KR100555519B1 - 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법 및 정의 방법 - Google Patents

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Abstract

미디어에 읽기/쓰기를 수행할 수 있는 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 방법이 개시되어 있다.
개시된 자기 헤드 쓰기 특성 최적화 방법은, 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계와; 자기 헤드의 종류에 따라, 최적의 오버 슈트 컨트롤(OSC) 및 쓰기전류(WC)를 사용하여 쓰기 특성을 최적화하는 단계;를 포함한다.
개시된 자기 헤드 특성 최적화 방법에 따르면, 하드디스크 드라이브에서 각 자기 헤드가 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 또는 고온 약한 쓰기 헤드인지를 정의할 수 있으며, 자기 헤드 종류에 따른 기록성(writability)을 고려하고, 환경 온도를 고려하여, 각 자기 헤드의 특성에 맞게 최적화된 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하므로, 저온, 고온 약한 쓰기 문제가 생기지 않는다.

Description

자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법 및 정의 방법{Method for optimizing write properties and defining of magnetic head}
도 1은 쓰기 전류의 파형도,
도 2는 하드디스크 드라이브의 주요부분을 개략적으로 보인 도면,
도 3은 도 2의 자기 헤드를 개략적으로 보인 사시도,
도 4는 오버 슈트 컨트롤과 비트 에러율의 관계를 보인 그래프의 일 예,
도 5는 본 발명에 따른 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법을 개략적으로 보인 순서도,
도 6은 도 5에 적용되는 본 발명에 따른 자기 헤드 정의(define) 방법의 일 실시예를 보인 순서도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
20...하드디스크
70...자기 헤드(읽기/쓰기 헤드)
본 발명은 하드디스크 드라이브 분야에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 하드 디스크 드라이브에서의 각 자기 헤드의 기록성(writablility)을 고려하여 쓰기 특성을 최적화하는 방법 및 자기 헤드 정의 방법에 관한 것이다.
하드디스크 드라이브(HDD)는 자기 헤드에 의해 디스크에 기록된 정보를 읽거나, 디스크에 데이터를 쓰는 장치이다. 디스크는 스핀들 모터에 회전 가능하게 탑재되고, 정보는 보이스(voice) 코일 모터에 의해 회전되는 액추에이터(actuator) 암에 탑재된 자기 헤드(읽기/쓰기 헤드)에 의해 억세스 된다. 보이스 코일 모터는 전류에 의해 여자되어 액추에이터를 회전시키고 헤드를 이동시킨다. 읽기/쓰기 헤드는 디스크의 표면으로부터 나오는 자기의 변화를 감지하여 디스크 표면에 기록된 정보를 판독한다. 데이터 트랙에 정보를 쓰기 위해, 전류가 헤드로 공급된다. 전류는 자계를 발생시키고, 이것은 디스크 표면을 자화시킨다.
하드디스크 드라이브의 환경 조건에서의 성능은 드라이브의 신뢰성의 기본적이고 매우 중요한 항목이다. 특히, 온도와 습도 조건에서의 드라이브의 성능은 인접 트랙 소거(ATE:Adjacent Track Erase)나 약한 쓰기(Weak Write:WW)와 같은 기록성(writability)과 깊은 관련이 있다.
여기서, 자기 헤드에 제공되는 기록 전류에 의해 타겟 트랙에 인접한 트랙(이하, 인접 트랙)에 쓰여진 데이터가 소거되는 현상을 인접 트랙 소거(ATE:Adjacent Track Erase)라 한다.
하드디스크 드라이브에서 기록성(Writability)은 매우 중요한 특성이며, 이러한 쓰기 성능(write performance)은 환경에 영향을 받는다.
일반적으로 저온에서는 CoCrPt 물질에 바탕을 둔 미디어의 자성층 예컨대, 하드디스크의 자성층의 보자력(Coercivity)이 증가되어 상온 대비 쓰기 특성이 떨어지며, 이로 인하여 정확한 데이터를 쓰거나 이전 데이터를 제대로 덮어쓰지 못하는 오버라이트(Over Write) 특성 저하 문제가 생긴다. 반대로, 고온에서는 보자력의 감소로 인하여 같은 쓰기 필트(Write Field)에 대하여 너무 강하게 쓰여지는 현상으로 인하여 옆 트랙에 간섭을 주는 트랙 침범(Track Encroachment:TE)이나 인접 트랙 소거(ATE)와 같은 문제가 야기된다.
자기 헤드의 ATE특성은 고온에서는 미디어의 자성층의 보자력(Coercivity) 감소 및 비행 높이(Flying Height; FH)의 감소로 인하여 나빠지며, 저온에서는 미디어의 보자력 증가로 인하여 나빠진다.
최근 하드디스크 드라이브의 용량이 늘어남에 따라, 헤드의 읽기/쓰기 센서의 크기는 줄여지고, 비행 높이(flying height)도 점차 낮아지는 추세이다. 이와 같이 자기 헤드의 물리적 크기가 작아지면, 그 헤드에 제공되는 기록 전류에 의해 인접 트랙의 데이터가 소거되는 인접 트랙 소거 현상이 나타나기 쉽다.
보통의 경우, 약한 쓰기는 저온에서의 미디어의 자기 보자력(magnetic coercivity) 증가에 따른 쓰기 특성 저하 및 이에 따른 잘못된 정보의 입력을 말하는 저온 약한 쓰기가 주류이다.
