KR100233402B1 - 리드채널 최적화 수행시간 단축방법 - Google Patents

리드채널 최적화 수행시간 단축방법 Download PDF

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Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야:
하드 디스크 드라이브에 있어서 리드채널최적화
나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제:
리드채널최적화 수행시간을 단축하는 방법을 제공한다.
다. 그 발명의 해결방법의 요지:
본 발명은 존/헤드별로 테스트가 끝났을 때마다 하나의 HDD에 대한 테스트 제한시간을 초과했는가를 체크한다. 따라서 각 드라이브마다 테스트 시간의 편차가 존재하던 것을 막을 수 있다. 그리고 테스트를 마지막 존에서 첫번째 존의 방향으로 테스트를 진행하기 때문에 테스트가 중간에서 종료하더라도 에러율이 높은 존들이 테스트가 수행되도록 할 수 있다. 또한 본 발명에서 테스트할 트랙을 선택하는 과정과, 테스트할 오프-트랙값을 구하는 과정에서 에러율이 높은가를 판단한다. 에러율이 높다고 판단될 경우 테스트를 위해 리드해야할 총 섹터의 수를 조정함으로써 높은 에러율에 의한 테스트 시간지연을 줄일 수 있다.
라. 발명의 중요한 용도:
리드채널 최적화

Description

리드채널최적화 수행시간 단축방법{METHOD FOR REDUCING PERFORMANCE TIME TO OPTIMISE-READ CHANNEL}
본 발명은 자기 디스크 드라이브에 관한 것으로, 특히 리드채널최적화 수행시간을 단축하는 방법에 관한 것이다.
요즈음 데이타 저장 및 독취 장치는 시스템의 멀티미디어 구현에 부응하여 그 용량이 급속도로 커져 가고 있으며, 또한 데이타의 고속 액세스가 가능하도록 발전되고 있다. 이러한 데이타 저장 및 독취장치들의 일예로 HDD(Hard Disk Drive)를 들 수 있다. 상기 HDD는 데이타의 고속 액세스 및 고용량화 구현이 가능하다는 장점 덕택에 컴퓨터 시스템의 보조기억장치로 널리 사용되고 있다.
HDD는 도 1에 도시된 바와 같은 일련의 제조공정 절차를 거쳐 하나의 완성된 제품으로서 출하된다. 도 1은 HDD의 제조공정에서의 일반적인 주요절차를 도시한 도면으로서, 크게 여섯단계로 구분된다.
도 1을 참조하여 각 단계를 설명하면, 먼저 제조공정의 제1단계(Ⅰ)인 HDA(Head Disk Assembly) 조립공정은 HDD의 기구부인 HDA(Head Disk Assembly)를 조립하는 공정으로서 청정실(clean room)내에서 이루어진다. 제조공정의 제2단계(Ⅱ)인 서보라이트 공정은 데이타를 기록매체인 디스크에 기록 및 독출하는 자기헤드의 서보제어를 위한 서보 패턴을 디스크상에 기록하는 공정으로서 서보라이터(servo writer)에 의해 수행된다. 제조공정의 제3단계(Ⅲ)인 기능 테스트공정(function test)은 상기 HDA 조립공정에서 만들어진 HDA와 PCBA(Printed Circuited Board Assembly) 조립공정(통상 HDA조립공정후 수행됨)에서 만들어진 PCBA를 결합시킨 다음에 수행되는 최초의 테스트로서 HDA와 PCBA가 정상적으로 매치(match)되어 동작하는지를 테스트한다. 제조공정의 제4단계(Ⅳ)인 번-인(burn-in) 테스트 공정은 HDD의 제조공정중 가장 긴 시간이(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정으로서 별도의 테스트 시스템 없이 고온·고습의 번-인 룸(burn-in room)내의 래크(rack)상에 놓여진 다음 자체 프로그램(펌웨어)에 의거하여 수행된다. 이러한 번-인 테스트 공정에서는 소비자가 하드 디스크 드라이브를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크상에 존재하는 디펙(defect)부분을 미리 찾아내어 실제 드라이브 사용시 상기 디펙부분이 사용되지 않도록 선조치 해주는 공정을 말한다. 제조공정의 제5단계(Ⅴ)인 최종 테스트(final test) 공정은 상기 번-인 테스트 공정에서 통과한 HDD 세트(set)가 정상적으로 디펙처리 되었는가를 확인하기 위한 공정으로서 특정 테스트 시스템을 이용하여 HDD 세트 마다의 디펙처리 상태를 테스트한다. 최종 테스트 공정을 마친 HDD 세트는 제조공정의 제6단계(Ⅵ)인 출하검사공정, 포장 및 출하공정을 거쳐 하나의 완성된 제품으로 출하된다.
