JPH11250675A - 記憶装置及び記憶制御方法 - Google Patents

記憶装置及び記憶制御方法

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JPH11250675A
JPH11250675A JP5207998A JP5207998A JPH11250675A JP H11250675 A JPH11250675 A JP H11250675A JP 5207998 A JP5207998 A JP 5207998A JP 5207998 A JP5207998 A JP 5207998A JP H11250675 A JPH11250675 A JP H11250675A
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flash memory
erasing
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JP5207998A
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Yoshiaki Kamuragi
義明 冠木
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Abstract

(57)【要約】 【課題】フラッシュメモリが書き換え寿命に達したか否
かをその消去時間に基づいて検出し、フラッシュメモリ
の書き換え寿命の判定を精度よく行う。 【解決手段】受信部5がホストコンピュータ10よりデ
ータの書込み指示を受信すると、このデータの書込み指
示によりフラッシュメモリ2のセクタ22に対してデー
タ消去が行われる。消去時間計測部3は、フラッシュメ
モリ2の消去処理に要した時間を計測し、MPU1はそ
の計測された消去時間に基づいてフラッシュメモリ2の
書き換え寿命を判定する。例えば、計測された消去時間
が所定の時間を越えている場合に、書き換え寿命に達し
たと判断する。書き換え寿命に達したと判断された後、
受信部5が新たなデータ書込み指示を受信した場合は、
警告発生部4が、例えばLED等を用いてその旨を報知
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、データの記憶装置
及び記憶制御方法に関する。更に詳しくは、記憶媒体と
してフラッシュメモリを使用した記憶装置及びの記憶制
御方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】フラッシュメモリは、不揮発性メモリの
中で、チップ一括またはセクタ(ブロック)単位でデー
タを電気的に消去及び書き込みが可能なメモリである。
フラッシュメモリは、オンボード状態で書き換えが可能
なため、工場における出荷間際までプログラム変更が可
能であること、更にはユーザの手にわたった後でもバグ
修正等のバージョンアップが可能であること、等の利点
により、近年価格の低下と相まってEEPROM、マス
クROMの置き換えとして急激にその需要が拡大してい
る。
【0003】ところで、フラッシュメモリは、EEPR
OMと同様に書き換え回数に制限、つまり書き換え寿命
(以下、単に寿命という)があり、一般には十万回程度
の書き換えが保証されているものが多い。この書き換え
回数を越えないようにするために、特開平05−073
433号では、各ブロック毎にブロックへの書き込み回
数が所定回数に達したか否かを検出する手段を設け、書
き換え回数が所定回数(書き換えが保証されている回
数)に達したブロックに対しては書き込みの禁止を行う
ことが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが上記従来技術
では、フラッシュメモリの各ブロックに対する書き込み
が可能か否かの判断を、各ブロックへの書き込み回数の
みで制限しているため、デバイス毎の寿命のばらつきに
対応することはできない。このため、各デバイス毎の寿
命ぎりぎりまで使用するということができず、まだ書き
換えが可能であるにもかかわらず書き込みが禁止されて
しまうという問題があった。また、逆に、メーカ書き込
み保証回数内で発生するデバイス不良については、これ
を発見することができないという問題があった。
【0005】フラッシュメモリは、装置を動作させるた
めのマイクロプロセッサの制御プログラムを書き込むア
プリケーションが殆どのため、データの破壊による誤動
作、プログラムの暴走等は、装置の信頼性を著しく低下
させてしまう。
【0006】本発明は上記の問題に鑑みてなされたもの
であり、フラッシュメモリが書き換え寿命に達したか否
かの判定を精度よく行える記憶装置及び記憶制御方法を
提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の一態様による記憶装置は例えば以下の構成
を備える。すなわち、データの書込み指示に従ってフラ