최근에는 고온에서의 미디어 자성층의 보자력 감소에 따른 트랙간 간섭(트랙 침범 또는 인접 트랙 소거)의 보상 또는 개선을 위하여 오버 슈트 컨트롤(Over Shoot Control:OSC)이나 쓰기전류(WC)를 고온에서만 낮추어 사용하는데, 이럴 경우 사용되는 오버 슈트 컨트롤(OSC)이나 쓰기전류(WC) 값이 자기 헤드 특성에 대비하여 너무 낮아 발생되는 고온 약한 쓰기 문제도 발생된다.
여기서, 쓰기 전류의 파형의 일 예를 보인 도 1을 참조하면, 미디어의 자성층(1)에 쓰여진 데이터(2a)(2b)의 전환점(3)에서 쓰기 전류는, 날카로운 기립 형상을 보이는데, 이때의 쓰기 전류의 직류(dc) 성분을 상기 쓰기전류(WC)라 하고, 기립 성분을 오버 슈트 컨트롤(OSC)이라 한다. 쓰기전류(WC)는 자계의 세기를 보자력 근처에 유시시키는 역할을 하며, 오버 슈트 컨트롤(OSC)은 기록위치에서 자계의 세기를 보자력 이상으로 끌어올리는 트리거로서의 역할을 하는 것이다.
현재 대부분의 하드디스크 드라이브는 프리앰프(preamp)의 다이 온도(die temperature:프리앰프내에 내장된 온도 센서에 의해 프리앰프가 검출하는 온도)를 측정하여 하드디스크 드라이브 주변 환경 온도를 측정하고, 이를 토대로 저온에서는 기록성(Writability)을 개선하기 위하여 미디어의 보자력 증가에 따른 높은 보자력에 대응하도록 오버 슈트 컨트롤이나 쓰기전류(WC)를 일정 양 높여주고, 고온에서는 미디어의 보자력이 감소에 따른 낮은 보자력에 대응하도록 오버 슈트 컨트롤이나 쓰기전류(WC)를 반대로 일정 양을 줄여서 온도 환경에 맞는 쓰기 특성을 갖도록 하는 기술을 채용하고 있다.
즉, 최근의 하드디스크 드라이브는 드라이브의 온도 측정(실제로는 프리앰프 단의 온도 측정)을 통하여 쓰기전류(WC)나 오버 슈트 컨트롤을 제어하는 방법을 사용하여, 저온에서는 높은 쓰기전류(WC) 및 오버 슈트 컨트롤을 사용하여 보자력 증가에 대응하고, 고온에서는 낮은 쓰기전류(WC) 및 오버 슈트 컨트롤을 사용하여 보자력 감소에 대응하도록 하고 있다.
그런데, 자기 헤드 및 프리앰프는 넓은 특성 분포를 가지기 때문에, 종래의 방법과 같이 일정 양의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 저온, 고온 조건에 따라 가감시, 오버라이트나 기록성(Writability) 특성이 충분치 않아, 저온, 고온 약한 쓰기 문제가 발생되어 비트 깨짐 또는 개악(corruption)과 같은 문제가 야기될 수 있다.
본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 문제점을 개선하기 위하여 안출된 것으로, 하드디스크 드라이브에서의 각 자기 헤드의 기록성(writability)을 고려하여, 각 자기 헤드의 특성에 맞게 최적화된 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용함으로써 약한 쓰기 문제를 해결할 수 있는 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 방법 및 자기 헤드 정의 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 미디어에 읽기/쓰기를 수행할 수 있는 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 방법에 있어서, 상기 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계와; 상기 자기 헤드의 종류에 따라, 최적의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하여 쓰기 특성을 최적화하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계는, (가) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 제1횟수(M)만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 측정하는 단계; (나) 상기 복수의 존에 대한 제1오버 슈트 컨트롤 평균값을 저온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제1특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계; 및/또는 (다) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 상기 제1횟수보다 많은 제2횟수(N) 만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 측정하는 단계; (라) 상기 복수의 존에 대한 제2오버 슈트 컨트롤 평균값을 고온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제2특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계;를 포함하는 것이 바람직하다.
상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계는, 상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제1특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 저온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단한다.
상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계는, 상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 고온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단한다.
상기 제2횟수(N)는 상기 제1횟수(M)보다 크다.
상기 인접트랙쓰기는 상기 타겟 트랙의 양 인접 트랙의 모든 존에 대해 행해지며, 상기 제1 및 제2오버 슈트 컨트롤 평균값은 모든 존에 대한 평균값이다.
상기 제1특정값은 상기 제2특정값보다 크다.
상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는, 고온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 고온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC) 값을 높여 사용한다.
상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는, 저온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 저온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 높여 사용한다.
상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는, 상온에서, 고온 약한 쓰기 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 및 정상 헤드에 대해 상기 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 사용 및/또는, 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)를 사용하는 것이 바람직하다.
상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는, 저온 환경에서, 저온 약한 쓰기 헤드에 대해서는 최대 오버 슈트 컨트롤을 사용하며, 정상 헤드 및 고온 약한 쓰기 헤드에 대해서는, 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율을 나타내는 오버 슈트 컨트롤 값을 사용 및/또는, 저온 약한 쓰기 헤드는 정상 헤드보다 높은 쓰기전류(WC)를 사용하며, 고온 약한 쓰기 헤드와 정상 헤드는 저온 약한 쓰기 헤드에 비해 저온에서 상대적으로 낮은 쓰기전류(WC)를 사용하는 것이 바람직하다.
상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는, 고온 환경에서, 고온 약한 쓰기 헤드에 대해서는 상기 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)보다 소정 단계(α)만큼 높여 사용하고, 저온 약한 쓰기 헤드 및 정상 헤드에 대해서는 상기 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 사용 및/또는, 정상 헤드 및 저온 약한 쓰기 헤드는 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)보다 낮은 쓰기전류(WC)를 사용하고, 고온 약한 쓰기 헤드는 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)을 사용하는 것이 바람직하다.
