JP2005135543A - 磁気ディスク装置及びライト制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】ヘッドの材料や構造の改善ではなく、特にライト動作時でのＰＴＰ現象をライト制御により効果的に抑制できる機能を有するディスクドライブを提供することにある。
【解決手段】ＣＰＵ１０は、ライト動作時にライトエラーが発生すると、ＰＴＰ現象を緩和するためのライト条件に変更する。ＣＰＵ１０は、ヘッドアンプ回路７のレジスタ７０に設定されたライト電流値を、低い電流値に変更してライト動作を実行する。ＣＰＵ１０は、ライトエラーの発生が抑制されるまで、段階的にライト電流値を変更する。
【選択図】 図１
【解決手段】ＣＰＵ１０は、ライト動作時にライトエラーが発生すると、ＰＴＰ現象を緩和するためのライト条件に変更する。ＣＰＵ１０は、ヘッドアンプ回路７のレジスタ７０に設定されたライト電流値を、低い電流値に変更してライト動作を実行する。ＣＰＵ１０は、ライトエラーの発生が抑制されるまで、段階的にライト電流値を変更する。
【選択図】 図１
Description
本発明は、一般的には磁気ディスク装置に関し、特に、ヘッドのＰＴＰ現象を抑制するライト制御技術に関する。
一般的に、ハードディスクドライブを代表とするディスクドライブでは、ディスク媒体（以下単にディスクと表記する）上にデータを記録するためのライトヘッドと、当該ディスク上からデータを再生するためのリードヘッドとを有するヘッド（磁気ヘッド）が使用されている。ライトヘッドは、コイルに流れるライト電流（記録電流）に従って、ディスク上に記録磁界を印加することにより、データの磁気記録を行なう。
ディスクドライブでは、ヘッドは、ディスク上を浮上するように、アクチュエータに保持されている。浮上しているヘッドとディスクとの間隔は、浮上量（浮上高）と称する微小な距離に維持されている。
一方、ディスクドライブでは、高記録密度化に伴なって、データの記録再生能力を大きく向上させるために、浮上量を最小限まで低下させることが推進されている。しかし一方で、浮上量の低下は、ヘッドとディスク面とが接触する可能性を高くし、記録再生動作の信頼性を低下させる要因となる。
ところで、ライトヘッドのコイルに電流を流したときの発熱により、ヘッド材料（スライダ）が熱膨張を起こす現象が確認されている。この現象は、ポールチップ・プロトリュージョン（Pole Tip Protrusion：以下ＰＴＰと略す）現象と呼ばれている。
このＰＴＰ現象により、特にライトヘッドの記録磁極の近傍に位置するヘッド材料が大きく熱膨張すると、ヘッド（実際にはスライダ）の膨張した部分がディスク面に接近し、結果として浮上量が低下する。このため、特にライト動作時のＰＴＰ現象により、ヘッドの浮上量が低下すると、ヘッドとディスク面とが接触する可能性が高くなる。
当然ながら、ディスクドライブを設計する場合に、当該ＰＴＰ現象による浮上量の低下を考慮して、浮上量マージンを大きくとって、ヘッドとディスク面との接触によるクラッシュを回避することが行なわれる。しかしながら、浮上量マージンを大きくすると、ヘッドの記録再生能力の低下を招くため、ＰＴＰ現象の抑制を図ることが好ましい。
ＰＴＰ現象はヘッド材料や構造の問題であるため、それらを変更することで抑制することは可能である。具体的には、ヘッド加工プロセスや、ヘッド材料を工夫することで、ＰＴＰ現象を低減化させる先行技術が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。
特開２００３−１４１７０４号公報
ヘッドの浮上量の低減化を招くＰＴＰ現象を抑制するために、ヘッドの材料や構造の改善を図ることが提案されている。しかしながら、例えば１０ｎｍという微小距離の浮上量に影響するＰＴＰ現象を、ヘッドの材料や構造の改善だけで、低減することは実際上では困難である。
そこで、本発明の目的は、ヘッドの材料や構造の改善ではなく、特にライト動作時でのＰＴＰ現象をライト制御により効果的に抑制できる機能を有するディスクドライブを提供することにある。
