JPH08315529A - 情報記憶装置 - Google Patents
情報記憶装置Info
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- JPH08315529A JPH08315529A JP14540995A JP14540995A JPH08315529A JP H08315529 A JPH08315529 A JP H08315529A JP 14540995 A JP14540995 A JP 14540995A JP 14540995 A JP14540995 A JP 14540995A JP H08315529 A JPH08315529 A JP H08315529A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 初期化時に、各種の制御を行うサーボ系に付
与すべき補正値を常に最適な値で保持する。 【構成】 記憶媒体に対して情報の記録/再生/消去を
行うドライブ部と、このドライブ部をサーボ系によって
制御すると共に、サーボ系に付与する補正パラメータを
検出して最適な状態に補正する補正機能および補正パラ
メータの情報を記憶する不揮発メモリとを有する情報記
憶装置において、ドライブ部の温度を検出する温度検出
手段と、検出された温度について温度のランクを判定す
る温度ランク判定手段とを設け、最初の初期化時に、現
在の状態を検知して補正値を求めて不揮発メモリ上に補
正パラメータと温度ランクの情報とを記憶させておき、
次に検出された温度の温度ランクが記憶されている温度
ランクと異なるときは、補正パラメータを検出して不揮
発メモリ上の補正パラメータと温度ランクの情報とを更
新する。 【効果】 サーボ系に与える最適な補正値の保持と、初
期化処理の短縮とを両立させることができる。
与すべき補正値を常に最適な値で保持する。 【構成】 記憶媒体に対して情報の記録/再生/消去を
行うドライブ部と、このドライブ部をサーボ系によって
制御すると共に、サーボ系に付与する補正パラメータを
検出して最適な状態に補正する補正機能および補正パラ
メータの情報を記憶する不揮発メモリとを有する情報記
憶装置において、ドライブ部の温度を検出する温度検出
手段と、検出された温度について温度のランクを判定す
る温度ランク判定手段とを設け、最初の初期化時に、現
在の状態を検知して補正値を求めて不揮発メモリ上に補
正パラメータと温度ランクの情報とを記憶させておき、
次に検出された温度の温度ランクが記憶されている温度
ランクと異なるときは、補正パラメータを検出して不揮
発メモリ上の補正パラメータと温度ランクの情報とを更
新する。 【効果】 サーボ系に与える最適な補正値の保持と、初
期化処理の短縮とを両立させることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置や固
定型磁気ディスク装置、リムーバブル磁気ディスク装置
等の情報記憶装置に係り、特に、情報記憶装置の初期化
時に、各種の制御を行うサーボ系に付与すべき補正値
が、温度変化に対応して常に最適な値で与えられるよう
にした情報記憶装置に関する。
定型磁気ディスク装置、リムーバブル磁気ディスク装置
等の情報記憶装置に係り、特に、情報記憶装置の初期化
時に、各種の制御を行うサーボ系に付与すべき補正値
が、温度変化に対応して常に最適な値で与えられるよう
にした情報記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光学的に情報を記録/再生/消去する光
ディスク装置においては、光ディスク上の所定トラック
にレーザ光を正確に追従させるためのトラック追従サー
ボや、このトラック追従サーボ系を一旦オフ状態にし
て、レーザ光を隣接トラックへ高速度で移動させるため
のトラックジャンプ等の各種のサーボ系の制御が行われ
ている。これら各種のサーボ系の制御においては、制御
の安定化を図るために、一般的に、トラック追従サーボ
におけるサーボループゲインや、トラックジャンプにお
けるジャンプパルス幅などを適宜補正する方法が採用さ
れている(例えば、特開平5−307848号公報、特
開平5−307845号公報等)。
ディスク装置においては、光ディスク上の所定トラック
にレーザ光を正確に追従させるためのトラック追従サー
ボや、このトラック追従サーボ系を一旦オフ状態にし
て、レーザ光を隣接トラックへ高速度で移動させるため
のトラックジャンプ等の各種のサーボ系の制御が行われ
ている。これら各種のサーボ系の制御においては、制御
の安定化を図るために、一般的に、トラック追従サーボ
におけるサーボループゲインや、トラックジャンプにお
けるジャンプパルス幅などを適宜補正する方法が採用さ
れている(例えば、特開平5−307848号公報、特
開平5−307845号公報等)。
【0003】このような従来技術では、サーボループゲ
インやジャンプパルス幅の補正値を光ディスク装置の初
期化時毎に検出し、検出された値に基づいてサーボルー
プゲインや、トラックジャンプにおけるジャンプパルス
幅の補正を行い、最適な状態でサーボ系の制御を行って
いた。しかし、補正値の検出には所定の時間を要するの
で、情報記憶装置の初期化処理が遅くなる、という問題
があった。このような問題に対処するために、この出願
の発明者は、最初の初期化時に、サーボ系に付与すべき
補正値を検出して補正値を不揮発性メモリに記憶させて
おき、2回目以降の初期化時には、不揮発性メモリから
補正値を読み出してサーボ系の補正を行うことによっ
て、初期化時間の短縮を可能にした情報記憶装置を提案
した(発明の名称「情報記憶装置」、平成6年3月10
日の特許出願)。
インやジャンプパルス幅の補正値を光ディスク装置の初
期化時毎に検出し、検出された値に基づいてサーボルー
プゲインや、トラックジャンプにおけるジャンプパルス
幅の補正を行い、最適な状態でサーボ系の制御を行って
いた。しかし、補正値の検出には所定の時間を要するの
で、情報記憶装置の初期化処理が遅くなる、という問題
があった。このような問題に対処するために、この出願
の発明者は、最初の初期化時に、サーボ系に付与すべき
補正値を検出して補正値を不揮発性メモリに記憶させて
おき、2回目以降の初期化時には、不揮発性メモリから
補正値を読み出してサーボ系の補正を行うことによっ
て、初期化時間の短縮を可能にした情報記憶装置を提案
した(発明の名称「情報記憶装置」、平成6年3月10
日の特許出願)。
【0004】
【先願の発明】この先願の発明では、情報記憶装置のサ
ーボ機能に関して、必要な補正パラメータを製造時に計
測して不揮発性メモリに格納しておき、以降の初期化時
には、格納されている補正パラメータを使用してサーボ
系の補正を行うことによって、初期化のたび毎の計測
(現在の状態の検知と補正)を省略して、初期化処理の
時間を短縮している。次に、先願の発明について、その
概略を説明する。
ーボ機能に関して、必要な補正パラメータを製造時に計
測して不揮発性メモリに格納しておき、以降の初期化時
には、格納されている補正パラメータを使用してサーボ
系の補正を行うことによって、初期化のたび毎の計測
(現在の状態の検知と補正)を省略して、初期化処理の
時間を短縮している。次に、先願の発明について、その
概略を説明する。
【0005】図14は、先願発明の情報記憶装置につい
て、その要部構成を示す機能ブロック図である。図にお
いて、1は情報記憶装置、2はドライブ部、3はコント
ローラ、31は上位装置I/F回路、32は不揮発性メ
モリ、33はCPU、34はRAM、35はROM、3
6はドライブI/F回路、4は記憶媒体、5は上位装置
を示す。
て、その要部構成を示す機能ブロック図である。図にお
いて、1は情報記憶装置、2はドライブ部、3はコント
ローラ、31は上位装置I/F回路、32は不揮発性メ
モリ、33はCPU、34はRAM、35はROM、3
6はドライブI/F回路、4は記憶媒体、5は上位装置
を示す。
【0006】この図14に示す情報記憶装置1におい
て、ドライブ部2は、記憶媒体4に対して情報の記録、
再生および消去を行う。このドライブ部2は、コントロ
ーラ3によって制御される。このコントローラ3は、記
憶媒体4への情報の書き込み/読み出しを制御し、ま
た、ドライブ部2の制御に必要なサーボ機能に関して、
サーボ系の安定化を図るために、装置の最初の初期化時
の状態を検知して最適な状態に補正する機能、すなわ
ち、サーボ系に付与すべき補正値を検出して不揮発性メ
モリに保持しておき、以後の初期化時には保持されてい
る補正値を読み出すことにより、迅速に最適な状態で各
種のサーボ系の制御が行えるようにしている。
て、ドライブ部2は、記憶媒体4に対して情報の記録、
再生および消去を行う。このドライブ部2は、コントロ
ーラ3によって制御される。このコントローラ3は、記
憶媒体4への情報の書き込み/読み出しを制御し、ま
た、ドライブ部2の制御に必要なサーボ機能に関して、
サーボ系の安定化を図るために、装置の最初の初期化時
の状態を検知して最適な状態に補正する機能、すなわ
ち、サーボ系に付与すべき補正値を検出して不揮発性メ
モリに保持しておき、以後の初期化時には保持されてい
る補正値を読み出すことにより、迅速に最適な状態で各
種のサーボ系の制御が行えるようにしている。
【0007】一層具体的にいえば、このコントローラ3
は、ドライブ部2をサーボ系によって制御すると共に、
このサーボ系に付与する補正パラメータ等の補正値を検
出して最適な状態に補正する補正機能を有しており、現
在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正パラメー
タ等の補正値を求める状態検知・補正手段、および求め
られた補正値を不揮発性メモリ32に記憶させる手段を
構成しており、実際の処理は、制御プログラムによって
動作されるCPU33が行う構成である。
は、ドライブ部2をサーボ系によって制御すると共に、
このサーボ系に付与する補正パラメータ等の補正値を検
出して最適な状態に補正する補正機能を有しており、現
在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正パラメー
タ等の補正値を求める状態検知・補正手段、および求め
られた補正値を不揮発性メモリ32に記憶させる手段を
構成しており、実際の処理は、制御プログラムによって
動作されるCPU33が行う構成である。
【0008】そのために、コントローラ3は、情報記憶
装置1のシステム全体の制御を司るCPU33と、CP
U33のワークメモリ等として使用されるRAM34
と、CPU33用の制御プログラム等が格納されるRO
M35と、電源オフ中にも必要なデータを保持するため
の不揮発性メモリ32とを備えている。また、このコン
トローラ3は、ドライブ部2とのインターフェースを制
御し、バージョンを読み出すことが可能なドライブI/
F(インターフェース)回路36、および上位装置5と
のインターフェースを制御する上位装置I/F回路31
を備えている。
装置1のシステム全体の制御を司るCPU33と、CP
U33のワークメモリ等として使用されるRAM34
と、CPU33用の制御プログラム等が格納されるRO
M35と、電源オフ中にも必要なデータを保持するため
の不揮発性メモリ32とを備えている。また、このコン
トローラ3は、ドライブ部2とのインターフェースを制
御し、バージョンを読み出すことが可能なドライブI/
F(インターフェース)回路36、および上位装置5と
のインターフェースを制御する上位装置I/F回路31
を備えている。
【0009】そして、ドライブI/F回路36を介して
ドライブ部2に接続されると共に、上位装置I/F回路
31を介して上位装置5と接続されている。以上のよう
な構成の情報記憶装置1において、コントローラ3から
の指示によってドライブ部2が記憶媒体4へ書き込み/
読み出しを行う。すでに述べたように、この場合に、書
き込み/読み出しの制御に必要なドライブ部2の内部の
サーボ機能については、最適な状態に設定されるように
補正しておく必要があり、そのための補正値は不揮発性
メモリ32に記憶されている。不揮発性メモリ32とし
ては、一括消去型のフラッシュメモリや、ワンタイムプ
ログラマブルROMなどを使用すればよい。
ドライブ部2に接続されると共に、上位装置I/F回路
31を介して上位装置5と接続されている。以上のよう
な構成の情報記憶装置1において、コントローラ3から
の指示によってドライブ部2が記憶媒体4へ書き込み/
読み出しを行う。すでに述べたように、この場合に、書
き込み/読み出しの制御に必要なドライブ部2の内部の
サーボ機能については、最適な状態に設定されるように
補正しておく必要があり、そのための補正値は不揮発性
メモリ32に記憶されている。不揮発性メモリ32とし
ては、一括消去型のフラッシュメモリや、ワンタイムプ
ログラマブルROMなどを使用すればよい。
【0010】図15は、図14の不揮発性メモリ32に
おける補正値の情報について、その格納状態の一例を示
す図である。図において、32aはドライブバージョン
の格納エリア、32bは補正パラメータの格納エリアを
示す。
おける補正値の情報について、その格納状態の一例を示
す図である。図において、32aはドライブバージョン
の格納エリア、32bは補正パラメータの格納エリアを
示す。
【0011】ドライブ部2のサーボ系としては、レーザ
光を光ディスク等の記憶媒体4上の所定トラックに正確
に追従させるトラック追従サーボや、このトラック追従
サーボを一旦オフ状態として、レーザ光を隣接トラック
へ高速度で移動させるトラックジャンプサーボなどがあ
る。これらのサーボ系は、ドライブ部毎の機械的もしく
は回路的なバラツキの影響を避け、制御の安定化を図る
観点から、トラック追従サーボにおけるサーボループゲ
インや、トラックジャンプサーボにおけるジャンプパル
ス幅等を適宜補正する必要がある。
光を光ディスク等の記憶媒体4上の所定トラックに正確
に追従させるトラック追従サーボや、このトラック追従
サーボを一旦オフ状態として、レーザ光を隣接トラック
へ高速度で移動させるトラックジャンプサーボなどがあ
る。これらのサーボ系は、ドライブ部毎の機械的もしく
は回路的なバラツキの影響を避け、制御の安定化を図る
観点から、トラック追従サーボにおけるサーボループゲ
インや、トラックジャンプサーボにおけるジャンプパル
ス幅等を適宜補正する必要がある。
【0012】そのための補正値の情報として、この図1
5に示すように、ドライブ部2のバージョン番号(識別
子)とその補正パラメータ(補正値)とを、ドライブバ
ージョンの格納エリア32aと、補正パラメータの格納
エリア32bとにそれぞれ記憶させておく。ドライブ部
