KR100532479B1 - 조립된 디스크 드라이브에서 최적화된 헤드 쓰기 컨트롤을위한 쓰기 전류의 오버슈트 컨트롤을 결정 및/또는사용하는 방법 및 장치 - Google Patents

조립된 디스크 드라이브에서 최적화된 헤드 쓰기 컨트롤을위한 쓰기 전류의 오버슈트 컨트롤을 결정 및/또는사용하는 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 그 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션의 신뢰성을 개선하기 위해, 쓰기 전류 파라미터의 오버슈트 컨트롤(0SC)에 초점을 맞추어, 쓰기 파라미터를 발생시키기 위한 자가 테스트 단계 동안 디스크 드라이브에서의 적어도 하나의 기록기에 적용될 수 있는 테스트하는 방법을 포함한다. 최소 OSC는 정상 온도에서의 쓰기 오퍼레이션동안 사용된다. 최적 OSC는 제1저온 범위, 바람직하게는, 본질적으로 섭씨 15°와 본질적으로 섭씨 5°사이를 위해 사용된다. 최대 OSC는 본질적으로 5°C 아래에서 바람직하다. 최소 OSC는 바람직하게는, 쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 보증할 뿐만 아니라, 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 보증해야 한다. 본 발명은 발생시킨 쓰기 파라미터 콜렉션을 내포하는 디스크 드라이브뿐만 아니라, 쓰기 파라미터 콜렉션을 포함한다. 본 발명은 또한, 래디얼 존 콜렉션에 속하는 트랙들에 쓰는 동안 기록기를 컨트롤하기 위한 그 쓰기 파라미터 콜렉션을 사용하는 방법을 포함하며, 본 발명의 방법을 이행하는 프로그램 시스템을 포함한다.

Description

조립된 디스크 드라이브에서 최적화된 헤드 쓰기 컨트롤을 위한 쓰기 전류의 오버슈트 컨트롤을 결정 및/또는 사용하는 방법 및 장치{Methods and apparatus determining and/or using overshoot control of write current for optimized head write control in assembled disk drives}
본 발명은 디스크 드라이브 분야에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 제조 공정, 보다 명확히 말하면 조립된 디스크의 드라이브의 자가 테스트 단계(self-test phase)에서 하드디스크 신뢰도를 개선하기 위하여 최적화된 헤드 쓰기 파라미터들(head write parameters)을 결정하는 것에 관한 것이다.
디스크 드라이브는 중요한 데이터 저장 기술이다. 읽기-쓰기 헤드는 데이터 저장 매체를 내포하는 디스크 면과 직접적으로 통신하는, 디스크 드라이브의 중대한 구성요소중의 하나이다. 각 읽기-쓰기 헤드가 신뢰성 있게 기능을 하는 것은 중요하며, 만약 그렇지 않으면 그 읽기-쓰기 헤드를 사용하는 디스크 드라이브는 신뢰성 있게 기능을 하는데 실패할 것이다. 본 발명은 디스크 드라이브 내에서 쓰기 오퍼레이션 동안 각 읽기-쓰기 헤드의 최적화된 컨트롤에 초점이 맞춰진다. 본 발명을 드러내기 전에, 몇몇 관련된 종래 기술을 논의할 것이다.
도 1a는 보이스 코일(32)을 가지는 액츄에이터(30), 액츄에이터 축(40), 디스크들 사이에 위치된 헤드 짐벌 조립체(head gimbal assembly:60)를 가지는 액츄에이터 아암(50-58)을 포함하는 통상적인 종래의 고용량 디스크 드라이브(10)를 보여준다.
도 1b는 보이스 코일(32)을 가지는 액츄에이터(30), 액츄에이터 축(40), 액츄에이터 아암(50-56) 및 디스크가 제거된 상태에서의 헤드 짐벌 조립체(60-66)를 포함하는 액츄에이터(20)를 가지는 통상적인 종래의 고용량 디스크 드라이브(10)를 보여준다.
도 2a는 종래의 읽기-쓰기 헤드(200)를 내포하는 헤드 슬라이더(100)를 가지는 헤드 서스펜션 조립체를 포함하는 헤드 짐벌 조립체(60)를 보여준다.
1980년대 이래로, 고용량 디스크 드라이브(10)는 그 읽기-쓰기 헤드들을 특정 트랙 상에 위치시키기 위해 보이스 코일 액츄에이터(20-66)를 사용해왔다. 상기 헤드들(200)은 오퍼레이션(operation)시 디스크 드라이브 면에서 약간 떨어져 부양(float)하는 헤드 슬라이더(100)에 설치된다. 부양 프로세스(flotation process)는 공기 베어링으로 불린다. 공기 베어링은 도 2a에 보여진 읽기-쓰기 헤드(200) 및 도 1a 내지 도 2a에 보여진 바와 같은 슬라이더-헤드 짐벌 조립체(60)에 의해 형성된다. 공기 베어링의 부상 높이는 매우 작고, 종종 100Å(Angstroms) 또는 약 인치의 백만분의 0.4 (.4 millionths of an inch)이다.
흔히, 주어진 디스크 드라이브 면에 대해 헤드 슬라이더 당 하나의 헤드가 위치된다. 보통 하나의 디스크 드라이브 내에는 다수의 헤드가 있는 반면에, 경제적인 이유로, 보통 단지 하나의 보이스 코일 액츄에이터가 있다.
보이스 코일 액츄에이터는 액츄에이터 축(40)을 거쳐 지레(lever) 작용을 제공하도록 보이스 코일(32)에 의해 유도된 시간에 따라 변하는 전자기장과 상호 작용하는 고정된 자석 액츄에이터(20)를 더 구비한다. 지레 작용은 헤드 짐벌 조립체(60-66)와 읽기-쓰기 헤드(200)를 내포하는 그에 관계된 슬라이더(100)를 신속하고 정확하게 특정 트랙 상에 위치시키는 액츄에이터 아암(50-56)을 움직여주는 작용을 한다. 액츄에이터(30)는 흔히 보이스 코일(32), 액츄에이터 축(40), 액츄에이터 아암(50-56) 및 헤드 짐벌 조립체(60-66)를 포함하는 것으로 여겨진다. 액츄에이터(30)는 소수이지만 단일 액츄에이터 아암(50)을 가질 수도 있다. 단일 액츄에이터 아암(52)은 각각이 적어도 하나의 헤드 슬라이더를 가지는 두 헤드 짐벌 조립체(62)(64)와 연결될 수도 있다는 것을 유념하라
도 2b는 종래 기술에서 발견되는 것처럼, 차례로 슬라이더(100)를 내포하는 헤드 짐벌 조립체(60)를 내포하는 액츄에이터 아암(50)의 주축(110) 사이의 관계를 보여준다.
도 2c는 조립된 디스크 드라이브(10)를 컨트롤하기 위해 사용되는, 종래의 디스크 드라이브 컨트롤러(1000)의 간략화된 개요를 보여준다.
디스크 드라이브 컨트롤러(1000)는 읽기-쓰기 헤드(200) 내의 스핀 밸브에서 발견되는 저항과 통신하는 아날로그 읽기-쓰기 인터페이스(220)를 컨트롤한다.
아날로그 읽기-쓰기 인터페이스(220)는 전치 증폭기(224: pre-amplifier)와 통신하는 채널 인터페이스(222)를 종종 포함한다. 채널 인터페이스(222)는 적어도 읽기_바이어스(read_bias)와 쓰기_바이어스(write_bias)를 세팅하는 파묻힌 디스크 컨트롤러(1000)로부터의 명령을 수신한다.
다양한 디스크 드라이브 아날로그 읽기-쓰기 인터페이스(220)는 읽기 전류 바이어스나 읽기 전압 바이어스 중에서 하나를 사용할 수 있다. 예를 들어, 읽기 헤드의 저항은 옴의 법칙(Ohm's Law)을 사용하여, 읽기 바이어스 전류 세팅(read_bias)에 바탕을 두고 읽기 차동 신호 쌍(r+ 및 r-)을 가로질러 전압 강하(V-rd)를 측정함으로써 결정된다.
오늘날, 디스크 드라이브는, 종종 읽기 채널 최적화로 알려진 것을 포함하는 초기화 과정(1400)을 수행한다. 읽기 채널 최적화는 적어도, 읽기 바이어스 전류(Ir), 쓰기 전류(Iw) 및 쓰기 부스트(boost)를 포함하는 읽기/쓰기 오퍼레이션을 위한 가장 좋은 파라미터들(best parameters)을 찾는 것이 기대된다.
채널 통계적 측정(Channel Statistical Measurements: CSM)은, 진폭 측정에 의해 채널 성능을 평가하기 위해 조립된 디스크 드라이브에 사용되는 표준 시스템이다. CSM에 의해 디스크 드라이브를 테스트하는 것은 단지 부분적인 품질 측정을 나타낸다. 보다 철저한 품질 측정은 비트 에러율(Bit Error Rate: BER)을 결정하는 것이다.