도 1의 제조공정을 거쳐서 완성되는 HDD의 일반적인 블럭 구성의 일예는 도 2와 같다. 도 2를 참조하면, 디스크들(10)은 스핀들(spindle)모터(34)에 의해 회전한다. 헤드들(12) 각각은 디스크들(10)중 대응하는 하나의 디스크면상에 위치하며, 환상 보이스 코일(rotary voice coil) 액츄에이터(30)와 결합된 E-블럭 어셈블리(14)로부터 디스크들(10)쪽으로 신장된 서포트 암들에 각각 대응되게 설치된다. 전치증폭기(16)는 리드시에는 헤드들(12)중 하나에 의해 픽업된 신호를 전치증폭하여 아나로그 리드신호를 리드/라이트 채널(read/write channel)회로(18)로 인가하며, 라이트시에는 리드/라이트 채널회로(18)로부터 인가되는 부호화된 라이트데이타를 헤드들(12)중 대응하는 하나의 헤드를 통해 디스크 상에 라이트되도록 한다. 리드/라이트 채널회로(18)는 전치증폭기(16)로부터 인가되는 리드신호로부터 데이타 펄스를 검출하고 디코딩하여 DDC(Disk Data Controller)(20)에 인가하며, DDC(20)로부터 인가되는 라이트데이타를 디코딩하여 전치증폭기(16)에 인가한다. DDC(20)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 데이타를 리드/라이트 채널회로(18)와 전치증폭기(16)를 통해 디스크상에 라이트 하거나 디스크상으로부터 데이타를 리드하여 호스트 컴퓨터로 송신한다. 또한 DDC(20)는 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)간의 통신을 인터페이스한다. 버퍼 램(22)은 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)와 리드/라이트 채널회로(18) 사이에 전송되는 데이타를 일시 저장한다. 마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 리드 또는 라이트 명령에 응답하여 트랙 탐색 및 트랙 추종을 제어한다. 메모리(26)는 마이크로 콘트롤러(24)의 수행 프로그램 및 각종 설정값들을 저장한다. 서보구동부(28)는 마이크로 콘트롤러(24)에서 제공하는 헤드들(12)의 위치 제어를 위한 신호에 응답하여 액츄에이터(30)를 구동하기 위한 구동전류를 발생하여 액츄에이터(30)의 보이스 코일에 인가한다. 액츄에이터(30)는 서보구동부(28)로부터 인가되는 구동전류의 방향 및 레벨에 대응하여 헤드들(12)을 디스크들(10)상에서 이동시킨다. 스핀들 모터 구동부(32)는 마이크로 콘트롤러(24)로부터 발생되는 디스크들(10)의 회전 제어를 위한 제어값에 따라 스핀들 모터(34)를 구동하여 디스크들(10)을 회전시킨다.
도 2와 같은 완성된 HDD를 제조하기 위한 도 1의 공정중에서, 번-인 테스트 공정은 전술한 바와 같이 소비자가 하드 디스크 드라이브를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크상에 존재하는 디펙(defect)부분을 미리 찾아내어 실제 드라이브 사용시 상기 디펙부분이 사용되지 않도록 선조치 해준다. 그리고, 상기 번-인 테스트공정에서는 HDD의 리드채널을 최적화하기 위한 리드채널최적화 과정도 함께 수행한다.
