KR100524898B1 - 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치 - Google Patents

번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100524898B1
KR100524898B1 KR1019980011687A KR19980011687A KR100524898B1 KR 100524898 B1 KR100524898 B1 KR 100524898B1 KR 1019980011687 A KR1019980011687 A KR 1019980011687A KR 19980011687 A KR19980011687 A KR 19980011687A KR 100524898 B1 KR100524898 B1 KR 100524898B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
head
killing
test
sorting
defects
Prior art date
Application number
KR1019980011687A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990079206A (ko
Inventor
조진원
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1019980011687A priority Critical patent/KR100524898B1/ko
Publication of KR19990079206A publication Critical patent/KR19990079206A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100524898B1 publication Critical patent/KR100524898B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
    • G11B19/048—Testing of disk drives, e.g. to detect defects or prevent sudden failure
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849—Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816—Testing
    • G11B2020/1826—Testing wherein a defect list or error map is generated
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2508—Magnetic discs
    • G11B2220/2516—Hard disks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치에 관한 것이다.
그 방법은 번-인 테스트 진행중 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 발생하여 테스트에 불합격한 드라이브로부터 킬링 헤드를 선별하는 킬링 헤드 선별 방법에 있어서, 제1단계 및 제2단계를 포함한다. 제1단계는 상기 검출된 디펙트 수를 계산하여 헤드별로 분류하는 단계이다. 제2단계는 상기 제1단계에서 계산된 디펙트가 소정 개수 이상인 헤드를 킬링헤드로 판단하는 단계이다. 상기 제2단계에서 킬링 헤드로 판단된 헤드에 대해서는 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드임을 표시하는 정보인 킬링 헤드 플래그를 기록하는 제3단계를 더 포함할 수 있다. 상기 제2단계에서 킬링 헤드로 판단된 것을 알 수 있도록 디스플레이하는 제4단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의하면, 번-인 테스트 중 검출된 디펙트를 각 헤드별로 분류하고 계산하여 디펙트가 집중되어 검출된 헤드를 킬링 헤드로 판별함으로써 자동적으로 킬링 헤드를 선별할 수 있다.

