KR100660913B1 - 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치 - Google Patents

전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100660913B1
KR100660913B1 KR1020060006284A KR20060006284A KR100660913B1 KR 100660913 B1 KR100660913 B1 KR 100660913B1 KR 1020060006284 A KR1020060006284 A KR 1020060006284A KR 20060006284 A KR20060006284 A KR 20060006284A KR 100660913 B1 KR100660913 B1 KR 100660913B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
power
insufficient
heads
reset
Prior art date
Application number
KR1020060006284A
Other languages
English (en)
Inventor
박종락
김영신
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020060006284A priority Critical patent/KR100660913B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100660913B1 publication Critical patent/KR100660913B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
    • G11B19/048—Testing of disk drives, e.g. to detect defects or prevent sudden failure
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/28—Supervision thereof, e.g. detecting power-supply failure by out of limits supervision
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2508—Magnetic discs
    • G11B2220/2516—Hard disks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치가 개시된다.
본 발명은 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단하는 단계, 상기 전력이 부족한 것으로 판단되면, 상기 테스트를 리셋하는 단계 및 상기 테스트가 리셋되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키고, 상기 테스트를 수행하는 단계를 포함한다.
본 발명에 의하면, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한 경우, 테스트에 사용되는 헤드의 수를 적응적으로 조절함으로써, 테스트 공정에 필요로 하는 시간을 줄이고, 테스트 성공율을 높이며, 테스트에 필요한 전력을 최소화할 수 있다.