상기 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 과정은, 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 중 하나의 자기 헤드 또는 선택적으로 일부 자기 헤드에 대해 행해지거나, 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 모두에 대해 행해질 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 자기 헤드 정의 방법은, (가) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 제1횟수(M)만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 측정하는 단계와; (나) 상기 복수의 존에 대한 제1오버 슈트 컨트롤 평균값을 저온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제1특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계; 및/또는 (다) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 상기 제1횟수(M)보다 많은 제2횟수(N) 만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 측정하는 단계와; (라) 상기 복수의 존에 대한 제2오버 슈트 컨트롤 평균값을 고온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제2특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계;를 포함하여, 상기 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지를 정의하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하면서 본 발명에 따른 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 방법에 대해 상세히 설명한다.
하드디스크 드라이브는 회전하는 하드디스크의 읽기/쓰기 면에 짝지어지는 자기 헤드(magnetic head)를 구비한다. 하드디스크 드라이브에는 통상 여러장의 하 드디스크가 동일 회전 축상에 설치되므로, 이에 대응되게 여러 개의 자기 헤드가 배치된다. 자기 헤드는, 디스크 면의 자기 영역(magnetic field)을 자화 또는 검출하는 것에 의해 정보를 쓰거나 읽는다.
하드디스크 드라이브에서 읽기/쓰기는 베이스 상에 회동 가능하게 설치된 자기 헤드 조립체의 회동을 이용하여 그 끝 쪽에 설치된 자기 헤드를 회전 디스크 상의 적정 위치로 이송시키는 스윙암 구동 방식에 의해 행해진다.
도 2는 하드디스크 드라이브 구조의 일 예를 개략적으로 보인 평면도이다. 도 2를 참조하면, 하드디스크 드라이브(10)는, 소정 정보가 기록되는 하드디스크(20)와, 정보의 기록 및 읽기를 위해 자기 헤드(50)를 하드디스크(20) 상의 원하는 트랙 위치로 이동시키는 자기 헤드 이송장치를 구비한다. 여기서, 하드디스크(20)는 정보가 기록되는 기록영역(22)과, 이 하드디스크(20)의 회전이 정지될 때 자기 헤드(50)가 파킹 되도록 마련된 파킹 영역(21)으로 구분될 수 있다.
상기 디스크(20)는 베이스(11) 상에 회전 가능하게 설치되어 스핀들 모터(미도시)에 의해 회전된다. 도 2에서 c는 스핀들 모터의 회전축에 해당한다.
자기 헤드 이송장치는, 자기 헤드(50)가 탑재되며 베이스(11) 상에 마련된 회동축(34)을 중심으로 회동 가능하게 설치되는 자기 헤드 조립체(30)와, 자기 헤드 조립체(30)를 전자기력에 의해 회동시키기 위한 액츄에이터(40)를 구비한다.
자기 헤드 조립체(30)는, 회동축(34)에 회전 가능하게 결합되는 액추에이터 암(32)의 단부에 결합되는 서스펜션(31)과, 하드디스크(20)에 정보를 기록하고 하드디스크(20)에 기록되어 있는 정보를 읽기 위한 자기 헤드(도 3의 70)를 구비하며 서스펜션(31)에 설치되는 자기 헤드 슬라이더(50)를 포함하여 구성된다.
자기 헤드 슬라이더(50)는 서스펜션(31)에 의해 하드디스크(20)쪽으로 바이어스되어 있으며, 하드디스크(20)가 회전하기 시작하면 하드디스크(20)의 회전에 의해 발생되는 공기동압에 의해, 하드디스크(20)에 대하여 부상한 채로 비행(flying)하게 된다. 이때, 자기 헤드 슬라이더(50)가 부상한 채로 비행하는 높이(flying height)는 서스펜션(31)의 그램 하중(gram load)과, 하드디스크(20)의 회전에 따른 공기 흐름(air flow)에 의한 양력 등에 의해 결정된다.
여기서, 비행 높이는 하드디스크(20)의 회전동안 자기 헤드 슬라이더(50)가 하드디스크(20)에 대하여 부상한 채로 비행할 때, 자기 헤드 슬라이더(50)의 선단쪽에 마련되어 읽기 센서 즉, 자기저항헤드와 하드디스크(20)의 표면 사이의 간격(gap)이다. 상기 그램 하중은 서스펜션(31)에 의해 발휘된 힘을 말한다.
도 3은 도 2의 하드디스크 드라이브에 사용될 수 있는 자기 헤드(70)의 일 예를 보여준다. 도시된 바와 같이, 자기 헤드(70)는 읽기를 위한 자기저항헤드(74)와, 쓰기를 위한 유도기록헤드를 포함하고 있다. 자기저항헤드(74)는 하드디스크(20)에 쓰여진 자기신호를 감지하여 읽어들이는 역할을 한다. 유도기록헤드는 하드디스크(20)로의 누설 자석을 형성하기 위한 탑 폴(top pole:71)과 바텀 폴(bottom pole:72) 및 전류가 공급됨에 따라 자계가 발생되는 기록용 코일(73)을 구비하여, 원하는 자기신호를 하드디스크(20)에 쓰는 역할을 한다.
각 하드디스크(20)면마다 상기와 같은 자기 헤드(70)가 하나씩 대응되게 배치된다.
