JP2004127495A

JP2004127495A - ハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法

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Publication number: JP2004127495A
Application number: JP2003323671A
Authority: JP
Inventors: Peresu Jiyon; ジョン　ペレス
Original assignee: International Manufacturing and Engineering Services Co Ltd IMES
Current assignee: International Manufacturing and Engineering Services Co Ltd IMES
Priority date: 2002-09-13
Filing date: 2003-09-16
Publication date: 2004-04-22

Abstract

【課題】ハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験について、機械的精度を超えて測定が可能とする。
【解決手段】トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスク１１１に対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッド１２１を、該ハード磁気ディスク１１１の所定の目標トラックまで移動させ、前記磁気ヘッド１２１により、前記目標トラックの各セクタ毎に付与されたデータ面埋め込み位置情報を読み出して記憶しながら所定信号を書き込み、その後、該磁気ヘッド１２１により読み出した位置情報が前記記憶した位置情報と一致またはその差が許容範囲内のときに、該セクタのデータ領域に他の信号を書き込む。
【選択図】　図１

Description

　本発明は、ハード磁気ディスクドライブ、ハード磁気ディスク記憶装置（以下「ＨＤＤ」という）の主要機能部品であるハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法に関する。

　ＨＤＤは、高速回転させたハード磁気ディスク媒体（プラッター）に近接浮上する磁気ヘッドによりディジタル情報をハード磁気ディスク媒体に読み書きする大容量ランダムアクセス記憶装置である。近年、情報化社会の発展に伴う需要、技術開発競争の結果、形状寸法はより小さく、また、同一の形状および寸法における記憶容量は飛躍的に増大している。同一の形状寸法での記憶容量の増大は、ハード磁気ディスク媒体の磁気記録密度の向上によって実現される。

　磁気記録密度（面密度：単位；GbpSI（Giga bit per square inch））は、線密度（円周方向密度：単位；bpi（bit per inch））とトラック密度（半径方向密度：単位；TPI（Track per inch））の積である。現在の代表的なＨＤＤにおける磁気記録密度は、線密度が600Kbpi、トラック密度が90KTPI程度なので、54GbpSI（＝600Kbpi×90KTPI）程度である。しかし、当面の目標は100GbpSIとされており、また近い将来、1000GbpSI程度まで高められると予測されているが、現在のいわゆる水平磁気記録技術では、線密度が自己減磁などの原因で限界に近づきつつある。そこで、当面トラック密度の向上が期待されている。例えば、90KTPIのトラック密度を線密度並に600KTPIまで高めることができれば、面記録密度は一気に７倍の360GbpSI程度にまで高まる。

　一方、このように磁気記録密度の向上著しいＨＤＤを試験するための磁気ヘッドテスターは、被測定ヘッドをＨＤＤ内での使用状態に出来るだけ近づけるための、ハード磁気ディスク、このハード磁気ディスクを回転させるエアスピンドルモーター、磁気ヘッドを保持して所定のトラックまで移動させるシーク機構などを持つスピンスタンドと呼ばれる機械装置と、信号波形を発生、記録、試験するためのアナライザを備えている。

　しかしながら、現在実用化されている磁気ヘッドテスターの技術水準は、ＨＤＤ製品、部品の高性能化に十分対応できているとはいえない。対応できない主たる原因の一つは、読み書き信号周波数の向上が困難なこと、もう一つは極小トラック幅ヘッド測定技術に必要な半径方向のトラック位置決め精度の向上が困難なことにある。

　製品としてのＨＤＤが極小トラック幅ヘッド測定技術に必要な（半径方向の）トラック位置決め精度を得るために埋め込みサーボ技術（セクターサーボ技術）を用いているのに対して、磁気ヘッドテスターのスピンスタンドでは、従来よりセクターサーボ技術は使用しないで、代わりにスピンスタンドの各部の要素機械精度を向上させ、また機械振動を抑えて同等以上の位置決め精度を出そうとして来た。しかし、年々高まるトラック密度に要求される必要位置決め精度の向上に対して能力の限界に近づいている。

　トラック密度とトラックピッチ、ヘッドトラック幅、要求再現精度の関係を下記表に示す。

　　　トラック密度 50KTPI 200KTPI 500KTPI
　　　トラックピッチ 500nm 125nm 50nm
　　　ヘッドトラック幅 300nm 75nm 30nm
　　　要求再現精度 30nm 7.5nm 3nm
　ここで、磁気ヘッドの位置ずれの主な発生原因は、
(1-1) スピンドルモーターの非繰返し芯ずれ（NRRO）、
(1-2) 振動などによる磁気ヘッド保持機構および磁気ヘッドの位置ずれ、
(1-3) 高速回転するハード磁気ディスク面上の空気流の乱れによるハード磁気ディスクおよび磁気ヘッドの振動、
の３種類である。

　また、未だヘッドテスター製品としての実用化例は無いが、ＨＤＤ製品自体に使われているセクターサーボ技術による追従制御技術の利用がある。セクターサーボ技術は、あらかじめハード磁気ディスクに指定方式で高精度のトラック位置情報を書き込んでおき、それを被測定磁気ヘッドで時々刻々読み出して位置ずれ補正をするという方法（追従制御）により高精度の位置決め性能を得ようとするものである。そのためには、
(2-1) 高精度なトラック位置情報書き込み機能（サーボトラックライト機能）、(2-2) 高速追従のための高剛性のアクチュエータ技術、
が必要である。