ッシュメモリへデータを記憶させる記憶装置であって、
データの書込み指示により前記フラッシュメモリのデー
タ消去を行う消去手段と、前記消去手段による前記フラ
ッシュメモリの消去処理に要した消去時間を計測する計
測手段と、前記計測手段で計測した消去時間に基づいて
前記フラッシュメモリの書き換え寿命を判定する判定手
段とを備える。
【0008】また、上記の目的を達成する本発明の他の
態様である記憶制御方法は例えば以下の工程を備える。
すなわち、データの書込み指示に従ってフラッシュメモ
リへデータを記憶させる記憶制御方法であって、データ
の書込み指示により前記フラッシュメモリのデータ消去
を行う消去工程と、前記消去工程による前記フラッシュ
メモリの消去処理に要した消去時間を計測する計測工程
と、前記計測工程で計測した消去時間に基づいて前記フ
ラッシュメモリの書き換え寿命を判定する判定工程とを
備える。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の好適な実施形態を説明する。
【0010】<第1の実施形態>図1は第1の実施形態
によるデータ記憶装置の構成を示すブロック図である。
図1において、1は当該データ記憶装置における各種制
御を司るMPU(マイクロプロセッサ)である。フラッ
シュメモリ2は、電気的に消去及び書き込みが可能な記
憶素子であり、通常、ある容量毎(例えば64Kバイ
ト)にブロック分けされた多数のセクタで構成されてい
る。消去単位はセクタ毎に一括またはチップ全体で一括
で消去を行った後、書き込みを行う。なお、本例では、
MPU1の制御手順を示すプログラムはフラッシュメモ
リ2に格納されている。
【0011】3はフラッシュメモリ2のセクタ毎の消去
時間を計測する消去時間計測部である。消去時間計測部
3は、フラッシュメモリ2への消去開始信号を検出して
から、フラッシュメモリ2の所定のビット(消去完了を
通知するビット)を監視して消去の完了を検出するまで
の時間を公知のタイマを用いて計測する。4は警告発生
部であり、消去時間計測部3による消去時間の計測結果
が所定値を越えた場合、たとえばLEDランプ等によ
り、フラッシュメモリ書き込み禁止等の警告を発する。
【0012】5は受信部であり、ホストコンピュータ1
0よりのデータ受信を行う。6はRAMであり、受信部
5で受信したデータを一時的に格納したり、MPU1が
各種制御を実行する際のワークエリアを提供する。フラ
ッシュメモリ2に書き込まれるプログラム等のデータ
は、装置外部のホストコンピュータ4からセントロニク
ス、RS232C等公知のインターフェースを介して受
信部5で受信され、一旦RAM6に格納される。
【0013】装置外部から受信したデータをフラッシュ
メモリ2に書き込むプログラム(ローダ)はフラッシュ
メモリ2のセクタ21に書き込まれており、MPU1は
リセット後、このセクタ21からプログラムコードの読
み込みを開始する。従って本実施形態では、フラッシュ
メモリ2におけるデータ書き換えに際しては、このロー
ダが格納されているセクタ21以外のセクタ22を書き
換えることになる。
【0014】図2は、フラッシュメモリ2の書き換え回
数(消去回数)と消去時間との関係を示す図である。図
2のグラフが示すように、フラッシュメモリは、書き換
え回数の増加と共に消去時間も増加し、デバイスの寿命
に近いところでは、急激に消去時間が上昇するという特
徴を有する。つまり、消去時間とデバイスの劣化度とは
密接な関係にあり、本実施形態はこの点に着目してフラ
ッシュメモリの寿命を判断する。
【0015】図3は第1の実施形態のデータ記憶装置に
おけるフラッシュメモリのデータ書き換え時の制御手順
を示すフローチャートである。装置の電源投入後、ステ
ップS1で装置の初期設定を行う。初期設定後、ステッ
プS2で、当該データ記憶装置上の図示しないスイッ
チ、或いはホストコンピュータ10よりの指示信号(コ
マンド)等で書き換えモードか指示されているかどうか
チェックする。書き換えモードでないときは、ステップ
S3にジャンプし、通常の装置の動作を行う。
【0016】一方、ステップS3において書き換えモー
ドであると判定された場合は、ステップS4で警告フラ
グをチェックし、警告フラグがオフの場合には、ステッ
プS5へ進む。ステップS5では、ホストコンピュータ
10からセントロニクス、RS232C等、データ記憶
装置が有しているインターフェース、つまり受信部5を
介してフラッシュメモリ2の書き換えデータを受信し、
受信データをRAM6に転送する。データ転送後、RA
M6に書き込まれたデータをチェックし、受信データが
正常か否かを判定する。このとき受信データにデータ化
け、データ欠落等の不備が発見された場合は、フラッシ
ュメモリ2のデータ書き換えは中止し、ステップS7に
ジャンプして、警告発生部4が当該データ記憶装置外装
に設けられた図示しないLED等でエラー表示を行う。
【0017】ステップS6で受信データが正常であると
