JPH0877725A

JPH0877725A - 磁気ディスク装置

Info

Publication number: JPH0877725A
Application number: JP21469494A
Authority: JP
Inventors: Makoto Ishibashi; 真石橋; Takayuki Shiomi; 卓之塩見
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1994-09-08
Filing date: 1994-09-08
Publication date: 1996-03-22

Abstract

(57)【要約】【目的】欠陥領域を避けてサーボ領域を書き、安価で
高信頼性の磁気ディスク装置を提供することを目的とす
る。【構成】磁気ディスク１０２に磁気ディスク欠陥検出
装置用のヘッドにて、インデックス信号３５５を書き込
み、次に磁気ディスク１０２に基準クロック信号３５４
を書き込む。基準クロックには、インデックス信号検出
用の特異パターンが含まれている。この磁気ディスク欠
陥検出用装置にて、インデックス信号３５５を基準と
し、欠陥位置を検出する。検出されたデータと、基準ク
ロック信号３５４上のインデックス信号３５５を用いて
サーボパターン書き込み時の最適ディレイ量ｄを計算す
る。先に計算した最適ディレイ量ｄを考慮し、サーボパ
ターン書込装置にて磁気ディスク１０２上の媒体欠陥３
５７を避けて、最適なサーボパターンを書き込み、磁気
ディスク装置を完成させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、磁気ディスク欠陥検出装置は、磁
気ディスク上のヘッド、ディスク間にて必要な出力、分
解能、オーバライト等の項目を測定し、特に磁気ディス
ク装置の信頼性にかかわるディスク上の位置と、大きさ
の欠陥データを収拾していた。

【０００３】ここで図１０は従来の磁気ディスク欠陥検
出装置の構成を示すブロック図であり、図１０におい
て、１０２は磁気ディスク、３０１は磁気ディスク欠陥
検出用ヘッド、３０３は磁気ディスク欠陥検出用フレキ
シャー、３０９はスピンドルモータ、３１１はクラン
パ、３６０は治具ベース、３６１は磁気ディスク欠陥検
出用アクチュエータ、３７０はホストコンピュータ、３
７１はデジタルオシロスコープ、３７２はスペクトラム
アナライザ、３７３はプリンタ、３７４はＣＲＴ、３８
０はモータ回転制御基板、３８１はヘッド位置決め制御
回路、３８２はプリ・アンプ、３８３は検査基板、３８
４はインデックス生成基板である。

【０００４】このような構成において、媒体欠陥データ
は検査基板３８３を介してホストコンピュータ３７０に
送られ、ＣＲＴ３７４に表示したりプリンタ３７３等の
出力装置に出力されていた。

【０００５】その後、磁気ディスク欠陥検出装置は、媒
体欠陥データのリストを出力し、その媒体欠陥データと
磁気ディスク１０２の規格・仕様とを比較し、磁気ディ
スク１０２の良品、不良品のみを判定していた。

【０００６】図１１は従来のサーボパターン書込装置の
構成を示すブロック図であり、図１１において、サーボ
パターン書込装置は完成テスト前に従来の磁気ディスク
装置を治具ベースに固定し、磁気ディスク装置のアーム
等にコーナーキューブ４０９等を取付後、クロック位置
決め制御回路４０１にて磁気ディスク１０２上の所定の
位置へ基準クロック書込用ヘッド４１０を半完成品であ
る磁気ディスク装置へ挿入していた。まず、従来のサー
ボパターン書込装置は、スピンドルモータ制御回路４０
４で制御された磁気ディスク装置のスピンドルモータ３
０９を駆動し、コーナーキューブ４０９から反射される
レーザー光をレーザー測長器４０８にて測定し、ホスト
コンピュータ２７０へ送る。ホストコンピュータ２７０
はボイスコイルモータ制御回路４０７を介して磁気ディ
スク装置のボイスコイルモータ４１１を駆動し、磁気デ
ィスク１０２上の所定の位置へ磁気ディスク欠陥検出用
ヘッド３０１を位置決めしていた。次に、従来のサーボ
パターン書込装置は、サーボパターンを書き込むための
基準となるクロックを基準クロック書込用ヘッド４１０
にて書き込み、磁気ディスク１０２上に所定の基準信号
が書かれているか、基準クロック書込用ヘッド４１０か
らの再生信号をもとにアンプ４０３で増幅し、クロック
読出し波形検査回路４０２にてチェックしていた。所定
の基準信号が書かれるとレーザー測長器４０８の値をも
とに、磁気ディスク１０２上の所定の位置からサーボパ
ターンを順次書き込むが、この時磁気ディスク１０２上
の所定の位置に所要のサーボパターンが書き込まれてい
るか磁気ディスク装置の磁気ディスク欠陥検出用ヘッド
３０１の出力をもとにアンプ４０５で増幅し、磁気ヘッ
ド検査基板４０６にて検査していた。

【０００７】最後に、全トラックのサーボパターンを書
き終えると、外部出力装置であるプリンタ２７３やＦＤ
Ｄ２７５等を用い、ＣＲＴ２７４に表示した検査結果を
出力していた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では下記の問題点を有していた。

【０００９】１）磁気ディスク装置の狭トラック化、高
記録密度化が進み、磁気ディスクの媒体欠陥が相対的に
増加してきた。

【００１０】更に、小型化・薄型化が進む近年、磁気デ
ィスク装置のセクタサーボ化が進んでおり、サーボ領域
が増加したことにより、磁気ディスク上のセクタサーボ
領域内に、媒体欠陥が発生する確立が増大してきてお
り、著しく磁気ディスク装置の信頼性の低下を招いてい
た。

【００１１】２）セクタサーボ領域内に媒体欠陥による
サーボ欠陥が多く発生すると、アクチュエータのシーク
時、或いは、フォローイング時、これらのサーボ欠陥の
ためにミス・シークの発生、或いは、位置決め精度の悪
化が発生し、磁気ディスク装置のスループットの低下を
招いていた。

【００１２】また、これらのサーボ欠陥を補うために
は、セクタサーボ領域を多く確保しなければならず、こ
のことがデータ領域の減少を招き、大容量を困難にして
いた。

【００１３】更に、磁気ディスクの回転数、及び磁気デ
ィスクへの書込を変化させない場合、サーボ領域の増大
は磁気ディスク１回転当たりに書き込めるサーボ領域の
数の減少を招くことになり、サンプリング周波数が低下
せざるを得なかった。

【００１４】しかしながら、サーボ領域を拡大し、かつ
サンプリング周波数を一定とするためには書き込み周波
数を上げざるを得なくなり、これでは更に媒体欠陥の発
生する確立が増大し、磁気ディスク装置の信頼性の低下
を招くことになっていた。

【００１５】すなわち、サーボ領域の増大はデータ領域
の減少を招き、磁気ディスク装置の大容量を制限するか
りではなく、サンプリング周波数の低下をも招き、ひい
ては磁気ディスク装置の重要な性能である高速アクセス
と高速スループットとを低下させていた。

【００１６】３）磁気ディスク欠陥検出装置において
は、磁気ディスク上の媒体欠陥の位置と大きさを検出
し、その媒体欠陥と規格仕様とを比較し、良品、不良品
の判定のみを行うため、トータルとしての磁気ディスク
装置組立時間（タクトタイム）が長くなり、磁気ディス
ク装置の低価格化が図れなかった。

