KR100512364B1 - 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법 - Google Patents

하드 디스크 드라이브의 공정개선방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100512364B1
KR100512364B1 KR1019980006212A KR19980006212A KR100512364B1 KR 100512364 B1 KR100512364 B1 KR 100512364B1 KR 1019980006212 A KR1019980006212 A KR 1019980006212A KR 19980006212 A KR19980006212 A KR 19980006212A KR 100512364 B1 KR100512364 B1 KR 100512364B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
burn
list
test
data
hard disk
Prior art date
Application number
KR1019980006212A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990071013A (ko
Inventor
조진원
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1019980006212A priority Critical patent/KR100512364B1/ko
Publication of KR19990071013A publication Critical patent/KR19990071013A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100512364B1 publication Critical patent/KR100512364B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
    • G11B19/048—Testing of disk drives, e.g. to detect defects or prevent sudden failure
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849—Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2508—Magnetic discs
    • G11B2220/2516—Hard disks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:하드 디스크 드라이브의 제조공정에 관한 것이다.
나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:번-인 테스트시 누적된 데이타를 분석하여 이를 차후에 실시되는 번-인 테스트에 사용함으로서 번-인 테스트 효율을 향상시킬 수 있는 공정개선방법을 제공함에 있다.
다. 그 발명의 해결방법의 요지:번-인 테스트 결과 누적된 각종 디펙 관리 관련정보에서 중복되는 데이타 디펙의 1차 위치정보를 제외시키고 나머지 데이타 디펙의 위치정보만으로 구성되는 제1리스트를 작성하고, 상기 작성된 제1리스트를 사용하여 서보디펙에 대한 위치정보를 가지는 제2리스트와 데이타 디펙에 대한 위치정보를 가지는 제3리스트를 작성하여 차후 번-인 테스트에 재이용함을 특징으로 한다.
라. 발명의 중요한 용도:하드 디스크 드라이브의 제조공정에 사용할 수 있다.