判定されれば、フラッシュメモリ2の書き換えモードに
移行する。フラッシュメモリ2の書き換えモードに移行
すると、ステップS8で消去時間計測部8のタイマをス
タートさせた後、フラッシュメモリ2に消去コマンドを
発行し、消去を開始する(ステップS9)。
【0018】本実施形態のフラッシュメモリ2は、デー
タの書き込みを制御するローダと呼ばれるプログラムを
格納するための書き換えを行わないセクタ21と、ホス
トコンピュータ10からのデータにより書き換えを行え
るセクタ22の2セクタ構成とする。従って、ステップ
S9で消去するセクタは、セクタ22である。
【0019】ステップS9でセクタ22の消去開始後、
ステップS10で、フラッシュメモリ2の内部に設けら
れた消去終了フラグをチェックし、消去が終了したら、
ステップS11でタイマをストップする。次にステップ
S12で、タイマのカウント値が規定時間Tを越えてい
るかどうかチェックする。タイマのカウント値、つまり
フラッシュメモリ2のセクタ22の消去時間が規定値T
以下のときは、まだ書き込み可能と判断する。したがっ
て、この場合は、ステップS13でRAM6に格納され
ているデータをフラッシュメモリ2のセクタ22に書き
込み、書き換えモードを終了する。
【0020】一方、ステップS12で消去時間が規定値
を越えていた場合は書き換え回数が寿命に達したと判断
し、次回の書き換えを禁止するためにステップS14で
警告フラグをオンする。その後、ステップS13でRA
M6に格納されているデータをフラッシュメモリ2のセ
クタ22に書き込み、書き換えモードを終了する。
【0021】従って、次回の書込み処理において、警告
フラグがオンの状態でステップS2の書き換えモードに
入ると、ステップS4における警告フラグのチェックで
処理がステップS15に移行し、警告発生部4により装
置外部に設けられたLED等の図示しない表示素子によ
り書き換えができないことをユーザに知らせることがで
きる。
【0022】なお、本実施形態では、フラッシュメモリ
2は、ローダ格納部分のセクタ21と、その他の書き換
え可能なセクタ22の2セクタ構成のものを例とした
が、例えば、64kbyte毎に数ブロック均等分割さ
れたものでも同様に、各セクタ単位で消去時間を測定
し、その中で1ブロックでも規定時間を越えたら、警告
を発生し、次回の書き込みを禁止することができる。更
に、セクタ単位で警告フラグを設ければ、セクタ単位で
書き込みの禁止を行うように構成することも可能であろ
う。
【0023】[第2の実施形態]第1の実施形態では消
去時間が所定の規定時間Tを越えたか否かでフラッシュ
メモリの寿命を判定した。しかしながら、この手法で
は、図2に示す特性曲線が全体的に上下するようなばら
つきによって、寿命の判定にばらつきが生じることにな
る。第2の実施形態ではこのような問題を克服するため
に図2に示すような消去時間の変化量に基づいて寿命判
断を行う。なお、データ記憶装置の構成等は第1の実施
形態と同様である。
【0024】図4は、第2の実施形態によるフラッシュ
メモリへのデータ書き換え制御手順を示すフローチャー
トである。第2の実施形態は第1の実施形態と異なり、
規定時間以上の消去時間でフラッシュメモリの寿命を判
断し、警告を発生するのではなく、前回の消去時間と今
回の消去時間の差(今後、ΔTと称す)をとり、ΔTが
規定時間以上のとき、フラッシュメモリの寿命と判断し
て警告を発生するものである。すなわち、図2に示すよ
うに寿命ぎりぎりでは消去時間が急激に増加する点に着
目し、前回の消去時間との差分値に基づいてフラッシュ
メモリの寿命を判定するものである。
【0025】図4において、電源オンしてから、フラッ
シュメモリ2のセクタ21の消去時間を計測するまでの
処理(ステップS1〜ステップS11)は、図3のフロ
ーチャートと同様なので説明は省略する。ただし、本例
では前回の消去時間T1をフラッシュメモリに記憶する
構成をとるので、フラッシュメモリの消去を開始する前
に前回の測定時間T1を取り込んでおく必要がある。本
例では、ステップS8のタイマスタートに先立って、フ
ラッシュメモリから前回の測定時間T1を取り込む(ス
テップS20)。
【0026】さて、ステップS11でセクタ22の消去
時間が測定されたら、ステップS21で今回の測定時間
(T2)と前回の測定時間(T1)との差(ΔT)、つ
まり消去時間の増加値を求める。次に、ステップS22
で、今回の計測値をT1に代入する。このT1の値は、
後のステップS13でフラッシュメモリ2(セクタ2
2)の一領域に他のデータとともに書き込む。また、フ
ラッシュメモリ2に書き込むのではなく、EEPROM
等他の不揮発性ROMに書き込んでもよい。フラッシュ
メモリにT1を書込まない場合は、T1を読み込む処理
のタイミングがフラッシュメモリの消去前に限定されな
くなることはいうまでもない。
【0027】ステップS23でΔTを規定値Tと比較