【００１７】更に、サーボパターン書き込み時に、磁気
ディスク上に放射状に書かれたセクタサーボ領域におい
て、同一トラック上に連続して媒体欠陥が発生すると、
時間軸をずらして再びサーボパターン書込を行うか、或
いは再度磁気ディスクの再組立を行わなければならず、
このことがサーボパターン書き込みのタクトタイムを著
しく長くし、磁気ディスク装置の低価格化を制限してい
た。

【００１８】そこで本発明は従来のこのような問題点を
解決するもので、磁気ディスクに媒体欠陥があっても、
良好なサーボ信号が再生されるようにサーボパターンを
記録できる安価で高速アクセス可能な高信頼性磁気ディ
スク装置を提供すると共に、この磁気ディスク装置を実
現する磁気ディスク欠陥検出装置、及びサーボパターン
書込装置を提供することを目的としている。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク欠
陥検出装置は基準信号書込用のクロック用ヘッドと、磁
気ディスクの媒体欠陥を検出する欠陥検出ヘッドと、媒
体欠陥検出手段と、媒体欠陥記録手段とを有する磁気デ
ィスク欠陥検出装置であって、欠陥検出用ヘッドにて仮
インデックス信号を書き込み、仮インデックス信号を基
準としてクロック用ヘッドにてインデックス信号を書き
込み後、欠陥検出用ヘッドにて前記媒体欠陥を検出する
手段を媒体欠陥検出手段を行うことを特徴とする。

【００２０】

【作用】本発明の磁気ディスク装置は上記した構成のよ
うに、予め磁気ディスク単板で検査する工程にて媒体欠
陥の位置を検出し、この検出された媒体欠陥位置データ
に基づいて、サーボパターンの記録開始を計算にて求
め、この記録開始位置からサーボパターンを記録するこ
とにより、媒体欠陥がない位置にサーボパターンを記録
することが可能となり、磁気ディスクに媒体欠陥があっ
ても良好なサーボ信号が再生される磁気ディスク装置を
提供することができる。

【００２１】

【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。尚、本実施例中の全図面において、同一部品には
全て同一の番号が付されている。

【００２２】図２は本発明の一実施例における磁気ディ
スク欠陥検出装置の構成を示すブロック図である。

【００２３】磁気ディスク１０２の外周部には治具ベー
ス３６０の上にクロック治具ベース３６２が取り付けら
れており、クロック用ヘッド３５１はジンバル（図示し
ていない）を介してクロックヘッドフレキシャー３５３
に支持固定されている。磁気ディスク１０２は、クラン
パ３１１にてスピンドルモータ３０９に支持固定されて
おり、スピンドルモータ３０９は、モータ回転制御基板
３８０にて制御される。

【００２４】クロック用ヘッド３５１が基準クロックを
書くために、クロック用ヘッド３５１はクロックヘッド
位置決め制御回路（図示していない）にて所定の位置ま
で駆動された後、磁気ディスク欠陥検出用フレキシャー
３０３に支持された磁気ディスク欠陥検出用ヘッド３０
１は、磁気ディスク１０２上に１回転に短期間１回の磁
化反転を行い、仮のインデックス信号を書き込む。磁気
ディスク欠陥検出用ヘッド３０１から再生された仮イン
デックス信号を基準として、クロック用ヘッド３５１は
磁気ディスク１０２上に媒体欠陥検出用の基準クロック
信号と、インデックス信号検出用の特殊パターン（ＤＣ
−イレーズ）等を同時にクロック記録領域（図示してい
ない）に書き込む。一方、磁気ディスク１０２に記録さ
れた基準クロックデータはクロック用ヘッド３５１にて
再生される。クロック用ヘッド３５１は、媒体欠陥検出
用の基準クロックをクロック記録領域に記録すると共
に、クロック記録領域に記録されている基準クロック用
データを再生する。再生された基準クロック用データ
は、クロックヘッドプリ・アンプ３９２にて増幅された
後、インデックス生成基板３９４と検査基板３９３へ入
力される。インデックス生成基板３９４は、入力された
データに基づいて基準位置を検出し、その位置データを
ホストコンピュータ３７０へ出力する。

【００２５】検査基板３９３は、先に磁気ディスク１０
２上に書き込まれた基準クロック信号が所定のものであ
るかを判定する。所定のクロック信号が書かれるまで、
基準クロック信号は再書き込みが行われ、所定のクロッ
ク信号が書かれるとホストコンピュータ３７０は、イン
デックス信号を取り込み始める。ホストコンピュータ３
７０は、このインデックス信号を磁気ディスク１０２の
回転数を検査する信号として利用すると共に、後工程の
媒体欠陥データ検査開始位置用信号として利用する。

【００２６】磁気ディスク欠陥検出用アクチュエータ３
６１は、ヘッド位置決め制御回路３８１にて、磁気ディ
スク欠陥検出用ヘッド３０１を磁気ディスク１０２上の
所定の位置まで駆動し、磁気ディスク欠陥検出用ヘッド
３０１は、検査基板３８３を用いて媒体欠陥を検出す
る。より具体的には、ＤＣ−イレーズによるエキストラ
パルスの検出、及び媒体欠陥検出用信号書き込みによる
ミッシングパルスの検出等が行われ、これらの媒体欠陥
データは、ホストコンピュータ３７０に送られる。

【００２７】インデックス生成基板３９４より得られる
インデックス信号と同期させて、磁気ディスク欠陥検出
装置は、磁気ディスク１０２の媒体欠陥検出を始める
が、この時、磁気ディスク欠陥検出用ヘッド３０１のプ
リ・アンプ３８２で増幅され検査基板３８３にてホスト
コンピュータ３７０へ送られるデータは、エキストラパ
ルスのミッシングパルス等の媒体欠陥データである。

【００２８】最後に、ホストコンピュータ３７０は、媒
体欠陥の位置を示すこの位置データを格納する。より具
体的にはホストコンピュータ３７０は、これらのデータ
をＦＤＤ３７５に記録する。

【００２９】また、磁気ディスク１０２の媒体欠陥を確
認するためのデジタルオシロスコープ３７１、磁気ディ
スク１０２のオーバーライト特性を行うためのスペクト
ラムアナライザ３７２等が磁気ディスク欠陥検出装置に
具備されている。また、磁気ディスク欠陥検出装置は、
確認された媒体欠陥位置はＦＤＤ３７５に入力（記録）
されるか、プリンタ３７３、ＣＲＴ３７４等に出力可能
な構成となっている。

【００３０】更なる本発明の磁気ディスク欠陥検出装置
の応用例として、データ領域とサーボ領域が既知である
磁気ディスク装置の磁気ディスク１０２を磁気ディスク
欠陥検出装置が検査する場合、検査結果である媒体欠陥
データから次のサーボパターン書込工程に必要となる最
適ディレイ量をホストコンピュータ３７０にて予め計算
し、最適ディレイ量を磁気ディスク１０２の番号と対応
するようにＦＤＤ３７５等にてフロッピーディスクに記
録しておく。次に、磁気ディスク１０２を磁気ディスク
装置に組み込み、先に計算した最適ディレイ量を考慮
し、サーボパターン書込装置にてサーボパターンを書き
込むことにより、磁気ディスク装置のタクトタイムが大
幅に減少されることになる。即ち、詳しくは後述する
が、本発明の磁気ディスク欠陥検出装置を用いて、検査
された磁気ディスク１０２を本発明に組み込むことによ
り、磁気ディスク装置の大幅なコストダウンと大幅な信
頼性向上が可能となる。