本発明の観点に従ったディスクドライブは、コイルに供給されるライト電流に従って、ディスク媒体上にデータを記録するためのヘッドと、前記ヘッドを搭載し、前記ディスク媒体上の目標位置に位置決めするためのアクチュエータと、前記ヘッドにより前記ディスク媒体上の目標位置にデータを記録するライト動作時に、ライトエラーが発生した場合に、ライト動作を実行するためのライト条件を変更するライト制御手段とを備えたものである。
本発明によれば、ヘッド材料や構造の改善ではなく、ライトヘッドの発熱に関係するライト動作時のライト条件を変更するライト制御により、ＰＴＰ現象の低減化を実現することができる。
以下図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。
（ディスクドライブの構成）
図１は、本実施形態のディスクドライブの要部を示すブロック図である。
図１は、本実施形態のディスクドライブの要部を示すブロック図である。
ディスクドライブは、スピンドルモータ（ＳＰＭ）３に固定されて、高速回転されるディスク１と、ディスク１に対してデータの記録又は再生を行なうためのヘッド２とを有する。ディスク１上には、データを記録するための多数のトラック１００が構成されている。各トラック１００は、サーボデータが記録されているサーボエリアとユーザデータを記録するデータセクタとを含む。サーボデータは、ヘッド２をディスク１上の目標位置に位置決めするための位置決め制御に使用される。
ヘッド２は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）５により駆動されるアクチュエータ４に搭載されている。ＶＣＭ５は、モータドライバＩＣ６に含まれるＶＣＭドライバ６０により駆動電流が供給される。モータドライバＩＣ６は、ＶＣＭドライバ６０と共にＳＰＭドライバ６１を含み、ＣＰＵ１０により制御される。
ヘッド２は、リード動作を実行するためのリードヘッドと、ライト動作を実行するライトヘッドとが同一のスライダ上に実装された構造である。アクチュエータ４は、ＣＰＵ１０より駆動制御されて、ヘッド２をディスク１上の目標位置に位置決めする。
このようなヘッド・ディスクアセンブリ以外に、ディスクドライブは、ヘッドアンプ回路７と、Ｒ／Ｗチャネル８と、ディスクコントローラ（ＨＤＣ）９と、マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）１０と、メモリ１１とを有する回路系を備えている。
ヘッドアンプ回路（プリアンプ回路）７は、リードヘッドから出力されるリード信号を増幅するリードアンプ及びライトアンプを有する。ライトアンプは、Ｒ／Ｗチャネル８から出力されるライトデータ信号をライト電流信号に変換して、ライトヘッドに送出する。
ヘッドアンプ回路７は、ライト動作時のライト条件に含まれるライト電流値（記録電流値）を調整するためのレジスタ７０を含む。レジスタ７０は、ＣＰＵ１０によりアクセスされて、指定のライト電流値をセットする。ヘッドアンプ回路７のライトアンプは、レジスタ７０にセットされたライト電流値に応じたライト電流をライトヘッドのコイルに供給する。
Ｒ／Ｗチャネル８は、リード／ライトデータ信号（サーボデータ信号を含む）を処理する信号処理用ＩＣである。ＨＤＣ９は、ドライブとホストシステム２０（例えばパーソナルコンピュータやディジタル機器）とのインターフェース機能を有する。
ＣＰＵ１０は、ドライブのメイン制御装置であり、ヘッド２の位置決め制御動作、通常のリード／ライト動作制御、及びＰＴＰ現象に関係するライト制御を実行する。メモリ１１は、不揮発性メモリであるフラッシュメモリや、ＲＡＭ及びＲＯＭなどを含み、ＣＰＵ１０の制御に必要な各種データ及びプログラムを保存する。
更に、本ドライブは、ドライブ内で特にヘッド２の周囲温度を検出するための温度センサ１２を有する。温度センサ１２は、一定のサンプリング間隔で温度を検出し、当該温度検出値をＣＰＵ１０に出力する。ＣＰＵ１０は、温度センサ１２からの温度検出に従って温度変動を監視する。
（ヘッドの構造及びＰＴＰ現象）
図２は、本実施形態のヘッド２の構造及びＰＴＰ現象を説明するための図である。
図２は、本実施形態のヘッド２の構造及びＰＴＰ現象を説明するための図である。
