JP2000048312A - 磁気ディスク装置におけるライトリード制御方法及び制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明はライト電流を可変に制御する回路を備
えた磁気ディスク装置におけるライトリード制御方法及
び制御装置に関し，個々のヘッドのばらつきをキャンセ
ルし，また温度変化による媒体状況の変化にも対応する
ことができることを目的とする。 【解決手段】適正なライト電流を決定するためのライト
リードテスト部を備え，ライトリードテスト部は，指定
されたトラック上の多数の所定区間毎にライト電流を順
次変更してデータを書き込む制御を行い，次に前記各区
間のデータの読み取りと誤りのチェックを行って結果を
テーブルに書き込み，前記テーブルをチェックして誤り
が検出されない区間のライト電流を適正ライト電流とし
て決定して，書き込みを行うよう構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はライト電流を自在に
変更することができる磁気ディスク装置におけるライト
リード制御方法と制御装置に関する。

【０００２】近年，磁気ディスク装置は大容量化が進ん
でおり，容量の増加に伴い，トラック密度は狭くなる一
方である。これに対し，磁気ヘッドのコア幅も小さくな
るが，これに比例してライト電流を小さくするとエラー
レイト（誤り率）が増大するため，ライト電流を小さく
することができないといった問題があり，その改善が望
まれている。

【０００３】

【従来の技術】ハードディスク装置等の容量の増加に伴
い，トラック密度が小さくなり，磁気ヘッドのコア幅も
小さくなる一方である。磁気ヘッドは，ライト電流を大
きくすると，ヘッドからの漏れ磁束による書き広がり現
象が発生して，トラック幅を超えたり隣接ビット信号領
域にまたがる等の悪影響が発生する。また，磁気ディス
ク媒体は，温度によって媒体の保持力（ＨＣ）が変化し
たり，ヘッドの浮上量が変化して，書き広がり量も変化
する。書き広がりが大きくなると，隣のトラックのデー
タに影響を及ぼして場合によっては消去する事態が発生
する。

【０００４】また，書込み電流が少ないと，エラーレイ
トが悪化し，リードエラーを引き起こす。従来は，予め
平均的な磁気ディスク装置について求められた平均的な
書込み電流をデフォルト値として設定しておき，その値
により書込み電流を制御していた。

【０００５】また，温度変化が生じても常に最適な書込
み電流を磁気ヘッドに供給して，リードマージンの低下
を防ぐための技術が特開平１−３１７２０８号公報に開
示されている。その技術では，予め温度に応じて設定さ
れた書込み電流の最適値をメモリに記憶しておき，書込
み時に温度検出手段により記録媒体周囲の温度を検出
し，検出した温度に対応した書込み電流の最適値をメモ
リから読出して，その値に基づいて電流供給制御手段を
制御して磁気ヘッドに供給する書込み電流を制御するも
のである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記したようにトラッ
ク幅が狭くなり，ヘッドコア幅も狭くなってきたことに
より，ヘッドの製造時のコア幅のばらつきも大きくなっ
てきた。このようにコア幅がばらつくと，デフォルトで
設定しているライト（書込み）電流では書き広がり量の
コントロールが十分できず，隣のトラックのデータを消
してしまったり，エラーレイトの悪化が発生してしまう
という問題があった。また，ヘッドのオーバーライト特
性（データの重ね書きにより古いデータを消去するため
の特性）のばらつきで，ヘッドによって電流が少ないと
十分にライトできず，リードエラーを起こすという問題
があった。

【０００７】更に，上記した温度に応じて設定された書
込み電流を読み出す技術では，環境温度の変化により媒
体の温度が変化して，記録媒体の保持力（ＨＣ）が変化
して，書き広がり量も変わるため，同様の問題が発生す
る。