【００３１】図３は本発明の一実施例における磁気ディ
スク欠陥検出装置の媒体欠陥データのフォーマット例を
示す図である。

【００３２】本フォーマット例では、１つの媒体欠陥デ
ータを１６バイトで表している。ヘッダ５０１は、欠陥
数を表す整理番号で１バイトの記憶容量、シリンダ５０
２は、媒体欠陥の発生した位置を示す３バイト、ヘッド
５０３は、磁気ディスク１０２の裏表を表す１バイト、
バイトフロムインデックス５０４は、インデックス信号
からの媒体欠陥の発生した距離を示す４バイト、バイト
欠陥長さ５０５は、発生した欠陥の長さを示す２バイ
ト、欠陥種類５０６は、発生した媒体欠陥がミッシング
パルスかエキストラパルスか等を示す１バイト、最後に
予備５０７は未使用のデータを示す４バイトである。即
ちインデックス信号を起点として、磁気ディスク１０２
上のどの位置に、どれくらいの大きさの媒体欠陥が存在
するのかを示すデータが、この媒体欠陥データのフォー
マットに示されている。これらの媒体欠陥データは、磁
気ディスク欠陥検出装置の最終工程において、検査する
磁気ディスク１０２の規格仕様と比較され、不良品ある
いは良品の判定に使用される。検査された磁気ディスク
１０２上の媒体欠陥の個数は、ヘッダ５０１で示される
ことになり、媒体欠陥の大きさは、バイト欠陥長さ５０
５で示されることになる。

【００３３】図４も本発明の一実施例における磁気ディ
スク欠陥検出装置の媒体欠陥データのフォーマット例を
示す図である。

【００３４】先に図３に示したフォーマット例との違い
は、予備５０７の未使用のデータ４バイトの部分に、最
適ディレイ量６０７を付加させている点である。図４に
は、１回転を１０進法では２９４４０ｄバイト、１６進
法では７３００ｈバイトに分割したフォーマット例が示
されており、具体的な数値が記載されている。

【００３５】例えば、媒体欠陥の発生した位置がシリン
ダ６０２において、１２０ｄバイト（１６進法では７８
ｈバイト）の位置に媒体欠陥が存在し、ヘッド６０３で
は、１ｄバイト（１６進法においては１ｈバイト）で媒
体欠陥のある位置が磁気ディスク１０２の裏面であるこ
とを示し、バイトフロムインデックス６０４においてイ
ンデックス信号から媒体欠陥の発生した距離が２１５３
５ｄバイト（１６進法では５４１Ｆｈバイト）に存在し
ていることを示し、その時のバイト欠陥長さ６０５が２
ｄバイト（１６進法において２ｈバイト）であったこと
を図４のフォーマット例は示している。更に、磁気ディ
スク欠陥検出装置にて検査される磁気ディスク１０２
が、データ領域、サーボ領域が既知である場合のみ、最
適ディレイ量６０７は磁気ディスク欠陥検出装置のホス
トコンピュータ３７０にて計算され、フォーマットに付
加される。後工程であるサーボ領域をサーボパターン書
き込む工程において、媒体欠陥領域を避け、サーボパタ
ーンを書き込むために、この最適ディレイ量６０７は、
基準のインデックス信号から、４２７ｄバイト（１６進
法では１ＡＢｈバイト）オフセットした位置から、最初
のサーボパターンを書き込み始めれば良いことを示して
いる。検出された媒体欠陥位置データに基づいて、サー
ボパターンの記録開始を最適ディレイ量６０７分だけズ
ラして、サーボパターンを記録開始することにより、媒
体欠陥がない位置にサーボパターンを記録することが可
能となり、磁気ディスク１０２に媒体欠陥があっても良
好なサーボ信号が再生される。例えば、磁気ディスク欠
陥検出装置から、後述するサーボパターン書込装置へ磁
気ディスク１０２の組み込みが行われたとしても、イン
デックス信号からの媒体欠陥位置までの時間的ズレ量は
変化しない。このズレ量は、磁気ディスク欠陥検出装置
からサーボパターン書込装置へ磁気ディスク１０２組み
込み時、例え偏心量が付加されたとしても変化しない。
このように、磁気ディスク欠陥検出装置は、磁気ディス
ク１０２上の媒体欠陥の位置と大きさを検出し、最適デ
ィレイ量６０７の計算を行い、サーボパターン書込装置
は、その媒体欠陥を避けてサーボパターンを書き込ませ
るため、トータルとしての磁気ディスク装置のタクトタ
イムが短くなる。また、サーボパターン書き込み時に、
磁気ディスク１０２上に放射状に書かれたセクタサーボ
領域において、同一トラック上に連続して媒体欠陥が発
生していた場合、即座にこの磁気ディスク１０２が、不
良磁気ディスクであることが判定できる。即ち従来磁気
ディスク装置に、この不良磁気ディスクを組み込み、更
にサーボパターン書込装置にてサーボパターンを書き込
み中に、初めてこの磁気ディスク１０２が不良であると
判定されることはなくなる。従って、磁気ディスク装置
のタクトタイムが著しく短くなり、磁気ディスク装置の
大幅なコストダウンと大幅な信頼性向上という効果が、
本発明のフォーマットを用いることによって得られる。

【００３６】図３から図４まで述べたフォーマット例に
おいて、検査された磁気ディスク１０２のすべての媒体
欠陥の位置、大きさ、あるいは媒体欠陥の個数等、この
磁気ディスク１０２の媒体欠陥状況を表す必要最少限の
情報量を、１６バイト長にて説明したが、これらのフォ
ーマット例が、媒体欠陥データのフォーマットのバイト
長を規制するものではないことを明記しておく。

【００３７】例えば、媒体欠陥の発生した位置をシリン
ダ６０２において、２バイトの領域を確保し、バイトフ
ロムインデックス６０４においてもインデックス信号か
らの距離に２バイトの記憶領域を確保し、最適ディレイ
量６０７においても、２バイトの記憶領域を確保し、発
生したバイト欠陥長さ６０５は、１バイトの記憶領域を
確保する。

【００３８】更に、ヘッダ６０１は欠陥数を表す整理番
号で６ビットの記憶容量を確保し、磁気ディスク１０２
の表面、裏面を表すヘッド６０３は１ビット、また、発
生した媒体欠陥がミッシングパルスかエキストラパルス
かを示す欠陥種類６０６においても、１ビットの領域を
確保すれば良い。即ち、前述の実施例では、１つの媒体
欠陥データに１６バイトの記憶容量を割り当てていた
が、１つの媒体欠陥データを８バイトの記憶容量とする
ことも可能である。

【００３９】更に、図３から図４までに述べたフォーマ
ット例では説明が容易なようにシリンダ、ヘッド、バイ
トフロムインデックス等を各々バイト単位で示している
が、これらをビット単位で表記することにより、媒体欠
陥のデータの記憶容量はより減少可能である。あるい
は、１っのシリンダをセクタ単位で管理し、セクタとロ
ケーションで表記しても媒体欠陥のデータの記憶容量は
減少可能であり、本発明の効果が失われることはない。