　これらの条件を満足させるためには、スピンスタンドに高精度のサーボトラックライト機能を持たせなければならない。スピンスタンドには高精度のエアベアリングスピンドルモーターを使用できるが、被測定磁気ヘッドの着脱機構が必要なのでアーム先端部が重くなり、追従速度を高めるのは困難になる。これらの制約があるため、このセクターサーボ技術による追従制御技術で到達できる限界は200KTPI程度である。

　本件出願人は、これらの問題を解決し、極小トラック幅ヘッド対応の限界性能を飛躍的に向上させることができる磁気ヘッドまたはハード磁気ディスクの試験装置および試験方法を提案した（特許文献１）。
特許公開2002-093088号

　従来の磁気ヘッドテスターは、除振台、エアベアリングスピンドルモーター、ピエゾアクチュエータ、および空気流整流板などの組み合わせにより位置決め精度を向上させるという方法をとってきた。このような従来方法では、要求精度が高まるにしたがって、コストおよびスペースがともに大きくなる上に、その精度向上も限界に達してきた。この従来方法のみではトラック記録密度50KTPI程度が測定限界とされ、またトラック記録密度がその限界に近づくにつれて測定精度は悪化するという問題があった。

　また、未だヘッドテスター製品としての実用化例は無いが、ＨＤＤ製品自体に使われているセクターサーボ技術による追従制御技術の利用がある。セクターサーボ技術は、あらかじめハード磁気ディスクに指定方式で高精度のトラック位置情報を書き込んでおき、それを被測定磁気ヘッドで時々刻々読み出して位置ずれ補正をするという方法（追従制御）により高精度の位置決め性能を得ようとするものである。そのためには、
(2-1) 高精度なトラック位置情報書き込み機能（サーボトラックライト機能）、(2-2) 高速追従のための高剛性のアクチュエータ技術、
が必要であり、機械精度の向上が必須であった。

　本発明は、これらら従来技術の問題に鑑みてなされたもので、従来の機械的な精度から期待される精度以上の測定精度が得られる、ハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験が可能な試験方法を提供することを目的とする。

　この目的を達成する本発明は、トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、前記磁気ヘッドにより、前記目標トラックのセクタについて前記データ面埋め込み位置情報を読み出して該読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったときに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込みまたは該セクタのデータ領域から信号を読み出す段階とを含むことに特徴を有する。

　請求項２記載発明は、トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報を記憶するとともに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合は該セクタのデータ領域の信号を読み出して記憶する処理を、前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第１読み出し段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域に他の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す上書き段階と、前記磁気ヘッドにより前記上書きした各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域の信号を読み出す処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第２読み出し段階と、を含むことに特徴を有する。

　請求項３記載の発明では、トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域の信号を読み出して記憶する処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第１読み出し段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域に他の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す上書き段階と、前記磁気ヘッドにより前記上書きした各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のセクタのデータ領域の信号を読み出す処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第２読み出し段階とを含むことに特徴を有する。

　実際的には、前記書き込み段階の前に、該磁気ヘッドにより目標トラックの中心に対して所定帯域内の全てのセクタを消去する消去段階を含む。

　また、前記書き込み段階では低周波数で前記所定の信号を書き込み、前記上書き段階では高周波数で前記他の信号を上書きすることが好ましい。

　請求項４記載の本発明は、トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ領域に、所定の符号化デジタル信号を書き込む処理を、データ面埋め込み位置情報を読み出して記憶しながら、１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域から前記符号化デジタル信号をデータエラー検出のために読み出す処理を前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す読み出し段階とを含むことに特徴を有する。

　前記読み出し段階では、全セクタまたは選択されたセクタについて前記読み出した位置情報を記憶しながら実行することが好ましい。

　前記書き込み段階では低周波数で前記所定の信号を書き込み、前記上書き段階では高周波数で前記他の信号を上書きすることが好ましい。
さらに請求項８記載発明は、トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報を記憶するとともに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、前記磁気ヘッドを、前記記憶した位置情報を基準位置として該基準位置よりも所定量半径方向外周位位置または内周位置に移動する移動段階と、前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの基準位置より所定量半径方向外周位置または内周位置と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域を消去する処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す消去段階とを含むことに特徴を有する。

　実際的には、前記移動段階および消去段階において、前記外周側の位置よび内周側の位置はそれぞれ異なる複数の位置が設定されていて、各設定された前記外周側および内周側の位置について、最外周側の位置および最内周側の位置から逐次基準位置に近づく位置について前記移動段階および消去段階を繰り返す。

　また、これら発明において実際的には、前記書き込み段階の前に、該磁気ヘッドにより目標トラックの中心に対して所定帯域内の全てのセクタを消去する消去段階を含む。

　本発明のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法は、書き込み、読み出しにおける磁気ヘッドの半径方向位置をデータ面埋め込み位置情報から判断し、書き込み時と読み書き時とにおいて一致したセクタのみ使用するので、最も条件のよいセクタに対する書き込み、読み込みデータを使用できるので、機械的精度以上の精度で測定することが可能になる。

