JPH11250409A - ライト電流値設定方法及びライト電流値の情報が登録されたディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】温度条件によるライト電流の調整が各ヘッド毎
に最適な状態となるように行え、且つライト時のフリン
ジの影響を抑止できるようにする。 【解決手段】ＦＲＯＭ１００の所定領域に、予め定めら
れた複数の温度条件について、ヘッド２０-0，２０-1毎
に決定された、エラーレートが基準値以下となり且つラ
イト時のフリンジの影響が抑止される最適ライト電流値
の情報を予め登録しておき、ライトコマンドの実行時に
は、ヘッド２０-0，２０-1の近傍に配置された温度セン
サ１１０により検知された温度をＣＰＵ７０が読み取っ
て、目標トラックのヘッド番号と、読み取った温度に相
当する温度条件とでＦＲＯＭ１００内の所定領域を検索
することで、そのヘッド番号及び温度条件に対応した最
適ライト電流値を取得し、当該最適ライト電流値のライ
ト電流でライト動作が行われるようにライト電流制御回
路３６を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ヘッドにより記録
媒体に対するデータの記録再生が行われるディスク装置
を対象として、各ヘッド毎に、温度条件別の最適ライト
電流値の情報を設定登録するためのライト電流値設定方
法及びライト電流値の情報が登録されたディスク装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】ヘッドによりデータの記録再生（ライト
／リード）が行われるディスク装置の代表的なものとし
て磁気ディスク装置が知られている。磁気ディスク装置
において、ヘッド（磁気ヘッド）により記録媒体（磁気
ディスク）にデータを記録（ライト）するには、ライト
信号をライト電流に乗せてヘッドに供給すればよい。

【０００３】ところが、ライト電流の値と、その値のラ
イト電流で書き込まれたデータを読み出した際のデータ
エラー率（読み取りエラー率）には相関関係があり、最
適なライト電流（最良のエラー率を与える最適なライト
電流）が存在する。また、上記の相関関係は、ヘッド近
傍の温度によっても変化する。つまり、最適な電流は、
温度依存性がある。

【０００４】そこで従来は、例えば特開平２−３０４７
０２号公報に記載されているように、ヘッドまたはその
周辺（以下、ヘッド部分と称する）の温度を感知する感
温手段としての感温形抵抗器をライト電流設定抵抗器に
並列に接続することで、その並列回路の抵抗値をヘッド
部分の温度変化に応じて変化させ、その抵抗変化に応じ
てヘッドに流れるライト電流を可変することで、当該ラ
イト電流に従って記録媒体に書き込まれたデータが、結
果的に磁気ディスク装置の温度変化の全領域にわたって
最良のエラー率の読み取りデータとなるようにする技術
が用いられていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし従来の技術にお
いては、ライト電流を調整した場合の、目標位置（ライ
ト位置）の近傍の領域のデータ（具体的には隣接するト
ラック上のデータ）への影響を何ら考慮していないた
め、特にライト電流値を上げた場合に、目標位置の近傍
の領域にデータが上書きされる（これをフリンジと呼
ぶ）虞があった。

【０００６】また従来の技術においては、ヘッドの特性
（温度に対するライト特性）が各ヘッド毎に異なること
（ばらつくこと）を考慮せずに、磁気ディスク装置内の
各ヘッドのうちのいずれのヘッドに切り替えられた場合
でも、共通のライト電流調整を行っているため、あるヘ
ッドについて最適なライト電流が別のヘッドについて最
適なライト電流となるとは限らないという問題があっ
た。

【０００７】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
でその目的は、温度条件によるライト電流の調整を各ヘ
ッド毎に最適な状態となるように行うことができ、且つ
目標位置の近傍の領域にデータが上書きされないで済む
ライト電流値設定方法及びライト電流値の情報が登録さ
れたディスク装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明のライト電流値設
定方法は、ヘッドにより記録媒体に対するデータの記録
再生が行われるディスク装置を対象とするライト電流値
設定方法であって、予め定められた複数の温度条件につ
いて、各ヘッド毎に、予め定められた一定のライト電流
値の範囲内で、エラーレートが基準値以下となり且つ目
標位置の近傍の領域にデータが上書きされるフリンジの
影響が抑止される最適ライト電流値を決定し、上記各ヘ
ッド毎に決定した各温度条件別の最適ライト電流値の情
報を、ディスク装置におけるディスクライト時に利用可
能なように、当該ディスク装置に設けた不揮発性記憶手
段に登録することを特徴とする。