し、規定値T以下のときには、まだ書き込み可能と判断
し、ステップS13でRAM6に格納されているデータ
をフラッシュメモリ2のセクタ22に書き込み、書換モ
ードを終了する。一方、ステップS23で消去時間の増
加値ΔTが規定値Tを越えていた場合は、書き換え回数
が寿命に達したと判断し、次回の書き換えを禁止するた
めに、ステップS14にジャンプして警告フラグをオン
した後、ステップS13でデータを書き込み、当該書き
換えモードを終了する。従って、警告フラグがオンの状
態でステップS2の書き換えモードに入ると、ステップ
S4で警告フラグのチェックでS15にジャンプして、
警告発生部4により、装置外部に設けられたLED等の
図示しない表示素子により、書き換えができないことを
ユーザに知らせることができる。
【0028】以上のように第2の実施形態によれば、図
2で示したようなフラッシュメモリの消去時間の急激な
増加を検出することで寿命の判断を行うため、より確実
な寿命判定をすることが可能となる。
【0029】なお、第2の実施形態においても、フラッ
シュメモリ2は、ローダ格納部分のセクタ21と、その
他の書き換え可能なセクタ22の2セクタ構成のものを
例としたが、例えば、64kbyteごとに数ブロック
均等分割されたものでも同様に、各セクタ単位で消去時
間の増加量ΔTを測定し、その中で1ブロックでもΔT
が規定時間を越えたら、警告を発生し、次回の書き込み
をプロテクトするように構成することができる。更に、
セクタ単位で測定時間T1、警告フラグを格納するよう
にすれば、セクタ単位で書き込みの禁止を行うように構
成することも可能であろう。
【0030】また、上記各実施形態では、警告発生部4
はLED表示器等を点灯することで警告を発するとした
が、警告の旨の信号をホストコンピュータへ送信するよ
うに構成してもよい。
【0031】以上説明したように、上記の各実施形態に
よれば、外部(ホストコンピュータ)から受信したデー
タを記憶するフラッシュメモリを有するデータ記憶装置
において、フラッシュメモリのデータを消去するのに要
した時間を測定し、この測定結果に基づいてフラッシュ
メモリの寿命を判定するので、フラッシュメモリの寿命
のばらつきに応じて、寿命一杯までフラッシュメモリを
利用できるようになる。また、メーカ書き込み保証回数
内で発生するデバイス不良も発見できるため、装置やシ
ステムの信頼性を飛躍的に向上することが可能となる。
特に、書き換え回数を100回程度に限定した低コスト
のフラッシュメモリが登場する可能性が高い今、信頼性
を確保しつつ書き換え回数を可能な限り増大させ得る上
記手法は極めて効果的である。
【0032】なお、本発明は、複数の機器(例えばホス
トコンピュータ,インタフェイス機器,リーダ,プリン
タなど)から構成されるシステムに適用しても、一つの
機器からなる装置(例えば、複写機,ファクシミリ装置
など)に適用してもよい。
【0033】また、本発明の目的は、前述した実施形態
の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記
録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そ
のシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPU
やMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを
読出し実行することによっても、達成されることは言う
までもない。
【0034】この場合、記憶媒体から読出されたプログ
ラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現するこ
とになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は
本発明を構成することになる。
【0035】プログラムコードを供給するための記憶媒
体としては、例えば、フロッピディスク,ハードディス
ク,光ディスク,光磁気ディスク,CD−ROM,CD
−R,磁気テープ,不揮発性のメモリカード,ROMな
どを用いることができる。
【0036】また、コンピュータが読出したプログラム
コードを実行することにより、前述した実施形態の機能
が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示
に基づき、コンピュータ上で稼働しているOS(オペレ
ーティングシステム)などが実際の処理の一部または全
部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が
実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【0037】さらに、記憶媒体から読出されたプログラ
ムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボード
やコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わる
メモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に
基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わ
るCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、そ
の処理によって前述した実施形態の機能が実現される場
合も含まれることは言うまでもない。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、フ
ラッシュメモリが書き換え寿命に達したか否かをその消
去時間に基づいて検出するので、フラッシュメモリの書
き換え寿命の判定を精度よく行える。このため、フラッ
シュメモリを、個々の書き換え寿命のばらつきに応じ
て、寿命ぎりぎりまで友好にフラッシュメモリを利用す
ることができる。また、フラッシュメモリの書き換えが
保証範囲内で不能となってしまうような場合でも、確実
にその寿命を判断することができ、フラッシュメモリの
故障によるシステムの信頼性低下を未然に防止できる。
【0039】
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態によるデータ記憶装置の構成を
示すブロック図である。
【図2】フラッシュメモリの書き換え回数(消去回数)
と消去時間との関係を示す図である。
【図3】第1の実施形態のデータ記憶装置におけるフラ
ッシュメモリのデータ書き換え時の制御手順を示すフロ
ーチャートである。
【図4】第2の実施形態によるフラッシュメモリへのデ
ータ書き換え制御手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 MPU 2 フラッシュメモリ 3 消去時間計測部 5 受信部 7 警告発生部

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データの書込み指示に従ってフラッシュ
    メモリへデータを記憶させる記憶装置であって、 データの書込み指示により前記フラッシュメモリのデー
    タ消去を行う消去手段と、 前記消去手段による前記フラッシュメモリの消去処理に
    要した消去時間を計測する計測手段と、 前記計測手段で計測した消去時間に基づいて前記フラッ
    シュメモリの書き換え寿命を判定する判定手段とを備え
    ることを特徴とする記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記判定手段で前記フラッシュメモリが
    書き換え寿命に達したと判定された場合、次回からのデ
    ータ書き込みを禁止する禁止手段を更に備えることを特
    徴とする請求項1に記載の記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記判定手段で前記フラッシュメモリが
    書き換え寿命に達したと判定された場合、その旨を報知
    する報知手段を更に備えることを特徴とする請求項1に
    記載の記憶装置。
  4. 【請求項4】 前期報知手段は、前記判定手段で前記フ
    ラッシュメモリが書き換え寿命に達したと判定された後
    に、該フラッシュメモリへの新たなデータ書込み指示が
    発生した場合に、書き換え寿命に達した旨を報知するこ
    とを特徴とする請求項3に記載の記憶装置。
  5. 【請求項5】 前記データの書込み指示を外部装置より
    受信する受信手段を更に備えることを特徴とする請求項
    1に記載の記憶装置。
  6. 【請求項6】 前記判定手段は、前記計測手段で計測し
    た消去時間が所定の閾値を越えた場合に、前記フラッシ
    ュメモリが書き換え寿命に達したと判定することを特徴
    とする請求項1に記載の記憶装置。
  7. 【請求項7】 前記判定手段は、前記計測手段で計測し
    た消去時間と前回のデータ書込み時における消去時間と
    の差が所定値を越えた場合に、前記フラッシュメモリが
    書き換え寿命に達したと判定することを特徴とする請求
    項1に記載の記憶装置。
  8. 【請求項8】 前回のデータ書込み時における消去時間
    が前記フラッシュメモリに記憶されることを特徴とする
    請求項7に記載の記憶装置。
  9. 【請求項9】 前記計測手段は、前記フラッシュメモリ
    の一括消去範囲であるセクタ毎に消去処理に要した消去
    時間を計測し、前記判定手段は、前記計測手段で計測し
    た消去時間に基づいて前記フラッシュメモリの書き換え
    寿命を前記セクタ毎に判定することを特徴とする請求項
    1に記載の記憶装置。
  10. 【請求項10】 前記判定手段は、前記セクタのうち一