Description

번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치
본 발명은 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트에 관한 것으로, 보다 상세하게는 번-인 테스트에서의 킬링 헤드(Killing Head) 자동 선별 방법 및 장치에 관한 것이다.
일반적으로 하드 디스크 드라이브는 디스크, 엑튜에이터, 헤드 등의 기구적인 부분을 포함하는 하드 디스크 어셈블리(Assembly)와, 리드-라이트 채널, 위치 제어 시스템, 스핀들 모터 제어부 등의 회로적인 부분을 포함하는 드라이브 제어 PCB(Printed Circuit Board)로 크게 나누어진다. 그런데, 하드 디스크에는 저장된 정보를 리드하거나, 유저에 의해 입력되는 데이터를 기록할 수 없는 디펙트라는 부분이 존재한다. 디펙트는 디스크의 전기적 특성이 떨어지거나, 디스크가 물리적인 손상(예컨대, 찍힘이나 긁힘)을 입었을 경우에 흔히 발생한다. 이와 같은 디펙트를 걸러주기 위해 통상 하드 디스크 드라이브 생산공정 중에 번-인(Burn-In) 테스트 공정을 삽입하고 있다. 번-인 테스트는 데이터 패턴과 독출/기록 조건을 바꾸어가며 수회에 걸쳐 독출/기록 테스트를 반복적으로 실행하여 에러가 발생하는 위치를 미리 디펙트로 처리하여 이를 메인터넌스 실린더에 기록해둠으로써 일반 사용자가 엑세스할 수 없도록 해주는 것이다.
한편, 킬링 헤드는 디펙트가 많이 발생되어 사용하기 곤란한 디스크와 헤드를 포함하는 개념이며, 킬링 헤드 작업은 상기 디펙트가 많이 발생된 디스크와 헤드를 사용하지 않기 위해 소프트웨어적으로 헤드 사용을 하지 않도록 하는 작업이다.
도 1은 종래의 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 선별 방법을 보이는 흐름도이다.
도 1에 도시된 흐름도는 102-118 단계를 포함한다. 번-인 테스트를 시작하여 드라이브가 테스트 통과되었는지를 판단하여 통과되었으면, 드라이브 테스트 합격으로 판정하고 흐름도를 끝낸다.(104, 116 단계) 테스트가 통과되지 않았으면, 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 발생되었는지를 판단한다.(106단계) 여기서 소정 개수 이상은 매우 많은 트랙에서 디펙트가 발생된 것을 의미한다. 106단계에서 소정 개수 이상의 디펙트가 발생되었으면 테스트 장치로부터 드라이브를 빼낸 후 수동으로 킬링 헤드 작업을 할 드라이브를 선별한다.(108-110 단계) 이는 특정 프로그램을 돌려 헤드가 과연 킬링 헤드인지를 판단하는 것이다. 선별 결과 킬링 헤드로 판별되면, 킬링 헤드 작업을 수행한다.(112 단계) 테스트 장치에 드라이브를 삽입하여 번-인 테스트를 계속한다.(114 단계) 106 단계에서 발생된 데이터 디펙트가 소정 개수 이상이 아니면, 드라이브 테스트 불합격으로 판정하고 흐름도를 끝낸다.(118 단계)
이와 같은 종래의 킬링 헤드 선별 방법은 일단 드라이브 테스트에 불합격된 드라이브를 모두 테스트 장치인 번-인 장비에서 빼낸 후 오퍼레이터가 수동으로 킬링 헤드인지를 판별하여 킬링 헤드 작업을 수행한 후 다시 번-인 장비에 거는 등 여러 차례의 공정이 소요되는 문제점이 있었다.
본 발명의 목적은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 번-인 테스트 진행 중 소정 개수 이상의 디펙트가 검출되어 테스트에 불합격한 경우 검출된 디펙트를 헤드별로 분류하여 동일한 헤드에 소정 개수 이상의 디펙트가 집중되어 발생되었는지를 판단하여 그 헤드를 킬링 헤드 작업한 후 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드 플래그를 설정하는 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위하여 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법이 제공된다. 그 방법은 번-인 테스트 진행중 디펙트가 소정 개수 이상 발생하여 테스트에 불합격한 드라이브로부터 킬링 헤드를 선별하는 킬링 헤드 선별 방법에 있어서, 제1단계 및 제2단계를 포함한다. 제1단계는 상기 검출된 디펙트 수를 계산하여 헤드별로 분류하는 단계이다. 제2단계는 상기 제1단계에서 계산된 디펙트가 소정 개수 이상인 헤드를 킬링헤드로 판단하는 단계이다. 상기 제2단계에서 킬링 헤드로 판단된 헤드에 대해서는 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드임을 표시하는 정보인 킬링 헤드 플래그를 기록하는 제3단계를 더 포함할 수 있다.
상기의 다른 목적을 달성하기 위하여 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 장치가 제공된다. 그 장치는 번-인 테스트 진행중 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 검출되어 테스트에 불합격한 드라이브로부터 킬링 헤드를 선별하기 위한 킬링 헤드 선별 장치에 있어서, 디펙트 분류 및 계산부, 킬링 헤드 선별부 및 디스플레이부를 포함한다. 디펙트 분류 및 계산부는 검출된 디펙트를 각 헤드별로 분류하여 디펙트수를 계산한다. 킬링 헤드 선별부는 상기 디펙트 분류 및 계산부로부터 디펙트가 소정 개수 이상인 헤드를 선별하여 킬링 헤드임을 표시하는 킬링 헤드 플래그를 메인터넌스 실린더에 기록한다. 디스플레이부는 상기 킬링 헤드 선별부에서 선별된 헤드에 대해 킬링 헤드임을 알 수 있도록 디스플레이한다.
