JP2007042239A - 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 ヒータを用いて磁気ヘッドの浮上高を制御する磁気ディスク装置の生産性を向上させる。
【解決手段】 浮上高制御のためのヒータを備えた磁気ヘッドを用い、磁気ディスク媒体との間で情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置の製造方法であって、磁気ヘッドの記録再生性能を試験し、この試験の結果に基づき、ヒータによる加熱を行う加熱条件を定め、ここで決定した加熱条件におけるヒータの加熱量を定める制御パラメータを決定する。
【選択図】 図３

Description

本発明は、ヒータにより磁気ヘッドを加熱して、磁気ディスク媒体から磁気ヘッドまでの浮上高を制御し、記録性能及び再生性能を向上する磁気ディスク装置の製造方法に関する。

近年、コンピュータ機器をはじめ、ハードディスクレコーダなどの家電製品においても、ハードディスクなどの磁気ディスク装置が広く利用されるようになっている。こうした磁気ディスク装置は、磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとを備えており、磁気ヘッドが磁気ディスク媒体上を浮上しつつ、磁気ディスク媒体を磁化し、また磁気ディスク媒体の磁化状態を読み取って、情報の記録、再生を行っている。ここで例えば情報の書き込みを行う際、磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとの間隔が狭まれば狭まるほど、磁気ヘッドが形成する磁場の広がりを小さくすることができ、磁気ディスク媒体上で磁化される面積が小さくなる。つまり、磁気ディスク装置の記録密度を上昇させるには、磁気ディスク媒体と磁気ヘッドとの隙間、すなわち磁気ヘッドの浮上高を低くすることが要求される。

そこで従来、磁気ヘッドの浮上高を下げる技術として、近年磁気ヘッド素子の近傍に薄膜抵抗体などから成るヒータを取り付け、磁気ヘッドを加熱し熱膨張させて磁気ディスク媒体側へ近接させるものがある。この際、磁気ヘッドの浮上高は磁気ディスクの使用状況（例えば、使用環境温度や、記録・再生の対象となっている磁気ディスク媒体のゾーン、記録・再生などの動作モード等）に応じて変わるため、使用状況に応じてヒータの加熱量を制御する必要がある。

具体的な例として、ヒータの加熱量を制御する磁気ディスク装置としては、磁気ディスク装置に使用状況と、ヒータの加熱量などの制御パラメータとを関連付ける制御テーブルを予め記憶しておき、使用時には当該テーブルを参照して使用状況に応じてヒータ加熱量を決定するものが開示されている（例えば、特許文献１）。
特開２００４−７９１２６号公報

ところが、この特許文献１に開示されているような制御パラメータを定めるには、動作環境の条件を変化させつつ、各動作環境下で制御パラメータを変更させながら記録再生エラーレート等を実測し、記録再生エラーレート等が許容範囲にあると判断された時点の制御パラメータを適当な値として記憶するといった作業を要する。また、ここで制御パラメータを定めるべき動作環境の条件の範囲は、磁気ディスク装置の動作保証範囲全体に及ぶ必要がある。

しかしながら、この制御パラメータを定めるにあたり、動作保証範囲全体で記録再生エラーレート等の実測を行う方法では、制御パラメータの決定までに時間がかかり、生産性を向上することができない。

一方で、磁気ヘッドの性能は、使用状況だけではなく、各ヘッドごとにも異なるのが現状であり、その性能によっては、特定の動作環境の条件範囲では、ヒータによる加熱が必要ない場合もある。加熱が必要ないほど磁気ヘッドの性能がよければ、できるだけ浮上高は高く保ち、磁気ヘッドとディスクの接触可能性を低くすることが望ましい。

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、その目的の一つは、各ヘッドやゾーンなどの条件に応じて必要最低限のヒータ加熱量を製造段階で細かく規定することにより、磁気ヘッドの浮上高を高精度に制御することにある。他の目的は、前記のような高精度な制御をするにもかかわらず、制御パラメータの決定にかかる時間を最小化し、磁気ディスク装置の生産性を向上させることにある。