【００４０】図５は本発明の一実施例におけるサーボパ
ターン書込装置の構成を示すブロック図である。治具ベ
ース２６０には、磁気ディスク装置のベース１１０を介
して取り付けられており、基準クロック書込用ヘッド２
５１はジンバル（図示していない）を介してクロックヘ
ッドフレキシャー２５３に支持固定されており、クロッ
クヘッドフレキシャー２５３は、クロック駆動治具ベー
ス２６２に支持固定されている。磁気ディスク１０２
は、クランパ１１１にてスピンドルモータ１０９に支持
固定されており、スピンドルモータ１０９は、モータ回
転制御基板２８０にて制御される。磁気ヘッド１０１
は、フレキシャー１０３に支持固定されており、磁気ヘ
ッド１０１は、ピボット軸１２３を介してヘッド位置決
め制御回路２８１にて制御される。基準クロック書込用
ヘッド２５１は基準ヘッド位置決め制御回路２９５に
て、先に磁気ディスク欠陥検出装置にて書かれたクロッ
ク記録領域の位置まで駆動され、サーボパターン書き込
みのために、クロック記録領域に記録されている基準ク
ロック用データを再生する。再生された基準クロック用
データは、クロックヘッドプリ・アンプ２９２にて増幅
された後、インデックス生成基板２９４とクロック検査
基板２９３へ入力される。インデックス生成基板２９４
は、入力されたデータに基づいて基準位置を検出し、ク
ロック検査基板２９３は、入力されたデータに基づいて
周波数を検査して、その検査結果をホストコンピュータ
２７０へ出力する。

【００４１】このインデックス信号は磁気ディスク１０
２の回転数を検査する信号として利用されると共に、サ
ーボパターン検査開始位置用信号として利用される。

【００４２】また、クロック検査基板２９３は、先に磁
気ディスク１０２上に書き込まれた基準クロック信号を
ホストコンピュータ２７０に送り、この信号を基準にホ
ストコンピュータ２７０は磁気ヘッド１０１にて、サー
ボパターンを磁気ディスク１０２上へ書き込む。

【００４３】インデックス生成基板２９４より得られる
インデックス信号と同期させて、サーボパターン書込装
置は、磁気ディスク１０２上にサーボパターンを書く
が、この時、所定のサーボパターンが書かれているかを
プリ・アンプ２８２で増幅して検査基板２８３にてサー
ボパターンを検査するが、所定のサーボパターンが書か
れていない場合サーボパターンの媒体欠陥情報はホスト
コンピュータ２７０へ送られる。

【００４４】最後に、ホストコンピュータ２７０は、サ
ーボパターンの媒体欠陥の位置を示すこの媒体欠陥位置
データを格納する。より具体的にはホストコンピュータ
２７０は、これらのデータをＦＤＤ２７５に記録する。

【００４５】また、磁気ディスク１０２のサーボパター
ンの媒体欠陥データを確認するためのデジタルオシロス
コープ２７１がサーボパターン書込装置に具備されてい
る。また、本発明のサーボパターン書込装置において、
確認されたサーボパターン媒体欠陥位置はＦＤＤ２７５
にてフロッピーディスクに記録されるか、プリンタ２７
３、ＣＲＴ２７４等に出力可能な構成となっている。

【００４６】次に、本発明の一実施例におけるサーボパ
ターン書込装置の詳細動作について図６〜図７のフロー
チャートを用いて図５と合わせて説明する。図６〜図７
は、本発明のサーボパターン書込装置の第１の動作例を
示すフローチャートである。図６〜図７の動作例では、
サーボパターン書込装置にてサーボパターンを書き込む
磁気ディスク装置のサーボ領域、データ領域、及びトラ
ック幅、基準クロック周波数等が既知でない場合のサー
ボパターンの書き込み方法を示している。

【００４７】まず、基準ヘッド位置決め制御回路２９５
にて基準クロック書込用ヘッド２５１は駆動され、先に
磁気ディスク欠陥検出装置にて書き込まれたクロック領
域を、基準クロック書込用ヘッド２５１が検出する（ス
テップ１）。クロック領域が検出できなければ、その磁
気ディスク１０２は不良品であることがわかる（ステッ
プ１６）。一方、先に磁気ディスク欠陥検出装置で書き
込まれたクロック領域の出力信号を基準クロック書込用
ヘッド２５１が検出すると、先に書き込まれたクロック
領域の出力信号からインデックス信号を検出し、このイ
ンデックス信号を基準としてサーボパターン書込装置
は、仮のインデックスを磁気ヘッド１０１にて磁気ディ
スク１０２上に書き入れ、基準クロック書込用ヘッド２
５１は、再度クロック領域に基準クロックを書き込む。
これは、先に、磁気ディスク欠陥検出装置にて用いられ
た基準クロックの周波数、あるいは図２に示した磁気デ
ィスク欠陥検出用ヘッド３０１のトラック幅等が異なる
ためである（ステップ２）。書き込まれた基準クロック
信号は、クロック検査基板２９３にて出力検査される
（ステップ３）。ステップ３で出力検査を行った結果、
出力不足等の不良内容を発生した場合、基準クロック書
込用ヘッド２５１は再度基準クロックの書き込みを行う
（ステップ４）。ステップ３で再度出力検査を行った結
果が、出力不足であれば磁気ディスク１０２、あるいは
基準書込用ヘッド２５１に傷等が発生したことを示して
おり、その磁気ディスク１０２、あるいは基準クロック
書込用ヘッド２５１は不良品であることがわかる（ステ
ップ１６）。インデックス生成基板２９４は磁気ディス
ク１０２のクロック領域から、基準インデックスをホス
トコンピュータ２７０へ出力する（ステップ５）。サー
ボパターン書込装置は、磁気ヘッド１０１、及び磁気デ
ィスク１０２の検査を行う（ステップ６）。検査を行っ
た結果が、不良であれば、その磁気ヘッド１０１、ある
いは磁気ディスク１０２は不良品であることがわかる
（ステップ１６）。図２で前述した磁気ディスク欠陥検
出装置にて検出した媒体欠陥データを読み込み（ステッ
プ７）、サーボパターン書込装置のホストコンピュータ
２７０が磁気ディスク装置に適合した最適ディレイ量の
計算を行い（ステップ８）、この計算結果である最適デ
ィレイ量をホストコンピュータ２７０に読み込ませる。
磁気ディスク装置の磁気ヘッド１０１は、ピボット軸１
２３を介してヘッド位置決め制御回路２８１にて駆動さ
れる。サーボパターン書込装置のホストコンピュータ２
７０は、磁気ディスク１０２上の所定の位置に磁気ヘッ
ド１０１を駆動し、インデックス生成基板２９４から出
力される基準インデックス信号に、ステップ８で求めた
最適ディレイ量を加味して、サーボパターンを書き込む
（ステップ９）。所要のサーボパターンが書き込まれて
いるか、サーボパターンの読出しベリファイを行う（ス
テップ１０）。サーボパターンの読出しベリファイの
際、ベリファイトラックがラストトラックであるのか確
認する（ステップ１３）。適切なサーボパターンが書き
込まれていない場合は、再度サーボパターンを同一トラ
ック上に書き込み（ステップ１１）、再度同一トラック
にてサーボパターンの読出しベリファイを行う（ステッ
プ１２）。再度サーボパターンの読出しベリファイの結
果、媒体欠陥が発生した場合は、その磁気ディスク１０
２は不良品であることがわかる（ステップ１６）。再度
サーボパターンの読出しベリファイの結果、媒体欠陥が
発生しない場合は、ラストトラックであるのか確認する
（ステップ１３）。ラストトラックではない場合は、次
のトラックに磁気ヘッド１０１を駆動し（ステップ１
４）、更にステップ９に戻りサーボパターンの書き込み
からベリファイまでの作業をラストトラックまで繰り返
す。全トラックにサーボパターンの書き込みが終了する
と、磁気ヘッド１０１は、ヘッド位置決め制御回路２８
１にて駆動制御され、シークベリファイを行う（ステッ
プ１５）。シークベリファイにて、シーク動作に異常が
ある場合、その磁気ディスク装置が不良品であることが
わかる（ステップ１６）。シーク動作に異常がない場合
は、サーボパターン書込工程は全てが終了する。