다시 도 2를 참조하면, 상기 액츄에이터(40)는 잘 알려진 바와 같이, 자석(미도시)과 보이스 코일(41)을 포함한다. 보이스 코일(41)에 전류를 인가하여, 자기 헤드(70)를 하드디스크(20) 상의 원하는 트랙 위치로 이동시킨다.
상기 스핀들 모터, 보이스 코일(41), 자기 헤드(70)는 인쇄 회로 기판 어셈블리(15)의 전자 회로와 전기적으로 연결된다. 전자 회로는 프리앰프와, 읽기/쓰기 채널 회로와, 서보 제어기를 포함한다. 전자 회로는 하드디스크의 자계를 감지하는 자기 헤드들과 전기적으로 연결된다.
자기 헤드(70)는 하드디스크의 자계에 상응하는 읽기 신호를 생성한다. 읽기 신호는 프리앰프에 의해 증폭되고, 읽기/쓰기 채널 회로로 보내진다. 읽기/쓰기 채널 회로는 자기 헤드(70)에 의해 읽혀져 증폭된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변조시켜주며, 사용자 데이터를 받아 하드디스크(20)에 기록할 수 있도록 쓰기 전류로 변환시켜주는 신호처리를 실행한다. 서보 제어기는 하드디스크 드라이브를 총괄적으로 제어한다.
상기와 같은 구성을 갖는 하드디스크 드라이브의 조립 후에는, 하드디스크 드라이브를 검증하고 최적화하기 위한 공정이 진행된다.
하드디스크 드라이브 공정 단계(process step)는 조립된 하드디스크 드라이브에 대해 각각 하드디스크 드라이브의 동작 수행을 위한 최적화 공정 단계 및 읽기/쓰기 성능 검증 단계를 포함한다.
하드디스크 드라이브의 동작 수행을 최적화하는 공정에는 예를 들어, 서보 교정(Servo calibration), 채널 최적화(Channel optimization), 인쇄회로기판 어셈 블리(PCBA: Printed Circuit board Assembly) 체크(check) 공정을 포함하는 다양한 교정 공정 및 파라미터 최적화 공정이 포함된다.
서보 교정 단계는 읽기/쓰기 헤드 즉, 자기저항(MR) 헤드의 기구적 전기적 위치제어를 위한 파라미터(parameter)의 최적화 공정을 포함한다. 여기서, 최적화해야할 파라미터는 자기저항 헤드의 스큐(MR skew), 케이티(KT) 값 등을 포함한다. 케이티(KT) 값은 자기저항 헤드가 움직일 때 얼마정도의 회전력으로 얼마 정도 가속되는가를 나타내는 값이다.
채널 최적화는 자기저항 헤드에서 정상적인 읽기/쓰기를 수행하기 위한 읽기/쓰기 관련 파라미터의 최적화 공정을 포함한다. 읽기/쓰기 관련 파라미터에는 예컨대, 읽기 전류와 쓰기 전류가 있다.
인쇄회로기판 어셈블리 체크는 인쇄회로기판 어셈블 리가 기구/전기적 동작을 수행할 수 있는지를 검출하여, 회로 시스템이 제대로 동작하는지를 검사하는 공정을 말한다. 인쇄회로기판 어셈블리의 인쇄회로 기판에는 읽기/쓰기 기능을 수행하기 위한 회로(RW IC), 컨트롤러(controller), 모터를 제어하는 콤보 회로(Combo IC) 등을 포함하는 다수의 회로가 구비된다.
하드디스크 드라이브의 동작 수행을 위한 최적화 공정은 상기와 같이 하드디스크 드라이브를 구성하는 다양한 부품의 기구적/전기적 교정 공정 및 각종 파라미터 최적화 공정을 포함한다.
하드디스크 드라이브내에는 하드디스크의 읽기/쓰기 면과 짝지워진 복수개의 자기 헤드가 구비되어 있다. 상기 읽기/쓰기 성능 검증 공정은 각 자기 헤드에 대 해 행해진다. 예를 들어, 하드디스크 드라이브 내에 N개의 자기 헤드가 구비되어 있다면, 첫 번째 자기 헤드에 대한 성능 테스트 공정에서부터 N번째 자기 헤드에 대한 성능 테스트 공정까지 행해진다. 읽기/쓰기 성능 테스트에 의해 읽기/쓰기를 검증(verify)한다. 읽기/쓰기 검증은 오프 트랙(offtrack) 읽기, 다양한 쓰기 패턴 변경 등을 통해 행해진다.
본 발명은 상기와 같은 하드디스크 드라이브 공정 중에 자기 헤드의 기록성(writability) 특성 검증을 통하여, 자기 헤드를 정상(normal) 헤드, 고온 약한 쓰기 헤드 및 저온 약한 쓰기헤드의 3가지 종류로 정의(define)하고, 각 정의된 헤드 특성에 맞게 최적화된 저온, 고온 공정에서 최적으로 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하는 방법에 관한 것이다.
본 발명의 프로세스는 하드디스크 드라이브의 동작 수행을 위한 최적화 공정 단계에서 수행된다. 하드디스크 드라이브의 읽기/쓰기 성능 검증 단계는 본 발명에서 저온 약한 쓰기 헤드를 정의하기 위해 얻어지는 후술하는 OSC1 값을 사용하여 수행된다.
본 발명은, 일반적으로 잠재적인 약한 쓰기 헤드는 정상 헤드에 비하여, 프린지 필드(fringe field)가 약하다는 사실에 근거하여, 타겟 트랙 양쪽에 인접한 트랙에 대한 인접 트랙 쓰기(Adjacent Track Write: ATW)를 수행하여 이때에 설정된 비트 에러율(Bit Error Rate:BER)이 제일 좋을 때(즉, 최적일 때)의 오버 슈트 컨트롤값을 측정하고, 이때 측정된 오버 슈트 컨트롤 값의 크기에 따라 저온, 고온 약한 쓰기를 정의한다.
