JP2006107722A - ディスクドライブ,記録媒体そして記録パラメータを補償する方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ディスクドライブのヘッドに対して最適記録パラメータ条件及びweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と,ディスクドライブの記録動作を制御するための,最適記録パラメータ条件とweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と,を含む記録パラメータ補償方法である。これにより,記録動作の開始時点から所定時間T1の間に記録パラメータを補償するための補償値alphaを提供することによって,記録動作の初期におけるweak write現象を防止できる。
【選択図】 図13
Description
elseif;RCO_BER>WW_BER_mid,alpha=mid;
elseif;RCO_BER>WW_BER_min,alpha=min;
else alpha=0
70,120 ヘッド
126 ボイスコイル
140 HDDの制御装置
141 コントローラ
142−1 ROM
142−3 RAM
143−1 第1バッファメモリ
143−3 第2バッファメモリ
144 温度センサー
145 R/Wチャンネル回路
146 リードプリアンプ&ライト駆動回路
147 ホストインターフェース回路
148 VCM駆動回路
Claims (16)
- ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータ補償方法において,
前記ディスクドライブのヘッドに対して最適記録パラメータ条件及びweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と;
前記ディスクドライブの記録動作を制御するための前記最適記録パラメータ条件と,weak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と;
を含む,記録パラメータ補償方法。 - 少なくとも2つの記録パラメータがあり,前記ビットエラー率の測定過程は,
最適記録パラメータを決定する過程と;
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し,記録された前記テストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と;
前記2つの記録パラメータのうち,一方は,前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた記録パラメータ補償値に維持し,他方は,weak writeを誘発する値に設定する過程と;
前記設定されたパラメータによりテストデータを記録し,記録された前記テストデータを読み込んでweak write条件でのビットエラー率を測定する過程と;
を含み,
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は,前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率と前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率との差に相応する,前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする,請求項1に記載の記録パラメータ補償方法。 - 前記記録パラメータ補償値を算出する過程は,
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と;
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記ディスクドライブのヘッドに対する前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と;
最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と;
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより,補償値を表す補償テーブルを作成する過程と;
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及び前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから補償値を得る過程と;
を含むことを特徴とする,請求項1または2に記載の記録パラメータ補償方法。 - 前記記録パラメータは,前記ディスクドライブの記録動作が開始された後,所定の時間適用されることを特徴とする,請求項1〜3のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
- 前記記録パラメータは,
記録電流の大きさを表すパラメータと;
前記記録電流のオーバーシュートの大きさを表すパラメータと;
前記オーバーシュートの持続期間を表すパラメータと;
を含むことを特徴とする,請求項1〜4のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。 - 前記記録パラメータは,前記ヘッドの温度上昇によってポールチップが突出するTPTP現象が飽和された後に適用されることを特徴とする,請求項1〜5のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
- 前記記録パラメータは,
記録電流の大きさを表すパラメータと;
前記記録電流のオーバーシュートの大きさを表すパラメータと;
前記オーバーシュートの持続期間を表すパラメータと;
を含むことを特徴とする,請求項1〜6のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。 - ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータを補償する方法を行うコンピュータで読み取り可能なコードを記録した記録媒体において,前記記録パラメータを補償する方法は,
前記ディスクドライブのヘッドに対して,最適記録パラメータ条件及びweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と;
前記ディスクドライブの記録動作を制御するための前記最適記録パラメータ条件と,weak writeを誘発する前記weak write記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と;
を含むことを特徴とする記録媒体。 - 少なくとも2つの記録パラメータがあり,前記ビットエラー率の測定過程は,
最適記録パラメータを決定する過程と;
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し,記録された前記テストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と;
前記2つの記録パラメータのうち一方は,前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた記録パラメータ補償値に維持し,他方は,前記weak writeを誘発する値に設定する過程と;
設定された前記記録パラメータによりテストデータを記録し,記録された前記テストデータを読み込んでweak write条件でのビットエラー率を測定する過程と;
を含み,
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は,前記最適条件でのビットエラー率と前記weak write条件でのビットエラー率との差に相応する,前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする,請求項8に記載の記録媒体。 - 前記記録パラメータ補償値を算出する過程は,
最適記録条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と;
前記最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記ディスクドライブのヘッドに対する前記weak write条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と;
前記最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記weak write条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と;
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより,前記補償値を表す補償テーブルを作成する過程と;
前記最適記録条件でのビットエラー率,及び前記weak write条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから前記補償値を得る過程と;
を含むことを特徴とする,請求項8または9に記載の記録媒体。 - データを保存する記録媒体と;
記録動作を通じて前記記録媒体にデータを記録する再生/記録ヘッドと;
ディスクドライブの前記再生/記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件,及びweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定することを制御し,前記最適記録パラメータ条件とweak writeを誘発する前記weak write記録パラメータ条件間の前記ビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出することを制御し,そして,前記記録媒体にデータを記録するとき,前記ディスクドライブの記録動作中に前記再生/記録ヘッドに影響を与えるTPTP現象の影響を補償するために,前記補償値を適用することにより前記記録動作を制御する制御部と;
を含む,ディスクドライブ。 - 少なくとも2つの記録パラメータがあり,前記制御部は,
前記最適記録パラメータを決定する過程と;
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し,記録されたデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と;
前記2つの記録パラメータのうち一方は,前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた値に維持し,他の一方は,weak writeを誘発する値に設定する過程と;
前記設定されたパラメータによりテストデータを記録し,記録されたデータを読み込んでweak write条件でのビットエラー率を測定する過程と;
によりビットエラー率を測定することを制御し,
ここで,前記制御部により前記記録パラメータ補償値を算出する過程は,前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率とweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率との差に相応する,前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする,請求項11に記載のディスクドライブ。 - 前記制御部は,
最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と;
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記ディスクドライブのヘッドに対する前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と;
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する,前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と;
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより,前記補償値を表す補償テーブルを作成する過程と;
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及び前記weak write記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから前記補償値を得る過程と;
により,前記記録パラメータ補償値を算出する過程を追加で制御することを特徴とする請求項11または12に記載のディスクドライブ。 - 前記制御部は,少なくともディスクドライブの再生/記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件及びweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程,前記最適記録パラメータ条件とweak writeを誘発するweak write記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程,そして前記記録媒体にデータを記録するとき,前記ディスクドライブの記録動作中に前記再生/記録ヘッドに影響を与えるTPTP現象の影響を補償するために,前記補償値を適用する過程のうちいずれかを行うためにコンピュータで読み取り可能なコードを持つ,少なくとも一つの記録媒体を備えることを特徴とする,請求項11〜13のいずれかに記載のディスクドライブ。
- データを保存する記録媒体と;
記録動作を通じて前記記録媒体にデータを記録する再生/記録ヘッドと;
前記記録動作中に前記再生/記録ヘッドに影響を与えるTPTP現象の影響を考慮して,少なくとも2つの相異なる記録条件でのビットエラーレートの差に基づいて算出された補償値を使用して,前記記録動作を補償する制御手段と;
を備えるディスクドライブ。 - 前記制御手段は,前記補償値の算出を実行するためにコンピュータで読み取り可能なコードを備えることを特徴とする,請求項15に記載のディスクドライブ。
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