【００４８】このように、磁気ディスク欠陥検出装置の
媒体欠陥データを利用し、サーボパターン書込工程にて
最適ディレイ量を計算し、サーボパターンを書き込み始
めるという手順を行うことにより、先に検査した磁気デ
ィスク１０２の媒体欠陥データをサーボパターン書込工
程にて、有効活用するばかりでなく、磁気ディスク装置
のタクトタイムが大幅に向上可能となる。

【００４９】尚、図６〜図７中ステップ４、及びステッ
プ１２では、１度だけのリトライを各々行っているが、
サーボパターン書込装置の媒体欠陥検出工程と照らし合
わせてリトライの回数を何回に設定しても、本発明の効
果が失われることはない。即ち、サーボパターン書込装
置における媒体欠陥検出の確立が高く、１回だけのリト
ライで必ず媒体欠陥を検出できる場合、リトライの回数
を０回と設定することが可能である。（設定値は０回で
あるが、実際のリトライは１回）逆に、サーボパターン
書込装置の作業環境が悪く、回りの静電ノイズ、あるい
は電磁ノイズを拾いサーボパターン書込装置における媒
体欠陥検出の確立が低い場合、リトライの回数を３回等
に設定することも可能である。

【００５０】図８〜図９は本発明のサーボパターン書込
装置の第２の動作例を示すフローチャートである。

【００５１】まず、サーボパターン書込装置は、磁気ヘ
ッド１０１、磁気ディスク１０２の検査を行う（ステッ
プ２１）。検査を行った結果が、不良であれば、その磁
気ヘッド１０１、あるいは磁気ディスク１０２は不良品
であることがわかる（ステップ３２）。基準ヘッド位置
決め制御回路２９５にて基準クロック書込用ヘッド２５
１は駆動され、先に磁気ディスク欠陥検出装置にて書き
込まれたクロック領域を、基準クロック書込用ヘッド２
５１が検出する（ステップ２２）。クロック領域が検出
できなければ、その磁気ディスク１０２は不良品である
ことがわかる（ステップ３２）。一方、先に磁気ディス
ク欠陥検出装置で書き込まれたクロック領域の出力信号
を基準クロック書込用ヘッド２５１がクロック領域を検
出すると、インデックス生成基板２９４は、磁気ディス
ク１０２のクロック領域から、基準インデックスをホス
トコンピュータ２７０へ出力する（ステップ２３）。磁
気ディスク欠陥検出装置にて検出した媒体欠陥データと
共に、磁気ディスク装置に適合した最適ディレイ量が磁
気ディスク１０２に対応し、ＦＤＤ２７５から、サーボ
パターン書込装置のホストコンピュータ２７０に読み込
まれる（ステップ２４）。磁気ディスク装置の磁気ヘッ
ド１０１は、ヘッド位置決め制御回路２８１にて駆動さ
れる。サーボパターン書込装置のホストコンピュータ２
７０は、磁気ディスク１０２上の所定の位置に磁気ヘッ
ド１０１を駆動し、インデックス生成基板２９４から出
力される基準インデックス信号に、ステップ４で読み込
んだ最適ディレイ量を加味して、サーボパターンを書き
込む（ステップ２５）。所要のサーボパターンが書き込
まれているか、サーボパターンの読出しベリファイを行
う（ステップ２６）。サーボパターン読出しベリファイ
の際、ベリファイトラックがラストトラックであるのか
確認する（ステップ２９）。適切なサーボパターンが書
き込まれていない場合は、再度サーボパターンを同一ト
ラック上に書き込み（ステップ２７）、再度同一トラッ
クにてサーボパターンの読出しベリファイを行う（ステ
ップ２８）。再度サーボパターンの読出しベリファイの
結果、媒体欠陥が発生した場合は、その磁気ディスク１
０２は不良品であることがわかる（ステップ３２）。再
度サーボパターンの読出しベリファイの結果、媒体欠陥
が発生しない場合は、ラストトラックであるのか確認す
る（ステップ２９）。ラストトラックではない場合は、
次のトラックに磁気ヘッド１０１を駆動し（ステップ３
０）、更にステップ２５に戻りサーボパターンの書き込
みからベリファイまでの作業をラストトラックまで繰り
返す。全トラックにサーボパターンの書き込みが終了す
ると、磁気ヘッド１０１は、ホストコンピュータ２７０
によって駆動され、シークベリファイを行う（ステップ
３１）。シークベリファイにて、シーク動作に異常があ
る場合は、その磁気ディスク１０２は不良品であること
がわかる（ステップ３２）。シーク動作に異常がない場
合は、サーボパターン書込工程は終了する。

【００５２】前述の図６〜図７のフローチャートに示す
第１の動作例においては、磁気ディスク欠陥検出装置の
媒体欠陥データを読み込み、その媒体欠陥データから最
適ディレイ量を計算し、サーボパターンを書き込み始め
るという手順であったが、図８〜図９のフローチャート
に示す第２の動作例では、媒体欠陥データとすでに磁気
ディスク欠陥検出工程にて計算された最適ディレイ量を
読み込ませ、サーボパターンを書き込み始めるという手
順をとっている。このように、磁気ディスク装置のサー
ボ領域とデータ領域が既知の場合、磁気ディスク１０２
の媒体欠陥データとサーボパターン書込装置との正合性
を高くすることが可能となるため、磁気ディスク欠陥検
出装置での検査項目すべてが、サーボパターン書込装置
に反映されることになる。即ち、磁気ディスク装置のタ
クトタイムを大幅に削減することが可能となり、ひいて
は磁気ディスク装置の大幅なコストダウンが実現可能と
なる。また、磁気ディスク欠陥検出装置のクロック用ヘ
ッド３５１のトラック幅を、サーボパターン書込装置の
基準クロック書込用ヘッド２５１のトラック幅よりも大
きくすることにより、図６〜図９に示す動作例における
クロック領域検出工程が、より容易になるのは言うまで
もない。更に、図２における磁気ディスク欠陥検出用ヘ
ッド３０１と図５における磁気ヘッド１０１は、同一仕
様の磁気ヘッドであれば、より磁気ディスク欠陥検出装
置のデータは、サーボパターン書込装置に反映される。
加えて磁気ディスク欠陥検出用ヘッド３０１の移動軌跡
が、磁気ディスク装置の磁気ヘッド１０１の移動軌跡と
同一であれば、より媒体欠陥データの正合性が向上する
のは言うまでもない。現在磁気ディスク１０２と、スピ
ンドルモータ１０９とのはめ合い公差は、直径で最大８
０μｍが主流である。内訳は、磁気ディスク１０２の公
差が最大２０μｍ、スピンドルモータ１０９のハブの公
差が最大２０μｍ、はめ合いが４０μｍである。従っ
て、半径方向の磁気ディスク１０２のズレ量は、最大±
４０μｍ程度となる。ここで、図２中磁気ディスク欠陥
検出装置のクロック用ヘッド３５１のトラック幅を１０
０μｍ程度とし、図５中サーボパターン書込装置の基準
クロック書込用ヘッド２５１のトラック幅を４０μｍ程
度とすると、サーボパターン書込装置の基準クロック書
込用ヘッド２５１は、いかなる場合でも、クロック信号
を検出可能となる。この時、磁気ディスク装置の磁気ヘ
ッド１０１のトラック幅を１０μｍ程度とすると、磁気
ディスク組み替えによるトラックのズレは、±４トラッ
ク程度となる。ここで、よりトラックズレを減少させる
ために、磁気ディスク１０２の内径の１点にマーキング
を施し、そのマークを目標にして、磁気ディスク内径を
スピンドルモータ１０９のハブに一方向から押圧する等
の方策を用いる。まず、磁気ディスク欠陥検出装置の磁
気ディスク組み込み工程において、磁気ディスク１０２
を組み込み、次にサーボパターンを磁気ディスク１０２
に書き込み、磁気ディスク１０２をスピンドルモータ１
０９のハブへ組み込む工程において、マークをすること
により、トラックのズレを小さくすることも可能とな
る。

