KR100585103B1 - 하드디스크 드라이브의 헤드 종류 판별 방법 및 이를이용한 기록 파라메터 최적화 방법 - Google Patents

하드디스크 드라이브의 헤드 종류 판별 방법 및 이를이용한 기록 파라메터 최적화 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 하드디스크 드라이브에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 헤드의 종류 즉, 정상 헤드, weak 헤드, 그리고 ATE 헤드를 판별하는 헤드 판별 방법 및 이를 이용한 기록 파라메터 조정 방법에 관한 것이다.
포함된 헤드의 종류 즉, ATE 헤드, weak 헤드 혹은 정상 헤드인 지의 여부를 판별하는 방법에 있어서, 종류를 판별하고자 하는 헤드를 통하여 기준 TPI, 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI, 그리고 감소한 TPI의 조건에서 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생하여 각 조건에서의 에러율을 검출하는 과정; 및 기준 TPI 조건에서의 에러율과 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율, 그리고 감소한 TPI의 조건에서의 에러율을 비교하여 헤드의 종류를 판별하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 헤드 판별 방법은 TPI를 변화시켜가면서 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 읽어 에러율을 판단하며, TPI의 변화에 따른 에러율의 변화를 참조하여 헤드의 종류 즉, 정상 헤드인지, ATE 헤드인지 혹은 weak 헤드인지를 간단하게 판별하는 효과를 제공한다.

Description

하드디스크 드라이브의 헤드 종류 판별 방법 및 이를 이용한 기록 파라메터 최적화 방법{Method for determining a type of head and method for optimizing of recording parameter thereof in hard disk drive}
도 1 내지 도 3은 TPI에 따른 에러율의 변화를 보이는 특성 곡선들이다.
도 4는 본 발명에 따른 헤드 판별 방법의 구체적인 실시예를 보이는 흐름도이다.
도 5는 본 발명에 따른 기록 파라메터 최적화 방법을 보이는 흐름도이다.
도 6은 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브(100)의 구성을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 6에 도시된 하드 디스크 드라이브(100)를 제어하는 제어장치(140)의 블록도를 나타낸다.
도 8은 도 6 내지 도 7에 도시된 장치에 있어서 온도에 따른 기록 파라메터 제어 과정을 보이는 흐름도이다.
본 발명은 하드디스크 드라이브에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 헤드의 종류 즉, 정상 헤드, weak 헤드, 그리고 ATE(Adjacent Track Erase) 헤드를 판별하는 헤드 종류 판별 방법 및 이를 이용한 기록 파라메터 조정 방법에 관한 것이다.
종래에 있어서 하드디스크 드라이브에서 온도에 따른 기록 에러를 방지하기 위한 방법으로서 온도에 따라 기록 파라메터(Write Current(WC) 및 Overshoot Control(OSC))를 최적화시키고 있다. 즉, 온도에 따른 헤드의 기록 성능 감소를 예상하여 온도에 따라 차별화된 기록 파라메터를 적용하는 것이다.
예를 들면, 저온에서는 디스크의 보자력이 커지므로 기록 파라메터를 높여서 자장의 세기를 높여주고, 반대로 고온에서는 디스크의 보자력이 작아지므로 기록 파라메터를 낮추어서 자장의 세기를 낮추어서 기록함으로써 데이터 에러를 방지한다.
그러나 이러한 종래의 기록 파라메터 최적화 방법에 있어서는 하드디스크 드라이브의 동작 온도 이외에도 각 헤드마다의 고유한 특성을 고려하지 않고 있기 때문에 데이터 에러를 효율적으로 방지하지 못하고 있다는 문제점이 있다.
헤드는 대체적으로 정상 헤드, ATE 헤드, 그리고 weak 헤드 등으로 구분할 수 있다. 여기서, ATE 헤드는 ATE(Adjacent Track Erase; 인접 트랙 소거)효과가 현저한 헤드이며, weak 헤드는 weak write 즉, 저온에서 열악한 기록 특성을 가지는 헤드를 말한다.