上記課題を解決するために、本発明に係る製造方法は、浮上高制御のためのヒータを備えた磁気ヘッドを用い、磁気ディスク媒体との間で情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置の製造方法であって、第一に前記磁気ヘッドの記録再生性能を試験するステップ、第二に前記試験の結果に基づき、前記ヒータによる加熱を行う加熱条件を定めるステップ、及び第三に、前記決定した加熱条件におけるヒータの加熱量を定める制御パラメータを決定するステップ、を含むことを特徴とする。

以下本発明の一実施形態について図面に基づき説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る製造方法の例により製造される磁気ディスク装置全体のブロック図である。本実施形態に係る製造方法により製造される磁気ディスク装置１０は、スピンドルモータ２、磁気ディスク媒体３、キャリッジアセンブリ４、磁気ヘッド５、プリアンプ７、ボイスコイルモータ８、温度センサ９、リードライトチャネル１１、モータドライバ１２、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１３、制御部１４、及び記憶部１５を含んで構成されている。

スピンドルモータ２は、円盤状の磁気ディスク媒体３を回転駆動する。キャリッジアセンブリ４は、ボイスコイルモータ８によって回転駆動され、その先端部に取り付けられた磁気ヘッド５を磁気ディスク媒体３上で、略動径方向に相対移動させる。この磁気ヘッド５は、図２に示すように、磁気ディスク媒体３上に浮上して、磁気ディスク媒体３に対してデータを磁気的に記録する記録素子５ａと、記録されたデータを再生する再生素子５ｂとを備える。さらにこの磁気ヘッド５には、ヒータ５ｃが設けられている。

プリアンプ７は、記録するべき情報を表す信号の入力を受けて、当該信号を増幅して磁気ヘッド５の記録素子５ａに出力する。また、このプリアンプ７は、再生素子５ｂが出力する再生信号を増幅して出力する。さらに本実施の形態のプリアンプ７は、ヒータ５ｃに出力する電流量の指示の入力を受けて、当該指示された電流量の電流（あるいは電圧、電力）を、ヒータ５ｃに対して供給する。

温度センサ９は、磁気ヘッド５近傍の環境温度を検出し、検出した温度を表す信号を出力する。この温度センサ９は、例えばキャリッジアセンブリ４上に配置されてもよい。あるいはＨＤＣ１３、制御部１４などと同じく基板（カード）上に配置されてもよい。

リードライトチャネル１１は、記録の対象となるデータをコード変調した信号をプリアンプ７に出力する。また、このリードライトチャネル１１は、プリアンプ７が出力する再生信号をコード復調し、復調して得たデータをＨＤＣ１３に出力する。

モータドライバ１２は、制御部１４から入力される指示に従って、スピンドルモータ２やボイスコイルモータ８に対して駆動電流を出力し、これらスピンドルモータ２やボイスコイルモータ８を動作させる

ＨＤＣ１３は、外部のホスト２０から転送された記録対象のデータやコマンドを受信し、また、リードライトチャネル１１が出力する再生データをホスト２０に転送する。

制御部１４は、磁気ヘッド５の位置制御を行うため、モータドライバ１２を制御する等、各部を制御する。この制御部１４は、マイクロコンピュータなどのプログラム制御デバイスであり、内蔵するプログラム、及び／又は記憶部１５に格納されているプログラムに従って動作している。本実施の形態では、この制御部１４が、ヒータ５ｃに供給するべき電流量を、プリアンプ７に対して指示する。この制御部１４の動作等については後に述べる。

記憶部１５は、制御部１４での実行されるプログラムや、当該プログラムの実行に必要となるデータを格納している。さらにこの記憶部１５には、ヒータ５ｃの制御を行う際に制御部１４が参照する値（制御パラメータ）を格納している。この制御パラメータの例についても後に述べる。なお、この記憶部１５は、例えばＥＥＰＲＯＭ（電気的消去可能ＲＯＭ）などの不揮発性メモリを含む。更にこの記憶部１５は、磁気ディスク媒体３上の一部の領域も含むこともある。その場合前記制御パラメータは、製造時には磁気ディスク媒体３上に記憶され、使用時には電源投入後にまず磁気ディスク媒体３上から高速にアクセスできるメモリ上にコピーされて、ヒータ５ｃの制御において参照される。

［製造方法］
次に、この磁気ディスク装置１０の製造方法について述べる。本実施の形態では、磁気ディスク装置１０の各部の組み付けが完了し、サーボ信号の記録も完了した後で、第一に磁気ヘッド５の記録再生性能を試験し、第二にこの試験の結果に基づいてヒータの加熱条件を定め、第三にこの加熱条件下でのヒータの加熱量を定める制御パラメータを定める。