【０００９】このようなライト電流値設定方法において
は、例えば対象となるディスク装置の製造段階でのテス
ト工程において、エラーレートが基準値以下となるだけ
でなく、フリンジの影響が抑止されるライト電流値が、
各ヘッド毎に且つ温度条件毎に求められて、そのライト
電流値の情報がディスク装置内の不揮発性記憶手段に登
録される。したがって、当該ディスク装置を使用して記
録媒体に対するライト動作を行う場合、当該ライト動作
に用いられるヘッド及び当該ヘッドの周辺の温度（ヘッ
ド部分の温度）に相当する温度条件に対応して不揮発性
記憶手段に登録されている最適ライト電流値の情報をも
とにライト電流を設定するならば、当該ヘッドのライト
特性が他のヘッドのライト特性と異なっていたとして
も、当該ライト電流でライトされたデータをリードした
際にリードエラーとなるのを防止する（即ちライト電流
を調整せずに例えば標準のライト電流値を固定的に用い
てライト動作を行うならばヘッドのライト特性の温度依
存性のためにリードエラーとなるのを防止する）と共
に、当該ライト電流でのライト時に目的位置以外のデー
タが更新されるのを防止することができる。

【００１０】ここで、各ヘッド毎に、複数の温度条件の
各々について最適ライト電流値を決定するのに、複数の
温度条件を順次設定し、この温度条件を設定する都度、
当該温度条件のもとで、各ヘッド毎に、標準のライト電
流値でのエラーレートを検出し、基準値を超えるエラー
レートの場合には、ライト電流値を予め定められた一定
の範囲内で切り替えてエラーレートが基準値以下となり
且つ目標位置の近傍の領域にデータが上書きされるフリ
ンジの影響が抑止される最適ライト電流値を決定すると
よい。また、上記標準のライト電流値には、各ヘッドの
ライト特性が設計仕様範囲内に入っている状態ではエラ
ーレートが基準値以下となり、且つフリンジの影響がな
い値を用いるとよい。

【００１１】このように、最適ライト電流値を決定する
のに標準のライト電流値でのエラーレートを検出する処
理から先に行うことで、各ヘッドのライト特性が設計仕
様範囲内の場合（通常は、この場合が殆どである）に
は、直ちに最適ライト電流値を決定できる。また、標準
のライト電流値でのエラーレートが基準値を超える場合
には、標準ライト電流値を基準として、ライト電流値を
一定の範囲内で切り替えることにより、効率的に最適ラ
イト電流値を決定できる。ここで、ライト電流値の一定
の範囲として、その範囲内では、一方の境界（例えば上
限側の境界）に近付くほどエラーレートがよくなる範囲
を設定するならば、ライト特性が設計仕様範囲外のヘッ
ドに対応する最適ライト電流値を速やかに決定できる。

【００１２】また、標準のライト電流値でのエラーレー
トが基準値以下の場合には、当該標準のライト電流値で
フリンジの影響があるか否かを調べ、影響がある場合に
は、ライト電流を減少方向に切り替えながら、エラーレ
ートが基準値以下で且つフリンジの影響が抑止される最
適ライト電流値を決定するとよい。

【００１３】また、各ヘッド毎に決定した各温度条件別
の最適ライト電流値の情報のうち、標準のライト電流値
を最適ライト電流値とするヘッド並びに温度条件の組に
ついての情報は、不揮発性記憶手段への登録対象外とす
るならば、最適ライト電流値の情報登録に必要な領域が
少なくて済む。この場合、磁気ディスク装置には、不揮
発性記憶手段に登録されていないヘッド並びに温度条件
についての最適ライト電流値として、標準のライト電流
値を用いる機能を持たせればよい。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につき
図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施形態に
係る磁気ディスク装置を備えたシステムの構成を磁気デ
ィスク装置の内部構成を中心に示すブロック図。

【００１５】図１において、１は磁気ディスク装置、２
はテスト装置である。テスト装置２は、磁気ディスク装
置１のホスト装置として位置付けられ、当該ディスク装
置１のホストインタフェースを介して当該ディスク装置
１と接続された状態で、当該ディスク装置１の製造段階
でのテストを行う。

【００１６】磁気ディスク装置１は、データが記録され
る記録媒体としてのディスク（磁気ディスク）１０を備
えている。ここでは、単一枚のディスク１０を備えた磁
気ディスク装置１を想定しているが、複数枚積層して設
けられたディスク１０を備えた磁気ディスク装置であっ
ても構わない。

【００１７】ディスク１０の各データ面には同心円状の
多数のトラックが形成され、各トラックには、位置決め
制御等に用いられる（シリンダ番号を示すシリンダコー
ド、当該シリンダコードの示すシリンダ内の位置誤差を
波形の振幅で示すためのバーストデータを含む）サーボ
データが記録された複数のサーボエリアが等間隔で配置
されている。これらのサーボエリアは、ディスク１０上
では中心から各トラックを渡って放射状に配置されてい
る。サーボエリア間はデータエリア（ユーザエリア）と
なっており、当該データエリアには複数のデータセクタ
が設定される。