자기 기록 헤드(200)는 물리적인 크기가 보다 작아질 때, 신뢰성 문제를 최소화하기 위해, 조립된 디스크 드라이브에서 쓰기 필드 컨트롤을 최적화할 필요가 증가된다. 이러한 필요는, 먼저, 조립된 디스크 드라이브 내에서 신뢰성 문제 메카니즘이 무엇인지를 알아내고, 신뢰성 문제 메카니즘의 영향을 최소화하기 위해 디스크 드라이브를 배치하는(configuring) 것을 요구하기 때문에, 달성하는 것이 어렵다.
상기와 같은 종래의 문제점을 개선하기 위하여, 본 발명은 제조 공정, 보다 명확히 말하면 조립된 디스크의 드라이브의 자가 테스트 단계(self-test phase)에서 하드디스크 신뢰도를 개선하기 위하여 최적화된 헤드 쓰기 파라미터들(head write parameters)을 결정하도록, 조립된 디스크 드라이브에서 최적화된 헤드 쓰기 컨트롤을 위한 쓰기 전류의 오버슈트 컨트롤을 결정 및/또는 사용하는 방법 및 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법은, 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들의 래디얼 존 콜렉션을 위한 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키기 위하여, 상기 기록기는 디스크 드라이브 내에 내포되어 있으며, 상기 기록기는, 상기 디스크 드라이브 내에, 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드, 상기 읽기-쓰기 헤드에 연결된 전치 증폭기 및 상기 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하고, OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기와 관련하여, 비트 에러율(BER)을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계; 상기 BER에 바탕을 두고 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계; 및 쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계를 구비하는 것을 일 특징으로 한다.
여기서, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 BER을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계는, 초기 채널 값 콜렉션 및 초기 OSC 값 둘 다에 바탕을 두고, 참조 BER 및 참조 OSC를 발생시키는 단계; 적어도 2개의 엔트리를 내포하는 OSC 테이블을 생성하기 위해 상기 참조 BER 및 상기 참조 OSC 값에 바탕을 두고 테스트함에 의해 상기 최소 OSC를 찾는 단계; 및 상기 OSC 테이블을 업데이트 하도록 상기 참조 BER 및 상기 참조 OSC에 바탕을 두고 테스트함에 의해 상기 최대 OSC를 찾는 단계;를 더 구비하며, 상기 OSC 테이블 엔트리 각각은 OSC 값 및 BER 테스트 값을 내포하며; 상기 최적 OSC는 최소 BER 테스트 값을 가지도록 상기 OSC 테이블로부터 결정될 수 있다.
상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 최소 OSC를 찾는 단계는, 비트 에러율 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 제1비트 에러율 범위 밖의 상기 OSC값을 위한 BER를 보고할 때까지, 상기 참조 OSC로부터 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계; 및 상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비하며, 상기 OSC값을 연속적으로 감소시키는 단계는, 상기 OSC 테이블에 상기 OSC 값의 적어도 하나를 위한 상기 BER을 모으는 단계;를 더 구비할 수 있다.
또한, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 최대 OSC를 찾는 단계는, 비트 에러율 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 제2비트 에러 범위 밖의 상기 OSC값을 위한 BER를 보고할 때까지, 상기 참조 OSC로부터 OSC 값을 연속적으로 증가시키는 단계; 상기 OSC 값에 상기 최대 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비며, 상기 OSC값을 연속적으로 증가시키는 단계는, 상기 OSC 테이블에 상기 OSC 값의 적어도 하나를 위한 상기 BER을 모으는 단계;를 더 구비할 수 있다.
상기 래디얼 존 콜렉션은, 제1트랙, 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙 및, 상기 제1 트랙 및 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙들을 내포하는 래디얼 이웃 스트립 콜렉션을 포함하며, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 ATW 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계는, 상기 최소 OSC에 OSC 값을 세팅하는 단계; 상기 OSC 값을 사용하는 인접 트랙 쓰기 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖의 상기 래디얼 이웃 스트립 콜렉션 멤버들 중의 적어도 하나를 위한 BER을 제공할 때마다, 연속적으로 상기 OSC값을 감소시키는 단계; 및 상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비할 수 있다.
여기서, 상기 인접 트랙 쓰기 테스트 때마다 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계는, 상기 OSC 값을 사용하여 상기 방사상으로 이웃하는 트랙들을 반복하여 쓰는 단계; 상기 BER이 상기 래디얼 콜렉션 멤버를 위한 상기 참조 BER에 바탕을 두고 ATW 기준 밖일 때까지, 상기 래디얼 이웃 스트립 콜렉션 멤버들의 각각을 위한 상기 BER을 제공하는, 상기 OSC 값을 사용하는 상기 인접 트랙 쓰기 테스트를 수행하는 단계; 상기 BER이 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖일 때마다, 상기 OSC 값을 감소시키는 단계; 및 상기 BER이, 상기 래디얼 콜렉션 멤버들의 적어도 하나를 위한 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖일 때마다, 앞선 단계들을 반복하는 단계를 더 구비할 수 있다.
한편, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 WII 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계는, 상기 최소 OSC에 OSC 값을 세팅하는 단계; 상기 래디얼 존 콜렉션에 속하는 트랙의 상기 OSC 값을 사용한 반복 기록에 바탕을 두고, 상기 자동 게인 컨트롤(AGC) 범위 및 AGC 평균을 측정하는 것이, 상기 AGC 평균의 분수를 초과하는 상기 AGC 범위를 나타낼 때마다, 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계; 및 상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계를 더 구비할 수 있다.
여기서, 측정 때마다, 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계는, 상기 AGC 평균, AGC 최소 및 AGC 최대를 얻기 위해, 상기 OSC값을 사용하는 상기 트랙을 반복적으로 쓰는 단계; 및 상기 AGC 최대 - 상기 AGC 최소로 상기 AGC 범위를 세팅하는 단계;를 더 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법은, 적어도 4개의 상기 래디얼 존 콜렉션들을 구비하는 테스트 존 콜렉션의 각 멤버를 위하여, 기록기 관련하여 상기한 일 특징에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법의 단계들을 수행하는 단계; 및 상기 테스트 존 콜렉션 멤버들 각각을 위한 상기 기록기 관련하여 OSC 콜렉션에 바탕을 두고 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련한 상기 OSC 콜렉션을 기입하는 단계;를 구비하여, 디스크 드라이브 내에서, 회전하는 디스크 면 상의 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련하여, 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키는 것을 다른 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 상기한 다른 특징에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법의 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법은, 상기한 다른 특징에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법의 단계들을 수행하는 단계;를 구비하며, 상기 래디얼 존 콜렉션들 각각을 위하여, 상기 기록기 관련하여 상기 OSC 콜렉션을 포함하는 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하도록 상기 래디얼 존 콜렉션을을 위한 상기 기록기 관련하여 상기 최소 OSC에 바탕을 두고, 읽기 채널을 최적화하는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 초기 RCO 다른 파라미터 리스트를 생성하기 위해, 디폴트 쓰기 전류 및 상기 OSC의 디폴트에 바탕을 두고, 다른 파리미터들을 위해 읽기 채널을 최적화하는 단계; 및 상기 초기 RCO 다른 파라미터들에 바탕을 두고, 초기 쓰기 전류 및 상기 초기 OSC를 생성하기 위해, 읽기 채널을 최적화하는 단계;를 구비하는, 콜렉션의 적어도 한 멤버를 더 구비하며, 상기 초기 OSC는 상기 디폴트 쓰기 전류 및 상기 디폴트 OSC에 적어도 부분적으로 바탕을 둘 수 있다.
본 발명은, 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 프로세스의 산물로서, 상기 래디얼 존 콜렉션들의 적어도 하나를 위한 상기 기록기 관련한, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 디스크 드라이브를 만드는 방법은, 래디얼 존 콜렉션들의 적어도 하나를 위한 상기 기록기와 관련한, 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계; 및 상기 디스크 드라이브 내에서 파묻힌 컨트롤러로 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 설치하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계는, 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계; 제2기록기에 포함된 읽기-쓰기 헤드와 통신하는 제2회전하는 디스크 면 상의 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 하나를 위한, 상기 디스크 드라이브에 포함된 제2기록기 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해, 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계; 대응하는 디스크 면과 통신하는, 상기 디스크 드라이브에 포함된 상기 기록기들 중 적어도 3개 각각에 대해, 상기 대응하는 회전 디스크 면 상에 상기 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 하나를 위한 상기 기록기들 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하도록 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계; 및 상기 디스크 드라이브에 포함된 상기 기록기들 각각에 대해, 상기 대응하는 회전 디스크 면 상에 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기들 관련하여, 상기 기록 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해, 상기한 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법의 단계들을 수행하는 단계를 구비하는 콜렉션의 적어도 하나의 멤버를 더 구비할 수 있다.
