JP3473267B2 - リードヘッドとライトヘッドの位置ずれ測定装置および測定方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置の磁
気ヘッドの試験方法及び試験装置に係り、特に磁気ヘッ
ドを中央部のトラックのシーク位置とそのトラック内の
インナ及びアウタ側でのリード出力レベルの変動率を求
めて、これに所定係数を掛けてずれ量を求める方法及び
試験装置、及び予め求めたずれ量で、一回転でライトリ
ードを行い、以後は一回転の一部でライトし残りの回転
でリードしてリード出力レベルを測定することを複数回
繰り返す方法及び試験装置に関するものである。

【０００２】近来、磁気ディスクに磁気ヘッドによって
情報の書込み／読取り、即ち、ライト／リードを行う磁
気ディスク装置がコンピュータの周辺機として広く使用
されている。磁気ディスク装置に使用される磁気ヘッド
には、ライト素子とリード素子を僅かな間隔を置いて配
置したものが主流になっている。

【０００３】磁気ディスク装置は、小型化、高密度、大
容量化、高速アクセスの傾向にあり、これに連れてトラ
ックピッチが狭い高密度のディスクが搭載されるように
なり、また、磁気ディスクの径も小さなものが使用され
るようになってきた。更に、磁気ヘッドも、記録データ
の高密度化に対応して、ライト／リードを同一素子で行
うものから、ライト素子とリード素子を有し、高い記録
密度が得られるＭＲ(Magneto Registive：磁気抵抗型）
ヘッドに移行している。

【０００４】しかしながら、ＭＲヘッドでは、磁気ディ
スクのトラックの位置によって、トラックのカーブの半
径と磁気ヘッドの相対位置の変化によりライト素子とリ
ード素子の位置の差（ずれ量）が大きくなり、これにラ
イト素子とリード素子の間隔等の製造上のバラツキや、
素子の性能変化等が加わって、リード出力レベルが低下
したり、オフトラックが生じたりして、ライト／リード
ミスの発生を招く原因になっている。

【０００５】このため、磁気ヘッド単体として、ずれ量
を測定して許容値と比較する試験や、シークした位置で
のリード出力レベルを測定して、ライトによるリード素
子に与える性能の変動の有無を判定する試験が行われて
いるが、ずれ量の測定やリード素子の変動の判定試験に
時間が掛かるので、これを短縮できる方法が望まれてい
る。

【０００６】

【従来の技術】磁気ディスク装置については、本出願人
による特願平０３−００６０５５号に記載されている
が、以下に図１１により従来例を説明する。

【０００７】図１１の平面図に示すように、磁気ディス
ク装置は、ディスク組立部１及びアクチュエータ（ヘッ
ド駆動手段)2a で構成されている。ディスク組立部１
は、複数の磁気ディスク3a(3b,─) を等ピッチで積層
し、磁気ディスク3a(3b,…) は図示していないモータに
よって矢印方向に回転する。

【０００８】アクチュエータ2aは、ピボット４を有し、
先端に磁気ヘッド5a(5b,…) を搭載した複数のスプリン
グ20a(20b,…) の後端が夫々ヘッドアーム21a(21b,…)
に固定されている。

【０００９】そしてピボット４に対してヘッドアーム21
a(21b,…) の反対側に設けられたボイスコイルモータ
（ＶＣＭ：以下揺動モータという)M1 の駆動により、ピ
ボット４を中心に矢印方向に揺動し、磁気ヘッド5a(5b,
…) が磁気ディスク3a(3b,…)の半径方向に揺動する。

【００１０】磁気ヘッド5a(5b,…) は、磁気ディスク3a
(3b,…) が静止している時は、磁気ディスク3a(3b,…)
の面に接触し、磁気ディスク3a(3b,…) が回転すると、
磁気ディスク3a(3b,…) の面から僅か浮上する。

【００１１】従って、アクチュエータ2aが揺動モータM1
の駆動により揺動することによって、ヘッドアーム21a
(21b,…) の先端の磁気ヘッド5a(5b,…) が回転する磁
気ディスク3a(3b,…) の半径方向に移動して、目的のト
ラックにシークされて、データのライト (書込み) 或い
はリード (読取り) が行われる。

【００１２】以上説明した磁気ヘッド5a(5b,…) は、最
近では、ヘッドスライダ50上に、データの記録を行うイ
ンダクティブ型ライト素子と、再生を行うＭＲヘッド型
リード素子が、僅かの間隔を置いて形成された複合ヘッ
ドが主流となっている。

【００１３】その理由は、複合ヘッドの方が、高密度化
の流れから従来のライトとリードを同一素子で形成した
インダクティブ型ヘッドより高い記録密度が得られるた
めである。

