JP2008204601A5 - - Google Patents

Claims (14)

1. ディスク上での記録に関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階と、
   選択された前記パラメータに対する何れか一つの値を設定する段階と、
   前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第１ビットエラー率を得る段階と、
   前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得る段階と、
   前記第１ビットエラー率と前記第２ビットエラー率とを比べる段階と、
   前記第２ビットエラー率と前記第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定する段階と、を含むことを特徴とするハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
2. 前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択する段階は、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュートの大きさと関連していることを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
3. 前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得る段階は、
   前記ディスク周辺の温度を測定する段階と、
   測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記測定されたディスク温度に対応する隣接トラック記録回数を得る段階と、
   前記テーブルから得られた前記隣接トラック記録回数だけ前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録する段階と、を含むことを特徴とする請求項１または２に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
4. 温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルは、温度に対応する隣接トラック記録回数をテーブル化して得たことを特徴とする請求項３に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
5. 前記隣接トラック記録回数は、臨界値と関連して対応する温度で前記ディスク上の何れかのトラックのビットエラー率を有する前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を、隣接トラック記録回数に設定することでテーブル化することを特徴とする請求項４に記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
6. 前記テストトラックに対する少なくとも一つの隣接トラックは、前記テストトラックの何れか一側に位置した二つのトラックから選択されることを特徴とする請求項３から５のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
7. 前記ディスク周辺の温度は、前記ディスク周辺に設けられたサーミスタを介して測定されることを特徴とする請求項３から６のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
8. 前記第１ビットエラー率と前記第２ビットエラー率との差が既定の臨界値より大きい場合、選択された前記パラメータの値を一定量だけ減少させて第１ビットエラー率及び第２ビットエラー率を獲得する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１から７のいずれかに記載のハードディスクドライブの記録パラメータを最適化する方法。
9. データを保存するディスクと、
   前記ディスク周辺に設けられて温度を獲得するサーミスタと、
   前記ディスク上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、前記ディスク上のテストトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第１ビットエラー率を得て、前記サーミスタによって測定された前記ディスク周辺の温度に基づいて得られた隣接トラック記録回数だけ反復して前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに任意のデータを記録して前記テストトラックの第２ビットエラー率を得た後、前記第２ビットエラー率と前記第１ビットエラー率との差が既定の臨界値より小さくなる選択された前記パラメータの値を、前記テストトラックの属したディスクゾーンでの選択された前記パラメータの最適化された値に設定するコントローラと、を含むことを特徴とするハードディスクドライブ。
10. 前記コントローラは、
    最適化対象の前記パラメータを一つ選択する時に、記録電流、オーバーシュートデュレーション及びオーバーシュート大きさのうち何れか一つを選択することを特徴とする請求項９に記載のハードディスクドライブ。
11. 前記コントローラは、
    前記測定された温度による隣接トラック記録回数に対するテーブルから前記サーミスタによって提供される前記測定された温度に対応する隣接トラック記録回数を得て、前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックに前記隣接トラック記録回数だけ反復して任意のデータを記録して前記テストトラックの前記第２ビットエラー率を得ることを特徴とする請求項９または１０に記載のハードディスクドライブ。
12. 前記テーブルは、該当の温度で何れか一つのトラックに対するビットエラー率を既定の臨界値に到達させる前記トラックに対する少なくとも一つの隣接トラックでの記録回数を隣接トラック記録回数に設定して該当の温度別にテーブル化したことを特徴とする請求項１１に記載のハードディスクドライブ。
13. 前記隣接トラックは、二つのトラックであることを特徴とする請求項１２に記載のハードディスクドライブ。
14. 前記テストトラックに隣接した少なくとも一つのトラックは、前記テストトラックに最も近く隣接した二つのトラックであることを特徴とする請求項１１から１３のいずれかに記載のハードディスクドライブ。