【０００８】本発明は個々のヘッドのばらつきをキャン
セルし，また温度変化による媒体状況の変化にも対応す
ることができる磁気ディスク装置のライトリード制御方
法及び制御装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理構成
を示す。図中，１は制御部，１０はライトリードテスト
部，１１はトラック指定手段，１２は指定トラック上の
所定区間（例えば，セクタ）毎にライト電流を大から小
（またはその逆）に順番に変更するライト電流可変手
段，１３は読取チェック手段，１４は最適ライト電流判
別手段，１５は起動部，１５０は設定温度検出部，１５
１は一定周期検出部，１６はメモリ，２はヘッド部，３
は温度センサである。

【００１０】本発明はライトリードテスト部１０を起動
部１５から起動することによりライトリードテスト部１
０による動作を開始させる。起動部１５は設定温度検出
部１５０に予め一定間隔毎に温度が設定されており，温
度センサ３により環境温度が検出されて，設定温度検出
部１５０で設定された温度になったことを検出すると起
動する。また，温度により起動しないで，一定周期検出
部１５１において予め設定された一定周期（時間）にな
ったことを検出する毎に起動するようにしてもよい。ラ
イトリードテスト部１０は起動するとトラック指定手段
１１によりライトリードテストを行うトラックを指定す
ると，ヘッド部２を対応するトラック位置に移動させる
信号が発生する。次にライト電流可変手段１２により所
定区間毎にライト電流値を最初に大（または小）とし，
順番に小さな値に変化するよう電流値を可変に制御する
信号をヘッド部２に出力して予め決められたデータのラ
イト動作の制御を行う。

【００１１】続いて，読取チェック手段１３が動作して
下記書き込みを行ったトラックの各区間のデータを読み
出してエラーが検出されないかチェックする。次に読取
チェック手段１３による各書き込み電流に対応する各区
間の読取チェックの結果から，ヘッドのオーバライト特
性を見極めて適切なライト電流を決定する。メモリ１６
は，起動原因となった設定温度または一定周期の時間の
情報，ライトリードテスト部１０が起動してトラック指
定手段１１により指定されたトラックの情報，ライト電
流可変手段１２による各区間（セクタ）毎の各ライト電
流の値を格納し，更に読取チェック手段１３による各区
間毎（または各ライト電流値毎）のエラー検出の有無の
情報を格納し，最適ライト電流判別手段１４によりエラ
ーが検出されないライト電流を判別し，判別した最適ラ
イト電流値を制御部内に設定してヘッド部２へ指示す
る。

【００１２】

【発明の実施の形態】図２は本発明が実施される磁気デ
ィスク装置の制御部の構成である。図中，２０は上位ホ
スト装置と接続され，上位ホスト装置からの指令に応じ
て磁気ディスク装置のリード，ライト，その他の動作の
制御を行うと共にリード，ライトデータの転送制御を行
うコントロール回路ボード，２１は上位ホスト装置との
インタフェースを備え，ディスクのライト・リードの制
御を行うディスクコントローラ，２２はディスクコント
ローラ２１と磁気ヘッド用のリード・ライト回路との間
でデータ及び制御信号のインタフェースをとるリードチ
ャネル回路，２３はディスクコントローラ２１と後述す
るマイクロコントローラユニット（ＭＣＵ）に対するク
ロック信号を発生する発振器，２４はディスクの機構部
や駆動回路を制御するマイクロコントローラユニット
（ＭＣＵで表示）である。

【００１３】２５はディスクコントローラ２１の制御を
行うプログラムや本発明によるライトリードテスト用の
データを格納するデータバッファ（ＤＲＡＭ），２６は
ＭＣＵ２４の制御に使用するデータを格納するフラッシ
ュメモリ（ＥＰＲＯＭ），２７はヘッドのアクセス及び
ディスクの回転制御を行うサーボコントローラ，３０は
ディスクエンクロージャ（ディスク装置の周辺装置をモ
ジュール化した機構回路），３１は磁気ヘッドのリード
・ライト（Ｒ／Ｗ）プリアンプ回路，３２はヘッドの読
み出し，書き込み回路を含むヘッドアッセンブリィ，３
３はヘッドを指定されたトラックに位置決めするための
ボイスコイルモータ（ＶＣＭ），３４は磁気ディスクを
回転駆動するためのスピンドルモータ，３５は温度セン
サを表す。