Description

전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치{Method for testing a drive according to power shortage}
도 1은 하드 디스크 드라이브의 제조 공정을 도시한 흐름도이다.
도 2는 종래의 뱅크라이트 모드의 테스트 방법의 흐름도이다.
도 3은 본 발명에 따른 전력에 적응적인 테스트 장치의 블럭도이다.
도 4은 본 발명에 따른 전력에 적응적인 테스트 방법의 흐름도이다.
본 발명은 하드 디스크 드라이브에 관한 것으로, 특히 하드 디스크 드라이브의 제조 공정 중 뱅크라이트 모드의 테스트에서 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
도 1은 하드 디스크 드라이브의 제조 공정을 도시한 흐름도이다.
도 1을 참조하여 각 단계를 설명하면, 먼저 제조공정의 제1단계(100)는 하드 디스크 드라이브(HDD)의 기구부인 HDA(Head Disk Assembly)를 조립하는 공정으로서 클린 룸(clean room) 내에서 이루어진다. 제조공정의 제2단계(110)는 데이터 기록매체인 디스크에 독출 및 기록하는 자기헤드의 서보제어를 위한 서보 패턴을 디스 크 상에 기록하는 공정으로서 서보 라이터(servo writer)에 의해 수행된다. 제조공정의 제3단계(120)는 상기 HDA 조립공정(100)에서 만들어진 HDA와 PCBA(Printed Circuited Board Assembly) 조립공정(통상 HDA 조립공정후 수행됨)에서 만들어진 PCBA를 결합시킨 다음에 수행되는 최초의 테스트로서 HDA와 PCBA가 정상적으로 매치(match)되어 동작하는지를 테스트한다. 제조공정의 제4단계(130)는 번-인(burn-in) 테스트 공정은 HDD의 제조공정 중 가장 긴 시간(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정으로서 별도의 테스트 시스템 없이 고온,고습의 번-인 룸(burn-in room)내의 래크(rack)상에 놓여진 다음 자체 프로그램(펌웨어)에 의거하여 수행된다. 이러한 번-인 테스트 공정은 소비자가 HDD를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크 상에 존재하는 디펙(defect) 부분을 미리 찾아내어 실제 드라이브 사용시 상기 디펙 부분이 사용되지 않도록 선조치 해주는 공정을 말한다. 제조공정의 제5단계(140)는 상기 번-인 테스트 공정에서 통과한 HDD 세트(set)가 정상적으로 디펙처리 되었는가를 확인하기 위한 공정으로서 특정 테스트 시스템을 이용하여 HDD 세트 마다의 디펙처리 상태를 테스트한다. 제조공정의 제6단계(150)는 출하검사, 포장 및 출하의 과정을 거쳐 하나의 완성된 제품을 출하한다.
도 2는 종래의 뱅크라이트 모드의 테스트 방법의 흐름도이다.
먼저, 드라이브를 뱅크 라이트 모드로 설정한다(200 과정). 다음, 전력이 부족한지 판단한다(210 과정). 만약 전력이 부족한 것으로 판단되면, 리부트(Reboot)한다(220 과정). 이때, 전력이 부족하지 않은 것으로 판단되면, 테스트를 수행한다(230 과정).
그러라, 종래의 뱅크라이트 모드의 테스트 방법은 전력이 부족하여 드라이브가 리셋되어도 동일한 설정으로 동일한 테스트를 반복함으로써, 테스트 공정에 많은 시간을 필요로 하고, 테스트 실패율이 높으며, 드라이브에 과다한 전력을 인가하여야 하는 문제점이 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한 경우, 테스트에 사용되는 헤드의 수를 적응적으로 조절하는 전력에 적응적인 테스트 방법을 제공하는데 있다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 상기의 전력에 적응적인 테스트 방법이 적용된 전력에 적응적인 테스트 장치를 제공하는데 있다.
상기의 기술적 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단하는 단계, 상기 전력이 부족한 것으로 판단되면, 상기 테스트를 리셋하는 단계 및 상기 테스트가 리셋되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키고, 상기 테스트를 수행하는 단계를 포함한다.
상기의 다른 기술적 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단하는 전력 제어부, 상기 전력이 부족한 것으로 판단되면, 상기 테스트를 리셋하는 테스트 리셋부, 상기 테스트가 리셋되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키는 라이트 헤드 조절부 및 상기 헤드들을 사용하여 상기 테스트를 수행하는 테스트 수행부를 포함한다.
본 발명이 적용되는 하드디스크 드라이브는 정보 저장을 위해 사용되는 기록 장치이다. 통상적으로 정보는 한 개 이상의 자기 기록 디스크들의 어느 한 면 위에 있는 동심 트랙 위에 기록된다. 디스크는 스핀들 모터에 의해 회전 가능하게 탑재되고, 정보는 보이스(voice) 코일 모터에 의해 회전되는 액츄에이터 암에 탑재된 판독/기록 수단에 의해 액세스된다. 보이스 코일 모터는 전류에 의해 여자되어 액츄에이터를 회전시키고 헤드를 이동시킨다. 판독/기록 헤드는 디스크의 표면으로부터 나오는 자기의 변화를 감지하여 디스크 표면에 기록된 정보를 판독한다. 한편, 데이터 트랙에 기록하기 위해, 전류가 헤드로 공급된다. 이때, 전류는 자계를 발생시키고, 이것은 디스크 표면을 자화시킨다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명에 따른 전력에 적응적인 테스트 장치의 블럭도이다.
전력 제어부(300)는 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단한다. 이때, 뱅크 라이트 모드란, 하드 디스크 드라이브에서 동시에 여러개의 헤드들(310)로 디스크(320)에 기록 동작을 수행하는 것을 말한다. 뱅크 라이트 모드의 테스트란, 드라이브를 뱅크 라이트 모드로 설정하고, 위와 같은 기록 동작의 성능 테스트를 하는 것을 말한다. 또한, 전력 제어부(300)는 여러개의 헤드(310)가 기록 동작을 수행하기 위해 필요한 전력을 공급한다.
테스트 리셋부(330)는 전력 제어부(300)에 의해 전력이 부족한 것으로 판단되면, 테스트를 리셋한다. 이때, 테스트 리셋부(330)는 라이트 헤드 조절부(340)가 뱅크 라이트 모드의 테스트에 사용되는 헤드의 수를 조절하게 한다. 테스트 리셋부 (330)에 의한 리셋신호는 라이트 헤드 조절부(340)을 거쳐 테스트 수행부(350)에 전달되어 테스트와 관련된 변수들을 초기화시킨다.
라이트 헤드 조절부(340)는 테스트 리셋부(330)에 의해 테스트가 리셋되면, 뱅크 라이트 모드의 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시킨다.
또한, 라이트 헤드 조절부(340)는 테스트 리셋부(330)에 의해 테스트가 리셋되면, 소정의 카운트를 증가시키는 동작을 할 수 있다. 이때, 소정의 카운트는 라이트 헤드 조절부(340)가 헤드들(310)의 수를 조절하는 기준으로 사용될 수 있다. 바람직하게는, 소정의 카운트는 미리 설정된 기준값을 초과할 경우, 뱅크 라이트 모드의 테스트가 중단되도록 하는 기준으로 사용될 수 있다.
바람직하게는, 라이트 헤드 조절부(340)는 소정의 카운트를 헤드(310)를 이용하여 디스크(320)의 시스템 실린더에 저장할 수 있다. 이는 테스트 리셋시에 소정의 카운트가 테스트 수행부(350)에 의해 초기화되는 것을 방지하기 위함이다.
테스트 수행부(350)는 라이트 헤드 조절부(340)에 의해 그 수가 조절된 헤드들을 사용하여 뱅크 라이트 모드의 테스트를 수행한다.
도 4은 본 발명에 따른 전력에 적응적인 테스트 방법의 흐름도이다.
먼저, 소정의 카운트를 초기화한다(400 과정). 이때, 소정의 카운트는 뱅크라이트 모드의 테스트에 사용되는 헤드의 수를 감소시킬지 여부를 결정하는 기준으로 사용될 수 있다.