도 2와 같은 HDD에서 디스크(10)에 기록된 데이타를 판독하여 디지탈 데이타로 바꾸는 것은 도 2의 리드/라이트 채널회로(18)에서 행하여 지는데, 상기 리드/라이트 채널회로(18)가 헤드(12)를 통해 디스크(10)에서 전달된 아나로그신호를 어느 만큼 잘 판독해내느냐는 리드/라이트 채널회로(18)내 각각의 회로부들에 설정된 여러가지 파라미터(parameter)에 의해 결정된다. 상기 파라미터들은 예컨데, 차단주파수(cutoff frequency), 그룹지연(group delay), 부스트레벨(boost level), 데이타임계치(data threshold) 등이 있다. 상기 파라미터들을 리드/라이트 채널회로(18)에 최적의 값으로 설정할 경우 호스트 컴퓨터에서는 디스크들(10)에 기록된 데이타를 최소한의 에러만으로도 리드할 수 있다. 그렇지만 상기 최적의 파라미터는 어떤 고정적인 값을 가지는 것이 아니며 각 HDD마다 조금씩 달라 질수 있다. 그리고, 하나의 HDD에서도 각각의 헤드 및 디스크마다 달라질 수 있으며, 하나의 디스크에서도 인너 존(inner)인가 아웃터 존(outer)인가에 따라서도 달라질 수 있다. 그러므로 각 HDD에서 각 존들 및 각 헤드들에 대해 리드/라이트 채널회로(18)가 최적의 파라미터를 갖도록 하는 과정이 수행된다. 이러한 과정이 바로 리드채널 최적화 과정이다.
종래의 리드채널최적화 과정은 도 3과 같으며, 도 3과 같은 리드채널 최적화 과정은 디스크 각각의 존 및 각각의 헤드마다 일일이 수행됨을 이해하여야 한다. 번-인 테스트 공정상에서 리드채널 최적화과정이 수행될 때는 하나의 완성된 HDD와 같이 동작되도록 테스트 시스템을 구성하므로 도 2의 일반적인 HDD의 구성을 참조하여 상기 리드채널 최적화과정을 설명하여도 무관할 것이다.
따라서 도 2의 HDD 구성에 의거하여 도 3에 도시된 종래의 리드 채널최적화과정을 설명한다. 마이크로 콘트롤러(24)는 100단계에서 현재 선택된 존 및 헤드에 맞는 기본 파라미터를 메모리(26)에 읽어 리드/라이트 채널회로(18)에 설정한다. 상기 기본 파라미터는 HDD를 조립하기 전에 다수 대의 HDD를 샘플로 하여 최적화 파라미터로 구하여진 값으로서, 메모리(26)의 저장되어 있다. 그후 102단계로 진행하여 오프-트랙(즉, 스트레스)를 "0"로 설정하고, 해당 존의 각 트랙마다 일정 섹터 수 만큼에 대해 데이타 라이트/리드 테스트를 수행한다. 통상적으로 데이타 라이트/리드 테스트는 테스트 데이타를 한번 라이트하고 다수 번의 데이타 리드를 수행한다. 그에 의해 106단계에서는 상기 테스트 결과 가장 에러가 적은 트랙을 선택하여 채널최적화 테스트할 트랙으로 결정한다.
그후 마이크로 콘트롤러(24)는 108단계에서 오프-트랙값을 최대값과 최소값의 중간값으로부터 시작하여 감소 또는 증가시키면서 데이타 라이트/리드 테스트를 수행한다. 그후 110단계에서 상기 데이타 라이트/리드 테스트의 결과값인 에러의 갯수가 미리 설정한 기준치안에 들어오는 오프-트랙값들중 에러가 가장 적은 최적의 오프트랙값을 구해 테스트할 오프-트랙값으로 결정한다. 그후 마이크로 콘트롤러(24)는 112단계에서 미리 정해진 파라미터의 조합별로 테스트 트랙의 일정 갯수 섹터를 라이트/리드 테스트한다. 그후 114단계에서는 112단계에서의 파라미터 조합별 테스트의 결과인 에러의 갯수들을 저장한다. 그후 116단계로 진행하여 각 파라미터별로 가장 에러가 적은 레벨을 선택하여 최적의 파라미터값으로 선정한다.
그런후, 마이크로 콘트롤러(24)는 118단계에서 기본파라미터를 리드/라이트 채널회로(18)에 먼저 설정후 라이트/리드 테스트를 수행하여 그 결과값인 에러의 갯수를 알아낸다. 그후에는 120단계로 진행하여 상기 116단계에서 선정된 최적의 파라미터값을 리드/라이트 채널회로(18)에 설정후 라이트/리드 테스트를 수행하여 그 결과값인 에러의 갯수를 알아낸다.
그런다음 마이크로 콘트롤러(24)는 122단계에서 상기 118단계와 120단계에서 수행한 두 테스트 결과중 보다 나은 테스트 결과의 파라미터를 최적의 파라미터값으로 설정한다. 그리고 상기 최적의 파라미터값을 메모리(26)에 등록하거나 아니면 디스크(10)내 메인터넌스(maintance)영역에 라이트한다.