Description

하드 디스크 드라이브의 공정개선방법
본 발명은 하드 디스크 드라이브의 제조공정에 관한 것으로, 특히 제조공정중의 하나인 번-인 테스트(Burn-In Test) 결과의 누적기록을 이용한 공정개선방법에 관한 것이다.
컴퓨터시스템의 보조기억장치로 널리 사용되고 있는 하드 디스크 드라이브는 일반적으로 HDA(Head Disk Assembly)조립공정, 서보 라이트 공정, 기능(Function) 테스트 공정, 번-인 테스트 공정, 최종(Final) 테스트 공정, 출하공정 등을 순차적으로 거쳐 하나의 제품으로 출하된다. 이러한 일련의 제조공정중에서 번-인 테스트 공정은 제조공정중 가장 긴 시간이(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정으로서 별도의 테스트 시스템 없이 고온·고습의 번-인 룸(burn-in room)내의 래크(rack)상에 놓여진 다음 자체 프로그램(펌웨어)에 의거하여 수행된다. 이러한 번-인 테스트 공정에서는 소비자가 HDD를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크상에 존재하는 디펙(defect)부분을 미리 찾아내어 실제 드라이브 사용시 상기 디펙부분이 사용되지 않도록 선조치 해주고, 드라이브의 성능에 관계된 일련의 테스트를 진행하게 된다. 이러한 테스트의 결과로 많은 데이타가 발생한다. 그 내용들을 예시하면 1. 번-인 테스트 결과들, 2. 각종 디펙 관리를 위한 리스트들(V-리스트, R-리스트, D-리스트 등), 3. 채널 테이블(Channel Table), 4. 그외의 테스트 결과들 등이 발생되는데, 이를 누적하여 시스템 실린더내의 서로 다른 영역에 기록하므로서 차후 번-인 테스트 결과 분석시에 그 드라이브의 양상 변화를 용이하게 할 수 있다. 그러나 이러한 방법은 단지 반복된 번-인 테스트 결과의 누적 데이타를 분석하는 데에만 사용되는 제약이 있는 관계로, 상기 누적 데이타를 분석하여 이를 차후에 실시되는 번-인 테스트에 적용할 필요가 있다.
따라서 본 발명의 목적은 하드 디스크 드라이브 번-인 테스트시 누적된 데이타를 분석하여 이를 차후에 실시되는 번-인 테스트에 재이용함으로서 번-인 테스트 효율을 향상시킬 수 있는 공정개선방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 번-인 테스트시 누적된 데이타를 분석하여 이를 차후에 실시되는 번-인 테스트에 재이용함으로서 번-인 테스트 공정의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 공정개선방법을 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 번-인 테스트 결과 누적된 각종 디펙 관리 관련정보에서 중복되는 데이타 디펙의 1차 위치정보를 제외시키고 나머지 데이타 디펙의 위치정보만으로 구성되는 제1리스트를 작성하고, 상기 작성된 제1리스트를 사용하여 서보디펙에 대한 위치정보를 가지는 제2리스트와 데이타 디펙에 대한 위치정보를 가지는 제3리스트를 작성하여 차후 번-인 테스트에 재이용함을 특징으로 한다.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 일련의 제조공정을 거쳐서 완성된 하드 디스크 드라이브의 일반적인 블럭구성도를 도시한 것이다. 도 1을 참조하면, 디스크들(10)은 스핀들(spindle)모터(34)에 의해 회전한다. 헤드들(12) 각각은 디스크들(10)중 대응하는 하나의 디스크면상에 위치하며, 환상 보이스 코일(rotary voice coil) 액츄에이터(30)와 결합된 E-블럭 어셈블리(14)로부터 디스크들(10)쪽으로 신장된 서포트 암들에 각각 대응되게 설치된다. 전치증폭기(16)는 리드시에는 헤드들(12)중 하나에 의해 픽업된 신호를 전치증폭하여 아나로그 리드신호를 리드/라이트 채널(read/write channel)회로(18)로 인가하며, 라이트시에는 리드/라이트 채널회로(18)로부터 인가되는 부호화된 라이트데이터를 헤드들(12)중 대응하는 하나의 헤드를 통해 디스크 상에 라이트되도록 한다. 리드/라이트 채널회로(18)는 전치증폭기(16)로부터 인가되는 리드신호로부터 데이터 펄스를 검출하고 디코딩하여 DDC(Disk Data Controller)(20)에 인가하며, DDC(20)로부터 인가되는 라이트데이터를 디코딩하여 전치증폭기(16)에 인가한다. DDC(20)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 데이터를 리드/라이트 채널회로(18)와 전치증폭기(16)를 통해 디스크상에 라이트 하거나 디스크상으로부터 데이터를 리드하여 호스트 컴퓨터로 송신한다. 또한 DDC(20)는 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)간의 통신을 인터페이스한다. 버퍼 램(22)은 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)와 리드/라이트 채널회로(18) 사이에 전송되는 데이터를 일시 저장한다. 마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 리드 또는 라이트 명령에 응답하여 트랙 탐색 및 트랙 추종을 제어한다. 메모리(26)는 마이크로 콘트롤러(24)의 수행 프로그램 및 각종 설정값들을 저장한다. 서보구동부(28)는 마이크로 콘트롤러(24)에서 제공하는 헤드들(12)의 위치 제어를 위한 신호에 응답하여 액츄에이터(30)를 구동하기 위한 구동전류를 발생하여 액츄에이터(30)의 보이스 코일에 인가한다. 액츄에이터(30)는 서보구동부(28)로부터 인가되는 구동전류의 방향 및 레벨에 대응하여 헤드들(12)을 디스크들(10)상에서 이동시킨다. 스핀들 모터 구동부(32)는 마이크로 콘트롤러(24)로부터 발생되는 디스크들(10)의 회전 제어를 위한 제어값에 따라 스핀들 모터(34)를 구동하여 디스크들(10)을 회전시킨다.