본 발명은, 상기한 디스크 드라이브를 만드는 방법의 프로세스의 산물로서 디스크 드라이브를 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법에서 디스크 드라이브의 파묻힌 컨트롤러를 건트롤 하기 위한 프로그램 시스템은, 파묻힌 컨트롤러 내에서, 컴퓨터와 액세스 가능하게 연결된 메모리에 상주하는 적어도 두 개의 프로그램 단계들을 구비하며, 상기 프로그램 단계들은 상기한 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법의 단계들을 이행하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 상기한 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법을 이행하는 장치는, 상기한 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법의 단계들 각각을 위한 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법은, 기록기는, 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드와 차례로 연결된, 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하며, 상기 디스크 드라이브는, 상기 회전하는 디스크 면 상의 적어도 2개의 트랙을 포함하는 래디얼 존 콜렉션을 위한 상기 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 내포하며, 상기 OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며, 래디얼 존 콜렉션은 상기 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 구비하며, 정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 기록 오퍼레이션 동안 상기 최소 OSC를 사용하는 단계; 및 상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계는, 제1저온 범위에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적 OSC를 사용하는 단계; 및 상기 제1저온 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최대 OSC를 사용하는 단계를 구비하는, 콜렉션의 적어도 하나의 멤버를 구비할 수 있다.
여기서, 상기 제1저온 범위는 섭씨로 대략 15°와 섭씨로 대략 5°사이일 수 있다.
상기 회전하는 디스크 면은 상기 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 2개를 포함하며, 상기 래디얼 존 콜렉션 각각은 상기 회전하는 디스크 면 상에 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 포함하며; 적어도 2개의 상기 래디얼 존 콜렉션 각각을 위해, 정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 최소 OSC를 사용하는 단계; 및 상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 상기 최적 OSC 및 상기 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 디스크 드라이브는 적어도 2개의 상기 기록기들을 포함하며, 상기 기록기들 각각은, 상기 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드에 차례로 연결된, 전치 증폭기에 연결된 채널 인터페이스를 구비하며; 적어도 2개의 상기 기록기 각각에 대해, 상기 디스크 드라이브는, 회전하는 디스크 면상에 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 포함하는 래디얼 존 콜렉션을 위한 상기 기록기와 관련한, 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 내포하며; 적어도 2개의 상기 기록기 각각에 대해, 정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최소 OSC를 사용하는 단계; 및 상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적의 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 기록기들 각각에 대해, 정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 최소 OSC를 사용하는 단계; 및 상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 상기 최적 OSC 및 상기 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 상기한 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법의 디스크 드라이브의 파묻힌 컨트롤러를 컨트롤하기 위한 프로그램 시스템은, 파묻힌 컨트롤러 내에서 컴퓨터와 액세스 가능하게 연결된 메모리에 상주하는 적어도 2개의 프로그램 단계를 구비하며, 상기 프로그램 단계들은 상기한 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법의 단계들을 이행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 상기한 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법의 단계들 각각을 위한 수단을 구비하는 상기한 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법을 이행하는 장치를 특징으로 한다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하면서, 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다.
본 발명은 적어도 배경에서 논의된 필요한 것들을 다룬다.
본 발명은 도 3a에 보여진 바와 같이, 회전하는 디스크 면(12)을 액세싱하는 읽기-쓰기 헤드(200), 연결된 전치 증폭기(224) 및 상기 전치 증폭기(224)에 연결된 채널 인터페이스(222)를 포함하는, 디스크 드라이브(10) 내에서의 기록기(writer)의 쓰기 성능을 최적화한다.
발명자들은, 쓰기 전류(Wc)의 오버슈트 컨트롤(OverShoot Control:OSC)이 디스크 드라이브 내에서 특정 기록기의 쓰기 필드 강도(write field strength)에 바탕을 두고 컨트롤되어야 한다는 것을 발견했다. 같은 디스크 드라이브 내의 서로 다른 기록기들은 정상적인 온도 오퍼레이션 동안 별개의 OSC 세팅을 요구하는, 별개의 쓰기 필드 강도를 소유한다는 것이 발견되었다. 발명자들은, 다시, 낮은 온도 조건들은 기록기의 쓰기 필드 강도에 바탕을 두고 별개의 OSC 세팅을 필요로 한다는 것을 발견하였다.
이들 발견들은 그 제품의 자가 테스트 단계동안, 디스크 드라이브에서 적어도 하나의 기록기에 적용되는 본 발명의 관점에 따른 테스트 방법으로 발명자들을 이끈다. 도 3a 및 도 3b의 테스트하는 방법(2000)은 그 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션의 신뢰성을 개선하기 위하여, 쓰기 전류 파라미터의 오버슈트 컨트롤(OSC)에 초점을 두고, 도 3a의 쓰기 파라미터들(2900)을 발생시킨다. OSC 파라미터는 어쨌든 전치 증폭기(224)의 오퍼레이션에 포함된다.
발명자들은, 강한 쓰기 필드를 가지는 기록기는, 인접 트랙 쓰기(Adjacent Track Write:ATW) 에러, 인치 당 트랙(Track Per Inch:TPI) 마진, 쓰기 유도 불안정성(Write Induced Instabilities:WII), 읽기-쓰기 헤드 열화 및 열적인 폴 끝 돌출(Thermal Pole Tip Protrusion:TPTP)에 의해 유발된 헤드와 디스크 간섭(Head to Disk Interference:HDI)의 증가에 기인한 높은 OSC를 가지는 상당한 신뢰성 손실을 겪는 다는 것을 발견했다. 발명자들은 또한, 약한 쓰기 필드를 가지는 기록기는, 강한 기록기에서와 똑같은 문제들 없이 보다 높은 OSC 값 사용 기회를 주는, 높은 OSC로 상당한 신뢰성 손실을 겪지 않는다는 것을 발견했다.
발명자들은 기록기의 쓰기 오퍼레이션 컨트롤을 위해 바람직하게 되도록 적어도 3개의 별개의 OSC 파라미터들을 결정하는 것을 발견했다. 최소 OSC는 정상 온도 범위 내에서 쓰기 오퍼레이션을 위해 사용된다. 최적 OSC는 제1저온 범위(lower temperature range), 바람직하게는, 본질적으로 섭씨 15° 와 본질적으로 섭씨 5° 사이에서 쓰기 오퍼레이션을 위해 사용되는 것이 바람직하다. 최대 OSC는 상기 제1저온 범위 아래의 쓰기 오퍼레이션을 위해 사용된다.
최소 OSC는, 바람직하게는, 쓰기 유도 불안정성(WII) 기준(criteria)을 보증할 뿐만 아니라, 인접 트랙 쓰기(ATW)를 보증해야 한다.
발명자들은 테스트 방법이 바람직하게는, 기록기에 의해 액세스된 디스크 면의 적어도 4개의 래디얼 존(radial zones)에 적용되어야 하고, 그리고 나서, 디스크 면의 각 래디얼 존에 기입(interpolated)되어야 한다는 것을 발견했다. 각 디스크 면의 래디얼 존들은 그 래디얼 존 내에서 래디얼 방향으로 공간을 가지는, 그 디스크 면상의 다수의 트랙들을 포함한다.
테스트 방법은 바람직하게는, 디스크 드라이브에서 각 기록기에 적용되어야 한다.
본 발명은 발생된 쓰기 파라미터 콜렉션(collection:2900)을 내포하는 디스크 드라이브(10) 뿐만 아니라, 도 3a에 보여지고, 도 3a 및 도 3b에 보여진 바와 같이, 테스트 방법(2000)에 의해 발생된 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 포함한다. 본 발명은 또한, 래디얼 존 콜렉션(2910)에 속하는 트랙들에 쓰는 동안 기록기(222-224-200)를 컨트롤하도록, 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 사용하는(2500) 방법 및 이들 방법들(2000)(2500)을 이행하는 프로그램 시스템들을 포함한다.
본 발명의 이들 및 다른 이점들은 다음의 상세한 설명을 읽고 다양한 도면들을 검토함에 의해 명백해질 것이다.
본 발명은 도 3a에 보여진 바와 같이, 회전하는 디스크 면(12)을 액세싱하는 읽기-쓰기 헤드(200), 연결된 전치 증폭기(224) 및 전치 증폭기(224)에 연결된 채널 인터페이스(222)를 포함하는, 디스크 드라이브(10) 내에서의 기록기의 쓰기 성능을 최적화한다.
본 발명은 도 3a 및 도 3b에 보여진 테스트하는 방법(2000)을 포함한다. 테스트하는 방법은 그 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션의 신뢰성을 개선하는 쓰기 전류 파라미터의 오버슈트 컨트롤(OSC)에 초점을 두고, 쓰기 파라미터들(2900)을 발생시키기 위해 자가 테스트 단계(self-test phase) 동안 디스크 드라이브 내의 적어도 하나의 기록기에 적용된다.