［記録再生性能試験］
磁気ヘッド５の記録再生性能の試験は、次のようにしておこなう。まず、磁気ディスク装置１０を予め定められた基準温度環境下に置く。次に、磁気ディスク装置１０に製造装置を接続し、この製造装置から記録データと記録コマンドを磁気ディスク装置１０に出力する。次いで、この製造装置から再生コマンドを磁気ディスク装置１０に出力する。このようにして磁気ヘッド５を用いて磁気ディスク媒体３に対してデータの記録と再生とを行わせ、製造装置においてそのエラーレートを検出することで行う。なお、基準温度は、例えば磁気ディスク装置１０の設計仕様上の常温としてもよい。

具体的な記録再生試験の例としては、製造装置を用いて、磁気ディスク媒体３上から選択した注目トラックに対して、図３に示すように、ヒータ５ｃに対して電力を供給しない状態で（すなわちヒータ５ｃをオフとした状態で）、基準温度環境（常温）下で記録再生を行わせる第１試験を実行し（Ｓ１）、
そして、第１試験におけるエラーレートと、予め定めたしきい値とを比較することにより、加熱条件を定める。この加熱条件は例えば、２つのしきい値ＴＨ１とＴＨ２と（ＴＨ１＜ＴＨ２）を用いて、
１．第１試験でのエラーレートが十分に低い（第１しきい値ＴＨ１未満）である場合（ケース１）、
２．第１試験でのエラーレートが比較的低い（第１しきい値ＴＨ１と、第２しきい値ＴＨ２との間）である場合（ケース２）、
のいずれかであるか否かを判断する（Ｓ２，Ｓ３）。ここで、いずれかのケースに当てはまる場合は、それぞれケース１、ケース２の加熱条件と判断して処理を終了し、当てはまらない場合はさらに、ヒータ５ｃに対して試験時所定の電力Ｐ２を供給した状態で（すなわちヒータ５ｃによって試験時用に予め定められた加熱量だけ磁気ヘッド５を加熱している状態で）、基準温度環境下で記録再生を行わせる第２試験を実行する（Ｓ４）。

ここで、ヒータ５ｃに導通する試験時所定の電力量は、第２試験における記録時と再生時とで異ならせるとよい。例えば、第２試験の記録時の電力量Ｐｗはゼロ、第２試験の再生時の電力量Ｐｒは
Ｐｒ＝ＰＤ＝ＤＦＨ／ＦＰ
とする。ここでＤＦＨは情報の記録時と再生時とにおける磁気ヘッド５の浮上高の差を表し、ＦＰは単位電力あたりの磁気ヘッド５の浮上高の変化量を表す。ＤＦＨおよびＦＰは、いずれも磁気ディスク装置１０の製造現場における抜取検査によって求められる値であり、例えばロットごと、製品ごとに共通の値として予め設定しておく。ＰＤは再生時の浮上高を記録時と同様の高さまで減少させるのに要する電力を表す。

そして、第１試験と第２試験における各エラーレートと、予め定めたしきい値とを比較することにより、加熱条件を定める。すなわち、
３．第１試験でのエラーレートは比較的高い（第２しきい値ＴＨ２を越える）が、第２試験でのエラーレートは比較的低い（第２しきい値ＴＨ２を下回る）場合（ケース３）、
４．第１、第２試験の双方で得られた両エラーレートとも、比較的高い（双方のエラーレートがいずれも第２しきい値ＴＨ２を越える）場合（ケース４）、
のいずれに該当するかによって定める（Ｓ５）。なお、ここで第２しきい値ＴＨ２は、磁気ディスク装置１０が設計仕様上の常温において保証するべき記録再生エラーレートとしておいてもよい。
５．なお、ケース４では、ヒータ５ｃに供給可能な最大電力において、記録／再生の試験を行い（第３試験）、エラーレートが第２しきい値ＴＨ２を下回らない場合は、以下の処理を行うことなく、規格外品として製造作業を中断してもよい。ヒータ５ｃに供給可能な所定の最大電力とは、以下のように決定される。常温をＴＲ、動作保証温度の上限をＴＨとして、
Ｐｗ＝ＰＨ＝ＦＴ×（ＴＨ−ＴＲ）／ＦＰ
Ｐｒ＝ＰＤ＋ＰＨ
として定める。ここで、ＦＴは単位温度変化あたりの磁気ヘッド５の浮上高の変化量を表す。ＦＴは磁気ディスク装置１０の製造現場における抜取検査によって求められる値であり、例えばロットごと、製品ごとに共通の値として予め設定しておく。