　請求項４記載の本発明のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法は、磁気ヘッドによってハード磁気ディスクから読み出した位置情報が所定値または許容範囲内であったときに、前記セクタのデータ領域に所定の信号を書き込みまたは前記セクタのデータ領域から信号を読み出すので、磁気ヘッドの追従精度またはハード磁気ディスクの機械的、物理的精度以上の読み書きが可能になり、試験装置の精度を超えた高精度の測定試験が可能になる。

　　以下図面に基づいて本発明を説明する。まず、本発明が適用されるＨＤＤのハード磁気ディスクのデータ面のフォーマット構造について、図４、図５を参照して説明する。

　ＨＤＤでは、磁気ヘッドの位置決めを行なう方法として次のような方法を採用している。ＨＤＤ製造工程でハード磁気ディスク、磁気ヘッド等の組み込み終了後、通電が可能になり、各部の基本機能が確認された後に、サーボトラックライターと呼ばれる装置を用いて、各ハード磁気ディスク（通常は複数枚）のデータ面のすべてのトラックに、データ埋め込み位置情報である位置情報（以下サーボ情報）を書きこむサーボトラックライティングを行う。１本のトラックは数１００個のサーボセクタと呼ばれる部分領域で区切られ、１個のサーボセクタは、先頭をサーボ領域として使用し、残りをデータ領域として実際のデータ記録／再生に用いている。このような領域の区分けを、全体としてトラックフォーマットあるいはセクタフォーマットという。典型的なトラックフォーマットを図４（Ａ）、（Ｂ）に示した。

　図４（Ａ）は、ハード磁気ディスク上に書かれた円形のトラック、該トラックを等分する円弧状のセクタフォーマットを、水平方向の直線トラックに変形して模式的に表現したものである。磁気ヘッドがトラックＮ上に位置決めされているときは、トラックＮ上の信号を左から右へと読み出す。１個のサーボセクタの詳細な領域分割を図４（Ｂ）に示してある。各サーボセクタはサーボ領域とデータ領域から成る。サーボ領域はさらに以下の小領域より成る。
ＷＲ：　(Write Recovery Field)・・・データ書き込み時に、書き込みモードからサーボ領域読み出しまでの準備時間を与える領域
ＳＳＭ：　(Servo Start Mark)・・・サーボ領域の始まりを示すマーカー領域
ＳＩＤ：　(Servo Identification Field)・・・トラック番号またはシリンダー番号が記録されている領域
ＳＥＣＩＤ：　(Sector Identification Field)・・・セクタ番号が記録されている領域
ＳＢ：　(Servo Burst Field)・・・アナログ位置信号（データ埋め込み面位置情報）が記録されている領域
ＤＡＴＡ：　(Data Field)・・・ユーザーデータが記録される領域（セクタのデータ領域）
　トラック／シリンダー番号領域ＳＩＤは、磁気ヘッドがディスク半径方向（ラジアル方向、図４（Ａ）においては上下方向）に移動している途中でも正しく読めるように、グレーコードという数値表現法で書かれている。また、アナログ位置信号領域ＳＢにはいくつかの方式があるが、現在の主流はアナログ位置信号領域ＳＢ内を４つの時間領域に分け、ラジアル方向に位相差を持たせて書き込み、４つの振幅情報から、２相アナログ位置情報を得るという方式である。これは光学的位置エンコーダーと同様の２相信号を生成する。２相信号の振幅を測定することにより、基準トラック位置に対する半径方向の位置差を求めることができる。

　本実施形態では、磁気ヘッドの位置情報、つまりハード磁気ディスクのトラック、半径方向の絶対位置情報およびセクタを、トラック／シリンダー番号領域ＳＩＤと、セクタ番号領域ＳＥＣＩＤと、アナログ位置信号領域ＳＢから磁気ヘッドにより読み出したデータを合成して得ている。なお、トレースするトラックが同一の場合は、アナログ位置信号領域ＳＢおよびセクタ情報のみにより、トラックに対する相対位置情報および半径方向の絶対位置を、位置情報として得ることができる。

　回転するハード磁気ディスク１１１に対して浮上する磁気ヘッド１２１は、前記トラックフォーマットで書かれたサーボ領域情報を絶えず読みながら、読み出したサーボ領域情報中の位置情報に基づいてヘッド位置決め制御されている。ヘッド位置決め制御には、磁気ヘッドを目的のトラックまで移動させるシークと、以後そのトラックをトレース（追従）するトラックフォローイングがある。また、このようにサーボ領域情報を読みながら、データ領域に読み書きする制御を「フォーマットコントロール」といい、このようなフォーマットコントロールを実行する装置がフォーマットコントローラである。

　次に、このような構成からなるＨＤＤ用の磁気ヘッドまたはハード磁気ディスクを試験（測定）する本発明の試験システムおよび試験方法について、添附図面を参照して説明する。スピンスタンドにおいて、高精度の磁気ヘッド移動機構には、Ｘ？Ｙ移動機構、ロック機構およびセンサ付きピエゾアクチュエーター微動機構の組み合わせが使用されているが、本発明はその構成を問わないので、スピンドル、ヘッド着脱機構、およびヘッド微動機構を備えた構成とし、その構成の一実施例を図５に示した。