【００１４】本発明によるライトリードテストはディス
クコントローラ２１の制御により行われ，ライト電流を
可変に制御する信号はディスクコントローラ２１からＭ
ＣＵ２４へ与えられ，ＭＣＵ２４からＲ／Ｗプリアンプ
回路３１へライト電流を制御する信号が供給されて，Ｒ
／Ｗプリアンプ回路３１がヘッドアッセンブリィ３２へ
可変制御されたライト電流が供給される。また，ライト
データはディスクコントローラ２１からリードチャネル
回路２２を介してＲ／Ｗプリアンプ回路３１へ供給され
る。

【００１５】図３，図５と図６，図８と図９は本発明に
よるライトリードテストの第１，第２，第３の方法によ
る動作の説明図を示し，図４，図７，図１０と図１１は
ライトリードテストの第１，第２，第３の各方法による
最適ライト電流を決定するためのフローチャートであ
る。

【００１６】図３に示すライトリードテストの第１の方
法による動作の説明図において，Ａ．はライトヘッドに
よりトラックｎのセクタａ〜ｈにライト電流を大から小
に順番に変化させてデータの書き込みを行った様子を示
す。図３のＢ．は上記のＡ．により書き込まれたトラッ
クｎの各セクタａ〜ｈを読み出した時にエラーが無い
か，エラーが有ったかの判別結果を表し，この例ではセ
クタａ〜ｆまではエラーが無い，セクタｇ，ｈでエラー
が有った例である。

【００１７】図４に示す第１の方法による処理フローを
説明する。処理を行う前に図４の右下に示すようにエラ
ー判定対応テーブルを作成し，セクタの各番号（Ａ０，
Ａ１，・・・）に対して可変に設定された各ライト電流
の値（Ｉ０，Ｉ１，・・・）が書込まれており，エラー
チェック結果はテストの結果により設定される。

【００１８】テストを開始すると，予め決められた測定
トラック（図３の例ではトラックｎ）に移動する（図４
のＳ１）。次にライト電流設定の処理によりＩｎ＝Ｉ０
（初期値であり，最大値または最小値とする）とし（図
４のＳ２），セクタ番号Ａｎ＝Ａ０（先頭位置）に設定
し（同Ｓ３），セクタＡｎに設定したライト電流（Ｉ
０）によりライト動作を行う（同Ｓ４）。次にｎが最大
値（ｍａｘ）に達したか判別し，達していないとｎ＋１
の更新を行い（図４のＳ６），対応するセクタ番号（Ａ
ｎ）とライト電流（Ｉｎ）をエラー判定対応テーブルに
設定した値を用いてライト動作を行う。

【００１９】ｎ＝ｍａｘになると，ライト動作を終了し
てリード動作に移行してチェックを行う。すなわち，セ
クタ番号をＡｎ＝Ａ０に設定し（図４のＳ７），次にセ
クタ番号Ａｎのリード動作を行い（同Ｓ８），リードさ
れたデータにエラーが発生したか判別する（同Ｓ９）。
エラーが発生した場合，エラー判定対応テーブルの該当
位置にＮＧのチェックを行い（図４のＳ１０），エラー
が検出されないとＯＫのチェックを行う（同Ｓ１１）。
次にｎがｍａｘか判別し，ｍａｘでない場合はｎ＝ｎ＋
１の更新を行って（図４のＳ１３），Ｓ８に戻って対応
するセクタ番号（Ａｎ）のリード動作を行って，エラー
かの判定と，判定結果に対応するテーブルへのチェック
を行う動作を繰り返す。

【００２０】ｎがｍａｘに達すると，エラー判定対応テ
ーブルをチェックしてどこがＮＧとなったか判別し，適
正なライト電流を決定し（同Ｓ１４），ライト電流設定
を変更し（同Ｓ１５），テストを終了する。図４の右側
に示すエラー判定対応テーブルの例では，Ｉ０，Ｉ１の
２つの電流値に対するエラーチェックがＯＫで，Ｉ２の
電流値に対応するエラーチェックがＮＧであり，この場
合はライト電流Ｉ１に決定できるが，マージンをとって
Ｉ０を選択してもよい。