2のバージョン番号としては、例えば、「“D”“R”
“V”“−”***」のような形式で格納する。
5に示すように、ドライブ部2のバージョン番号(識別
子)とその補正パラメータ(補正値)とを、ドライブバ
ージョンの格納エリア32aと、補正パラメータの格納
エリア32bとにそれぞれ記憶させておく。ドライブ部
2のバージョン番号としては、例えば、「“D”“R”
“V”“−”***」のような形式で格納する。
【0013】最初の初期化時は、例えば工場での組立て
後であるが、また、ドライブ部2が修理されたり、交換
されたりしたときに、改めて補正値を検出して更新して
おけばよい。ここで、先願発明の情報記憶装置における
初期化時の補正を述べる。まだ、一度も初期化が行われ
ていないときは、図14の不揮発性メモリ32には、当
然、補正値の情報が格納されていない。
後であるが、また、ドライブ部2が修理されたり、交換
されたりしたときに、改めて補正値を検出して更新して
おけばよい。ここで、先願発明の情報記憶装置における
初期化時の補正を述べる。まだ、一度も初期化が行われ
ていないときは、図14の不揮発性メモリ32には、当
然、補正値の情報が格納されていない。
【0014】まず、ドライブ部2からドライブ部のバー
ジョン番号を読み出して、RAM34に記憶させる。次
に、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格納
エリア32aに記憶されているバージョン番号を読み出
して、先に記憶させたRAM34のドライブバージョン
と比較する。この場合には、不揮発性メモリ32内のド
ライブバージョンの格納エリア32aは未書き込みであ
るから、一致しない。
ジョン番号を読み出して、RAM34に記憶させる。次
に、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格納
エリア32aに記憶されているバージョン番号を読み出
して、先に記憶させたRAM34のドライブバージョン
と比較する。この場合には、不揮発性メモリ32内のド
ライブバージョンの格納エリア32aは未書き込みであ
るから、一致しない。
【0015】そこで、RAM34のドライブバージョン
を、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格納
エリア32aに書き込む。その後、現在の状態の検知・
補正を行って、補正パラメータを求め、不揮発性メモリ
32内の補正パラメータの格納エリア32bに記憶させ
る。このようにして、不揮発性メモリ32内に、ドライ
ブバージョンと補正パラメータとを記憶させておき、以
後の初期化時には、これらの補正情報を読み出してサー
ボ系を最適な状態に設定する。
を、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格納
エリア32aに書き込む。その後、現在の状態の検知・
補正を行って、補正パラメータを求め、不揮発性メモリ
32内の補正パラメータの格納エリア32bに記憶させ
る。このようにして、不揮発性メモリ32内に、ドライ
ブバージョンと補正パラメータとを記憶させておき、以
後の初期化時には、これらの補正情報を読み出してサー
ボ系を最適な状態に設定する。
【0016】図16は、図14に示した情報記憶装置に
おいて、初期化時における主要な処理の流れを示すフロ
ーチャートである。図において、#1〜#7はステップ
を示す。
おいて、初期化時における主要な処理の流れを示すフロ
ーチャートである。図において、#1〜#7はステップ
を示す。
【0017】工場において組立てが完了した後、最初の
初期化時に、ステップ#1で、ドライブ部2から当該ド
ライブ部2のバージョンを読み出して、コントローラ3
内のRAM34に記憶する。ステップ#2で、不揮発性
メモリ32内のドライブバージョンの格納エリア32a
をチェックして、ドライブバージョンが存在しているか
否か判断する。ドライブバージョンが存在しているとき
は、ステップ#3へ進み、RAM34に記憶されたバー
ジョンと同じであるか否か比較する。
初期化時に、ステップ#1で、ドライブ部2から当該ド
ライブ部2のバージョンを読み出して、コントローラ3
内のRAM34に記憶する。ステップ#2で、不揮発性
メモリ32内のドライブバージョンの格納エリア32a
をチェックして、ドライブバージョンが存在しているか
否か判断する。ドライブバージョンが存在しているとき
は、ステップ#3へ進み、RAM34に記憶されたバー
ジョンと同じであるか否か比較する。
【0018】両バージョンが同じときは、ステップ#4
で、予め不揮発性メモリ32内の補正パラメータの格納
エリア32bに記憶されている補正パラメータを用いて
初期化を行って、この図16のフローを終了する。これ
に対して、先のステップ#2で判断した結果、ドライブ
バージョンが存在していないとき、あるいは、先のステ
ップ#3で判断した結果、不揮発性メモリ32に記憶さ
れているバージョンとRAM34に記憶されたバージョ
ンとが異なるときは、ステップ#5へ進む。
で、予め不揮発性メモリ32内の補正パラメータの格納
エリア32bに記憶されている補正パラメータを用いて
初期化を行って、この図16のフローを終了する。これ
に対して、先のステップ#2で判断した結果、ドライブ
バージョンが存在していないとき、あるいは、先のステ
ップ#3で判断した結果、不揮発性メモリ32に記憶さ
れているバージョンとRAM34に記憶されたバージョ
ンとが異なるときは、ステップ#5へ進む。
【0019】ステップ#5で、サーボ機能について、最
適な設定となるように、状態を検知して補正パラメータ
を求め、得られた補正パラメータに基づいて初期化(補
正)を行う。ステップ#6で、現在のドライブバージョ
ンを、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格
納エリア32aに記憶させる。
適な設定となるように、状態を検知して補正パラメータ
を求め、得られた補正パラメータに基づいて初期化(補
正)を行う。ステップ#6で、現在のドライブバージョ
ンを、不揮発性メモリ32内のドライブバージョンの格
納エリア32aに記憶させる。
【0020】次のステップ#7で、同じく補正パラメー
タを、不揮発性メモリ32内の補正パラメータの格納エ
リア32bに記憶させる。以上のステップ#1から#7
の処理によって、サーボ機能について、最初の初期化時
による補正値(バージョン番号と補正パラメータ)が、
不揮発性メモリ32に記憶される。したがって、2回目
以降の初期化時には、これらの補正値の情報を読み出す
ことにより、初期化処理の時間を短縮することができ
る。
タを、不揮発性メモリ32内の補正パラメータの格納エ
リア32bに記憶させる。以上のステップ#1から#7
の処理によって、サーボ機能について、最初の初期化時
による補正値(バージョン番号と補正パラメータ)が、
不揮発性メモリ32に記憶される。したがって、2回目
以降の初期化時には、これらの補正値の情報を読み出す
ことにより、初期化処理の時間を短縮することができ
る。
【0021】なお、先願発明では、初期化時には、この
図16のフローにおいて、ステップ#2で判断した結
果、ドライブバージョンが存在していないときのみ、ス
テップ#5へ進み、状態を検知して補正パラメータを求
め、得られた補正パラメータに基づいて初期化(サーボ
系の補正処理も含む)を行う。これに対して、従来技術
では、常に、ステップ#5の処理を行っていたので、サ
ーボ機能について、最適な状態を設定することは可能で
あるが、初期化処理に時間がかかり、遅くなっていた。
図16のフローにおいて、ステップ#2で判断した結
果、ドライブバージョンが存在していないときのみ、ス
テップ#5へ進み、状態を検知して補正パラメータを求
め、得られた補正パラメータに基づいて初期化(サーボ
系の補正処理も含む)を行う。これに対して、従来技術
では、常に、ステップ#5の処理を行っていたので、サ
ーボ機能について、最適な状態を設定することは可能で
あるが、初期化処理に時間がかかり、遅くなっていた。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】すでに述べたように、
先願の発明では、情報記憶装置のサーボ機能に関して、
必要な補正パラメータを製造時に計測して不揮発性メモ
リに格納しておき、以降は不揮発性メモリに格納されて
いる補正パラメータを使用して補正を行うことにより、
初期化のたび毎の計測と補正の処理を省略するようにし
ている。しかし、サーボ系の最適な状態は、周囲温度の
変化によって異なるので、このように、製造時の計測結
果による補正方法では、常に最適な状態が得られるとは
限らない。
先願の発明では、情報記憶装置のサーボ機能に関して、
必要な補正パラメータを製造時に計測して不揮発性メモ
リに格納しておき、以降は不揮発性メモリに格納されて
いる補正パラメータを使用して補正を行うことにより、
初期化のたび毎の計測と補正の処理を省略するようにし
ている。しかし、サーボ系の最適な状態は、周囲温度の
変化によって異なるので、このように、製造時の計測結
果による補正方法では、常に最適な状態が得られるとは
限らない。
【0023】すなわち、周囲温度の変化により電子デバ
イス等の特性変化が生じるので、その時点で保持されて
いる補正パラメータが、サーボ系の補正値として常に適
切であるとは限らず、実際の計測結果によって補正し直
す方がより良い、という事態が生じる。他方、従来のよ
うに、補正値(補正パラメータ)の正確さを保つため
に、初期化時のたびに計測(状態の検知)する方法を採
用すると、初期化時間を短縮することができない。
イス等の特性変化が生じるので、その時点で保持されて
いる補正パラメータが、サーボ系の補正値として常に適
切であるとは限らず、実際の計測結果によって補正し直
す方がより良い、という事態が生じる。他方、従来のよ
うに、補正値(補正パラメータ)の正確さを保つため
に、初期化時のたびに計測(状態の検知)する方法を採
用すると、初期化時間を短縮することができない。
【0024】このように、従来技術や先願の発明では、
サーボ系の最適な状態の設定と初期化時間の短縮とを両
立させることは困難であった。この発明では、可能な限
り少ない回数の計測(状態の検知・補正)で、サーボ系
の制御が最適な状態に設定できるようにして、初期化時
の処理時間を短縮した情報記憶装置を実現する(請求項
1から請求項10の発明)。
サーボ系の最適な状態の設定と初期化時間の短縮とを両
立させることは困難であった。この発明では、可能な限
り少ない回数の計測(状態の検知・補正)で、サーボ系
の制御が最適な状態に設定できるようにして、初期化時
の処理時間を短縮した情報記憶装置を実現する(請求項
1から請求項10の発明)。
【0025】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明では、記
憶媒体に対して情報の記録/再生/消去を行うドライブ
部と、このドライブ部をサーボ系によって制御すると共
に、このサーボ系に付与する補正パラメータを検出して
最適な状態に補正する補正機能および補正パラメータの
情報を記憶する不揮発メモリとを有する情報記憶装置に
おいて、最適な状態に補正する補正機能を構成する手段
として、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補
正パラメータ等の補正値を求め、不揮発メモリに記憶さ
れた補正パラメータや温度ランクの情報を補正する状態
検知・補正手段と、ドライブ部の温度を検出する温度検
出手段と、温度検出手段によって検出された温度につい
て、予め複数の温度ランクに分割されたランクと比較し
て検出された温度のランクを判定する温度ランク判定手
段とを備え、不揮発メモリは、補正パラメータと温度ラ
ンクの情報とを記憶するエリアを有しており、最初の初
期化時に、状態検知・補正手段によって現在の状態を検
知して補正値を求め、不揮発メモリ上に補正パラメータ
と温度ランクの情報とを記憶させておき、次に温度検出
手段によって検出された温度の温度ランクが、不揮発メ
モリに記憶されている温度ランクと異なるときは、状態
検知・補正手段によって補正パラメータを検出し、不揮
発メモリ上の補正パラメータと温度ランクの情報とを更
新するようにしている。
憶媒体に対して情報の記録/再生/消去を行うドライブ
部と、このドライブ部をサーボ系によって制御すると共
に、このサーボ系に付与する補正パラメータを検出して
最適な状態に補正する補正機能および補正パラメータの
情報を記憶する不揮発メモリとを有する情報記憶装置に
おいて、最適な状態に補正する補正機能を構成する手段
として、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補
正パラメータ等の補正値を求め、不揮発メモリに記憶さ
れた補正パラメータや温度ランクの情報を補正する状態
検知・補正手段と、ドライブ部の温度を検出する温度検
出手段と、温度検出手段によって検出された温度につい
て、予め複数の温度ランクに分割されたランクと比較し
て検出された温度のランクを判定する温度ランク判定手
段とを備え、不揮発メモリは、補正パラメータと温度ラ
ンクの情報とを記憶するエリアを有しており、最初の初
期化時に、状態検知・補正手段によって現在の状態を検
知して補正値を求め、不揮発メモリ上に補正パラメータ
と温度ランクの情報とを記憶させておき、次に温度検出
手段によって検出された温度の温度ランクが、不揮発メ
モリに記憶されている温度ランクと異なるときは、状態
検知・補正手段によって補正パラメータを検出し、不揮
発メモリ上の補正パラメータと温度ランクの情報とを更
新するようにしている。
【0026】請求項2の発明では、請求項1の情報記憶
装置において、温度ランク判定手段によって、温度ラン
クの変化を検知したとき、上位装置からの命令が完了
し、次の命令を受けるまでのスタンバイ期間の場合は、
直ちに、状態検知・補正手段によって現在の状態を検知
して補正値を求め、不揮発メモリ上の補正パラメータ、
温度ランクを更新し、スタンバイ期間でない場合は、命
令処理を一時中断して、状態検知・補正手段によって現
在の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモリ上の補
正パラメータ、温度ランクを更新した後、残りの命令処
理を行うようにしている。
装置において、温度ランク判定手段によって、温度ラン
クの変化を検知したとき、上位装置からの命令が完了
し、次の命令を受けるまでのスタンバイ期間の場合は、
直ちに、状態検知・補正手段によって現在の状態を検知
して補正値を求め、不揮発メモリ上の補正パラメータ、
