JP2008204601A

JP2008204601A - ハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法

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Publication number: JP2008204601A
Application number: JP2008034987A
Authority: JP
Inventors: Hyo June Ahn; 孝俊安
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2007-02-16
Filing date: 2008-02-15
Publication date: 2008-09-04
Anticipated expiration: 2028-02-15
Also published as: JP5096185B2; KR100871647B1; KR20080076495A; US20080198492A1; US7880988B2

Abstract

【課題】ハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する。
【解決手段】ディスク１０は、データを保存し、サーミスタ６０は、ディスク周辺の温度を測定する。コントローラ８０は、サーミスタ６０と結合されてディスク１０上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、テストトラックに任意のデータを記録して第１ビットエラー率を獲得する。サーミスタ６０によって測定されたディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復してテストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して第２ビットエラー率を獲得する。コントローラ８０は、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択されたパラメータの値をテストトラックの属したゾーンでの選択されたパラメータの最適化された値に設定する。
【選択図】図３

Description

本発明は、ハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法に係り、より詳細には、ハードディスクドライブが、製造時とは異なる環境で使われる場合でも、記録パラメータの設定過程で温度による影響を反映することで、一定レベルに記録特性を維持することができるハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法に関する。

ハードディスクドライブ（ＨａｒｄＤｉｓｋＤｒｉｖｅ：以下、ＨＤＤ）は、デジタル電子パルスを磁場に変えてデータを記録及び判読する方式の記憶装置である。ＨＤＤは、大量のデータを高速でアクセスすることができるコンピュータシステムの補助記憶装置として広く使われている。

ＨＤＤは、磁気ヘッド（ＭａｇｎｅｔｉｃＨｅａｄ）を介してデータを記録して判読する。通常の磁気ヘッドは、データを記録するライトヘッド（ＷｒｉｔｅＨｅａｄ）とデータを判読するリードヘッド（ＲｅａｄＨｅａｄ）とを備える。ライトヘッドがディスクの目標トラックに位置して磁場を形成すれば、目標トラックが磁化されることでデータが該当のトラックに記録される。そして、リードヘッドは、データが記録されたトラックの磁界を感知してデータを判読する。

ライトヘッドが適切な強さの磁場で目標トラックを磁化させる時、データは円滑に記録される。しかし、ライトヘッドが形成する磁場の強さが小さすぎれば、すなわち、ウイークライト（Ｗｅａｋｗｒｉｔｅ）が発生すれば、目標トラックでのデータ記録が失敗する。ライトヘッドが形成する磁場の強さがあまり大きくなれば、すなわち、隣接トラック消去（ＡＴＥ、ＡｄｊａｃｅｎｔＴｒａｃｋＥｒａｓｕｒｅ）が発生すれば、目標トラックに隣接した他のトラックで既に記録されたデータが消されるようになる。

ライトヘッドが形成する磁場の強さは、磁場形成のためにライトヘッドに供給される電流によって決定される。図１は、磁気ヘッドに供給される電流の典型的な波形を図示した図面である。経時的に、ライトヘッドに供給される電流は、最大値まで増加した後、再び一定値に落ちて一定値を維持する。経時的に一定値に維持される電流を記録電流（ＷＣ、ＷｒｉｔｅＣｕｒｒｅｎｔ）と称する。そして、ライトヘッドに記録電流（ＷＣ）が供給される直前に記録電流（ＷＣ）を超過する値に電流が供給されることをオーバーシュート（ＯｖｅｒＳｏｏｔ）と称する。オーバーシュートが持続される時間をオーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ、ＯｖｅｒＳｈｏｏｔＤｕｒａｔｉｏｎ）と称し、オーバーシュートの最大値と記録電流（ＷＣ）との差をオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ、ＯｖｅｒＳｈｏｏｔＡｍｐｌｉｔｕｄｅ）と称する。