상기와 같은 종래 기술에서는 에러율이 높은 드라이브의 경우에는 시간이 많이 걸리게 되는 문제가 있었다. 또한 각 디스크마다 에러율의 차이가 존재하기 때문에 에러율이 좋은 드라이브와 나쁜 드라이브 간에는 테스트 시간의 차이도 생기게 된다. 디스크상의 특정 섹터에서 에러가 발생한 경우 통상 헤드는 에러가 발생한 섹터의 다음 섹터부터 다시 리드를 하는데, 다시 리드를 위해서 헤드는 디스크가 원하는 섹터가 다시 돌아오는 시간 즉, 디스크가 1회전하는 시간동안 기다려야 한다. 따라서 에러가 발생할 때마다 디스크가 1화전하는 시간만큼이 더 걸리게 된다.
그리고 종래 기술에서는 각 파라미터의 최적값을 구하기 위해서 도 3의 112단계에서 설명한 미리 정해진 갯수의 섹터를 리드하여야 하므로 에러율이 높은 드라이브의 경우 그에 의한 시간소모가 많게 된다. 또한 에러율이 높은 드라이브의 경우에는 적은 양의 오프트랙값에도 도 3의 110단계에서 설명한 에러의 갯수가 기준치를 넘어가게 되므로 테스트할 오프-트랙 값을 구하는 과정(도 3의 108단계 내지 110단계)에서의 시간이 많이 걸리게 된다. 또한 테스트할 오프-트랙값을 설정하기 위해서, 도 3의 108단계에서 설명한 바와 같이 오프-트랙 값을 최대값과 최소값의 중간값부터 시작하여 테스트를 수행하므로 오프-트랙 값이 최소값에 도달할 때까지 테스트를 반복해야 한다. 그러므로 만약 에러가 많은 드라이브의 경우에는 에러가 적은 드라이브에 비해 테스트 시간이 많이 소모될 것이다. 그리고 종래의 기술은 각 드라이브별로 테스트 시간의 차이가 많이 생기게 되므로 HDD제조공정에서 이에 대한 적절한 대응책을 강구하기가 어렵다.
따라서 본 발명의 목적은 리드채널최적화 테스트 수행시간을 단축하는 방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 리드채널 최적화 테스트시 드라이브마다의 테스트 수행시간의 편차가 많이 발생하는 문제점을 해결하기 위한 방법을 제공하는데 있다.
상기한 목적에 따라, 본 발명은 해당 존/헤드에서 테스트할 트랙을 설정하는 과정에서 에러의 갯수가 일정한 기준치를 초과하는 경우 에러율이 높다고 간주하고, 이것을 오프-트랙값을 얻는 과정에 반영한다.
또한 본 발명은, 에러의 갯수가 기준 에러갯수를 초과하게 되는 경우에는 오프 프트랙값을 최대값과 최소값의 중간값에서부터 테스트를 시작토록 하지 않고 최소 오프트랙값에 가까운 값에서 테스트를 시작하여 불필요한 테스트가 수행되지 않도록 한다.
또한 본 발명은 테스트할 오프-트랙값을 기준 오프트랙값과 비교하여 상기 기준 오프트랙값보다 큰 경우에는 에러율이 높다고 간주하고 원래의 테스트할 섹터의 갯수보다 적은 섹터의 갯수를 테스트하도록 한다.
그리고 본 발명은, 하나의 드라이브를 테스트하는 시간에 제한을 두어 제한시간을 초과하게 되는 경우에는 테스트를 종료하도록 한다.
도 1은 통상적인 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive)의 제조공정 단계를 설명하기 위한 제조공정 흐름도
도 2는 일반적인 하드 디스크 드라이브의 블럭 구성도
도 3은 종래의 리드 채널 최적화 수행 흐름의 일예도
도 4a,b는 본 발명의 실시예에 따른 리드 채널 최적화 수행 흐름도
이하 본 발명의 바람직한 실시예들을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도면들중 동일한 구성요소들은 가능한한 어느 곳에서든지 동일한 참조번호 내지 동일한 부호들로 나타내고 있음에 유의해야 한다. 또한 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 리드 채널 최적화 수행 흐름도로서, 리드채널 최적화 수행 시간을 단축하기 위한 제어를 그 요지로 하고 있다.
도 4를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 리드채널최적화 동작을 설명한다.