발명자들은, OSC가 디스크 드라이브 내에서 특정 기록기의 쓰기 필드 강도(write field strength)에 바탕을 두고 컨트롤되어야 한다는 것을 발견했다. 같은 디스크 드라이브 내에서 서로 다른 기록기들은 정상 오퍼레이션 동안 별개의 OSC 세팅을 요구하는, 별개의 쓰기 필드 강도를 종종 소유한다. 발명자들은, 다시 낮은 온도 조건들은 기록기의 쓰기 필드 강도에 바탕을 두고 별개의 OSC 세팅을 필요로 한다는 것을 발견하였다.
다음 도면들에서, 본 발명의 적어도 한 방법의 순서도는 참조 번호를 가지는 화살표를 소유하고 있다. 이들 화살표들은, 컴퓨터, 추론 엔진에서의 추론 링크, 한정된 상태의 기계에서의 상태 전이(state transition) 및 신경망 내에서의 우세한 습득 반응들을 실행하는, 제어 흐름 및 때때로 적어도 하나의 프로그램 단계를 포함하는 데이터 지지 이행들 또는 프로그램 쓰레드(thread)의 흐름을 나타낸다.
순서도를 시작하는 오퍼레이션은 다음의 적어도 하나를 말한다. 컴퓨터에서의 매크로 명령 시퀀스(macro instruction sequence) 서브루틴 들어가기. 추론 그래프의 보다 깊은 노드(node)로 들어가기. 아마도, 반환 상태를 미는 동안, 한정된 상태 기계에 있어서, 상태 전이(state transition) 지시하기. 그리고, 신경망에서의 뉴런의 콜렉션 트리거링(triggering).
순서도에서, 끝나는 오퍼레이션은 다음의 적어도 하나 이상을 말한다. 서브루틴 반환을 초래할 수 있는 이들 오퍼레이션들의 완료, 추론 그래프에서 보다 높은 노드의 횡단, 한정된 상태의 기계에서의 앞서 저장된 상태의 퍼핑(popping), 신경망의 발화 뉴런의 비활동 상태로 반환.
여기에 사용되는 컴퓨터는 명령 프로세서를 포함할 것이지만, 이에 한정되지는 않는다. 명령 프로세서는 적어도 하나의 명령 프로세싱 요소 및 각각이 적어도 하나의 명령 프로세싱 요소에 의해 컨트롤되는 적어도 하나의 데이터 프로세싱 요소를 포함한다.
발명자들은, OSC는 쓰기 오퍼레이션 동안 기록기의 가장 좋은 사용을 위해, 비트 에러율(BER)에서의 최소한의 손실을 가능한 한 많이 저감되는 것이 필요하다는 전제에 바탕을 두고 접근을 채택했다. 발명자들은, 또한, 최적화 도식(optimization schemes)의 수를 조사했으며, 쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 보증할 뿐만 아니라, 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 보증하도록 최소 OSC(2922)를 속박하는 것이 상당히 신뢰성있는 개선을 이끈다는 것을 발견했다.
도 3a는 도 2c를 세밀화한 것으로 본 발명의 관점을 보여준다.
두 개의 별개의 프로그램 시스템이 메모리(1120)에 상주하는 것으로 도시되어 있다. 디스크 드라이브(10) 조립 후에 자가 테스트 동안, 초기화 프로그램(2000)은 적어도 하나의 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 발생시킨다. 본질적으로 초기화 후에, 규칙적인 오퍼레이션 동안, 프로그램 시스템(3000)은 쓰기 오퍼레이션을 실행하도록 하나 이상의 쓰기 파라미터 콜렉션들(2900)(2930)을 사용한다. 이들 쓰기 오퍼레이션들은 액세스되는 디스크 면(12)의 주위 온도의 평가에 바탕을 두고 OSC 콜렉션(2920) 멤버들을 사용하는 관련된 래디얼 존들의 트랙에 적당한 기록기를 사용한다.
메모리(1120)는 휘발성 및 비휘발성 메모리 구성 요소 둘 다를 포함할 수 있다는 것을 유념하라. 초기화 프로그램 시스템(3000)은 바람직하게는, 자가 테스트 초기화 후에 본질적으로 사라지는 휘발성 메모리 구성 요소에 상주할 수 있다. 프로그램 시스템(3000) 뿐만 아니라, 쓰기 파라미터 콜렉션들(2900)은 바람직하게는, 하나 이상의 비휘발성 메모리 구성 요소에 상주하며, 시스템의 전원이 켜질 때마다 이용할 수 있다. 초기화 프로세스(2000) 동안, 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)은 바람직하게는, 휘발성 메모리 구성요소에 상주할 수 있으며, 초기화의 끝 무렵에는 결국은 비휘발성 메모리 구성 요소에 설치된다.
각 디스크 면의 래디얼 존들은, 래디얼 존 내에서의 래디얼 방향으로 넓이를 가지는 그 디스크 면 상의 다수의 트랙들을 포함한다. 디스크 드라이브는, 바람직하게는, 많은 최신의 출원들에서, 15 내지 30 래디얼 존만큼 많이 가질 수 있다.
발명자들은, 강한 쓰기 필드를 가지는 기록기는, 인접 트랙 쓰기(ATW) 에러, 인치 당 트랙(TPI) 마진, 쓰기 유도 불안정성(WII), 읽기-쓰기 헤드 열화 및 열적인 폴 끝 돌출(TPTP)에 의해 유발된 헤드와 디스크 간섭(HDI)의 증가에 기인한 높은 OSC를 가지는 상당한 신뢰성 손실을 겪는 다는 것을 발견했다. 발명자들은 약한 쓰기 필드를 가지는 기록기는, 강한 기록기에서와 똑같은 문제들 없이 보다 높은 OSC 사용 기회를 주는, 높은 OSC로 상당한 신뢰성 손실을 겪지 않는다는 것을 발견했다.
열적 폴 끝 돌출(TPTP)은, 회전하는 디스크 면과 접촉을 이끄는, 이들 물질의 일부가 튀어나올 때까지, 쓰기 오퍼레이션 동안 확장하는 헤드 슬라이더 안팎의 물질에 의해 유발된다. 접촉은 부상 높이를 바꿈으로써 쓰기 성능을 열화 시킬 수 있다. 접촉은 또한 디스크 면의 일부를 마멸시킬 수 있다. TPTP를 고려하는 것은, 발명자들에게 읽기-쓰기 헤드 열화 및 헤드와 디스크의 간섭(HDI) 둘 다를 상당히 간파하도록 한다. 발명자들은, 여기에 포함된 것처럼, 오버슈트 컨트롤(OSC)의 최적화가 이러한 문제를 어느 정도까지는 최소화할 수 있다는 것을 발견했다.
도 3b는 래디얼 존 콜렉션(2910)의 멤버들과 통신하는 기록기와 관련하여, 도 3a의 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션(2920)을 포함하는 쓰기 파라미터들(2900)을 발생시키는 도 3a의 프로그램 시스템(2000)의 상세 순서도를 보여준다.
래디얼 존 콜렉션(2910)은 디스크 드라이브(10) 내에서 회전하는 디스크 면(12) 상의 방사상으로 일관된(radially consecutive) 트랙들을 포함한다.
기록기는, 디스크 드라이브(10) 내에 내포되어 있다. 기록기는 드라이브(10) 내에서, 회전하는 디스크 면(12)과 통신하는 읽기-쓰기 헤드(200), 읽기-쓰기 헤드(200)와 연결된 전치 증폭기(224) 및 전치 증폭기(224)와 연결된 채널 인터페이스(222)를 구비한다. OSC 콜렉션(2920)는 최적 OSC(2924), 최소 OSC(2922) 및 최대 OSC(2926)를 포함한다.
오퍼레이션(2012)은 비트 에러율(BER)을 생성하기 위해 OSC 콜렉션(2920) 멤버들을 최적화하는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2022)은 BER에 바탕을 두고 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 충족하도록 최소 OSC(2922)를 최적화하는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2032)은 쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 충족하기 위해 최소 OSC(2922)를 최적화하는 것을 수행한다.
도 3c는 BER을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션(2920) 멤버들을 최적화하는, 래디얼 존 콜렉션(2910) 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한, 도 3b의 오퍼레이션(2012)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2052)은 초기 채널 값 콜렉션 및 초기 OSC 값 둘 다에 바탕을 두고, 참조(reference) BER 및 참조 OSC를 발생시키는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2062)은 적어도 두 개의 엔트리(entries)를 내포하는 OSC 테이블(2990)을 생성하기 위해 참조 BER 및 참조 OSC 값에 바탕을 두고 테스트함에 의해 최소 OSC(2922)를 찾는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2072)은 OSC 테이블(2990)을 업데이트하기 위해 참조 BER 및 참조 OSC에 바탕을 두고 테스트함에 의해 최대 OSC(2926)를 찾는 것을 수행한다.