한편 번-인 테스트 결과 누적된 데이타를 분석하여 이를 차후에 수행되는 번-인 테스트에 사용하기 위해서는 다음과 같은 드라이브의 펌웨어 수정이 필요하다. 다시 말하면, 번-인 테스트는 어떤 특정한 양식을 가지는 스크립트(Script)가 필요한데, 이는 번-인 테스트시 진행되는 커맨드를 순서대로 나열한 바이너리 파일(Binary File)이다. 즉, 바이너리 파일에 명령을 추가 또는 삭제하므로서 번-인 테스트 시간의 조정 및 여러 조건을 변화시킬 수 있고, 드라이브의 펌웨어 입장에서는 이런 각 커맨드에 대응하여 처리해 줄 수 있는 루틴들이 준비되어 있어야 한다. 그리고 상기 번-인 테스트 시간의 조정 및 여러 조건을 변화시키기 위해서는 디펙 관리 관련 리스트를 작성하는 루틴의 수정이 불가피하며, 혹시 이러한 기능을 사용치 않고 번-인 테스트를 진행하고자 하는 경우가 발생할 수도 있으므로 상기 디펙 관리 관련 리스트를 작성하는 루틴을 활성화시키거나 혹은 비활성화시키는 커맨드의 추가가 필요하다. 이하 본 발명의 실시예에 따라 번-인 테스트 종료시 수행되는 디펙 관리 관련 리스트를 작성하는 동작을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디펙 관리 관련 리스트 작성 처리흐름도를 도시한 것으로서, 번-인 테스트 결과 누적된 각종 디펙 관리 관련정보에서 중복되는 데이타 디펙에 대한 1차 정보를 제외시킨 제1리스트를 작성하는 과정과, 상기 작성된 제1리스트를 사용하여 서보디펙에 대한 위치정보를 가지는 제2리스트와 데이타 디펙에 대한 위치정보를 가지는 제3리스트를 작성하는 과정으로 이루어져 번-인 테스트 효율을 향상시킨다.
도 2를 참조하면, 마이크로 콘트롤러(24)는 번-인 테스트 공정의 40단계에서 번-인 테스트를 수행하고, 번-인 테스트 수행시 발생되는 각종 디펙 관리 관련정보를 42단계에서 순차적으로 누적한다. 이때 상기 디펙 관리 관련정보는 시스템 실린더내의 서로 다른 영역에 누적된다. 42단계에서 각종 디펙 관리 관련정보를 순차적으로 누적시킨 마이크로 콘트롤러(24)는 이후 44단계에서 번-인 테스트가 종료됨이 검색되면 46단계로 진행하여 누적된 로그 데이타(Log Data)를 리드하여 중복 기록된 데이타 디펙의 1차정보를 제거한다. 그리고 48단계에서 다시 마이크로 콘트롤러(24)는 상기 로그 데이타의 잔여 데이타를 순서대로 정리하여 D-리스트를 작성한다. 이때 상기 D-리스트는 데이타 디펙의 1차정보를 가지고 있는 리스트로서, R-리스트가 가지고 있지 않은 에러코드, 에러발생한 단계(step) 등의 정보를 가지고 있고 이를 이용하여 R-리스트를 만들 수 있다. 한편 D-리스트를 작성한 마이크로 콘트롤러(24)는 이후 50단계에서 D-리스트를 이용하여 R-리스트와 V-리스트를 작성한후 본 발명의 실시예에 따른 디펙 관리 관련 리스트의 작성을 종료한다. 상기 R-리스트는 데이타 디펙의 실제 위치정보를 가지고 있는 리스트로서, 이 리스트는 드라이브의 스펙마다 차이가 있을 수 있지만 보통 20내지 30섹터의 크기를 가진다. 그리고 상기 V-리스트는 서보디펙의 실제 위치정보를 가지고 있는 리스트로서, 이 리스트는 드라이브의 스펙마다 차이가 있을 수 있지만 대개 3 내지 4섹터의 크기를 가진다.
상술한 동작에 따라 번-인 테스트 결과 누적된 정보들을 차후에 수행하는 번-인 테스트에 사용할 수 있게 되므로서 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트 효율을 상승시키는 결과를 가져온다.
상술한 본 발명의 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 여러가지 변형이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 실시할 수 있다. 따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위의 균등한 것에 의해 정해 져야 한다.
상술한 바와 같이 본 발명은 번-인 테스트에서 누적된 디펙 관리 관련정보들에서 중복된 위치 데이타들을 제거한후 작성된 새로운 D-리스트를 이용하여 R-리스트와 V-리스트를 작성함으로서, 번-인 테스트 결과 누적된 데이타를 차후에 수행되는 번-인 테스트에 적용하여 번-인 테스트 효율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 실시예를 설명하기 위한 하드 디스크 드라이브의 블럭 구성도,
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 디펙 관리 관련 리스트 작성 처리흐름도.