지금, 마이크로 콘트롤러(24)는 200단계에서 타이머를 이용하여 테스트시작 시각을 기록한다. 상기 타이머는 리드채널 최적화과정 수행시간이 미리 설정된 제한 시간을 초과했는가를 판단하기 위해서 사용된다. 상기 제한시간은 하나의 HDD가 리드채널 최적화하는데 요구되는 평균시간이다.
그후 202단계에서 테스트할 존을 마지막 번호의 존으로 설정하고 헤드는 첫번째 헤드로 설정한다. 대부분의 HDD에서 채용되는 존 비트 레코딩(zone bit recording) 방식에서 디스크상에는 소정의 동심원들을 경계로 하는 다수의 존들로 형성되어 있다. 형성된 존들은 통상적으로 아웃터 존(outer zone)에서부터 시작하여 번호가 부여된다. 그러므로 상기 202단계에서 마지막 번호의 존이라 함은 맨 안쪽에 있는 존을 의미한다.
그후 마이크로 콘트롤러(24)는 203단계에서 현재 선택된 존 및 헤드에 맞는 기본 파라미터를 메모리(26)에서 읽어 리드/라이트 채널회로(18)에 설정한다. 상기 기본 파라미터는 HDD를 조립하기 전에 다수 대의 HDD를 샘플로 하여 최적화 파라미터로 구하여진 값으로서, 메모리(26)에 저장되어 있다. 그후에는 204단계에서 오프-트랙(즉, 스트레스)를 "0"로 설정하고, 206단계에서 해당 존의 각 트랙마다 일정 섹터 수 만큼에 대해 데이타 라이트/리드 테스트를 수행한다. 통상적으로 데이타 라이트/리드 테스트는 테스트 데이타를 한번 라이트하고 다수 번의 데이타 리드를 수행한다. 그에 의해 208단계에서는 상기 테스트 결과 가장 에러가 적은 트랙을 선택하여 채널최적화 테스트할 트랙으로 결정한다.
그후 마이크로 콘트롤러(24)는 210단계에서 상기 결정된 테스트할 트랙의 에러갯수가 미리 설정된 기준에러 갯수보다 적은가를 판단한다. 만약 상기 기준에러갯수보다 적으면 212단계 및 216단계와 같이 오프-트랙값을 최대값과 최소값의 중간값으로부터 시작하여 감소 시키면서 데이타 라이트/리드 테스트를 수행한다. 그렇지만 상기 결정된 테스트할 트랙의 에러 갯수가 미리 설정된 기준에러 갯수보다 크면 214단계 및 216단계와 같이 오프-트랙값을 최소값에 가까운 값으로부터 시작하여 그 값을 감소 시키면서 데이타 라이트/리드 테스트를 수행한다. 그후 마이크로 콘트롤러(24)는 218단계에서 상기 데이타 라이트/리드 테스트의 결과값인 에러의 갯수가 미리 설정한 기준치안에 들어오는 오프-트랙값들중 에러가 가장 적은 최적의 오프트랙값을 구해 테스트할 오프-트랙값으로 결정한다.
그후 마이크로 콘트롤러(24)는 220단계에서 상기 결정된 테스트할 오프트랙값이 미리 설정된 기준 오프트랙값보다 작은가를 판단한다. 만약 상기 기준 오프트랙값보다 크면 222단계에서 테스트 섹터수를 종래와 같은 기본 값으로 설정하고, 226단계로 진행하여 미리 정해진 파라미터의 조합별로 테스트 트랙의 상기 테스트 수만큼의 섹터에 대해 라이트/리드 테스트한다. 그러나 상기 결정된 테스트할 오프-트랙값이 미리 설정된 기준 오프-트랙값보다 작으면 224단계에서 테스트할 섹터수를 기본값의 반으로 설정하고, 226단계로 진행하여 미리 정해진 파라미터의 조합별로 테스트 트랙의 상기 테스트 수의 반만큼의 섹터에 대해 라이트/리드 테스트를 수행한다.
그후 도 4의 228단계 내지 238단계의 동작은 종래의 리드채널최적화과정 114단계 내지 122단계와 동일하다. 이를 설명하면, 도 4의 228단계에서는 226단계에서의 파라미터 조합별 테스트의 결과인 에러의 갯수들을 저장한다. 그후 230단계로 진행하여 각 파라미터별로 가장 에러가 적은 레벨을 선택하여 최적의 파라미터값으로 선정한다.