温度ランクを更新し、スタンバイ期間でない場合は、命
令処理を一時中断して、状態検知・補正手段によって現
在の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモリ上の補
正パラメータ、温度ランクを更新した後、残りの命令処
理を行うようにしている。
【0027】請求項3の発明では、請求項2の情報記憶
装置において、温度ランク判定手段によって、温度ラン
クの変化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中
の場合には、この命令の終了後、状態検知・補正手段に
よって現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモ
リ上の補正パラメータ、温度ランクを更新するようにし
ている。
装置において、温度ランク判定手段によって、温度ラン
クの変化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中
の場合には、この命令の終了後、状態検知・補正手段に
よって現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモ
リ上の補正パラメータ、温度ランクを更新するようにし
ている。
【0028】請求項4の発明では、請求項3の情報記憶
装置において、上位装置からの命令の実行中に温度ラン
クの変化を検出したとき、その命令の終了後、一定期間
が経過しても次の命令が与えられない場合には、現在の
状態を検知して補正値を求め、不揮発性メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクを更新し、一定期間内に、次の
命令が与えられた場合には、この命令を実行した後に、
現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発性メモリ上
の補正パラメータ、温度ランクを更新するようにしてい
る。
装置において、上位装置からの命令の実行中に温度ラン
クの変化を検出したとき、その命令の終了後、一定期間
が経過しても次の命令が与えられない場合には、現在の
状態を検知して補正値を求め、不揮発性メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクを更新し、一定期間内に、次の
命令が与えられた場合には、この命令を実行した後に、
現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発性メモリ上
の補正パラメータ、温度ランクを更新するようにしてい
る。
【0029】請求項5の発明では、請求項4の情報記憶
装置において、状態検知・補正手段による状態の検知・
補正の実行中に、次の命令がきたときは、その命令を受
け取り、現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発性
メモリ上の補正パラメータ、温度ランクを更新した後、
受け取った次の命令を実行するようにしている。
装置において、状態検知・補正手段による状態の検知・
補正の実行中に、次の命令がきたときは、その命令を受
け取り、現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発性
メモリ上の補正パラメータ、温度ランクを更新した後、
受け取った次の命令を実行するようにしている。
【0030】請求項6の発明では、請求項4の情報記憶
装置において、所定数のスタンバイ期間が経過しても、
状態検知・補正手段による状態の検知・補正が行えない
ときは、次のスタンバイ期間で、上位装置からの命令を
受け取り、現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発
性メモリ上の補正パラメータ、温度ランクを更新した
後、受け取った命令を実行するようにしている。
装置において、所定数のスタンバイ期間が経過しても、
状態検知・補正手段による状態の検知・補正が行えない
ときは、次のスタンバイ期間で、上位装置からの命令を
受け取り、現在の状態を検知して補正値を求め、不揮発
性メモリ上の補正パラメータ、温度ランクを更新した
後、受け取った命令を実行するようにしている。
【0031】請求項7の発明では、請求項1の情報記憶
装置において、温度を定期的にサンプリングし、最新の
サンプルから一定数前までのサンプルの平均値と分散状
態(バラツキ状態)とを求め、その分散状態が一定値以
内のときの平均値を温度ランクに当てはめて、ランクの
変化をチェックするようにしている。
装置において、温度を定期的にサンプリングし、最新の
サンプルから一定数前までのサンプルの平均値と分散状
態(バラツキ状態)とを求め、その分散状態が一定値以
内のときの平均値を温度ランクに当てはめて、ランクの
変化をチェックするようにしている。
【0032】請求項8の発明では、請求項1の情報記憶
装置において、上位装置からの命令によって、一度だけ
状態検知・補正手段による状態の検知・補正を行い、不
揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータの更新
を行うようにしている。
装置において、上位装置からの命令によって、一度だけ
状態検知・補正手段による状態の検知・補正を行い、不
揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータの更新
を行うようにしている。
【0033】請求項9の発明では、請求項1の情報記憶
装置において、上位装置からの命令によって、初期化の
たびに状態検知・補正手段による状態の検知・補正を行
い、不揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータ
の更新を行うようにしている。
装置において、上位装置からの命令によって、初期化の
たびに状態検知・補正手段による状態の検知・補正を行
い、不揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータ
の更新を行うようにしている。
【0034】請求項10の発明では、請求項9の情報記
憶装置において、不揮発性メモリ上に基準となる記憶媒
体に対する補正パラメータを常に記憶させておき、上位
装置からの命令によって、不揮発性メモリ上に記憶され
ている基準となる記憶媒体に対する補正パラメータを読
み出すモードを設定し、上位装置からの命令によって、
不揮発性メモリ上に記憶されている基準となる記憶媒体
に対する補正パラメータを用いてサーボ系を補正するよ
うにしている。
憶装置において、不揮発性メモリ上に基準となる記憶媒
体に対する補正パラメータを常に記憶させておき、上位
装置からの命令によって、不揮発性メモリ上に記憶され
ている基準となる記憶媒体に対する補正パラメータを読
み出すモードを設定し、上位装置からの命令によって、
不揮発性メモリ上に記憶されている基準となる記憶媒体
に対する補正パラメータを用いてサーボ系を補正するよ
うにしている。
【0035】
【作用】この発明では、サーボ系の最適な状態に大きな
影響を与えるのは、周囲の温度である、という点に着目
し、周囲の温度変化が定所値を超えたときは、サーボ系
の補正値を更新することによって、常に最適な状態でサ
ーボ系の制御が行えるようにすると共に、周囲の温度変
化が小さいときは、計測時間を省略することによって、
サーボ系の最適な補正と初期化処理の短縮とを両立させ
ている。そのために、ドライブ部の内部温度を常に監視
すると共に、補正パラメータの設定時の温度の情報も併
せて記憶させておき、温度変化が大きいことを検知した
ときには、補正パラメータを更新する。
影響を与えるのは、周囲の温度である、という点に着目
し、周囲の温度変化が定所値を超えたときは、サーボ系
の補正値を更新することによって、常に最適な状態でサ
ーボ系の制御が行えるようにすると共に、周囲の温度変
化が小さいときは、計測時間を省略することによって、
サーボ系の最適な補正と初期化処理の短縮とを両立させ
ている。そのために、ドライブ部の内部温度を常に監視
すると共に、補正パラメータの設定時の温度の情報も併
せて記憶させておき、温度変化が大きいことを検知した
ときには、補正パラメータを更新する。
【0036】このように、周囲の温度が変ったときの
み、計測(状態の検知・補正)を行うようにすれば、初
期化時間の延長を最小限に抑えることができる。また、
周囲の温度変化が極端に異なる場所へ移動した後にも、
正確な補正値が得られるようにする。この発明の情報記
憶装置は、サーボ系に付与する補正値を常に更新する点
に特徴を有しており、実際のサーボ系に対する補正動作
は、従来と同様に、パワーオン時やリムーバブルな記憶
媒体の交換時などの初期化時に行うが、必要に応じて任
意の時点で行うことも可能である。
み、計測(状態の検知・補正)を行うようにすれば、初
期化時間の延長を最小限に抑えることができる。また、
周囲の温度変化が極端に異なる場所へ移動した後にも、
正確な補正値が得られるようにする。この発明の情報記
憶装置は、サーボ系に付与する補正値を常に更新する点
に特徴を有しており、実際のサーボ系に対する補正動作
は、従来と同様に、パワーオン時やリムーバブルな記憶
媒体の交換時などの初期化時に行うが、必要に応じて任
意の時点で行うことも可能である。
【0037】
【実施例1】この発明の情報処理装置について、図面を
参照しながら、その実施例を詳細に説明する。この第1
の実施例は、主として請求項1の発明に対応している
が、請求項2から請求項10の発明にも関連している。
この第1の実施例は、この出願の基本発明であり、先願
の発明を改良して、ドライブ部の温度が所定値を超えた
とき、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正
パラメータを求める点に特徴を有している。
参照しながら、その実施例を詳細に説明する。この第1
の実施例は、主として請求項1の発明に対応している
が、請求項2から請求項10の発明にも関連している。
この第1の実施例は、この出願の基本発明であり、先願
の発明を改良して、ドライブ部の温度が所定値を超えた
とき、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正
パラメータを求める点に特徴を有している。
【0038】そのために、ドライブ部内の温度を監視す
るための温度検出手段を付加し、この温度検出手段によ
って検出された温度について、予め複数の温度ランクに
分割されたランクと比較して現在の温度の温度ランクを
判定し、判定された温度ランクが、以前に不揮発性メモ
リに記憶させておいた温度ランクと一致するかどうか判
断する。もし、今回判定された温度ランクが不揮発性メ
モリの温度ランクと異なっていれば、現在の温度ランク
に対応する補正パラメータを求め直して、不揮発性メモ
リの補正パラメータと温度ランクとを更新する。このよ
うに、ドライブ部内の温度が所定値を超えたときのみ、
現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正パラメ
ータを求め直すので、サーボ系を常に最適な状態に保つ
ことができる。
るための温度検出手段を付加し、この温度検出手段によ
って検出された温度について、予め複数の温度ランクに
分割されたランクと比較して現在の温度の温度ランクを
判定し、判定された温度ランクが、以前に不揮発性メモ
リに記憶させておいた温度ランクと一致するかどうか判
断する。もし、今回判定された温度ランクが不揮発性メ
モリの温度ランクと異なっていれば、現在の温度ランク
に対応する補正パラメータを求め直して、不揮発性メモ
リの補正パラメータと温度ランクとを更新する。このよ
うに、ドライブ部内の温度が所定値を超えたときのみ、
現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき補正パラメ
ータを求め直すので、サーボ系を常に最適な状態に保つ
ことができる。
【0039】図1は、この発明の情報記憶装置につい
て、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図であ
る。図における符号は図14と同様であり、21はドラ
イブ部2に付加された温度検出部を示す。
て、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図であ
る。図における符号は図14と同様であり、21はドラ
イブ部2に付加された温度検出部を示す。
【0040】この図1に示す情報記憶装置は、ドライブ
部2内に温度検出部21が付加された点、および不揮発
性メモリ32に、新たに温度ランクの情報の格納エリア
(後出の図2の32c)が設けられ、検出された温度の
ランクが異なったとき、すなわち、温度が所定値を超え
たときは、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき
補正パラメータを求め直す点が、先の図14に示した情
報記憶装置と異なっている。この場合の温度ランクは、
例えば、次の図2に示すように予め設定しておき、温度
検出部21によって現在の温度が検出されたときは、そ
の温度がどの温度ランクになるか判定する(図1のCP
U33がソフト的な処理で判定する)。
部2内に温度検出部21が付加された点、および不揮発
性メモリ32に、新たに温度ランクの情報の格納エリア
(後出の図2の32c)が設けられ、検出された温度の
ランクが異なったとき、すなわち、温度が所定値を超え
たときは、現在の状態を検知してサーボ系に付与すべき
補正パラメータを求め直す点が、先の図14に示した情
報記憶装置と異なっている。この場合の温度ランクは、
例えば、次の図2に示すように予め設定しておき、温度
検出部21によって現在の温度が検出されたときは、そ
の温度がどの温度ランクになるか判定する(図1のCP
U33がソフト的な処理で判定する)。
【0041】図2は、この発明の情報記憶装置で使用す
る温度ランクについて、その温度ランクと温度範囲との
対応の一例を示す図である。
る温度ランクについて、その温度ランクと温度範囲との
対応の一例を示す図である。
【0042】この図2に示すように、温度ランクは、例
えば10℃のような一定の温度幅にに分割し、各温度幅
にランク1,ランク2のような温度ランクを付けてお
く。このように、いくつかのランクに分けた温度ランク
の情報を、図1のROM35に格納しておき、システム
の立ち上げ時に読み出して、RAM34に記憶してお
く。この場合の温度ランクの数は、装置や環境に応じて
適切な数を選ぶ。
えば10℃のような一定の温度幅にに分割し、各温度幅