이어서, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명에 따른 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 장치의 블록도이다.
도 2에 도시된 장치는 번-인 테스트부(202), 디펙트 분류 및 계산부(204), 킬링 헤드 선별부(206), 메인터넌스 실린더(208) 및 디스플레이부(210)를 포함한다. 번-인 테스트부(202)는 디스크 드라이브에 대하여 번-인 테스트를 수행한다. 디펙트 분류 및 계산부(204)는 검출된 디펙트를 각 헤드별로 분류하여 디펙트수를 계산한다. 킬링 헤드 선별부(206)는 디펙트 분류 및 계산부(204)로부터 디펙트가 소정 개수 이상인 헤드를 선별하여 킬링 헤드임을 표시하는 킬링 헤드 플래그를 메인터넌스 실린더(208)에 기록한다. 디스플레이부(210)는 킬링 헤드 선별부(206)에서 선별된 헤드에 대해 킬링 헤드임을 알 수 있도록 디스플레이한다.
그리하여 도 2에 도시된 장치는 번-인 테스트 중 킬링 헤드를 자동으로 선별하고, 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드 플래그를 기록한다.
이어서, 도 2에 도시된 장치의 동작을 설명한다.
번-인 테스트 진행중 검출된 데이터 디펙트는 디펙트 분류 및 계산부(206)에서 각 헤드별로 분류되고, 각 헤드 마다 검출된 디펙트 수가 계산된다. 디펙트 분류 및 계산부(204)에서 계산된 디펙트수에 근거하여 킬링 헤드 선별부(206)에서는 소정 개수 이상으로 집중적으로 발생된 헤드가 선별되고, 킬링 헤드임을 표시하는 킬링 헤드 플래그가 메인터넌스 실린더(208)에 기록된다. 킬링 헤드 선별부(206)에서 킬링 헤드로 선별된 헤드는 디스플레이부(210)에서 킬링 헤드임을 알 수 있도록(예컨대, 헤드의 번호를 표시) 디스플레이된다.
도 3은 본 발명에 따른 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법의 흐름도이다.
도 3은 302 - 320 단계를 포함한다. 번-인 테스트를 시작하여 테스트가 통과되었는지를 판단하여 통과되지 않은 경우 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 발생되었는지를 판단한다.(302-306 단계) 여기서 소정 개수는, 검출된 디펙트가 결함때문에 생긴 것으로 예상될 수 있는 정도의, 상당한 수의 트랙에서 발생된 상당한 디펙트수를 의미한다. 306 단계에서 소정 개수 이상의 디펙트가 발생되었으면, 킬링 헤드 플래그가 설정되어 있는지를 판단하여 설정되어 있으면, 드라이브 테스트 불합격으로 판정하고 흐름도를 끝낸다.(308, 320 단계) 여기서, 킬링 헤드 플래그가 설정되어 있다는 것은 킬링 헤드 작업이 수행되어 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드 플래그가 기록되어 있다는 것을 의미한다.
308 단계에서 킬링 헤드 플래그가 설정되어 있지 않으면, 발생된 디펙트를 헤드별로 분류하고, 각 헤드 마다 발생된 디펙트 수를 계산한다.(310 단계) 동일 헤드에 디펙트가 집중되어 발생되었는지를 판단한다.(312 단계) 집중되어 발생되었다는 것은 어느 하나의 헤드에 소정 개수 이상의 디펙트가 현저하게 많이 검출된 것을 의미한다. 312 단계에서 동일 헤드에 디펙트가 집중되어 발생되지 않았으면, 킬링 헤드할 드라이브가 없는 것으로 판단하여 드라이브 테스트 불합격 판정을 내리고 흐름도를 끝낸다. 킬링 헤드 작업을 수행한다.(314 단계) 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드 플래그를 설정하고(316 단계) 다시 번-인 테스트를 진행한다.
본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상내에서 당업자에 의한 변형이 가능함은 물론이다. 도 3의 흐름도에 도시되지는 않았지만, 킬링 헤드로 판단된 것을 알 수 있도록 디스플레이하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의하면, 번-인 테스트 중 검출된 디펙트를 각 헤드별로 분류하고 계산하여 디펙트가 집중되어 검출된 헤드를 킬링 헤드로 판별함으로써 자동적으로 킬링 헤드를 선별할 수 있다.
도 1은 종래의 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 선별 방법을 보이는 흐름도이다.
도 2는 본 발명에 따른 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 장치의 블록도이다.
도 3은 본 발명에 따른 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법의 흐름도이다.