　このスピンスタンド（Spinstand）１１は、ハード磁気ディスク（ハード磁気ディスク媒体、プラッタ）１１１と、ハード磁気ディスク１１１を回転させるためのエアベアリングスピンドルモータ１１３と、先端部に磁気ヘッド１２１が装着されたサスペンション１１４と、このサスペンション１１４の他端部を支持する取り付け部材１１５と、Ｘ-Ｙテーブル１１７に支持され、取り付け部材１１５をＸ軸方向に高精度に移動させるピエゾアクチュエータ１１９とを備えている。Ｘ-Ｙテーブル１１７は直交方向に移動し、磁気ヘッド１２１の直交方向位置決め機構として作用し、ピエゾアクチュエータ１１９は、Ｘ軸方向の微調整機構として作用する。これらの機構動作の組み合わせにより、Ｘ-Ｙテーブル１１７およびピエゾアクチュエータ１１９は、ＨＤＤのスイングアームまたはロータリーアクチュエータとと同等の位置決め機構を実現する。

　本実施の形態では、コンピュータ、例えばパーソナルコンピュータ１６によってこのアクチュエータ１１９を駆動し、磁気ヘッド１２１を所定ピッチで指定した半径方向位置に移動させる。また、現在主流となっているＧＭＲ（Giant Magneto-Resistive）ヘッドなどの磁気ヘッドは、独立したライトヘッドとリードヘッドを備えている。本実施の形態で試験する磁気ヘッド１２１も、詳細は図示しないが、独立したライトヘッドとリードヘッドを備えたＧＭＲヘッドとする。

　ＦＥＥ（Front-end Electronics）１２はプリアンプ１２ａと書き込みドライバ１２ｂを有していて、磁気ヘッド１２１によりハード磁気ディスク１１１に読み書きするための電気的インターフェースを構成する。

　プリアンプ１２ａは、磁気ヘッド１２１（リードヘッド）がハード磁気ディスク１１１から読み出して出力する微小信号を増幅し、増幅した読み出し信号をフォーマットコントローラ１４とリード／ライトアナライザー（Read/Write Analyzer）１５へ供給する。書き込みドライバ１２ｂは、リード／ライトアナライザー１５から出力されたデータ信号を磁気ヘッド１２１（ライトヘッド）によってハード磁気ディスク１１１に書き込むために、データ信号を増幅する増幅器である。ＦＥＥ１２は、微小信号、高速信号を取り扱うために可及的に磁気ヘッドの近くに置く必要があるので、通常、スピンスタンド１１の内部に配置される。なお、磁気ヘッドとＦＥＥとが一体化されているものもあるので、本実施の形態では、磁気ヘッドと一体形成されたＦＥＥを利用する。

　サーボコントローラ１３は、スピンスタンド１１上の磁気ヘッド１２１の位置決め制御を行う。参照すべき位置決め情報は二つある。一つは、スピンスタンド１１内のヘッド位置決め機構から出力される位置情報、つまり磁気ヘッド１２１の半径方向の相対的な位置情報であり、他の一つは、フォーマットコントローラ１４経由の、ハード磁気ディスク１１１から読み出したデータ面埋め込み位置情報（＝ＰＳ：位置信号）である。

　フォーマットコントローラ１４は、磁気ヘッド１２１が読み出した信号から位置情報を抽出してサーボコントローラ１３に送り、さらにデータ領域のリード／ライトのためのタイミング信号をリード／ライトアナライザー１５に送る。

　１セクタ内のデータを読み出すときのフォーマットコントローラ１４内のタイミングチャートの一例を図５に示した。

　フォーマットコントローラ１４はまた、磁気ヘッド１２１によってハード磁気ディスク１１１に書き込んだとき、および読み出したときの磁気ヘッド位置情報を記録し、記録した位置情報をパーソナルコンピュータ１６に送る機能を持つ。

　リード／ライトアナライザー１５は、パーソナルコンピュータ１６の指令を受けて、ＦＥＥ１２および磁気ヘッド１２１を経由して、データをハード磁気ディスク１１１に書き込み、また、書き込んだデータをハード磁気ディスク１１１から読み出すなど、磁気ヘッド１２１の機能試験に必要な信号処理を行う。データの書き込み、読み出しは、フォーマットコントローラ１４から出力されるタイミング信号に同期して動作する。

　パーソナルコンピュータ１６は、試験作業員の操作を受けて、スピンスタンド１１、リード／ライトアナライザー１５、およびフォーマットコントローラ１４を制御し、磁気ヘッド１２１の機能試験、ホスト・レポーティングあるいはサーボトラック（位置情報）書き込み等を実行する。

　本発明の実施の形態のフォーマットコントローラ１４の詳細をブロックで図２に示す。図２において、読み出し信号（Read Signal）３０は磁気ヘッド１２１から出力された読み出し信号をプリアンプ１２ａで増幅した信号であり、この増幅された読み出し信号は各検出ブロックに入力される。