ヘッド２は、記録磁極（主磁極）２０、及び図示しないリターンヨークやコイルなどから構成されるライトヘッドと、シールド部材２１を介在してライトヘッドの近傍に配置された再生素子（例えばＧＭＲ素子）２２を有するリードヘッドとを有する。
ヘッド２は、当該リード／ライトヘッドが実装されたスライダを本体としており、アクチュエータ４に搭載されている。スライダは、例えばアルミナなどの材料で構成されており、図２に示すように、ディスク１の表面に対向する側にリセス２３が形成されている。なお、図２に示す矢印は、ディスク１に対するヘッド２の走行方向を示す。
ライト動作時には、ライトヘッドのコイルにライト電流を流すことで、主磁極２０から記録磁界を発生させて、ディスク１上に磁気記録を行う。ここで、磁気記録性能を上げるために、ライトヘッドの記録磁界を大きくさせる。記録磁界を大きくさせるためには、ライト電流値を増加させる方法が一般的である。ライト電流値としては、例えば最大６０ｍＡ程度まで設定可能である。
ここで、図２に示すように、ヘッド（スライダ）２は、ディスク面から微小距離である浮上量（浮上高）で浮上している。近年では、記録再生の能力を高めるために、当該浮上量は、例えば１０ｎｍ程度まで低下している。
このような浮上量の低下及びライト電流の増加という傾向において、前述したように、ＰＴＰ現象を抑制又は低減させることが要求されている。ＰＴＰ現象は、ライト動作時に、ライトヘッドのコイルにライト電流が流れたときに、当該コイルが発熱して、その周辺温度を上昇させることが要因であると推定されている。即ち、温度が上昇することで、ヘッド２のコイル近傍の材料（例えばアルミナ）の熱膨張係数に基づいて、図２に示すように、大きく熱膨張を起こす部分２００が発生する。
このようなＰＴＰ現象により、ヘッド２は、膨張した部分２００だけ、ディスク１との間隔が小さくなり、結果として浮上量（浮上高ＦＨ）が小さくなる。このため、ヘッド２の浮上姿勢が不安定化し、ディスク１に接触又は衝突する可能性が高くなる。
特に、ＰＴＰ現象の発生に伴なって、ヘッド２をディスク１上の目標位置に位置決めするときに、ディスク１の表面との接触により位置決めエラー（位置決め精度の悪化）が発生し、結果としてライト動作時にライトエラーの発生を招く。
（第１のライト制御方法）
図８は、本実施形態に関する第１のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
図８は、本実施形態に関する第１のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
ＰＴＰ現象は、ライト動作時に、ライトヘッドのコイルに流れるライト電流による発熱を要因として発生する。そこで、第１のライト制御方法は、ＰＴＰ現象の発生時に、ライト電流値を低減させる方法である。
ＣＰＵ１０は、図８に示すように、ライト動作時にライトエラー（ライトフォールト、以下ＷＦと表記する場合がある）が発生すると、ＰＴＰ現象の発生と判定し、ライト条件に含まれるライト電流を低下させる処理に移行する（ステップＳ１のＹＥＳ，Ｓ２）。
ここで、ＣＰＵ１０は、ＰＴＰ現象によりヘッド２の浮上量が低下し、ヘッド２の位置決め動作時にディスク１との接触による位置決め悪化で、ライトエラーが発生したと判定する。
具体的には、ＣＰＵ１０は、ヘッドアンプ回路７のレジスタ７０に設定されている定格ライト電流値を、低減したライト電流値に変更する。さらに、ＣＰＵ１０は、一定時間の経過後に、変更したライト電流でのライト動作を実行する（ステップＳ３のＹＥＳ，Ｓ４）。この一定時間の経過により、ヘッド２の発熱を低減させる。
ＣＰＵ１０は、変更したライト電流でのライト動作時にも、ライトエラーが発生すると、さらにレジスタ７０のライト電流値を低下させる（ステップＳ５のＹＥＳ，Ｓ６）。即ち、ＣＰＵ１０は、ライトエラーの発生がなくなるまで、段階的にライト電流値を低下させて、ライト動作を実行する（ステップＳ７のＮＯ，Ｓ３〜Ｓ５）。
ＣＰＵ１０は、定格電流値から段階的に低減させる場合に、ライト動作に必要な許容値（例えば２５ｍＡ程度）まで低減した後、まだライトエラーが発生するときには、ライト動作を停止して所定のエラー処理に移行する（ステップＳ７のＹＥＳ）。この場合、ライトエラーの発生は、ＰＴＰ現象以外の要因であると推定される。