【００１４】複合ヘッドでは、図１２(a) に示すよう
に、磁気ヘッド5a(5b,…) のヘッドスライダ50上のライ
ト素子（ライトギャップ）51とリード素子（リードギャ
ップ）52の間に僅かながら距離があるため、ライト位置
とリード位置の中心が磁気ディスク3a(3b,…) の中央部
のトラック上で、夫々トラック幅の中心位置にくるよう
に、シフト量Ｓだけずらして、ヘッドスライダ50上でラ
イト素子51とリード素子52の相対位置が設定されてい
る。

【００１５】しかし、(b) に示すように、磁気ヘッド5a
(5b,…) を搭載したアクチュエータ2aのピボット軸４の
中心から磁気ヘッド5a(5b,…) までの半径R₁と、同心円
を成すトラックの半径R₂の関係で、図中２点鎖線で示す
ように、磁気ヘッド5a(5b,…) が中央部よりトラックか
ら矢印方向に内側或いは外側に移動すると、中央位置か
ら離れるにつれて、トラック幅に対向するライト素子51
とリード素子52の相対角度が変化する。

【００１６】このため、(a) で示したシフト量Ｓでは対
応できなくなって、ライト位置とリード位置にずれを生
じる。このずれ量は磁気ヘッド5a(5b,…) のライト素子
51とリード素子52の間隔の製造上のバラツキによって異
なり、ずれ量が所定値を越えると、ディスクのライト／
リードミスが発生する。

【００１７】また、磁気ヘッド5a(5b,…) の品質の良否
により、ライト素子51に対するライト時の通電のショッ
クでリード素子52の抵抗器の抵抗値が変化して、磁気ヘ
ッド自体に再現性が少ない性能変動 (振幅変化等の波形
変動、波形歪等) が生じて所定の再生波形が得られない
場合がある。

【００１８】従って、ずれ量が多い磁気ヘッド5a(5b,
…) や所望の再生波形が得られない磁気ヘッド5a(5b,
…) は除去する必要があり、これらの良否を判定するた
めの磁気ヘッド単体としての試験が行われている。

【００１９】次に磁気ヘッドのライト位置とリード位置
のずれ量測定方法及び磁気ヘッドのリード素子変動試験
方法を説明する。なお、この場合は、磁気ヘッドの単品
評価であるので、磁気ヘッドの移動は、前記揺動モータ
M1の代わりに、圧電素子またはステッピングモータで行
う。

【００２０】(a)ずれ量測定方法 測定対象の磁気ヘッド5Aを磁気ディスク3Aの中央部の
トラックからインナ側トラック及びアウタ側トラックへ
移動させた時の、ライト素子51のライト位置とリード素
子52のリード位置のずれ量を顕微鏡で測定して、その測
定値を許容限界ずれ量と比較して良否を判定する。即
ち、許容限界ずれ量を越えた場合に磁気ヘッド5Aを不良
と判定する。

【００２１】或いは、他の方法として、ライト後、微
小ステップで磁気ヘッドをずらしてリードを行ってリー
ドレベルを測定し、また、少しずらしてリードを行うと
いう繰り返しを行い、一番リードレベルが高くリードさ
れた位置とライトした位置との距離をずれ量とする方法
もある。

【００２２】(b)リード素子の性能変動試験方法 性能変動試験項目は約10項目あり、再生波形を繰り返し
測定して、波形歪や最大／最小出力変動率等を調べるも
のであるが、ここでは、再生波形の振幅を測定する場合
を例としている。

【００２３】図１３に示すように、設定した周波数F1
（磁気ディスク装置が使用する最大転送速度によって決
まる周波数で、最大周波数の１／ｎの、例えば、５種類
の周波数F1〜F5が順次設定される。）で磁気ディスク3A
の一回転毎のインデックス信号に同期して、磁気ヘッド
5Aによりイレーズ（消去：Ｅ）、ライト（Ｗ）及び(a)
で求めたずれ量だけ補正した位置でリード（Ｒ）を行
う。

【００２４】再びライト位置へ戻し、これを例えば、10
回繰り返して、夫々のリード時の再生波形を測定し、そ
の振幅w₁〜w₁₀ の平均値ｗと所定の許容上下限界値を比
較して磁気ヘッド5Aの性能の良否を判定する。即ち、許
容上下限界値を超えた場合に磁気ヘッド5Aを不良と判定
する。

【００２５】図の例では、磁気ディスク3aの回転数：60
00ｒｐｍ（10ｍｓ／周）、オフセット時間（磁気ヘッド
移動時間＋振動収斂時間）は100 ｍｓとしている。