【００１８】ディスク１０の各データ面側には、ディス
ク１０へのデータ書き込み（データ記録）及びディスク
１０からのデータ読み出し（データ再生）に用いられる
ヘッド（磁気ヘッド）２０-0，２０-1が設けられてい
る。ヘッド２０-0，２０-1は、（ボイスコイルモータに
より駆動される）キャリッジと称するヘッド移動機構の
移動によってディスク１０の半径方向に移動し、目標位
置にシーク・位置決めされる。

【００１９】各ヘッド２０-0，２０-1は例えばフレキシ
ブルプリント配線板（ＦＰＣ）に実装されたヘッドアン
プ回路（ヘッドＩＣ）３０と接続されている。このヘッ
ドアンプ回路３０は、ヘッド２０-0，２０-1との間のリ
ード／ライト信号の入出力等を司るもので、後述するＣ
ＰＵ７０からの指示に従ってヘッド切り替えを行うヘッ
ド切り替え回路３１、（当該切り替え回路３１によって
切り替えられた）ヘッド２０-i（ｉは０または１）によ
り再生される信号を増幅するリードアンプ３２、及び当
該リードアンプ３２の出力信号を差動型に変換してリー
ドデータ信号として出力するリードバッファアンプ（差
動アンプ）３３を有している。ヘッドアンプ回路３０は
また、ライトデータ信号を増幅するライトプリドライバ
３４、当該ライトプリドライバ３４からのライトデータ
信号をライト電流に乗せてヘッド２０-iに出力するライ
トドライバ３５、このライトドライバ３５にライト電流
を供給制御するライト電流制御回路３６、及びＣＰＵ７
０との間でデータの授受を行うシリアルインタフェース
３７を有している。

【００２０】ヘッドアンプ回路３０は、リード／ライト
回路（リード／ライトＩＣ）４０と接続されている。リ
ード／ライト回路４０は、ヘッドアンプ回路３０により
増幅されたヘッド２０-iからのリードデータ信号を入力
し、データ再生動作に必要な信号処理を行うデコード機
能（リードチャネル）と、ディスク１０へのデータ記録
に必要な信号処理を行うエンコード機能（ライトチャネ
ル）と、ヘッド位置決め制御等のサーボ処理に必要なサ
ーボデータ（中のバーストデータ）を抽出する処理を行
う信号処理機能とを有する。

【００２１】リード／ライト回路４０は、ＨＤＣ５０、
サーボ処理回路６０、及びＣＰＵ７０と接続されてい
る。ＨＤＣ５０は、ホスト装置（ここでは、テスト装置
２）とのインタフェースをなしており、当該ホスト装置
との間のコマンド、データの通信を制御すると共に、リ
ード／ライト回路４０を介してディスク１０との間のデ
ータの通信を制御する。

【００２２】サーボ処理回路６０は例えばゲートアレイ
により構成され、リード／ライト回路４０で再生された
データを受けてサーボ処理に必要な信号処理を実行す
る。即ちサーボ処理回路６０は、リード／ライト回路４
０で再生されたデータからサーボエリアの期間だけ有効
となるサーボゲート等の各種タイミング信号を生成する
タイミング生成機能、サーボエリアに記録されているサ
ーボデータ中のシリンダコードを抽出・復号するデコー
ド機能を有する。

【００２３】ＣＰＵ７０は、ＲＯＭ８０に格納されてい
る制御プログラムに従って磁気ディスク装置１内の各部
を制御する主制御装置をなす。即ちＣＰＵ７０は、サー
ボ処理回路６０により抽出されたサーボデータ中のシリ
ンダコード及びリード／ライト回路４０により抽出され
たサーボデータ中のバーストデータに従ってヘッド２０
-iを目標位置に移動させるためのシーク・位置決め制
御、ＨＤＣ５０を制御することによるリード／ライトデ
ータの転送制御など周知の制御処理を行う。この他にＣ
ＰＵ７０は、磁気ディスク装置製造段階でのテスト装置
２による最適ライト電流値設定処理において、当該テス
ト装置２から指定された、各ヘッド２０-0，２０-1（に
対応するヘッド番号）毎の温度別最適ライト電流値をＦ
ＲＯＭ１００に登録する処理と、通常のライト動作にお
いて、目標トラックが位置するディスク面を示すヘッド
番号、更には必要があれば、ヘッド２０-iの周辺の温度
（ヘッド部分の温度）Ｔc に応じてライト電流を制御す
る処理を行う。この温度ＴCは、温度センサ１１０によ
り検知される。温度センサ１１０は、ヘッド２０-iの近
傍に設けられるもので、本実施形態ではリード／ライト
回路４０、ＨＤＣ５０、ＣＰＵ７０等が実装されたプリ
ント回路基板（ＰＣＢ）上に配置されている。