［制御パラメータの決定］
以上述べたＳ１からＳ５までの手続きを、各ヘッド、各ゾーンについて実行する。こうして製造装置を用いて当該磁気ディスク装置の各ヘッド、各ゾーンにおける加熱条件をケース１から４のいずれかに決定した後、次に制御パラメータを定める。

ここで制御パラメータは、ヒータ５ｃに供給する電流量、電圧量、あるいは電力量を定めるパラメータである。本実施の形態では例えば、当パラメータが「０」なら電流が０ｍＡ、当パラメータが「１」なら電流が０．２ｍＡ、当パラメータが「１０」なら電流が２ｍＡ、といった具合にヒータを加熱する電流値と制御パラメータが対応している。本実施の形態では制御パラメータを、各ヘッド、各ゾーン、各温度帯および各アクセスモード（記録、再生）に対して定め、記憶部１５の不揮発性メモリ部分または磁気ディスク媒体３上の特定領域に格納する。すなわち、記憶部１５に図４に示すような制御パラメータの表（テーブル）を持つ。なおここでアクセスモードが「再生」という場合は、データの再生時だけではなく、記録を開始する直前の時間も含んでも良い。

ヒータによる浮上高制御量は電力に概ね比例するため、ヒータへの加熱の程度はまず電力で計算する。プリアンプ７が電流制御の場合、電流量Ｉは、電力量Ｐと、製造している磁気ディスク装置１０の抜き取り検査により測定して得られたヒータ５ｃの抵抗（ヒータ抵抗）ＲＨとを用いて、
Ｉ＝√（Ｐ／ＲＨ）
として変換され、その電流量に対応する制御パラメータが記憶される。プリアンプ７が電圧制御の場合は、電力量にヒータ５ｃの抵抗値を乗じた値の平方根として電圧量を求め、その電圧量に対応する制御パラメータが記憶される。

以下に具体的な制御パラメータ設定例を説明する。

加熱条件ケース１については、ヒータ５ｃを用いなくても、動作補償温度の下限まで十分な記録再生性能が発揮できると考えられるので、すべての温度帯において電力量をゼロとする制御パラメータを設定する。この場合の「ゼロ」とは、事実上ほぼ発熱変形が起こらない微小な量を含む（以下同様）。

加熱条件ケース２については、基準温度環境（以下常温と呼称）、動作補償温度の上限（以下高温と呼称）ではヒータを用いなくても十分な記録再生性能を発揮できると考えられるので、常温および高温での電力量はゼロと設定する。しかし動作補償温度の下限（以下低温と呼称）では浮上高が上がって十分な記録再生性能が発揮できないと推定できるので、例えば低温における浮上高を常温における浮上高と概ね等しくなるまで補正する分の電力ＰＬを、低温での電力量として設定する。ＰＬは常温をＴＲ、動作保証温度の下限をＴＬとして、
ＰＬ＝ＦＴ×（ＴＲ−ＴＬ）／ＦＰ
として計算される。ケース２では低温記録時、低温再生時とも、同じＰＬの値を設定してよい。

加熱条件ケース３については、常温でも再生時にはヒータを用いなければ、しきい値ＴＨ２を満足する記録再生性能を発揮できないと考えられるので、ケース２より更に大きい電力が必要である。設定電力量は例えば、低温記録時にはＰＬ、低温再生時にはＰＬ＋ＰＤ、常温記録時にはゼロ、常温再生時にはＰＤ、高温記録時にはゼロ、高温再生時にはＰＤとする。

加熱条件ケース４については、常温再生時だけではなく、常温記録時にもヒータを用いなければ、しきい値ＴＨ２を満足する記録再生性能を発揮できないと考えられるので、ケース３より更に大きい電力が必要である。例えば、低温記録時はＰＬ＋ＰＨ、低温再生時はＰＬ＋ＰＤ＋ＰＨ、常温記録時はＰＨ、常温再生時にはＰＤ＋ＰＨ、高温記録時はゼロ、高温再生時はＰＤとする。