【００２６】

【発明が解決しようとする課題】上記従来方法によれ
ば、(a) のずれ量測定方法の、では、ずれ量の光学的
な測定には多大な時間を要し、では、磁気ヘッドを微
小ステップずつずらすのに何度も機械的動作が必要とな
り、非常に時間が掛かる。また、(b) のリード素子の性
能変動試験方法では、磁気ヘッドの移動をメカ的に制御
するため、移動後の残留振動等を考慮すると、停止まで
に100 ｍｓ以上を要する。更に、ライトの度に磁気ヘッ
ドをオフセットしていては、移動回数が多いため試験時
間が大幅に増大する。という問題点がある。

【００２７】本発明は、磁気ヘッドのライト／リード時
のずれ量の測定及び磁気ヘッドの性能変動試験に要する
時間を著しく短縮することができる磁気ヘッド試験方法
及び試験装置を提供することを目的としている。

【００２８】

【課題を解決するための手段】図１〜図４は本発明の原
理説明図で、図１は請求項１に対応し、図２は請求項４
に対応し、図３は請求項５に対応し、図４は請求項９に
対応している。

【００２９】図１において、２はヘッド駆動手段、３は
磁気ディスク、５は磁気ヘッド、10はリードレベル測定
手段、14はディスク駆動手段、80はライト制御手段であ
る。ライト素子及びリード素子を有し、ヘッド駆動手段
２によって移動する磁気ヘッド５を、ディスク駆動手段
14によって回転する磁気ディスク３の所定のトラックに
位置付けして、ライト制御手段80によってイレーズ及び
データをライトし、リードレベル測定手段10によってリ
ードして第１のリード出力レベルL1を測定し、磁気ヘッ
ド５をトラック内で前記位置付け位置からアウタ（或い
はインナ）側に移動し、リードレベル測定手段10によっ
て夫々リードして第２のリード出力レベルL2を測定し、
更に、磁気ヘッド５をトラック内で前記位置付け位置か
らインナ（或いはアウタ）側に、前記アウタ（或いはイ
ンナ）側への移動量と同量移動し、リードレベル測定手
段10によって夫々リードして第３のリード出力レベルL3
を測定するように構成されている。

【００３０】従って、第１のリード出力レベル、第２の
リード出力レベルL2及び第３のリード出力レベルL3を測
定することにより、これらの測定値からずれ量変動率を
演算して、予め設定された係数を掛けてライト位置とリ
ード位置のずれ量を求めることができるので、従来の光
学的に測定する方法に較べて、著しく測定時間が短縮さ
れて、試験作業の効率を高めることができる。

【００３１】請求項２：第２のリード出力レベルL2と第
３のリード出力レベルL3の差を第１のリード出力レベル
L1で割ってずれ量変動率を求め、予め設定された係数を
掛けてライト位置とリード位置のずれ量を算出するよう
に構成されている。

【００３２】請求項３：算出されたずれ量を予め設定さ
れた許容限界ずれ量と比較して磁気ヘッド５の良否を判
定する。図２において、２はヘッド駆動手段、３は磁気
ディスク、５は磁気ヘッド、11は波形測定手段、14はデ
ィスク駆動手段である。

【００３３】磁気ディスク３のトラック上の予め測定し
た磁気ヘッド５のライト位置とリード位置のずれ量Ｙを
設定し、ライト素子及びリード素子を有し、ヘッド駆動
手段２によって移動する磁気ヘッド５を、ディスク駆動
手段14によって回転する磁気ディスク３の所定のトラッ
クに位置付けして、ライト制御手段80によってイレーズ
及びデータをライトし、ずれ量Ｙだけ補正した位置で波
形測定手段11によってリードして再生波形の測定を夫々
一回転行い、以後はその位置で磁気ディスク３の一回転
中の所定回転だけライト制御手段80によってデータをラ
イトし、残りの回転で波形測定手段11によってリードし
て再生波形Ｗの測定を複数回転繰り返すように構成され
ている。

【００３４】従って、予め測定した磁気ヘッド５のライ
ト位置とリード位置のずれ量Ｙを設定して、一回転ずつ
イレーズ、データのライト及びずれ量Ｙだけ補正した位
置でリードして再生波形Ｗを測定した後、一回転中の所
定回転だけデータをライトし、残りの回転でずれ量Ｙだ
け補正した位置でリードして再生波形Ｗを測定すること
を複数回行うことにより、ライト素子へのライト時の通
電がリード素子に及ぼす影響を試験するのに、従来のラ
イト及びリードを夫々一回転ずつ行う方法と比較して、
一回転でライト及びリードを行うので、著しく試験時間
を短縮することができる。