상기 비트 에러율은 자기 헤드에 의하여 읽어낸 신호에 포함된 일정 수의 데이터 비트들 중에서 몇 개의 오류 비트가 발생되었는지를 나타내는 비율이다.
오버 슈트 컨트롤(OSC)과 비트 에러율의 관계를 보이는 그래프의 일 예를 보인 도 4를 참조하면, 오버 슈트 컨트롤(OSC)에 대한 비트 에러율은 대략적으로 최저의 비트 에러율(BER_min)을 만곡점(a)으로 하는 대략적인 브이(V)자형을 보인다. 예를 들어, 이는 오버 슈트 컨트롤이 낮으면 낮은 자계에 의해 비트 에러율이 높아지고 오버 슈트 컨트롤이 높으면 열적 폴 팁 돌기(Thermal Pole Tip Protrusion : TPTP)가 심해지기 때문에 비트 에러율이 높아지는 것으로 해석될 수 있다. 도 4에서 b는, 사용 범위내의 최대 오버 슈트 컨트롤(OSCmax)에서의 비트 에러율(BER_oscmax)을 나타낸다.
여기서, 현재 하드디스크 드라이브에서는 비금속 성분의 슬라이더에 퍼멀로이(Permalloy)로 된 금속성분의 폴(pole)이 내장된 자기 헤드를 형성한 구조를 가진다. 따라서, 쓰기 동작 동안 쓰기 전류가 자기 헤드에 마련된 코일에 흐르면, 주울 열이 발생하고, 이때 금속과 비금속 사이의 열팽창 계수의 차이로 말미암아 금속성분의 폴 주변이 부풀어 올라 돌출되는데 이를 열적 폴 팁 돌기라 한다. 이러한 열적 폴 팁 돌기에 의해 자기 헤드와 하드디스크 사이의 인터페이스(Hard Disk Interface ; 이하 HDI라 한다)의 마진이 줄어들게 되어, 자기 헤드의 비행 높이를 낮추는 효과를 낸다. 따라서 과도한 열적 폴 팁 돌기는 자기 헤드와 하드디스크의 부딪침으로 인한 폴 손상, 열적 울퉁불퉁함(Thermal Asperity), 신호 변조 등의 문제를 야기시킨다.
따라서, 오버 슈트 컨트롤이 높으면 열적 폴 팁 돌기가 심해지고, 이에 의해 비트 에러율이 높아지게 된다.
도 5는 본 발명에 따른 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법을 개략적으로 보인 순서도이고, 도 6은 도 5에 적용되는 본 발명에 따른 자기 헤드 정의(define) 방법의 일 실시예를 보인 순서도이다.
도 5를 참조하면, 미디어 예컨대, 하드디스크 드라이브의 하드디스크에 읽기/쓰기를 수행할 수 있는 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 과정은, 대상 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계(S100)와, 자기 헤드의 종류에 따라 최적의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하여 대상 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 단계(S200)를 포함한다.
본 발명에 따른 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 검증은 상온에서 수행된다.
본 발명은 복수의 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는데 사용되는 경우에는, 일 자기 헤드에 대한 정의 및 쓰기 특성의 최적화가 끝나면, 다음 단계로 진행하여(S300), 다음의 자기 헤드에 대한 정의 및 쓰기 특성 최적화 과정이 반복된다.
후술하는 바와 같이, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계(S200)에서, 고온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 고온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC) 값을 높여 사용한다. 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계(S200)에서, 저온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 저온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 높여 사용한다.
도 6을 참조하면, 자기 헤드의 종류는 다음과 같은 과정을 통해 정의 될 수 있다.
먼저, 비트 에러율(BER) 테스트에 의해 인접트랙쓰기가 전혀 행해지지 않은 상태(ATW 0)의 타겟 트랙에 대한 온-트랙(on track) 오버 슈트 컨트롤을 측정한다(S101). 이때, 측정된 오버 슈트 컨트롤 값은 ATW 0 상태의 타겟 트랙에 대한 비트 에러율이 가장 좋은 설정된 최적의 오버 슈트 컨트롤 값이다.
구체적으로, 주어진 오버 슈트 컨트롤 조건에서 타겟 트랙에 소정 횟수 예컨대, 10회 데이터를 기록한 후, 타겟 트랙을 소정 횟수 예컨대, 600회만큼 읽어들여 비트 에러율을 측정하는 과정을 오버 슈트 컨트롤 조건을 바꾸어가면서 반복하여, 비트 에러율이 최적인(바람직하게는, 가장 낮은) 오버 슈트 컨트롤 값을 검출한다. 이때, 오버 슈트 컨트롤은 하드디스크 드라이브 시스템에서 허용하는 최소 오버 슈트 컨트롤 내지 최대 오버 슈트 컨트롤 범위내의 값으로, 실제 시스템에서 오버 슈트 컨트롤은 수 내지 수십 단계로 구분되어 적용된다. 여기서, 최소 오버 슈트 컨트롤, 최대 오버 슈트 컨트롤값 및 오버 슈트 컨트롤을 구분하는 단계 수는 하드디스크 드라이브 시스템을 제조하는 제조사별로 달라질 수 있다.
여기서, ATW 0 인 상태에서 비트 에러율이 최적인 오버 슈트 컨트롤은 저온에서 정상(normal) 헤드가 사용할 오버 슈트 컨트롤 값이다. 후술하는 바에 의해 알 수 있는 것처럼, 저온 약한 쓰기 헤드로 정의되면 이 오버 슈트 컨트롤 값을 쓰지 않고 최대 오버 슈트 컨트롤 값을 사용한다.