예를 들어, 고온에서는 디스크의 보자력이 감소하므로 인접 트랙에의 간섭이 용이하게 발생한다. 따라서, ATE 헤드의 경우에는 정상 헤드에 비해 온도에 따른 기록 파라메터 보정치를 낮추어주어야 할 필요가 있다. 한편, 저온에서는 디스크의 보자력이 높아진다. 따라서, weak 헤드의 경우에는 정상 헤드에 비해 온도에 따른 기록 파라메터 보정치를 높여주어야 할 필요가 있다.
종래의 기록 파라메터 최적화 방법에서는 이와 같은 헤드마다의 고유한 특성을 반영하지 않고 모든 헤드에 대하여 동일한 기록 파라메터 보정치를 적용하고 있기 때문에 고온에서 ATE가 증가되거나 저온에서 weak write가 증가되는 문제가 야기되고 있는 것이다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 고안된 것으로서 헤드의 종류 즉, 정상 헤드, ATE 헤드, 그리고 weak 헤드의 여부를 판단하는 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 기록 파라메터를 보정하는 기록 파라메터 최적화 방법에 있어서 각 헤드의 고유한 특성을 고려하여 온도별 기록 파라메터를 보정하는 개선된 기록 파라메터 최적화 방법을 제공하는 것에 있다.
상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 헤드 종류 판별 방법은
하드디스크 드라이브에 포함된 헤드의 종류 즉, ATE 헤드, weak 헤드 혹은 정상 헤드인 지의 여부를 판별하는 방법에 있어서,
종류를 판별하고자 하는 헤드를 통하여 기준 TPI, 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI, 그리고 감소한 TPI의 조건에서 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생하여 각 조건에서의 에러율을 검출하는 과정; 및
기준 TPI 조건에서의 에러율과 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율, 그리고 감소한 TPI의 조건에서의 에러율을 비교하여 헤드의 종류를 판별하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 기준 TPI 조건에서의 에러율과 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율이 소정의 제1기준값보다 큰 경우에는 ATE 헤드로 판별하고, 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율과 감소한 TPI 조건에서의 에러율의 차이가 소정의 제2기준값보다 작은 경우에는 weak 헤드로 판별하며, 그렇지 않은 경우에는 정상 헤드로 판별하는 것을 특징으로 한다.
상기의 다른 목적을 달성하는 본 발명에 따른 기록 파라메터 최적화 방법은
하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 헤드의 기록 파라메터를 보정하는 방법에 있어서,
하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 상기 하드디스크 드라이브에 포함된 모든 헤드들에 동일하게 적용되는 기록 파라메터 보정치를 설정하는 과정;
상기 하드디스크 드라이브에 포함된 헤드의 종류 즉, ATE 헤드, weak 헤드 혹은 정상 헤드인 지를 판별하는 과정;
하드디스크 드라이브의 동작 온도를 검출하는 과정; 및
검출된 하드디스크 드라이브의 동작 온도, 상기 온도에 따른 헤드의 기록 파라메터 보정치, 그리고 헤드의 종류를 참조하여 데이터를 기록하고자 하는 헤드의 기록 파라메터를 보정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 상세히 설명하기로 한다.
번인 테스트 공정 중에는 각 헤드에 적합한 트랙 피치를 설정하기 위하여 TPI(Track Per Inch; 단위 길이당 트랙들의 수)를 변화시켜가면서 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생하면서 에러율을 측정하는 공정이 포함되어 있다.
도 1 내지 도 3은 TPI에 따른 에러율(Bit Error Rate)의 변화를 보이는 특성(TPI-BER) 곡선들이다. 도 1내지 도 3에 있어서 횡축은 TPI를 보이는 것이고, 종축은 에러율을 보이는 것이다.