なお、ＣＰＵ１０は、ライト動作の終了時に、低減したライト電流値を定格電流値に戻す。あるいは、ディスクドライブの電源オフまで、低減されたライト電流値を維持し、電源オン時に定格電流値が設定される。
以上のように、ライトエラーの発生時にライト電流を低減させることにより、ライトヘッドのコイルの発熱温度を低下させて、ＰＴＰ現象の発生を抑制又は低減させることが可能となる。従って、ＰＴＰ現象によるヘッドの位置決め悪化を改善し、結果としてライトエラーの発生を解消させることができる。
図３は、ＰＴＰ現象の起因で生じたライトエラー（ＷＦ）の回数を、ライト電流（Ｉｗ）と、ライト電流のオーバーシュート（Ｉｏｖｓ）とをパラメータとして測定した結果を示す図である。即ち、図３は、ＷＦ回数が９０〜１００の場合の測定結果３０１から、ＷＦ回数が０〜１０の場合の測定結果３１０まで、ＷＦ回数範囲を１０段階毎に測定した結果３０１〜３１０を示す。
本実施形態のＷＦとは、ライト動作を実行したときに、ＰＴＰ現象を起因とするヘッド２とディスク１との接触によりヘッド位置決め精度が悪化し、これによりライト動作が実行できない事態である。
以下、垂直磁気記録方式のディスクドライブにおける波形からライト電流を説明する。
ライト電流のオーバーシュート（Ｉｏｖｓ）とは、図４に示すように、ライト電流Ｉｗの極性反転時の立ち上り時間に流れる電流Ｉｐの割合である。図３に示すように、ライト電流Ｉｗまたはオーバーシュート（Ｉｏｖｓ）が増加すると、ＷＦ回数が増加することが確認できる。これは、ＩｗまたはIｏｖｓが高いほど、ライトヘッドのコイルの発熱量は大きくなるため、ＰＴＰの程度は大きくなる。この傾向は、長手磁気記録方式のディスクドライブの場合でも同様である。第１のライト制御方法は、当該ライト電流Ｉｗを低下させることにより、ＰＴＰの程度を抑制する。
（第２のライト制御方法）
図９は、本実施形態に関する第２のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
図９は、本実施形態に関する第２のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
ＰＴＰ現象は、ライトヘッドの瞬間的なコイルの熱量に依存するのではなく、それ以前の連続的なライト動作による熱量の積算が影響していると推定される。そこで、第２のライト制御方法は、連続的ライト動作の時間、換言すればライト動作対象の連続データセクタ数を制限する方法である。
ＣＰＵ１０は、図９に示すように、ライト動作時にライトエラー（ＷＦ）が発生すると、ＰＴＰ現象の発生と判定し、ライト動作を中断する（ステップＳ１１のＹＥＳ，Ｓ１２）。即ち、ＣＰＵ１０は、連続的なライト動作による熱量の積算によりＰＴＰ現象が発生し、ヘッド２の位置決め動作時にディスク１との接触による位置決め悪化で、ライトエラーが発生したと判定する。
ＣＰＵ１０は、ホストシステム２０から要求されたデータセクタ分のライト動作において、指定のデータセクタ数分毎のライト動作を実行し、ライト動作を中断する（ステップＳ１３）。即ち、ＣＰＵ１０は、ライト動作すべきデータセクタ分のライト動作が終了するまで、ライト動作の中断を挟んで間欠的に指定のデータセクタ数分毎のライト動作を実行する（ステップＳ１４）。
なお、ライトエラーが発生しない場合には、ＣＰＵ１０は、ホストシステム２０から要求されたデータセクタ分のライト動作を連続的に実行する（ステップＳ１１のＮＯ，Ｓ１５，Ｓ１６）。
以上のように、ライト動作の時間、即ち連続的にライト動作を実行するデータセクタ数を制限し、一時的に例えばディスク１の１回転待ちの中断動作を実行することにより、ライトヘッドのコイルの熱量を低下させる。これにより、ＰＴＰ現象の発生を抑制又は低減させることが可能となる。従って、ＰＴＰ現象によるヘッドの位置決め悪化を改善し、結果としてライトエラーの発生を解消させることができる。
図５は、ＰＴＰ起因で生じたＷＦ回数を、ヘッド２がディスク１上のトラック１周したときにライトするデータセクタ数をパラメータとして測定した結果を示す。ここでは、連続データセクタ数として９３６セクタ数に対してライト動作を実行した場合を示す。