にランク1,ランク2のような温度ランクを付けてお
く。このように、いくつかのランクに分けた温度ランク
の情報を、図1のROM35に格納しておき、システム
の立ち上げ時に読み出して、RAM34に記憶してお
く。この場合の温度ランクの数は、装置や環境に応じて
適切な数を選ぶ。
【0043】図3は、図1の不揮発性メモリ32におけ
るサーボ系の補正用情報について、その格納状態の一例
を示す図である。図における符号は図15と同様であ
り、32cは温度ランクの格納エリアを示す。
るサーボ系の補正用情報について、その格納状態の一例
を示す図である。図における符号は図15と同様であ
り、32cは温度ランクの格納エリアを示す。
【0044】この図3に示すように、図1の不揮発性メ
モリ32には、図15に示したドライブバージョンの格
納エリア32aと、補正パラメータの格納エリア32b
と共に、温度ランクの格納エリア32cが設けられてい
る。図1の情報処理装置では、CPU33が、ドライブ
I/F回路36を介してドライブ部2内に設けられた温
度検出部21から温度の検出値を読み出して、現在の温
度を監視する。そして、図2に示したように、予め設定
された温度ランクと比較し、温度ランクに変化が生じた
かどうかのチェックを行う。
モリ32には、図15に示したドライブバージョンの格
納エリア32aと、補正パラメータの格納エリア32b
と共に、温度ランクの格納エリア32cが設けられてい
る。図1の情報処理装置では、CPU33が、ドライブ
I/F回路36を介してドライブ部2内に設けられた温
度検出部21から温度の検出値を読み出して、現在の温
度を監視する。そして、図2に示したように、予め設定
された温度ランクと比較し、温度ランクに変化が生じた
かどうかのチェックを行う。
【0045】最新の温度ランクの情報は、図1のRAM
34に記憶させておくが、電源が遮断してすぐに復帰す
るような使用形態が想定されるときは、図3に示した不
揮発性メモリ32内の温度ランクの格納エリア32cに
記憶させておく。通常の状態では、ドライブ部2内の温
度変化(温度ランクの変更を必要とする大幅な変化)は
少ない。そのため、温度ランクが変化したことにより、
状態の検知を行う必要があるケースはまれであり、不揮
発性メモリ32に記憶させておけば、その温度ランクに
対応する補正パラメータは、以後も使用することができ
る。
34に記憶させておくが、電源が遮断してすぐに復帰す
るような使用形態が想定されるときは、図3に示した不
揮発性メモリ32内の温度ランクの格納エリア32cに
記憶させておく。通常の状態では、ドライブ部2内の温
度変化(温度ランクの変更を必要とする大幅な変化)は
少ない。そのため、温度ランクが変化したことにより、
状態の検知を行う必要があるケースはまれであり、不揮
発性メモリ32に記憶させておけば、その温度ランクに
対応する補正パラメータは、以後も使用することができ
る。
【0046】図4は、この発明の情報記憶装置におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、#11〜#17はス
テップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、#11〜#17はス
テップを示す。
【0047】通常動作中の所要タイミングで、この温度
チェックのフローがスタートし、ステップ#11で、温
度を計測して、図2に示した温度ランクに基づいて、現
在の温度ランクを判定する。次のステップ#12で、温
度ランクに変化があったかどうか判断する。この温度ラ
ンクの変化の有無の判断は、現在の温度ランクと、先の
図3に示した不揮発性メモリ32内の温度ランクの格納
エリア32cに記憶されている温度ランクの情報とを比
較して行う。温度ランクに変化があったときは、ステッ
プ#13で、図1のRAM34(あるいは不揮発性メモ
リ32)内に、変化発生フラグをセットする。
チェックのフローがスタートし、ステップ#11で、温
度を計測して、図2に示した温度ランクに基づいて、現
在の温度ランクを判定する。次のステップ#12で、温
度ランクに変化があったかどうか判断する。この温度ラ
ンクの変化の有無の判断は、現在の温度ランクと、先の
図3に示した不揮発性メモリ32内の温度ランクの格納
エリア32cに記憶されている温度ランクの情報とを比
較して行う。温度ランクに変化があったときは、ステッ
プ#13で、図1のRAM34(あるいは不揮発性メモ
リ32)内に、変化発生フラグをセットする。
【0048】ステップ#14で、初期化が発生したかど
うか監視する。そして、初期化が発生したときは、ステ
ップ#15で、その初期化動作中で状態の検知・補正を
行い、図3の不揮発性メモリ32内の補正パラメータと
温度ランクを更新する。次のステップ#16で、変化発
生フラグをクリアして、この図4のフローを終了する。
うか監視する。そして、初期化が発生したときは、ステ
ップ#15で、その初期化動作中で状態の検知・補正を
行い、図3の不揮発性メモリ32内の補正パラメータと
温度ランクを更新する。次のステップ#16で、変化発
生フラグをクリアして、この図4のフローを終了する。
【0049】また、先のステップ#12で判断した結
果、温度ランクに変化がないときは、ステップ#17へ
進み、通常の初期化発生時と同様の処理を行って(図1
6に示したフローの処理)、図4のフローを終了する。
以上のステップ#11〜#17の処理によって、先に得
られた不揮発性メモリ32内の補正パラメータと温度ラ
ンクの情報が、常に現在の状態、特に周囲温度に対応し
た最適な補正値で保持あるいは更新されている。したが
って、初期化時に、サーボ系に付与する補正値として、
これらの補正パラメータと温度ランクの情報を読み出せ
ば、常にサーボ系を最適な状態に保つことが可能になる
と共に、初期化の処理時間も短縮される。
果、温度ランクに変化がないときは、ステップ#17へ
進み、通常の初期化発生時と同様の処理を行って(図1
6に示したフローの処理)、図4のフローを終了する。
以上のステップ#11〜#17の処理によって、先に得
られた不揮発性メモリ32内の補正パラメータと温度ラ
ンクの情報が、常に現在の状態、特に周囲温度に対応し
た最適な補正値で保持あるいは更新されている。したが
って、初期化時に、サーボ系に付与する補正値として、
これらの補正パラメータと温度ランクの情報を読み出せ
ば、常にサーボ系を最適な状態に保つことが可能になる
と共に、初期化の処理時間も短縮される。
【0050】
【実施例2】この第2の実施例は、主として請求項2と
請求項3の発明に対応するが、請求項1の発明にも関連
している。第1の実施例では、温度が大幅に変ったとき
(例えば、10℃の幅で設定される温度ランクが変化し
たとき)のみ状態の検知を行うようにして、初期化時間
の延長を最小限に抑えるようにしている。ところが、温
度ランクが変化した状態を検知して、状態の検知・補正
を行っても(補正パラメータを求めておいても)、いつ
まで待っていても、次の初期化が発生しない、というケ
ースも想定される。
請求項3の発明に対応するが、請求項1の発明にも関連
している。第1の実施例では、温度が大幅に変ったとき
(例えば、10℃の幅で設定される温度ランクが変化し
たとき)のみ状態の検知を行うようにして、初期化時間
の延長を最小限に抑えるようにしている。ところが、温
度ランクが変化した状態を検知して、状態の検知・補正
を行っても(補正パラメータを求めておいても)、いつ
まで待っていても、次の初期化が発生しない、というケ
ースも想定される。
【0051】このような場合には、折角、補正パラメー
タを求めても、サーボ系の補正処理を実行することがで
きない。この第2の実施例では、このようなケース、す
なわち、一度初期化した後は、次の初期化を極めてまれ
にしか行わない場合でも、サーボ系の正確な補正が行え
るようにした点に特徴を有している(請求項2の発
明)。
タを求めても、サーボ系の補正処理を実行することがで
きない。この第2の実施例では、このようなケース、す
なわち、一度初期化した後は、次の初期化を極めてまれ
にしか行わない場合でも、サーボ系の正確な補正が行え
るようにした点に特徴を有している(請求項2の発
明)。
【0052】また、別のケースとして、温度ランクの変
化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の場合
に、その命令を中断するとパフォーマンスが低下する、
という問題がある。そこで、実行中の命令の処理が終了
した時点で補正することによって、上位装置からの命令
の実行中でも、その命令を中断せずに、現在の状態に対
応した補正が行えるようにした点に特徴を有している
(請求項3の発明)。
化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の場合
に、その命令を中断するとパフォーマンスが低下する、
という問題がある。そこで、実行中の命令の処理が終了
した時点で補正することによって、上位装置からの命令
の実行中でも、その命令を中断せずに、現在の状態に対
応した補正が行えるようにした点に特徴を有している
(請求項3の発明)。
【0053】ハード構成は、図1から図3と同様であ
り、CPU33が次の図5に示すような制御を行う。こ
の第2の実施例では、スタンバイ期間において、命令処
理の中断中(請求項2の発明)か、命令処理の完了後
(請求項3の発明)に、状態の検知と補正パラメータの
更新処理とを実行する。
り、CPU33が次の図5に示すような制御を行う。こ
の第2の実施例では、スタンバイ期間において、命令処
理の中断中(請求項2の発明)か、命令処理の完了後
(請求項3の発明)に、状態の検知と補正パラメータの
更新処理とを実行する。
【0054】図5は、この発明の第2の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートで、(1) は請求項2の発明、(2) は請求項
3の発明の場合である。図において、ステップ#13と
#16は図4と同様のステップで、#21〜#25は請
求項2の発明のステップ、#26は請求項3の発明のス
テップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートで、(1) は請求項2の発明、(2) は請求項
3の発明の場合である。図において、ステップ#13と
#16は図4と同様のステップで、#21〜#25は請
求項2の発明のステップ、#26は請求項3の発明のス
テップを示す。
【0055】この図5(1) に示したステップ#21〜#
25は、先の図4のフローで、ステップ#14と#15
で行った処理の代りに行い、その他の処理は図4のフロ
ーと同様に行う。図4のフローのステップ#12で、温
度ランクの変化を検出したときは、図5(1) のステップ
#13で、図1のRAM34(あるいは不揮発性メモリ
32)内に、変化発生フラグをセットする。その後、ス
テップ#21へ進み、スタンバイ期間であるかどうか監
視する。
25は、先の図4のフローで、ステップ#14と#15
で行った処理の代りに行い、その他の処理は図4のフロ
ーと同様に行う。図4のフローのステップ#12で、温
度ランクの変化を検出したときは、図5(1) のステップ
#13で、図1のRAM34(あるいは不揮発性メモリ
32)内に、変化発生フラグをセットする。その後、ス
テップ#21へ進み、スタンバイ期間であるかどうか監
視する。
【0056】スタンバイ期間でないときは、ステップ#
25で、実行中の命令処理を中断して、ステップ#22
へ進む(請求項2の発明)。また、先のステップ#21
で判断した結果、スタンバイ期間のときは、ステップ#
22へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発性
メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新す
る。
25で、実行中の命令処理を中断して、ステップ#22
へ進む(請求項2の発明)。また、先のステップ#21
で判断した結果、スタンバイ期間のときは、ステップ#
22へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発性
メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新す
る。
【0057】次のステップ#23で、命令処理があるか
どうか判断する。命令処理がなければ、ステップ#16
へ進み、変化発生フラグをクリアし、また、命令処理が
あれば、ステップ#24で、残りの命令処理を実行し
て、ステップ#16へ進み、変化発生フラグをクリアす
る。以上が、請求項2の発明による状態の検出・補正の
動作であり、一旦初期化を行った後は、ほとんど初期化
を行わないような使用状態の情報処理装置でも、最新の
補正パラメータによってサーボ系を補正することができ
る。
どうか判断する。命令処理がなければ、ステップ#16
へ進み、変化発生フラグをクリアし、また、命令処理が
あれば、ステップ#24で、残りの命令処理を実行し
て、ステップ#16へ進み、変化発生フラグをクリアす
る。以上が、請求項2の発明による状態の検出・補正の
動作であり、一旦初期化を行った後は、ほとんど初期化
を行わないような使用状態の情報処理装置でも、最新の
補正パラメータによってサーボ系を補正することができ
る。
【0058】次に、請求項3の発明について説明する。
図5(2) に示したステップ#26は、先の図5(1) に示
したフローで、ステップ#25の代りに行う処理で、そ
の他の処理は図5(1) と同様に行う。すなわち、図5
(1) のステップ#21で判断した結果、スタンバイ期間
でないときは、ステップ#26へ進み、命令が完了した
かどうか監視する。
図5(2) に示したステップ#26は、先の図5(1) に示
したフローで、ステップ#25の代りに行う処理で、そ
の他の処理は図5(1) と同様に行う。すなわち、図5
(1) のステップ#21で判断した結果、スタンバイ期間
でないときは、ステップ#26へ進み、命令が完了した
かどうか監視する。
【0059】ステップ#26で、命令が完了したことを
検知すると、図5(1) のステップ#22へ進み、以下同
様の処理を行う。以上が、請求項3の発明による状態の
検出・補正の動作であり、上位装置からの命令の処理が
終了した時点で、状態の検出・補正を行う。したがっ
て、上位装置の命令の実行中でも、その命令を中断せず
に、最新の補正パラメータによってサーボ系を補正する
ことが可能となり、パフォーマンスの低下は生じない。
検知すると、図5(1) のステップ#22へ進み、以下同
様の処理を行う。以上が、請求項3の発明による状態の
