JP2004062942A - サーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法 - Google Patents

サーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法 Download PDF

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Wataru Hayasaka
早坂 渉
Akihiro Fujita
藤田 昭浩
Masanori Fukushi
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Abstract

【課題】従来のヘッドの評価方法によっては検出することが困難な、稀に異常記録を起こすようなヘッドであっても確実に検出することができ、半不良状態のヘッドを早期に検出して、磁気ディスク装置の製造歩留まりを向上させる。
【解決手段】磁気ディスクにサーボトラックを記録するサーボトラックライターのヘッドの電気特性を評価するサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法において、前記サーボトラックライターに、前記ヘッドによって磁気ディスクに記録したサーボトラック情報の読み取り再現性を検知するVMM試験を行うためのリードチャンネルを搭載し、前記ヘッドにより磁気ディスクにサーボトラック情報を記録する際に、併せてVMM試験を行い、サーボトラック情報の読み取り再現性のエラー発生率が一定の閾値を超えたか否かによってヘッドの良否を判定する。
【選択図】    図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
サーボトラックライターは磁気ディスク装置のヘッドを位置決め制御するための位置情報(サーボトラック)を磁気ディスクに記録する装置であり、サーボトラックライターでは磁気ディスクごとに、数万個以上のサーボトラック情報を記録している。
サーボトラックライターには、磁気ディスク装置を組み立てた後、磁気ディスク装置自体のヘッドでサーボトラックを記録するセルフ・サーボトラックライター技術と、ディスクにあらかじめサーボトラック情報を記録しておき、その後、磁気ディスク装置を組み立てるメディア・サーボトラックライター技術(ディスクレベルサーボトラックライター)があり、特に、メディア・サーボトラックライターでは、磁気ディスクにサーボトラック情報を記録するためのヘッドが何回も繰り返して使用されるため、ヘッドに塵が付着したりして電気特性が劣化しやすい。電気特性の劣化したヘッドを用いてサーボトラック情報を記録した磁気ディスクは不良となってしまうという問題が生じる。
【0003】
このため、サーボトラックライターで磁気ディスクにサーボトラック情報を記録する際に、シリンダごとにヘッドの出力レベルを監視して、電気特性が劣化した不良ヘッドが検出された場合には、そのヘッドを交換して磁気ディスク装置の不良品が生じないようにしている。
図4は、サーボトラックライターで1周分のサーボトラック情報を記録する際のヘッドの出力レベルの例を示す。ヘッドの出力レベルは、図のように、サーボトラックの1周内で変動し、従来はこのサーボトラックを1周する際の出力レベルのピーク値を検知し、その出力レベルの平均値が基準値以下になった場合にヘッドが不良と判定するようにしている。
【0004】
実際には、磁気ディスクに記録したサーボトラックの1周分のサーボ波形をピークホールド回路に入力し、その結果を数百回サンプリングして評価する。たとえば、特定のサーボトラックで所要の情報を記録した際の出力レベルのピーク値が、100mVのデータ数が5、50mVのデータ数が1、25mVのデータ数が1とすると、これらを平均して当該サーボトラックでの出力レベルの平均値は約82mVとなる。この平均値がヘッドの良否を判定する基礎データとなるものである。なお、ピークホールド回路は実際はピーク値を具体的な値として検知するものではなく、1周分のサーボ波形のピーク値を平均化するだけの作用を有するものである。
【0005】
図5が、サーボトラックライターのヘッドの良否を判定するフロー図で、ステップS10が、各サーボトラックごとに1周分の出力レベルの平均値を検知するステップ、S11が、ヘッドの平均値が基準値以下となったサーボトラックが全体として所定の規格を満足しているか否かを判定するステップである。ステップS11でサンプリング結果が一定の規格を満足していないとされると、ステップS12でそのヘッドは不良品として使用不可とされ、サンプリング結果が一定の規格を満足している場合はステップS13でそのヘッドは使用可とされる。こうして使用不可と判定されたヘッドについては、新しいヘッドに交換されることになる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