그런후, 마이크로 콘트롤러(24)는 232단계에서 먼저 기본파라미터를 리드/라이트 채널회로(18)에 설정후 라이트/리드 테스트를 수행하여 그 결과값인 에러의 갯수를 알아낸다. 그후 234단계로 진행하여 상기 230단계에서 선정된 최적의 파라미터를 리드/라이트 채널회로(18)에 설정후 라이트/리드 테스트를 수행하여 그 결과값인 에러의 갯수를 알아낸다.
그런다음 마이크로 콘트롤러(24)는 236단계에서 상기 232단계와 234단계에서 수행한 두 테스트 결과중 보다 나은 테스트 결과의 파라미터값을 최적의 파라미터값으로 설정한다. 그리고 상기 최적의 파라미터값을 메모리(26)에 등록하거나 아니면 디스크(10)내 메인터넌스(maintance)영역에 라이트한다.
그후 마이크로 콘트롤러(24)는 238단계에서 현 테스트 헤드의 다음 번호의 헤드를 선택하고, 240단계에서 상기 선택한 헤드번호가 HDD내 구비된 최대 헤드번호보다 큰가를 판단한다. 만약 아니면 선택된 다음번째 헤드로 스위칭하고 현재 설정된 존에 대한 리드채널 최적화과정을 수행하게될 것이다. 그런데 그 과정을 수행하기에 앞서 246단계에서 먼저 지금까지의 리드채널 최적화과정 수행시간이 미리 설정된 제한 시간을 초과했는가를 판단한다. 상기 제한시간은 하나의 HDD가 리드채널 최적화하는데 요구되는 평균시간이다. 만약 상기 제한시간을 초과하지 않으면 마이크로 콘트롤러(24)는 전술한 도 4의 203단계로 되돌아가서 상기 203단계로부터의 단계를 수행한다. 그러나 만약 상기 246단계에서 제한시간을 초과하게 되면 리드채널 최적화 과정을 종료한다.
한편 도 4의 240단계에서의 판단에서 선택한 헤드번호가 HDD내 구비된 최대 헤드번호보다 크게되면, 현재 존의 모든 헤드에 대한 리드채널 최적화를 수행하였음을 의미하므로 242단계로 진행하여 테스트할 존을 현재 존 번호의 다음번째 존 번호로 설정한다(현재 존이 마지막번째 존 번호이면 다음번째 존은 마지막번 이전의 존 번호이다). 그후 244단계에서 상기 설정된 번호의 존이 맨 첫번째 존보다 적은가를 판단하는데 첫번째 존번호보다 크면, 아직 테스트할 존이 남아있는 것을 의미한다. 그 경우에도 마이크로 콘트롤러(24)는 246단계로 진행하여 지금까지의 리드채널 최적화과정 수행시간이 제한시간을 초과하는가를 판단한다. 만약 상기 제한시간을 초과하게 되면 과정을 종료하고, 그렇지 않는 경우에는 도 4의 203단계 내지 246단계를 계속 반복 수행하게 된다.
반복 수행되는 도 4의 203단계 내지 246단계의 과정을 정리하면, 마지막 존에서 첫번째 헤드에서 마지막 헤드까지 리드채널 최적화를 수행하고, 그후 마지막 이전 존에서 첫번째 헤드에서 마지막 헤드까지 리드채널 최적화를 수행하는 식으로 반복한다. 그리고 맨나중에서는 맨 첫번째 존에서 첫번째 헤드에서 마지막 헤드까지 리드채널 최적화를 수행한다.
도 4와 함께 설명한 본 발명의 실시예에서 리드채널최적화 수행시간을 단축하기 위한 제어동작를 살펴보면 다음과 같다.
먼저 도 4의 246단계에서 보여주는 바와 같이, 하나의 드라이브를 테스트하는 시간에 제한을 두어 제한시간을 초과하게 되는 경우에는 테스트를 종료하도록 한다. 상기 제한시간에 대한 체크는 도 4의 200단계에서 예시한 바와 같이 타이머를 이용한다. 다음으로, 테스트의 존이 마지막 번호의 존에서부터 시작하여 첫번째 번호의 존으로 진행한다는 것이다. 대부분의 HDD는 마지막 번호의 존에 가까울수록 에러율이 높은 특성이 있다. 따라서 테스트가 제한시간을 초과하여 중간에서 종료가 되었을 때에도 에러율이 높은 존 및 헤드에 대한 채널 최적화가 수행되도록 하기 위함이다.