초기 채널 값 콜렉션 및 초기 OSC 값은 바람직하게는, 다음의 하나 또는 둘을 수행한 결과로써 발생될 수 있다. 읽기 채널을, 초기 읽기 채널 최적화(Read Channel Optimization :RCO) 파라미터 리스트를 생성하기 위해 쓰기 전류 및 OSC의 디폴트 값(default values)에 바탕을 두고 다른 파라미터들을 위해 최적화함 및 읽기 채널을, 다른 초기 RCO 파라미터들에 바탕을 두고 초기 쓰기 전류 및 초기 OSC를 생성하기 위해 최적화함. 초기 OSC는 디폴트 쓰기 전류 및 디폴트 OSC에 적어도 부분적으로 바탕을 두고 있다. 도 2c 및 도 3a에 보여진 바와 같이, RCO 파라미터 리스트는, 쓰기 전류(Wc), 쓰기 오버슈트 컨트롤(OSC) 뿐만 아니라, 읽기 바이어스(Read-bias) 및 쓰기 바이어스(Write_bias)를 포함할 것이라는 것을 유념하라.
OSC 테이블(2990) 엔트리 각각은 OSC 값 및 BER 테스트 값을 내포한다는 것을 유념하라. 최적 OSC(2924)는, 래디얼 존 콜렉션(2910)의 트랙들과 통신하는 기록기 관련하여, 최소 BER 테스트 값을 가지도록 OSC 테이블(2990)로부터 결정된다.
도 4는 수평축을 OSC 함수로, 수직 축에 의해 표현된 비트 에러율(BER)과 함께, 열적 폴 끝 돌출(TPTP)의 존재를 가지거나 가지지 않는 다양한 기록기들의 쓰기 강도(2902)의 영향을 보여준다.
도 4에서, 트레이스(3000)는 TPTP의 존재를 가지는 매우 강한 기록기를 보여준다. 발명자들은, 정상 온도에서 기록기가 작동할 때, 디스크 컨트롤러가 보다 낮은 OSC를 사용해야 한다는 것을 발견했다. 발명자들은 또한, 디스크 컨트롤러가 저온 오퍼레이션 동안 훨씬 더 높은 OSC 값을 사용해서는 안 된다는 것을 발견했다.
도 4에서, 트레이스(3010)는 TPTP의 존재를 가지는 약한 기록기를 보여준다. 발명자들은 최소 BER 증가와 함께, 정상 온도에서 기록기를 작동할 때, 디스크 컨트롤러가 보다 낮은 OSC를 사용할 수 있다는 것을 발견했다. 발명자들은 또한, 저온 오퍼레이션 동안 디스크 컨트롤러가 보다 높은 OSC 값을 사용해서는 안 된다는 것을 발견했다.
도 4에서 트레이스(3020)는 TPTP의 존재를 가지지 않는 매우 강한 기록기를 보여준다. 발명자들은 정상 온도에서 기록기가 작동할 때, 디스크 컨트롤러가 보다 낮은 OSC를 사용해야 한다는 것을 발견했다. 또한, 발명자들은 저온 오퍼레이션 동안, 디스크 컨트롤러가 훨씬 더 높은 OSC 값을 사용할 수 있다는 것을 발견했다.
도 4에서, 트레이스(3030)는 TPTP의 존재를 가지지 않는 약한 기록기를 보여준다. 발명자들은 최소 BER 증가와 함께, 정상 온도에서 기록기가 작동할 때, 기록기가 보다 낮은 OSC를 사용할 수 있다는 것을 발견했다. 또한, 발명자들은 저온 오퍼레이션을 위해서는, 기록기가 보다 높은 OSC 값을 필요로 한다는 것을 발견했다.
적어도 3개의 별개의 OSC 파라미터들을 결정하는 것은 기록기의 쓰기 오퍼레이션 컨트롤에 대해서는 바람직하다. 최소 OSC(2922)는 정상 쓰기 온도에 대해서는 바람직하다. 최적 OSC(2924)는 본질적으로 섭씨 15°와 본질적으로 섭씨 5° 사이의 제1저온 범위에서는 바람직하다. 최대 OSC(2926)는 상기 제1저온 범위 아래에서 바람직하다.
도 5는 도 4로부터 TPTP 트레이스(trace:3000)를 가지는 강한 기록기 및 TPTP 트레이스(3020)를 가지지 않는 약한 기록기를 사용하는 OSC 최적화의 기본적인 개념을 보여준다.
발명자들은 강한 기록기(3000)에 대해서는, 최적 OSC(2924)가 도 4 및 도 5의 트레이스(3000)에 의해 보여진 바와 같이, 목욕통 모양의 바닥으로서 종종 존재한다는 것을 발견하였다. 너무 강한 쓰기 필드 또는 유출에 관련된 헤드와 디스크 간섭(HDI)에 기인하여, 너무 높은 OSC 값은 비트 에러율(BER)을 증가시킨다. 이들 문제들이, 기록기와 통신하는 디스크 면(12)의 외경 트랙들 가까이에서 가장 자주 발생했다. 발명자들은 또한 강한 기록기들은 정상 온도 아래에서 작동하는 동안 OSC에 있어서 증가를 많이 필요로 하지 않는다는 것을 발견했다.
발명자들은, 약한 기록기(3020)에 대해서는, 정상 온도 하에서 특히, 외경 트랙 가까이에서는 보다 큰 OSC가 필요하다는 것을 발견하였다. 비트 에러율(BER)은, 특히, 중간 직경과 내경 사이의 트랙들 대부분에 대해, 보다 높은 OSC 범위를 사용할 때, 포화되는 경향이 있다. 약한 기록기들은 저온 오퍼레이션동안 상당히 증가된 OSC를 필요로 하는 경향이 있다.
도 5에서, 강한 기록기(3000)에 대해, 최소 OSC(2922)와 최대 OSC(2926)는, 최적 OSC(2924)를 사용할 때 발생하는 최소 비트 에러율(BER)에 의해 곱해진 ΔBER 내에서 본질적이다. 약한 기록기(3020)에 대해, 최소 OSC(2952)는, 본질적으로, 최적 OSC(2954) 사용시 발생하는, 최소 비투 에러율(ber)에 의해 곱해진 ΔBER이다. 약한 기록기(3020)에 대해, 최대 OSC(2956)는 본질적으로 최적 OSC(2954)와 같으며, 둘 다는 최대 적합한 OSC이라는 것을 유념하라. ΔBER은 분수로, 바람직하게는 약 0.3이다.
트랙의 래디얼 존 콜렉션(2910)에 대한 강한 기록기(3000)와 관련한, OSC 콜렉션(2920)의 이들 3개의 멤버들은 모두 래디얼 존 콜렉션(2940)을 위한 약한 기록기(3020)와 관련한 OSC 콜렉션(2950) 멤버들의 어떤 것보다 작다.
도 6a는 최소 OSC(2922)를 찾는, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3c의 오퍼레이션(2062)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2112)은, 비트 에러율 테스트가, OSC 값을 위한 BER이 참조 BER에 바탕을 둔 제1 비율 에러율 범위를 밖이라는 것을 보고할 때까지, 참조 OSC로부터 연속적으로 OSC 값을 감소시킨다. 오퍼레이션(2122)은 OSC 값에 최소 OSC(2922)를 세팅하는 것을 수행한다.
도 6b는 최대 OSC(2926)을 찾는, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3c의 오퍼레이션(2072)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2132)은, 비트 에러율 테스트가, OSC 값을 위한 BER이 기준 BER에 바탕을 둔 제2비트 에러율 범위 밖이라는 것을 보고할 때까지, 참조 OSC로부터 연속적으로 OSC 값을 증가시키는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2142)은 OSC 값에 최대 OSC(2926)을 세팅하는 것을 수행한다.
참조 BER은 바람직하게는, 도 5에 보여진 최소 BER이다. 제1 비트 에러율 범위 및 제2비트 에러율 범위는 별개의 범위일 수도 있지만, 바람직하게는, 참조 BER에 의해 곱해진 ΔBER 이내이다.
도 6c는 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 도 6a의 오퍼레이션(2112) 및 OSC 값을 연속적으로 증가시키는 것을 수행하는 도 6b의 오퍼레이션(2132)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2172)은 OSC 테이블(2990)에 OSC 값들 중 적어도 하나를 위한 BER를 모으는 것을 수행한다.
래디얼 존 콜렉션은 바람직하게는, 제1트랙, 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙들 및, 상기 제1트랙과 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙들을 내포하는 래디얼 이웃 스트립 콜렉션(radial neighborhood strip collection)을 포함한다. 상기 래디얼 이웃 스트립 콜렉션은 바람직하게는, 상기 래디얼 존 콜렉션에 속하는 적어도 2개의 부가적인 트랙을 포함한다. 래디얼 이웃 스트립 콜렉션은 바람직하게는, 제1트랙에 방사상으로 이웃하는 트랙들(21)전부를 포함한다.
