＵ５
４１は、ＡＳＰエラー判定プログラム５４７を実行する
ことで、ヘッド交換するに価するＡＳＰエラーか否かの
判定をする。すなわち、ここでの判定が問題とされるよ
うな実際上のＡＳＰエラー検出になる。ＡＳＰエラー判
定プログラム５４７の判定処理では、前記ＡＳＰエラー
の発生数を所定の基準値と比較して、比較結果が所定の
基準値を越えているときに、これをヘッド交換が必要な
ＡＳＰエラーとして判定結果を判記憶し、ＭＲヘッドの
交換と再検査の指示をＣＲＴディスプレイ５４３に送出
し、かつ、ＡＳＰエラーの検査結果をプリンタ５５に出
力する（ステップ１１１）。また、ＭＲヘッドの交換後
に同じ検査が同じディスクに対して行われ、再検査の結
果再びＡＳＰエラー発生数が所定の基準値を越えている
ときには先の判定結果を参照してＡＳＰエラー判定プロ
グラム５４７に処理においてＭＰＵ５４１は、再の判定
結果がＡＳＰエラーであるときに、ＭＲヘッドの交換と
ともにさらに前記の検査対象となったディスクを破棄処
分する指示をＣＲＴディスプレイ５４３に表示する。

【００３０】なお、ヘッド交換に価するＡＳＰエラー判
定のための所定の基準値は、各エラーを検出するために
設定される閾値にも関係する。ＭＩＳエラーと、ＳＰＫ
エラー、Ｐ−ＭＯＤエラー、そしてＮ−ＭＯＤエラーの
閾値としては、従来技術で説明したように、Ｖ_S1／Ｖ
m，Ｖ_S3／Ｖmがそれぞれ０．０１〜０．９９（１％〜９
９％）の範囲であり、Ｖ_S2／Ｖm，Ｖ_S3／Ｖmがそれぞれ
１．０１〜１．５０（１０１％〜１５０％）の範囲であ
る。このような範囲においてそれぞれの閾値を、例え
ば、１に近傍の適正な値を設定した場合には、０〜２程
度の数値になる。このＡＳＰエラーの判定における所定
の基準値は、複数枚の突起のあるディスクを検査してＭ
Ｒヘッドについてヘッドクラッシュを調べた実験値から
選択するとよい。また、実用的な閾値の範囲としては、
ＭＩＳエラーとＮ−ＭＯＤエラーでは３０％〜９９％，
ＳＰＫエラーとＰ−ＭＯＤエラーでは１０５％〜１５０
％であり、ＥＸＴエラーでは１０％〜９９％程度が採用
されている。そして、閾値を前記の各範囲値において１
に近いより厳しい値に設定した場合には、各エラーが発
生し易くなるので、基準値は、前記の値よりも大きな値
になる。また、１回の判定においてＡＳＰエラーになっ
たときにＭＲヘッド交換と同時にディスクを破棄処分し
てもよい。

【００３１】前記のステップ１１０のＡＳＰエラー判定
処理において、判定結果がＡＳＰエラーでないときに
は、トラック番号を更新して次のトラックについてエラ
ー検査を行い、前記と同様なＡＳＰエラー検査を行う。
ＭＰＵ５４１がサーテファイ検査プログラム５４４を実
行することで行われる、サーテファイ検査について図３
に従って説明する。まず、所定の検査開始の機能キー入
力により、検査条件として必要な初期値をを設定すると
ともに、検査トラック番号Ｔｎについて初期値を設定す
る（ステップ２０１）。この初期値の１つとして、例え
ば、エラー検査の順序について、最初にＭＩＳエラー
と、Ｎ−ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエラーとを同時に行
い、次にＳＰＫエラー、そしてＥＸＴエラー選択されて
順次所定のトラックについて検査を行うパラメータが設
定されるているものとする。ヘッドをＴｎ番目（最初は
初期値）の検査トラックに位置決めして（ステップ２０
２）、エラー検出処理に入る（ステップ２０３）。最初
は、ＭＩＳエラーと、Ｎ−ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエ
ラーについてそれぞれに対応する閾値がエラー検査ユニ
ット５２に設定されて、トラックにテストデータが書き
込まれ、そのトラックからテストデータが読出されて、
ＭＩＳエラーと、Ｎ−ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエラー
それぞれの１トラック分のエラーデータがＥＲＲ・ＭＥ
Ｍ５３に記憶される。次に、ＳＰＫエラーに対応する閾
値が設定されて、トラックにテストデータが書き込ま
れ、そのトラックからテストデータが読出されて、ＳＰ
Ｋエラーの１トラック分のエラーデータがＥＲＲ・ＭＥ
Ｍ５３に記憶される。最後に、ＥＸＴエラーに対応する
閾値が設定されて、トラックにテストデータが書き込ま
れ、このトラックのテストデータが消去されて、このト
ラックからデータが読出されてＥＸＴエラーの１トラッ
ク分のエラーデータがＥＲＲ・ＭＥＭ５３に記憶され
る。