動作補償温度の上限と下限の間は、多数の温度帯に分割してそれぞれの温度帯に対応する制御パラメータを全て格納しても良いし、例えば低音、常温、高温の三温度帯など、限られた数の温度帯の制御パラメータのみを格納して、その間は一次式や二次式で補間して制御しても良い。

このように本実施の形態では、ヒータを用いて磁気ヘッドの浮上高を制御する磁気ディスク装置１０の製造時に、常温にて磁気ヘッド５の性能を測定し、当該性能に応じてヒータの電流値設定を記憶させる。これにより、動作保証範囲全体で記録再生エラーレートの実測を行う必要がなくなり、生産性を向上できる。

すなわち、動作環境温度が高温になればなるほど、磁気ヘッド５の浮上高はヒータをオンとしたときと同様に低下することとなるので、その性能は環境温度が高くなるほど向上する。本実施の形態において特徴的なことの一つは、この点に着目して、常温での性能測定によって常温より高温（及び／又は常温より低温）での性能を推定することで、全温度範囲に亘って試験を行う必要をなくしていることである。

［磁気ディスク装置１０の動作例］
次に、このようにして製造した磁気ディスク装置１０の動作例について説明する。以下の説明では磁気ディスク装置１０の記憶部１５には、温度帯ごとに、記録時と再生時とにおけるヒータの電流量を制御するための値（制御パラメータ）が設定されているものとする。

まず、加熱条件を定める試験の結果、加熱条件がケース１であるとされた磁気ヘッドおよびゾーンにおける動作について説明する。この場合、どの温度帯においても、記録時／再生時ともにヒータの電流量を「０」、あるいは事実上「０」に等しい微小な電流量とするべく制御パラメータが設定される。

ホスト２０からデータを記録させるコマンドと、記録対象のデータとを受け入れると、ＨＤＣ１３が当該記録対象のデータをリードライトチャネル１１に出力するとともに、モータドライバ１２に対してコマンドに応じた記録位置に磁気ヘッド５を移動させる指示を出力する。また、このとき制御部１４は、温度センサ９が出力する信号に基づいて環境温度の情報を取得する。そして制御部１４は、この取得した情報によって表される環境温度の温度帯に対応して、記憶部１５に格納されている制御パラメータ（記録時の制御パラメータ）を取得する。ここでは当該制御パラメータはヒータ５ｃに供給する電流量を「０」とするべき旨の値であるので、制御部１４は、ヒータ５ｃへの電流量を「０」とするべき旨の指示をプリアンプ７に出力する。プリアンプ７は従って、ヒータ５ｃへの電流供給を事実上行わない。

一方、リードライトチャネル１１は、記録対象のデータを変調した信号をプリアンプ７に出力し、プリアンプ７がこの信号を増幅して磁気ヘッド５の記録素子５ａに出力する。これにより磁気ディスク媒体３に記録対象となったデータが記録される。

同様に、ホスト２０からデータを再生させるコマンドを受け入れると、ＨＤＣ１３が当該再生のコマンドに基づく再生指示をリードライトチャネル１１に出力するとともに、モータドライバ１２に対してコマンドに応じた再生位置に磁気ヘッド５を移動させる指示を出力する。また、このとき制御部１４は、温度センサ９が出力する信号に基づいて環境温度の情報を取得する。そして制御部１４は、この取得した情報によって表される環境温度の温度帯に対応して、記憶部１５に格納されている制御パラメータ（再生時の制御パラメータ）を取得する。ここでは当該制御パラメータはヒータ５ｃに供給する電流量を「０」とするべき旨の値であるので、制御部１４は、ヒータ５ｃへの電流量を「０」とするべき旨の指示をプリアンプ７に出力する。プリアンプ７は従って、ヒータ５ｃへの電流供給を事実上行わない。

一方、プリアンプ７は、磁気ヘッド５の再生素子５ｂが出力する再生信号を増幅してリードライトチャネル１１に出力しており、リードライトチャネル１１は、プリアンプ７で増幅された信号を復調して、再生データを生成し、ＨＤＣ１３に出力する。ＨＤＣ１３は、この再生データをホスト２０へ出力する。