횡축에 있어서 TPI가 0%인 곳은 기본 TPI인 곳을 나타내고, 2%인 곳은 기본 TPI보다 2%만큼 증가한 TPI인 곳을 나타내고, -2%인 곳은 기본 TPI보다 2%만큼 감소한 TPI인 곳을 나타낸다. TPI가 감소되면 트랙폭은 증가하고, 반대로 TPI가 증가되면 트랙폭은 감소된다.
종축의 에러율은 로그 함수로 표현된 것이며, 또한, 도 1 내지 도 3은 각각 정상 헤드, ATE 헤드, 그리고 weak 헤드에 대한 특성들을 보이고 있다. 도 1 내지 도 3은 4개의 테스트 샘플들에 대하여 수행된 결과를 보이고 있다.
도 1 내지 도 3을 참조하면 헤드의 종류에 따라 특성 곡선의 기울기가 다르게 나타나는 것을 알 수 있다.
도 1의 정상 헤드에 대한 특성 곡선과 도 2의 ATE 헤드에 대한 특성 곡선을 비교하면 TPI가 높은 영역과 적정한 TPI에서의 에러율의 차이가 정상 헤드에 비해 ATE 헤드가 매우 큰 것을 알 수 있다.
또한, 도 1의 정상 헤드에 대한 특성 곡선과 도 3의 weak 헤드에 대한 특성 곡선을 비교하면 TPI가 높은 영역과 낮은 영역에서의 에러율의 차이가 정상 헤드에 비해 weak 헤드가 매우 작은 것을 알 수 있다.
즉, TPI에 따른 에러율(Bit Error Rate)의 변화를 보이는 특성(TPI-BER) 곡선에서 TPI가 적정한 곳, 높은 곳, 그리고 낮은 곳에서의 에러율들을 비교함에 의해 헤드의 종류를 판별할 수 있음을 알 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 헤드 판별 방법의 구체적인 실시예를 보이는 흐름도이다.
먼저, 종류를 판별하고자 하는 헤드에 있어서 TPI의 변화에 따른 에러율의 변화를 보이는 특성 곡선을 얻는다.(s402)
구체적으로 설정된 기본 TPI를 기준으로 TPI를 변화시켜가면서 에러율을 측정한다. 에러율은 목표 트랙에 인접한 양쪽 트랙들에 소정의 테스트 데이터들을 N회씩 기록하고 목표 트랙에 기록된 데이터를 읽어내는 방법으로 측정된다. 여기서, TPI의 변화에 상관없이 기록 파라메터는 동일하며, 기본 TPI는 대표적인 정상 헤드들을 대상으로 테스트하여 설정된 잠정적인 값을 말한다. 즉, 기본 TPI는 정상 헤드에 적합한 적정 TPI이다.
실제에 있어서는 기본 TPI, 기본 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI, 그리고 기본 TPI로부터 소정의 비율만큼 감소한 TPI 조건들에서의 에러율들을 측정하는 것이 보다 간단하다.
여기서, 소정의 비율은 본 발명의 실시예에 따르면 12%이지만 이는 실험적, 통계적으로 결정된 값이며 다른 값이 사용될 수도 있다.
기본 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과의 차이가 소정의 제1기준값보다 큰 지를 판단한다.(s404) 여기서, 제1기준값은 실험적, 통계적으로 결정되는 값이다.
S404과정에서 기본 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 +방향으로 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과의 차이가 소정의 제1기준값보다 크다면 측정 대상이 되는 헤드가 ATE 헤드인 것으로 판별한다.(s406)
도 1 및 도 2를 참조하면 ATE 헤드에서는 기본 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과의 차이가 정상 헤드에서의 그것보다 훨씬 큰 것을 알 수 있다. 도 1 및 도 2를 참조하면 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과의 차이가 약 1.7정도의 차이 정도이지만 에러율(BER, Bit Error Rate)이 로그 함수로 표현된 것을 감안하면 상당히 큰 값이다. S406과정에서는 이러한 특성을 이용하여 ATE 헤드 여부를 판별하는 것이다.