다음으로, 양 인접 트랙의 모든 존(zone)에 인접트랙쓰기를 M번 예컨대, 100번만큼 행한 다음, 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 오버 슈트 컨트롤을 측정한다(S103). 이때 측정된 오버 슈트 컨트롤값을 OSC1라 한다. OSC1은 인접트랙쓰기를 M번만큼 행했을 때의 비트 에러율이 가장 좋은 오버 슈트 컨트롤 값을 나타낸다.
구체적으로, 주어진 오버 슈트 컨트롤 조건에서 목표 트랙에 인접한 트랙들에 M번 예컨대, 100번만큼 데이터를 기록한 후, 타겟 트랙을 소정 횟수 예컨대, 600회만큼 읽어들여 비트 에러율을 측정하는 과정을 오버 슈트 컨트롤 조건을 바꾸어가면서 반복하여, 비트 에러율이 최적인(가장 낮은) OSC1 값을 검출한다(S103).
다음으로, 모든 존에 대해 평균한 OSC1 값이 특정 값(a) 이하인지 여부를 비교한다(S105). 여기서, 상기 특정 값(a)은 오버 슈트 컨트롤의 범위 및 하드디스크 드라이브 제작 조건에 따라 달라질 수 있으며, 예를 들어, 대략적으로 오버 슈트 컨트롤 범위의 중간 정도에 해당하는 값이 될 수 있다.
모든 존에 대해 평균한 OSC1 값이 특정 값(a)보다 크면, 쓰기 프린지 필드가 약하다는 의미이다. 따라서, 평균한 OSC1값이 특정 값(a)보다 크면, 자기 헤드는 저온 약한 쓰기 헤드로 정의된다(S107). 이런 저온 약한 쓰기 헤드는 정상의 경우에 대비하여 저온 환경에서 더 높은 오버 슈트 컨트롤와 쓰기전류(WC)를 사용한다(S109). 바람직하게는, 이러한 저온 약한 쓰기 헤드는, 저온 환경에서 최대 오버 슈트 컨트롤 값을 사용한다.
평균한 OSC1 값이 특정 값(a) 이하이면, 이 단계에서 헤드는 정상 헤드로 판단된다(S111).
다음으로, 상기 자기 헤드로 양 인접 트랙의 모든 존(zone)에 인접트랙쓰기를 N번(여기서, N > M) 예컨대, 1000(1k)번만큼 행한 다음, 오버 슈트 컨트롤을 측정한다(S113). 이때 측정된 오버 슈트 컨트롤값을 OSC2라 한다. OSC2는 인접트랙쓰기를 N번만큼 행했을 때의 비트 에러율이 가장 좋은 오버 슈트 컨트롤 값을 나타낸다.
구체적으로, 주어진 오버 슈트 컨트롤 조건에서 타겟 트랙에 인접한 트랙들에 N번 예컨대, 1000번만큼 데이터를 기록한 후, 타겟 트랙을 소정 횟수 예컨대, 600회만큼 읽어들여 비트 에러율을 측정하는 과정을 오버 슈트 컨트롤 조건을 바꾸어가면서 반복하여, 비트 에러율이 최적인(가장 낮은) OSC2 값을 검출한다(S113).
다음으로, 모든 존에 대해 평균한 OSC2 값이 특정 값(b) 이하인지 여부를 비교한다(S115). 여기서, 상기 특정 값(b)은 상기 특정 값(a)와 마찬가지로, 오버 슈트 컨트롤의 범위 및 하드디스크 드라이브 제작 조건에 따라 달라질 수 있으며, 예를 들어, 대략적으로 상기 특정 값(a)의 절반 정도에 해당하는 값이 될 수 있다.
모든 존에 대해 평균한 OSC2 값이 특정 값(b)(여기서, b < a)보다 크면, 고온에서 너무 낮은 오버 슈트 컨트롤 사용시 고온 약한 쓰기가 발생할 가능성이 있는 것으로 판단한다. 따라서, 평균한 OSC2값이 특정 값(b)보다 크면, 자기 헤드를 고온 약한 쓰기 헤드로 정의하며(117), 이런 고온 약한 쓰기 헤드는 고온 환경에서 정상 헤드에 대비하여 오버 슈트 컨트롤 값을 소정 단계 높게 하여 사용한다(S119). 바람직하게는, 이러한 고온 약한 쓰기 헤드는, 고온 환경에서 OSC2 값보다 α단계 예컨대, 2단계 높게 하여 사용한다.
평균한 OSC2 값이 특정 값(b) 이하이면, 이 단계에서 자기 헤드는 정상 헤드로 정의된다(S121).
여기서, 정상 헤드 및 저온 약한 쓰기 헤드는 모두 고온에서는 OSC2를 사용하며, 고온 약한 쓰기 헤드의 경우에만, OSC2 + α 와 같이 사용하는 것이 바람직하다.
상기와 같이, 인접트랙쓰기 100번을 행한 후에 모든 존에 대해 평균한 OSC1값이 a 보다 크면, 저온 약한 쓰기 헤드로 정의한다. 또한, 인접트랙쓰기 1000번을 행한 후에 모든 존에 대해 평균한 OSC2 값이 b보다 크면, 고온 약한 쓰기 헤드로 정의한다. 또한, 평균한 OSC1값이 a 이하 및/또는 평균한 OSC2값이 6이하이면, 정상 헤드로 정의한다.