また、加熱条件を定める試験の結果、加熱条件がケース２であるとされた磁気ヘッドおよびゾーンにおける動作について説明する。この場合、比較的低温の温度帯においては、記録時、再生時ともヒータの電流量を「０」ではない所定値とするべく制御パラメータが設定される。また、他の温度帯においては記録時／再生時ともにヒータの電流量を「０」とするべく制御パラメータが設定される。

ホスト２０からデータを記録させるコマンドと、記録対象のデータとを受け入れると、ＨＤＣ１３が当該記録対象のデータをリードライトチャネル１１に出力するとともに、モータドライバ１２に対してコマンドに応じた記録位置に磁気ヘッド５を移動させる指示を出力する。また、このとき制御部１４は、温度センサ９が出力する信号に基づいて環境温度の情報を取得する。ここで仮に、当該取得した環境温度が、比較的低温の温度帯に属するものであるときには、制御部１４は、この取得した情報によって表される環境温度の温度帯に対応して、記憶部１５に格納されている制御パラメータ（記録時の制御パラメータ）を取得する。ここでは当該制御パラメータはヒータ５ｃに供給する電流量を所定値（「０」ではない所定値）とするべき旨の値であるので、制御部１４は、ヒータ５ｃへの電流量を上記所定値とするべき旨の指示をプリアンプ７に出力する。プリアンプ７は従って、ヒータ５ｃへ所定値の電流量の電流供給を行う。そしてヒータ５ｃが磁気ヘッド５を加熱する。

一方、リードライトチャネル１１は、記録対象のデータを変調した信号をプリアンプ７に出力し、プリアンプ７がこの信号を増幅して磁気ヘッド５の記録素子５ａに出力する。これにより磁気ディスク媒体３に記録対象となったデータが記録される。

同様に、ホスト２０からデータを再生させるコマンドを受け入れると、ＨＤＣ１３が当該再生のコマンドに基づく再生指示をリードライトチャネル１１に出力するとともに、モータドライバ１２に対してコマンドに応じた再生位置に磁気ヘッド５を移動させる指示を出力する。また、このとき制御部１４は、温度センサ９が出力する信号に基づいて環境温度の情報を取得する。ここで仮に、当該取得した環境温度が、比較的低温の温度帯に属するものであるときには、制御部１４は、この取得した情報によって表される環境温度の温度帯に対応して、記憶部１５に格納されている制御パラメータ（再生時の制御パラメータ）を取得する。ここでは当該制御パラメータはヒータ５ｃに供給する電流量を所定値（「０」ではない所定値）とするべき旨の値であるので、制御部１４は、ヒータ５ｃへの電流量を上記所定値とするべき旨の指示をプリアンプ７に出力する。プリアンプ７は従って、ヒータ５ｃへ所定値の電流量の電流供給を行う。そしてヒータ５ｃが磁気ヘッド５を加熱する。

一方、プリアンプ７は、磁気ヘッド５の再生素子５ｂが出力する再生信号を増幅してリードライトチャネル１１に出力しており、リードライトチャネル１１は、プリアンプ７で増幅された信号を復調して、再生データを生成し、ＨＤＣ１３に出力する。ＨＤＣ１３は、この再生データをホスト２０へ出力する。

なお、ここでは製造時に、図４示したような温度範囲ごとの電流量を表す値を設定して、記憶部１５に格納することとしたが、制御パラメータとして、ＰＬ、ＰＨ、ＰＤなどの値を記憶部１５に格納しておき、動作時に実際にヒータ５ｃに供給するべき電力を演算し、当該演算した電力に対応する電流量の電流を供給するよう、制御部１４がプリアンプ７に指示することとしてもよい。演算方法としては、電力を温度に対して線形に補間する方法と、電流または電圧を温度に対して線形に補間する方法がある。

［制御パラメータの決定の変形例１］
なお、ここまでの説明では、動作条件に対応して一定の制御パラメータの値を予め定めておくこととしたが、動作条件を決定した後、さらに制御パラメータを詳細に決定するための繰り返し試験を行ってもよい。その方がより高精度な浮上高調整が可能となる。