S404과정에서 기본 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과의 차이가 소정의 제1기준값보다 크지 않다면, 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 감소한 TPI에서의 에러율이 소정의 제2기준값보다 작은 지를 판단한다.(s408) 여기서, 제2기준값은 실험적, 통계적으로 결정되는 값이다.
도 1 및 도 3을 참조하면 weak 헤드에서는 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 감소한 TPI에서의 에러율의 차이가 정상 헤드에서의 그것보다 훨씬 작은 것을 알 수 있다. S408과정에서는 이러한 특성을 이용하여 ATE 헤드 여부를 판별하는 것이다.
기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 감소한 TPI에서의 에러율이 소정의 제2문턱값보다 작다면 측정 대상이 되는 헤드가 weak 헤드인 것으로 판별한다.(s410)
S408과정에서 기본 TPI로부터 12%만큼 증가한 TPI에서의 에러율과 기본 TPI로부터 12%만큼 감소한 TPI에서의 에러율이 소정의 제2문턱값보다 작지 않다면 측정 대상이 되는 헤드가 정상 헤드인 것으로 판별한다.(s412)
도 4에 도시된 바와 같은 헤드 판별 방법은 하드디스크 드라이브의 번인 테스트 과정, 특히 헤드에 적합한 TPI를 설정하는 과정과 더불어 수행되는 것이 바람직하다.
도 5는 본 발명에 따른 기록 파라메터 최적화 방법을 보이는 흐름도이다.
먼저, 상온에서의 기록 파라메터 및 온도에 따른 기록 파라메터 보정치를 결정한다.(s502) 이 기록 파라메터 보정치는 하드디스크 드라이브에 포함된 모든 헤드들에 대하여 동일하게 적용되는 값으로서 헤드의 종류에는 상관없다. S502과정은 하드디스크 드라이브의 번인 테스트 과정에서 수행된다.
통상 기록 파라메터 보정을 수행하기 위해 임계온도를 저온, 상온, 그리고 고온의 세 가지 영역으로 설정할 수 있다.
온도에 따른 고온에서의 기록 파라메터 보정치를 A라 하고, 저온에서의 기록 파라메터 보정치를 B라고 가정한다.
헤드의 종류를 판별한다.(s504) S504과정은 하드디스크 드라이브의 번인 테스트 과정에서 수행되는 것이 바람직하다. S504과정에서 헤드의 종류를 판별하는 방법은 도 4에 도시되고 설명된 방법에 따를 수도 있다.
하드디스크 드라이브의 동작 온도를 검출한다.(s506)
s506과정에서 검출된 하드디스크 드라이브의 동작 온도, s502과정에서 설정된 온도에 따른 기록 파라메터 보정치, 그리고 s504과정에서 판별된 헤드의 종류를 참조하여 기록 파라메터를 보정한다.
구체적으로 ATE 헤드로 판별된 헤드의 경우는 온도에 따른 기록 파라메터 보정치(A및 B)를 저온에 대해서는 a만큼 감소시켜 주고, 고온에 대해서는 b만큼 감소시켜준다.(s508)
즉, ATE 헤드인 경우에는 기록 파라메터를 가능한 한 낮게 사용하는 것이 데이터 에러를 방지하는 데 좋기 때문에 저온에 있어서의 기록 파라메터 보정치 A 및 고온에 있어서 기록 파라메터 보정치 B를 각각 a 및 b 만큼 작게 해준다.
weak 헤드로 판별된 헤드의 온도에 따른 기록 파라메터 보정치(A및 B)를 저온에 대해서는 a만큼 증가시켜 주고, 고온에 대해서는 b만큼 증가시켜준다.(s510)
즉, weak 헤드인 경우에는 기록 파라메터를 가능한 한 높게 사용하는 것이 데이터 에러를 방지하는 데 좋기 때문에 저온에 있어서의 기록 파라메터 보정치 A 및 고온에 있어서 기록 파라메터 보정치 B를 각각 a 및 b 만큼 크게 해준다.