検出・補正の動作であり、上位装置からの命令の処理が
終了した時点で、状態の検出・補正を行う。したがっ
て、上位装置の命令の実行中でも、その命令を中断せず
に、最新の補正パラメータによってサーボ系を補正する
ことが可能となり、パフォーマンスの低下は生じない。
【0060】
【実施例3】この第3の実施例は、主として請求項4の
発明に対応するが、請求項3の発明と請求項5および請
求項6の発明にも関連している。この第3の実施例は、
先の第2の実施例で説明した請求項3の発明の改良であ
り、先の第2の実施例における状態の検出・補正の動作
を、上位装置からの命令の処理が終了した時点で、しか
も、上位装置が頻繁に連続してアクセスする期間を避け
て実行する点に特徴を有している。
発明に対応するが、請求項3の発明と請求項5および請
求項6の発明にも関連している。この第3の実施例は、
先の第2の実施例で説明した請求項3の発明の改良であ
り、先の第2の実施例における状態の検出・補正の動作
を、上位装置からの命令の処理が終了した時点で、しか
も、上位装置が頻繁に連続してアクセスする期間を避け
て実行する点に特徴を有している。
【0061】先の第2の実施例では、温度ランクの変化
を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の場合、
その命令の終了後に、状態検知・補正手段によって現在
の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクを更新している。しかし、例え
ば上位装置の作動状況によって、スタンバイ期間が短い
ときは、上位装置からの命令の処理が終了した後に、状
態の検知・補正の処理を実行している最中に、上位装置
から次の命令が送られる、というケースが想定される。
を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の場合、
その命令の終了後に、状態検知・補正手段によって現在
の状態を検知して補正値を求め、不揮発メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクを更新している。しかし、例え
ば上位装置の作動状況によって、スタンバイ期間が短い
ときは、上位装置からの命令の処理が終了した後に、状
態の検知・補正の処理を実行している最中に、上位装置
から次の命令が送られる、というケースが想定される。
【0062】このような場合には、前の命令の処理が終
了した時点で、状態の検知・補正を実行しても、その処
理中に次の命令が与えられているので、結果的に、上位
装置からの命令の処理が遅れることになる。そこで、こ
の第3の実施例では、上位装置が頻繁に連続してアクセ
スする期間を避けるようにして、上位装置からの命令の
処理に遅延が生じないようにすると共に、最新の補正パ
ラメータが求められるようにする。
了した時点で、状態の検知・補正を実行しても、その処
理中に次の命令が与えられているので、結果的に、上位
装置からの命令の処理が遅れることになる。そこで、こ
の第3の実施例では、上位装置が頻繁に連続してアクセ
スする期間を避けるようにして、上位装置からの命令の
処理に遅延が生じないようにすると共に、最新の補正パ
ラメータが求められるようにする。
【0063】すなわち、命令の終了後に、所定のスタン
バイ期間を設け、スタンバイ期間が過ぎた時点で、状態
検知・補正手段による補正処理(不揮発メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクの更新)を実行するようにして
いる。ハード構成は、図1から図3と同様であり、CP
U33が次の図6に示すような制御を行う。
バイ期間を設け、スタンバイ期間が過ぎた時点で、状態
検知・補正手段による補正処理(不揮発メモリ上の補正
パラメータ、温度ランクの更新)を実行するようにして
いる。ハード構成は、図1から図3と同様であり、CP
U33が次の図6に示すような制御を行う。
【0064】図6は、この発明の第3の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
16は図4のステップで、#31〜#36は第3の実施
例のステップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
16は図4のステップで、#31〜#36は第3の実施
例のステップを示す。
【0065】この図6に示したステップ#31〜#36
も、先の図4のフローで、ステップ#14と#15で行
った処理の代りに行う(図5の処理と同様)。図4のフ
ローのステップ#12で、温度ランクの変化を検出した
ときは、図6のステップ#13で、図1のRAM34
(あるいは不揮発性メモリ32)内に、変化発生フラグ
をセットする。
も、先の図4のフローで、ステップ#14と#15で行
った処理の代りに行う(図5の処理と同様)。図4のフ
ローのステップ#12で、温度ランクの変化を検出した
ときは、図6のステップ#13で、図1のRAM34
(あるいは不揮発性メモリ32)内に、変化発生フラグ
をセットする。
【0066】その後、ステップ#31へ進み、命令に対
する処理が完了したかどうか監視する。命令の処理が完
了したことを検知すると、ステップ#32へ進み、ウェ
イトタイマをセットする。ステップ#33で、タイムア
ップになったかどうか監視し、タイムアップになるま
で、次のステップ#34で、命令があるかどうかチェッ
クを続ける。
する処理が完了したかどうか監視する。命令の処理が完
了したことを検知すると、ステップ#32へ進み、ウェ
イトタイマをセットする。ステップ#33で、タイムア
ップになったかどうか監視し、タイムアップになるま
で、次のステップ#34で、命令があるかどうかチェッ
クを続ける。
【0067】もし、命令があれば、ステップ#35へ進
み、命令を実行して、再び先のステップ#31へ戻り、
同様の処理を行う。他方、先のステップ#33で、タイ
ムアップになったことを検知したときは、ステップ#3
6へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発性メ
モリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新する。
み、命令を実行して、再び先のステップ#31へ戻り、
同様の処理を行う。他方、先のステップ#33で、タイ
ムアップになったことを検知したときは、ステップ#3
6へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発性メ
モリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新する。
【0068】その後、ステップ#16へ進み、変化発生
フラグをクリアする。以上が、この第3の実施例による
状態の検出・補正の動作である。したがって、スタンバ
イ期間が短い場合で、上位装置からの命令の処理が終了
した後に、次々と命令が与えられるような動作状況(上
位装置が頻繁に連続してアクセスする期間)での状態の
検知・補正の処理の実行が回避され、命令処理に遅延が
生じないと共に、スタンバイ期間の長いとき(上位装置
から命令が与えられない期間)に、サーボ系に与える最
適な補正値が得られる。
フラグをクリアする。以上が、この第3の実施例による
状態の検出・補正の動作である。したがって、スタンバ
イ期間が短い場合で、上位装置からの命令の処理が終了
した後に、次々と命令が与えられるような動作状況(上
位装置が頻繁に連続してアクセスする期間)での状態の
検知・補正の処理の実行が回避され、命令処理に遅延が
生じないと共に、スタンバイ期間の長いとき(上位装置
から命令が与えられない期間)に、サーボ系に与える最
適な補正値が得られる。
【0069】
【実施例4】この第4の実施例は、主として請求項5の
発明に対応するが、請求項4の発明にも関連している。
先の第3の実施例では、上位装置からの命令処理の終了
後、一定期間が経過しても新たな命令が与えられない場
合に、状態検知・補正手段による状態の検知・補正処理
を実行することによって、命令処理を遅延させないよう
にしている。しかし、状態検知・補正手段による状態の
検知・補正の処理の実行中に、上位装置からの命令が与
えられる、という事態も生じる。この場合にも、命令処
理に遅れが生じる虞れがある。
発明に対応するが、請求項4の発明にも関連している。
先の第3の実施例では、上位装置からの命令処理の終了
後、一定期間が経過しても新たな命令が与えられない場
合に、状態検知・補正手段による状態の検知・補正処理
を実行することによって、命令処理を遅延させないよう
にしている。しかし、状態検知・補正手段による状態の
検知・補正の処理の実行中に、上位装置からの命令が与
えられる、という事態も生じる。この場合にも、命令処
理に遅れが生じる虞れがある。
【0070】例えばSCSI・I/F装置のように、複
数装置の双方向インターフェース装置においては、一般
に、命令の送受信後、I/Fバスをフリーにして、他の
タスクが行えるようにしている。このようなインターフ
ェース装置の場合、上位装置から次の命令が与えられる
と、結果的に、命令処理に遅延が生じるので、システム
のパフォーマンスが低下される。この第4の実施例で
は、このようなインターフェース装置の場合には、状態
の検知・補正の処理の実行中に、上位装置から次の命令
がきたときは、その命令を受け取っておき(キューし
て)、実行中の状態の検知・補正の処理が終了した後
に、上位装置から受け取った命令を実行する点に特徴を
有している。したがって、システムのパフォーマンスを
低下させずに済み、同時に、不揮発性メモリ32内の補
正パラメータと温度ランクも更新される。
数装置の双方向インターフェース装置においては、一般
に、命令の送受信後、I/Fバスをフリーにして、他の
タスクが行えるようにしている。このようなインターフ
ェース装置の場合、上位装置から次の命令が与えられる
と、結果的に、命令処理に遅延が生じるので、システム
のパフォーマンスが低下される。この第4の実施例で
は、このようなインターフェース装置の場合には、状態
の検知・補正の処理の実行中に、上位装置から次の命令
がきたときは、その命令を受け取っておき(キューし
て)、実行中の状態の検知・補正の処理が終了した後
に、上位装置から受け取った命令を実行する点に特徴を
有している。したがって、システムのパフォーマンスを
低下させずに済み、同時に、不揮発性メモリ32内の補
正パラメータと温度ランクも更新される。
【0071】ハード構成は、図1から図3と同様であ
り、CPU33が次の図7に示すような制御を行う。詳
しくいえば、先の図6のフローにおいて、ステップ#3
6の処理の実行中に、次の命令を受けた場合、その命令
を受け取って(キューして)おき、現在実行中のステッ
プ#36の処理(状態の検知・補正を行い、図3の不揮
発性メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新
する処理)を続行し、その処理の終了後に、受け取った
命令を実行する。
り、CPU33が次の図7に示すような制御を行う。詳
しくいえば、先の図6のフローにおいて、ステップ#3
6の処理の実行中に、次の命令を受けた場合、その命令
を受け取って(キューして)おき、現在実行中のステッ
プ#36の処理(状態の検知・補正を行い、図3の不揮
発性メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新
する処理)を続行し、その処理の終了後に、受け取った
命令を実行する。
【0072】図7は、この発明の第4の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、#41〜#45はス
テップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、#41〜#45はス
テップを示す。
【0073】この図7には、先の図6のフローチャート
において、ステップ#36の代りに行う処理の流れを示
している。先の図6のフローでは、ステップ#33で、
タイムアップになったことを検知したときは、ステップ
#36へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発
性メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新し
た。図7のフローでは、このステップ#36の代りに、
ステップ#41で、状態の検知・補正の処理を開始し、
次のステップ#42で、次の命令があるかどうか監視す
る。
において、ステップ#36の代りに行う処理の流れを示
している。先の図6のフローでは、ステップ#33で、
タイムアップになったことを検知したときは、ステップ
#36へ進み、状態の検知・補正を行い、図3の不揮発
性メモリ32内の補正パラメータと温度ランクを更新し
た。図7のフローでは、このステップ#36の代りに、
ステップ#41で、状態の検知・補正の処理を開始し、
次のステップ#42で、次の命令があるかどうか監視す
る。
【0074】次の命令があれば、ステップ#43で、そ
の命令を受け取り、ステップ#44で、状態の検知・補
正の処理(不揮発性メモリ32内の補正パラメータと温
度ランクを更新する処理)が終了したかどうか監視す
る。そして、ステップ#44で、状態の検知・補正の処
理が終了したことを検知すると、次のステップ#45
で、その命令を実行する。
の命令を受け取り、ステップ#44で、状態の検知・補
正の処理(不揮発性メモリ32内の補正パラメータと温
度ランクを更新する処理)が終了したかどうか監視す
る。そして、ステップ#44で、状態の検知・補正の処
理が終了したことを検知すると、次のステップ#45
で、その命令を実行する。
【0075】また、先のステップ#44で判断した結
果、状態の検知・補正の処理が終了していなければ、再
び先のステップ#42へ戻り、同様の処理を行う。以上
のように、この第4の実施例では、複数装置の双方向イ
ンターフェース装置のようなインターフェース装置の場
合に、命令をキューする(受け取る)ことにより、シス
テムのパフォーマンスを低下させることなく(命令処理
に遅延を生じることなく)、サーボ系に付与する補正値
を更新することができる。
果、状態の検知・補正の処理が終了していなければ、再
び先のステップ#42へ戻り、同様の処理を行う。以上
のように、この第4の実施例では、複数装置の双方向イ
ンターフェース装置のようなインターフェース装置の場
合に、命令をキューする(受け取る)ことにより、シス
テムのパフォーマンスを低下させることなく(命令処理