例えば既に述べた例において、
（１）ケース１では、本変形例は適用されない。
（２）ケース２では、例えば前述した一定値ＰＬを用いるのではなく、常温での試験でしきい値ＴＨ１を満たす最小の電力を求め、その電力に対応する制御パラメータを格納する。
（３）ケース３では、例えば前述した一定値ＰＤを用いるのではなく、常温での試験でしきい値ＴＨ２を満たす最小の電力を求め、その電力に対応する制御パラメータを格納する。ＰＬは一定とする。
（４）ケース４では、例えば前述した一定値ＰＨを用いるのではなく、常温での試験でしきい値ＴＨ２を満たす最小の電力を求め、その電力に対応する制御パラメータを格納する。ＰＬおよびＰＤは一定とする。

そして加熱条件に対応して、ヒータ５ｃに供給する電力量を変動させつつ、データの記録／再生時のエラーレートをそれぞれ測定し、それぞれにおいて、エラーレートが試験時のしきい値ＴＨ１あるいはＴＨ２以下となる電力量を見いだす。この方法としては例えば、逐次法と二分法とがある。

逐次法では、ヒータ５ｃに供給する電力量を所定下限初期値（最低値）から、順次所定幅ΔＰずつ増加させながらエラーレートが試験時のしきい値以下となる電力量を見いだす。ここで所定幅ΔＰは、プリアンプ７が設定可能なヒータ電流の最小刻み幅の整数倍とする。

また二分法は、所定下限初期値と所定上限初期値との和を２で除した値（第１中間値）を求めておき、第１中間値の電力をヒータ５ｃに供給したときに、試験時の第１しきい値以下となっていれば、下限初期値と第１中間値との和を２で除した値を新たな中間値（第２中間値）として、試験を繰り返し、また第１中間値の電力をヒータ５ｃに供給したときに、試験時の第１しきい値以下となっていなければ、上限初期値と第１中間値との和を２で除した値を新たな中間値（第２中間値）として試験を繰り返す。以下、探索範囲を１／２にしながら、探索範囲の中間値において第１しきい値以下となるか否かに応じて、２つの探索範囲のうち一方を新たな探索範囲として探索を繰り返す。

もっとも、本実施の形態における電力量の決定方法は、逐次法、二分法に限られるものではなく、他の方法でもよい。

最初からしきい値を満たす最小電力を繰り返し試験で求めるのではなく、最初に４つの加熱条件のどれに該当するかを判定する理由は、最初に探索範囲を狭めることにより、所要時間を減らし、磁気ディスク装置１０の製造効率を向上するためである。

［制御パラメータの決定の変形例２］
さらにここまでの説明では単位温度変化あたりの磁気ヘッド５の浮上高の変化量ＦＴと、単位電力あたりの磁気ヘッド５の浮上高の変化量ＦＰと、情報の記録時と再生時とにおける磁気ヘッド５の浮上高の差ＤＦＨとは、いずれも磁気ディスク装置１０の製造現場における十分なサンプル量の抜取検査によって求められる値であり、例えばロットごと、製品ごとに共通の値として、ばらつきも見込んだ上で予め設定しておくものとした。しかしながら、これらの値は、現実には磁気ディスク装置１０の各磁気ヘッドごと、あるいは各磁気ヘッドごとかつ各ゾーンごとに異なることがあるので、磁気ディスク装置１０の各部の組み付けが完了した後で、各磁気ヘッド５ごと、あるいは各磁気ヘッドごとかつ各ゾーンごとにこれらの値を測定し直してもよい。ヒータ抵抗ＲＨも同様に、各磁気ヘッドごとに測定してもよい。その場合、より高精度な浮上高制御が可能となる。

この場合、ＦＰ、ＤＦＨ、ＲＨについては常温で測定可能であるが、ＦＴ（単位温度変化あたりの磁気ヘッド５の浮上高の変化量）については常温のみの試験では測定できない。従って、既に説明した処理によって仮にヒータ５ｃに対して供給する制御パラメータを定めておき、次に、基準温度よりも高温での試験を行って当該電流量を指定する値を更新する（高温試験）。具体的な例としては、磁気ディスク装置１０の製造者は、対象となる磁気ディスク装置１０の環境温度を常温より高温の状態に配置した上で、再生信号振幅を測定する。個々のヘッド固有のＦＴの値は、高温下で測定した再生信号振幅を、常温での再生信号振幅と比較することで求めることができる。