정상 헤드인 경우에는 s502과정에서 설정된 기록 파라메터 보정치를 그대로 사용한다.
이후 보정된 기록 파라메터에 의해 기록 동작을 수행한댜.(s514)
도 6은 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브(100)의 구성을 나타내는 도면이다.
하드 디스크 드라이브(100)는 스핀들 모터(114)에 의하여 회전되는 적어도 하나의 디스크(112)를 포함하고 있다. 하드 디스크 드라이브(100)는 디스크(112)의 표면에 인접되게 위치한 헤드(120)를 또한 포함하고 있다.
헤드(120)는 디스크(112)의 표면에 형성된 자계를 감지하거나 디스크의 표면을 자화시킴으로써 회전하는 디스크(112)로부터 정보를 읽거나 기록할 수 있다. 비록 도 6에 있어서 단일의 헤드로 도시되어 있지만, 이는 디스크(112)를 자화시키기 위한 기록용 헤드와 디스크(112)의 자계를 감지하기 위한 분리된 읽기용 헤드로 이루어져 있다고 이해되어야 한다.
헤드(120)는 헤드와 디스크(112)의 표면사이에 공기 베어링(air bearing)을 생성시키는 구조로 되어 있다. 헤드(120)는 헤드 스택 어셈블리(HSA; head stack assembly, 122)에 결합되어 있다. 헤드 스택 어셈블리(122)는 보이스 코일(126)을 갖는 엑츄에이터 암(124)에 부착되어 있다. 보이스 코일(126)은 보이스 코일 모터(VCM; voice coil motor, 130)를 특정하는(지지하는) 마그네틱 어셈블리(128)에 인접되게 위치하고 있다. 보이스 코일(126)에 공급되는 전류는 베어링 어셈블리(132)에 대하여 엑츄에이터 암(124)을 회전시키는 토오크를 발생시킨다. 엑츄에이터 암(124)의 회전은 디스크(112)의 표면을 가로질러 헤드를 이동시킬 것이다.
정보는 디스크(112)의 환상 트랙 내에 저장된다. 일반적으로 디스크(112)는 사용자 데이터가 기록되는 데이터존(data zone), 드라이브를 사용하지 않을 경우에 헤드가 위치하는 파킹존(parking zone) 및 메인터넌스 실린더로 구성된다. 메인티넌스 실린더에는 헤드의 종류, 고온 및 저온에서의 기록 파라메터 보정치들(A 및 B), 헤드의 종류에 따른 기록 파라메터 보정치들(a 및 b)가 저장되어 있다.
도 7은 도 6에 도시된 하드 디스크 드라이브(100)를 제어하는 제어장치(140)의 블록도를 나타낸다.
제어장치(140)는 리드/라이트(R/W) 채널 회로(145) 및 리드 프리앰프 & 라이트 드라이버 회로(46)에 의하여 헤드(120)에 결합된 콘트롤러(141)를 포함하고 있다. 콘트롤러(141)는 디지털 신호 프로세서(DSP : Digital Signal Processor), 마이크로프로세서, 마이크로콘트롤러 등이 된다.
콘트롤러(141)는 디스크(112)로부터 데이터를 리드하거나 또는 디스크(112)에 데이터를 기록하기 위하여 리드/라이트 채널(145)로 제어신호를 공급하며, 특히 온도센서(144)에서 감지한 온도에 따라 기록 파라메터를 제어한다.
정보는 전형적으로R/W 채널(145)로부터 호스트 인터페이스 회로(147)로 전송된다. 호스트 인터페이스 회로(147)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 시스템에 인터페이스하기 위하여 디스크 드라이브를 허용하는 제어 회로를 포함하고 있다.