サーボトラックライターのヘッドの良否を判定する場合、従来は、上述したようにヘッドの出力レベルを平均化して良否を判定している。したがって、ヘッドの出力レベルが全体として低下し、全体として特性が低下したヘッドについては不良ヘッドとして検出することができるのであるが、稀に異常な記録を行うヘッドの場合で、平均値によって比較した場合には一定の出力レベルを維持しているようなものは、不良ヘッドとして検出されないという問題がある。
【0007】
一般的に、電気特性が劣化しはじめたヘッドでは、従来のようなヘッドの出力レベルを平均化して特性を判定する方法では不良として検出されないが、稀に異常はサーボトラック情報を記録してしまうことがあり、そのような場合であっても従来は特性不良と判定されずに、そのまま使い続けられることによって、後工程で評価試験された際に、磁気ディスクが不良と判定され、磁気ディスク装置の製造歩留まりを低下させるという課題があった。
【0008】
そこで、本発明はこれらの課題を解決すべくなされたものであり、その目的とするところは、サーボトラックライターで使用しているヘッドが稀に異常記録を起こすような場合に、そのようなヘッドの状態を事前に検知し、不良発生があった場合には確実に不良として排除できるようにし、磁気ディスク装置の製造歩留まりを向上させることができるサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法を提供するにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、磁気ディスクにサーボトラックを記録するサーボトラックライターのヘッドの電気特性を評価するサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法において、前記サーボトラックライターに、前記ヘッドによって磁気ディスクに記録したサーボトラック情報の読み取り再現性を検知するVMM試験を行うためのリードチャンネルを搭載し、前記ヘッドにより磁気ディスクにサーボトラック情報を記録する際に、併せてVMM試験を行い、サーボトラック情報の読み取り再現性のエラー発生率が一定の閾値を超えたか否かによってヘッドの良否を判定することを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態について添付図面と共に詳細に説明する。
図1は本発明に係るサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法にもとづいてサーボトラックライターのヘッドの品質を評価する方法を示すフロー図である。
本発明に係るサーボトラックライター用ヘッドを評価する方法は、ヘッドの出力レベルを平均化して評価するのではなく、磁気ディスクにサーボトラック情報を記録する際に、併せて、磁気ディスクに記録したデータの読み取り再現性を検知することによってヘッドの品質の良否を判定する方法である。
【0011】
磁気ディスクに記録したデータを正確に再現して読めるか否かを検知して磁気ディスクの良否を試験する方法はVMM試験と呼ばれている。図2はVMM試験での評価例を示すもので、この試験では、あるデータ長を読んで評価誤差があらかじめ設定した閾値を超えるか否かでErrorか否かを判定する。サーボトラックライターではヘッドでサーボトラック情報を記録するから、その記録データは装置側で記憶している。したがって、その記録データが正しく再現されるか否かを検知することによってErrorか否かを判定することができる。
【0012】
図2は、データを読みとった際に正しく再現できたか否かを判定した例を示す。図中で、OKと記載した部分が正しく再現できたデータ部分、Errorと記載した部分が正しく再現できなかったデータ部分である。データ数が7のうちOKとなったデータ数が5、Errorとなったデータ数が2である。したがって、この場合、Errorの割合は0.29になる。実際の評価試験では、数百程度のサーボトラックについてサンプリングしてVMM試験を行い、各々のサーボトラックについてError数が閾値を超えたか否かを検知し、Error数が閾値を超えたサーボトラック数が一定数(一定割合以上)以上となった場合に、当該ヘッドを不良と判定する。
【0013】
図1で、ステップS1は、VMM試験によって当該サーボトラックにおけるデータの総数とそのうちErrorとなった数を検知するステップである。
ステップS2は、磁気ディスクにサーボトラック情報を記録した際に集積したすべてのサンプリングデータについて、Errorが閾値を超えたデータ数(Errorが閾値を超えたサーボトラック数)がサンプリングデータの総数で占める割合を検出して、Errorが閾値を超えたデータが所定の割合の範囲内にあるか否かを判定するステップである。
そして、ステップS2でErrorのデータ数が規格範囲外であると判断されると、ステップS3で当該ヘッドは不良品として使用不可とされ、ステップS2でErrorのデータ数が規格範囲内であると判断されると、ステップS4で当該ヘッドが良品として使用可とされる。
【0014】