図５から、ライト動作のデータセクタ数を減少させると、これに伴なってＷＦ回数も減少することが確認できる。即ち、ＰＴＰは瞬間的なコイルの熱量に依存するものでなく、それ以前の数百セクタ分の熱量の積算が影響しているとわかる。そこで、第２のライト制御方法は、一度にライト動作を実行する連続データセクタ数を減少させることにより、ＰＴＰの程度を抑制する。
（第３のライト制御方法）
図１０は、本実施形態に関する第３のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
図１０は、本実施形態に関する第３のライト制御方法の手順を示すフローチャートである。
ＰＴＰ現象は、ライトヘッドのコイルの発熱だけでなく、ドライブ内の周囲温度による熱量も影響していると推定される。そこで、第３のライト制御方法は、ドライブ内の周囲温度（特にヘッド２の周囲温度）を監視し、ＰＴＰの発生可能性が高い場合に、ライト条件を変更する方法である。
ＣＰＵ１０は、ライト動作の実行中または開始前に、温度センサ１２からの温度検出値に基づいて、ドライブ内の周囲温度を確認する（ステップＳ２１）。次に、ＣＰＵ１０は、メモリ１１の例えばフラッシュメモリに保存されている判定情報を参照し、ＰＴＰ現象の発生可能性を判定する（ステップＳ２２）。
当該判定情報とは、図７に示すように、例えばマトリックス構成のテーブル情報である。判定情報は、ドライブ内の周囲温度Ｔとライト電流Ｉｗとをパラメータとして、予め実験的にＰＴＰ現象の発生可能性を判定するための条件を示すものである。
ＣＰＵ１０は、当該判定情報を参照することにより、例えば検出温度Ｔが４０度の場合には、ライト電流値Ｉｗが５０ｍＡ以下であれば、ＰＴＰを要因とするＷＦが発生しないことを確認できる（ステップＳ２３のＮＯ）。
一方、ＣＰＵ１０は、当該判定情報を参照することにより、例えば検出温度Ｔが５０度を超える場合には、ライト電流値Ｉｗが４０ｍＡを超えると、ＰＴＰを要因とするＷＦが発生する可能性が高いと判定する（ステップＳ２３のＹＥＳ）。この場合には、ＣＰＵ１０は、ＰＴＰの発生を未然に防止するために、ライト条件を変更してライト動作を実行する（ステップＳ２４，Ｓ２５）。
具体的には、ＣＰＵ１０は、前述の第１のライト制御方法と同様に、ライト電流値Ｉｗを例えば４０ｍＡ以下まで低減させる。これにより、ライト動作時に、ＰＴＰの発生を要因とするＷＦの発生を未然に防止できる。
なお、ＣＰＵ１０は、ライト条件を変更する方法として、ライト電流値Ｉｗの低減だけでなく、前述の第１のライト制御方法と同様に、連続ライト動作のデータセクタ数を制限するライト動作を実行する方法でもよい。この場合、判定情報として、連続データセクタ数と周囲温度の関係を示す情報を用意することにより、データセクタ数を制限を高精度に設定できる。
以上のように、ライト動作の実行中または開始前に、ドライブ内の周囲温度Ｔとライト電流Ｉｗとの関係を示す判定情報に基づいて、ＰＴＰ現象の発生可能性を判定する。これにより、ＰＴＰ現象の発生可能性が高い場合には、ライト動作でのライト電流値の低減などのライト条件を変更することにより、ＰＴＰの発生を要因とするＷＦの発生を未然に防止することができる。ライト条件の中には、ライト動作の時間、即ち連続的にライト動作を実行するデータセクタ数の制限や、一時的に例えばディスク１の１回転待ちの中断動作等も含まれる。
本方法は、温度検出結果に基づいて、ライト電流値Ｉｗが例えば５０ｍＡ以下の場合には、ＰＴＰを原因とするＷＦの発生可能性が低いことが予測できるため、ライト電流値Ｉｗの低減や、連続データセクタ数の制限などのライト条件の変更を行なう回数を減少できる。これは、ディスクドライブのパフォーマンス低下を抑制できる効果がある。
なお、判定情報は、ヘッド２の特性などに関係するため、ヘッドのロットなどの単位で作成可能である。ここで、ヘッド単品ごとにＰＴＰ調査を行うには、例えば出荷試験などを利用する。さまざまな環境において、Ｉｗ、Ｉｏｖｓ、連続データセクタ数などのライト条件を変更しながらＷＦを測定し、ＷＦが０となる最適条件を示す判定情報をメモリに１１に記憶してもよい。判定情報としては、ＷＦの発生確率である発生強度や、ＷＦの発生を０にする条件を含むことか好ましい。