【００３５】図３において、３は磁気ディスク、５はラ
イト素子及びリード素子を有する磁気ヘッド、14は磁気
ディスク３を回転させるディスク駆動部、２は磁気ディ
スク３上の所定のトラックに磁気ヘッド５を位置付けさ
せると共に、設定量だけ移動させるヘッド駆動手段、80
はトラックに位置付けした磁気ヘッド５により、イレー
ズ及びデータをライトするライト制御手段、10はライト
されたデータをリードしてリード出力レベルを測定する
リードレベル測定手段、12はヘッド駆動手段２によって
磁気ヘッド５を所定のトラックに位置付けして、ライト
制御手段80によりライトしたデータをリードレベル測定
手段10によってリードして第１のリード出力レベルL1を
測定し、ヘッド駆動手段２により磁気ヘッド５をトラッ
ク内で前記位置付けした位置からアウタ（或いはイン
ナ）側に移動させて、リードレベル測定手段10によって
リードして第２のリード出力レベルL2を測定し、更に、
ヘッド駆動手段２により磁気ヘッド５をトラック内で前
記位置付けした位置からインナ（或いはアウタ）側に、
前記アウタ（或いはインナ）側への移動量と同量移動さ
せて、リードレベル測定手段10によってリードして第３
のリード出力レベルL3を測定するように制御する測定制
御手段である。

【００３６】測定された第１のリード出力レベルL1、第
２のリード出力レベルL2及び第３のリード出力レベルL3
を出力するように構成されている。従って、磁気ヘッド
５のライト素子及びリード素子のトラック上のずれ量
を、リードレベル測定手段10によって測定した第１のリ
ード出力レベルL1、第２のリード出力レベルL2及び第３
のリード出力レベルL3から（演算したずれ量変動率に予
め設定された係数を掛けて）求めることができるので、
従来の光学的にずれ量を測定する方法に較べて、著しく
測定時間が短縮されて、試験作業の効率を高めることが
できる。

【００３７】請求項６：第２のリード出力レベルL2と第
３のリード出力レベルL3の差を第１のリード出力レベル
L1で割ってずれ量変動率を算出し、予め設定された係数
を掛けてライト位置とリード位置のずれ量を演算するず
れ量演算手段を備え、演算されたずれ量を出力するよう
に構成されている。

【００３８】請求項７：ずれ量を設定された許容限界ず
れ量と比較して磁気ヘッド５の良否を判定する判定手段
を備える構成とする。 請求項８：第２のリード出力レベルL2と第３のリード出
力レベルL3の差を第１のリード出力レベルL1で割ったず
れ量変動率をＸとし、最初にライトした位置及び第１の
リード出力レベルL1を測定したリード位置のずれ量をＹ
μｍとし、係数をＡとすると、ずれ量変動率Ｘとずれ量
Ｙμｍの間に、Ｙ＝ＡＸμｍが成立する。この関係は実
験によって結論付けられたものである。（図７参照） 請求項９：係数Ａは1.８である。

【００３９】従って、測定した第１〜第３のリード出力
レベルL1〜L3から求めたずれ量変動率Ｘからずれ量Ｙμ
ｍを容易に求めることができる。図４において、３は磁
気ディスク、５は磁気ヘッド、14は磁気ディスク３を回
転させるディスク駆動部、２は磁気ディスク３上のトラ
ックに磁気ヘッド５を位置付けさせるヘッド駆動部、80
はトラック上に位置付けした磁気ヘッド５により、イレ
ーズ及びデータをライトするライト制御手段、11はライ
トされたデータをリードして再生波形Ｗを測定する波形
測定手段、16は磁気ヘッド５を回転する磁気ディスク３
の所定のトラックに位置付けして、ライト制御手段80に
よりイレーズ及びデータのライトを夫々一回転行い、予
め設定された磁気ヘッド５のライト位置とリード位置の
ずれ量Ｙだけ補正した位置で、波形測定手段11によりリ
ードして再生波形の測定をを一回転行い、以後はその位
置で一回転中の所定回転だけライトし、残りの回転でリ
ードを行って再生波形Ｗを測定する動作を複数回転繰り
返すように制御するライトタイミング制御手段である。

【００４０】ライトタイミング制御手段16の制御で、波
形測定手段11によって測定された再生波形Ｗを出力する
ように構成されている。従って、一回転ずつイレーズ、
データのライト及び予め設定したずれ量Ｙだけ補正した
位置でリードを行った後、一回転中の所定回転だけデー
タをライトし、残りの回転で、その位置でリードして再
生波形Ｗを測定することを複数回行うことにより、ライ
ト素子へのライト時の通電がリード素子に及ぼす影響を
試験するのに、従来のライト及びリードを夫々一回転ず
つ複数回行う方法と比較して、一回転でライト及びリー
ドを行うので、著しく試験時間を短縮することができ
る。