그 다음으로는 해당 존/헤드에서 테스트할 트랙을 결정하는 과정(도 4의 203단계에서부터 208단계까지)에서 결정한 테스트할 트랙의 에러 갯수가 일정한 기준치를 초과하는 경우 에러율이 높다고 간주하고, 이것을 테스트할 오프-트랙값을 얻는 과정(210단계에서 부터 218단계까지)에 반영한다. 즉, 상기 에러의 갯수가 기준 에러갯수를 초과하게 되는 경우에는 오프 프트랙값을 최대값과 최소값의 중간값에서부터 테스트를 시작토록 하지 않고 최소 오프트랙값에 가까운 값에서 테스트를 시작하여 불필요한 테스트가 수행되지 않도록 한다.
또한 본 발명은 테스트할 오프-트랙값을 기준 오프트랙값과 비교하여 상기 기준 오프트랙값보다 큰 경우에는 에러율이 높다고 간주하고 원래의 테스트할 섹터의 갯수보다 적은 섹터의 갯수를 테스트하도록 한다(220단계 및 224단계). 그렇게 함으로써 테스트 시간을 줄인다.
상술한 바와 같이 본 발명은 존/헤드별로 테스트가 끝났을 때마다 하나의 HDD에 대한 테스트 제한시간을 초과했는가를 체크한다. 따라서 각 드라이브마다 테스트 시간의 편차가 존재하던 것을 막을 수 있다. 그리고 테스트를 마지막 존에서 첫번째 존의 방향으로 테스트를 진행하기 때문에 테스트가 중간에서 종료하더라도 에러율이 높은 존들이 테스트가 수행되도록 할 수 있다. 또한 본 발명에서 테스트할 트랙을 선택하는 과정과, 테스트할 오프-트랙값을 구하는 과정에서 에러율이 높은가를 판단한다. 에러율이 높다고 판단될 경우 테스트를 위해 리드해야할 총 섹터
상술한 본 발명의 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 여러가지 변형이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 실시할 수 있다. 따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구의 범위와 특허청구의 범위의 균등한 것에 의해 정해 져야 한다.

Claims (5)

  1. 하드 디스크 드라이브의 리드채널최적화 수행시간 단축방법에 있어서,
    현 테스트 존내 테스트할 트랙을 결정하기 위한 과정에서 결정한 테스트 트랙의 에러 갯수를 미리 설정된 기준에러갯수와 비교하는 제1과정과,
    상기 테스트 트랙의 에러갯수가 상기 기준 에러갯수를 초과하면 테스트 오프트랙값 결정을 위한 과정에서 사용되는 오프트랙값을 최소 오프트랙값에 가까운 값에서 시작하여 감소시키면서 상기 오프트랙값 결정과정을 수행하고, 상기 기준에러갯수를 초과하지 않으면 상기 최대값과 최소값의 중간값에서부터 시작하여 감소시키면서 상기 테스트 오프트랙값 결정과정을 수행하는 제2과정과,
    상기 결정된 테스트 오프트랙값을 미리 설정된 기준 오프트랙값과 비교하는 제3과정과,
    상기 테스트 오프트랙값이 상기 기준 오프트랙값을 초과하면 테스트 섹터수를 기준값보다 적어도 작은 값으로 결정하고, 상기 기준 오프트랙값을 초과하지 않지 않으면 테스트 섹터수를 상기 기준값으로 결정하는 제4과정과,
    상기 결정된 테스트 트랙, 테스트 오프트랙값 및 테스트 섹터수를 이용하여 해당 존 및 해당 헤드의 리드채널 최적화 테스트를 수행하는 제5과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 존/헤드별로 테스트가 끝날 때마다 하나의 HDD가 리드채널 최적화하는데 요구되는 평균시간인 제한시간을 초과했는가를 체크하여 상기 제한시간 초과시 하드 디스크 드라이브의 리드채널최적화 테스트를 종료시키는 과정을 더 가짐을 특징으로 하는 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제한시간 체크는 타이머를 이용함을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제4과정에서 결정되는 기준값보다 적어도 작은 값이 상기 기준값의 반임을 특징으로 하는 방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 존/헤드별 리드채널 최적화 테스트는 디스크의 가장 안쪽 존에서부터 시작하여 수행되고, 다음 존으로 진행하여 모든 헤드에 대해 차례로 수행됨을 특징으로 하는 방법.
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