に遅延を生じることなく)、サーボ系に付与する補正値
を更新することができる。
【0076】
【実施例5】この第5の実施例は、主として請求項6の
発明に対応するが、請求項4の発明にも関連している。
先に述べた第3の実施例(請求項4の発明)において
は、上位装置からの命令の処理を優先させているので、
温度ランクの変化を検出したときは、上位装置からの命
令の終了後に、所定のスタンバイ期間を設け、スタンバ
イ期間が過ぎた時点で、状態検知・補正手段による補正
処理(不揮発メモリ上の補正パラメータ、温度ランクの
更新)を実行するが、所定数のスタンバイ期間が経過し
ても、状態の検知・補正が行えないときは、次のスタン
バイ期間で、上位装置からの命令を受け取り、状態の検
知・補正の処理を実行した後に、上位装置から受け取っ
た命令を実行する。
発明に対応するが、請求項4の発明にも関連している。
先に述べた第3の実施例(請求項4の発明)において
は、上位装置からの命令の処理を優先させているので、
温度ランクの変化を検出したときは、上位装置からの命
令の終了後に、所定のスタンバイ期間を設け、スタンバ
イ期間が過ぎた時点で、状態検知・補正手段による補正
処理(不揮発メモリ上の補正パラメータ、温度ランクの
更新)を実行するが、所定数のスタンバイ期間が経過し
ても、状態の検知・補正が行えないときは、次のスタン
バイ期間で、上位装置からの命令を受け取り、状態の検
知・補正の処理を実行した後に、上位装置から受け取っ
た命令を実行する。
【0077】この場合に、次々と命令が与えられるよう
な動作状況(上位装置が頻繁に連続してアクセスする期
間)で、スタンバイ期間が短い場合には、状態の検知・
補正の処理が行えない、というケースが想定される。通
常、初期化処理は、パワーオン後や、リムーバブルな記
憶媒体での媒体交換後に実行されるので、このような初
期化処理が長い期間にわたって行われず、連続して次か
ら次に命令が与えられる場合には、サーボ系の補正を行
うタインミグがないケースもある。
な動作状況(上位装置が頻繁に連続してアクセスする期
間)で、スタンバイ期間が短い場合には、状態の検知・
補正の処理が行えない、というケースが想定される。通
常、初期化処理は、パワーオン後や、リムーバブルな記
憶媒体での媒体交換後に実行されるので、このような初
期化処理が長い期間にわたって行われず、連続して次か
ら次に命令が与えられる場合には、サーボ系の補正を行
うタインミグがないケースもある。
【0078】この第5の実施例では、このように、連続
して命令が発行される上位装置に接続された場合や、初
期化処理が長い期間にわたって行われない場合でも、最
新の補正パラメータに更新できるようにしている。その
ために、温度ランクの変化を検出し、先の図6のフロー
において、ステップ#13で、変化発生フラグをセット
した後、所定数のスタンバイ期間が経過しても、状態の
検知・補正が行えない場合に、次のスタンバイ期間で、
上位装置からの命令を受け取り、状態の検知・補正の処
理を実行した後に、受け取った命令を実行する点に特徴
を有している。ハード構成は、図1から図3と同様であ
り、CPU33が次の図8に示すような制御を行う。
して命令が発行される上位装置に接続された場合や、初
期化処理が長い期間にわたって行われない場合でも、最
新の補正パラメータに更新できるようにしている。その
ために、温度ランクの変化を検出し、先の図6のフロー
において、ステップ#13で、変化発生フラグをセット
した後、所定数のスタンバイ期間が経過しても、状態の
検知・補正が行えない場合に、次のスタンバイ期間で、
上位装置からの命令を受け取り、状態の検知・補正の処
理を実行した後に、受け取った命令を実行する点に特徴
を有している。ハード構成は、図1から図3と同様であ
り、CPU33が次の図8に示すような制御を行う。
【0079】図8は、この発明の第5の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
31,#35は図6のステップで、#51〜#56は第
5の実施例によるステップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
31,#35は図6のステップで、#51〜#56は第
5の実施例によるステップを示す。
【0080】この図8には、先の図6のフローチャート
において、ステップ#35に続く処理の流れを示してい
る。また、ステップ#54は、先の図7に示した処理の
フローを実行する処理を示す。図6のフローで、ステッ
プ#35で命令の実行中に、ステップ#51で、命令の
実行回数nをカウントする。次のステップ#52で、命
令の実行回数nが所定回数(例えばN)に達したかどう
か判断する。
において、ステップ#35に続く処理の流れを示してい
る。また、ステップ#54は、先の図7に示した処理の
フローを実行する処理を示す。図6のフローで、ステッ
プ#35で命令の実行中に、ステップ#51で、命令の
実行回数nをカウントする。次のステップ#52で、命
令の実行回数nが所定回数(例えばN)に達したかどう
か判断する。
【0081】所定回数に達したとき(n≧N)は、ステ
ップ#53で、次の命令の実行を中断し、ステップ#5
4で、図7に示した処理(ステップ#36の代りの処
理)を行う。次のステップ#55で、図7に示した処理
が終了したかどうか監視する。図7に示した処理が終了
したことを検知したときは、ステップ#56で、中断さ
せた命令の実行を再開する。
ップ#53で、次の命令の実行を中断し、ステップ#5
4で、図7に示した処理(ステップ#36の代りの処
理)を行う。次のステップ#55で、図7に示した処理
が終了したかどうか監視する。図7に示した処理が終了
したことを検知したときは、ステップ#56で、中断さ
せた命令の実行を再開する。
【0082】この第5の実施例では、所定数のスタンバ
イ期間が経過しても、状態の検知・補正が行えない場合
に、次のスタンバイ期間で、上位装置からの命令を受け
取り、状態の検知・補正の処理を実行した後に、受け取
った命令を実行する。したがって、連続して命令が発行
される上位装置に接続された場合や、長期にわたって初
期化が行われない場合でも、常に最適な状態の補正値を
求めることができる。
イ期間が経過しても、状態の検知・補正が行えない場合
に、次のスタンバイ期間で、上位装置からの命令を受け
取り、状態の検知・補正の処理を実行した後に、受け取
った命令を実行する。したがって、連続して命令が発行
される上位装置に接続された場合や、長期にわたって初
期化が行われない場合でも、常に最適な状態の補正値を
求めることができる。
【0083】
【実施例6】この第6の実施例は、主として請求項7の
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
この第6の実施例では、温度ランクの変化の検出に際し
て、パワーオン時などのような急激な変化があった場合
でも、正確な温度が検出できるようにして、不要な状態
検出や補正が多発することを回避し、必要な時点でのみ
状態検出や補正が行えるようにしている。
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
この第6の実施例では、温度ランクの変化の検出に際し
て、パワーオン時などのような急激な変化があった場合
でも、正確な温度が検出できるようにして、不要な状態
検出や補正が多発することを回避し、必要な時点でのみ
状態検出や補正が行えるようにしている。
【0084】そのために、温度を定期的にサンプリング
して、最新のサンプルから一定数前までのサンプルの平
均値とバラツキ(分散)を求め、バラツキが一定値以内
のときの平均値に基づいて、温度ランクを決定してラン
ク変化のチェックする点に特徴を有している。
して、最新のサンプルから一定数前までのサンプルの平
均値とバラツキ(分散)を求め、バラツキが一定値以内
のときの平均値に基づいて、温度ランクを決定してラン
ク変化のチェックする点に特徴を有している。
【0085】図9は、この発明の情報処理装置におい
て、パワーオン/オフ時などにおける温度の変化状態の
一例を示す図である。図の横軸は時間、縦軸は温度と温
度ランクを示し、斜線部のb,dは温度の急激な変化領
域、a,c,eは温度が安定している領域を示す。
て、パワーオン/オフ時などにおける温度の変化状態の
一例を示す図である。図の横軸は時間、縦軸は温度と温
度ランクを示し、斜線部のb,dは温度の急激な変化領
域、a,c,eは温度が安定している領域を示す。
【0086】この図9に示す斜線部bは、パワーダウン
モード時のように、温度が急激に低下する領域、また、
斜線部dは、パワーアップモード、あるいはパワーオン
リセットのように、温度が急激に上昇する領域である。
この斜線部b,dのように温度が急激に変化する状態
で、状態の検知・補正を行っても正確な補正パラメータ
や温度ランクの情報は得られない。そこで、温度が安定
している領域a,c,eにおいて、状態の検知・補正を
行う。
モード時のように、温度が急激に低下する領域、また、
斜線部dは、パワーアップモード、あるいはパワーオン
リセットのように、温度が急激に上昇する領域である。
この斜線部b,dのように温度が急激に変化する状態
で、状態の検知・補正を行っても正確な補正パラメータ
や温度ランクの情報は得られない。そこで、温度が安定
している領域a,c,eにおいて、状態の検知・補正を
行う。
【0087】図10は、図9に示した温度の変化状態に
おいて、サンプリング時の処理を説明する図である。図
の実線は変化される温度の曲線、黒点はサンプリング時
の温度を示す。
おいて、サンプリング時の処理を説明する図である。図
の実線は変化される温度の曲線、黒点はサンプリング時
の温度を示す。
【0088】この図10に示すように、黒点のタイミン
グで、温度をサンプリングして何個かの温度の値を測定
する。そして、その測定値のバラツキを求め、バラツキ
が一定の範囲内に収まっているとき、その平均値が入っ
ているランク(図2の温度ランク)を、その時点におけ
る温度ランクと決定する。この場合に、バラツキの範囲
を適当な値に設定すれば、図9の領域a,c,eである
かどうかチェックできるので、温度が安定した時点での
温度ランクの判定が可能になる。したがって、パワーオ
ン時のように、温度の変動が大きい時点において、無意
味な状態の検知・補正を多発する不都合が回避され、正
確な補正パラメータや温度ランクの情報を得ることがで
きる。
グで、温度をサンプリングして何個かの温度の値を測定
する。そして、その測定値のバラツキを求め、バラツキ
が一定の範囲内に収まっているとき、その平均値が入っ
ているランク(図2の温度ランク)を、その時点におけ
る温度ランクと決定する。この場合に、バラツキの範囲
を適当な値に設定すれば、図9の領域a,c,eである
かどうかチェックできるので、温度が安定した時点での
温度ランクの判定が可能になる。したがって、パワーオ
ン時のように、温度の変動が大きい時点において、無意
味な状態の検知・補正を多発する不都合が回避され、正
確な補正パラメータや温度ランクの情報を得ることがで
きる。
【0089】
【実施例7】この第7の実施例は、主として請求項8の
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
先の第1の実施例では、装置を温度が安定した環境で使
用する場合である。しかし、設置方法(例えば横方向と
か縦方向、あるいはチルト等)を頻繁に変えて使用する
ような場合には、予め記憶されている補正パラメータが
最適であるとは限らない。そのため、予め不揮発性メモ
リ上に記憶されている補正パラメータが常に最適である
とは限らない。そこで、装置の設置方法を変更した場合
には、上位装置からの命令によって、一度だけ状態検知
・補正手段による状態の検知・補正を行い、不揮発性メ
モリ上に記憶されている補正パラメータを更新する点に
特徴を有している。
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
先の第1の実施例では、装置を温度が安定した環境で使
用する場合である。しかし、設置方法(例えば横方向と
か縦方向、あるいはチルト等)を頻繁に変えて使用する
ような場合には、予め記憶されている補正パラメータが
最適であるとは限らない。そのため、予め不揮発性メモ
リ上に記憶されている補正パラメータが常に最適である
とは限らない。そこで、装置の設置方法を変更した場合
には、上位装置からの命令によって、一度だけ状態検知
・補正手段による状態の検知・補正を行い、不揮発性メ
モリ上に記憶されている補正パラメータを更新する点に
特徴を有している。
【0090】図11は、この発明の第7の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#1〜#7
は図16のステップで、#61〜#63は第7の実施例
のステップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#1〜#7
は図16のステップで、#61〜#63は第7の実施例
のステップを示す。
【0091】先願発明の説明において、図16に示した
初期化時のフローでは、ドライブバージョンが存在して
いるときは、ステップ#3へ進み、RAM34に記憶さ
れたバージョンと同じであるか否か比較した。そして、
両バージョンが同じときは、ステップ#4で、予め不揮
発性メモリ32内の補正パラメータの格納エリア32b
に記憶されている補正パラメータを用いて初期化を行っ
た。この第7の実施例では、ステップ#3で、両バージ
ョンが同じときは、ステップ#61で、上位装置から一
度だけ状態の検出・補正を行う命令を受けたかどうかチ
ェックする。
初期化時のフローでは、ドライブバージョンが存在して
いるときは、ステップ#3へ進み、RAM34に記憶さ
れたバージョンと同じであるか否か比較した。そして、
両バージョンが同じときは、ステップ#4で、予め不揮
発性メモリ32内の補正パラメータの格納エリア32b
に記憶されている補正パラメータを用いて初期化を行っ
た。この第7の実施例では、ステップ#3で、両バージ
ョンが同じときは、ステップ#61で、上位装置から一
度だけ状態の検出・補正を行う命令を受けたかどうかチ
ェックする。
【0092】一度だけ状態の検出・補正を行う命令を受
けたときは、ステップ#62で、上位装置から一度だけ
状態の検出・補正を行う命令を受けたことを示すフラグ
等をセットして、ステップ#5へ進み、以下、状態の検
出・補正と初期化を行う。その後、ステップ#63で、
ステップ#62でセットしたフラグ等をクリアする。ま
た、先のステップ#61で判断した結果、一度だけ状態