このように、本実施形態のサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法によれば、ヘッドによって実際に磁気ディスクに記録したデータが正しく再現されるか否かに基づいてヘッドの良否を判定するから、製品そのものの特性を反映した評価を行うことが可能となる。すなわち、ヘッドの出力レベルを平均化する方法では、稀に異常記録を起こすようなヘッドを検出することができないのに対して、本発明方法によれば、いわば半不良状態のヘッドであっても確実に検出することが可能になり、磁気ディスク製品の歩留まりを確実に向上させることが可能になる。
【0015】
なお、実際にサーボトラックライターのヘッドの良否を判定する場合は、本発明方法によるVMM試験を利用してヘッドの品質を評価する方法と、従来の出力データのピーク値を平均化した値からヘッドの良否を評価する方法を併用して行うのがよい。
図3は、このようなサーボトラックライター用ヘッドの良否を判定する回路ブロック図を示している。
同図で、10はサーボトラックライター用のヘッドであり、ライト部とリード部とが設けられている。12はプリアンプであり、14はヘッド評価用の従来の回路基板部、16は本発明方法によってヘッドを評価するVMM試験用の回路基板部、18は制御部である。
【0016】
回路基板部14には、サーボトラック情報を記憶するジェネレータ14aと、リード・ライトコントローラ14bと、セレクタ14cが搭載されている。VMM試験用の回路基板部16は、従来のサーボトラックライターに取り付けられた回路基板部14に追加して取り付けたもので、リードチャンネル16aを搭載している。リードチャンネル16aはライトデータとリードデータをコントロールするためのものである。
制御部18は回路基板部14に搭載されている従来のジェネレータ14aとリード・ライトコントローラ14bとを制御して、ヘッド10の出力データのピーク値を検出し、ピーク値を平均化して図5に示す従来の良否判定と、回路基板部16に搭載されているリードチャンネル16aを制御して本発明に係るVMM試験を切り換えて行う。
【0017】
こうして、図3に示す回路ブロック構成によれば、従来のサーボトラックライターでヘッドの出力レベルのピーク値を平均化してヘッドの電気特性を検知する試験と、ヘッドの書き込みエラーを検知するVMM試験を併用して行うことができる。そして、従来の評価試験とともにVMM試験を行うことによって、従来方法では検出することができない、稀に記録エラーが生じるようなヘッドについても評価することが可能となり、電気特性が劣化しはじめたヘッドについても事前に検知して早期にこれらのヘッドを排除することが可能になる。これによって、磁気ディスクの不良発生を防止し、製品の歩留まりを向上させることが可能になる。
【0018】
【発明の効果】
本発明に係るサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法によれば、上述したように、従来のヘッドの評価方法によっては検出することが困難な、稀に異常記録を起こすようなヘッドであっても確実に検出することができ、半不良状態のヘッドを早期に検出して排除することができることから、磁気ディスク装置の製造歩留まりを効果的に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法によってサーボトラックライター用ヘッドの品質を評価する方法を示すフロー図である。
【図2】ヘッドの出力レベルと、Errorとなったデータ部分を示す説明図である。
【図3】サーボトラックライター用ヘッドの良否を判定する回路ブロック図である。
【図4】従来の評価方法を示す説明図である。
【図5】従来方法でサーボトラックライター用ヘッドの品質を評価する方法を示すフロー図である。
【符号の説明】
10 ヘッド
12 プリアンプ
14 回路基板部
14a ジェネレータ
14b リード・ライトコントローラ
14c セレクタ
16 回路基板部
16a リードチャンネル
18 制御部

Claims (1)

  1. 磁気ディスクにサーボトラックを記録するサーボトラックライターのヘッドの電気特性を評価するサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法において、
    前記サーボトラックライターに、前記ヘッドによって磁気ディスクに記録したサーボトラック情報の読み取り再現性を検知するVMM試験を行うためのリードチャンネルを搭載し、
    前記ヘッドにより磁気ディスクにサーボトラック情報を記録する際に、併せてVMM試験を行い、サーボトラック情報の読み取り再現性のエラー発生率が一定の閾値を超えたか否かによってヘッドの良否を判定することを特徴とするサーボトラックライター用ヘッドの品質評価方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100458916C (zh) * 2006-12-08 2009-02-04 华中科技大学 一种磁盘伺服信息校验方法及其装置

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