【００３２】このようなエラー検査が終了すると、次
に、図２に示すＡＳＰエラー検出処理に入り（ステップ
２０４）、ＭＰＵ５４１がＡＳＰエラー検出プログラム
５４６を実行することで、図２のフローチャートに従っ
て処理が行われ、ＡＳＰエラーがＡＳＰエラー値５４８
に数値として記録される。次に、ＡＳＰエラー判定処理
に入り（ステップ２０５）、ＭＰＵ５４１がＡＳＰエラ
ー判定プログラム５４７を実行することで、検出値と所
定の基準値と比較が行われて、この基準値を越えている
ときにＭＲヘッドを交換するという判定結果になる。こ
の判定結果は、ＣＲＴディスプレイ５４３に表示され、
あるいはＡＳＰエラーの検査結果がプリンタ５５に出力
される（ステップ２０６）。判定結果がＡＳＰエラーの
ときには、ＭＲヘッドを交換して、検査がステップ２０
１から再び開始される。

【００３３】ステップ２０６のＡＳＰエラー判定処理に
おいて、ＡＳＰエラーがないときには、検査処理が終了
したか否かを検査トラック番号ＴｎがＴｎ＞Ｍによっ
て、最大トラック番号Ｍを越えているか否かで判定する
（ステップ２０７）。この判定の結果がＮＯとなって、
検査処理が終了していないときには、トラック番号Ｔｎ
をＴｎ＝Ｔｎ＋１として更新して（ステップ２０８）、
ステップ２０２へと戻り、次のトラックについて同様な
処理を行う。ところで、この実施例では、説明の都合
上、検査の種類別に対応してエラーメモリ５３ａ〜５３
ｄを設けてこれらのメモリにエラー種別コードを除い
た、エラーデータを転送して記憶するようにしている
が、これらメモリは制御部５４のメモリ５４２に記憶領
域として割当てられていてもよい。このように記憶領域
として割当てる場合には、各記憶領域におけるエラーデ
ータについてのアクセスアドレスは、それぞれの記憶領
域の配置された位置分だけ補正されたアドレスになる。

【００３４】図５は、サーテファイアのＡＳＰエラー検
査の機能ブロック図を示すものであって、前記の実施例
に対比すると、ＥＲＲ・ＭＥＭ５３に記憶されたエラー
データをＭＰＵ５４１がエラー種別コードを参照するこ
とによりエラーデータをＭＰＵ５４１の選択処理によっ
てＭＩＳ・ＭＥＭ５３ａ、ＰＫ・ＭＥＭ５３ｂ、Ｐ−Ｍ
ＯＤ・ＭＥＭ５３ｃ、Ｎ−ＭＯＤ・ＭＥＭ）５３ｄに選
択的に転送する。次に、ＭＰＵ５４１のＡＳＰエラー検
出・判定処理によって、ＡＳＰエラーの検出とＡＳＰエ
ラーについてヘッド交換すべきか否かの判定が行われ、
プリンタ５５あるいはＣＲＴディスプレイ５４３にＡＳ
Ｐエラー結果が出力される。このような機能ブロックで
分かるように、点線で示すように、エキストラエラーに
ついてエラーデータを記憶するメモリ（ＥＸＴ・ＭＥ
Ｍ）５３ｅをさらに設けることにより、ＥＲＲ・ＭＥＭ
５３を削除することができる。ＥＲＲ・ＭＥＭ５３の替
わりにエラー検出ユニット５２の出力をＭＩＳ・ＭＥＭ
５３ａ、ＳＰＫ・ＭＥＭ５３ｂ、Ｐ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５
３ｃ、Ｎ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｄ、ＥＸＴ・ＭＥＭ５３
ｅに選択的に切り換えてそれぞれの種別に対応するエラ
ーを記憶することができる。