このような記録電流（ＷＣ）、オーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ）及びオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ）パラメータ（ｐａｒａｍｅｔｅｒ）は、ライトヘッドの磁場の強さを決定する。ＨＤＤの製造工程中に、このようなパラメータの最も適切な値を捜すための方法が典型的に次のような過程で行われる。最適の記録電流（ＷＣ）を捜すための方法を例として挙げれば、先ず、ディスク上のＮトラックを選択してデータを記録する。データを記録した後、ビットエラー率（ＢＥＲ、ＢｉｔＥｒｒｏｒＲａｔｅ）を測定する。そして、隣接トラックであるＮ＋１及びＮ−１トラックで決められた回数ほどデータを記録した後、Ｎ番目のトラックのビットエラー率（ＢＥＲ）を測定する。このような過程を記録電流（ＷＣ）の値を変化させながら反復する。前後のビットエラー率の差が既定の臨界値（Ｃｒｉｔｅｒｉａ）以下になる記録電流を最適化された記録電流に設定する。

ライトヘッドの記録特性は、ＨＤＤの温度条件によっても多様である。すなわち、記録電流（ＷＣ）、オーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ）及びオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ）ではない他のパラメータを同様に適用しても、ＨＤＤの温度が異なれば、ライトヘッドの記録特性が変わりうる。

ＨＤＤの温度条件を考慮していない方法で記録パラメータが選択され、ＨＤＤの温度条件が変われば、選択された記録パラメータは、ライトヘッドと関連した記録特性を要求するレベルに維持しにくい。
特開平８−３１５５２９号公報韓国特許出願公開２００１−０１３７２９韓国特許出願公開２００２−０６５３５６特開平１０−３４０４１２号公報特開平６−１１１４５７号公報

本発明の目的は、ＨＤＤが、製造時と異なる環境で使われる場合でも、記録パラメータの設定過程で温度による影響を反映することによって、一定レベルに記録特性を維持することができるＨＤＤ及びＨＤＤの記録パラメータを最適化する方法を提供することである。

本発明の代表的な実施形態は、ＨＤＤが、製造時と異なる環境で使われる場合でも、記録パラメータの設定過程で温度による影響を反映することによって、一定レベルに記録特性を維持することができるＨＤＤに関連するものである。本実施形態で、ＨＤＤの記録パラメータを最適化する方法は、ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階と、選択された前記パラメータに対する何れか一つの値を設定する段階とを含む。任意のデータがテストトラックに記録されてテストトラックの第１ビットエラー率を獲得する。任意のデータがディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ、ＡｄｊａｃｅｎｔＴｒａｃｋＷｒｉｔｅｃｏｕｎｔ）だけ反復してテストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに記録されてテストトラックの第２ビットエラー率を獲得する。第１ビットエラー率と第２ビットエラー率とを比べる。第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択されたパラメータの値を、テストトラックの属したゾーン（Ｚｏｎｅ）において選択されたパラメータの最適化された値に設定する。

本発明によれば、ＨＤＤが、製造時と異なる環境で使われる場合でも、記録パラメータの設定過程で温度による影響を反映することによって、一定レベルに記録特性を維持することができる。

本発明と本発明の動作上の利点及び本発明の実施形態によって達成される目的を十分に理解するためには、本発明の望ましい実施形態を例示する添付図面及び添付図面に記載の内容を参照しなければならない。

以下、添付した図面を参照して、本発明の望ましい実施形態を説明することによって、本発明を詳しく説明する。

図２は、本発明の一実施形態によるＨＤＤの部分分解斜視図であり、図３は、図２のＨＤＤの駆動回路の概略的ブロック図である。

これら図面に図示されたように、本発明によるＨＤＤ１は、データを記録保存するディスク１０（Ｄｉｓｋ）と、ディスク１０を支持して回転させるスピンドルモーター２０（ＳｐｉｎｄｌｅＭｏｔｏｒ）と、ディスク１０上のデータを読出すヘッドスタックアセンブリー３０（ＨＳＡ、ＨｅａｄＳｔａｃｋＡｓｓｅｍｂｌｙ）とを含む。ベースには、大部分の回路部品が搭載された印刷回路基板（図示せず、ＰＣＢ、ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔＢｏａｒｄ）が装着される印刷回路基板組立体５０（ＰＣＢＡ、ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔＢｏａｒｄＡｓｓｅｍｂｌｙ）が結合される。サーミスタ６０（Ｔｈｅｒｍｉｓｔｅｒ）は、ＨＤＤ１の内部温度を出力し、カバー７０（Ｃｏｖｅｒ）は、ベース４０の上部を覆う。

ディスク１０は、ディスク１０の中心を同心にする複数個のトラック（Ｔｒａｃｋｓ）に区画される。それぞれのトラックは、再び複数個のセクター（Ｓｅｃｔｏｒｓ）に区画される。ＨＤＤ１でデータの記録または判読する通常の作動は、セクター単位で実行される。一つのセクターには、通常５１２Ｂｙｔｅｓの保存空間が割り当てられる。スピンドルモーター２０は、コントローラ８０の制御信号を受けてディスク１０を回転させる。スピンドルモーター２０の回転角速度は、３，６００ｒｐｍ、５，４００ｒｐｍ、７，２００ｒｐｍ、１０，０００ｒｐｍなどがある。

ヘッドスタックアセンブリー３０は、ディスク１０上にデータを記録するか、記録されたデータを判読するための運搬体（Ｃａｒｒｉａｇｅ）である。ヘッドスタックアセンブリー３０は、データを記録するか、判読する磁気ヘッド３１と、磁気ヘッド３１を搭載してピボット軸３２を中心にディスク１０上を旋回するアクチュエータアーム３３とを備える。ピボット軸３２を基準にアクチュエータアーム３３の反対方向に設けられるボイスコイルモーター３５（ＶｏｉｃｅＣｏｉｌＭｏｔｏｒ、ＶＣＭ）は、アクチュエータアーム３３を駆動させる。

磁気ヘッド３１は、リードヘッド（図示せず）とライトヘッド（図示せず）とを備える。リードヘッドは、ディスク１０から磁界を感知してデータを判読する。ライトヘッドは、プリアンプ８１（Ｐｒｅ−ＡＭＰ）から一定波形の電流を供給されてディスク１０上で磁場を形成することでディスク１０を磁化させる。前述したように、ライトヘッドに供給される電流と関連した主要パラメータとして記録電流（ＷＣ）、オーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ）及びオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ）が挙げられる。

これら三種のパラメータによってライトヘッドが形成する磁場の強さが決定されるので、ＨＤＤ１を使うのに先立って、これらパラメータは適切な値に設定されなければならない。もし、これらパラメータが不適切な値に設定された場合には、弱い磁場によるウイークライトが発生するか、強い磁場による隣接トラック消去（ＡＴＥ）が発生しうる。

アクチュエータアーム３３の一端には磁気ヘッド３１が搭載され、他端にはピボット軸３２が相対回転可能に結合される。アクチュエータアーム３３は、磁気ヘッド３１がディスク１０の表面を一定の角度範囲で自由に移動できるように長く延設される。

ピボット軸ホルダー３４は、ピボット軸３２を回転可能に支持すると同時にピボット軸ホルダー３４と結合されたアクチュエータアーム３３を支持する。

ボイスコイルモーター３５は、アクチュエータアーム３３を、ピボット軸３２を中心に回転させるもので、ボイスコイル（図示せず、ＶｏｉｃｅＣｏｉｌ）とマグネット（図示せず、Ｍａｇｎｅｔ）とを備える。マグネットによって発生した磁気力線とボイスコイルを流れる電流とが相互作用によって電磁気力が発生すると、この電磁気力によってアクチュエータアーム３３は、電磁気力の方向に対する自然法則であるフレミングの左手の法則による方向に回転する。

本実施形態では、ボイスコイルモーター３５がアクチュエータアーム３３を駆動させるが、ボイスコイルモーター３５を入力信号によって所定角度ずつ回転させるステッパーモーター（Ｓｔｅｐｐｅｒｍｏｔｏｒ）に代替しうる。但し、ボイスコイルモーター３５は、熱に強く、定期的なフォーマットが不要であり、信頼度も卓越しているという長所がある。

サーミスタ６０は、ベース４０の上面及び底面に位置するヘッドスタックアセンブリー３０と電気的に連結される。サーミスタ６０は、ＨＤＤ１の内部温度を測定してコントローラ８０に出力する。

図３は、図２のＨＤＤの駆動回路の概略的ブロック図である。これに図示されたように、ＨＤＤ１は、駆動回路であって、プリアンプ８１（Ｐｒｅ−ＡＭＰ）と、リード／ライトチャンネル８２（Ｒ／ＷＣｈａｎｎｅｌ、Ｒｅａｄ／ＷｒｉｔｅＣｈａｎｎｅｌ）と、ホストインターフェース８３（ＨｏｓｔＩｎｔｅｒｆａｃｅ）と、ボイスコイルモータードライバー３６（ＶＣＭＤｒｉｖｅｒ、ＶｏｉｃｅＣｏｉｌＭｏｔｏｒＤｒｉｖｅｒ）と、スピンドルモータードライバー２２（ＳＰＭＤｒｉｖｅｒ、ＳｐｉｎｄｌｅＭｏｔｏｒＤｒｉｖｅ）と、コントローラ８０（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）と、メモリ８４（Ｍｅｍｏｒｙ）と、を備える。

プリアンプ８１は、リードヘッド（図示せず）がディスク１０から磁界を感知して発生させたリード信号（Ｒｅａｄｓｉｇｎａｌ）を増幅してリード／ライトチャンネル８２に出力する。プリアンプ８１は、リード／ライトチャンネル８２から受信された一定波形の電流を増幅してライトヘッド（図示せず）に供給する。

リード／ライトチャンネル８２（Ｒ／ＷＣｈａｎｎｅｌ）は、プリアンプ８１によって増幅されたリード信号をデジタル信号に転換してコントローラ８０に出力する。そして、リード／ライトチャンネル８２（Ｒ／ＷＣｈａｎｎｅｌ）は、ホストインターフェース８３によって受信されたデータがコントローラ８０を介して入力されて、これをアナログ信号に変換してプリアンプ８１に出力する。

ホストインターフェース８３は、データ判読モードでは、デジタル信号に変換されたデータをホスト機器２に伝送し、データ記録モードでは、ユーザーが入力したデータをホスト機器２から受信してコントローラ８０に出力する。

ここで、ホスト機器２は、コンピュータのＣＰＵ、Ｉ／Ｏコントローラのように、ＨＤＤ１を含んだコンピュータ全体を全般的に制御及び作動させる要素を総称する意味として使われる。

ボイスコイルモータードライバー３６（ＶＣＭＤｒｉｖｅｒ）は、コントローラ８０の制御によってボイスコイルモーター３５に印加される電流の量を調節する。

スピンドルモータードライバー２２（ＳＰＭＤｒｉｖｅｒ）は、コントローラ８０の制御によってスピンドルモーター２０に印加される電流の量を調節する。

コントローラ８０は、データ記録モードでは、ユーザーがホスト機器２を介して入力したデータがホストインターフェース８３を介して受信されて、これをリード／ライトチャンネル８２に出力し、データ判読モードでは、リード／ライトチャンネル８２によってデジタル信号に変換されたリード信号を入力されて、ホストインターフェース８３に出力する。

そして、コントローラ８０は、ボイスコイルモータードライバー３６及びスピンドルモータードライバー２２の出力を制御し、サーミスタ６０によって測定された温度に対する信号が入力される。

このようなコントローラ８０は、マイクロプロセッサ（ＭｉｃｒｏＰｒｏｃｅｓｓｏｒ）、マイクロコントローラ（ＭｉｃｒｏＣｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）などであり、後述するＨＤＤの記録パラメータを最適化する方法を行うソフトウェア（Ｓｏｆｔｗａｒｅ）またはファームウエア（Ｆｉｒｍｗａｒｅ）の形態に具現されることもある。

図４は、図２のＨＤＤの記録パラメータを最適化する方法のフローチャートである。先ず、ディスク１０上での記録と関連したパラメータのうちから最適化させようとするパラメータを一つ選択して、そのパラメータに対する初期値を設定する。Ｓ１０段階で、ディスク１０上でテストを実施するテストトラック（Ｎトラック）を選択する。

記録と関連したパラメータとしては、プリアンプ８１からライトヘッド（図示せず）に供給される一定波形の電流の特性を決定する記録電流（ＷＣ）、オーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ）及びオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ）を含む。このようなパラメータの値が増加するにつれてウイークライトが発生する可能性は低くなるが、隣接トラック消去（ＡＴＥ）が発生する可能性は高くなる。本実施形態では、これら三種のパラメータのうちから記録電流（ＷＣ）を最適化対象のパラメータに選択し、テストトラックを“Ｎトラック”と名付ける。

Ｓ１５段階で、テストトラック（Ｎトラック）に任意のデータが記録される。Ｓ２０段階で、テストトラック（Ｎトラック）の第１ビットエラー率（ＢＥＲ）を測定してディスク１０のメインテナンスシリンダー（ＭａｉｎｔｅｎａｎｃｅＣｙｌｉｎｄｅｒ）やメモリ８４に保存する。ここで、ビットエラー率（ＢＥＲ）は、テストトラック上でデータを記録することができる総ビット（Ｂｉｔ）数に対する記録エラー（ＷｒｉｔｅＥｒｒｏｒ）が発生したビット数の比である。

Ｓ２５段階で、軟性回路基板（ＦＰＣ）に設けられたサーミスタ６０を介してＨＤＤ１内の温度を測定する。Ｓ３０段階で、サーミスタ６０によって測定された温度に対応する隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）を、温度と隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）との関係を表わすテーブルから得る。

このとき、隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）テーブルは、図５でのグラフから算出されることができる。図５に概略的に図示されたように、温度（Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ）条件のみを異ならせ、何れか一つのトラック（便宜上、Ｍトラックと称する）を選択し、そのトラックに隣接した二つのトラック（便宜上、Ｍ−１／Ｍ＋１トラックと称する）にデータを反復的に記録する。Ｍトラックのビットエラー率が臨界値と同じくなる時、Ｍ−１／Ｍ＋１トラックにデータを記録した回数を該当の温度での隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）に設定する。例えば、温度が３５℃である時にＭ−１／Ｍ＋１トラックにおおよそ２００回ずつ反復してデータを記録した場合、Ｍトラックのビットエラー率が臨界値に到逹する。温度が４０℃である時にはＭ−１／Ｍ＋１トラックにおおよそ１３０回ずつ反復してデータを記録した場合、Ｍトラックのビットエラー率が臨界値に至るようになる。このように、Ｍトラックに一定の程度にビットエラー率を発生させるためのＭ−１／Ｍ＋１トラックでのデータ記録回数は、ＨＤＤの温度によって変わる。これからデータが記録される時に隣接トラック消去（ＡＴＥ）の発生は、ライトヘッドに供給される電流と関連したパラメータの以外に温度によっても影響されることが分かる。

これに、データ記録時のＨＤＤの温度の影響を反映するために温度によって隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）を異なるように設定する。このような設定は、図５のグラフから（３０℃、３７０回）、（３５℃、２００回）、（４０℃、１３０回）のような形式で多様な温度での隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）を対応させてテーブル化することでなされうる。このようなテーブルは、ディスク１０のメインテナンスシリンダーやメモリ８４に保存される。

次に、Ｓ３５段階で、テストトラック（Ｎトラック）に最も近く隣接した二つのトラック（Ｎ−１／Ｎ＋１トラック）のそれぞれにテーブルから得られた隣接トラック記録回数（ＡＴＷｃｏｕｎｔ）ほど反復して任意のデータを記録する。Ｎ−１／Ｎ＋１トラックにデータが反復されて記録されるほどＮトラックに隣接トラック消去（ＡＴＥ）の量は増加する。したがって、Ｎトラックのビットエラー率（ＢＥＲ）も漸次的に増加する。

Ｓ４０段階で、テストトラックの第２ビットエラー率を測定してディスク１０のメインテナンスシリンダー領域またはメモリ８４に保存する。

Ｓ４５段階で、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差を既定の臨界値と比べる。Ｓ５０段階で、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差が臨界値より小さな場合（Ｓ４５段階で‘ＹＥＳ’である場合）、現在の記録電流（ＷＣ）の値をテストトラックの属したゾーンでの最適化された値に設定する。Ｓ５５段階で、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差が臨界値より大きい場合（Ｓ４５段階で‘ＮＯ’である場合）、記録電流（ＷＣ）を一定量ずつ減少させながら、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差が臨界値より小さくなるまで前述した過程を繰り返す。

ここで、第２ビットエラー率と第１ビットエラー率との差の基準値に使われる臨界値は、ディスク１０へのデータの記録時に発生する隣接トラック消去（ＡＴＥ）及びウイークライトを考慮して選択される。

このように、本発明の一実施形態によるＨＤＤ１の記録パラメータを最適化する方法によれば、記録電流（ＷＣ）を最適化する過程でＨＤＤ１の温度による影響を反映することによって、製造時と異なる温度条件でＨＤＤ１が使われても、ライトヘッドの記録特性が要求されるレベルに維持されることができる。したがって、最適化された記録電流（ＷＣ）の信頼度が向上する。

前述した実施形態では、最適化対象のパラメータで記録電流（ＷＣ）を選択した場合について説明したが、本発明は、オーバーシュートデュレーション（ＯＳＤ）またはオーバーシュート大きさ（ＯＳＡ）を最適化対象のパラメータで選択した場合にも、同様に適用可能である。

以上では、本発明の望ましい実施形態を例示的に説明したが、本発明の権利範囲は、前記のような特定の実施形態には限定されず、当業者によって、本発明の特許請求の範囲に記載の内容の範疇で適切に変更可能である。

本発明は、ハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法に関連の技術分野に適用可能である。

磁気ヘッドに供給される電流の典型的な波形を図示した図面である。本発明の一実施形態によるハードディスクドライブの部分分解斜視図である。図２のハードディスクドライブの駆動回路の概略的ブロック図である。図２のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法のフローチャートである。図２のハードディスクドライブ内の温度と隣接トラック記録回数との関係を表わすグラフである。

符号の説明

１ハードディスクドライブ、
１０ディスク、
２０スピンドルモーター、
２２スピンドルモータードライバー、
３０ヘッドスタックアセンブリー、
３１磁気ヘッド、
３３アクチュエータアーム、
３５ボイスコイルモーター、
３６ボイスコイルモータードライバー、
６０サーミスタ、
８０コントローラ、
８１プリアンプ、
８２リード／ライトチャンネル、
８３ホストインターフェース。

Claims

ディスク上での記録に関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階と、
選択された前記パラメータに対する何れか一つの値を設定する段階と、
前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第１ビットエラー率を得る段階と、
前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得る段階と、
前記第１ビットエラー率と前記第２ビットエラー率とを比べる段階と、
前記第２ビットエラー率と前記第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定する段階と、を含むことを特徴とするハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階は、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュートの大きさと関連していることを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得る段階は、
前記ディスク周辺の温度を測定する段階と、
測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記測定されたディスク温度に対応する隣接トラック記録回数を得る段階と、
前記テーブルから得られた前記隣接トラック記録回数だけ前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録する段階と、を含むことを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルは、温度に対応する隣接トラック記録回数をテーブル化して得たことを特徴とする請求項３に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記隣接トラック記録回数は、臨界値と関連して対応する温度で前記ディスク上の何れかのトラックのビットエラー率を有する前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を、隣接トラック記録回数に設定することでテーブル化することを特徴とする請求項４に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記テストトラックに対する少なくとも一つの隣接トラックは、前記テストトラックの何れか一側に位置した二つのトラックから選択されることを特徴とする請求項３に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記ディスク周辺の温度は、前記ディスク周辺に設けられたサーミスタを介して測定されることを特徴とする請求項３に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
前記第１ビットエラー率と前記第２ビットエラー率との差が既定の臨界値より大きい場合、選択された前記パラメータの値を一定量だけ減少させて第１ビットエラー率及び第２ビットエラー率を獲得する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
データを保存するディスクと、
前記ディスク周辺に設けられて温度を獲得するサーミスタと、
前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第１ビットエラー率を得て、前記サーミスタによって測定された前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得た後、前記第２ビットエラー率と前記第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定するコントローラと、を含むことを特徴とするハードディスクドライブ。
前記コントローラは、
最適化対象の前記パラメータを一つ選択する時に、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュート大きさのうち何れか一つを選択することを特徴とする請求項９に記載のハードディスクドライブ。
前記コントローラは、
前記測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記サーミスタによって提供される前記測定された温度に対応する隣接トラック記録回数を得て、前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに前記隣接トラック記録回数だけ反復して任意のデータを記録して前記テストトラックの前記第２ビットエラー率を得ることを特徴とする請求項９に記載のハードディスクドライブ。
前記テーブルは、該当の温度で何れか一つのトラックに対するビットエラー率を既定の臨界値に到達させる前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を隣接トラック記録回数に設定して該当の温度別にテーブル化したことを特徴とする請求項１１に記載のハードディスクドライブ。
前記隣接トラックは、二つのトラックであることを特徴とする請求項１２に記載のハードディスクドライブ。
前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックは、前記テストトラックに最も近く隣接した二つのトラックであることを特徴とする請求項１１に記載のハードディスクドライブ。