    つでも寿命に達したものがあれば、当該フラッシュメモ
    リが書き換え寿命に達したと判定することを特徴とする
    請求項9に記載の記憶装置。
  11. 【請求項11】 データの書込み指示に従ってフラッシ
    ュメモリへデータを記憶させる記憶制御方法であって、 データの書込み指示により前記フラッシュメモリのデー
    タ消去を行う消去工程と、 前記消去工程による前記フラッシュメモリの消去処理に
    要した消去時間を計測する計測工程と、 前記計測工程で計測した消去時間に基づいて前記フラッ
    シュメモリの書き換え寿命を判定する判定工程とを備え
    ることを特徴とする記憶制御方法。
  12. 【請求項12】 前記判定工程で前記フラッシュメモリ
    が書き換え寿命に達したと判定された場合、次回からの
    データ書き込みを禁止する禁止工程を更に備えることを
    特徴とする請求項11に記載の記憶制御方法。
  13. 【請求項13】 前記判定工程で前記フラッシュメモリ
    が書き換え寿命に達したと判定された場合、その旨を報
    知する報知工程を更に備えることを特徴とする請求項1
    1に記載の記憶制御方法。
  14. 【請求項14】 前期報知工程は、前記判定工程で前記
    フラッシュメモリが書き換え寿命に達したと判定された
    後に、該フラッシュメモリへの新たなデータ書込み指示
    が発生した場合に、書き換え寿命に達した旨を報知する
    ことを特徴とする請求項13に記載の記憶制御方法。
  15. 【請求項15】 前記データの書込み指示を外部装置よ
    り受信する受信工程を更に備えることを特徴とする請求
    項11に記載の記憶制御方法。
  16. 【請求項16】 前記判定工程は、前記計測工程で計測
    した消去時間が所定の閾値を越えた場合に、前記フラッ
    シュメモリが書き換え寿命に達したと判定することを特
    徴とする請求項11に記載の記憶制御方法。
  17. 【請求項17】 前記判定工程は、前記計測工程で計測
    した消去時間と前回のデータ書込み時における消去時間
    との差が所定値を越えた場合に、前記フラッシュメモリ
    が書き換え寿命に達したと判定することを特徴とする請
    求項11に記載の記憶制御方法。
  18. 【請求項18】 前回のデータ書込み時における消去時
    間が前記フラッシュメモリに記憶されることを特徴とす
    る請求項17に記載の記憶制御方法。
  19. 【請求項19】 前記計測工程は、前記フラッシュメモ
    リの一括消去範囲であるセクタ毎に消去処理に要した消
    去時間を計測し、 前記判定工程は、前記計測工程で計測した消去時間に基
    づいて前記フラッシュメモリの書き換え寿命を前記セク
    タ毎に判定することを特徴とする請求項11に記載の記
    憶制御方法。
  20. 【請求項20】 前記判定工程は、前記セクタのうち一
    つでも寿命に達したものがあれば、当該フラッシュメモ
    リが書き換え寿命に達したと判定することを特徴とする
    請求項19に記載の記憶制御方法。
  21. 【請求項21】 データの書込み指示に従ってフラッシ
    ュメモリへデータを記憶させるための制御プログラムを
    格納する記憶媒体であって、 データの書込み指示により前記フラッシュメモリのデー
    タ消去を行う消去工程のコードと、 前記消去工程による前記フラッシュメモリの消去処理に
    要した消去時間を計測する計測工程のコードと、 前記計測工程で計測した消去時間に基づいて前記フラッ
    シュメモリの書き換え寿命を判定する判定工程のコード
    とを備えることを特徴とする記憶媒体。
JP5207998A 1998-03-04 1998-03-04 記憶装置及び記憶制御方法 Withdrawn JPH11250675A (ja)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2415326A1 (fr) * 1978-01-19 1979-08-17 Schoeller F Jun Gmbh Co Kg Matiere d'enregistrement electrostatique sur base de papier
US6925407B2 (en) * 1999-07-12 2005-08-02 Micron Technology, Inc. Controller with interface attachment
US7836244B2 (en) 2006-11-02 2010-11-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of providing block state information in semiconductor memory device including flash memory