【００３５】また、検査の種類別に対応してＭＩＳ・Ｍ
ＥＭ５３ａ〜ＥＸＴ・ＭＥＭ５３ｅを設けることなく、
ＥＲＲ・ＭＥＭ５３に記憶されたエラーデータをＭＰＵ
５４１が直接アクセスしてもよい。このような場合に
は、例えば、ＳＰＫエラーについてエラービットデータ
の１バイトの中にエラービットがあるときに、次に同じ
位置でＭＩＳエラーがあるか否かを判定してＡＳＰエラ
ーを検出することになる。同様に、ＳＰＫエラーについ
てエラービットデータの１バイトの中にエラービットが
あるときに、次に同じ位置でＮ−ＭＯＤエラーがあるか
否かを判定してＡＳＰエラーを検出する。さらに、ＭＩ
Ｓエラーについてエラービットデータの１バイトの中に
エラービットがあるときに、次に同じ位置でＰ−ＭＯＤ
エラーがあるか否かを判定してＡＳＰエラーを検出し、
さらに、Ｎ−ＭＯＤエラーについてエラービットデータ
の１バイトの中にエラービットがあるときに、次に同じ
位置でＰ−ＭＯＤエラーがあるか否かを判定してＡＳＰ
エラーを検出することになる。

【００３６】さらに、ＭＩＳ・ＭＥＭ５３ａ〜Ｎ−ＭＯ
Ｄ・ＭＥＭ５３ｄをエラー位置に対応してエラーフラグ
を立てるフラグメモリとすることができる。これは、Ｅ
ＲＲ・ＭＥＭ５３をアクセスしてそれぞれの種別コード
に応じてエラービットデータを検査してエラービットが
存在するときに、それのエラー位置データに対応するＭ
ＩＳ・ＭＥＭ５３ａ〜Ｎ−ＭＯＤ・ＭＥＭ５３ｄのアド
レス位置にエラーフラグを記憶するものである。このよ
うにすれば、エラーメモリを１バイトごとに読出してエ
ラービットがあるか否かの判定をすることなしに、単
に、同じアドレス位置にエラーフラグがあるか否かの判
定をするだけでＡＳＰエラーの検出が可能になる。

【００３７】以上の説明してきたが、ＡＳＰエラーを検
出するために設定する、エラービットデータのビット数
（ディスク上でのエラー発生位置を決定する記録長さの
単位）は、実施例では、１バイトとしているが、これ
を、例えば、４ビットとしてもよい。また、検出系のエ
ラー検出精度が高いものでは、さらにビット範囲を狭く
して、２ビットあるいは３ビット程度とすることもでき
る。通常は、この範囲は、検査効率と精度との関係で決
定されるものであって、検査効率を上げるならばエラー
ビットデータは、２バイトか、あるいはそれ以上とする
こともできる。また、実施例では、ＳＰＫエラーとＭＩ
Ｓエラーとが発生する場合、ＳＰＫエラーとＮ−ＭＯＤ
エラーが発生する場合、ＭＩＳエラーとＰ−ＭＯＤエラ
ーが発生する場合、そしてＰ−ＭＯＤエラーとＮ−ＭＯ
Ｄエラーが発生する場合のいずれの場合においてもＡＳ
Ｐエラーを検出するものであるが、いずれか１つの場合
においてＡＳＰエラーを検出するだけであってもよい。

【００３８】さらに、実施例では、ＭＩＳエラーと、Ｎ
−ＭＯＤエラー、Ｐ−ＭＯＤエラーとを一度にそれぞれ
の検出回路で検出される例で説明しているが、これら
は、それぞれ独立にエラー検査を行って、個別に検出さ
れてもよいことはもちろんである。また、実施例では、
エラー検出ユニットにおいて、エラービットデータとと
もにエラー位置データを生成するようにしているが、こ
れらデータは、検出されるエラーとの対応が採れていれ
ばよいので、制御部がロータリエンコーダから回転基準
信号と回転量を示す信号を受けて検査のタイミングに応
じてエラー位置データを生成して、エラー検出ユニット
から得られるエラービットデータを読出して制御部で生
成したエラー位置データに対応付け、制御部においてエ
ラーデータを生成するような処理をしてもよい。