　ＰＳ’信号３１は、ＰＳジェネレータ２４から出力され、サーボコントローラ１３へ供給されるアナログあるいはディジタル位置情報である。

　ＰＳ信号３２は、ＰＳメモリ２６から読み出され、パーソナルコンピュータ１６へ供給されるディジタル位置情報である。

　リード／ライトタイミング信号３３は、クロック・タイミングコントローラ２７から出力され、リード／ライトアナライザー１５に供給されるタイミング情報である。

　ＳＳＭサーチ回路２１（Search SSM）は、マーカ領域ＳＳＭの特有のデータパターンを検出し、検出したデータパターンをクロック・タイミングコントローラ２７（Clocking & Timing Controller）に供給する。

　ＳＩＤ読み出し回路２２（Read SID）は、トラック／シリンダー番号領域ＳＩＤのデータを分離し、分離したトラック／シリンダー番号データをＰＳジェネレータ２４（PS Generator）に供給する。

　バースト読み出し回路２３（Read Burst）は、読み出し信号３０中のアナログ位置信号領域ＳＢの信号から２相アナログ位置信号を生成してＰＳジェネレータ２４に供給する。

　ＰＳジェネレータ２４は、トラック／シリンダー番号領域ＳＩＤとアナログ位置信号領域ＳＢの情報に基づいて、位置情報を生成する。

　ＰＳメモリ（PS Memory）２６は、ディスク１回転分のアナログ位置信号を位置信号ＰＳとして記録保存（メモリ）し、保存した位置信号ＰＳを、パーソナルコンピュータ１６の指令によりパーソナルコンピュータ１６にＰＳ位置信号３２として送出する。

　クロック・タイミングコントローラ（Clocking & Timing Controller）２７は、ＳＳＭサーチ回路２１からのＳＳＭ検出タイミング信号および読み出し信号３０に基づいて、フォーマットコントローラ１４内部の制御タイミング信号（System Timing）２８およびリード／ライトタイミング信号３３（Read/Write Timing）を生成する。位置情報
　これらの各ブロックのうち、ＳＳＭサーチ回路２１、ＳＩＤ読み出し回路２２、バースト読み出し回路２３、およびタイミング・クロックコントローラ２７は、ハードウェア（電子回路）制御される。ＰＳジェネレータ２４、およびＰＳメモリ２６は、詳細は図示しないが、ディジタル信号処理プロセッサ（ＤＳＰ）などのマイクロプロセッサおよび所定のマイクロプログラムによってソフトウェア制御される。

　図３に示したスピンスタンドの機能およびこのスピンスタンドを使用したハード磁気ディスクおよび磁気ヘッドの試験方法を以下説明する。

　フォーマットコントローラ１４の機能は次の通りである。
(3-1) 読み出し信号からセクタータイミングを抽出し、リード／ライトアナライザー１５にリード／ライトのタイミング信号を供給する。
(3-2) 読み出し信号からトラック位置情報を抽出し、サーボコントローラ１３に供給する。
(3-3) 磁気ヘッドの位置情報（位置ずれ情報）を、ハード磁気ディスクから各セクタ毎に読み出して各セクタ毎にＰＳ位置信号として記録し、パソコン１６に転送し、また、読み出した位置情報と、そのセクタの位置情報をパソコン１６から読み出して比較する。

　ＨＤＤにおいて高トラック密度（単位：TPI (Track per Inch )）を実現するためには、狭トラック幅の磁気ヘッドを使わなければならない。一方、狭トラック幅で書かれたデータを読み出すためには、磁気ヘッドの高精度な位置決めが必要となる。近年の磁気ヘッドは、独立したリードヘッドとライトヘッドで構成されているので、磁気ヘッドの特性を測定する場合は通常、被測定磁気ヘッド自身を用いてデータを書き込み（セルフライティング）、その後その信号をその磁気ヘッドで読み出して解析する方法が採用されている。一般に、設計上の理由あるいは製造工程で発生する機械的、組み立て誤差によりリードヘッドとライトヘッドの位置ずれが発生している。

　本発明の実施形態は、このような独立したリードヘッドおよびライトヘッドを備えた磁気ヘッドのの位置ずれ、および読み書き特性の精密測定に適した試験方法である。

　そして本実施形態のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法は、従来のスピンスタンドの機械的精度より高精度のトラックプロファイル試験などの測定、試験を可能にするものである。その特徴は、
（ａ）　ＰＳ‘位置情報に基づく磁気ヘッド１２１のトラック追従制御（トラックフォロワーまたはトレース）は行わず、
（ｂ）　ハード磁気ディスク１１１上に磁気ヘッド１２１で書き込む時または読み出す時の各時点でのＰＳ‘位置情報と記憶したＰＳ位置情報に基づいて、所定のＰＳ’位置情報が得られた時だけ、書き込みまたは読み出し処理を実行すること、
にある。

　なお本発明は、磁気ヘッドのトラック追従制御をしながら、上記（ｂ）の処理を実行することも可能である。

　以下、本発明のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法について、図１、２に示した試験システムにより、図６に示したオーバーライト試験を実施した実施形態を参照して説明する。図６は、図４と同様に、円弧状のトラックを直線状に延ばし、磁気ヘッドのトレース軌跡を模式的に示した図である。なお、セクタ番号１〜Ｎまでを図示してある。この実施の形態では、スピンスタンド１１を含め、全体の動作、処理をパーソナルコンピュータ１６によって制御する。