【００２１】次に図５，図６に示す第２の方法の説明図
（その１），（その２）を説明すると，この第２の方法
はヘッドの寄せ書き特性（隣接トラックへの書き込みに
よる影響）をチェックする方法である。すなわち，図５
のＡ．に示すように記録媒体の特定のトラックｎのセク
タａ〜ｈにデフォルトの一定電流でライト動作を行い，
次にＢ．に示すように，Ａ．でライト動作を行ったトラ
ックｎの隣のトラックｎ−１のセクタａ〜ｈに，電流を
可変しながら（この例では大電流から小電流へ変化）ラ
イト動作を行う。この場合，Ｂ．によるライト動作はト
ラックｎに対してノイズとして働くので，Ａ．とＢ．の
書き込みは異なるパターン（データ）を使う。

【００２２】図５のＢ．に示すライト動作のライト電流
が大きい時はＡ．のトラックｎのデータを消去するた
め，エラーを引起こす場合がある。そのため，図６の
Ｃ．に示すようにＢ．のライト動作を行った後トラック
ｎをリードして，どの電流でライトしたセクタにエラー
が発生したかを判断することにより，ヘッダの寄せ書き
特性を見極めて，適切なライト電流を設定することがで
きる。

【００２３】図７に示す第２の方法による処理フローを
説明する。処理を行う前に図７の右下に示すようにエラ
ー判定対応テーブルを作成する。このテーブルにはセク
タの各番号（Ａ０，Ａ１，・・・）に対して可変に設定
された各ライト電流の値（Ｉ０，Ｉ１，・・・）が書込
まれており，エラーチェック結果はテストの結果により
設定される。

【００２４】テストを開始すると，予め決められた測定
トラック（図５のＡ．の例ではトラックｎ）に移動する
（図７のＳ１）。次にデフォルトライト電流でセクタＡ
０〜ＡｍａｘにデータパターンＸでライト動作を行う
（図７のＳ２）。次に測定トラック−１（この例ではｎ
−１）に移動し（図７のＳ３），ライト電流ＩｎをＩ０
に設定し（同Ｓ４），セクタ番号Ａｎ＝Ａ０（先頭位
置）に設定し（同Ｓ５），セクタＡｎに設定したライト
電流（Ｉ０）によりライト動作を行う（同Ｓ６）。次に
ｎが最大値（ｍａｘ）に達したか判別し（図７のＳ
７），達していないとｎ＋１の更新を行い（同Ｓ８），
上記Ｓ６に戻ってエラー判定対応テーブルのセクタ番号
（Ａｎ）に対応して設定した値のライト電流（Ｉｎ）を
用いてライト動作を順次行う。

【００２５】トラックｎ−１への書き込みのセクタがｎ
＝ｍａｘになると，測定トラック（図５のトラックｎ）
に移動する（同Ｓ９）。次にセクタＡｎ＝Ａ０，セクタ
Ａｎをリード動作する（同Ｓ１０，１１）。読み取った
データにエラーが有るか判別し（図７のＳ１２），エラ
ーが発生した場合，エラー判定対応テーブルの該当位置
にＮＧのチェックを行い（同Ｓ１３），エラーが検出さ
れないとＯＫのチェックを行う（同Ｓ１４）。次にｎが
ｍａｘか判別し（図７のＳ１５），ｍａｘでない場合は
ｎ＝ｎ＋１の更新を行って（同Ｓ１６），Ｓ１１に戻っ
て対応するセクタ番号（Ａｎ）のリード動作を行って，
エラーかの判定と，判定結果に対応するテーブルへのチ
ェックを行う動作を繰り返す。

【００２６】トラックｎのセクタの最後（ｎ＝ｍａｘ）
に達すると，エラー判定対応テーブルをチェックしてど
こでＮＧとなったか判別してライト電流を決定し（図７
のＳ１７），続いて決定した値によりライト電流の設定
変更を行い（同Ｓ１８），テストを終了する。図６のエ
ラー判定対応テーブルの例では，ライト電流Ｉ３（セク
タＡ３）からはエラーチェックはＯＫとなっている。

【００２７】図８，図９はライトリードテストの第３の
方法の説明図（その１），（その２）である。この第２
の方法はヘッドのオーバーライト特性（上書きにより元
のデータが削除できる特性）を見極めるための方法であ
る。

【００２８】図８のＡ．に示すように記録媒体の特定の
トラックｎのセクタａ〜ｈにデフォルトの一定電流でラ
イト動作を行い，次に図８のＢ．に示すように，Ａ．で
ライト動作を行ったトラックｎの隣のトラックｎ−１の
セクタａ〜ｈに，電流を可変しながら（この例では大電
流から小電流へ変化）順次ライト動作を行う。この場
合，Ｂ．によるライト動作はトラックｎに対してノイズ
として働くので，Ａ．とＢ．の書き込みは異なるパター
ン（データ）を使う。Ｂ．のライト動作のライト電流が
大きい時はＡ．のトラックｎのデータを消去するため，
エラーを引起こす場合がある。そこで，図９のＣ．に示
すようにトラックｎをリードし，Ｂ．の隣接トラックｎ
−１へのどの電流でライトしたセクタがエラーであるか
判断することによりヘッドの寄せ書き特性を見極めるこ
とができる。また，図９のＤ．に示すようにＢ．でライ
トしたトラックｎ−１をリードし，どの電流でライトし
たときエラーがないかを判断することにより，ヘッドの
オーバライト特性を見極めることができる。この第３の
方法では，図９のＣ．で決定したライト電流とＤ．で決
定したライト電流の中間値を選択すれば，更に適切なラ
イト電流を設定することができる。

【００２９】図１０，図１１に示す第３の方法による処
理フロー（その１），（その２）を説明する。処理を行
う前に図１１の下側に示すようなエラー判定対応テーブ
ルを作成する。このテーブルにはセクタの各番号（Ａ
０，Ａ１，・・・）に対して可変に設定された各ライト
電流の値（Ｉ０，Ｉ１，・・・）が書込まれており，エ
ラーチェック結果としてエラーチェック１とエラーチェ
ック２という２つの項目に対応する欄が設けられてい
る。

【００３０】テストを開始すると，予め決められた測定
トラック（図８のＡ．の例のトラックｎ）に移動する
（図１０のＳ１）。次に予め設定されたデフォルトライ
ト電流でセクタＡ０〜ＡｍａｘにデータパターンＸでト
ラックｎにライト動作を行う（図１０のＳ２）。次に測
定トラック−１（図８のＢ．に示すトラックｎ−１）に
移動し（図１０のＳ３），ライト電流ＩｎをＩ０に設定
し（同Ｓ４），セクタ番号ＡｎをＡ０に設定し（同Ｓ
５），セクタＡｎにデータパターンＹ（上記データパタ
ーンＸとは明確に異なるパターン）でライト動作を行う
（同Ｓ６）。

【００３１】次に，測定トラック−１への書き込みのセ
クタがｎ＝ｍａｘになると，測定トラック（図９のＣ．
に示すトラックｎ）に移動する（図１０のＳ９）。次に
セクタＡｎ＝Ａ０として（図１０のＳ１０），セクタＡ
ｎをリード動作し（同Ｓ１１），読み取ったデータにエ
ラーが有るか判別する（同Ｓ１２）。エラーが発生した
場合，エラー判定対応テーブルのエラーチェック１の該
当位置にＮＧのチェックを行い（図１０のＳ１３），エ
ラーが検出されないと前記テーブルのエラーチェック１
の該当位置にＯＫのチェックを行う（同Ｓ１４）。次に
ｎがｍａｘか判別し（図１０のＳ１５），ｍａｘでない
場合はｎ＝ｎ＋１の更新を行って（同Ｓ１６），Ｓ１１
に戻って対応するセクタ番号（Ａｎ）のリード動作を行
って，エラーかの判定と，判定結果に対応するテーブル
のエラーチェック１のチェックを行う動作を繰り返す。