【００３９】

【発明の効果】以上説明したきたように、この発明にあ
っては、ＡＳＰの検出手段として、特別に検出をする手
段を設けることなく、ディスクの同じ位置において、Ｓ
ＰＫエラーとＭＩＳエラーとが検出されたとき、ＳＰＫ
エラーとＮ−ＭＯＤエラーとが検出されたとき、ＭＩＳ
エラーとＰ−ＭＯＤエラーとが検出されたとき、そして
Ｐ−ＭＯＤエラーとＮ−ＭＯＤエラーとが検出されたと
きのいずれかであるときに、ＡＳＰエラーとすることに
より、単に、サーテファイアによりすでに検出され、記
憶されている各種類のエラービットを利用して、これら
に含まれていエラービットからＡＳＰエラーを検出する
ことができる。その結果、ＡＰＳエラーの検出が特別の
手段を用いずに可能になり、また、ＭＲヘッドの交換や
問題となるようなディスクの処分も可能になる。これに
より、磁気ディスクの信頼性を向上させることができ、
また、磁気ディスクの記憶密度が高密度になればなるほ
ど有効な検査装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明のＭＲヘッドのＡＳＰエラー
の検出方法を適用したサーテファイアの一実施例の構成
図である。

【図２】図２は、ＡＳＰエラー検出処理のフローチャー
トである。

【図３】図３は、ＡＳＰエラーを含むサーテファイ処理
のフローチャートである。

【図４】図４は、この発明のＭＲヘッドのＡＳＰエラー
の検出方法の原理を説明するための説明図である。

【図５】図５は、サーテファイアのＡＳＰエラー検査の
機能ブロック図である。

【図６】図６は、各種のエラービットの説明図であっ
て、(a) はＭＩＳエラー（ミッシングエラー）の波形
図、(b) はＳＰＫエラー（スパイクエラー）の波形図、
(c)はＰ−ＭＯＤエラー（ポジティブモジュレーション
エラー）の波形図、(d) はＮ−ＭＯＤ（エラーネガティ
ブモジュレーションエラー）の波形図、(e) はＥＸＴエ
ラー（エキストラエラー）の波形図である。

【図７】図７は、サーテファイアの一般的な構成図であ
る。

【図８】図８は、エラーデータの一例を示す説明図であ
る。

【図９】図９は、サーマルアスペリティ（ＡＳＰ）を説
明する波形図である。

【符号の説明】

１…磁気ディスク、２…回転機構、２b…ロータリエン
コーダ、３…磁気ヘッド、４…ＭＲヘッド、５…検査装
置、５０…書込／読出回路、５１…書込制御ユニット、
５２…エラー検出ユニット、５２２，５２３…コンパレ
ータ５２２、５３…エラーメモリ（ＥＲＲ・ＭＥＭ）、
５３ａ，５３ｂ，５３ｃ，５３ｄ…エラーメモリ、５４
１…ＭＰＵ、５４２…メモリ、５４３…ＣＲＴディスプ
レイ（ＣＲＴ）、５４４…サーテファイ検査プログラ
ム、５４５…ＡＳＰエラー検出プログラム、５４６…Ａ
ＳＰエラー判定プログラム、５４７…閾値設定プログラ
ム、５４８…ＡＳＰエラー値。