　「移動段階」
　試験を開始する際に、アクチュエータ１１９を駆動して、サスペンション１１４の先端部に装着された磁気ヘッド１２１を、ハード磁気ディスク１１１に予めフォーマットされている目標のトラックまで移動させる。なお、ハード磁気ディスク１１１は、予め所定回転速度で回転する定速回転状態にある。

　「消去段階」
　そうして通常は、磁気ヘッド１２１により、目標トラックを含む所定範囲内の全てのまたは選択されたセクタのデータ領域を消去する。

　「書き込み段階」
　先ず、磁気ヘッド１２１によりハード磁気ディスク１１１のトラックの各セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出して読み出した位置情報およびそのセクタ情報をＰＳメモリ２６に記憶し、パーソナルコンピュータ１６に転送するとともに、そのセクタのデータ領域に書き込む書き込み段階を実行する（図６（Ａ））。

　この書き込み段階により所定の信号が書き込まれたハード磁気ディスク１１１上の書き込み信号領域の輪郭を、符号ＬＦＷを付して示した。

　本実施形態のオーバーライト試験における所定の信号は、書き込み易くかつ消去し難い低周波信号ＬＦとする。

　１本のトラック一周分の書き込みが終了したら次の第１読み出し段階に進む。なお、この書き込み処理は、磁気ディスク１１１が１回転する間だけ、または複数回回転する間繰り返してもよい。

　「第１読み出し段階」
　第１読み出し段階では、磁気ヘッド１２１により前記トラックの各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、前記読み出した位置情報と、そのセクタに対応する、前記ＰＳメモリ２６に記憶した対応するセクタの位置情報とが一致またはその差が許容範囲内のときに、該セクタのデータ領域の信号を読み出して、そのセクタデータとしてＰＳメモリ２６に記憶し、パーソナルコンピュータ１６に転送して記憶する処理を、磁気ディスク１１１が１回、または複数回、例えば数回または数十回回転する間繰り返す。これが第１読み出し段階である。

　つまり第１読み出し段階では、磁気ヘッド１２１の位置がが書き込み位置と一致したときのみ、そのセクタのデータ領域から信号を読み出し、記憶するのである。ここで記憶するセクタの信号は、強度に関するデータとする。

　この各セクタの読み出し信号の強度を解析することにより、磁気ヘッド１２１のライトヘッドとリードヘッドの特性を測定することができる。

　この第１読み出し段階は、１トラックの全てのセクタのデータ領域のデータを読み出すまで繰り返す必要はないが、多数読み出した方が精度の高い測定結果が得られる。この第１読み出し段階で読み出し、記憶したセクタを、次の上書き段階（消去段階）で使用する。なお、図示実施例では、図示の全てのセクタについてデータを読み出せたものとする。

　「上書き段階」
　上書き段階では、磁気ヘッド１２１により前記トラックの各セクタのデータ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報と、そのセクタ情報に対応する前記記憶した位置情報とを比較し、これらが一致またはその差が許容範囲内のときにそのセクタのデータ領域に他の信号を書き込む処理を、ハード磁気ディスク１１１が１回転または複数回回転する間繰り返す。複数回繰り返せば、１回目では磁気ヘッド１２１の位置がずれていても、複数回転する間繰り返すことにより、磁気ヘッド１２１の位置が合致するセクタが増加する。図６（Ｂ）には、書き込み段階で書き込まれた輪郭ＬＦＷの上に、この上書き段階で磁気ヘッド１２１が通過した軌跡（輪郭）を符号ＨＦＯＷを付して示してある。

　この上書き段階における他の信号は、低周波信号ＬＦよりも高い周波数の高周波信号ＬＦとする。

　図６（Ｂ）に示した実施例では、３個のセクタナンバ６、７、８において磁気ヘッド１２１の位置が第一の書き込み時の位置と一致し、上書きされていることを示している。

　このように上書きされたセクタナンバ６〜８のデータ領域から、次の第２読み出し段階で信号を読み出す。

　「第２読み出し段階」
　第２読み出し段階では、磁気ヘッド１２１により前記トラックの上書きした各セクタのデータ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報と、そのセクタ情報に対応する前記記憶した位置情報とを比較し、これらが一致またはその差が許容範囲内のときに、そのセクタのデータ領域の信号を読み出す。

　読み出した信号は、パーソナルコンピュータ１６に転送され、記憶される。この記憶した信号の強度に基づいて、上書き特性が分析される。

　ここで読み出した信号には、書き込み段階で書き込んだ低周波信号ＬＦと、上書き段階で書き込んだ高周波信号ＨＦとが混在するが、低周波信号ＬＦを抽出して、抽出した低周波信号ＬＦと第１読み出し段階で読み出した原低周波信号ＬＦの強度を比較する。

　このように本実施形態の試験方法は、磁気ヘッド１２１のトラック追従制御をせず、磁気ヘッドが所定の半径方向位置にあるときだけ読み書き処理を実行するので、ハード磁気ディスクの精度、磁気ヘッドの追従精度を超えた高精度の測定試験が可能になる。