【００４１】

【発明の実施の形態】以下、従来例で説明した磁気ヘッ
ドのずれ量測定及び性能試験に、本発明を適用した実施
例を図５〜図１０を参照して説明する。図５は実施例の
磁気ヘッド試験装置を示すブロック図、図６は実施例の
ずれ量測定の説明図、図７はずれ量変動率とずれ量の関
係を示す図、図８は磁気ヘッド再生波形試験のタイムチ
ャート、図９及び図１０は実施例のフローチャートを示
す。全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。

【００４２】図５において、６はＣＰＵ、７は操作表示
部、８はＲＯＭ、９はＲＡＭ、10ａはレベル／波形測定
回路（リードレベル測定手段及び波形測定手段）、13は
プリアンプ、15はドライバ、M2はモータ（ディスク駆動
手段）を示す。また、磁気ディスク3Aは試験装置に備え
た磁気ディスクであり、磁気ヘッド5Aは試験対象の磁気
ヘッド単体で、試験時にアクチュエータ2Aの先端部に装
着される。

【００４３】ＣＰＵ６は、ＲＯＭ８に格納された制御プ
ログラムに従って各部を制御する。操作表示部７は、操
作部と表示部で構成され、操作部は、磁気ヘッド5Aのラ
イト時とリード時のずれ量測定を指示するずれ量測定釦
70、磁気ヘッド5Aのライト時の通電がリード性能に与え
る影響を試験するための性能試験を指示する性能試験指
示釦71、及び試験したい周波数を設定する周波数指定釦
72を備え、表示部は、指示内容、設定周波数及び試験結
果の良否を表示する。

【００４４】ＲＯＭ８は、ライト制御部（ライト制御手
段及びライトタイミング制御手段）80ａ、リード制御部
81、アクチュエータ駆動制御部（測定位置制御手段)82
、演算部（演算手段)83 、及び判定部 (判定手段)84
の制御プログラムと設定部85の領域を備えている。制御
プログラムは、ずれ量測定モード及び性能試験モードで
構成され、操作表示部７からのずれ量測定釦70或いは性
能試験指示釦71の指示によって、ずれ量測定モード或い
は性能試験モードのプログラムが起動する。

【００４５】ライト制御部80ａは、ずれ量測定時には、
回転する磁気ディスク3Aの中央部のトラックのセンタポ
ジションに磁気ヘッド5Aをシークさせて、イレーズ及び
予め設定されたデータのライトを一回転ずつ行い、その
位置でリードを行うようにリード制御部81へ指令する。

【００４６】性能試験時には、イレーズ及びデータのラ
イトを夫々一回転行うと、磁気ヘッド5Aを予め設定され
たずれ量ｙだけ補正した位置へ移動させるようにアクチ
ュエータ駆動制御部82へ指令し、移動した通知を受ける
と、リード制御部81へ指令して、リード制御部81でレベ
ル／波形測定回路10ａによりリードを一回転行った後
は、その位置で一回転中の所定回転（例えば、一回転に
要する時間８〜16ｍｓ中の１ｍｓ）だけライトし、残り
の回転でリードを行うようにリード制御部81へ指令す
る。この場合のライトは、リード素子に通電ショックを
与えることだけを目的としたものである。

【００４７】リード制御部81は、ずれ量測定時には、ラ
イト制御部80ａ或いはアクチュエータ駆動制御部82から
の指令によって、レベル／波形測定回路10ａによるリー
ド出力レベルの測定を制御し、測定が終わるとライト制
御部80ａ及びアクチュエータ駆動制御部82へ通知し、測
定結果をＲＡＭ９の測定値ファイル90へ送る。

【００４８】性能試験時には、ライト制御部80ａからの
指令によって、レベル／波形測定回路10ａによる再生波
形の振幅ｗの測定を制御し、測定が終わるとライト制御
部80ａへ通知する。いずれの場合も測定結果をＲＡＭ９
の測定値ファイル90へ送る。

【００４９】アクチュエータ駆動制御部82は、ドライバ
15を制御してアクチュエータ（ヘッド駆動手段)2A を従
来方法で説明した圧電素子に電圧を印加して駆動させて
磁気ヘッド5Aの揺動を制御する。

【００５０】特にずれ量測定時には、ライト制御手段80
ａによりライトしたデータをリードレベル測定回路10ａ
がリードしてリード出力レベルL₁を測定した通知を受け
て、図６に示すように、磁気ヘッド5Aをシークしたセン
タポジションから、磁気ヘッド5Aを設定部85に設定した
距離ｅだけトラック内のインナ側へ移動させて、リード
制御部81にレベル／波形測定回路10ａにより移動位置で
リード出力レベルL₂を測定し、次いで磁気ヘッド5Aをア
ウタ位置に距離ｅだけトラック内のアウタ側へ移動させ
て、リード制御部81にレベル／波形測定回路10ａにより
移動位置でリード出力レベルL₃を測定するように通知す
る。