そして磁気ディスク装置１０の製造者は、ここで求めた各ヘッドごと、あるいは各ヘッドごとかつ各ゾーンごとに求めたＦＴ，ＦＰ、ＤＦＨを用いて、前述したＰＬ、ＰＤ、ＰＨを再計算し、記憶部１５上に格納された制御パラメータを更新することができる。

［本発明の製造方法の付加的な例］
前述した高温下にて行う試験において、気圧が低い場所で磁気ディスク装置１０が使用される場合に備えて最小間隙として設定してあるマージンＳを確認するため、記録時ヒータ電力Ｓ／ＦＰ、再生時ヒータ電力Ｓ／ＦＰ＋ＰＤを印加して読み書きを行う。記録または再生エラーを感知した場合はマージンが十分でないことになるので、当該ヘッドおよびディスクを不良とする。

［ゾーンごとの制御］
以上述べた実施の形態では、図４のような、磁気ディスク媒体３を多数のゾーンに分けて制御パラメータを格納する最も高精度な方法を示したが、磁気ディスク媒体３の全体に亘って共通の制御パラメータを設定する（すなわちゾーン数が１つだけ）方法でも良い。また、例えば外周部、中周部、内周部の３つなど、少ないゾーン数に分けて制御パラメータを格納し、その間は一次式や二次式などで補間して制御する方法でも良い。

[他の測定対象]
以上述べた実施の形態では、第１試験、第２試験などの評価対象はエラーレートであった。この評価対象をエラーレートではなく、オーバライトとしても良い。または、評価対象を、再生信号振幅の変化から測ったスペーシングの変化量としても良い。

本発明の実施の形態に係る製造方法で製造される磁気ディスク装置の例を表す構成ブロック図である。 本発明の実施の形態に係る製造方法で製造される磁気ディスク装置の磁気ヘッド５の具体例を表す構成ブロック図である。 本発明の実施の形態に係る磁気ディスク装置の製造方法の一部の例を表すフローチャート図である。 本発明の実施の形態に係る磁気ディスク装置の製造方法で設定される制御パラメータの例を表す説明図である。

符号の説明

２ スピンドルモータ、３ 磁気ディスク媒体、４ キャリッジアセンブリ、５ 磁気ヘッド、５ａ 記録素子、５ｂ 再生素子、５ｃ ヒータ、７ プリアンプ、８ ボイスコイルモータ、９ 温度センサ、１０ 磁気ディスク装置、１１ リードライトチャネル、１２ モータドライバ、１３ ハードディスクコントローラ、１４ 制御部、１５ 記憶部、２０ ホスト。

Claims (5)

1. 浮上高制御のためのヒータを備えた磁気ヘッドを用い、磁気ディスク媒体との間で情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置の製造方法であって、
   前記磁気ヘッドの記録再生性能を試験するステップ、
   前記試験の結果に基づき、前記ヒータによる加熱を行う加熱条件を定めるステップ、及び、
   前記決定した加熱条件におけるヒータの加熱量を定める制御パラメータを決定するステップ、
   を含むことを特徴とする磁気ディスク装置の製造方法。
2. 請求項１に記載の方法において、
   前記加熱条件には、複数の動作環境温度帯における前記制御パラメータの定め方に係る条件が含まれ、
   前記磁気ヘッドの記録再生性能の前記試験は予め定めた基準温度にて行われ、当該基準温度で行われた前記試験の結果に基づいて、各温度帯における前記制御パラメータが定められる、
   ことを特徴とする磁気ディスク装置の製造方法。
3. 請求項１に記載の方法において、
   前記磁気ディスク媒体を複数のゾーンに分け、前記ヒータによる加熱条件は前記磁気ディスク媒体のゾーン毎に定められる、
   ことを特徴とする磁気ディスク装置の製造方法。
4. 請求項１乃至３の製造方法によって、前記ヒータの加熱量を定める制御パラメータがあらかじめ格納された記憶部を有する、
   ことを特徴とする磁気ディスク装置。
5. 請求項４に記載の磁気ディスク装置において、
   前記記憶部は磁気ディスク装置に備えられた不揮発性メモリ上を含む、あるいは前記記憶部は磁気ディスク装置のディスク媒体上の一部の領域を含む、
   ことを特徴とする磁気ディスク装置。
   

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