Claims (2)

  1. 번-인 테스트 진행중 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 발생하여 테스트에 불합격한 드라이브로부터 킬링 헤드를 선별하는 킬링 헤드 선별 방법에 있어서,
    상기 디펙트 수를 계산하여 헤드별로 분류하는 제 1 단계;
    상기 제 1 단계에서 계산된 디펙트가 헤드 결함에 의한 디펙트에 해당하는 개수 이상인 헤드를 킬링 헤드로 판단하는 제 2 단계;
    상기 제 2 단계에서 킬링 헤드로 판단된 헤드에 대해서는 메인터넌스 실린더에 킬링 헤드를 표시하는 킬링 헤드 플래그를 기록하는 제 3 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법.
  2. 번-인 테스트 진행중 데이터 디펙트가 소정 개수 이상 검출되어 테스트에 불합격한 드라이브로부터 킬링 헤드를 선별하기 위한 킬링 헤드 선별 장치에 있어서,
    상기 검출된 디펙트를 각 헤드별로 분류하여 디펙트 수를 계산하기 위한 디펙트 분류 및 계산부;
    상기 디펙트 분류 및 계산부로부터 디펙트가 헤드 결함에 의한 디펙트에 해당하는 개수 이상인 헤드를 선별하여 킬링 헤드임을 표시하는 킬링 헤드 플래그를 메인터넌스 실린더에 기록하기 위한 킬링 헤드 선별부; 및
    상기 킬링 헤드 선별부에서 선별된 헤드에 대해 킬링 헤드임을 알 수 있도록 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 하는 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 장치.
KR1019980011687A 1998-04-02 1998-04-02 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치 KR100524898B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980011687A KR100524898B1 (ko) 1998-04-02 1998-04-02 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980011687A KR100524898B1 (ko) 1998-04-02 1998-04-02 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990079206A KR19990079206A (ko) 1999-11-05
KR100524898B1 true KR100524898B1 (ko) 2005-12-27

Family

ID=37306884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980011687A KR100524898B1 (ko) 1998-04-02 1998-04-02 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100524898B1 (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0467476A (ja) * 1990-07-09 1992-03-03 Fujitsu Ltd アレイディスク制御装置
JPH0971687A (ja) * 1995-09-05 1997-03-18 Nippon Zeon Co Ltd ゴム組成物
JPH1027319A (ja) * 1996-05-10 1998-01-27 Hitachi Electron Eng Co Ltd Ｍｒヘッドのサーマルアスペリティエラー検出方法および磁気ディスクサーティファイア

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0467476A (ja) * 1990-07-09 1992-03-03 Fujitsu Ltd アレイディスク制御装置
JPH0971687A (ja) * 1995-09-05 1997-03-18 Nippon Zeon Co Ltd ゴム組成物
JPH1027319A (ja) * 1996-05-10 1998-01-27 Hitachi Electron Eng Co Ltd Ｍｒヘッドのサーマルアスペリティエラー検出方法および磁気ディスクサーティファイア

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990079206A (ko) 1999-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100544988B1 (ko) 디스크 메모리 장치, 디스크 메모리 장치 불량 판정 방법,및 프로그램 기록 매체
DE19916104B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Defekten auf einer Platte in einem Plattenlaufwerk
US20020036850A1 (en) Enhanced short disc drive self test using historical logs
JPH0443350B2 (ko)
US7206150B2 (en) In situ media defect image analysis
US8169725B2 (en) Hard disk drive and method for managing scratches on a disk of the hard disk drive
JPH0650779A (ja) 自己診断方法およびそのための制御装置
JPH03209601A (ja) ディスク装置
JP3888938B2 (ja) チップ品質判定方法、チップ品質判定プログラム及びそれを用いたマーキング機構、並びにウエハの異常発生解析方法
JP2976780B2 (ja) 情報記録再生装置
US6058335A (en) Automated technique for manufacturing hard disk drive
CN110413463A (zh) 一种硬盘的smart信息检查方法
KR100524898B1 (ko) 번-인 테스트에서의 킬링 헤드 자동 선별 방법 및 장치
US6384599B1 (en) System, method, and program for analyzing offset track errors in a storage system
KR20030088527A (ko) 하드 디스크 드라이브를 위한 오프 트랙 발생 예방 방법및 장치
KR100382717B1 (ko) 하드 디스크 드라이브에서의 디펙트 처리방법
KR100505586B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 번-인 테스트 진행 상태 판별 장치 및방법
US4896227A (en) Method of locating and inspecting dropouts on a magnetic disc
KR100265882B1 (ko) 하드디스크 드라이브에 있어서 수율향상을 위한 번-인테스트방법
KR100699895B1 (ko) 스파이럴 스피드 패턴의 품질 판단방법
CN117310422B (zh) 一种火工品电阻器性能测试方法及系统
JPH09281057A (ja) 被検査物の欠陥情報収集方法
KR19980030799A (ko) 제조공정 합격판정기 및 그를 이용한 제조공정방법
KR100403040B1 (ko) 하드 디스크 드라이브 제조공정의 수율향상 방법
JP2004062942A (ja) サーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee