JP2001266505A

JP2001266505A - 汎用型ヘッド媒体評価装置及び記録媒体

Info

Publication number: JP2001266505A
Application number: JP2000079427A
Authority: JP
Inventors: Takahisa Ueno; 隆久上野
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2000-03-22
Filing date: 2000-03-22
Publication date: 2001-09-28

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は汎用型ヘッド媒体評価装置及び記録媒
体に関し、人手や時間をかけずに、常に良好な評価がで
きるようにして、測定の信頼性を向上させる。【解決手段】ＵＤＴの信号伝達系を構成するＵＤＴ要素
毎の周波数特性を、該ＵＤＴ要素毎に記憶しておく不揮
発性メモリ１８を備えると共に、システム制御部１２
は、不揮発性メモリ１８からＵＤＴ要素毎に周波数特性
を読み出して、システム全体の周波数特性を求め、シス
テム全体の周波数特性を基に、与えられたアルゴリズム
に従って測定限界を設定し、画面に表示してオペレータ
等に提示する機能を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
等において、情報の書込み／読込みを行うために使用さ
れる各種のヘッドと媒体（ディスク）の特性を、設計及
び製造過程で評価する汎用型ヘッド媒体評価装置及び記
録媒体に関する。近年、汎用型ヘッド媒体評価装置（以
下「ＵＤＴ」とも記す）が使われているが、この装置に
対し、次のようなことが要望されていた。

【０００２】：ＵＤＴにおいて、ＵＤＴ機種間、又は
同一機種の号機間でのシステム全体の周波数特性のバラ
ツキに応じて、測定限界をオペレータが把握できるよう
にすることが望まれている。この場合、ＵＤＴ要素は、
通常、回路素子としてのバラツキを持っている。回路の
限界を目指す現状では、回路のバラツキを調整し、ＵＤ
Ｔ間で特性を合わせることは難しい。

【０００３】また、測定目的により、頻繁にシステムの
一部（例えば、ヘッドＩＣ）を交換する場合があり、そ
の都度、再調整を行うことは時間の浪費を招く。従っ
て、システムを構成するＵＤＴ要素に応じた測定限界
が、構成を変更した際にオペレータに明確に示されるＵ
ＤＴが望まれていた。

【０００４】：ＵＤＴ間の周波数特性のバラツキに応
じてＵＤＴ間で測定結果に違いが生じさせないことが望
まれている。この場合、ＵＤＴのシステム構成や号機間
で、ＵＤＴ要素の周波数特性に差異があっても、システ
ム全体が同じ周波数特性による測定結果となることが望
まれていた。

【０００５】：ＵＤＴでは、測定媒体の寸法に応じ
て、媒体取り付けハブを交換する必要があるが、交換に
際し、スピンドルスタンドのマスバランスが崩れてしま
う可能性がある。マスバランスの測定と調整は手間が掛
かるので、測定器なしで、マスバランスが許容レベル以
内かを簡単に判断できるようにすることが望まれていた
（判断結果が悪い場合に限り、マスバランス調整を行
う）。

【０００６】：ＵＤＴは、精密モータで、ヘッド／ア
ームを支える移動ステージ全体を微小ピッチで移動させ
る。精密モータには、超音波モータや、エアー浮上型モ
ータ等の、移動後は駆動力を切ることで、駆動力による
振動を除去するシステムを用いることが多い。これらの
モータは、位置決め精度が劣化してもリトライにより目
標位置に到達すれば測定精度は保たれる。

【０００７】しかし、評価における移動ステージの移動
頻度が高いため、モータへの負荷が大きくなり、性能劣
化を招きやすい。従って、経時変化に応じて制御方式を
変化させる必要がある。また、精密位置決めによる測定
のため、たまたま発生する位置誤差を効率良く処理する
リトライ制御が望まれていた。

【０００８】：ＭＲヘッドでは、本来磁化状態が特定
の方向に揃っていなければならない層の磁化方向が反転
する現象（以下、「ピン層反転」と記す）がある。測定
時にピン層反転が生じていると、正確な測定が行なえ
ず、ピン層反転を認識する機能が望まれていた。

【０００９】

【従来の技術】以下、従来例を説明する。

【００１０】§１：従来例の説明（その１）図５は従来例の説明図である。従来、磁気ディスク装置
には情報を記録するための磁気ディスク（以下「媒体」
と記す）や、前記媒体に対して情報の書込み／読込み
（ライト／リード）を行うための書込み／読込みヘッド
（ライト／リードヘッド）等が設けられていた。このよ
うなヘッドや媒体は、その性能等を磁気ディスク装置の
設計、および製造過程で評価する必要があり、そのた
め、汎用型ヘッド媒体評価装置（以下「ＵＤＴ」と記
す）が使用されていた。

【００１１】このＵＤＴ（ＵＤＴ：Universal Disk Tes
ter ）による評価において、ヘッドと媒体を別々に評価
したのでは、実際の磁気ディスク装置に搭載した場合と
異なる評価結果となるため、ヘッドと媒体を一組にして
（以下、ヘッドと媒体を一組としたものを「ヘッド媒
体」と記す）評価していた。

【００１２】前記ＵＤＴは、図５に示したように、スピ
ンドル機構１と、該スピンドル機構１に取り付けられた
媒体２と、ヘッド３と、前記ヘッド３を取り付けたスラ
イダ４と、前記スライダ４を取り付け、移動可能に構成
された移動ステージ５と、制御装置６を備えている。

【００１３】スピンドル機構１は制御装置６の制御によ
り駆動され、媒体２を回転駆動するものである。また、
移動ステージ５は制御装置６の制御により移動可能に構
成され、この移動ステージ５の移動によりヘッド３を移
動させるものである。ヘッド３は、前記移動ステージ５
の移動により媒体２上の指定されたトラックへ位置づけ
され、媒体２に対して、情報の書込み／読込み（ライト
／リード）を行うものである。

【００１４】制御装置６は移動ステージ５の移動制御を
行い、ヘッド３を介して媒体２に対し、情報の書込み／
読込みの制御を行うと共に、前記書込み／読込みにより
得られたデータを基にヘッド媒体の評価を行うものであ
る。この場合、ＵＤＴは、汎用性と評価設備の性格上、
各種の評価対象に対し、装置実装状態以上の評価能力を
要求され、それを満足するように設計、製造されてい
る。

【００１５】ヘッド媒体の評価を行う場合、ヘッド３と
媒体２を交換しながら（取り外し自在である）、ＵＤＴ
により順次試験を行い、ヘッド媒体の特性の評価を行
う。この場合、制御装置６の制御により移動ステージ５
を移動させてヘッド３の位置決め制御を行うが、制御装
置６の位置決め制御はオープン制御であり、クローズ制
御は行わない。

【００１６】そして、制御装置６の制御により媒体２に
対し、ヘッド３を介して情報の書込み／読込みを行い、
評価時のデータを取得する。そして、制御装置６におい
て、前記得られたデータを基にヘッド媒体の評価を行
う。

【００１７】§２：従来例の説明（その２）以下、前記ＵＤＴにおける評価の具体例を説明する。

【００１８】：予め、ＵＤＴ号機間のシステム全体の
周波数特性を評価して、測定条件を決めている。この場
合、システム全体の周波数特性を再評価する手間を無く
すため、初回のシステム全体の評価結果を基に、回路の
バラツキを見越してマージンを持たせた測定条件を決め
ており、ヘッドＩＣ等のＵＤＴ要素を交換する際に再度
周波数特性を評価することは行わない。

【００１９】この場合、周波数特性に関する再評価は行
なわないが、システムゲインの調整は行い、測定精度を
維持している。但し、ＵＤＴの測定能力の上限まで使用
して測定を行う必要があれば、手間がかかっても交換す
るＵＤＴ要素に応じてシステム全体の周波数特性を評価
して、測定条件を決めている。

【００２０】：ＵＤＴの周波数特性に応じて測定結果
を補正することは行っていない。ＵＤＴの周波数特性に
従って測定し、その制限範囲以内での測定を行うのみで
ある。

【００２１】：スピンドル機構１の振動評価は、マス
バランス測定器を使用している。位置決め精度が悪化す
るなど、スピンドルの振動が原因と考えられる状態を発
現した際、マスバランス測定器を設置し、評価と再調整
を行っている。

【００２２】：移動ステージ５のリトライ条件は、一
律の設定を適用している。位置誤差が所定の許容誤差を
超えた場合リトライを行っている。

【００２３】：ＭＲヘッドにおけるピン層反転は、測
定結果のダイビット波形を人が観測して判断を行ってい
る。

【００２４】

【発明が解決しようとする課題】前記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。

【００２５】(1) ：前記に関しては、現在、測定限界
まで使用して測定を行うことが必要となっている。その
ため、ヘッドＩＣ等のＵＤＴ要素を交換、又は変更する
際、再度システム全体の評価を行う必要があるが、これ
らの一連の作業は手間と時間がかかる。他方、回路のバ
ラツキを完全に無くすことはできない。すなわち、複数
の調整手段を設けることで、バラツキを減らすことは可
能であるが、その調整に要する手間と時間がかかり過ぎ
るため、実用的とは言えない。

【００２６】(2) ：前記に関しては、前記と同様
に、ＵＤＴ要素の周波数特性を動的に把握する手段と、
その情報によりシステム全体の周波数特性を把握する手
段を設け、その周波数特性を基に、測定値に補正をかけ
る手段が必要である。従って、手間と時間がかかり過ぎ
るため、実用的とは言えない。

【００２７】(3) ：前記に関しては、マスバランスの
測定と調整を行うことは、手間と時間がかかる。すなわ
ち、マスバランスの測定と調整は、マスバランスが崩れ
た場合に必要となるもので、簡単な方法でマスバランス
が崩れたか否かを判断する手段が望まれている（マスバ
ランスが崩れていると判断された場合に限り、マスバラ
ンスの再測定と再調整を行う）が、実現できていない。

【００２８】なお、マスバランス測定器を使用せず、現
状の機能を拡張する程度（制御ソフトウェアの改造程
度）で、スピンドルの振動状態を把握することが必要で
あるが、実現は難しい。

【００２９】(4) ：前記に関しては、システムが最適
なリトライ条件を選択できる手段が必要であり、且つ、
システムに不具合があっても、リトライ条件を動的に変
化させて、システム劣化をある程度まで許容して、ＵＤ
Ｔを使用可能な状態に維持する手段が必要であるが、こ
のような手段は提供されていない。

【００３０】(5) ：前記に関しては、ピン層反転を自
動検出して、正確なデータのみ測定できる手段が必要で
あるが、このような手段は提供されていない。

【００３１】本発明は、このような従来の課題を解決
し、人手や時間をかけずに、常に良好な評価ができるよ
うにし、測定の信頼性を向上させることを目的とする。

【００３２】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明は前記の目的を達成するため、次のよ
うに構成した。

【００３３】(1) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
１と、媒体２に対して情報の書込み、読込みを行うヘッ
ド３を移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒体
に対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得ら
れたデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装
置６を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置において、汎用
型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を構成する要素（Ｕ
ＤＴ要素）毎の周波数特性を、前記要素毎に記憶してお
く不揮発性の記憶手段（例えば、不揮発性メモリ１８）
を備えると共に、前記記憶手段から前記要素毎に周波数
特性を読み出して、システム（ＵＤＴシステム）全体の
周波数特性を求める周波数特性演算手段（制御装置６の
一部）と、システム全体の周波数特性を基に、与えられ
たアルゴリズムに従って測定限界を設定し、外部（オペ
レータ等）に提示（例えば、画面に表示）する測定限界
設定手段（制御装置６の一部）を備えている。

【００３４】(2) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
１と、媒体２に対して情報の書込み、読込みを行うヘッ
ド３を移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒体
に対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得ら
れたデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装
置６を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置において、汎用
型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を構成する要素毎の
周波数特性を、前記要素毎に記憶しておく不揮発性の記
憶手段を備えると共に、前記記憶手段から前記要素毎に
周波数特性を読み出して、システム全体の周波数特性を
求める周波数特性演算手段（制御装置６の一部）と、シ
ステム全体の周波数特性から補正データを求め、この補
正データを用いて、システム全体の周波数特性がフラッ
トになるように補正する周波数特性補正手段（制御装置
６の一部）を備えている。

【００３５】(3) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
１と、前記媒体２に対して情報の書込み、読込みを行う
ヘッドを移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒
体に対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得
られたデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御
装置６を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置において、ス
ピンドル機構１の回転速度と移動ステージ５の位置決め
精度の関係を評価して、全回転速度で位置決め精度が目
標値以下になるように、スピンドル機構１のマスバラン
スを調整し、スピンドル機構１の振動を全回転速度で減
少させると共に、前記位置決め精度が目標値を超えた場
合を、スピンドル機構１のマスバランス再調整の指標と
するスピンドル振動評価手段（制御装置６の一部）を備
えている。

【００３６】(4) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
と、前記媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッ
ドを移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒体に
対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得られ
たデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置
を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置において、移動ステ
ージ５の位置決め精度に応じたリトライ条件を、リトラ
イ回転数に応じて動的に変化させることで、位置決め精
度を維持する位置決め精度制御手段（制御装置６の一
部）を備えている。

【００３７】(5) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
１と、前記媒体２に対して情報の書込み、読込みを行う
ヘッドを移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒
体に対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得
られたデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御
装置６を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置において、ダ
イビット波形の書込みに際し、書込み波形の正のピーク
の時間位置に「１」、負のピークの時間位置に「−
１」、その他をゼロとしたウインドウ関数を作り、波形
を読む際に、波形に前記ウインドウ関数を時間方向に走
査しながら掛け合わせて求めた最大値と、前記ウインド
ウ関数に「−１」を掛けたウインドウ関数を同様に波形
に掛け合わせて求めた最大値を比較し、後者が大きい場
合はピン層反転と判定するピン層反転検出手段（制御装
置６の一部）を備えている。

【００３８】(6) ：媒体２を回転させるスピンドル機構
と、前記媒体２に対して情報の書込み、読込みを行うヘ
ッド３を移動させる移動ステージ５と、各種のヘッド媒
体に対し、情報の書込み／読込み制御を行い、その際得
られたデータに基づきヘッド媒体の特性を評価する制御
装置を備えた汎用型ヘッド媒体評価装置に、不揮発性の
記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を
構成する要素毎に周波数特性を読み出して、システム全
体の周波数特性を求める手順と、前記システム全体の周
波数特性を基に、与えられたアルゴリズムに従って測定
限界を設定し、外部（例えば、オペレータ）に提示する
手順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
ータ読み取り可能な記録媒体。

【００３９】（作用）前記構成に基づく本発明の作用を
説明する。

【００４０】(a) ：前記(1) では、周波数特性演算手段
は、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置
の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める。そして、測定
限界設定手段は、システム全体の周波数特性を基に、与
えられたアルゴリズムに従って測定限界を設定し、オペ
レータ等に提示（例えば、ディスプレイ装置の画面に表
示）する。

【００４１】このようにすれば、ＵＤＴ要素を交換する
等、システム条件（周波数特性等）が変化しても、それ
に応じた測定限界をオペレータに提示できるので、適し
ない測定範囲での測定が避けられ、測定の信頼性を向上
できる。

【００４２】(b) ：前記(2) では、周波数特性演算手段
は、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置
の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める。そして、周波
数特性補正手段は、システム全体の周波数特性から補正
データを求め、この補正データを用いて、システム全体
の周波数特性がフラットになるように補正する。

【００４３】このようにすれば、ＵＤＴのシステム条件
（周波数特性等）が変化しても、それに依存しない測定
条件で測定できる。従って、常に同一条件での測定がで
き、測定の信頼性を向上できる。

【００４４】(c) ：前記(3) では、スピンドル振動評価
手段は、スピンドル機構１の回転速度と移動ステージ５
の位置決め精度の関係を評価して、全回転速度で位置決
め精度が目標値以下になるように、スピンドル機構１の
マスバランスを調整し、スピンドル機構１の振動を全回
転速度で減少させる。この場合、前記位置決め精度が目
標値を超えた場合を、スピンドル機構１のマスバランス
再調整の指標とする。

【００４５】このようにすれば、現状のＵＤＴで簡単に
スピンドルの振動を評価できるので、安心して測定がで
き、測定の信頼性を向上できる。

【００４６】(d) ：前記(4) では、位置決め制御手段
は、移動ステージ５の位置決め精度に応じたリトライ条
件を、リトライ回転数に応じて動的に変化させること
で、位置決め精度を維持する。このようにすれば、シス
テムのメカ系が多少劣化しても、リトライ条件の動的変
更により、位置決め精度を好状態に保てるので、測定の
信頼性を向上できる。

【００４７】(e) ：前記(5) では、ピン層反転検出手段
は、ダイビット波形の書込みに際し、書込み波形の正の
ピークの時間位置に「１」、負のピークの時間位置に
「−１」、その他をゼロとしたウインドウ関数を作り、
波形を読む際に、波形に前記ウインドウ関数を時間方向
に走査しながら掛け合わせて求めた最大値と、前記ウイ
ンドウ関数に「−１」を掛けたウインドウ関数を同様に
波形に掛け合わせて求めた最大値を比較し、後者が大き
い場合はピン反転と判定する。このように、ピン層反転
を検出する手段を設けることで、間違った測定を避け、
測定の信頼性を向上できる。

【００４８】(f) ：前記(6) では、汎用型ヘッド媒体評
価装置が記録媒体のプログラムを読み出して実行するこ
とにより、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評
価装置の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読
み出して、システム全体の周波数特性を求める手順と、
システム全体の周波数特性を基に、与えられたアルゴリ
ズムに従って測定限界を設定し、オペレータ等に提示
（例えば、ディスプレイ装置の画面に表示）する手順と
を実行する。

【００４９】このようにすれば、ＵＤＴ要素を交換する
等、システム条件（周波数特性等）が変化しても、それ
に応じた測定限界をオペレータに提示できるので、適し
ない測定範囲での測定が避けられ、測定の信頼性を向上
できる。

【００５０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面に基づいて詳細に説明する。

【００５１】§１：ＵＤＴの説明 (1) ：システム全体の説明図２はＵＤＴの外観図である。以下、図２に基づいてＵ
ＤＴの構成を説明する。図２に示したように、ＵＤＴ
（汎用型ヘッド媒体評価装置）は、媒体（磁気ディス
ク）２を取り付けて回転させるスピンドル機構１と、ヘ
ッド（書込み／読込みヘッド）３を有するスライダ４を
取り付け、移動可能に構成された移動ステージ５と、制
御装置６を備えている。この場合、ヘッド３と媒体２は
取り外し自在となっており、該ヘッド３と媒体２を交換
しながら各種のヘッド媒体について評価ができるように
構成されている。

【００５２】制御装置６には、制御回路１０と、評価回
路１１と、システム制御部１２と、不揮発性メモリ１８
を備え、ヘッド媒体の評価を行うように構成されてい
る。そして、制御回路１０には、媒体２に対する信号書
込み制御を行う信号書込み制御部１３と、媒体２に対す
る信号読込み制御を行う信号読込み制御部１４と、移動
ステージ５に対する移動制御を行うステージ移動制御部
１５と、スピンドル機構１に対する回転制御を行うスピ
ンドル回転制御部１６が設けてある。

【００５３】評価回路１１は、例えば、ＤＳＰ（ディジ
タル・シグナル・プロセッサ）を備え、このＤＳＰによ
り、制御回路１０の制御で、ヘッド３を介して媒体２に
信号を書込んだり、読込んだデータからヘッド媒体の評
価を行うものである。

【００５４】システム制御部１２は、パーソナルコンピ
ュータ、或いはワークステーション等のコンピュータ等
により構成され、システム全体の制御を行うものであ
る。この場合、システム制御部１２は、制御回路１０、
評価回路１１、不揮発性メモリ１８に対する各種の制御
を行うものである。

【００５５】スピンドル機構１は、制御回路１０からの
制御信号に基づき、媒体２を指示された通りに回転駆動
するものである。移動ステージ５は、制御装置６からの
制御信号により移動可能に構成され、この移動ステージ
５の移動によりヘッド３の位置決めを行うものである。
ヘッド３は、移動ステージ５の移動により媒体２上の指
定されたトラックへ位置づけされ、媒体２に対して、信
号の書込み／読込み（ライト／リード）を行うものであ
る。

【００５６】前記構成のＵＤＴは、汎用性と評価設備の
性格上、各種の評価対象に対し、装置実装状態以上の評
価能力を要求され、それを満足するように設計、製造さ
れている。前記ＵＤＴでヘッド媒体の評価を行うには、
制御回路１０の制御により、移動ステージ５を移動させ
てヘッド３の位置決め制御を行う。この時、制御回路１
０の制御はオープン制御であり、クローズ制御は行わな
い。

【００５７】そして、制御回路１０の制御により媒体２
に対し、ヘッド３を介して情報の書込み／読込み（ライ
ト／リード）を行い、評価時のデータを取得する。そし
て、評価回路１１において前記得られたデータを基に、
ヘッド媒体の特性の評価を行う。なお、評価情報の一部
はディジタル化されてシステム制御部１２にて処理す
る。また、読み出されたヘッド信号等は、ディジタル化
されてシステム制御部１２に転送され、該システム制御
部１２上で評価される。

【００５８】(2) ：信号読み取り側の説明図３はＵＤＴのリード系ブロック図である。前記ＵＤＴ
の信号読み取り側には、ヘッド３に接続されたヘッドＩ
Ｃ２１と、前記ヘッドＩＣ２１の出力を増幅するプリア
ンプ２２と、前記プリアンプ２２の出力を増幅するメイ
ンアンプ２３と、前記メインアンプ２３の出力をディジ
タル信号に変換するＡＤＣ（アナログ／ディジタルコン
バータ）２４等が設けてあり、該ＡＤＣ２４でディジタ
ル化した信号をシステム制御部１２に取り込むように構
成されている。なお、前記ヘッドＩＣ２１、プリアンプ
２２、メインアンプ２３、ＡＤＣ２４は、ＵＤＴ要素で
ある。

【００５９】§２：ＵＤＴの評価の概要説明前記ＵＤＴの評価の概要は次の通りである。

【００６０】(1) ：ＵＤＴには、ＵＤＴの信号伝達系を
構成するＵＤＴ要素毎の周波数特性を、前記ＵＤＴ要素
毎に記憶しておく不揮発性の記憶手段（フラッシュメモ
リや電池でバックアップしたＲＡＭ等の不揮発性メモリ
１８、ハードディスク装置等）を備えると共に、前記記
憶手段から前記ＵＤＴ要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める手段と、システ
ム全体の周波数特性を基に、与えられたアルゴリズムに
従って測定限界を設定し、オペレータ等に提示する手段
を備える。

【００６１】例えば、システム制御部（例えば、パーソ
ナルコンピュータ）１２が、前記記憶手段からＵＤＴ要
素毎の周波数特性を読み出し、その個々の周波数特性の
情報より、ＵＤＴシステム全体の周波数特性を演算して
求める。そして、ＵＤＴシステム全体の周波数特性よ
り、オペレータから与えられたアルゴリズムに従って、
測定限界を設定し、オペレータに明示できるようにす
る。

【００６２】この場合、前記ＵＤＴ要素毎の周波数特性
の情報は、計算式（近似式）又は、スペクトラム情報
（ゲインと位相、又は複素系フーリエ係数）又は、帯域
制限情報、例えば、フラットネス帯域、通常の帯域（例
えば、−３ｄＢダウン）で保持する。また、システム全
体の周波数特性から求めたフラットネス帯域を、測定す
る信号書込み周波数の上限とする。更に、前記システム
全体の周波数特性から求めた帯域を、ノイズ測定帯域の
上限とする。

【００６３】このようにすれば、ＵＤＴ要素を交換する
等、システム条件（周波数特性）が変化しても、それに
応じた測定限界を提示できるので、適しない測定範囲で
の測定は避けられ、測定の信頼性を向上できる。

【００６４】(2) ：ＵＤＴに、ＵＤＴの信号伝達系を構
成する要素毎の周波数特性を、前記要素毎に記憶してお
く不揮発性の記憶手段を備えると共に、前記記憶手段か
ら前記要素毎に周波数特性を読み出して、システム全体
の周波数特性を求め、前記システム全体の周波数特性か
ら補正データを求め、この補正データを用いて、システ
ム全体の周波数特性がフラットになるように補正する手
段を備える。

【００６５】この場合、周波数特性の補正処理はシステ
ム制御部１２が行うが、この処理では、信号波形をＡ／
Ｄ変換器でディジタル信号に変換してシステム制御部１
２に取り込んだ測定値（時間領域のディジタル値）に、
離散フーリエ変換を行い周波数領域に変換する。次に、
周波数領域で周波数特性の補正計算を行なった後、その
結果に離散逆フーリエ変換を行なって時間領域に再生し
た信号波形より測定項目を算出する。また、前記周波数
特性の補正を行う周波数領域の範囲を、書込み信号上
限、又は、ノイズ測定上限に限定する。

【００６６】このようにすれば、ＵＤＴのシステム条件
（周波数特性）が変化しても、それに依存しない測定条
件で測定できる。従って、常に同一条件での測定が行
え、測定の信頼性を向上できる。

【００６７】(3) ：ＵＤＴに、スピンドル機構１の回転
速度と移動ステージ５の位置決め精度の関係を評価し
て、全回転速度で位置決め精度が目標値以下になるよう
に、スピンドル機構１のマスバランスを調整し、スピン
ドル機構１の振動を全回転速度で減少させると共に、前
記位置決め精度が目標値を超えた場合を、スピンドル機
構１のマスバランス再調整の指標とする手段を備える。

【００６８】すなわち、マスバランスが崩れるとスピン
ドル機構１が振動する。スピンドル機構１が振動する
と、ヘッド／アームの移動ステージ５はメカ共振を起こ
し、位置決め精度を悪化させる。このため、移動ステー
ジ５の位置決め精度の評価からスピンドル機構１の振動
を間接的に評価する手段を設ける。

【００６９】また、メカ共振が最大となる周波数（スピ
ンドル機構１の回転速度）では、位置決め誤差の振れ幅
は大きくなり、スピンドル機構１の振動が検知し易くな
ることから、メカ共振が最大となるスピンドル回転速度
でマスバランスの調整を行う手段を設ける。このように
すれば、現状のＵＤＴシステムで簡単にスピンドル機構
１の振動を評価できるので、安心して測定を行え、測定
の信頼性を向上できる。

【００７０】この場合、移動ステージ５の機構部に共振
を起こさせるスピンドル回転速度にて、位置決め精度が
目標値以下になるように、スピンドル機構５のマスバラ
ンスの調整を行うことにより、感度良くマスバランスの
調整を行うことができる。なお、マスバランスは、スピ
ンドル機構５の振動をハウジングを介して測定し、その
振動の加速度を二重積分して求めた変位の変化分がゼロ
になるように調整する。

【００７１】また、前記の場合、移動ステージ５の機構
部に共振を起こさせるスピンドル回転速度の内、共振に
よる位置決め精度の劣化が最大のスピンドル回転速度で
マスバランス調整を行う。

【００７２】(4) ：ＵＤＴに、移動ステージ５の位置決
め精度に応じたリトライ条件を、リトライ回転数に応じ
て動的に変化させることで、位置決め精度を維持する手
段を備える。すなわち、移動ステージ５のリトライ条件
を動的に変化させて、システム全体の状態悪化にある程
度応じられる手段を設ける。この場合、リトライ回数に
応じて許容誤差を変化させる手段を設ける。このように
すれば、システムのメカ系が多少劣化しても、リトライ
条件の動的変更により、位置決め精度を好状態に保てる
ので、測定の信頼性を向上できる。

【００７３】なお、前記リトライ条件とは、位置決め動
作を終了するか、再度、位置決めを行うかを判定するた
めの位置誤差の許容値等の条件である。例えば、位置を
ディジタル値で発生する位置センサを用いたフィードバ
ック制御を行う方式の場合は、位置センサの分解能（ス
テップ）の整数倍で位置決め許容誤差を設定し、且つ、
許容誤差を超えた場合にリトライを発生させる。そし
て、指定した回数（ゼロ設定回数）までは、許容誤差を
ゼロに設定し、その回数以降は、許容誤差をゼロ以外に
設定する。

【００７４】更に、リトライ回数が所定の回数（エラー
設定回数）を超えたら移動エラーを発生させる。なお、
前記ゼロ設定回数は、１、又は２、又はエラー設定回数
の比例回数（１／２倍、１倍など）を移動ステージ５の
位置決め精度より選択する。また、システムの現在の位
置決め精度の能力に応じて、ゼロ設定回数を、位置決め
精度が良好な状態から１を選択し、次に２を選択し、移
動ステージ５に不具合があっても、ＵＤＴを起動させな
ければならない場合比例回数を設定する。

【００７５】また、経年変化（寿命）に伴う移動ステー
ジ５の位置決め精度の劣化に応じて、ゼロ設定回数を１
→２→比例回数と変化させる。劣化の判定は、リトライ
発生回数をモニタして、その頻度を判定することで行
う。

【００７６】(5) ：ＵＤＴに、ダイビット波形の書込み
に際し、書込み波形の正のピークの時間位置に「１」、
負のピークの時間位置に「−１」、その他をゼロとした
ウインドウ関数を作り、波形を読む際に、波形に前記ウ
インドウ関数を時間方向に走査しながら掛け合わせて求
めた最大値と、前記ウインドウ関数に「−１」を掛けた
ウインドウ関数を同様に波形に掛け合わせて求めた最大
値を比較し、後者が大きい場合はピン層反転と判定する
手段を備える。

【００７７】すなわち、ＭＲヘッドを使用した場合にお
けるピン層反転により生じるダイビット波形の極性反転
を、パターンマッチングで検出する手段を設ける。この
ようにピン層反転を検出する手段を設けることで、間違
った測定を避け、測定の信頼性を向上できる。

【００７８】§３：具体的な評価処理の説明以下、各例毎の具体的な評価処理を説明する。

【００７９】（例１）例１は、システム全体の周波数特
性から測定限界を設定し、制限する例である。図３に示
したように、周波数特性に関わる回路ブロックをＵＤＴ
要素単位（ヘッドＩＣ２１、プリアンプ２２、メインア
ンプ２３、ＡＤＣ２４）で分け、予め、ＵＤＴ要素毎に
周波数特性を測定し、その周波数特性の情報をＵＤＴ要
素毎に区別して不揮発性メモリ１８に記憶しておく。

【００８０】この場合、ＵＤＴ要素毎の周波数特性は、
ＵＤＴではなく、他の測定器を使用して測定し、その測
定データを、要素毎に区別して不揮発性メモリ１８に記
憶させておく。なお、前記不揮発性メモリ１８を配する
余地が得られない場合は、前記不揮発性メモリ１８の代
わりに、情報ファイル（例えば、システム制御部１２に
設けたハードディスク装置の記憶媒体上のファイル）を
用いる。

【００８１】システム制御部１２は、不揮発性メモリ１
８（又は、システム制御部１２に設けたハードディスク
装置）から、各ＵＤＴ要素の周波数特性を読取り、演算
して（掛け算）して、システム全体の周波数特性を算出
する。この周波数特性を基に、測定限界を設定する。例
えば、図３のＵＤＴ要素の周波数特性をそれぞれ、

【００８２】

【数１】

【００８３】とすれば、システム全体の周波数特性は、

【００８４】

【数２】

【００８５】として求められる。

【００８６】通常では、評価信号を書込んで測定する場
合は、システム全体の周波数特性のフラットネスが成り
立つ範囲で信号を書込むようにする。つまり、フラット
ネスの上限を測定信号の上限とする。また、ノイズ測定
は、その測定上限をシステム帯域（−３ｄＢダウン）ま
でとする。なお、これらの設定は一例であり、オペレー
タの評価基準に応じて任意に決定しても構わない。

【００８７】（例２）例２は、システム全体の周波数特
性からフラットネスを補正する例である。前述と同様に
して、システム全体の周波数特性を算出し、それより、
補正用周波数特性を算出する。この補正用周波数特性
は、前記システム全体の周波数特性の逆特性、又は、フ
ラットネス或いは帯域まで等範囲を限定した領域での前
記システム全体の周波数特性の逆特性として求める。す
なわち、

【００８８】

【数３】

【００８９】帯域制限を行う場合には、

【００９０】

【数４】

【００９１】測定に際し、測定結果と補正用周波数特性
を離散フーリエ変換して周波数領域に変換し、周波数領
域で測定結果と掛けて周波数特性の補正を行ない、更
に、離散逆フーリエ変換を行なって、元の時間領域の信
号波形に戻す。この際、測定に不要な高域成分などは、
周波数領域の計算の際に除去する。この場合、必要な周
波数帯域までのスペクトル成分（フーリエ変換値）で計
算を実施するが、除去すべき周波数成分に対応するフー
リエ係数はゼロにすれば良い。

【００９２】補正後の信号波形を用いて、従来と同様の
評価を行う。帯域制限フィルタは、

【００９３】

【数５】

【００９４】のフーリエ係数をＸ（ｉ）（但し、ｉ＝０
ｔｏＮ）とすると、帯域がＦｃの時、サンプリング
をＦｓとすれば、帯域制限の上限Ｎｃは、Ｎｃ＝Ｎ×Ｆ
ｃ／Ｆｓと表され、Ｘ（ｉ）＝１（但し、ｉ＝０ｔｏ
Ｎｃ）、Ｘ（ｉ）＝０（ｉ＝Ｎ_c+1ｔｏＮ）で示す
ことができる。なお、求める結果がスペクトラムの場合
は、周波数領域で求めた結果をそのまま使用し、時間領
域に戻す必要はない。なお、前記フーリエ変換に使用す
る計算式は次の通りである。

【００９５】

【数６】

【００９６】

【数７】

【００９７】（例３）例３は、スピンドル機構１の振動
状態を移動ステージ５の位置決め精度で評価する例であ
る。スピンドル機構１にアンバランス等が生じるとスピ
ンドル機構１は振動する。移動ステージ５は、スピンド
ル機構１の振動を受けて、位置決め精度が劣化する。特
に、スピンドル機構１と移動ステージ５がメカ共振を起
こすと位置決め精度は大幅に劣化する。従って、位置決
め精度を評価することで間接的にスピンドル機構１の振
動を評価できる。

【００９８】また、スピンドル機構１の回転速度を変化
させてメカ共振が顕著な周波数で評価することで、メカ
共振が無い場合に比べて評価値が拡大され評価し易くな
る。すなわち、測定ゲインが上がったように見える。位
置決め精度を評価することにより、スピンドル機構１の
振動を間接的に把握できる。但し、位置決め精度からス
ピンドル機構１の振動の大きさの絶対値を把握するのは
容易ではない。

【００９９】従って、位置決め精度が所定のレベル以内
であれば、正常と判断してヘッド媒体の測定を行ない、
所定のレベル以上であれば、異常と判断して、スピンド
ル機構１のマスバランスの再調整を行う。再調整を行な
っても位置決め精度が向上しない場合は、スピンドル機
構１の振動以外の原因（移動ステージ５のモータの故
障）と判断できる。なお、前記所定のレベルについて
は、ヘッド媒体の測定に支障の無い位置決め精度、或い
は、移動ステージ５が保証する位置決め精度を満たして
いれば良い。

【０１００】測定方法としては、先ず、スピンドル機構
１の回転速度を変えながら、位置決め精度を測定するた
めのプログラムを作成し、このプログラムにより測定を
行う。一般に、ＵＤＴのシステム制御部１２では、スピ
ンドル機構１の回転速度を設定したり、位置誤差情報を
把握するように構成されているので、現行のソフトウェ
アを改造するだけで対処できる。なお、通常は、ハード
ウェアの改造は不要となり、簡単に本発明を適用でき
る。

【０１０１】次に、スピンドル機構１の回転速度を変え
ながら、位置決め精度を評価し、位置決め精度が最大に
劣化する回転速度を求め、その回転速度でスピンドル機
構１のアンバランス調整を行い、振動の減少を図る。メ
カ共振により振動が強調されるので評価し易い。

【０１０２】一方、回転速度に依存せず、位置決め精度
が良好であれば、安心してそのＵＤＴを評価に使用すれ
ば良い。なお、システムの使用条件が限られる場合（特
定の回転速度しか使用しない場合）は、その条件で位置
決め精度が良ければ使用可能であるので、特定の回転速
度で位置決め精度を評価しても構わない。但し、アンバ
ランス調整はメカ共振を起こす回転速度で行うのが、よ
り測定精度向上につながる。

【０１０３】（例４）例４は、移動ステージ５の状態に
応じて、リトライ条件を変えて位置決め精度を維持する
例である。目標位置への移動終了時の位置決め誤差で再
調整（リトライ）操作を行う制御系にて、リトライ条件
を動的に切り換えて移動ステージ５を制御する。

【０１０４】位置誤差に対する許容値（許容誤差）を設
定し、（位置誤差）＞（許容誤差）の場合リトライを行
う。通常許容誤差は一回の目標位置への移動動作では固
定（リトライ毎に同じ値を適用）であるが、本発明で
は、動的に変化（リトライ回数に応じて値を変化）させ
て、移動効率と位置決め制御の向上を両立させる。

【０１０５】なお、ＵＤＴなどの評価システムに用いる
移動ステージ５で、移動中は駆動機構（駆動回路）を稼
働し、移動後は駆動部の駆動力をカットする超音波モー
タなどを想定している。これらのモータは、目標位置へ
移動終了すれば、その位置（位置決め精度）が保持され
るため、リトライなどで目標位置へ到達できれば良い。

【０１０６】位置決め精度が良好なシステムでは、初回
のみ許容誤差を０（ゼロ）にする。２回目以降は許容誤
差≠０とする。良好なシステムでは、通常１回目で目標
位置に到達するが、外乱などが発生して目標を逸れた場
合、位置決め精度を保証するために初回のみ許容誤差を
０（ゼロ）とする。なお、２回目以降は、許容誤差≠０
とするのは、ステージ移動モータの劣化などシステムに
不具合が生じた場合、リトライ制御が抜け出さなくなる
のを防ぐ目的と、多少の劣化の場合、位置決め制限を少
し甘くして測定を続けるためである。

【０１０７】システムの不具合程度を位置決め精度で評
価して、リトライ発生頻度が増加する場合は、更に、許
容誤差≠０とする回数を増やす。例えば、リトライ回数
が４回を超えた場合、エラー終了と設定していた場合、
正常でリトライ回数が１回程度で済んでいた移動ステー
ジ５が劣化して、常時、リトライ回数が４回を超えるよ
うになった場合、リトライ回数を６回程度に設定するこ
とで、エラー終了がなくなる。