　この実施形態では、磁気ヘッド１２１により書き込み、読み出ししたときの位置情報ＰＳを記憶し、書き込み処理の時の位置と一致または許容範囲内のときにその後の読み下記処理を実行したが、他の実施形態では、書き込み、読み出しするときの位置情報を予め設定しておいて、設定した位置情報が得られたセクタのみ書き込み、読み出しする。この他の構成によれば、読み書きの際に位置情報ＰＳを記憶しなくてもよい。この場合、前記書き込み段階では、ハード磁気ディスク１１１が複数回回転する間、書き込み処理を繰り返すことにより、多数のセクタについて書き込みが可能になる。さらに、ハード磁気ディスク１１１が１回転または複数回回転する毎に、磁気ヘッド１２１を半径方向に所定ステップ単位で移動させると、より多数のセクタについて書き込むことが可能になる。

　次に、本発明の試験方法を利用して、サイドイレース処理を実行し、マイクロトラックプロファイルとよばれる、より幅狭のトラック形成をすることができる。その一例を、図７を参照して説明する。

　先ず、オーバーライト試験で実施した書き込み処理等により、１トラックに書き込み処理を実行する。つまり、磁気ヘッド１２１を所定半径位置まで移動させて、磁気ヘッド１２１により読み出した位置情報を記憶しながらそのセクタのデータ領域に書き込み処理を実行するか、読み出した位置情報が基準値または所定範囲内であったセクタの、そのセクタのデータ領域に書き込み処理を実行する。このデータ領域の輪郭を、図７の（Ａ）に符号ＬＦＷを付して示した。この図は、データ領域を直線上に延ばして図の上下方向に配置したもので、図の左側が外周、右側が内周に相当する。

　次に、このデータ領域に書き込んだときの半径方向書き込み位置を基準位置として、基準位置よりも所定値外周（図では左側）の複数位置、および所定値内周（図では右側）の複数位置を設定して、各位置に磁気ヘッド１２１を移動し、読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタについてのみ、そのセクタのデータ領域を消去する、サイドイレース処理を実行する。

　図示実施例では、先ず、図における最外周位置（ａ）において読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタのみ、そのセクタのデータ領域に対して消去処理を実行する。その後、この最外周位置（ａ）よりも内周側の位置を設定してこの位置（ｂ）に磁気ヘッド１２１を移動し、この位置（ｂ）において読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタのみ、そのセクタのデータ領域に対して消去処理を実行する。

　次に、磁気ヘッド１２１を図の最内周位置（ｃ）に移動させて、その位置で読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタのみ、そのセクタのデータ領域に対して消去処理を実行し、さらにこの最内周位置（ｃ）よりも外周側の位置（ｄ）を設定してその位置に磁気ヘッド１２１を移動し、この位置において読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタのみ、そのデータ領域に対して消去処理を実行する。

　このように、データ領域に書き込んだときの磁気ヘッド１２１の位置を基準位置として、基準位置から最も離反した最外周位置および最内周位置から段階的に基準位置方向に移動しながら消去処理を繰り返すことにより、幅狭のマイクロトラック輪郭ＬＦＷ₀が形成される。

　図示実施例では、トラック輪郭ＬＦＷの外周および内周をそれぞれ、２段階に消去しているが、その段数、各段における移動幅は実施例に限定されない。

　また本発明のサイドレース処理の別の実施形態では、磁気ヘッドにより読み出した位置情報が所定位置情報と一致しまたは許容範囲内のときに書き込み処理を実行し、その後の消去処理は、この所定位置情報を基準として所定値外周側または内周側のときに消去処理を実行する構成にしてもよい。

　このサイドイレース処理により、トラックの外周側および内周側が消去され、幅狭のトラックを正確に形成できる。図７（Ｂ）には、このサイドイレース処理によって形成されたマイクロトラック輪郭ＬＦＷ₀のマイクロトラックプロファイルを示していて、横軸は半径方向、縦軸は出力を示している。また、破線は、トラック輪郭ＬＦＷのトラックプロファイルを示している。

　また、本発明の試験方法は、オーバーライト試験、トラックプロファイル試験や、狭小トラックの形成に使用できる。各試験においても、前記書き込み段階、第１読み出し段階、上書き段階、第２読み出し段階のいずれかと、さらに磁気ヘッドを半径方向に所定ピッチで移動する段階とを組み合わせることで容易に実現できる。

　さらに本発明の試験方法は、ビットエラーレート試験にも適用できる。このビットエラー試験では、前記移動段階および消去段階を経た後に次の段階を備える。ます、磁気ヘッド１２１により、前記目標トラックの各セクタのデータ領域に所定の符号化デジタル信号を書き込む処理を、データ面埋め込み位置情報を読み出して記憶しながら、磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返し（書き込み段階）、その後、磁気ヘッド１２１により前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域から前記符号化デジタル信号を読み出す処理を前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す（読み出し段階）。

　この読み出し段階では、全セクタまたは選択されたセクタについて前記読み出した位置情報を記憶しながら実行する。

　以上の実施の形態の説明では、１個の磁気ヘッドについての試験として説明したが、複数の磁気ヘッドが装着されるヘッドスタックアセンブリにも適用できる。この場合は複数のハード磁気ディスクを備え、各ハード磁気ディスクのデータ記録面および磁気ヘッド毎に以上の試験方法を実施する。また、図示実施形態では磁気ヘッド１２１の試験としたが、磁気ヘッドを基準磁気ヘッドに代えて、ハード磁気ディスクの試験に適用することも可能である。