の検出・補正を行う命令を受けないときは、ステップ#
4へ進む。その他の処理は、図16と同様である。
けたときは、ステップ#62で、上位装置から一度だけ
状態の検出・補正を行う命令を受けたことを示すフラグ
等をセットして、ステップ#5へ進み、以下、状態の検
出・補正と初期化を行う。その後、ステップ#63で、
ステップ#62でセットしたフラグ等をクリアする。ま
た、先のステップ#61で判断した結果、一度だけ状態
の検出・補正を行う命令を受けないときは、ステップ#
4へ進む。その他の処理は、図16と同様である。
【0093】
【実施例8】この第8の実施例は、主として請求項9の
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
リムーバブルな記憶媒体が使用される装置では、その情
報記憶装置にとって推奨されていない記憶媒体が多種に
わたって使用される場合がある。このように、多種多様
なリムーバブルな記憶媒体を使用する場合、予め記憶さ
れている補正パラメータが最適であるとは限らない。こ
の第8の実施例では、このような特殊な記憶媒体を多用
するケースでも、上位装置の判断によって命令を送るこ
とにより、初期化のたびに状態検知・補正手段による状
態の検知・補正を行い、不揮発性メモリ上に記憶されて
いる補正パラメータの更新を行う点に特徴を有してい
る。
発明に対応するが、請求項1の発明にも関連している。
リムーバブルな記憶媒体が使用される装置では、その情
報記憶装置にとって推奨されていない記憶媒体が多種に
わたって使用される場合がある。このように、多種多様
なリムーバブルな記憶媒体を使用する場合、予め記憶さ
れている補正パラメータが最適であるとは限らない。こ
の第8の実施例では、このような特殊な記憶媒体を多用
するケースでも、上位装置の判断によって命令を送るこ
とにより、初期化のたびに状態検知・補正手段による状
態の検知・補正を行い、不揮発性メモリ上に記憶されて
いる補正パラメータの更新を行う点に特徴を有してい
る。
【0094】図12は、この発明の第8の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#1〜#7
は図16のステップで、#71〜#73は第8の実施例
のステップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#1〜#7
は図16のステップで、#71〜#73は第8の実施例
のステップを示す。
【0095】この第8の実施例では、先の図16のフロ
ーで、ステップ#1の前に、ステップ#71で、上位装
置から、初期化のたびに状態検知・補正手段による状態
の検知・補正を行う命令を受けたかどうかチェックす
る。状態の検出・補正を行う命令を受けたときは、ステ
ップ#72で、上位装置から状態の検出・補正を行う命
令を受けたことを示すフラグ等をセットして、ステップ
#5へ進み、以下、状態の検出・補正と初期化を行う。
その後、ステップ#73で、ステップ#72でセットし
たフラグ等をクリアする。また、先のステップ#71で
判断した結果、状態の検出・補正を行う命令を受けない
ときは、ステップ#1へ進む。その他の処理は、図16
と同様である。
ーで、ステップ#1の前に、ステップ#71で、上位装
置から、初期化のたびに状態検知・補正手段による状態
の検知・補正を行う命令を受けたかどうかチェックす
る。状態の検出・補正を行う命令を受けたときは、ステ
ップ#72で、上位装置から状態の検出・補正を行う命
令を受けたことを示すフラグ等をセットして、ステップ
#5へ進み、以下、状態の検出・補正と初期化を行う。
その後、ステップ#73で、ステップ#72でセットし
たフラグ等をクリアする。また、先のステップ#71で
判断した結果、状態の検出・補正を行う命令を受けない
ときは、ステップ#1へ進む。その他の処理は、図16
と同様である。
【0096】
【実施例9】この第9の実施例は、主として請求項10
の発明に対応するが、請求項9の発明にも関連してい
る。リムーバブルな記憶媒体の場合には、一時的に推奨
されていない記憶媒体を使用しても、以後は、推奨品の
記憶媒体のみを使用する場合、そのたび毎に初期化のた
めのパワーオン等をし直す作業を行うのでは、手間がか
かる。このような場合に備えて、標準となる記憶媒体
(推奨品)に対する補正パラメータについては、常時、
不揮発性メモリ上に記憶させておき、この推奨品に対す
る補正パラメータをサーボ系に付与して補正する初期化
モードを設定することによって、初期化処理を短縮する
(請求項10の発明)。
の発明に対応するが、請求項9の発明にも関連してい
る。リムーバブルな記憶媒体の場合には、一時的に推奨
されていない記憶媒体を使用しても、以後は、推奨品の
記憶媒体のみを使用する場合、そのたび毎に初期化のた
めのパワーオン等をし直す作業を行うのでは、手間がか
かる。このような場合に備えて、標準となる記憶媒体
(推奨品)に対する補正パラメータについては、常時、
不揮発性メモリ上に記憶させておき、この推奨品に対す
る補正パラメータをサーボ系に付与して補正する初期化
モードを設定することによって、初期化処理を短縮する
(請求項10の発明)。
【0097】図13は、この発明の第9の実施例におい
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
16は図16のステップで、#81〜#83は第9の実
施例のステップを示す。
て、補正値の検出時における主要な処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ステップ#13と#
16は図16のステップで、#81〜#83は第9の実
施例のステップを示す。
【0098】この第9の実施例でも、先の図16のフロ
ーで、ステップ#1の前に、ステップ#81で、上位装
置から、予め不揮発性メモリ上に記憶されている(標準
となる記憶媒体に対する)補正パラメータで、初期化時
の補正を行う命令を受けたかどうかチェックする。不揮
発性メモリ上に記憶されている補正パラメータで、初期
化時の補正を行う命令を受けたときは、ステップ#82
で、上位装置から不揮発性メモリ上に記憶されている補
正パラメータで初期化時の補正を行う命令を受けたこと
を示すフラグ等をセットして、ステップ#4へ進み、不
揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータを読み
出して、初期化を行う。
ーで、ステップ#1の前に、ステップ#81で、上位装
置から、予め不揮発性メモリ上に記憶されている(標準
となる記憶媒体に対する)補正パラメータで、初期化時
の補正を行う命令を受けたかどうかチェックする。不揮
発性メモリ上に記憶されている補正パラメータで、初期
化時の補正を行う命令を受けたときは、ステップ#82
で、上位装置から不揮発性メモリ上に記憶されている補
正パラメータで初期化時の補正を行う命令を受けたこと
を示すフラグ等をセットして、ステップ#4へ進み、不
揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータを読み
出して、初期化を行う。
【0099】その後、ステップ#83で、ステップ#8
2でセットしたフラグ等をクリアする。また、先のステ
ップ#81で判断した結果、予め不揮発性メモリ上に記
憶されている補正パラメータで、初期化時の補正を行う
命令を受けないときは、ステップ#1へ進む。その他の
処理は、図16と同様である。
2でセットしたフラグ等をクリアする。また、先のステ
ップ#81で判断した結果、予め不揮発性メモリ上に記
憶されている補正パラメータで、初期化時の補正を行う
命令を受けないときは、ステップ#1へ進む。その他の
処理は、図16と同様である。
【0100】この第9の実施例によれば、上位装置から
不揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータで初
期化時の補正を行う命令を与えるだけで、推奨品に対す
る補正パラメータによるサーボ系の補正が実行される。
したがって、パワーオンをし直さなくても、推奨品の媒
体で一旦初期化を行った後は、初期化を短縮するモー
ド、すなわち、予め記憶されている補正パラメータによ
って補正するモードを設定することによって、初期化の
処理時間を短縮することができる。
不揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータで初
期化時の補正を行う命令を与えるだけで、推奨品に対す
る補正パラメータによるサーボ系の補正が実行される。
したがって、パワーオンをし直さなくても、推奨品の媒
体で一旦初期化を行った後は、初期化を短縮するモー
ド、すなわち、予め記憶されている補正パラメータによ
って補正するモードを設定することによって、初期化の
処理時間を短縮することができる。
【0101】以上の第1から第9の実施例では、サーボ
系に関する補正値の更新を中心に説明した。しかし、こ
の発明の情報処理装置は、サーボ系に限らず、補正を伴
う全ての動作について、その補正パラメータの取得や記
憶等を適用することができることは明らかである。ま
た、図1の不揮発性メモリ32に、ドライブ部2から、
必要な動作モード、内部構成、内部情報などを読み出し
て記憶させておき、その情報に基づいて動作を行うよう
な情報処理装置の場合、不揮発性メモリ32に記憶され
た情報を一度読み出してRAM34は記憶させておけ
ば、そのドライブ部2が変更されない限り、次回からの
読み出し動作を省略することもできる。
系に関する補正値の更新を中心に説明した。しかし、こ
の発明の情報処理装置は、サーボ系に限らず、補正を伴
う全ての動作について、その補正パラメータの取得や記
憶等を適用することができることは明らかである。ま
た、図1の不揮発性メモリ32に、ドライブ部2から、
必要な動作モード、内部構成、内部情報などを読み出し
て記憶させておき、その情報に基づいて動作を行うよう
な情報処理装置の場合、不揮発性メモリ32に記憶され
た情報を一度読み出してRAM34は記憶させておけ
ば、そのドライブ部2が変更されない限り、次回からの
読み出し動作を省略することもできる。
【0102】
【発明の効果】請求項1の情報処理装置では、周囲の温
度が大幅に変ったときのみ、計測(状態の検知・補正)
を行って、サーボ系の補正値を更新している。したがっ
て、サーボ系に与える最適な補正値の保持と、初期化処
理の短縮との両立が可能となり、初期化時間の延長を最
小限に抑えることができる。
度が大幅に変ったときのみ、計測(状態の検知・補正)
を行って、サーボ系の補正値を更新している。したがっ
て、サーボ系に与える最適な補正値の保持と、初期化処
理の短縮との両立が可能となり、初期化時間の延長を最
小限に抑えることができる。
【0103】請求項2の情報処理装置では、初期化を希
にしか行わない場合、補正パラメータを求めても、サー
ボの補正を行うことができない。そこで、温度ランクの
変化を検出したときは、スタンバイ期間でなければ、実
行中の命令処理を中断して、計測(状態の検知・補正)
を行い、サーボ系の補正値を更新する。したがって、常
に、正確な補正情報を保持することができる。
にしか行わない場合、補正パラメータを求めても、サー
ボの補正を行うことができない。そこで、温度ランクの
変化を検出したときは、スタンバイ期間でなければ、実
行中の命令処理を中断して、計測(状態の検知・補正)
を行い、サーボ系の補正値を更新する。したがって、常
に、正確な補正情報を保持することができる。
【0104】請求項3の情報処理装置では、温度ランク
の変化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の
ときは、実行中の命令の処理が終了した時点で補正す
る。したがって、上位装置からの命令の実行中は、その
命令が中断されないので、パフォーマンスが低下するこ
とがない。
の変化を検出したとき、上位装置からの命令の実行中の
ときは、実行中の命令の処理が終了した時点で補正す
る。したがって、上位装置からの命令の実行中は、その
命令が中断されないので、パフォーマンスが低下するこ
とがない。
【0105】請求項4の情報処理装置では、上位装置の
作動状況について、スタンバイ期間が短い場合を想定し
ており、上位装置が頻繁に連続してアクセスする期間を
避けるようにしている。したがって、命令処理に遅延が
生じないようにすると共に、上位装置からの命令の処理
が遅れることがない。
作動状況について、スタンバイ期間が短い場合を想定し
ており、上位装置が頻繁に連続してアクセスする期間を
避けるようにしている。したがって、命令処理に遅延が
生じないようにすると共に、上位装置からの命令の処理
が遅れることがない。
【0106】請求項5の情報処理装置では、状態の検知
と補正を行っている最中に、上位装置から次の命令が与
えられる、という事態を想定し、状態の検知と補正を行
っている途中では、命令をキューする(受け取る)よう
にし、状態の検知と補正の処理が終了した後に、命令を
実行する。したがって、システムのパフォーマンスを低
下させることなく、補正パラメータを求めることができ
る。
と補正を行っている最中に、上位装置から次の命令が与
えられる、という事態を想定し、状態の検知と補正を行
っている途中では、命令をキューする(受け取る)よう
にし、状態の検知と補正の処理が終了した後に、命令を
実行する。したがって、システムのパフォーマンスを低
下させることなく、補正パラメータを求めることができ
る。
【0107】請求項6の情報処理装置では、命令の処理
が連続し、所定の回数を超えた場合には、一旦、命令に
対する処理を中断して、状態の検知と補正の処理を実行
している。したがって、連続して命令が発行される上位
装置に接続された場合でも、補正パラメータを求めるこ
とができる。
が連続し、所定の回数を超えた場合には、一旦、命令に
対する処理を中断して、状態の検知と補正の処理を実行
している。したがって、連続して命令が発行される上位
装置に接続された場合でも、補正パラメータを求めるこ
とができる。
【0108】請求項7の情報処理装置では、パワーオン
時など、急激な温度変化が生じる時点を避けて、温度ラ
ンクの変化を検出している。したがって、急激な変化が
あった場合、不要な状態の検出、補正が多発する等の不
都合がなくなり、安定した状態で、正確な補正パラメー
タを求めることができる。
時など、急激な温度変化が生じる時点を避けて、温度ラ
ンクの変化を検出している。したがって、急激な変化が
あった場合、不要な状態の検出、補正が多発する等の不
都合がなくなり、安定した状態で、正確な補正パラメー
タを求めることができる。