R/W 채널 회로(145)는 재생 모드에서는 헤드(120)로부터 읽혀져 리드 프리앰프 회로(146)에서 증폭된 아날로그 신호를 호스트 컴퓨터(도면에 미도시)가 판독할 수 있는 디지털 신호로 변조시켜 호스트 인터페이스 회로(147)로 출력하고, 호스트 컴퓨터로부터 사용자 데이터를 호스트 인터페이스 회로(147)를 통하여 수신하여 디스크에 기록할 수 있도록 기록 전류로 변환시켜 라이트 드라이버 회로(416)로 출력시키도록 신호처리를 실행한다.
콘트롤러(141)는 보이스 코일(126)에 구동 전류를 공급하는 VCM 구동 회로(148)에 또한 결합되어 있다. 콘트롤러(141)는 VCM의 여기 및 헤드의 움직임을 제어하기 위하여 구동 회로(148)로 제어신호를 공급한다.
콘트롤러(141)는 읽기 전용 메모리(ROM : Read Only Memory) 또는 플레쉬 메모리 소자(142-1)와 같은 비휘발성 메모리 및 랜덤 억세스 메모리(RAM : Random Access Memory) 소자(142-3)에 결합되어 있다. 메모리 소자(142-1, 142-3)는 소프트웨어 루틴을 실행시키기 위하여 콘트롤러(141)에 의하여 사용되어지는 명령어 및 데이터를 포함하고 있다.
소프트웨어 루틴의 하나로서 한 트랙에서 다른 트랙으로 헤드를 이동시키는 시크 루틴(seek routine) 및 트랙 내에서 목표 섹터를 찾아내는 추종 루틴(following routine)이 있다. 시크 루틴은 헤드를 정확한 트랙으로 이동시키는 것을 보증하기 위한 서보 제어 루틴을 포함하고 있다.
또한, 메모리 소자(142-1, 142-3)에는 온도에 따라서 기록 파라메터를 제어할 수 있는 프로그램이 저장되어 있고 임계온도값이 저장되어 있다. 이에 따라서, 콘트롤러(141)는 전원이 공급된 상태에서, 온도 센서(144)에서 감지된 온도가 임계온도 미만으로 판독되는 경우에, 자기헤드의 위치를 판단하여 기록 파라메터를 제어하도록 한다. 여기에서, 임계 온도는 하드 디스크 드라이브의 동작 온도가 고온인지 혹은 저온이지를 판별하기 위한 것으로서, 실제에 있어서는 고온 조건을 판단하기 위한 값과 저온 조건을 판단하기 위한 값들이 설정된다.
버퍼메모리(143)는 호스트컴퓨터로부터의 기록명령이 내려지면, 기록할 데이터를 제1버퍼메모리(143-1)에 저장한다. 제2버퍼메모리(143-3)에는 디스크(112)로부터 재생한 데이터를 임시 저장하는 장소이다.
하드 디스크 드라이브(100)가 호스트컴퓨터로부터 기록(write) 명령을 수신하면, 제1버퍼메모리(143-1)에 기록할 데이터가 저장된다. 온도센서(144)는 콘트롤러(141)는 제어신호에 의해서 하드 디스크 드라이브(100)의 온도를 감지한다.
온도센서(144)로부터 전달받은 측정된 온도(T)가 임계온도(Tth)를 초과하는 지를 판별한다.
측정된 온도(T)가 임계온도(Tth)를 초과하는 경우에 콘트롤러(141)는 메인티넌스 실린더에 저장된 고온 및 저온에서의 기록 파라메터 보정치들(A 및 B), 헤드의 종류에 따른 기록 파라메터 보정치들(a 및 b)을 참조하여 기록 파라메터를 보정한다..
정상 헤드로 판별된 헤드에 대해서는 도 5의 s502과정에서 설정된 기록 파라메터 보정치를 그대로 사용한다.