図６は、ＰＴＰ起因で生じたＷＦ回数を、ドライブ内の周囲温度をパラメータとして測定した結果を示す図である。図６から、ドライブ内の周囲温度が高くなると、ＷＦ回数の割合が増加することが確認できる。
なお、ＣＰＵ１０は、ライト条件の変更に従ってライト電流Ｉｗを変更した場合に、当該電流値Ｉｗをレジスタ７０に維持し、周囲温度の変化またはドライブの電源オフまで使用する。
さらに、ライト条件のパラメータの変更として、ライト電流値Ｉｗと共に、ＷＦの発生依存が強いＩｖｏｓをパラメータとして併用することが効果である。具体的には、図３に示すように、例えばＩｗが４８ｍＡで、Ｉｏｖｓが１１０％の場合には、ＷＦ回数が５０回以上を示すライトヘッドにおいて、例えばＩｗを４３ｍＡで、Ｉｏｖｓを７０％とするライト条件に変更すると、ＷＦ回数が１０以下になる。
さらに、Ｉｗを３８ｍＡ、Ｉｖｏｓを７０％に変更すると、ＷＦ回数を０にすることも可能である。ＣＰＵ１０は、当該ライト条件をメモリ１１に保存することにより、ＷＦが発生したときに、当該ライト条件を設定することでＰＴＰによるライトエラーの発生を効果的に抑制できる。
なお、ライト電流値Ｉｗを低下させることは、当然ながら、ドライブの記録能力の低下を招く。そこで、ライト電流値Ｉｗの低下の下限値、及び低下の最大範囲を予め設定することが好ましい。この場合、ＣＰＵ１０は、例えばライト電流値Ｉｗを定格値から例えば１０ｍＡまで低下させてもＷＦが０にならない場合に、ライト電流値Ｉｗの低下を中止して、第２のライト制御方法に移行してもよい。
以上要するに本実施形態によれば、ライト電流値の低下、ライト動作の連続時間の短縮（連続データセクタ数の削減）、ドライブ内の周囲温度の監視によるＰＴＰの発生可能性の判定、一時的なライト動作の中断によるコイル熱量の抑制を行なうことにより、ＰＴＰ現象によるＷＦの発生を抑制することができる。従って、結果として安定したライト動作を実現することが可能となる。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
１…ディスク、２…ヘッド、３…スピンドルモータ、４…アクチュエータ、
５…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、６…モータドライバＩＣ、
７…ヘッドアンプ回路、８…Ｒ／Ｗチャネル、９…ディスクコントローラ（ＨＤＣ）、
１０…マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）、１１…メモリ、１２…温度センサ、
２０…ライトヘッドの記録磁極、７０…レジスタ。
５…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、６…モータドライバＩＣ、
７…ヘッドアンプ回路、８…Ｒ／Ｗチャネル、９…ディスクコントローラ（ＨＤＣ）、
１０…マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）、１１…メモリ、１２…温度センサ、
２０…ライトヘッドの記録磁極、７０…レジスタ。
Claims (14)
- コイルに供給されるライト電流に従って、ディスク媒体上にデータを記録するためのヘッドと、
前記ヘッドを搭載し、前記ディスク媒体上の目標位置に位置決めするためのアクチュエータと、
前記ヘッドにより前記ディスク媒体上の目標位置にデータを記録するライト動作時に、ライトエラーが発生した場合に、ライト動作を実行するためのライト条件を変更するライト制御手段と
を具備したことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 前記ライト制御手段は、ライトエラーの発生を検知したときに、前記ライト条件として前記ライト電流を定格値から許容範囲内で低減し、当該低減されたライト電流に従ったライト動作を実行することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
- 前記ライト制御手段は、ライトエラーの発生を検知したときに、前記ライト条件として前記ライト電流を定格値から許容範囲内で段階的に低減し、各段階のライト電流でのライト動作を実行することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