【００５１】性能試験時には、ライト制御部80ａからの
指令でアクチュエータ2Aを駆動させて磁気ヘッド5Aを設
定ずれ量ｙだけ位置補正する。演算部83ａは、ずれ量試
験時に、測定されて測定値ファイル90に格納されたリー
ド出力レベルL₁〜L₃から、（L₂−L₃)/L₁＝ｘを演算し、
設定部85に設定された係数ａを読み出して、ａｘ＝ｙを
演算して、ＲＡＭ９のずれ量記憶部91へ送る。

【００５２】性能試験時には、測定値ファイル90に格納
された再生波形の振幅w₁〜w₁₀ から平均振幅ｗを演算し
て、測定値ファイル90へ送る。判定部84は、ずれ量試験
時には、測定された測定値ファイル90に格納されたずれ
量ｙ、及び設定部85に設定された許容限界値S₁を読み出
して、ずれ量ｙと許容限界ずれ量S₁を比較し、ｙ≦S₁で
あれば良品、ｙ＞S₁であれば不良品と判定する。

【００５３】性能試験時には、測定値ファイル90に格納
された平均振幅ｗ、及び設定部84に設定された許容限界
ずれ量S₂を読み出して比較して、平均振幅ｗと許容上下
限界値S₂,S₃ を比較し、S₂≧ｗ≧S₃であれば良品、S₂＞
ｗか、ｗ＜S₃であれば不良品と判定する。

【００５４】設定部85は、複数の記憶領域に分かれてお
り、磁気ヘッド5Aをシークさせるトラック位置Ｔ、ずれ
量測定時に使用するトラックのセンタポジションに対し
て磁気ヘッド5Aをトラック内のインナ及びアウタ側へず
らす距離ｅ（例えば、0.６〜１μｍで、１トラックの幅
の１／２より小さい値）、ずれ量の演算に使用する係数
ａ（＝1.８) 、及び許容限界ずれ量S₁、また、性能試験
時に使用する磁気ディスク3Aの一回転中の所定回転のタ
イミングｔ、及び許容上下限界値S₂,S₃ が夫々設定され
ている。

【００５５】ここで、係数ａは、図７に示すように、ず
れ量変動率ｘとずれ量ｙの間に、ずれ量±２μｍの間で
は、単純な一次式（ｙ＝ａｘ、但しａ＝1.８）が成立す
ることが実験によって結論付けられたものである。

【００５６】許容限界ずれ量S₁は、磁気ヘッドを組み込
んだ磁気ディスク装置でリードレベルを補正することが
できる限界のずれ量（例えば、２μｍ）で、これ以上の
ずれ量では補正が困難になる。

【００５７】許容上下限界値S₂,S₃ は、磁気ヘッドによ
るリードで、データの再現性が得られる限界値（例え
ば、許容上限界値S₂は1000μＶ、許容下限界値S₃は300
μＶ）で、平均振幅が許容上下限界値S₂,S₃ を越えると
データの再現性が得られなくなる。

【００５８】ＲＡＭ９は、測定値ファイル90及び設定ず
れ量記憶部91を備えている。測定値ファイル90は、ずれ
量試験時にレベル／波形測定回路10ａが測定したずれ量
L₁〜L₃、及び性能試験時にレベル／波形測定回路10ａが
測定した再生波形の振幅ｗを記憶する。ずれ量記憶部91
は、ずれ量試験で測定されたずれ量ｙを記憶する。

【００５９】レベル／波形測定回路10ａは、ずれ量測定
時には、リードによりリード出力レベルL₁〜L₃を測定
し、性能試験時には、リードにより再生波形の振幅w₁〜
w₁₀ を測定する。

【００６０】このような構成及び機能を有するので、次
にずれ量測定方法及び性能試験方法を説明する。 １）ずれ量測定方法（図５、図６及び図９参照） まず、ずれ量測定指示釦70を押下し、周波数指定釦72
によりライトする信号の周波数を設定する。即ち、周波
数指定により図示省略した周波数発生回路による発生周
波数が決まる。

【００６１】図６に示すように、磁気ヘッド5Aを磁気
ディスク3Aの中央部のトラックのセンタポジションにシ
ークして、イレーズ後、データをライト／リードし、プ
リアンプ13のゲインセレクト（以降ゲイン固定) 後、リ
ード出力レベルL₁を測定する。リード出力レベルL₁を測
定値ファイル90へ格納する。