【００２４】ＣＰＵ７０には、磁気ディスク装置１内の
各部を制御するための制御用プログラム等が格納されて
いるＲＯＭ（Read Only Memory）８０と、ＣＰＵ７０の
ワーク領域等を提供するＲＡＭ（Random Access Memor
y）９０と、磁気ディスク装置１の制御用のパラメータ
の保存などに用いられる書き換え可能な不揮発性メモリ
としてのＦＲＯＭ（フラッシュＲＯＭ）１００とが接続
されている。

【００２５】ＦＲＯＭ１００の所定領域には、各ヘッド
２０-0，２０-1により対応するディスク１０のデータ面
に標準のライト電流値Ｉs のライト電流（ライト電流Ｉ
s ）でライトすると、そのライト電流で書き込まれたデ
ータを読み出した際のデータエラーレートが基準値を超
えるような温度Ｔについて、テスト装置２による最適ラ
イト電流値設定処理で取得された最適ライト電流値Ｉ
（エラーレートが基準値以下となるライト電流値Ｉ）
が、当該データ面のヘッド番号Ｈ及び温度Ｔと組となっ
て、最適ライト電流値情報として登録される。ここで、
標準のライト電流値Ｉs には、ヘッド２０-0，２０-1の
ライト特性が設計仕様範囲内に入っている状態ではエラ
ーレートが基準値以下となり、且つフリンジの影響がな
い値を用いる。

【００２６】次に、本実施形態の動作を、磁気ディスク
装置製造段階でのテスト装置２による最適ライト電流値
設定処理を例に、図２及び図３のフローチャートを参照
して説明する。

【００２７】まず、図１の磁気ディスク装置１の製造段
階で当該ディスク装置１のテストを行う場合、当該ディ
スク装置１内のＨＤＣ５０が有するホストインタフェー
スを介してテスト装置２が（当該ディスク装置１のホス
ト装置として）接続される。

【００２８】この状態でテスト装置２は、図２及び図３
のフローチャートに従って、以下に述べる手順で最適ラ
イト電流値設定処理を実行する。まずテスト装置２は、
磁気ディスク装置１の温度環境、つまり磁気ディスク装
置１の温度Ｔを予め定められた初期値（初期温度）Ｔin
t に設定する（ステップ２０１）。次にテスト装置２
は、磁気ディスク装置１内の最小ヘッド番号Ｈminのデ
ィスク面（例えば、ヘッド２０-0側のディスク面で、Ｈ
min ＝０）を対象とするライト／リードテストを行うた
めに、ヘッド番号ＨをＨmin に設定する（ステップ２０
２）。なお、この時点では、ディスク１０の各ディスク
面上のきず等に起因するディフェクトは全て洗い出され
ており、該当するセクタ（またはトラック）は、同じデ
ィスク面上の代替セクタ（または代替トラック）に代替
処理されているものとする。

【００２９】次にテスト装置２は、磁気ディスク装置１
に対して、ライト電流Ｉを標準の電流値Ｉs に設定する
ように指示するコマンド（ライト電流値設定コマンド）
を発行する（ステップ２０３）。この電流値Ｉs は、磁
気ディスク装置１における予め定められたライト電流調
整可能範囲をＩmin 〜Ｉmax とすると、Ｉmin ＜Ｉs＜
Ｉmax を満足する値である。ここでは、Ｉmin ＝２０ｍ
Ａ，Ｉs ＝２５ｍＡ，Ｉmax ＝３２．５ｍＡである。ま
た、ライト電流調整可能範囲Ｉmin 〜Ｉmax では、同一
温度条件のもとにおけるヘッド２０-iによるライト特性
（読み取りエラーのみを考慮したライト特性）は、ライ
ト電流Ｉを増加するほどよくなる傾向にあるようになっ
ている。

【００３０】磁気ディスク装置１内のＣＰＵ７０は、テ
スト装置２からのライト電流値設定コマンドをＨＤＣ５
０を介して受け取ると、ヘッドアンプ回路３０内のライ
ト電流制御回路３６が指定の電流値（ここでは標準のラ
イト電流値Ｉs ）でのライト電流Ｉの供給制御を行うよ
うに、シリアルインタフェース３７を介して指示する。

【００３１】次にテスト装置２は、ヘッド番号Ｈで指定
される磁気ディスク装置１内のディスク１０のディスク
面を対象とする、つまりヘッドＨを対象とするライト／
リードテストを次のように実行する（ステップ２０
４）。