【０１０８】この場合、当然、リトライにより移動ステ
ージ５の設定時間は増すが、製造ラインで使用するなど
移動ステージ５の修理交換よりヘッド媒体の評価を優先
しなければならない場合などに有効である。これによ
り、リトライ回数は増加するが、リトライ操作により目
標位置に到達する確率が増大する、つまり、システムの
不具合に対して、移動時間と位置決め精度のトレードオ
フを行う。

【０１０９】また、他の方法としては、リトライ回数が
増える程、許容誤差を大きくする。例えば、位置決め精
度の許容値の最大をＰとした場合、リトライ回数＝０〜
ｎ１まで許容誤差＝０、リトライ回数＝ｎ１＋１〜ｎ２
まで許容誤差＝Ｐ／２、リトライ回数＝ｎ２＋１〜ｎ３
まで許容誤差＝Ｐとする。

【０１１０】モータが正常なら、ｎ１回目までに移動を
終了するが、モータが劣化すると小さい許容誤差では止
まれず、大きな許容誤差で止まることになる。最小の許
容誤差で止まることが理想であるが、実情によりヘッド
媒体の評価を進める必要がある場合、位置決め精度を落
として評価を継続できるメリットがある。

【０１１１】システムの不具合として経年変化による劣
化が考えられる。その度合いに応じて許容誤差＝０の回
数を１回、２回、それ以上と動的に変化させる。正常な
システムであれば、１回乃至２回目には目標位置に達す
る。それ以上必要な場合は、システムの改善が必要な状
態と考えられる。しかし、測定優先の暫定処置（修理待
ち）のため、位置決め精度を維持するため、リトライ回
数を増やして目標位置へ到達させる。

【０１１２】そのために、許容誤差＝０の設定回数を動
的に増加させる。設定回数を多くする場合は、きめ細か
い段階分けは不要である。それ以上の回数の目安は、シ
ステムで設定したリトライ回数制限（これ以上リトライ
した場合はエラーとする）の１／２倍、１倍など比例値
で設定すれば良い。例えば、リトライ上限が８回の場
合、許容誤差＝０のリトライ回数を、１、２、４、８な
どと増加させる。

【０１１３】なお、システムの経年変化は、現在の設定
リトライ回数をモニタして、増加した場合、次の段階に
移行すれば良い。或いは、移動エラーの頻度を評価して
設定回数を変更する。

【０１１４】（例５）例５は、ＭＲヘッドのピン層反転
を検出する例である。ダイビット波形の書込み波形パタ
ーンの正のピークの時間位置に「１」、負のピークの時
間位置に「−１」、その他を０としたウインドウ関数を
作り、波形を読込む際に波形に前記ウインドウ関数を時
間方向に操作しながら掛け合わせて求めた最大値と、前
記ウインドウ関数に「−１」を掛けたウインドウ関数
（前記ウインドウ関数の符号を反転したウインドウ関
数）を同様に波形に掛け合わせて求めた最大値を比較
し、後者の方が大きい場合はピン層反転が生じたと判定
する。

【０１１５】図４は処理説明図であり、（１Ａ）は正常
出力波形、（１Ｂ）は異常出力波形（ピン層反転）、
（２Ａ）は正常出力波形と一致する窓関数パターン、
（２Ｂ）は反転出力波形と一致する窓関数パターン（２
Ｂの逆極性）を示す。

【０１１６】図４に示したように、（１Ａ）、（１Ｂ）
の波形に（２Ａ）、（２Ｂ）の窓関数を掛け合わせて評
価する。出力波形のピークをＶｏｐとすると（簡単にす
るため、正負同じレベルで説明する）、（２Ａ）、（２
Ｂ）の波形の時間軸（図の横方向）をずらしながら掛け
合わせた結果のデータ列から最大値を求めると、次のよ
うになる。

【０１１７】すなわち、正常出力波形の場合、（１Ａ）
×（２Ａ）＝４Ｖｏｐ（Ｖｏｐ：ピーク値）、（１Ａ）
×（２Ｂ）＝２Ｖｏｐとなる。また、異常出力波形の場
合、（１Ｂ）×（２Ａ）＝２Ｖｏｐとなり、ピン層反転
の場合、（１Ｂ）×（２Ｂ）＝４Ｖｏｐとなる。

【０１１８】正常出力波形では、正常出力波形と一致す
るパターンと掛け合わせた方が結果は大きくなるが、異
常出力波形では異常出力波形と一致するパターンと掛け
合わせた方が結果は大きくなる。これより、ピン層反転
の有無が確認できる。

【０１１９】§４：記録媒体とプログラムの説明前記ＵＤＴが行う評価処理は、システム制御部（例え
ば、パーソナルコンピュータ）１２のハードディスク装
置に、予め、前記評価処理に必要なプログラムを格納し
ておき、該システム制御部１２のＣＰＵが、前記ハード
ディスク装置のプログラムを実行することにより行う。
しかし、本発明はこのような例に限らず、前記ハードデ
ィスク装置に、次のようにしてプログラムを格納しても
実現可能である。

【０１２０】：リムーバブルディスクに格納されてい
るプログラム（他の装置で作成したプログラム）を、シ
ステム制御部１２のリムーバブルディスクドライブによ
り読み取り、前記ハードディスク装置の記録媒体（ハー
ドディスク）に格納する。なお、前記リムーバブルディ
スクには、ＣＤ−ＲＯＭ等の光ディスク、光磁気ディス
ク、フロッピィディスク等が含まれる。

【０１２１】：ＬＡＮ等の通信回線を介して他の装置
から伝送されたプログラムを、システム制御部１２の通
信制御部を介して受信し、そのデータを前記ハードディ
スク装置の記録媒体（ハードディスク）に格納する。

【０１２２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。

【０１２３】(1) ：請求項１では、周波数特性演算手段
は、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置
の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める。そして、測定
限界設定手段は、システム全体の周波数特性を基に、与
えられたアルゴリズムに従って測定限界を設定し、オペ
レータ等に提示（例えば、ディスプレイ装置の画面に表
示）する。

【０１２４】このようにすれば、ＵＤＴ要素を交換する
など、システム条件（周波数特性等）が変化しても、そ
れに応じた測定限界を設定し、オペレータに提示できる
ので、適しない測定範囲での測定が避けられ、測定の信
頼性を向上できる。