【００５３】このように磁気ディスク内径の同一点をハ
ブに押し当てることにより、磁気ディスク組み替え工程
におけるトラックのズレ量は、はめ合いの項目が削除さ
れることになり、磁気ディスク内径の公差２０μｍとス
ピンドルモータ１０９のハブの公差２０μｍのみとな
り、直径で最大４０μｍのズレ量となる。半径方向で
は、±２０μｍとなりトラックのズレは、±２トラック
以内となる。但し、この±２トラックのズレ量は、磁気
ディスク組み立て工程における設計上の最悪値であるこ
とを明記しておく。

【００５４】なお、本実施例では媒体欠陥データや最適
ディレイ量のやりとりにＦＤＤ２７５を使用していた
が、ＦＤＤ２７５同様の媒体を用いても本発明の効果に
なんら支障をきたさないことを明記しておく。

【００５５】次に、媒体欠陥領域代替装置について説明
する（特に図示しない）。媒体欠陥領域代替装置は、磁
気ディスク上のデータ領域における媒体欠陥領域をユー
ザーが使用しないようにする装置である。媒体欠陥領域
代替装置は、磁気ディスク上のどの領域に媒体欠陥があ
るかは検査し、予め磁気ディスク上に用意された代替領
域と、検査された媒体欠陥領域とを代替し、ユーザーが
媒体欠陥領域を使用しないようにする設備装置である。
ここで、先に磁気ディスク欠陥検出装置の媒体欠陥デー
タを媒体欠陥領域代替装置にて読み込み、磁気ディスク
上の欠陥の位置をヘッド、シリンダ等の物理的な位置で
表記するプライマリーリストとして利用することによ
り、磁気ディスク装置製造工程で必要となる磁気ディス
ク欠陥検出装置が、簡易的な装置で良くなるか、あるい
は不要となる。即ち、磁気ディスク装置製造のための設
備投資が大幅に抑えられるため、ひいては磁気ディスク
装置の低価格化が可能となる。

【００５６】図１は本発明の一実施例における磁気ディ
スク装置の構成を示す主要平面図である。

【００５７】図１において、磁気ディスク１０２はスピ
ンドルモータ１０９にクランパ１１１を介して回転可能
に支持固定されており、磁気ヘッド１０１はジンバル
（図示はしていない）を介してフレキシャー１０３に支
持固定されており、更にフレキシャー１０３はピボット
軸１２３に支持固定されている。磁気ヘッド１０１の他
端には磁気ヘッド１０１を駆動するためのコイル１０５
がコイルホルダ１３０に支持固定されており、磁性ピン
（図示していない）はモールド部１２２にてコイル１０
５に支持固定されている。磁気ヘッド１０１、フレキシ
ャー１０３、コイルホルダ１３０、コイル１０５等から
なるアクチュエータはピボット軸１２３を回転軸の中心
として揺動可能となっており、アクチュエータの揺動範
囲はアクチュエータロック機構（図示していない）にて
制限されている。コイル１０５を駆動させる磁気回路は
上ヨーク１０６と上ヨーク１０６に接着固定された磁石
１０８と下ヨーク１０７と２個のスタッド１１３から成
り、スタッド１１３と下ヨーク１０７は固定ネジにてベ
ース１１０に固定されている。ベース１１０とカバーで
密封された環境内を常に清浄な状態に保つために循環フ
ィルタ１１９がベース１１０に固定されている。

【００５８】非動作時、アクチュエータはアクチュエー
タロック機構（図示していない）にて固定保持されてい
る。電源投入後、スピンドルモータ１０９が回転を始
め、磁気ディスク１０２が回転することにより、磁気ヘ
ッド１０１を磁気ディスク１０２に浮上させる。磁気デ
ィスク１０２上のサーボ領域３５６の信号を磁気ヘッド
１０１が読み出し、その磁気ヘッド１０１からの出力を
フレキシブル・プリンティッド・サーキット（以後はＦ
ＰＣと呼ぶ）１１８を通してプリンティッド・サーキッ
ト・ボード（図示はしていない：以後はＰＣＢと呼ぶ）
へ送る。所望の出力が磁気ヘッド１０１から得られる
と、コイル１０５に電圧が印加され、アクチュエータロ
ック機構（図示していない）から解放されたアクチュエ
ータは所望のトラックへ位置決めできるようになり、磁
気ディスク装置は使用可能となる。

【００５９】ここで、磁気ディスク欠陥検出装置のクロ
ック用ヘッド３５１にて書き込まれたクロック領域上に
は、基準クロック信号３５４やインデックス信号３５５
も残っているが、本発明の磁気ディスク装置において、
動作中、非動作中にかかわらず、このクロック領域上の
信号を、磁気ヘッド１０１は、検出しない構成としてい
る。サーボパターン書込装置にて書き込まれたサーボ領
域３５６は、インデックス信号３５５から最適ディレイ
量ｄ分オフセットして、磁気ディスク１０２上に書き込
まれている。このため、磁気ディスク１０２上の媒体欠
陥３５７は、サーボ領域３５６にかからないデータ領域
（特に図示はしない）に点在することになり、これら媒
体欠陥３５７の存在するセクタにユーザーは決してアク
セスしない構成となっている。より具体的には、媒体欠
陥３５７は媒体欠陥領域代替装置を用いて代替処理する
ことにより、不良セクタとして登録され、ユーザーは、
ユーザーのデータをここに記録したり、このデータを読
み出すことはない。

【００６０】このように、磁気ディスク欠陥検出装置に
て検出した媒体欠陥リストを利用して、サーボパターン
書込装置にてサーボパターンを書き込むことにより、従
来サーボ領域で多発していた媒体欠陥を皆無にし、高信
頼性、高スループットの磁気ディスク装置が可能となる
ばかりでなく、ますます磁気ディスクに対する高密度記
録に対応できる磁気ディスク装置が、実現可能となる。
更に連続するサーボ領域に発生する媒体欠陥による再組
立、あるいは特殊アルゴリズムの磁気ディスク装置への
付加が必要なくなり、磁気ディスク装置組立の総タイム
の大幅な短縮が可能となり、大幅な低価格化が可能とな
る。