【００３２】まずテスト装置２は、磁気ディスク装置１
に対して、（現在設定されている）ヘッド番号Ｈで指定
される磁気ディスク装置１内のディスク１０のディスク
面の全セクタに同一のテストデータをライトすることを
指示するライトコマンドを発行する。すると磁気ディス
ク装置１では、ＣＰＵ７０によってヘッドアンプ回路３
０内のシリアルインタフェースを介してヘッド切り替え
回路３１が制御され、指定されたディスク１０のディス
ク面側のヘッド２０-i（例えばヘッド２０-0）に切り替
えられる。そして、この状態で当該ディスク面の全セク
タにテスト装置２からのテストデータを、（現在設定さ
れている）ライト電流Ｉでヘッド２０-iによってライト
する動作が行われる。

【００３３】続いてテスト装置２は、磁気ディスク装置
１に対して、現在のヘッド番号Ｈで指定される磁気ディ
スク装置１内のディスク１０のディスク面の全セクタか
らデータをリードすることを指示するリードコマンドを
発行する。これにより磁気ディスク装置１では、ディス
ク１０の該当するディスク面の全セクタからデータをリ
ードする動作、即ち先にライト電流Ｉでライトしたデー
タをリードする動作が行われ、そのリードデータはＨＤ
Ｃ５０の制御によりテスト装置２に転送される。

【００３４】テスト装置２は、磁気ディスク装置１から
の各セクタ毎のリードデータをテストデータと比較し
て、一致しているか否かにより、そのセクタでエラーが
発生したか否かをチェックする。

【００３５】以上が、ヘッドＨを対象とするライト／リ
ードテストである。テスト装置２は、このライト／リー
ドテストの結果からエラーレート（読み取りエラー率）
を求め、当該エラーレートが予め定められた基準値を超
えているか否か、例えば０を超えているか否か、つまり
１セクタでも読み取りエラーがあったか否かをチェック
する（ステップ２０５）。なお、この例のようにエラー
レートの基準値を０とした場合には、１セクタでも読み
取りエラーがあったことを検出した段階で、上記のライ
ト／リードテストを終了すると無駄がない。

【００３６】テスト装置２は、ライト電流Ｉ（ここでは
Ｉ＝Ｉs ）でのライト動作を含むライト／リードテスト
で求めたエラーレートが基準値を超えている場合（ここ
では、読み取りエラーセクタが１つでもあった場合）に
は、磁気ディスク装置１に対して、ライト電流Ｉを現在
の設定値ＩよりΔＩ（例えば２．５ｍＡ）だけ増加する
ように指示する（ステップ２０６）。

【００３７】このときテスト装置２は、ΔＩ増加後のラ
イト電流Ｉの値が、ライト電流調整可能範囲（Ｉmin 〜
Ｉmax ）の上限Ｉmax を超えているか否かをチェックし
（ステップ２０７）、超えているならば、現在設定され
ているヘッド番号Ｈの示すディスク面側のヘッド２０-i
は、ライト電流Ｉによる調整ではエラーレートを改善で
きない状態にあるために使用不可であり、したがって当
該ヘッド２０-iを含むヘッドアセンブリ全体が不良であ
るとして、一連の最適ライト電流値設定処理をエラー終
了する。これに対し、ΔＩ増加後のライト電流Ｉの値が
Ｉmax を超えていないならば、テスト装置２はステップ
２０４に戻って、上記ΔＩ増加後のライト電流Ｉのもと
で、前回と同一のディスク面（即ち現在のヘッド番号Ｈ
で指定される磁気ディスク装置１内のディスク１０のデ
ィスク面）を対象とするライト／リードテストを行う。

【００３８】なお、以上の説明では、ΔＩ増加を指示す
るコマンドの発行の後に、ΔＩ増加後のライト電流Ｉの
値がＩmax を超えているか否かをチェックするものとし
ているが、ライト電流ＩをΔＩだけ増加するとＩmax を
超えるか否かを予めチェックし、超えないことを確認し
た後にΔＩ増加を指示するコマンドを発行するならば、
無駄なコマンド発行を抑えることができる。

【００３９】さてテスト装置２は、ステップ２０４での
ライト／リードテストの結果、エラーレートが基準値を
超えているならば（１セクタでも読み取りエラーがあっ
たならば）、再びステップ２０６に進む。これに対し、
エラーレートが基準値以下であるならば（読み取りエラ
ーとなったセクタがなかったならば）、テスト装置２
は、現在のライト電流Ｉでのデータライトにより目標位
置の近傍の領域（具体的には隣接トラック）に同じデー
タが上書きされるフリンジの影響があるか否かをチェッ
クする処理を、例えばトラック単位で次のように行う
（ステップ２０８，２０９）。

【００４０】まずテスト装置２は、磁気ディスク装置１
に対し、（現在のヘッド番号Ｈで指定されるディスク１
０のディスク面上の）目標トラックに隣接するトラッ
ク、つまり目標トラックの前後のトラックの各セクタに
第１のテストデータをライトすることを指示するコマン
ドを発行する。これにより磁気ディスク装置１では、目
標トラックの前後のトラックに第１のテストデータを
（現在設定されているライト電流Ｉで）ライトする動作
が行われる。次にテスト装置２は、磁気ディスク装置１
に対し、目標トラックの各セクタに（第１のテストデー
タとは異なる）第２のテストデータをライトすることを
指示するコマンドを発行する。これにより磁気ディスク
装置１では、目標トラックに第２のテストデータを現在
設定されているライト電流Ｉでライトする動作が行われ
る。