本発明のハード磁気ディスクドライブ用の磁気ヘッド試験方法を適用する試験システムの実施の形態の概要をブロックで示す図である。同試験システムのフォーマットコントローラの主要構成の一実施例をブロックで示す図である。同試験システムのスピンスタンドの実施形態の概要を示す図である。同ハード磁気ディスクのフォーマットの一例を示す図である。同ハード磁気ディスクのセクタを読み出すタイミングチャートを示す図である。本実施形態の試験方法による読み書き状態を、円弧状のトラックを直線状に延ばし、磁気ヘッドのトレース軌跡として模式的に示した図であり、（Ａ）は書き込み時の軌跡を、（Ｂ）は読み出し時または上書き時の軌跡を示している。本実施形態の試験方法によるサイドイレース処理を説明する図であって、（Ａ）はトラックの輪郭を示し、（Ｂ）はマイクロトラックプロファイルを示している。

符号の説明

　１１　スピンスタンド
　１２　ＦＥＥ
　１２ａ　プリアンプ
　１２ｂ　書き込みドライバ
　１３　サーボコントローラ
　１４　フォーマットコントローラ
　１５　リード／ライトアナライザー
　１６　パーソナルコンピュータ
　２１　ＳＳＭサーチ回路
　２２　ＳＩＤリード回路
　２４　ＰＳジェネレータ
　２６　ＰＳメモリ
　２７　クロック・タイミングコントローラ
　１１１　ハード磁気ディスク
　１１４　サスペンション
　１１５　取り付け部材
　１１７　Ｘ-Ｙテーブル
　１１９　ピエゾアクチュエータ

Claims

トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、
　前記磁気ヘッドにより、前記目標トラックのセクタについて前記データ面埋め込み位置情報を読み出して該読み出した位置情報が所定値または所定範囲内であったセクタのデータ領域に所定の信号を書き込みまたは該セクタのデータ領域から信号を読み出す段階と、を含むことを特徴とするハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報を記憶するとともに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域の信号を読み出して記憶する処理を、前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第１読み出し段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域に他の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す上書き段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記上書きした各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域の信号を読み出す処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第２読み出し段階と、を含むことを特徴とするハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域の信号を読み出して記憶する処理を、前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第１読み出し段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のときに該セクタのデータ領域に他の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す上書き段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記上書きした各セクタの前記データ面埋め込み位置情報を読み出しながら、該読み出した位置情報が所定値または許容範囲内のセクタのデータ領域の信号を読み出す処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す第２読み出し段階と、を含むことを特徴とするハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ領域に、所定の符号化デジタル信号を書き込む処理を、データ面埋め込み位置情報を読み出して記憶しながら、１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの位置情報と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域から前記符号化デジタル信号をデータエラー検出のために読み出す処理を前記磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す読み出し段階と、を含むことを特徴とするハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
前記読み出し段階では、全セクタまたは選択されたセクタについて前記読み出した位置情報を記憶しながら実行する請求項４記載のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
前記書き込み段階では低周波数で前記所定の信号を書き込み、前記上書き段階では高周波数で前記他の信号を上書きする請求項２または３記載のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
前記書き込み段階の前に、該磁気ヘッドにより目標トラックを含む所定範囲内の全てのまたは選択されたセクタのデータ領域を消去する消去段階を含む請求項１から６のいずれか一項記載のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの試験方法。
トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を有し、所定回転速度で定速回転しているハード磁気ディスクに対して近接浮上状態で保持される磁気ヘッドを、該ハード磁気ディスクの所定の目標トラックまで移動させる段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記目標トラックの各セクタ毎にデータ面埋め込み位置情報を読み出し、該読み出した位置情報を記憶するとともに該セクタのデータ領域に所定の信号を書き込む処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す書き込み段階と、
　前記磁気ヘッドを、前記記憶した位置情報を基準位置として該基準位置よりも所定量半径方向外周位位置または内周位置に移動する移動段階と、
　前記磁気ヘッドにより前記各セクタから前記データ面埋め込み位置情報を読み出して、該読み出した位置情報が前記記憶した対応するセクタの基準位置より所定量半径方向外周位置または内周位置と一致する場合または許容範囲内の差の場合に該セクタのデータ領域を消去する処理を、前記ハード磁気ディスクが１回転または複数回回転する間繰り返す消去段階と、を含むことを特徴とするハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの書き込み／消去方法。
前記移動段階および消去段階において、前記外周側の位置よび内周側の位置はそれぞれ異なる複数の位置が設定されていて、各設定された前記外周側および内周側の位置について、最外周側の位置および最内周側の位置から逐次基準位置に近づく位置について前記移動段階および消去段階を繰り返す請求項８記載のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの書き込み／消去方法。
前記書き込み段階の前に、該磁気ヘッドにより目標トラックを含む所定範囲内の全てのまたは選択されたセクタのデータ領域を消去する消去段階を含む請求項８または９記載のハード磁気ディスクまたは磁気ヘッドの書き込み／消去方法。