【０１２５】(2) ：請求項２では、周波数特性演算手段
は、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置
の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める。そして、周波
数特性補正手段は、システム全体の周波数特性から補正
データを求め、この補正データを用いて、システム全体
の周波数特性がフラットになるように補正する。

【０１２６】このようにすれば、ＵＤＴのシステム条件
（周波数特性等）が変化しても、それに依存しない測定
条件で測定できる。従って、常に同一条件での測定がで
き、測定の信頼性を向上できる。

【０１２７】(3) ：請求項３では、スピンドル振動評価
手段は、スピンドル機構の回転速度と移動ステージの位
置決め精度の関係を評価して、全回転速度で位置決め精
度が目標値以下になるように、スピンドル機構のマスバ
ランスを調整し、スピンドル機構の振動を全回転速度で
減少させる。この場合、前記位置決め精度が目標値を超
えた場合を、スピンドル機構１のマスバランス再調整の
指標とする。

【０１２８】このようにすれば、現状のＵＤＴで簡単に
スピンドルの振動を評価できるので、安心して測定がで
き、測定の信頼性を向上できる。

【０１２９】(4) ：請求項４では、位置決め制御手段
は、移動ステージの位置決め精度に応じたリトライ条件
を、リトライ回転数に応じて動的に変化させることで位
置決め精度を維持する。このようにすれば、システムの
メカ系が多少劣化しても、リトライ条件の動的変更によ
り位置決め精度を良好な状態に保てるので、測定の信頼
性を向上できる。

【０１３０】(5) ：請求項５では、ピン層反転検出手段
は、ダイビット波形の書込みに際し、書込み波形の正の
ピークの時間位置に「１」、負のピークの時間位置に
「−１」、その他をゼロとしたウインドウ関数を作り、
波形を読む際に、波形に前記ウインドウ関数を時間方向
に走査しながら掛け合わせて求めた最大値と、前記ウイ
ンドウ関数に「−１」を掛けたウインドウ関数を同様に
波形に掛け合わせて求めた最大値を比較し、後者が大き
い場合はピン反転と判定する。このように、ピン層反転
を検出する手段を設けることで、間違った測定を避け、
測定の信頼性を向上できる。

【０１３１】(6) ：請求項６では、汎用型ヘッド媒体評
価装置が記録媒体のプログラムを読み出して実行するこ
とにより、不揮発性の記憶手段から汎用型ヘッド媒体評
価装置の信号伝達系を構成する要素毎に周波数特性を読
み出して、システム全体の周波数特性を求める手順と、
システム全体の周波数特性を基に、与えられたアルゴリ
ズムに従って測定限界を設定し、オペレータ等に提示
（例えば、ディスプレイ装置の画面に表示）する手順と
を実行する。

【０１３２】このようにすれば、ＵＤＴ要素を交換する
等、システム条件（周波数特性等）が変化しても、それ
に応じた測定限界をオペレータに提示できるので、適し
ない測定範囲での測定が避けられ、測定の信頼性を向上
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明の実施の形態におけるＵＤＴの外観図で
ある。

【図３】本発明の実施の形態におけるＵＤＴのリード系
ブロック図である。

【図４】本発明の実施の形態における処理説明図であ
る。

【図５】従来例の説明図である。

【符号の説明】

１スピンドル機構２媒体３ヘッド４スライダ５移動ステージ６制御装置１０制御回路１１評価回路１２システム制御部１３信号書込み制御部１４信号読込み制御部１５ステージ移動制御部１６スピンドル回転制御部２１ヘッドＩＣ２２プリアンプ２３メインアンプ２４ＡＤＣ（アナログ／ディジタルコンバータ）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置において、汎用型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を構成する要素
毎の周波数特性を、前記要素毎に記憶しておく不揮発性
の記憶手段を備えると共に、前記記憶手段から前記要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める周波数特性演算
手段と、前記システム全体の周波数特性を基に、与えられたアル
ゴリズムに従って測定限界を設定し、外部に提示する測
定限界設定手段を備えていることを特徴とする汎用型ヘ
ッド媒体評価装置。
【請求項２】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置において、汎用型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を構成する要素
毎の周波数特性を、前記要素毎に記憶しておく不揮発性
の記憶手段を備えると共に、前記記憶手段から前記要素毎に周波数特性を読み出し
て、システム全体の周波数特性を求める周波数特性演算
手段と、前記システム全体の周波数特性から補正データを求め、
この補正データを用いて、システム全体の周波数特性が
フラットになるように補正する周波数特性補正手段を備
えていることを特徴とする汎用型ヘッド媒体評価装置。
【請求項３】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置において、スピンドル機構の回転速度と移動ステージの位置決め精
度の関係を評価して、全回転速度で位置決め精度が目標
値以下になるように、スピンドル機構のマスバランスを
調整し、スピンドル機構の振動を全回転速度で減少させ
ると共に、前記位置決め精度が目標値を超えた場合を、
スピンドル機構のマスバランス再調整の指標とするスピ
ンドル振動評価手段を備えていることを特徴とする汎用
型ヘッド媒体評価装置。
【請求項４】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置において、移動ステージの位置決め精度に応じたリトライ条件を、
リトライ回転数に応じて動的に変化させることで、位置
決め精度を維持する位置決め精度制御手段を備えている
ことを特徴とする汎用型ヘッド媒体評価装置。
【請求項５】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置において、ダイビット波形の書込みに際し、書込み波形の正のピー
クの時間位置に「１」、負のピークの時間位置に「−
１」、その他をゼロとしたウインドウ関数を作り、波形
を読む際に、波形に前記ウインドウ関数を時間方向に走
査しながら掛け合わせて求めた最大値と、前記ウインド
ウ関数に「−１」を掛けたウインドウ関数を同様に波形
に掛け合わせて求めた最大値を比較し、後者が大きい場
合はピン層反転と判定するピン層反転検出手段を備えて
いることを特徴とする汎用型ヘッド媒体評価装置。
【請求項６】媒体を回転させるスピンドル機構と、前記
媒体に対して情報の書込み、読込みを行うヘッドを移動
させる移動ステージと、各種のヘッド媒体に対し、情報
の書込み／読込み制御を行い、その際得られたデータに
基づきヘッド媒体の特性を評価する制御装置を備えた汎
用型ヘッド媒体評価装置に、記憶手段から汎用型ヘッド媒体評価装置の信号伝達系を
構成する要素毎に周波数特性を読み出して、システム全
体の周波数特性を求める手順と、前記システム全体の周波数特性を基に、与えられたアル
ゴリズムに従って測定限界を設定し、外部に提示する手
順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュー
タ読み取り可能な記録媒体。