【0109】請求項8の情報処理装置では、設置方法
(例えば横方向とか縦方向、あるいはチルト等)を頻繁
に変えて使用するような場合に、必要に応じて上位装置
から命令を受けることによって、状態の検出、補正を実
行している。したがって、現状に合った補正パラメータ
を求めることができる。
(例えば横方向とか縦方向、あるいはチルト等)を頻繁
に変えて使用するような場合に、必要に応じて上位装置
から命令を受けることによって、状態の検出、補正を実
行している。したがって、現状に合った補正パラメータ
を求めることができる。
【0110】請求項9の情報処理装置では、リムーバブ
ルな記憶媒体を使用する場合に、当該情報記憶装置につ
いては推奨されていない媒体が、多種にわたって使用さ
れるケースを想定し、上位装置の判断によって命令を送
ることにより、状態の検出、補正を実行している。した
がって、リムーバブルな記憶媒体を使用する場合でも、
正確な補正パラメータを求めることができる。
ルな記憶媒体を使用する場合に、当該情報記憶装置につ
いては推奨されていない媒体が、多種にわたって使用さ
れるケースを想定し、上位装置の判断によって命令を送
ることにより、状態の検出、補正を実行している。した
がって、リムーバブルな記憶媒体を使用する場合でも、
正確な補正パラメータを求めることができる。
【0111】請求項10の情報処理装置では、推奨品の
記憶媒体で一旦初期化を行った後は、初期化を短縮する
モード、すなわち、予め記憶されている補正パラメータ
によって補正するモードを設定するようにしている。し
たがって、リムーバブルな記憶媒体を使用する場合に、
推奨品の記憶媒体に交換したときは、初期化の処理時間
を短縮することができる。
記憶媒体で一旦初期化を行った後は、初期化を短縮する
モード、すなわち、予め記憶されている補正パラメータ
によって補正するモードを設定するようにしている。し
たがって、リムーバブルな記憶媒体を使用する場合に、
推奨品の記憶媒体に交換したときは、初期化の処理時間
を短縮することができる。
【図1】この発明の情報記憶装置について、その要部構
成の一実施例を示す機能ブロック図である。
成の一実施例を示す機能ブロック図である。
【図2】この発明の情報記憶装置で使用する温度ランク
について、その温度ランクと温度範囲との対応の一例を
示す図である。
について、その温度ランクと温度範囲との対応の一例を
示す図である。
【図3】図1の不揮発性メモリ32におけるサーボ系の
補正用情報について、その格納状態の一例を示す図であ
る。
補正用情報について、その格納状態の一例を示す図であ
る。
【図4】この発明の情報記憶装置において、補正値の検
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
【図5】この発明の第2の実施例において、補正値の検
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
【図6】この発明の第3の実施例において、補正値の検
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
【図7】この発明の第4の実施例において、補正値の検
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
【図8】この発明の第5の実施例において、補正値の検
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
出時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
【図9】この発明の情報処理装置において、パワーオン
/オフ時などにおける温度の変化状態の一例を示す図で
ある。
/オフ時などにおける温度の変化状態の一例を示す図で
ある。
【図10】図9に示した温度の変化状態において、サン
プリング時の処理を説明する図である。
プリング時の処理を説明する図である。
【図11】この発明の第7の実施例において、補正値の
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
【図12】この発明の第8の実施例において、補正値の
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
【図13】この発明の第9の実施例において、補正値の
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
検出時における主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
【図14】先願発明の情報記憶装置の要部構成を示す機
能ブロック図である。
能ブロック図である。
【図15】図14の不揮発性メモリ32における補正値
の情報について、その格納状態の一例を示す図である。
の情報について、その格納状態の一例を示す図である。
【図16】図14に示した情報記憶装置において、初期
化時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
化時における主要な処理の流れを示すフローチャートで
ある。
1 情報記憶装置 2 ドライブ部 21 温度検出部 3 コントローラ 31 上位装置I/F回路 32 不揮発性メモリ 33 CPU 34 RAM 35 ROM 36 ドライブI/F回路 4 記憶媒体 5 上位装置
Claims (10)
- 【請求項1】 記憶媒体に対して情報の記録/再生/消
去を行うドライブ部と、該ドライブ部をサーボ系によっ
て制御すると共に、該サーボ系に付与する補正パラメー
タを検出して最適な状態に補正する補正機能および前記
補正パラメータの情報を記憶する不揮発メモリとを有す
る情報記憶装置において、 前記最適な状態に補正する補正機能を構成する手段とし
て、現在の状態を検知して前記サーボ系に付与すべき補
正パラメータ等の補正値を求め、前記不揮発メモリに記
憶された補正パラメータや温度ランクの情報を補正する
状態検知・補正手段と、 前記ドライブ部の温度を検出する温度検出手段と、 前記温度検出手段によって検出された温度について、予
め複数の温度ランクに分割されたランクと比較して検出
された温度のランクを判定する温度ランク判定手段とを
備え、 前記不揮発メモリは、前記補正パラメータと前記温度ラ
ンクの情報とを記憶するエリアを有しており、 最初の初期化時に、前記状態検知・補正手段によって現
在の状態を検知して補正値を求め、前記不揮発メモリ上
に補正パラメータと温度ランクの情報とを記憶させてお
き、次に前記温度検出手段によって検出された温度の温
度ランクが、前記不揮発メモリに記憶されている温度ラ
ンクと異なるときは、前記状態検知・補正手段によって
補正パラメータを検出し、前記不揮発メモリ上の補正パ
ラメータと前記温度ランクの情報とを更新することを特
徴とする情報記憶装置。 - 【請求項2】 請求項1の情報記憶装置において、 上記温度ランク判定手段によって、温度ランクの変化を
検知したとき、上位装置からの命令が完了し、次の命令
を受けるまでのスタンバイ期間の場合は、直ちに、上記
状態検知・補正手段によって現在の状態を検知して補正
値を求め、上記不揮発メモリ上の補正パラメータ、温度
ランクを更新し、スタンバイ期間でない場合は、命令処
理を一時中断して、前記状態検知・補正手段によって現
在の状態を検知して補正値を求め、前記不揮発メモリ上
の補正パラメータ、温度ランクを更新した後、残りの命
令処理を行うことを特徴とする情報記憶装置。 - 【請求項3】 請求項2の情報記憶装置において、 上記温度ランク判定手段によって、温度ランクの変化を
検出したとき、上位装置からの命令の実行中の場合に
は、該命令の終了後、上記状態検知・補正手段によって
現在の状態を検知して補正値を求め、上記不揮発メモリ
上の補正パラメータ、温度ランクを更新することを特徴
とする情報記憶装置。 - 【請求項4】 請求項3の情報記憶装置において、 上位装置からの命令の実行中に温度ランクの変化を検出
したとき、該命令の終了後、一定期間が経過しても次の
命令が与えられない場合には、現在の状態を検知して補
正値を求め、上記不揮発性メモリ上の補正パラメータ、
温度ランクを更新し、一定期間内に、次の命令が与えら
れた場合には、該命令を実行した後に、現在の状態を検
知して補正値を求め、上記不揮発性メモリ上の補正パラ
メータ、温度ランクを更新することを特徴とする情報記
憶装置。 - 【請求項5】 請求項4の情報記憶装置において、 上記状態検知・補正手段による状態の検知・補正の実行
中に、次の命令がきたときは、該命令を受け取り、現在
の状態を検知して補正値を求め、上記不揮発性メモリ上
の補正パラメータ、温度ランクを更新した後、前記受け
取った次の命令を実行することを特徴とする情報記憶装
置。 - 【請求項6】 請求項4の情報記憶装置において、 所定数のスタンバイ期間が経過しても、上記状態検知・
補正手段による状態の検知・補正が行えないときは、次
のスタンバイ期間で、上位装置からの命令を受け取り、
現在の状態を検知して補正値を求め、上記不揮発性メモ
リ上の補正パラメータ、温度ランクを更新した後、前記
受け取った命令を実行することを特徴とする情報記憶装
置。 - 【請求項7】 請求項1の情報記憶装置において、 温度を定期的にサンプリングし、最新のサンプルから一
定数前までのサンプルの平均値と分散状態(バラツキ状
態)とを求め、該分散状態が一定値以内のときの平均値
を温度ランクに当てはめて、ランクの変化をチェックす
ることを特徴とする情報記憶装置。 - 【請求項8】 請求項1の情報記憶装置において、 上位装置からの命令によって、一度だけ上記状態検知・
補正手段による状態の検知・補正を行い、上記不揮発性
メモリ上に記憶されている補正パラメータの更新を行う
ことを特徴とする情報記憶装置。 - 【請求項9】 請求項1の情報記憶装置において、 上位装置からの命令によって、初期化のたびに上記状態
検知・補正手段による状態の検知・補正を行い、上記不
揮発性メモリ上に記憶されている補正パラメータの更新
を行うことを特徴とする情報記憶装置。 - 【請求項10】 請求項9の情報記憶装置において、 上記不揮発性メモリ上に基準となる記憶媒体に対する補
正パラメータを常に記憶させておき、上位装置からの命
令によって、前記不揮発性メモリ上に記憶されている基
準となる記憶媒体に対する補正パラメータを読み出すモ
ードを設定し、上位装置からの命令によって、前記不揮
発性メモリ上に記憶されている基準となる記憶媒体に対
する補正パラメータを用いてサーボ系を補正することを
特徴とする情報記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14540995A JPH08315529A (ja) | 1995-05-20 | 1995-05-20 | 情報記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14540995A JPH08315529A (ja) | 1995-05-20 | 1995-05-20 | 情報記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08315529A true JPH08315529A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=15384596
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14540995A Pending JPH08315529A (ja) | 1995-05-20 | 1995-05-20 | 情報記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08315529A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6424476B1 (en) | 1997-06-20 | 2002-07-23 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for controlling read and write operations in a storage device |
KR100429353B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2004-04-29 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 광디스크 장치 |
US6760183B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Servo system with runout compensation for disk drive |
KR100659321B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2006-12-19 | 삼성전자주식회사 | 디스크정보 검출시간을 감소시키는 광디스크재생장치 및그의 디스크정보 검출시간 감소방법 |
US7633705B2 (en) | 2007-12-20 | 2009-12-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and apparatus for determining disk-runout information in a disk drive |
JP2010161525A (ja) * | 2009-01-07 | 2010-07-22 | Opnext Japan Inc | 光伝送モジュール及び状態情報保存方法 |
US7880988B2 (en) | 2007-02-16 | 2011-02-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hard disk drive and associated method for optimizing write parameters |
-
1995
- 1995-05-20 JP JP14540995A patent/JPH08315529A/ja active Pending
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---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
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