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｂ５７２Ｆ５７６５７６Ｚ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】磁気ディスクのトラックに沿って書込まれ
たテストデータをＭＲヘッドにより読出した読出信号に
基づいて前記磁気ディスクについて第１のエラーとして
スパイクエラーおよびポジティブモジュレーションエラ
ーのいずれかを検出し、第２のエラーとしてミッシング
エラーとネガティブモジュレーションエラーのいずれか
のエラーを検出する磁気ディスクサーティファイアにお
いて、前記テストデータの各ビットに対応しかつこのビット複
数個分の記録長さを単位として決定される前記トラック
上の位置に対応して前記第１のエラーおよび前記第２の
エラーを検出し、前記第１のエラーと前記第２のエラー
とが前記記録長さを単位として決定される前記トラック
上の同じ位置にあるときにサーマルアスペリティエラー
とすることを特徴とするＭＲヘッドのサーマルアスペリ
ティエラー検出方法。
【請求項２】前記ビット複数個分の記録長さは１バイト
であって、前記第１のエラーと前記第２のエラーとが前
記同じ位置にあるときに１個の前記サーマルアスペリテ
ィエラーを検出し、前記トラック上のサーマルアスペリ
ティエラーの個数をカウントして所定値と比較し、比較
結果が前記所定値を越えているときにヘッド交換をする
必要があるサーマルアスペリティエラーとする請求項１
記載のサーマルアスペリティエラーの検出方法。
【請求項３】磁気ディスクのトラックに沿って書込まれ
たテストデータをＭＲヘッドにより読出した読出信号に
基づいて前記磁気ディスクについて第１のエラーとして
スパイクエラーおよびポジティブモジュレーションエラ
ーのいずれかを検出し、第２のエラーとしてミッシング
エラーとネガティブモジュレーションエラーのいずれか
のエラーを検出検出する磁気ディスクサーティファイア
において、前記磁気ディスクの回転基準を示す回転基準信号を発生
する検出器と、前記テストデータを書込む書込回路と、前記アナログ信号として前記読出信号を出力する読出回
路と、メモリと、前記アナログ信号を受けて、このアナログ信号を所定の
閾値と比較して前記テストデータの各ビットに対応して
エラーの有無を示すビットを生成して前記メモリにエラ
ーデータとして記憶するエラー検出ユニットと、前記所定の閾値として前記第１のエラーおよび前記第２
のエラーのいずれか一方を検出する第１の閾値を前記エ
ラー検出ユニットに与えて得られる前記エラーデータを
第１のエラーデータとして前記メモリから得て、かつ、
前記所定の閾値として前記第１のエラーおよび前記第２
のエラーのいずれか他方を検出する第２の閾値を前記エ
ラー検出ユニットに与えて得られる前記エラーデータを
第２のエラーデータとして前記メモリから得て、前記第
１および第２のエラーデータに基づいて、前記テストデ
ータのビット複数個分の記録長さを単位としこれと前記
回転基準信号とにより決定される前記トラック上の同じ
位置に前記第１のエラーおよび前記第２のエラーがある
ときにサーマルアスペリティエラーを検出する制御回路
とを備える磁気ディスクサーティファイア。
【請求項４】前記検出器は、さらに前記ディスクの回転
に応じて回転量を示す信号を発生するものであり、前記
エラー検出ユニットは、前記アナログ信号と前記所定の
閾値とを比較し、前記エラーの有無を示すビットを出力
するコンパレータを有し、前記回転基準信号および前記
検出器から回転量を示す信号を受けて、前記記録長さを
単位としてこれと前記回転基準信号および前記回転量と
に応じて決定される前記トラック上の位置を示す位置デ
ータを生成し、この位置データと前記エラーの有無を示
すビットからなるエラービットデータとをエラーデータ
として前記メモリに記憶し、前記制御回路は、前記第１
のエラーデータと前記第２のエラーデータとに基づいて
前記同じ位置前記第１のエラーと前記第２のエラーとが
あるか否かを判定する処理を行うプロセッサを有する請
求項３記載の磁気ディスクサーティファイア。
【請求項５】前記ビット複数個分の記録長さは１バイト
であって、前記エラー検出ユニットは、さらに前記第１
のエラーに対応して第１のコードを生成し、前記第２の
エラーに対応して第２のコードを生成し、前記第１のエ
ラーデータには前記第１のコードが付加され、前記第２
のエラーデータには前記第２のコードが付加され、前記
制御回路は、前記第１のエラーと前記第２のエラーのそ
れぞれに対応する第１および第２の記憶領域を有してい
て、前記第１および前記第２のエラーデータを前記メモ
リから読出して前記第１のコードがあるときには、この
第１のコードを除いた前記第１のエラーデータを前記第
１の記憶領域に前記位置データの位置の順に記憶し、前
記第２のコードがあるときには、この第２のコードを除
いた前記第２のエラーデータを前記第２の記憶領域に前
記位置データの位置の順に記憶し、前記第１のエラーと
前記第２のエラーとが前記同じ位置にあるときに１個の
前記サーマルアスペリティエラーを検出し、前記トラッ
ク上のサーマルアスペリティエラーの個数をカウントし
て所定値と比較し、比較結果が前記所定値を越えている
ときに前記ＭＲヘッドを交換する必要があるサーマルア
スペリティエラーとする請求項４記載の磁気ディスクサ
ーティファイア。