도 7a는 ATW 기준(criteria)을 충족시키기 위해 최소 OSC(2922)를 최적화하는, 래디얼 존 콜렉션(2910) 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3b의 오퍼레이션(2022)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2232)은 최소 OSC(2922)에 OSC 값을 세팅하는 것을 수행한다. OSC 값을 사용하는 인접 트랙 쓰기(ATW) 테스트가, 참조 BER에 바탕을 둔 ATW 기준 밖의, 래디얼 이웃 스트립 콜렉션 멤버들의 적어도 하나를 위한 BER을 제공할 때마다, 오퍼레이션(2242)은 연속적으로 OSC 값을 감소시킨다. 오퍼레이션(2252)은 OSC 값에 최소 OSC(2922)를 세팅하는 것을 수행한다.
도 7b는 WII 기준을 충족시키기 위해 최소 OSC(2922)를 최적화하는 단계인, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3b의 오퍼레이션(2032)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2272)은 최소 OSC(2922)에 OSC 값을 세팅하는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2282)은, 자동 게인 컨트롤(Automatic Gain Control:AGC) 범위 및 AGC 평균이, 래디얼 존 콜렉션에 속하는 트랙의 OSC 값을 사용하여 쓰기를 반복하는 것에 바탕을 두고, AGC 평균의 분수를 초과하는 AGC 범위를 나타낼 때마다, OSC 값을 연속적으로 감소시킨다. 오퍼레이션(2292)은 OSC 값에 최소 OSC(2922)를 세팅하는 것을 수행한다.
도 8은 도 3b 및 도 7a의 오퍼레이션(2022)의 ATW 기준을 충족시키도록 최소 OSC(2902)를 최적화하는 기본 개념을 보여준다.
도 8의 가로축은 40.2 mA의 쓰기 전류 세팅 및 0부터 28까지의 OSC 세팅을 나타낸다. 왼편의 수직 축은 비트 에러율(BER)의 10을 밑으로 하는 대수(logarithm base 10)를 나타낸다. 오른편의 수직 축은 0부터 4000까지의 채널 통계 측정(Channel Statistical Measurements: CSM)을 나타낸다.
도 8에서, 3070으로부터의 트레이스들 및 그 위는, 오퍼레이션(2292)에 의해 테스트 트랙에 인접 트랙 쓰기를 반복한 후에 측정된 인접 트랙 비율 에러율을 나타낸다. 트레이스(3072)는 강한 기록기를 위한 BER 곡선을 나타낸다. 3072 아래 트레이스들은 대응하는 BER 트레이스들(3070) 및 그 위를 위해 측정된 CSM 값을 나타낸다.
도 8은, 인접 트랙 쓰기 에러에 관련한 발명자들의 실험적인 발견 및, 기록기의 강도에 바탕을 둔 쓰기 전류(Wc) 및 오버슈트 컨트롤(OSC)의 관계를 나타낸다. 기록기의 쓰기 강도가 보다 높을수록, 증가된 OSC로부터의 증가된 인접 트랙 쓰기 노이즈가 보다 커진다. 증가된 인접 트랙 쓰기 노이즈는 BER의 대수(log)에 있어서 증가로써 보여질 수 있다.
발명자들은, 도 8에 보여진 바와 같이, 최소 OSC(2922)는 두 인접 트랙에 바람직하게는 200회 쓰기를 반복한 후에 BER 손실에 의해 곱해진 바람직하게는 10^1.5인 ATW 기준을 보증해야한다는 결론을 내렸다. 발명자들은, 만약 ATW 기준이 만족되지 않는다면, ATW 기준이 충족될 때까지, 최소 OSC(2922)는 감소되어야 하며, ATW 테스트가 다시 수행되어야한다는 것을 발견하였다.
도 9는 도 3b 및 도 7b의 오퍼레이션(2032)의 WII 기준을 충족시키도록 최소 OSC(2902)를 최적화하는 기본 개념을 보여준다.
도 9에서, 수직 축은 전치 증폭기(224)에서 발견된 AGC 평균에 대한 자동 게인 컨트롤(AGC) 범위의 퍼센트를 나타낸다. 수평축은, 도면의 바닥의 라벨 스트립(label strip)에서의 낮게 위치된 수로서 쓰기 전류(Wc) 및 높게 위치된 수로 오버슈트 컨트롤(OSC)의 조합을 나타낸다.
발명자들은, 다음을 결론짓기 위해, 도 9를 요약하는 실험적인 데이터를 믿었다. 보다 높은 쓰기 강도는 보다 큰 쓰기 유도 불안정성(WII)을 유발한다. 자동 게인 컨트롤(AGC)을 측정하는 것은, WII의 좋은 표시를 제공하는 쓰기 오퍼레이션 후에 변경된다. 최소 OSC(2922)는 반복된 트랙 쓰기 동안 WII 기준을 보증해야 한다. 최소 OSC(2922)가 WII 기준을 보증하지 않는다면, 그것은 감소되어야 하고 테스트는 반복되어야 한다.
WII 기준은 바람직하게는, 평균 AGC의 고정된 비율 내에서의 AGC 변동이 될 수 있다. 하나의 바람직한 고절 비율은 약 10%이다. 반복된 트랙 쓰기는 바람직하게는 적어도 50회 반복이 되어야 한다.
발명자들은, 테스트 방법이 바람직하게는, 기록기에 의해 액세스된 디스크 면의 적어도 4개의 래디얼 존에 적용되어야한다는 것을 발견하였다. 발명자들은, 테스트 방법이 바람직하게는, 테스트되는 래디얼 존 콜렉션 멤버들 각각을 위한 기록기와 관련한 테스트된 OSC 콜렉션에 바탕을 두고, 래디얼 존 콜렉션 모두를 위한 OSC 콜렉션을 기입해야 한다는 것을 발견하였다. 이들 발생시킨 쓰기 파라미터 콜렉션들(2900)에 바탕을 두고 읽기 채널 최적화를 수행하는 것이 바람직하다.
쓰기 파라미터 콜렉션(2900)은 도 3a 및 도 3b의 오퍼레이션으로써 보여진 프로세스의 산물(product of the process)이다.
디스크 드라이브(10)를 만드는 프로세스는, 바람직하게는, 다음을 포함할 수 있다. 래디얼 존 콜렉션(2910)의 적어도 하나를 위한 기록기(2902)에 관련한, 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 생성하기 위해 도 3a 및 도 3b의 방법(2000)의 단계들을 수행하는 것. 그리고, 디스크 드라이브(10) 내에서 파묻힌 컨트롤러(1000)에 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 설치하는 것. 설치는 바람직하게는, 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 메모리(1120)의 비휘발성 메모리 구성 요소에 쓰는 것을 포함한다는 것을 유념하라. 디스크 드라이브(10)는 이러한 프로세스의 산물이다.
도 3a 및 도 3b에 보여진 프로그램 시스템(2000)은 도 3a의 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 발생시키는 방법(2000)의 이행이다. 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 발생시키는 이 방법(2000)을 이행하는 장치는, 도 3b에 보여진 오퍼레이션 각각을 위한 수단을 포함한다. 이들 수단들은 각 오퍼레이션의 적어도 일부를 이행하는 한정된 상태의 기계 및 기록기뿐만 아니라, 프로그램 스템들을 포함할 수 있다.
본 발명은 또한, 도 3a에 보여진바와 같이, 회전하는 디스크면(12) 상의 적어도 두 개의 트랙을 포함하는 래디얼 존 콜렉션(2910)을 위한 기록기 관련하여, 오버슈트 컨트롤(0SC) 콜렉션(2920)을 사용하는 디스크 드라이브(10) 내에서 기록기(222-224-200)를 컨트롤하는 방법(2500)을 포함한다.
도 10a는 어쨌든 쓰기 오퍼레이션들을 위한 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 사용하는 디스크 드라이브(10) 내에서 기록기(222-224-200)를 컨트롤하는 도 3a의 오퍼레이션(2500)의 상세 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2512)은 정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다, 래디얼 존 콜렉션(2910) 내에서 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 최소 OSC(2922)를 사용하는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2522)은, 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 래디얼 존 콜렉션(2910) 내에서 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 최적 OSC(2924) 및 최대 OSC(2926) 중 적어도 하나를 사용하는 것을 수행한다.
도 10b는 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 도 10a의 오퍼레이션(2522)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.
오퍼레이션(2552)은, 제1저온 범위에서 작동할 때마다, 래디얼 존 콜렉션(2910) 내에서 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 최적 OSC(2924)를 사용하는 것을 수행한다. 오퍼레이션(2562)은 제1저온 범위 아래에서 작동할 때마다, 래디얼 존 콜렉션(2910) 내에서 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 최대 OSC(2926)을 사용하는 것을 수행한다.
앞선 실시예들은 예로서 제공된 것이며, 다음의 청구범위의 범위를 속박하는 것을 의미하지는 않는다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따르면, 조립된 디스크의 드라이브의 자가 테스트 단계(self-test phase)에서 하드디스크 신뢰도를 개선하기 위하여 최적화된 헤드 쓰기 파라미터들(head write parameters)을 결정할 수 있다.