JP2012022618A (ja) * 2010-07-16 2012-02-02 Hitachi Ltd フラッシュメモリ劣化判定装置およびフラッシュメモリの劣化判定方法
US8605504B2 (en) 2010-02-10 2013-12-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system
JP2014155979A (ja) * 2013-02-15 2014-08-28 Makita Corp 電動工具用装置
US8904088B2 (en) 2008-09-30 2014-12-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of managing a solid state drive, associated systems and implementations
CN116880747A (zh) * 2023-06-13 2023-10-13 珠海妙存科技有限公司 闪存磨损程度判断方法和系统、电子设备

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2415326A1 (fr) * 1978-01-19 1979-08-17 Schoeller F Jun Gmbh Co Kg Matiere d'enregistrement electrostatique sur base de papier
US6925407B2 (en) * 1999-07-12 2005-08-02 Micron Technology, Inc. Controller with interface attachment
US7209794B2 (en) 1999-07-12 2007-04-24 Micron Technology, Inc. Controller with interface attachment
US7836244B2 (en) 2006-11-02 2010-11-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of providing block state information in semiconductor memory device including flash memory
US8904088B2 (en) 2008-09-30 2014-12-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of managing a solid state drive, associated systems and implementations
US9542199B2 (en) 2008-09-30 2017-01-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of managing a solid state drive, associated systems and implementations
US9348699B2 (en) 2010-02-10 2016-05-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system
US9053016B2 (en) 2010-02-10 2015-06-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system
US8605504B2 (en) 2010-02-10 2013-12-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system
US9569111B2 (en) 2010-02-10 2017-02-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system
US10073624B2 (en) 2010-02-10 2018-09-11 Toshiba Memory Corporation Memory system
US10606481B2 (en) 2010-02-10 2020-03-31 Toshiba Memory Corporation Memory system
JP2012022618A (ja) * 2010-07-16 2012-02-02 Hitachi Ltd フラッシュメモリ劣化判定装置およびフラッシュメモリの劣化判定方法
JP2014155979A (ja) * 2013-02-15 2014-08-28 Makita Corp 電動工具用装置
CN116880747A (zh) * 2023-06-13 2023-10-13 珠海妙存科技有限公司 闪存磨损程度判断方法和系统、电子设备

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