Claims (1)

  1. 하드 디스크 드라이브의 제조공정시 번-인 테스트 효율을 향상시키기 위한 공정개선방법에 있어서,
    번-인 테스트 결과 누적된 각종 디펙 관리 관련정보에서 중복되는 데이타 디펙의 1차 위치정보를 제외시키고 나머지 데이타 디펙의 위치정보만으로 구성되는 제1리스트를 작성하고, 상기 작성된 제1리스트를 사용하여 서보디펙에 대한 위치정보를 가지는 제2리스트와 데이타 디펙에 대한 위치정보를 가지는 제3리스트를 작성하여 차후 번-인 테스트에 재이용함을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법.
KR1019980006212A 1998-02-26 1998-02-26 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법 KR100512364B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980006212A KR100512364B1 (ko) 1998-02-26 1998-02-26 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980006212A KR100512364B1 (ko) 1998-02-26 1998-02-26 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990071013A KR19990071013A (ko) 1999-09-15
KR100512364B1 true KR100512364B1 (ko) 2005-10-26

Family

ID=37305629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980006212A KR100512364B1 (ko) 1998-02-26 1998-02-26 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100512364B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0877725A (ja) * 1994-09-08 1996-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気ディスク装置
JPH08234926A (ja) * 1995-02-24 1996-09-13 Nec Corp 磁気ディスク装置におけるディフェクト処理方法
JPH09147509A (ja) * 1995-05-12 1997-06-06 Samsung Electron Co Ltd ハードディスクドライブのサーボシステム制御方法
KR100382717B1 (ko) * 1996-01-09 2003-07-07 삼성전자주식회사 하드 디스크 드라이브에서의 디펙트 처리방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0877725A (ja) * 1994-09-08 1996-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気ディスク装置
JPH08234926A (ja) * 1995-02-24 1996-09-13 Nec Corp 磁気ディスク装置におけるディフェクト処理方法
JPH09147509A (ja) * 1995-05-12 1997-06-06 Samsung Electron Co Ltd ハードディスクドライブのサーボシステム制御方法
KR0132807B1 (ko) * 1995-05-12 1998-04-18 김광호 하드 디스크 드라이브 서보 시스템에서의 디펙트 검출 및 처리방법
KR100382717B1 (ko) * 1996-01-09 2003-07-07 삼성전자주식회사 하드 디스크 드라이브에서의 디펙트 처리방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990071013A (ko) 1999-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8078421B1 (en) Multi-cell disk drive test system providing a power recovery mode
KR100233402B1 (ko) 리드채널 최적화 수행시간 단축방법
US7379256B2 (en) System and method of rewriting data tracks
KR100265283B1 (ko) 무선 단말기의 핸즈프리 장치 및 방법
US20040268033A1 (en) Refreshing data in a data storage device
US8289015B2 (en) Apparatus and test method for a head assembly in a depopulated configuration
KR100195020B1 (ko) 서보트랙라이터(Servo Track Writer)의 포트넘버(Port Number) 기록
KR100512364B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법
KR100496180B1 (ko) 하드 디스크 드라이브에서의 디펙 처리방법
KR100265882B1 (ko) 하드디스크 드라이브에 있어서 수율향상을 위한 번-인테스트방법
KR100440792B1 (ko) 하드디스크드라이브의헤드테스트방법
KR100462215B1 (ko) 하드 디스크 드라이브 제조공정시 차후 불량분석 효율을높이기 위한 방법
KR980011310A (ko) 메인터넌스실린더내 디펙 처리방법
KR19990065700A (ko) 하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법
KR100375139B1 (ko) 자기디스크구동장치의리드데이타처리방법
KR100699884B1 (ko) 적응적 디펙 처리 방법 및 그 장치
KR100660913B1 (ko) 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치
KR100527237B1 (ko) 서보섹터의 디펙 테스트 방법
JP3533309B2 (ja) サーボ制御方法および磁気ディスク装置
KR100419394B1 (ko) 자기디스크기록장치의불량분석및수리를위한에러관리프로그램을기록하는방법
KR100422428B1 (ko) 번-인테스트공정 시간 단축방법
KR100469512B1 (ko) 자기 디스크 기억장치의 미세결함섹터 검출 방법
KR100422429B1 (ko) 디스크 드라이브의 채널평가 방법
KR100417227B1 (ko) 에러정정가능한데이타의리-라이트를통한하드디스크드라이브의품질향상방법
KR100392614B1 (ko) 시리얼 포트를 이용한 하드 디스크 드라이브의 셀프 테스트검증방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee