JP2008004139A

JP2008004139A - 磁気記録再生装置の製造方法

Info

Publication number: JP2008004139A
Application number: JP2006170031A
Authority: JP
Inventors: Kozo Tagashira; 幸造田頭; Akifumi Aono; 暁史青野; Yoshiaki Mizoo; 嘉章溝尾
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2006-06-20
Filing date: 2006-06-20
Publication date: 2008-01-10

Abstract

【課題】磁気記録再生装置の環境温度に対する信頼性の向上、及びコスト削減効果を有する磁気記録再生装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の温度にて、トラックピッチを変えて磁気記録媒体のビットエラーレートを測定し、その結果を用いて、前記磁気記録媒体のトラックピッチを決定するし、前期トラックピッチに従って、前記磁気記録媒体へサーボ信号を記録する事により、環境温度に対して高信頼性をもつ、かつ安価な磁気記録再生装置を提供する。
【選択図】図２

Description

本発明は、設計仕様で定められた環境温度範囲内にて、磁気記録再生装置のトラック幅方向の記録密度を決定する磁気記録再生装置の製造方法に関するものである。

従来の磁気記録再生装置の製造方法は、磁気記録媒体上に、仮のサーボ信号を記録した後に、磁気記録装置を組み立て、その仮のサーボ信号を再生する事によりビットエラーレートを算出し、その結果を用いて、トラック幅方向の記録密度を決定し、その記録密度に対応するサーボ信号を記録していた。（例えば、特許文献１参照。）
特開２００５−１００６１１号公報

しかしながら、前記従来の構成では、使用環境温度が変化すると磁気記録再生装置のエラーレートが大きく変化し、磁気記録再生装置の信頼性が確保できないという課題を有していた。図７には、環境温度に対する磁気記録再生装置のエラーレートを示す。この結果にも示されるように、磁気記録再生装置を使用する環境温度によって、エラーレートは変化する。環境温度が上昇するにつれて、エラーレートが悪化するが、必ずしも、環境温度が最高温度の時にエラーレートが最悪になるとはいえない。これは、そのエラーレートは、磁気記録再生装置に使用している磁気ヘッドの記録特性、再生特性、浮上特性、及び磁気記録媒体の磁気特性等、多様なパラメーターに依存しているからである。また、この課題を解決するために、磁気ヘッドや磁気記録媒体の検査仕様を厳しくする、または磁気記録再生装置の出荷検査仕様を厳しくする、という方法がある。しかしながら、これらの方法では、磁気ヘッド、磁気記録媒体、磁気記録再生装置の歩留まりが悪化してしまい、それに伴って、製造コストが増大してしまい、磁気記録再生装置が高額になってしまうという課題を有していた。

本発明は、前記課題を解決するためになされたものであり、最適なデータトラックピッチを高精度に算出する方法と、これに基づいて決定されたトラックピッチでサーボ信号を磁気記録媒体に記録する磁気記録再生装置の製造方法を提供する事を目的とする。

前記従来の課題を解決するために、本発明の磁気記録再生装置の製造方法は、複数の温度にて、トラックピッチを変えて磁気記録媒体のビットエラーレートを測定する第１の工程と、第１の工程の結果を用いて、前記磁気記録媒体のトラックピッチを決定する第２の工程と、前記第２の工程にて決定されたトラックピッチに従って、前記磁気記録媒体へサーボ信号を記録する第３の工程と、を持つことを特徴としたものである。

また、本発明は、磁気記録再生装置の製造方法において、前記第１の工程において、規定のビットエラーレートを満足するオフトラック許容量が最大値をとる時のトラックピッチを、各温度におけるトラックピッチとすることを特徴としたものである。

さらに、磁気記録再生装置の製造方法において、前記第２の工程において、各温度におけるトラックピッチの最大値を、前記磁気記録媒体のトラックピッチとすること特徴としたものである。

本発明の磁気記録再生装置の製造方法によれば、磁気記録再生装置の環境温度に対する信頼性の確保、及び安価な磁気記録再生装置を提供することができる。

以下に、本発明の磁気記録再生装置の製造方法の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。

図１は、本発明の実施例における磁気記録再生装置のブロック図を示すものである。磁気記録再生装置１は、磁気ヘッド２を搭載したアクチュエータ３、スピンドル４上に磁気記録媒体５を搭載している。また、アクチェータ３の制御を行なうことによって磁気ヘッド２の位置制御を行なうアクチェータドライバ６、スピンドル４を制御するモータドライバ７、記録再生信号のコード化を行うリードライトチャネル（以下Ｒ／Ｗチャネルと略記する）９とプリアンプ１０を通じて、磁気ヘッド２にて磁気記録媒体５上に信号の記録再生動作を行なうハードディスクコントローラ（以下ＨＤＣと略記する）８を搭載している。磁気記録再生装置１は、温度制御を行なうことができるチャンバ１１の内部に配置する。また、チャンバ１１内部には、サーミスタ１２と冷却加熱器１３が搭載されており、パーソナルコンピュータ（以下ＰＣと略記する）１４と接続されている。また、サーミスタ１２で測定された温度は、ＰＣ１４に搭載されているメモリ１５に記録する。更に、アクチェータドライバ６、モータドライバ７、ＨＤＣ８は、ＰＣ１４内部のＣＰＵ１６にて制御されている。即ち、ＣＰＵ１６にて、磁気記録再生装置１の記録再生動作、磁気ヘッド２の位置決め動作、磁気記録媒体５の回転数制御を行なうことができる。

図２は、本発明の実施例における磁気記録再生装置の製造方法のフローチャートを示すものである。まず、複数の温度にて、トラックピッチを変えて磁気記録媒体のビットエラーレートの測定１７を実施する。

図３は、本発明の実施例における複数の温度における磁気記録再生装置の記録再生特性測定のフローチャートを示している。まずは、チャンバ内の温度、すなわち環境温度を初期温度に設定する。本実施例では、初期温度０℃、増加温度２０℃とし、最大温度６０℃まで、変化させる。本実施例では、この温度範囲は、磁気記録再生装置１の出荷時の保障温度範囲に設定した。尚、この温度範囲は、出荷時の保障温度範囲より広い範囲（例えば、−５℃から６５℃）で設定する方がなおよい。本実施例では、サーミスタ１２で測定した温度が設定温度になるように、ＰＣ１４にて冷却加熱器１３の自動制御を行なう。次に、トラックピッチを変えてオフトラック許容量１８の測定１９を行なう。尚、前記オフトラック許容量１８の測定方法のフローチャートは後ほど説明する。オフトラック許容量１８は、ＰＣ１４内部のメモリ１５に格納される。これら動作を所定の最大温度（本実施例は６０℃）まで繰り返す。

図４は、本実施例におけるオフトラック許容量１８の測定方法のフローチャートを示すものである。まず、この測定の初期値である、トラック番号ｎ、トラックピッチを設定する。本実施例ではｎ＝３００００と設定した。このトラック番号３００００は、磁気記録媒体５の中心から、磁気記録媒体５の半径方向の距離ｒ＝２０．４４ｍｍに相当する。また、トラックピッチは、０．２μｍとした。本実施例のトラックピッチとは、トラック番号ｎ−１の中心とトラック番号ｎの中心の距離のことである。次に、トラック番号ｎ−１、ｎ、ｎ＋１（即ち、トラック番号２９９９９、３００００、３００００１）にてイレースを行う。本実施例では、ＤＣイレースを用いたが、ＡＣイレースを用いてもよい。次に、トラック番号ｎに信号Ａを記録し、トラック番号ｎ−１、ｎ＋１に信号Ｂを記録する。本実施例では、トラック番号ｎに記録する信号Ａとトラック番号ｎ−１、ｎ＋1に記録する信号Ｂを異なる信号にしたが、同じ信号を用いてもよい。
次に、磁気記録媒体５上に磁気ヘッド２をシークさせながら、ビットエラーレートの測定２０を実施する。次に、前記ビットエラーレートの測定２０の結果より、オフトラック許容量１８を算出する。オフトラック許容量１８は、磁気記録再生装置のビットエラーレートの規格を満足している磁気記録媒体５の半径方向の範囲を示す。即ち、磁気ヘッド２をオフトラックさせながらビットエラーレートの測定２０を実施し、磁気記録再生装置のビットエラーレート規格を満たす範囲を算出する。尚、本実施例では、最大ビットエラーレートを１．９７ｘ１０^−３として測定を行なった。次にトラックピッチを所定のステップにて、所定値まで増加させる。本実施例では、０．２μｍから０．２５μｍまでは０．０１μｍ、０．２５μｍから０．３５μｍまでは０．００５μｍ変化させた。図５はトラックピッチに対するオフトラック許容量１８の測定結果の例を示す。

次に、この測定環境温度でのトラックピッチを決定する。オフトラック許容量が最大値をとる時のトラックピッチを、この測定環境温度におけるトラックピッチとする。図５に示す例では、トラックピッチは０．２８５μｍであった。図５に示すような、トラックピッチに対するビットエラーレートを満足するオフトラック許容量１８を、各温度において測定し、各温度におけるトラックピッチを決定する。このトラックピッチの決定を、各環境温度にて実施する。表１にその結果の１例を示す。

次に、磁気記録再生装置１における、前記磁気記録媒体５のトラックピッチを決定する。表１に、本実施例における各環境温度におけるトラックピッチを示す。各環境温度におけるトラックピッチの最大値を、磁気記録再生装置１のトラックピッチとする。本実施例では、表１より、チャンバ設定温度５０．０℃の時のトラックピッチ０．２８５μｍと決定する。

次に、磁気記録再生装置１におけるサーボ信号を、前工程で決定したトラックピッチに従って、磁気記録媒体５上に記録する。本実施例においては、ＰＣ１４により、アクチュエータドライバ６を制御する事により磁気ヘッド２のトラックの位置決め動作制御を行なう。同時に、ＨＤＣ８の制御を行い、Ｒ／Ｗチャネル９、及びプリアンプを通じて、磁気ヘッド２のサーボ信号書き込み動作制御を行なう。こうすることにより、トラックピッチに従って、前記磁気記録再生装置１におけるサーボ信号を、磁気記録媒体５上に記録することができる。

以上の結果、高信頼性・低コストの磁気記録再生装置を提供することが可能となる。図６に先行例と本発明の実施例におけるビットエラーレート比較図を示す。図６（Ａ）は、従来技術（特開２００５−１００６１１号公報にて開示された技術）にて製造された磁気記録再生装置のビットエラーレート、図６（Ｂ）は、図６（Ａ）の測定の実施後に本実施例の製造方法にて磁気記録媒体５の半径方向の記録密度を決定し、サーボ信号を記録した後に測定したビットエラーレートを測定したものである。図６（Ａ）に比べ、図６（Ｂ）は、エラーレートが明瞭に改善されている。

本発明にかかる磁気記録再生装置の製造方法は、磁気記録再生装置の環境温度に対する信頼性の向上、及びコスト削減効果を有し、磁気記録再生装置の製造方法として有用である。

本発明の実施例における磁気記録再生装置の製造方法のブロック図本発明の実施例における磁気記録再生装置の製造方法のフローチャート本発明の実施例における各環境温度における磁気記録再生装置のオフトラック許容量の測定のフローチャート本実施例における各環境温度におけるトラックピッチ決定方法のフローチャート本実施例におけるトラックピッチを変化させ、オフトラック許容量の測定を行なった結果の１例を示す図先行例と本発明の実施例におけるビットエラーレート比較図環境温度に対する磁気記録再生装置のエラーレート図

符号の説明

１磁気記録再生装置
２磁気ヘッド
３アクチュエータ
４スピンドル
５磁気記録媒体
６アクチェータドライバ
７モータドライバ
８ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）
９リードライトチャネル（Ｒ／Ｗチャネル）
１０プリアンプ
１１チャンバ
１２サーミスタ
１３冷却加熱器
１４パーソナルコンピュータ（ＰＣ）
１５メモリ
１６ＣＰＵ
１７トラックピッチを変えて磁気記録媒体のビットエラーレートの測定
１８オフトラック許容量
１９オフトラック許容量１８の測定
２０ビットエラーレートの測定

Claims

複数の温度にて、トラックピッチを変えて磁気記録媒体のビットエラーレートを測定する第１の工程と、
第１の工程の結果を用いて、前記磁気記録媒体のトラックピッチを決定する第２の工程と、
前記第２の工程にて決定されたトラックピッチに従って、前記磁気記録媒体へサーボ信号を記録する第３の工程と、
を持つことを特徴とする磁気記録再生装置の製造方法
前記第１の工程において、規定のビットエラーレートを満足するオフトラック許容量が最大値をとる時のトラックピッチを、各温度におけるトラックピッチとすることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録再生装置の製造方法
前記第２の工程において、各温度におけるトラックピッチの最大値を、前記磁気記録媒体のトラックピッチとすること特徴とする請求項１に記載の磁気記録再生装置の製造方法