【００６１】

【発明の効果】以上述べたように本発明の、磁気ディス
ク欠陥検出装置、サーボパターン書込装置、媒体欠陥領
域代替装置、及び磁気ディスク装置によれば磁気ディス
クに多数の媒体欠陥があっても、良好なサーボ信号が再
生できるようになるため、１）狭トラック化、高記録密度化、小型化、薄型化に対
応できる磁気ディスク装置が実現可能となる。

【００６２】２）セクタサーボ領域内における媒体欠陥
が皆無となるため、ミスシークの減少、及び位置決め精
度が向上し、磁気ディスク装置の信頼性が向上可能とな
る。

【００６３】更に、セクタサーボ領域を従来の磁気ディ
スク装置より少なくすることが可能となるため、サンプ
リング周波数を上げることができ、速度制御性、位置制
御性が向上し、磁気ディスクの高速アクセス、高スルー
プット化が可能となる。

【００６４】３）磁気ディスク欠陥検出装置において、
磁気ディスク上の媒体欠陥の位置と大きさを検出し、媒
体欠陥リストを作成し、この媒体欠陥リストを利用し、
磁気ディスク装置にサーボパターンを書き込むことによ
り、サーボパターン書込のタクトタイムを著しく短くす
ることが可能となり、磁気ディスク装置の大幅な低価格
化が可能となる。

【００６５】このように本発明の実用効果は極めて大き
い。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における磁気ディスク装置の
構成を示す主要平面図

【図２】本発明の一実施例における磁気ディスク欠陥検
出装置の構成を示すブロック図

【図３】本発明の一実施例における磁気ディスク欠陥検
出装置の媒体欠陥データのフォーマット例を示す図

【図４】本発明の一実施例における磁気ディスク欠陥検
出装置の媒体欠陥データのフォーマット例を示す図

【図５】本発明の一実施例におけるサーボパターン書込
装置の構成を示すブロック図

【図６】本発明のサーボパターン書込装置の第１の動作
例を示すフローチャート

【図７】本発明のサーボパターン書込装置の第１の動作
例を示すフローチャート

【図８】本発明のサーボパターン書込装置の第２の動作
例を示すフローチャート

【図９】本発明のサーボパターン書込装置の第２の動作
例を示すフローチャート

【図１０】従来の磁気ディスク欠陥検出装置の構成を示
すブロック図

【図１１】従来のサーボパターン書込装置の構成を示す
ブロック図

【符号の説明】

１０１磁気ヘッド１０２磁気ディスク１０３フレキシャー１０５コイル１０６上ヨーク１０７下ヨーク１０８磁石１０９スピンドルモータ１１０ベース１１１クランパ１１３スタッド１１８ＦＰＣ（フレキシブル・プリンティッド・サー
キット）１１９循環フィルタ１２２モールド部１２３ピボット軸１３０コイルホルダ２５１基準クロック書込用ヘッド２５３クロックヘッドフレキシャー２６０治具ベース２６２クロック駆動治具ベース２７０ホストコンピュータ２７１デジタルオシロスコープ２７３プリンタ２７４ＣＲＴ２７５ＦＤＤ２８０モータ回転制御基板２８１ヘッド位置決め制御回路２８２プリ・アンプ２８３検査基板２９２クロックヘッドプリ・アンプ２９３クロック検査基板２９４インデックス生成基板２９５基準ヘッド位置決め制御回路３０１磁気ディスク欠陥検出用ヘッド３０３磁気ディスク欠陥検出用フレキシャー３０９スピンドルモータ３１１クランパ３５１クロック用ヘッド３５３クロックヘッドフレキシャー３５４基準クロック信号３５５インデックス信号３５６サーボ領域３５７媒体欠陥３６０治具ベース３６１磁気ディスク欠陥検出用アクチュエータ３６２クロック治具ベース３７０ホストコンピュータ３７１デジタルオシロスコープ３７２スペクトラムアナライザ３７３プリンタ３７４ＣＲＴ３７５ＦＤＤ３８０モータ回転制御基板３８１ヘッド位置決め制御回路３８２プリ・アンプ３８３検査基板３８４インデックス生成基板３９２クロックヘッドプリ・アンプ３９３検査基板３９４インデックス生成基板４０１クロック位置決め制御回路４０２クロック読出し波形検査回路４０３アンプ４０４スピンドルモータ制御回路４０５アンプ４０６磁気ヘッド検査基板４０７ボイスコイルモータ制御回路４０８レーザー測長器４０９コーナーキューブ４１０基準クロック書込用ヘッド４１１ボイスコイルモータ５０１ヘッダ５０２シリンダ５０３ヘッド５０４バイトフロムインデックス５０５バイト欠陥長さ５０６欠陥種類５０７予備６０１ヘッダ６０２シリンダ６０３ヘッド６０４バイトフロムインデックス６０５バイト欠陥長さ６０６欠陥種類６０７最適ディレイ量ｄ最適ディレイ量