【００４１】次にテスト装置２は、磁気ディスク装置１
に対して目標トラックの前後のトラックの各セクタのデ
ータをリードすることを指示するコマンドを発行し、当
該磁気ディスク装置１から転送されるリードデータが第
１のテストデータから変化しているか否かで、フリンジ
の影響があるか否かを判定する。ここでは、１セクタで
も第１のテストデータから変化している場合には、フリ
ンジの影響があると判定する。

【００４２】テスト装置２は、フリンジの影響がないと
判定した場合には（ステップ２０９）、その際のヘッド
番号Ｈ、温度Ｔ及びライト電流Ｉ（の値）の組からなる
最適ライト電流値情報を磁気ディスク装置１内のＦＲＯ
Ｍ１００の所定領域に登録することを指示するコマンド
を発行して、当該最適ライト電流値情報をＦＲＯＭ１０
０に登録させる（ステップ２１０）。

【００４３】次にテスト装置２は、磁気ディスク装置１
の全ヘッドについて処理を終了したか否かをチェックす
る（ステップ２１１）。もし、全ヘッドについて処理を
終了していないならば、テスト装置２はヘッド番号Ｈを
１インクリメントした後（ステップ２１２）、この新た
なヘッド番号Ｈで指定される磁気ディスク装置１内のデ
ィスク１０のディスク面を対象として、現在と同一温度
Ｔのもとで上記ステップ２０３以降の処理を繰り返す。
これに対し、全ヘッドについて処理を終了したならば、
テスト装置２は予め定められた全温度について処理を終
了したか否かをチェックする（ステップ２１３）。も
し、全温度について処理を終了していないならば、テス
ト装置２は磁気ディスク装置１の温度環境を次の温度に
変更設定し（ステップ２１４）、当該変更後の温度のも
とで上記ステップ２０２降の処理を繰り返す。これに対
し、全温度について処理を終了したならば、テスト装置
２は全温度についての一連の最適ライト電流値設定処理
を正常終了する。

【００４４】一方、テスト装置２は、上記ステップ２０
９のチェックでフリンジの影響があると判定した場合に
は、現在のライト電流Ｉの値が標準のライト電流値Ｉs
を超えているか否かをチェックする（ステップ３０
１）。

【００４５】もし、ライト電流Ｉの値が標準ライト電流
値Ｉs を超えているならば、つまりステップ２０４での
ライト／リードテストでエラーレートが基準値を超えた
ために、少なくとも１回はステップ２０６でライト電流
Ｉの値が増加されている場合には、テスト装置２はエラ
ーレートを基準値以下に抑えらながら、ライト電流Ｉを
減少することによりフリンジの影響を排除することは不
可能であると判断する。この場合、テスト装置２は、現
在のヘッド番号Ｈの示すディスク面側のヘッド２０-iは
使用不可であり、当該ヘッド２０-iを含むヘッドアセン
ブリ全体が不良であるとして、一連の最適ライト電流値
設定処理をエラー終了する。

【００４６】これに対し、ライト電流Ｉの値が標準ライ
ト電流値Ｉs 以下であるならば、つまり１度もステップ
２０６でのライト電流値増加処理がなされていないなら
ば、テスト装置２はライト電流Ｉの値を減少することで
フリンジの影響をなくしながら、エラーレートも基準値
以下に抑えられる可能性があるものと判断する。この場
合、テスト装置２は、磁気ディスク装置１に対して、ラ
イト電流Ｉを現在の設定値ＩよりΔＩだけ減少するよう
に指示する（ステップ３０２）。

【００４７】このときテスト装置２は、ΔＩ減少後のラ
イト電流Ｉの値がライト電流調整可能範囲（Ｉmin 〜Ｉ
max ）の下限Ｉmin を下回っているか否かをチェックす
る（ステップ３０３）。もし、ΔＩ減少後のライト電流
Ｉの値がＩmin を下回っていないならば、当該ΔＩ減少
後のライト電流Ｉのもとで、ステップ２０４と同様のラ
イト／リードテスト、即ち現在のヘッド番号Ｈで指定さ
れる磁気ディスク装置１内のディスク１０のディスク面
を対象とするライト／リードテストを行う（ステップ３
０４）。これに対し、ΔＩ減少後のライト電流Ｉの値が
Ｉmin を下回っているならば、テスト装置２は、ライト
電流Ｉを減少することによりフリンジの影響を排除する
ことは不可能であると判断し、一連の最適ライト電流値
設定処理をエラー終了する。

