JP2008204601A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008204601A5 JP2008204601A5 JP2008034987A JP2008034987A JP2008204601A5 JP 2008204601 A5 JP2008204601 A5 JP 2008204601A5 JP 2008034987 A JP2008034987 A JP 2008034987A JP 2008034987 A JP2008034987 A JP 2008034987A JP 2008204601 A5 JP2008204601 A5 JP 2008204601A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- track
- recording
- adjacent
- error rate
- bit error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 5
- 230000003247 decreasing Effects 0.000 claims 1
Claims (14)
- ディスク上での記録に関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階と、
選択された前記パラメータに対する何れか一つの値を設定する段階と、
前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第1ビットエラー率を得る段階と、
前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第2ビットエラー率を得る段階と、
前記第1ビットエラー率と前記第2ビットエラー率とを比べる段階と、
前記第2ビットエラー率と前記第1ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定する段階と、を含むことを特徴とするハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。 - 前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階は、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュートの大きさと関連していることを特徴とする請求項1に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- 前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第2ビットエラー率を得る段階は、
前記ディスク周辺の温度を測定する段階と、
測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記測定されたディスク温度に対応する隣接トラック記録回数を得る段階と、
前記テーブルから得られた前記隣接トラック記録回数だけ前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録する段階と、を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。 - 温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルは、温度に対応する隣接トラック記録回数をテーブル化して得たことを特徴とする請求項3に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- 前記隣接トラック記録回数は、臨界値と関連して対応する温度で前記ディスク上の何れかのトラックのビットエラー率を有する前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を、隣接トラック記録回数に設定することでテーブル化することを特徴とする請求項4に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- 前記テストトラックに対する少なくとも一つの隣接トラックは、前記テストトラックの何れか一側に位置した二つのトラックから選択されることを特徴とする請求項3から5のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- 前記ディスク周辺の温度は、前記ディスク周辺に設けられたサーミスタを介して測定されることを特徴とする請求項3から6のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- 前記第1ビットエラー率と前記第2ビットエラー率との差が既定の臨界値より大きい場合、選択された前記パラメータの値を一定量だけ減少させて第1ビットエラー率及び第2ビットエラー率を獲得する段階をさらに含むことを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
- データを保存するディスクと、
前記ディスク周辺に設けられて温度を獲得するサーミスタと、
前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第1ビットエラー率を得て、前記サーミスタによって測定された前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第2ビットエラー率を得た後、前記第2ビットエラー率と前記第1ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定するコントローラと、を含むことを特徴とするハードディスクドライブ。 - 前記コントローラは、
最適化対象の前記パラメータを一つ選択する時に、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュート大きさのうち何れか一つを選択することを特徴とする請求項9に記載のハードディスクドライブ。 - 前記コントローラは、
前記測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記サーミスタによって提供される前記測定された温度に対応する隣接トラック記録回数を得て、前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに前記隣接トラック記録回数だけ反復して任意のデータを記録して前記テストトラックの前記第2ビットエラー率を得ることを特徴とする請求項9または10に記載のハードディスクドライブ。 - 前記テーブルは、該当の温度で何れか一つのトラックに対するビットエラー率を既定の臨界値に到達させる前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を隣接トラック記録回数に設定して該当の温度別にテーブル化したことを特徴とする請求項11に記載のハードディスクドライブ。
- 前記隣接トラックは、二つのトラックであることを特徴とする請求項12に記載のハードディスクドライブ。
- 前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックは、前記テストトラックに最も近く隣接した二つのトラックであることを特徴とする請求項11から13のいずれかに記載のハードディスクドライブ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070016486A KR100871647B1 (ko) | 2007-02-16 | 2007-02-16 | 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 기록파라미터를 최적화하는 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터프로그램을 기록한 기록 매체 |
KR10-2007-0016486 | 2007-02-16 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008204601A JP2008204601A (ja) | 2008-09-04 |
JP2008204601A5 true JP2008204601A5 (ja) | 2011-08-04 |
JP5096185B2 JP5096185B2 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=39706431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008034987A Expired - Fee Related JP5096185B2 (ja) | 2007-02-16 | 2008-02-15 | ハードディスクドライブ及びハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7880988B2 (ja) |
JP (1) | JP5096185B2 (ja) |
KR (1) | KR100871647B1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100855981B1 (ko) * | 2007-02-16 | 2008-09-02 | 삼성전자주식회사 | 각각의 헤드들에 대하여 기록 팩터를 별도로 설정하는디스크 드라이브의 기록 팩터 설정 방법 및 디스크드라이브 |
US20100134911A1 (en) * | 2008-12-02 | 2010-06-03 | Jin Zhen | Multi-parameter optimization of write head performance using adaptive response surface |
JP5264630B2 (ja) * | 2009-06-23 | 2013-08-14 | エイチジーエスティーネザーランドビーブイ | 磁気ディスク・ドライブ及びそのデータの書き直し方法 |
US8331053B2 (en) * | 2009-09-25 | 2012-12-11 | Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. | Systems and methods for adjacent track interference (ATI) risk management |
US8537480B1 (en) * | 2010-11-23 | 2013-09-17 | Western Digital Technologies, Inc. | Hard drive testing |
US20120191701A1 (en) | 2011-01-26 | 2012-07-26 | International Business Machines Corporation | Database index profile based weights for cost computation |
US8711499B1 (en) * | 2011-03-10 | 2014-04-29 | WD Media, LLC | Methods for measuring media performance associated with adjacent track interference |
US9152568B1 (en) | 2011-12-05 | 2015-10-06 | Seagate Technology Llc | Environmental-based device operation |
US8773788B2 (en) * | 2012-07-10 | 2014-07-08 | Lsi Corporation | Systems and methods for hardware assisted write pre-compensation enhancement |
US8908305B1 (en) | 2014-07-29 | 2014-12-09 | Lsi Corporation | Systems and methods for slider head stability determination |
US9099155B1 (en) | 2014-07-31 | 2015-08-04 | Seagate Technology Llc | Adaptive mitigation of adjacent track interference (ATI) on a recording medium |
US9478248B2 (en) * | 2014-08-22 | 2016-10-25 | Seagate Technology Llc | Adaptive HAMR laser power data storage device |
JP2019029047A (ja) | 2017-08-01 | 2019-02-21 | 株式会社東芝 | 磁気記録装置および記録電流制御装置 |
JP2019117675A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及びリフレッシュ処理方法 |
JP2019160381A (ja) * | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 株式会社東芝 | ディスク装置、プリアンプ、及び制御方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5761212A (en) * | 1993-07-01 | 1998-06-02 | Cirrus Logic, Inc. | Channel quality |
JPH08315529A (ja) | 1995-05-20 | 1996-11-29 | Ricoh Co Ltd | 情報記憶装置 |
DE19882463T1 (de) | 1997-06-13 | 2000-07-06 | Seagate Technology | Temperaturabhängige Plattenlaufwerk-Parameterkonfiguration |
JPH11250409A (ja) * | 1998-02-27 | 1999-09-17 | Toshiba Corp | ライト電流値設定方法及びライト電流値の情報が登録されたディスク装置 |
JP4272279B2 (ja) * | 1998-09-28 | 2009-06-03 | パナソニック株式会社 | 光学的情報記録装置、光学的情報記録媒体および光学的情報記録方法 |
WO2000057408A1 (fr) * | 1999-03-19 | 2000-09-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede d'enregistrement optique d'informations et dispositif a cet effet |
US7212361B1 (en) * | 2000-12-20 | 2007-05-01 | Maxtor Corporation | Disk drive with temperature compensation of write current |
US7126778B2 (en) | 2001-02-06 | 2006-10-24 | International Business Machines Corporation | Process of dynamically adjusting the operating parameters of a computer storage device according to environmental conditions |
US6975468B1 (en) * | 2001-02-16 | 2005-12-13 | Maxtor Corporation | Method to accurately predict hard error rates resulting from encroachment |
US6839193B2 (en) * | 2001-08-06 | 2005-01-04 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for determining read-to-write head offset of a disk drive |
US6696832B2 (en) * | 2002-04-02 | 2004-02-24 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for testing transducer heads in magnetic storage systems |
KR100468778B1 (ko) * | 2002-12-13 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 기록 전류 최적화 방법 및 기록밀도 설정 방법 |
KR100555519B1 (ko) * | 2003-09-17 | 2006-03-03 | 삼성전자주식회사 | 자기 헤드의 쓰기 특성 최적화 방법 및 정의 방법 |
KR100585103B1 (ko) * | 2003-10-08 | 2006-06-01 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 헤드 종류 판별 방법 및 이를이용한 기록 파라메터 최적화 방법 |
KR100594250B1 (ko) * | 2004-02-16 | 2006-06-30 | 삼성전자주식회사 | 인접 트랙 지움에 대비한 데이터 기록 방법 및 이제 적합한 프로그램이 기록된 기록 매체 |
KR100618867B1 (ko) * | 2004-10-05 | 2006-08-31 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 기록 파라메터 보정값 산출 방법및 이에 적합한 기록매체 |
US20090010643A1 (en) * | 2007-07-06 | 2009-01-08 | Delew David A | Method and apparatus for identifying faults in a passive optical network |
-
2007
- 2007-02-16 KR KR1020070016486A patent/KR100871647B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-02-15 JP JP2008034987A patent/JP5096185B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-02-15 US US12/031,922 patent/US7880988B2/en not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008204601A5 (ja) | ||
US8854929B1 (en) | Disk drive calibrating laser power and write current for heat assisted magnetic recording | |
JP2006107722A5 (ja) | ||
JP2013225362A5 (ja) | ||
JP2010049794A5 (ja) | ||
JP2007042239A (ja) | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の製造方法 | |
JP2010049795A5 (ja) | ||
CN1956080A (zh) | 磁盘存储装置及其控制方法 | |
JP2008533639A5 (ja) | ||
JP2008204602A5 (ja) | ||
ATE552553T1 (de) | Informationsverarbeitungsvorrichtung, verfahren zur steuerung der informationsverarbeitungsvorrichtung und aufzeichnungsmedium | |
JP2010073283A5 (ja) | ||
JP2010231888A5 (ja) | ||
JP2011138562A5 (ja) | 装置および方法 | |
JP2010267303A5 (ja) | 再生パワー調整方法および光情報再生装置 | |
JP2010182212A5 (ja) | ||
Hernández et al. | Parametric comparison of modeled and measured heat-assisted magnetic recording using a common signal-to-noise metric | |
TW200638350A (en) | Recording device and method, program, and recording medium | |
EP1950741A3 (en) | Device for control of the flying height of magnetic head in a hard disk drive apparatus and a control method therefor | |
JP2008251173A5 (ja) | ||
JP2011138575A5 (ja) | ||
JP2008251168A5 (ja) | ||
JP2008251174A5 (ja) | ||
JP2008251169A5 (ja) | ||
US8634157B2 (en) | Close loop method for measuring head SNR and media SNR |