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 5/84 Ｃ 7303−5Ｄ 20/12 9295−5Ｄ 23/00 Ｈ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】基準信号書込用のクロック用ヘッドと、磁
気ディスクの媒体欠陥を検出する欠陥検出用ヘッドと、
媒体欠陥検出手段と、媒体欠陥記録手段とを有する磁気
ディスク欠陥検出装置であって、前記欠陥検出用ヘッド
にて仮インデックス信号を書き込み、前記仮インデック
ス信号を基準として前記クロック用ヘッドにてインデッ
クス信号を書き込み後、前記欠陥検出用ヘッドにて前記
媒体欠陥を検出する手段を前記媒体欠陥検出手段にて行
うことを特徴とする磁気ディスク欠陥検出装置。
【請求項２】クロック用ヘッドにて書き込まれる基準信
号の周波数が後にサーボパターン書込工程で使用するサ
ーボパターン書込装置の基準クロック書込用ヘッドにて
書き込まれる基準信号の周波数と略同一であることを特
徴とする請求項１記載の磁気ディスク欠陥検出装置。
【請求項３】欠陥検出用ヘッドの検査のための移動軌跡
が後にサーボパターン書込装置で使用するサーボパター
ン書込装置の磁気ヘッドの移動軌跡と略同一であること
を特徴とする請求項２記載の磁気ディスク欠陥検出装
置。
【請求項４】クロック用ヘッドから出力されるインデッ
クス信号を基準として媒体欠陥を検査する媒体欠陥検査
手段と、磁気ディスクに対応する前記媒体欠陥のリスト
を記録する媒体欠陥記録手段とを有することを特徴とす
る請求項３記載の磁気ディスク欠陥検出装置。
【請求項５】欠陥の数を示すヘッダ、磁気ディスクの表
裏を示すヘッド番号、前記欠陥の発生位置を示すシリン
ダ、基準インデックス信号からの距離を示すインデック
ス距離、前記欠陥の長さを示す欠陥長、前記欠陥の種類
を示す欠陥種類から成る媒体欠陥のリストを作成する媒
体欠陥検査手段にて行うことを特徴とする請求項４記載
の磁気ディスク欠陥検出装置。
【請求項６】欠陥の数を示すヘッダ、磁気ディスクの表
裏を示すヘッド番号、前記欠陥の発生位置を示すシリン
ダ、基準インデックス信号からの距離を示すインデック
ス距離、前記欠陥の長さを示す欠陥長、前記欠陥の種類
を示す欠陥種類から成る媒体欠陥のリストを記録する媒
体欠陥記録手段を有することを特徴とする請求項５記載
の磁気ディスク欠陥検出装置。
【請求項７】媒体欠陥のリストをもとに、最適ディレイ
量を計算する最適ディレイ量計算手段を有することを特
徴とする請求項４〜６のいずれかに記載の磁気ディスク
欠陥検出装置。
【請求項８】最適ディレイ量を媒体欠陥のリストに有す
ることを特徴とする請求項７記載の磁気ディスク欠陥検
出装置。
【請求項９】基準信号書込用の基準クロック書込用ヘッ
ドと、サーボパターンの書き込みと読み出しを行う磁気
ヘッドと、サーボパターン書き込み手段とを有するサー
ボパターン書込装置であって、先に磁気ディスク欠陥検
出工程の磁気ディスク欠陥検出装置のクロック用ヘッド
にて書き込まれた基準信号を検出する基準信号検出手段
を有することを特徴とするサーボパターン書込装置。
【請求項１０】先に磁気ディスク欠陥検出工程のクロッ
ク用ヘッドにて書き込まれた基準信号の中のインデック
ス信号を用いてサーボパターンを書き込むサーボパター
ン書込手段を有することを特徴とする請求項９記載のサ
ーボパターン書込装置。
【請求項１１】クロック用ヘッドのトラック幅よりも小
さなトラック幅を基準クロック書込用ヘッドが有するこ
とを特徴とする請求項１０記載のサーボパターン書込装
置。
【請求項１２】媒体欠陥のリストをもとに、最適ディレ
イ量を計算する最適ディレイ量計算手段を有することを
特徴とする請求項１１記載のサーボパターン書込装置。
【請求項１３】最適ディレイ量計算手段にて得られた最
適ディレイ量を用いてサーボパターンを書き込むサーボ
パターン書込手段を有することを特徴とする請求項１２
記載のサーボパターン書込装置。
【請求項１４】先の磁気ディスク欠陥検出工程の磁気デ
ィスク欠陥検出装置の最適ディレイ量計算手段にて得ら
れた最適ディレイ量を用いてサーボパターンを書き込む
サーボパターン書込手段を有することを特徴とする請求
項１２記載のサーボパターン書込装置。
【請求項１５】磁気ディスク装置の磁気ディスク上の欠
陥領域を非欠陥領域に代替えする媒体欠陥領域代替装置
であって、先の磁気ディスク欠陥検出工程とサーボパタ
ーン書込工程とのいずれか一方にて得られた媒体欠陥の
リストを用いて前記磁気ディスク上の前記欠陥領域を前
記非欠陥領域に代替えすることを特徴とする媒体欠陥領
域代替装置。
【請求項１６】少なくとも１枚の磁気ディスクと、前記
磁気ディスクに対応する少なくとも１個の磁気ヘッド
と、前記磁気ディスクを回転せしめるスピンドルモータ
と、前記磁気ヘッドを駆動せしめる磁気回路と、前記磁
気回路を固定するベースと、前記ベースと係合するカバ
ーと、前記磁気ヘッドを制御するためのサーボパターン
とを有する磁気ディスク装置であって、先の磁気ディス
ク欠陥検出工程とサーボパターン書込工程とのいずれか
一方にて得られた媒体欠陥のリストを用いてサーボパタ
ーンが書き込まれていることを特徴とする磁気ディスク
装置。
【請求項１７】少なくとも１枚の磁気ディスクと、前記
磁気ディスクに対応する少なくとも１個の磁気ヘッド
と、前記磁気ディスクを回転せしめるスピンドルモータ
と、前記磁気ヘッドを駆動せしめる磁気回路と、前記磁
気回路を固定するベースと、前記ベースと係合するカバ
ーと、前記磁気ヘッドを制御するためのサーボパターン
とを有する磁気ディスク装置であって、先の磁気ディス
ク欠陥検出工程とサーボパターン書込工程とのいずれか
一方にて得られた最適ディレイ量を用いてサーボパター
ンが書き込まれていることを特徴とする磁気ディスク装
置。
【請求項１８】少なくとも１枚の磁気ディスクと、前記
磁気ディスクに対応する少なくとも１個の磁気ヘッド
と、前記磁気ディスクを回転せしめるスピンドルモータ
と、前記磁気ヘッドを支持固定するジンバルと、前記ジ
ンバルを支持固定するフレキシャーと、前記フレキシャ
ーを支持固定するフレキシャー支持固定手段と、前記磁
気ヘッドを駆動せしめるコイルと、前記コイルを支持固
定するコイルホルダと、第１のヨークと、第２のヨーク
と、前記第１のヨークに接着固定された少なくとも１個
の磁石と、前記第１のヨークと前記第２のヨークとの間
に間隙を形成する少なくとも１個のスタッドと、前記ス
タッドをベースに固定する少なくとも１本の固定ネジ
と、前記ベースと係合するカバーと、前記磁気ヘッドと
前記ジンバルと前記フレキシャーと前記フレキシャー支
持固定手段と前記コイルと前記コイルホルダとからなる
アクチュエータと、前記アクチュエータを制御するため
のサーボパターンとを有する磁気ディスク装置であっ
て、先の磁気ディスク欠陥検出工程とサーボパターン書
込工程とのいずれか一方にて得られた媒体欠陥のリスト
を用いてサーボパターンが書き込まれていることを特徴
とする磁気ディスク装置。
【請求項１９】少なくとも１枚の磁気ディスクと、前記
磁気ディスクに対応する少なくとも１個の磁気ヘッド
と、前記磁気ディスクを回転せしめるスピンドルモータ
と、前記磁気ヘッドを支持固定するジンバルと、前記ジ
ンバルを支持固定するフレキシャーと、前記フレキシャ
ーを支持固定するフレキシャー支持固定手段と、前記磁
気ヘッドを駆動せしめるコイルと、前記コイルを支持固
定するコイルホルダと、第１のヨークと、第２のヨーク
と、前記第１のヨークに接着固定された少なくとも１個
の磁石と、前記第１のヨークと前記第２のヨークとの間
に間隙を形成する少なくとも１個のスタッドと、前記ス
タッドをベースに固定する少なくとも１本の固定ネジ
と、前記ベースと係合するカバーと、前記磁気ヘッドと
前記ジンバルと前記フレキシャーと前記フレキシャー支
持固定手段と前記コイルと前記コイルホルダとからなる
アクチュエータと、前記アクチュエータを制御するため
のサーボパターンとを有する磁気ディスク装置であっ
て、先の磁気ディスク欠陥検出工程とサーボパターン書
込工程とのいずれか一方にて得られた最適ディレイ量を
用いてサーボパターンが書き込まれていることを特徴と
する磁気ディスク装置。
【請求項２０】磁気ディスクがマーキング点を有し、前
記マーキング点を用いて前記磁気ディスクがスピンドル
モータに組み込まれていることを特徴とする請求項１６
〜１９のいずれか１記載の磁気ディスク装置。