ATE 헤드로 판별된 헤드에 대해서는 온도에 따른 기록 파라메터 보정치(A 및 B)를 저온에 대해서는 a만큼 감소시켜 주고, 고온에 대해서는 b만큼 감소시켜준다.
weak 헤드로 판별된 헤드에 대해서는 저온에 있어서의 기록 파라메터 보정치 A 및 고온에 있어서 기록 파라메터 보정치 B를 각각 a 및 b 만큼 크게 해준다.
기록 파라메터가 보정되면 콘트롤러(141)는 이를 기록 헤드에 인가하여 기록 동작을 수행하게 한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 헤드 판별 방법은 TPI를 변화시켜가면서 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 읽어 에러율을 판단하며, TPI의 변화에 따른 에러율의 변화를 참조하여 헤드의 종류 즉, 정상 헤드인지, ATE 헤드인지 혹은 weak 헤드인지를 간단하게 판별하는 효과를 제공한다.
본 발명에 따른 기록 파라메터 최적화 방법은 헤드의 종류를 판별하고, 판별된 헤드의 종류에 맞게 기록 파라메터를 보정함으로써 데이터 에러를 방지하는 효과를 가진다.

Claims (4)

  1. 하드디스크 드라이브에 포함된 헤드의 종류 즉, ATE(Adjacent Track Erase) 헤드, weak 헤드 혹은 정상 헤드인 지의 여부를 판별하는 방법에 있어서,
    (a) 종류를 판별하고자 하는 헤드를 통하여 기준 TPI, 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI, 그리고 감소한 TPI의 조건에서 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생하여 각 조건에서의 에러율을 검출하는 과정; 및
    (b) 기준 TPI 조건에서의 에러율과 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율, 그리고 감소한 TPI의 조건에서의 에러율을 비교하여 헤드의 종류를 판별하는 과정을 포함하는 헤드 종류 판별 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 (b) 과정에서는
    기준 TPI 조건에서의 에러율과 기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율이 소정의 제1기준값보다 큰 경우에는 ATE 헤드로 판별하고,
    기준 TPI로부터 소정의 비율만큼 증가한 TPI 조건에서의 에러율과 감소한 TPI 조건에서의 에러율의 차이가 소정의 제2기준값보다 작은 경우에는 weak 헤드로 판별하며,
    그렇지 않은 경우에는 정상 헤드로 판별하는 것을 특징으로 하는 헤드 종류 판별 방법.
  3. 하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 헤드의 기록 파라메터를 보정하는 방법에 있어서,
    하드디스크 드라이브의 동작 온도에 따라 상기 하드디스크 드라이브에 포함된 모든 헤드들에 동일하게 적용되는 기록 파라메터 보정치를 설정하는 과정;
    상기 하드디스크 드라이브에 포함된 헤드의 종류 즉, ATE(Adjacent Track Erase) 헤드, weak 헤드 혹은 정상 헤드인 지를 판별하는 과정;
    하드디스크 드라이브의 동작 온도를 검출하는 과정; 및
    검출된 하드디스크 드라이브의 동작 온도, 상기 온도에 따른 헤드의 기록 파라메터 보정치, 그리고 헤드의 종류를 참조하여 데이터를 기록하고자 하는 헤드의 기록 파라메터를 보정하는 과정을 포함하는 기록 파라메터 최적화 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 기록 파라메터 보정 과정은
    ATE 헤드인 경우에는 온도에 따른 기록 파라메터 보정치를 소정의 값만큼 작게 하고, weak 헤드인 경우에는 온도에 따른 기록 파라메터 보정치 소정의 값만큼 크게 하며, 그리고 정상 헤드인 경우에는 온도에 따른 기록 파라메터 보정치를 그대로 사용하는 것을 특징으로 하는 기록 파라메터 최적화 방법.
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