【００３２】ｎがｍａｘになると，測定トラック−１
（図９のＤ．のトラックｎ−１）に移動する（図１１の
Ｓ１７）。ここで，セクタＡｎ＝Ａ０に設定し（図１１
のＳ１８），セクタＡｎをリード動作する（同Ｓ１
９）。これによりリードされたデータがエラーか判別し
（図１１のＳ２０），エラーを検出した場合，エラー判
定対応テーブルのエラーチェック２の該当位置にＮＧの
チェックを行い（図１１のＳ２１），エラーが検出され
ないと前記テーブルのエラーチェック２の該当位置にＯ
Ｋのチェックを行う（同Ｓ２２）。次にｎがｍａｘか判
別し（図１１のＳ２３），ｍａｘでない場合はｎ＝ｎ＋
１の更新を行って（同Ｓ２４），Ｓ１９に戻って対応す
るセクタ番号（Ａｎ）のリード動作及びエラーの判定
と，判定結果に対応するテーブルのチェックを繰り返し
行う。ｎがｍａｘになると，テーブルのエラーチェック
１とエラーチェック２を参照し，どの範囲でＯＫかを判
別してライト電流を決定し（図１１のＳ２５），決定し
た値によりライト電流設定の変更を行い（同Ｓ２６），
テストを終了する。

【００３３】図１１の下部に示すエラー判定対応テーブ
ルの例では，エラーチェック１ではライト電流Ｉ３まで
ＯＫで，エラーチェック２ではライト電流Ｉ１からＯＫ
であるため，ライト電流＝（Ｉ１＋Ｉ３）／２＝Ｉ２と
なり，ライト電流はＩ２が選択される。

【００３４】上記図３乃至図１１に示すライトリードテ
ストの第１，第２，第３の各方法では，ライト電流を可
変させる場合に，ライト電流を大から小（または小から
大）に可変させて連続セクタをライトしているが，電流
の順序がばらばらでも，どのセクタをどの電流でライト
したかを上記のエラー判定対応テーブルのような手段に
より記憶しておけばよい。また，同様に，どのセクタは
どの電流でライトしたかを記憶しておけば，ライトする
セクタが連続していなくともよい。更に，同一トラック
としているのは，テスト時間を短縮するためであり，テ
スト時間に余裕があるなら複数トラックでテストしても
よい。また，テスト結果をより正確にするため，数度同
じテストを繰り返すようにしてもよい。

【００３５】次に上記の第１乃至第３のライトリードテ
ストをどのような形態で実施するか，以下に説明する図
１２乃至図１４に示す。図１２はライトリードテストを
実行する実施例１の処理フローである。この実施例１で
は一定時間毎にライトリードテストを行う。

【００３６】最初に，電源をオンとして磁気ディスク装
置を動作させ（図１２のＳ１），タイマをクリアして
（同Ｓ２），タイマをオンとし（同Ｓ３），磁気ディス
ク装置の通常動作を行う（同Ｓ４）。この後，タイマの
設定時間になったか判別し（図１２のＳ５），設定時間
になるとライトリードテストを実行し（同Ｓ６），その
結果からライト電流決定して磁気ディスク装置にそれま
でに設定された値を決定した値に更新する（同Ｓ７）。

【００３７】この図１２の実施例１の方法により，温度
状況の変化に対応してエラーレイトを向上することがで
きる。図１３はライトリードテストを実行する実施例２
の処理フローである。この実施例２は温度の変化により
ライトリードテストを実行し，予め不揮発メモリに温度
に対応したライト電流を書き込んだ温度対ライト電流テ
ーブルが用意され，温度センサ（図２の３５）の検出温
度を利用する。