따라서, 조립된 디스크 드라이브에서 쓰기 필드 컨트롤을 최적화할 수 있다.
도 1a는 보이스 코일(32)을 가지는 액츄에이터(30), 액츄에이터 축(40), 디스크들 사이에 위치된 헤드 짐벌 조립체(head gimbal assembly:60)를 가지는 액츄에이터 아암(50-58)을 포함하는 통상적인 종래의 고용량 디스크 드라이브(10)를 보여준다;
도 1b는 보이스 코일(32)을 가지는 액츄에이터(30), 액츄에이터 축(40), 액츄에이터 아암(50-56) 및 디스크가 제거된 상태에서의 헤드 짐벌 조립체(60-66)를 포함하는 액츄에이터(20)를 가지는 통상적인 종래의 고용량 디스크 드라이브(10)를 보여준다;
도 2a는 종래의 읽기-쓰기 헤드(200)를 내포하는 헤드 슬라이더(100)를 가지는 헤드 서스펜션 조립체를 포함하는 헤드 짐벌 조립체(60)를 보여준다;
도 2b는 종래 기술에서 발견되는 것처럼, 차례로 슬라이더(100)를 내포하는 헤드 짐벌 조립체(60)를 내포하는 액츄에이터 아암(50)의 주축(110) 사이의 관계를 보여준다;
도 2c는 조립된 디스크 드라이브(10)를 컨트롤하기 위해 사용되는, 종래의 디스크 드라이브 컨트롤러(1000)의 간략화 된 개요를 보여준다;
도 3a는 도 2c를 세밀화한 것으로 본 발명의 관점을 보여준다;
도 3b는 래디얼 존 콜렉션(2910)의 멤버들과 통신하는 기록기와 관련하여, 도 3a의 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션(2920)을 포함하는 쓰기 파라미터들(2900)을 발생시키는 도 3a의 프로그램 시스템(2000)의 상세 순서도를 보여준다;
도 3c는 BER을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션(2920) 멤버들을 최적화하는, 래디얼 존 콜렉션(2910) 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3b의 오퍼레이션(2012)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 4는 수평축을 OSC 함수로, 수직 축에 의해 표현된 비트 에러율(BER)과 함께, 열적 폴 끝 돌출(TPTP)의 존재를 가지거나 가지지 않는 다양한 기록기들의 쓰기 강도(2902)의 영향을 보여준다;
도 5는 도 4로부터의 TPTP 트레이스(trace:3000)를 가지는 강한 기록기 및 TPTP 트레이스(3020)를 가지지 않는 약한 기록기를 사용하는 OSC 최적화의 기본적인 개념을 보여준다;
도 6a는 최소 OSC(2922)를 찾는, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3c의 오퍼레이션(2062)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 6b는 최대 OSC(2926)을 찾는, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3c의 오퍼레이션(2072)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 6c는 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 도 6a의 오퍼레이션(2112) 및 OSC 값을 연속적으로 증가시키는 것을 수행하는 도 6b의 오퍼레이션(2132)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 7a는 ATW 기준을 충족시키기 위해 최소 OSC(2922)를 최적화하는, 래디얼 존 콜렉션(2910) 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3b의 오퍼레이션(2022)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 7b는 WII 기준을 충족시키기 위해 최소 OSC(2922)를 최적화하는 단계인, 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 기록기와 관련한 도 3b의 오퍼레이션(2032)의 보다 상세한 순서도를 보여준다;
도 8은 도 3b 및 도 7a의 오퍼레이션(2022)의 ATW 기준을 충족시키도록 최소 OSC(2902)를 최적화하는 기본 개념을 보여준다;
도 9는 도 3b 및 도 7b의 오퍼레이션(2032)의 WII 기준을 충족시키도록 최소 OSC(2902)를 최적화하는 기본 개념을 보여준다;
도 10a는 어쨌든 쓰기 오퍼레이션들을 위해, 쓰기 파라미터 콜렉션(2900)을 사용하는 디스크 드라이브(10) 내에서 기록기(222-224-200)를 컨트롤하는 도 3a의 오퍼레이션(2500)의 상세 순서도를 보여준다; 및
도 10b는 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 도 10a의 오퍼레이션(2522)의 보다 상세한 순서도를 보여준다.

Claims (25)

  1. 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들의 래디얼 존 콜렉션을 위한 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키기 위하여,
    상기 기록기는 디스크 드라이브 내에 내포되어 있으며,
    상기 기록기는, 상기 디스크 드라이브 내에, 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드, 상기 읽기-쓰기 헤드에 연결된 전치 증폭기 및 상기 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하고,
    OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기와 관련하여,
    비트 에러율(BER)을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계;
    상기 BER에 바탕을 두고 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계; 및
    쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계를 구비하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 BER을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계는,
    초기 채널 값 콜렉션 및 초기 OSC 값 둘 다에 바탕을 두고, 참조 BER 및 참조 OSC를 발생시키는 단계;
    적어도 2개의 엔트리를 내포하는 OSC 테이블을 생성하기 위해 상기 참조 BER 및 상기 참조 OSC 값에 바탕을 두고 테스트함에 의해 상기 최소 OSC를 찾는 단계; 및
    상기 OSC 테이블을 업데이트 하도록 상기 참조 BER 및 상기 참조 OSC에 바탕을 두고 테스트함에 의해 상기 최대 OSC를 찾는 단계;를 더 구비하며,
    상기 OSC 테이블 엔트리 각각은 OSC 값 및 BER 테스트 값을 내포하며;
    상기 최적 OSC는 최소 BER 테스트 값을 가지도록 상기 OSC 테이블로부터 결정되는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 최소 OSC를 찾는 단계는,
    비트 에러율 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 제1비트 에러율 범위 밖의 상기 OSC값을 위한 BER를 보고할 때까지, 상기 참조 OSC로부터 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계; 및
    상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비하며,
    상기 OSC값을 연속적으로 감소시키는 단계는, 상기 OSC 테이블에 상기 OSC 값의 적어도 하나를 위한 상기 BER을 모으는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 최대 OSC를 찾는 단계는,
    비트 에러율 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 제2비트 에러 범위 밖의 상기 OSC값을 위한 BER를 보고할 때까지, 상기 참조 OSC로부터 OSC 값을 연속적으로 증가시키는 단계;
    상기 OSC 값에 상기 최대 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비하며,
    상기 OSC값을 연속적으로 증가시키는 단계는, 상기 OSC 테이블에 상기 OSC 값의 적어도 하나를 위한 상기 BER을 모으는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  5. 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들의 래디얼 존 콜렉션을 위한 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키기 위하여,
    상기 기록기는 디스크 드라이브 내에 내포되어 있으며,
    상기 기록기는, 상기 디스크 드라이브 내에, 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드, 상기 읽기-쓰기 헤드에 연결된 전치 증폭기 및 상기 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하고,
    OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기와 관련하여,
    비트 에러율(BER)을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계;
    상기 BER에 바탕을 두고 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계; 및
    쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계를 구비하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션은, 제1트랙, 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙 및, 상기 제1 트랙 및 2개의 방사상으로 이웃하는 트랙들을 내포하는 래디얼 이웃 스트립 콜렉션을 포함하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 ATW 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계는,
    상기 최소 OSC에 OSC 값을 세팅하는 단계;
    상기 OSC 값을 사용하는 인접 트랙 쓰기 테스트가 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖의 상기 래디얼 이웃 스트립 콜렉션 멤버들 중의 적어도 하나를 위한 BER을 제공할 때마다, 연속적으로 상기 OSC값을 감소시키는 단계; 및
    상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 인접 트랙 쓰기 테스트 때마다 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계는,
    상기 OSC 값을 사용하여 상기 방사상으로 이웃하는 트랙들을 반복하여 쓰는 단계;
    상기 BER이 상기 래디얼 콜렉션 멤버를 위한 상기 참조 BER에 바탕을 두고 ATW 기준 밖일 때까지, 상기 래디얼 이웃 스트립 콜렉션 멤버들의 각각을 위한 상기 BER을 제공하는, 상기 OSC 값을 사용하는 상기 인접 트랙 쓰기 테스트를 수행하는 단계;
    상기 BER이 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖일 때마다, 상기 OSC 값을 감소시키는 단계; 및
    상기 BER이, 상기 래디얼 콜렉션 멤버들의 적어도 하나를 위한 상기 참조 BER에 바탕을 두고 상기 ATW 기준 밖일 때마다, 앞선 단계들을 반복하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  7. 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들의 래디얼 존 콜렉션을 위한 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키기 위하여,
    상기 기록기는 디스크 드라이브 내에 내포되어 있으며,
    상기 기록기는, 상기 디스크 드라이브 내에, 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드, 상기 읽기-쓰기 헤드에 연결된 전치 증폭기 및 상기 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하고,
    OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기와 관련하여,
    비트 에러율(BER)을 생성하기 위해 상기 OSC 콜렉션 멤버들을 최적화하는 단계;
    상기 BER에 바탕을 두고 인접 트랙 쓰기(ATW) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계; 및
    쓰기 유도 불안정성(WII) 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계를 구비하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션 멤버들과 통신하는 상기 기록기 관련하여, 상기 WII 기준을 충족시키도록 상기 최소 OSC를 최적화하는 단계는,
    상기 최소 OSC에 OSC 값을 세팅하는 단계;
    상기 래디얼 존 콜렉션에 속하는 트랙의 상기 OSC 값을 사용한 반복 기록에 바탕을 두고, 상기 자동 게인 컨트롤(AGC) 범위 및 AGC 평균을 측정하는 것이, 상기 AGC 평균의 분수를 초과하는 상기 AGC 범위를 나타낼 때마다, 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계; 및
    상기 OSC 값에 상기 최소 OSC를 세팅하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 측정 때마다, 상기 OSC 값을 연속적으로 감소시키는 단계는,
    상기 AGC 평균, AGC 최소 및 AGC 최대를 얻기 위해, 상기 OSC값을 사용하는 상기 트랙을 반복적으로 쓰는 단계; 및
    상기 AGC 최대 - 상기 AGC 최소로 상기 AGC 범위를 세팅하는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 오버슈트 컨트롤 콜렉션을 발생시키는 방법.