- 前記ライト制御手段は、ライトエラーの発生を検知したときに、前記ライト条件として前記ライト電流を定格値から許容範囲内で低減し、さらに、一定時間の経過後に、低減されたライト電流でのライト動作を実行することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
- 前記ライト制御手段は、ライトエラーの発生を検知したときに、ライト動作を一定時間だけ中断し、当該一定時間経過後に、当該ライト動作を継続することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
- 前記ライト制御手段は、複数のデータセクタ数分のデータを連続的に記録するライト動作時に、ライトエラーが発生した場合に、前記ライト条件として、一定時間のライト動作の中断を含み、指定のデータセクタ数分毎のライト動作を間欠的に実行することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
- コイルに供給されるライト電流に従って、ディスク媒体上にデータを記録するためのヘッドと、
前記ヘッドを搭載し、前記ディスク媒体上の目標位置に位置決めするためのアクチュエータと、
前記ヘッドの周囲温度を検出するための温度センサと、
前記温度センサにより検出される周囲温度と前記ヘッドに供給するライト電流値とに基づいて、ポールチップ・プロトリュージョン（ＰＴＰ）の発生可能性を判定する手段と、
ライト動作時に、前記判定手段の判定結果が当該ＰＴＰの発生可能性が高い場合に、前記ライト条件としてライト電流値を低減してライト動作を実行するライト制御手段と
を具備したことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 前記ヘッドのライト電流値と周囲温度とをパラメータとするポールチップ・プロトリュージョン（ＰＴＰ）の発生可能性を判定するための判定情報を格納するメモリとを有し、
前記判定手段は、前記温度センサにより検出される周囲温度、前記ヘッドに供給するライト電流値、及び前記判定情報を使用して、前記ＰＴＰの発生可能性を判定することを特徴とする請求項７に記載の磁気ディスク装置。 - 前記ライト制御手段は、当該ＰＴＰの発生可能性が高い場合に、前記ライト条件として連続データセクタ数を制限するライト動作を実行することを特徴とする請求項７に記載の磁気ディスク装置。
- コイルに供給されるライト電流に従って、ディスク媒体上にデータを記録するためのヘッドを有する磁気ディスク装置に適用するライト制御方法であって、
前記ヘッドにより前記ディスク媒体上にデータを記録するライト動作時に、ライトエラーの発生を検知するステップと、
前記ライト電流の低減を実行するステップと、
低減されたライト電流に従ってライト動作を実行するステップと
を有する手順を実行することを特徴とするライト制御方法。 - 前記ライト動作を実行するステップは、ライト電流が低減された後の一定時間の経過後に、低減されたライト電流に従ってライト動作を実行することを特徴とする請求項１０に記載のライト制御方法。
- 前記ライト動作を実行するステップの後に、
ライトエラーの発生を検知するステップと、
前記ライト電流を許容範囲内で段階的に低減するステップと
をさらに有することを特徴とする請求項１０または請求項１１のいずれか１項に記載のライト制御方法。 - 前記ライト動作として複数のデータセクタ数分のデータを連続的に記録する場合に、
前記ライトエラーの発生を検知するステップの後に、
前記ライト動作を実行するステップとして、一定時間のライト動作の中断を含み、指定のデータセクタ数分毎のライト動作を間欠的に実行することを特徴とする請求項１０に記載のライト制御方法。 - ライト動作時に、前記ヘッドの周囲温度を検出するステップと、
前記周囲温度と前記ヘッドに供給するライト電流値とに基づいて、ポールチップ・プロトリュージョン（ＰＴＰ）の発生可能性を判定するステップと、
当該ＰＴＰの発生可能性が高い場合に、ライト条件を変更するステップとをさらに有することを特徴とする請求項１０に記載のライト制御方法。
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