상기와 같이 대상 자기 헤드의 종류가 정의되면, 그 다음 단계 예컨대, 상기 대상 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 단계(도 5의 S200) 또는 다음의 자기 헤드에 대해 상기의 정의 과정을 반복하는 단계로 진행한다(S123).
여기서, 복수의 자기 헤드가 설치된 하드디스크 드라이브 내에서, 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화는 각 자기 헤드의 종류를 정의하면서 진행되거나, 모든 자기 헤드의 종류를 정의한 다음, 각 자기 헤드에 대해 순차적으로 진행될 수도 있다.
자기 헤드의 쓰기 특성 최적화는 도 6의 S109, S 119 단계에서 진행될 수 있다. 도 6에 보여진 바와 같이 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화는 자기 헤드를 정의하는 과정에서 바로 진행될 수도 있고, 모든 자기 헤드에 대해 정의한 후 각 자기 헤드에 대해 진행될 수도 있다.
저온 환경에서, 저온 약한 쓰기 헤드는 상기와 같이, 최대 오버 슈트 컨트롤을 사용하며, 정상 헤드 및 고온 약한 쓰기 헤드는 ATW 0에서의 오버 슈트 컨트롤값을 사용할 수 있다.
상온에서, 저온 약한 쓰기 헤드, 정상 헤드 및 고온 약한 쓰기 헤드 모두는 OSC1을 사용할 수 있다.
또한, 고온 환경에서, 저온 약한 쓰기 헤드 및 정상 헤드는 OSC2를 사용하며, 고온 약한 쓰기 헤드에만 OSC2보다 소정(α) 단계만큼 높여 사용할 수 있다.
쓰기전류(WC)의 경우는 오버 슈트 컨트롤에 비하여 기록성 특성에 덜 영향을 미친다. 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 및 고온 약한 쓰기 헤드 모두 상온에서는 OSC1과 ATW 0에서 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)를 사용할 수 있다.
저온 환경에서, 저온 약한 쓰기 헤드로 정의된 헤드의 경우에는 정상 헤드에 비하여 더 높은 쓰기전류(WC)를 사용하며, 고온 약한 쓰기 헤드와 정상 헤드는 저온 약한 쓰기 헤드에 비해 저온에서 상대적으로 낮은 쓰기전류(WC) 바람직하게는, ATW 0에서 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)를 사용할 수 있다.
고온 환경에서, 정상 헤드 및 저온 약한 쓰기 헤드는 ATW기 0에서 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)보다 작은 쓰기전류(WC)를 사용하고, 고온 약한 쓰기 헤드는 ATW 0에서 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)를 사용할 수 있다.
하드디스크 드라이브에서, 각 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 최적의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)는 전자 회로의 메모리(미도시)에 저장되며, 하드디스크 드라이브의 읽기/쓰기 동작시마다, 메모리에 저장된 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC) 조건 값을 사용하여, 각 자기 헤드가 최적으로 쓰기를 수행하도록 한다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 인접트랙쓰기 테스트를 수행한 후, 설정된 오버 슈트 컨트롤 값에 따라 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드, 고온 약한 쓰기 헤드로 정의하여, 잠재적인 약한 쓰기 헤드에 대하여, 최적으로 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용할 수 있으므로, 기록성(writability)을 향상시킬 수 있다.
저온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드의 경우에는 저온 환경 조건에서 정상 헤드보다 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 더 높게 사용하면, 기록성(writability)과 오버 라이트 특성을 도모할 수 있다.
한편, 고온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드의 경우에는, 바람직하게는, 고온에서 너무 오버 슈트 컨트롤와 쓰기전류(WC)를 낮춤으로 인해 야기되는 고온 약한 쓰기 문제를 해결하기 위하여, 고온 환경에서 정상 헤드에 대비하여 오버 슈트 컨트롤값 및 쓰기전류(WC)를 높게 사용하는 것이 바람직하다.
하드디스크 드라이브에 대해서는, 상기와 같은 본 발명에 따른, 자기 헤드를 정상 헤드, 고온 약한 쓰기 헤드 또는 저온 약한 쓰기 헤드로 정의하고, 이에 대응하여 최적으로 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하여 쓰기 특성을 최적화하는 과정이 자기 헤드의 개수만큼 반복적으로 수행되는 것이 바람직하다.
실질적으로 하드디스크 드라이브내에는 하드디스크면과 각각 짝지워지는 복수개의 자기 헤드가 구비되어 있으므로, 하드디스크 드라이브 공정 중 상기와 같은 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 과정은, 하드디스크 드라이브내에 포함된 자기 헤드에 대해 모두 행해질 때까지 반복적으로 행해질 수 있다.
또한, 상기와 같은 공정은 필요에 따라 하나의 자기 헤드 또는 선택적으로 일부 자기 헤드에 대해서만 행해질 수도 있다.
상기와 같은 각 자기 헤드에 대한 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 또는 고온 약한 쓰기 헤드의 정의 데이터는 하드디스크 드라이브의 전자 회로의 메모리에 저장한다. 실제 사용자 환경에서는 각 자기 헤드가 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 또는 고온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 고려하고, 환경 온도를 고려하여 자기 헤드의 기록 성능을 보장하는 최적의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하므로, 우수한 쓰기 특성을 보장할 수 있다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따르며, 하드디스크 드라이브에서 각 자기 헤드가 정상 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 또는 고온 약한 쓰기 헤드인지를 정의할 수 있으며, 자기 헤드 종류에 따른 기록성(writability)을 고려하고, 환경 온도를 고려하여, 각 자기 헤드의 특성에 맞게 최적화된 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용할 수 있으므로, 저온, 고온 약한 쓰기 문제가 생기지 않는다.