【００３８】最初に電源をオンとして磁気ディスク装置
を動作させ（図１３のＳ１），不揮発メモリ等から温度
対ライト電流テーブルを読み込む（同Ｓ２）。この後，
磁気ディスク装置の通常動作を行い（図１３のＳ３），
その間に温度測定を行って（同Ｓ４），その温度がテス
トを行う温度ポイントか判別する（同Ｓ５）。この温度
ポイントは，例えば，予め５°Ｃ毎にテストを行うよう
温度ポイント（例えば，１０°Ｃ，１５°Ｃ，２０°
Ｃ，２５°Ｃ，３０°Ｃ）が設定されているものとする
と，ステップＳ５では何れかの温度ポイントになったか
否かを判別する。温度ポイントになっていない場合はス
テップＳ３に戻り通常動作を行い，温度ポイントになっ
たことを検出すると，上記のライトリードテストを実行
し（図１３のＳ６），ライト電流を決定してそれまでの
値を更新する（同Ｓ７）。この後，Ｓ３に戻って，通常
動作を行う。

【００３９】図１３の実施例２の方法によれば，温度変
化毎に特定セクタにおいてライト電流最適化のテストを
行うことで，磁気ディスク装置のライトリードにおいて
温度変化に影響を受けることがなくなる。

【００４０】図１４はライトリードテストを実行する実
施例３の処理フローである。この実施例３では測定済の
温度範囲については温度対ライト電流テーブルに記録さ
れたライト電流を使用する。

【００４１】電源オンの後（図１４のＳ１），不揮発メ
モリ等から温度対ライト電流テーブルを読み込む（同Ｓ
２）。この後，磁気ディスク装置の通常動作が行われ
（図１４のＳ３），その合間に温度測定（温度センサの
値を検出）を行い（同Ｓ４），検出した温度がテストを
行う温度ポイントか判別する（同Ｓ５）。この温度ポイ
ントは上記図１３のステップＳ５と同様の意味を持ち，
温度ポイントでなければＳ３に戻るが，温度ポイントで
あれば測定済み温度範囲か判別する（同Ｓ６）。なお，
この判別に使用する温度対ライト電流テーブル（上記Ｓ
２で読み込み済）には，各温度ポイント（温度範囲と同
義）に対応して測定（ライトリードテスト）済か否かを
表すチェック領域と，その測定により決定した適正なラ
イト電流が格納されているものとする。

【００４２】この判別において測定済の温度範囲である
ことが分かると，テーブルを参照して設定変更をし（図
１４のＳ１１），ステップＳ３の通常動作に戻り，測定
済でない場合は，ライトリードテストを実行し（図１４
のＳ７），ライト電流を決定して磁気ディスク装置の現
在のライト電流を決定した値に更新する（同Ｓ８）。次
に，不揮発メモリ等の温度対ライト電流テーブルの中の
現在の温度範囲に測定済みチェックを加える（図１４の
Ｓ９）。次に不揮発メモリ等の温度対ライト電流テーブ
ルを更新して（同Ｓ１０），ステップＳ３の通常動作に
戻る。

【００４３】この実施例３の方法により，ある温度でテ
ストを行って最適値を決定してテーブルに記憶した後
は，一度経験した温度ではその値を使用することによ
り，テストの回数を減らし，処理速度を向上することが
できる。

【００４４】上記図１３の実施例２及び図１４の実施例
３において，温度対ライト電流テーブルは不揮発メモリ
上に書き込んで保持することができるが，この他に磁気
ディスクの記録媒体の特定のセクタに書き込んでおき，
ここから読み込むようにすることができる。

【００４５】

【発明の効果】本発明によれば磁気ディスク装置のヘッ
ド部のヘッドコアが一定範囲に収まらず，書き広がり量
が装置に応じてばらついても温度による記録媒体の保持
力（ＨＣ）が変化し，書き広がり量が変化しても，ライ
ト電流を変化させることができる回路を用いてテストを
行い，環境に応じたライト電流を設定できることによ
り，隣のトラックに悪影響を及ぼすことなくエラーレイ
トを低下させて特性の向上を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成を示す図である。