【００６２】磁気ヘッド5Aをトラック幅内で、同一ト
ラックからはみださないように、設定部85に設定された
距離ｅだけセンターポジションからインナ側へ移動し、
所定時間（移動による振動収斂時間）経過後、リード出
力レベルL₂を測定する。リード出力レベルL₂を測定値フ
ァイル90へ格納する。

【００６３】次に、磁気ヘッド5Aをトラック内でセン
ターポジションから距離ｅだけアウタ側へ移動し、所定
時間経過後、リード出力レベルL₃を測定する。リード出
力レベルL₃を測定値ファイル90へ格納する。

【００６４】磁気ヘッド5Aをセンターポジションへ復
帰させ、所定時間経過後、イレーズする。 演算部83で、測定値ファイル90に格納されたリード出
力レベルL₁〜L₃から、(L₂−L₃) ／L₁＝ｘ（ずれ量変動
率）を求め、係数ａ（＝1.８）を掛けて、ｙ＝ａ×ｘ＝
1.８（μｍ）を演算する。ずれ量ｙを測定値ファイル90
へ格納する。

【００６５】判定部85で、ずれ量ｙと設定部85に設定
された許容限界ずれ量S1を比較して、ｙ≧S₁であれば
良、ｙ＜S₁であれば不良と判定する。 判定結果を操作表示部７に表示する。

【００６６】２）性能試験方法（図８及び図１０参照） まず、性能試験指示釦71を押下し、周波数指定釦72で
ライトする信号の周波数を設定する。

【００６７】図８に示すように、イレーズ後、ライト
し、予め設定して測定値ファイル90に格納されたずれ量
ｙだけ補正した位置 (以後、位置固定) でのリード（再
生波形の振幅w₁を測定) を磁気ディスク3Aの一回転ずつ
行う。振幅w₁を測定値フィルム90へ格納する。

【００６８】以後は、磁気ディスク3Aの一回転中の所
定回転（設定部84に設定されたタイミングｔ）だけライ
トし、残りの回転でレベル／波形測定回路10ａによりリ
ードして再生波形の振幅w₂を測定し、振幅w₂を測定値フ
ァイル90へ格納する。

【００６９】こののフローを更に８回（都合９回）
繰り返し、再生波形の振幅w₃〜w₁₀を測定値ファイル90
へ格納する。 演算部83で、測定値ファイル90に格納された振幅w₁〜
w₁₀ から平均振幅ｗを演算して判定部85に送る。

【００７０】判定部85で、平均振幅ｗと設定部85に設
定された許容上下限界値S₂,S₃ を比較して、S₂≧ｗ≧S₃
であれば良、S₂＞ｗか、ｗ＜S₃であれば不良と判定す
る。 判定結果を操作表示部７に表示する。

【００７１】このようにして、磁気ヘッド5Aによるライ
ト／リードで測定したリード出力レベルL₁〜L₃から得ら
れたずれ量変動率ｘとライト／リード位置のずれ量ｙの
間に、ｙ＝ａｘの関係が成立することを利用して、ずれ
量ｙを求めることができるので、磁気ヘッド5Aを磁気デ
ィスク装置に搭載した時と同等な評価で試験をすること
ができると共に、従来方法の顕微鏡等による光学的測定
に較べて著しく測定時間を短縮することができる。

【００７２】また、磁気ヘッド5Aのライト時の通電でリ
ード性能が変化するのを試験する性能試験では、リード
による再生波形の測定に、磁気ディスク3Aの一回転中の
所定回転でライトしてリード素子52へショックを与え、
残りの回転でリードする方法をとり入れたことにより、
従来方法に較べて著しく試験時間を短縮することができ
る。

【００７３】例えば、性能試験方法では、５種類の周波
数について、夫々10回ずつのＴＡＡ(Track Average of
Amplitude:平均振幅）を測定する場合に、回転数は6000
ｒｐｍ（10ｍｓ／周）、オフセット時間を100 ｍｓとす
ると、図１３で説明した従来方法の場合には、次のよう
になる。

【００７４】磁気ヘッド移動回数＝２ (往復) ×10（回
数）×５（周波数種類）＝100 回 測定時間＝（10×３（Ｅ、Ｗ、Ｒ）＋100 ×２）×10×
５＝11,500ｍｓ これに対して、本発明による上記の性能試験方法の場合
には、 磁気ヘッド移動回数＝２×１×５＝10回 測定時間＝ (10×13＋100 ×２）×５＝1,650 ｍｓ となり、約15％に減少している。

【００７５】試験項目は、上記の再生波形の振幅の他
に、約10項目あり、夫々試験条件により上記時間短縮効
果に差があるが、これらの試験項目にも同様にこの方法
を適用した場合の例では、全体として試験時間は従来方
法の場合の65％に減少するという結果が得られた。