【００４８】さてテスト装置２は、上記ΔＩ減少後のラ
イト電流Ｉのもとで、現在のヘッド番号Ｈで指定される
磁気ディスク装置１内のディスク１０のディスク面を対
象とするライト／リードテストを行うと（ステップ３０
４）、当該ライト／リードテストの結果、エラーレート
が基準値を超えているか否かをチェックする（ステップ
３０５）。もし、エラーレートが基準値を超えているな
らば、テスト装置２はエラーレートを基準値以下に抑え
らながら、ライト電流Ｉを減少することによりフリンジ
の影響を排除することは不可能であると判断し、一連の
最適ライト電流値設定処理をエラー終了する。これに対
し、エラーレートが基準値以下であるならば、テスト装
置２はステップ２０８に戻り、上記ΔＩ減少後のライト
電流Ｉでのデータライトにより目標位置の近傍の領域
（隣接トラック）に同じデータが上書きされるフリンジ
の影響があるか否かをチェックする処理を行う。

【００４９】次に、本実施形態の動作を、磁気ディスク
装置１の出荷後におけるライト時の動作を例に、図４の
フローチャートを参照して説明する。まず、図１の磁気
ディスク装置１には、当該磁気ディスク装置１内のＨＤ
Ｃ５０が有するホストインタフェースを介して図示せぬ
ホスト装置が接続される。今、このホスト装置から図１
の磁気ディスク装置１に対してライトコマンドが発行さ
れたものとする。

【００５０】ＣＰＵ７０は、ホスト装置からのライトコ
マンドをＨＤＣ５０を介して受け取ると、温度センサ１
１０によって検知されているヘッド２０-0，２０-1の周
辺の現在の温度Ｔc を読み取る（ステップ４０１）。

【００５１】次にＣＰＵ７０は、ＦＲＯＭ１００の所定
領域を検索し、目標トラックが存在するディスク１０の
ディスク面を示すヘッド番号Ｈc に一致するヘッド番号
Ｈを含む全ての最適ライト電流値情報の中から、現在の
温度ＴC 以下で当該ＴC に最も近い温度Ｔの情報を持つ
最適ライト電流値情報を選択し、その選択した最適ライ
ト電流値情報に含まれているライト電流Ｉの値、つまり
当該ヘッド番号Ｈ（＝Ｈc ）並びに温度Ｔと同一組をな
すライト電流Ｉの値を取り出す（ステップ４０２）。こ
のライト電流Ｉの値は、当該ライト電流Ｉでライトされ
たデータを読み取った場合のエラーレートが規定値以下
となり、且つフリンジの影響がないことを保証するもの
である。

【００５２】ＣＰＵ７０は、ステップ４０２でＦＲＯＭ
１００から取出したライト電流Ｉの値が、現在ヘッドア
ンプ回路３０内のライト電流制御回路３６により設定さ
れているライト電流の値と同じであるか否かをチェック
し（ステップ４０３）、同じでないならば、当該ライト
電流Ｉでデータライトが行われるように、ヘッドアンプ
回路３０内のライト電流制御回路３６を制御し、即ちラ
イト電流の設定値をＩに変更し（ステップ４０４）、し
かる後にディスク１０上の目標位置にホスト装置からの
データをライトさせる（ステップ４０５）。なお、処理
効率は悪くなるものの、ステップ４０３のチェックを行
わずに、ライト電流の値をＦＲＯＭ１００から取出した
電流値（Ｉ）に無条件で（つまり現在の設定値とは無関
係に）設定するようにしても構わない。

【００５３】以上に述べた実施形態では、各ヘッドにつ
いて、温度条件別に最適ライト電流値の情報（Ｈ，Ｔ，
Ｉの組）を全てＦＲＯＭ１００に登録するものとして説
明したが、これに限るものではない。例えば、最適ライ
ト電流値が標準ライト電流値Ｉs の最適ライト電流値情
報については、ＦＲＯＭ１００内で最適ライト電流値情
報の占めるエリアを極力少なくするために、当該ＦＲＯ
Ｍ１００への登録対象外としても構わない。但し、この
場合には、磁気ディスク装置１内に次の機能、即ち目標
トラックへのライト時に、その際のヘッド部分の温度Ｔ
c から当該温度Ｔc に相当する温度条件Ｔを求め、その
温度条件Ｔと目標トラックのヘッド番号ＨC でＦＲＯＭ
１００を検索し、そのＨc ，Ｔを含む最適ライト電流値
情報がなかったならば、最適ライト電流値が標準ライト
電流値Ｉs であると判断する機能を持たせる必要があ
る。