  9. 적어도 4개의 상기 래디얼 존 콜렉션들을 구비하는 테스트 존 콜렉션의 각 멤버를 위하여, 기록기 관련하여 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 단계들을 수행하는 단계; 및
    상기 테스트 존 콜렉션 멤버들 각각을 위한 상기 기록기 관련하여 OSC 콜렉션에 바탕을 두고 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련한 상기 OSC 콜렉션을 기입하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 디스크 드라이브 내에서, 회전하는 디스크 면 상의 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련하여, 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 발생시키는 방법.
  10. 청구항 9항의 단계들을 수행하는 단계;를 구비하며,
    상기 래디얼 존 콜렉션들 각각을 위하여,
    상기 기록기 관련하여 상기 OSC 콜렉션을 포함하는 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하도록 상기 래디얼 존 콜렉션을을 위한 상기 기록기 관련하여 상기 최소 OSC에 바탕을 두고, 읽기 채널을 최적화하는 단계;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 청구항 9항의 상기 기록기 관련한 읽기 채널 최적화 방법.
  11. 제10항에 있어서, 초기 RCO 다른 파라미터 리스트를 생성하기 위해, 디폴트 쓰기 전류 및 상기 OSC의 디폴트에 바탕을 두고, 다른 파리미터들을 위해 읽기 채널을 최적화하는 단계; 및
    상기 초기 RCO 다른 파라미터들에 바탕을 두고, 초기 쓰기 전류 및 상기 초기 OSC를 생성하기 위해, 읽기 채널을 최적화하는 단계;를 구비하는, 콜렉션의 적어도 한 멤버를 더 구비하며,
    상기 초기 OSC는 상기 디폴트 쓰기 전류 및 상기 디폴트 OSC에 적어도 부분적으로 바탕을 두는 것을 특징으로 하는 읽기 채널 최적화 방법.
  12. 청구항 10항의 프로세스의 산물로서, 상기 래디얼 존 콜렉션들의 적어도 하나를 위한 상기 기록기 관련한, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션.
  13. 래디얼 존 콜렉션들의 적어도 하나를 위한 상기 기록기와 관련한, 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계; 및
    상기 디스크 드라이브 내에서 파묻힌 컨트롤러로 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 설치하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 청구항 10항의 상기 디스크 드라이브를 만드는 방법.
  14. 제13항에 있어서, 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계는,
    상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계;
    제2기록기에 포함된 읽기-쓰기 헤드와 통신하는 제2회전하는 디스크 면 상의 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 하나를 위한, 상기 디스크 드라이브에 포함된 제2기록기 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해, 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계;
    대응하는 디스크 면과 통신하는, 상기 디스크 드라이브에 포함된 상기 기록기들 중 적어도 3개 각각에 대해, 상기 대응하는 회전 디스크 면 상에 상기 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 하나를 위한 상기 기록기들 관련하여, 상기 쓰기 파라미터 콜렉션을 생성하도록 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계; 및
    상기 디스크 드라이브에 포함된 상기 기록기들 각각에 대해, 상기 대응하는 회전 디스크 면 상에 상기 래디얼 존 콜렉션들 모두를 위한 상기 기록기들 관련하여, 상기 기록 파라미터 콜렉션을 생성하기 위해, 청구항 10항의 단계들을 수행하는 단계를 구비하는 콜렉션의 적어도 하나의 멤버를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브를 만드는 방법.
  15. 청구항 13항의 프로세스의 산물로서 상기 디스크 드라이브.
  16. 파묻힌 컨트롤러 내에서, 컴퓨터와 액세스 가능하게 연결된 메모리에 상주하는 적어도 두 개의 프로그램 단계들을 구비하며, 상기 프로그램 단계들은 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 단계들을 이행하는 것을 특징으로 하는, 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 상기 디스크 드라이브의 파묻힌 컨트롤러를 컨트롤하기 위한 프로그램 시스템.
  17. 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 단계들 각각을 위한 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 청구항 1항, 5항 또는 7항 중 어느 한 항의 방법을 이행하는 장치.
  18. 기록기는, 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드와 차례로 연결된, 전치 증폭기와 연결된 채널 인터페이스를 구비하며,
    상기 디스크 드라이브는, 상기 회전하는 디스크 면 상의 적어도 2개의 트랙을 포함하는 래디얼 존 콜렉션을 위한 상기 기록기와 관련한 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 내포하며,
    상기 OSC 콜렉션은 최적 OSC, 최소 OSC 및 최대 OSC를 포함하며,
    래디얼 존 콜렉션은 상기 회전하는 디스크 면 상의 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 구비하며,
    정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 기록 오퍼레이션 동안 상기 최소 OSC를 사용하는 단계; 및
    상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는, 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 최적 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계는,
    제1저온 범위에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적 OSC를 사용하는 단계; 및
    상기 제1저온 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최대 OSC를 사용하는 단계를 구비하는, 콜렉션의 적어도 하나의 멤버를 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
  20. 제19항에 있어서, 상기 제1저온 범위는 섭씨로 대략 15°와 섭씨로 대략 5°사이인 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
  21. 파묻힌 컨트롤러 내에서 컴퓨터와 액세스 가능하게 연결된 메모리에 상주하는 적어도 2개의 프로그램 단계를 구비하며, 상기 프로그램 단계들은 청구항 18항의 단계들을 이행하는, 청구항 18항의 디스크 드라이브의 파묻힌 컨트롤러를 컨트롤하기 위한 프로그램 시스템.
  22. 청구항 18항의 단계들 각각을 위한 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 청구항 18항의 방법을 이행하는 장치.
  23. 제18항에 있어서, 상기 회전하는 디스크 면은 상기 래디얼 존 콜렉션들 중 적어도 2개를 포함하며, 상기 래디얼 존 콜렉션 각각은 상기 회전하는 디스크 면 상에 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 포함하며;
    적어도 2개의 상기 래디얼 존 콜렉션 각각을 위해,
    정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 최소 OSC를 사용하는 단계; 및
    상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 상기 최적 OSC 및 상기 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
  24. 제18항에 있어서, 상기 디스크 드라이브는 적어도 2개의 상기 기록기들을 포함하며, 상기 기록기들 각각은, 상기 디스크 드라이브 내에서 회전하는 디스크 면과 통신하는 읽기-쓰기 헤드에 차례로 연결된, 전치 증폭기에 연결된 채널 인터페이스를 구비하며;
    적어도 2개의 상기 기록기 각각에 대해, 상기 디스크 드라이브는, 회전하는 디스크 면상에 적어도 3개의 방사상으로 일관된 트랙들을 포함하는 래디얼 존 콜렉션을 위한 상기 기록기와 관련한, 오버슈트 컨트롤(OSC) 콜렉션을 내포하며;
    적어도 2개의 상기 기록기 각각에 대해,
    정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최소 OSC를 사용하는 단계; 및
    상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션 동안 상기 최적의 OSC 및 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
  25. 제24항에 있어서, 상기 기록기들 각각에 대해,
    정상 온도 범위 내에서 작동할 때마다 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 최소 OSC를 사용하는 단계; 및
    상기 정상 온도 범위 아래에서 작동할 때마다, 상기 래디얼 존 콜렉션 내에서 상기 기록기에 의한 쓰기 오퍼레이션동안 상기 최적 OSC 및 상기 최대 OSC 중 적어도 하나를 사용하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 내에서 기록기를 컨트롤하는 방법.
KR10-2003-0080577A 2002-11-14 2003-11-14 조립된 디스크 드라이브에서 최적화된 헤드 쓰기 컨트롤을위한 쓰기 전류의 오버슈트 컨트롤을 결정 및/또는사용하는 방법 및 장치 KR100532479B1 (ko)

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