【００７６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、 磁気ヘッドによるライト／リードで測定したトラック
のセンタ、インナ及びアウタでリード出力レベルから求
められるずれ量変動率とライト／リード位置のずれ量の
間に、一次式の関係が成立することを利用して、ずれ量
の測定をずれ量変動率に係数を掛けて求めることがで
き、しかも、磁気ヘッドを磁気ディスク装置に搭載した
時と同等な評価で試験することができると共に、従来方
法の顕微鏡等による光学的測定に較べて著しく測定時間
を短縮することができる。

【００７７】磁気ヘッドの性能試験において、リード
による再生波形の測定を、磁気ディスクの一回転中の所
定回転でライトしてリード素子へショックを与え、残り
の回転でリードする方法をとり入れたことにより、従来
方法に較べて著しく試験時間を短縮することができる。
という効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の請求項１に対応する原理説明図

【図２】 本発明の請求項４に対応する原理説明図

【図３】 本発明の請求項５に対応する原理説明図

【図４】 本発明の請求項９に対応する原理説明図

【図５】 実施例の磁気ヘッド試験装置を示すブロック
図

【図６】 実施例のずれ量測定の説明図

【図７】 ずれ量変動率とずれ量の関係を示す図

【図８】 磁気ヘッド再生波形測定のタイムチャート

【図９】 実施例のフローチャート（その１）

【図１０】 実施例のフローチャート（その２）

【図１１】 磁気ディスク装置の構成を示す平面図

【図１２】 磁気ヘッドの説明図

【図１３】 従来方法の磁気ヘッドの性能試験シーケン
スを示す図

【符号の説明】

２はヘッド駆動手段、 2a,2A はアクチ
ュエータ、３,3a,3b,3A は磁気ディスク、 ５,5
a,5b,5A は磁気ヘッド、７は操作表示部、
10はリードレベル測定手段、10ａはレベル／波
形測定回路、 11は波形測定手段、12は測定位置
制御手段、 14はディスク駆動手段、16は
ライトタイミング制御手段、 80はライト制御手
段、80ａはライト制御部、 81はリード
制御部、82はアクチュエータ駆動制御部、 83は演
算部、84は判定部、 85は設定
部、M1は揺動モータ、 M2はモータ

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気ディスクを回転させるディスク駆動手
   段と、 回転する磁気ディスク上の所定のトラックにライト素子
   とリード素子から形成された磁気ヘッドを位置付けし、
   所定量移動させるヘッド駆動手段と、 トラック上に位置付けした磁気ヘッドによりデータをラ
   イトするライト制御手段と、 ライト制御手段によりライトしたデータをリードしてリ
   ード出力レベルを測定する第１リード出力レベル測定手
   段と、 ヘッド駆動手段により、トラックに位置付けした位置か
   ら磁気ヘッドをトラック内でアウタ或いはインナ側へ所
   定距離移動させて、リードしてリード出力レベルを測定
   する第２リード出力レベル測定手段と 、前記トラックに位置付けした位置からトラック内でイン
   ナ或いはアウタ側に、前記所定距離と同距離の位置へ磁
   気ヘッドを移動させてリードし、リード出力レベルを測
   定する第３リード出力レベル測定手段と、 第２のリード出力レベルと第３のリード出力レベルの差
   を第１のリード出力レベルで割ってずれ量変動率を算出
   し、予め設定された係数を掛けてライト素子とリード素
   子の位置の差のずれ量を取得するずれ量取得手段と、 を備えたことを特徴とするリードヘッドとライトヘッド
   の位置ずれ測定装置。
2. 【請求項２】磁気ディスク上の所定のトラックにライト
   素子とリード素子から形成された磁気ヘッドを位置付け
   するステップと、 位置付けした位置で、データをライトするデータライト
   ステップと、 ライトしたデータをリードしてリード出力レベルを測定
   する第１リード出力レベル測定ステップと、 トラックに位置付けした位置から磁気ヘッドをトラック
   内でアウタ或いはインナ側へ所定距離移動させて、リー
   ドしてリード出力レベルを測定する第２リード出力レベ
   ル測定ステップと、 前記トラックに位置付けした位置からトラック内でイン
   ナ或いはアウタ側に、前記所定距離と同距離の位置へ磁
   気ヘッドを移動させてリードし、リード出力レベルを測
   定する第３リード出力レベル測定ステップと、 第２のリード出力レベルと第３のリード出力レベルの差
   を第１のリード出力レベルで割ってずれ量変動率を算出
   し、予め設定された係数を掛けてライト素子とリード素
   子の 位置の差のずれ量を取得するずれ量取得ステップ
   と、 を備えたことを特徴とするリードヘッドとライトヘッド
   の位置ずれ測定方法。