【００５４】また、以上に述べた実施形態では、磁気デ
ィスク装置について説明したが、本発明は、ヘッドによ
り記録媒体に対するデータの記録再生が行われるディス
ク装置であれば、光磁気ディスク装置、フロッピーディ
スク装置など、磁気ディスク装置以外のディスク装置に
も適用可能である。

【００５５】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、予
め定められた複数の温度条件について、各ヘッド毎に、
一定のライト電流値の範囲内で、エラーレートが基準値
以下となり且つライト時のフリンジの影響が抑止される
最適ライト電流値を決定し、この各ヘッド毎に決定した
各温度条件別の最適ライト電流値の情報を、ディスク装
置に設けた不揮発性記憶手段に予め登録しておくように
したので、ディスクライト時に、目標トラックのヘッド
番号とその際のヘッド部分の温度をもとに不揮発性記憶
手段を検索して、対応する最適ライト電流値を取出して
当該電流値のライト電流でライト動作を行うことで、使
用するヘッドと温度条件に最適なライト電流値でのライ
ト動作が実現でき、フリンジの影響の虞もない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置を
備えたシステムの構成を磁気ディスク装置の内部構成を
中心に示すブロック図。

【図２】同実施形態におけるテスト装置２による最適ラ
イト電流値設定処理を説明するためのフローチャートの
一部を示す図。

【図３】同実施形態におけるテスト装置２による最適ラ
イト電流値設定処理を説明するためのフローチャートの
残りを示す図。

【図４】同実施形態における磁気ディスク装置１でのラ
イト時の動作を説明するためのフローチャート。

【符号の説明】

１…磁気ディスク装置 ２…テスト装置 １０…ディスク（記録媒体） ２０-0，２０-1…ヘッド ３０…ヘッドアンプ回路 ３５…ライトドライバ ３６…ライト電流制御回路 ７０…ＣＰＵ（制御手段） １００…ＦＲＯＭ（不揮発性記憶手段） １１０…温度センサ（温度検知手段）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ヘッドにより記録媒体に対するデータの
   記録再生が行われるディスク装置を対象とするライト電
   流値設定方法であって、 予め定められた複数の温度条件について、各ヘッド毎
   に、予め定められた一定のライト電流値の範囲内で、エ
   ラーレートが基準値以下となり且つ目標位置の近傍の領
   域にデータが上書きされるフリンジの影響が抑止される
   最適ライト電流値を決定し、 前記各ヘッド毎に決定した各温度条件別の最適ライト電
   流値の情報を、前記ディスク装置におけるディスクライ
   ト時に利用可能なように、当該ディスク装置に設けた不
   揮発性記憶手段に登録することを特徴とするライト電流
   値設定方法。
2. 【請求項２】 ヘッドにより記録媒体に対するデータの
   記録再生が行われるディスク装置を対象とするライト電
   流値設定方法であって、 予め定められた複数の温度条件を順次設定し、 前記温度条件を設定する都度、当該温度条件のもとで、
   各ヘッド毎に、標準のライト電流値でのエラーレートを
   検出し、基準値を超えるエラーレートの場合には、ライ
   ト電流値を予め定められた一定の範囲内で切り替えてエ
   ラーレートが基準値以下となり且つ目標位置の近傍の領
   域にデータが上書きされるフリンジの影響が抑止される
   最適ライト電流値を決定し、 前記各ヘッド毎に決定した各温度条件別の最適ライト電
   流値の情報を、前記ディスク装置におけるディスクライ
   ト時に利用可能なように、当該ディスク装置に設けた不
   揮発性記憶手段に登録することを特徴とするライト電流
   値設定方法。
3. 【請求項３】 標準のライト電流値でのエラーレートが
   基準値以下の場合には、当該標準のライト電流値で前記
   フリンジの影響があるか否かを調べ、前記フリンジの影
   響がある場合には、ライト電流を減少方向に切り替えな
   がら、エラーレートが基準値以下で且つ前記フリンジの
   影響が抑止される最適ライト電流値を決定することを特
   徴とする請求項２記載のライト電流値設定方法。
4. 【請求項４】 ヘッドにより記録媒体に対するデータの
   記録再生が行われるディスク装置において、 予め定められた複数の温度条件について、各ヘッド毎に
   決定された、エラーレートが基準値以下となり且つ目標
   位置の近傍の領域にデータが上書きされるフリンジの影
   響が抑止される最適ライト電流値の情報が登録された不
   揮発性記憶手段と、 前記ヘッドの周辺の温度を検知する温度検知手段と、 前記記録媒体に対するライト動作に際して前記不揮発性
   記憶手段内を参照して、当該ライト動作に用いられるヘ
   ッド及び温度検知手段により検知された温度に相当する
   温度条件に対応して当該不揮発性記憶手段に登録されて
   いる最適ライト電流値の情報をもとにライト電流を切り
   替え設定してライト動作を行わせる制御手段とを具備す
   ることを特徴とするディスク装置。