Claims (20)

  1. 미디어에 읽기/쓰기를 수행할 수 있는 자기 헤드의 쓰기 특성을 최적화하는 방법에 있어서,
    상기 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계와;
    상기 자기 헤드의 종류 및 환경 온도에 따라, 최적의 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 사용하여 쓰기 특성을 최적화하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 자기 헤드의 종류를 정의하는 단계는,
    (가) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 제1횟수(M)만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 측정하는 단계;
    (나) 상기 복수의 존에 대한 제1오버 슈트 컨트롤 평균값을 저온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제1특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계; 및/또는
    (다) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 상기 제1횟수보다 많은 제2횟수(N) 만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 측정하는 단계;
    (라) 상기 복수의 존에 대한 제2오버 슈트 컨트롤 평균값을 고온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제2특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계는,
    상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제1특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 저온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제1특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계는,
    상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 고온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 제2횟수(N)는 상기 제1횟수(M)보다 큰 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  6. 제2항에 있어서, 상기 인접트랙쓰기는 상기 타겟 트랙의 양 인접 트랙의 모든 존에 대해 행해지며,
    상기 제1 및 제2오버 슈트 컨트롤 평균값은 모든 존에 대한 평균값인 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  7. 제2항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1특정값은 상기 제2특정값보다 큰 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  8. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는,
    고온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 고온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC) 값을 높여 사용하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  9. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는,
    저온 약한 쓰기 헤드로 정의된 자기 헤드에 대해, 저온 환경에서 정상 헤드에 비해 오버 슈트 컨트롤 및 쓰기전류(WC)를 높여 사용하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  10. 제2항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는,
    상온에서,
    고온 약한 쓰기 헤드, 저온 약한 쓰기 헤드 및 정상 헤드에 대해 상기 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 사용 및/또는,
    인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)를 사용하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  11. 제2항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는,
    저온 환경에서,
    저온 약한 쓰기 헤드에 대해서는 최대 오버 슈트 컨트롤을 사용하며, 정상 헤드 및 고온 약한 쓰기 헤드에 대해서는, 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율을 나타내는 오버 슈트 컨트롤 값을 사용 및/또는,
    저온 약한 쓰기 헤드는 정상 헤드보다 높은 쓰기전류(WC)를 사용하며, 고온 약한 쓰기 헤드와 정상 헤드는 저온 약한 쓰기 헤드에 비해 저온에서 상대적으로 낮은 쓰기전류(WC)를 사용하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  12. 제2항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 쓰기 특성을 최적화하는 단계는,
    고온 환경에서,
    고온 약한 쓰기 헤드에 대해서는 상기 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)보다 소정 단계(α)만큼 높여 사용하고, 저온 약한 쓰기 헤드 및 정상 헤드에 대해서는 상기 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 사용 및/또는,
    정상 헤드 및 저온 약한 쓰기 헤드는 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)보다 낮은 쓰기전류(WC)를 사용하고, 고온 약한 쓰기 헤드는 인접트랙쓰기가 행해지지 않은 상태에서의 최적의 비트 에러율로 측정된 쓰기전류(WC)을 사용하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  13. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화하는 단계는, 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 중 하나의 자기 헤드 또는 선택적으로 일부 자기 헤드에 대해 행해지거나, 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 모두에 대해 행해지는 것을 특징으로 하는 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법.
  14. (가) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 제1횟수(M)만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제1오버 슈트 컨트롤(OSC1)을 측정하는 단계와;
    (나) 상기 복수의 존에 대한 제1오버 슈트 컨트롤 평균값을 저온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제1특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계; 및/또는
    (다) 미디어의 타겟 트랙에 인접한 인접 트랙의 복수의 존(zone)에 인접트랙쓰기를 상기 제1횟수(M)보다 많은 제2횟수(N) 만큼 시행하고, 상기 타겟 트랙에서 최적의 비트 에러율을 보이는 제2오버 슈트 컨트롤(OSC2)을 측정하는 단계와;
    (라) 상기 복수의 존에 대한 제2오버 슈트 컨트롤 평균값을 고온 약한 쓰기 헤드인지 여부를 판단하는 기준이 되는 제2특정 값과 비교하여, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 단계;를 포함하여, 상기 자기 헤드가 정상 헤드인지, 저온 약한 쓰기 헤드인지, 고온 약한 쓰기 헤드인지를 정의하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 자기 헤드가 저온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 (나) 단계는,
    상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제1특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 저온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제1오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  16. 제14항에 있어서, 상기 자기 헤드가 고온 약한 쓰기 헤드인지를 판단하는 (라) 단계는,
    상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값보다 크면, 상기 자기 헤드를 고온 약한 쓰기 헤드로 판단하고, 상기 제2오버 슈트 컨트롤 평균값이 상기 제2특정값 이하이면, 정상 헤드로 판단하는 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  17. 제14항에 있어서, 상기 제2횟수(N)는 상기 제1횟수(M)보다 큰 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  18. 제14항에 있어서, 상기 인접트랙쓰기는 상기 타겟 트랙의 양 인접 트랙의 모든 존에 대해 행해지며,
    상기 제1 및 제2오버 슈트 컨트롤 평균값은 모든 존에 대한 평균값인 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  19. 제14항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1특정값은 상기 제2특 정값보다 큰 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
  20. 제14항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자기 헤드 정의 방법의 각 단계는 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 중 하나의 자기 헤드 또는 선택적으로 일부 자기 헤드에 대해 행해지거나, 하드디스크 드라이브에 포함된 복수의 자기 헤드 모두에 대해 모두 행해지는 것을 특징으로 하는 자기 헤드 정의 방법.
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