【図２】本発明が実施される磁気ディスク装置の制御部
の構成を示す図である。

【図３】ライトリードテストの第１の方法による動作の
説明図である。

【図４】第１の方法による処理フローを示す図である。

【図５】ライトリードテストの第２の方法による動作の
説明図（その１）である。

【図６】ライトリードテストの第２の方法による動作の
説明図（その２）である。

【図７】第２の方法による処理フローを示す図である。

【図８】ライトリードテストの第３の方法による動作の
説明図（その１）である。

【図９】ライトリードテストの第３の方法による動作の
説明図（その２）である。

【図１０】第３の方法による処理フロー（その１）を示
す図である。

【図１１】第３の方法による処理フロー（その２）を示
す図である。

【図１２】ライトリードテストを実行する実施例１の処
理フローである。

【図１３】ライトリードテストを実行する実施例２の処
理フローである。

【図１４】ライトリードテストを実行する実施例３の処
理フローである。

【符号の説明】

１ 制御部 １０ ライトリードテスト部 １１ トラック指定手段 １２ ライト電流可変手段 １３ 読取チェック手段 １４ 最適ライト電流判別手段 １５ 起動部 １５０ 設定温度検出部 １５１ 一定周期検出部 １６ メモリ ２ ヘッド部 ３ 温度センサ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ライト電流を可変に制御する回路を備え
   た磁気ディスク装置におけるライトリード制御方法にお
   いて，適正なライト電流を決定するためのライトリード
   テスト部を備え，前記ライトリードテスト部は，指定さ
   れたトラック上の多数の所定区間毎にライト電流を順次
   変更してデータを書き込む制御を行い，次に前記各区間
   のデータの読み取りと誤りのチェックを行って結果をテ
   ーブルに書き込み，前記テーブルをチェックして誤りが
   検出されない区間のライト電流を適正ライト電流として
   決定して，書き込みを行うことを特徴とする磁気ディス
   ク装置におけるライトリード制御方法。
2. 【請求項２】 請求項１において，前記ライトリードテ
   スト部は，指定されたトラック上の多数の所定区間毎に
   ライト電流を予め設定した固定のライト電流によりデー
   タを書き込む制御を行い，次に，前記指定トラックの隣
   接トラック上の多数の所定区間毎にライト電流を順次変
   更してデータを書き込む制御を行い，続いて，前記指定
   トラックの各区間のデータの読み取りと誤りのチェック
   を行って結果をテーブルに書き込み，前記テーブルをチ
   ェックして誤りが検出されない区間のライト電流を適正
   ライト電流として決定して，書き込みを行うことを特徴
   とする磁気ディスク装置におけるライトリード制御方
   法。
3. 【請求項３】 ライト電流を可変に制御する回路を備え
   た磁気ディスク装置におけるライトリード制御方法にお
   いて，前記制御部は，メモリに格納された各温度範囲に
   対応するライト電流が設定されたテーブルを読み出して
   ライト・リードの通常動作を行い，前記通常動作の合間
   に温度測定を行い，前記測定された温度がライトリード
   テストを行う温度範囲に含まれることを検出すると，請
   求項１乃至３に記載のライトリードテストの何れか一つ
   を実行して，ライト電流を決定して更新することを特徴
   とする磁気ディスク装置におけるライトリード制御方
   法。
4. 【請求項４】 ライト電流を可変に制御する回路を備え
   た磁気ディスク装置におけるライトリード制御装置にお
   いて，前記ライトリード制御装置は，ライトリードテス
   ト部を備え，前記ライトリードテスト部は，テスト対象
   となるトラックを指定するトラック指定手段と，指定ト
   ラック上の所定区間毎に順次ライト電流の値を変更して
   複数の区間にデータを記録する制御信号をヘッド機構に
   供給するライト電流可変手段と，前記ライト動作の後に
   起動されて前記トラック上の複数の各区間のデータを読
   み取ってチェックを行う読み取りチェック手段と，前記
   チェック結果に基づいて最適ライト電流を決定する最適
   ライト電流判別手段とを備え，前記決定された最適ライ
   ト電流により磁気ディスク装置からの読み取りを行うこ
   とを特徴とするライトリード制御装置。