다음, 드라이브를 뱅크라이트 모드로 설정한다(410 과정). 뱅크 라이트 모드에서는 드라이브에 내장된 여러개의 헤드들이 동시에 기록동작을 수행하게 된다.
드라이브가 뱅크라이트 모드로 설정되면, 소정의 카운트가 증가되었는지 판단한다(420 과정). 뱅크라이트 모드가 최초로 설정된 직후라면, 소정의 카운트가 변화가 없으므로 바로 다음 과정(440 과정)으로 진행하게 된다.
만약 소정의 카운트가 증가되었다고 판단되면, 뱅크라이트 모드의 테스트에 사용되는 헤드의 수를 감소시킨다(430 과정).
다음, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한지 판단한다(440 과정). 뱅크라이트 모드의 테스트에 필요한 전력은 동시에 사용되는 헤드의 수에 밀접하게 관련되어 있다. 이때, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한 것으로 판단되면, 뱅크라이트 모드의 테스트를 리셋한다(445 과정). 또한, 소정의 카운트를 증가시키고, 증가된 카운트를 디스크에 저장한다(447 과정). 바람직하게는, 증가된 카운트는 디스크의 시스템 실린더에 저장할 수 있다.
한편, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한지 판단하는 과정(440 과정)에서 계속해서 전력이 부족한 것으로 판단되면, 뱅크라이트 모드의 테스트에 사용되는 헤드는 계속해서 감소하게 되고, 카운트는 계속해서 증가하게 될 것이다.
마지막으로, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족하지 않은 것으로 판단되면, 헤드의 수를 감소시키는 과정(430 과정)을 통해 조절된 헤드를 사용하여 테스트를 수행한다(450 과정).
바람직하게는, 테스트를 수행하는 과정(450 과정)은 테스트가 리셋되면, 소정의 카운트를 증가시키는 단계 및 소정의 카운트가 증가되면, 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키고 테스트를 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
바람직하게는, 소정의 카운트를 증가시키는 단계는 증가된 카운트를 시스템 실린더에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 테스트를 수행하는 단계는 테스트 진행시 전력이 부족한지 판단되면, 테스트를 리셋하고, 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키는 과정을 테스트 수행시 전력이 부족하지 않은 것으로 판단 될때까지 반복하는 것을 특징으로 할 수 있다.
바람직하게는, 본 발명의 전력에 적응적인 테스트 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 기록할 수 있다.
본 발명은 소프트웨어를 통해 실행될 수 있다. 소프트웨어로 실행될 때, 본 발명의 구성 수단들은 필요한 작업을 실행하는 코드 세그먼트들이다. 프로그램 또는 코드 세그먼트들은 프로세서 판독 가능 매체에 저장되거나 전송 매체 또는 통신망에서 반송파와 결합된 컴퓨터 데이터 신호에 의하여 전송될 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 하여 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 그러나, 이와 같은 변형은 본 발명의 기술적 보호범위내에 있다고 보아야 한다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해서 정해져야 할 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 뱅크라이트 모드의 테스트 수행시에 전력이 부족한 경우, 테스트에 사용되는 헤드의 수를 적응적으로 조절함으로써, 테스트 공정에 필요로 하는 시간을 줄이고, 테스트 성공율을 높이며, 테스트에 필요한 전력을 최소화할 수 있는 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단하는 단계;
    상기 전력이 부족한 것으로 판단되면, 상기 테스트를 리셋하는 단계; 및
    상기 테스트가 리셋되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키고, 상기 테스트를 수행하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 전력에 적응적인 테스트 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트를 수행하는 단계는
    상기 테스트가 리셋되면, 카운트를 증가시키는 단계; 및
    상기 카운트가 증가되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키고, 상기 테스트를 수행하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 전력에 적응적인 테스트 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 카운트를 증가시키는 단계는
    상기 증가된 카운트를 시스템 실린더에 저장하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 전력에 적응적인 테스트 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트를 수행하는 단계는
    테스트 진행시 전력이 부족한지 판단되면, 상기 테스트를 리셋하고, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키는 과정을 상기 테스트 수행시 전력이 부족하지 않은 것으로 판단 될때까지 반복하는 것을 특징으로 하는 전력에 적응적인 테스트 방법.
  5. 뱅크 라이트 모드의 테스트 수행시 전력이 부족한지 판단하는 전력 제어부;
    상기 전력이 부족한 것으로 판단되면, 상기 테스트를 리셋하는 테스트 리셋부;
    상기 테스트가 리셋되면, 상기 테스트에 사용되는 헤드들의 수를 감소시키는 라이트 헤드 조절부; 및
    상기 헤드들을 사용하여 상기 테스트를 수행하는 테스트 수행부를 포함함을 특징으로 하는 전력에 적응적인 테스트 장치.
KR1020060006284A 2006-01-20 2006-01-20 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치 KR100660913B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060006284A KR100660913B1 (ko) 2006-01-20 2006-01-20 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060006284A KR100660913B1 (ko) 2006-01-20 2006-01-20 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100660913B1 true KR100660913B1 (ko) 2006-12-26

Family

ID=37815413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060006284A KR100660913B1 (ko) 2006-01-20 2006-01-20 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100660913B1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6804076B2 (en) 2000-03-14 2004-10-12 Alps Electric Co., Ltd. Method and device for entering test mode in an integrated circuit for use in a floppy disk drive, and a floppy disk drive apparatus incorporating the method
KR20050122423A (ko) * 2004-06-24 2005-12-29 주식회사 대우일렉트로닉스 검사 시스템의 리셋 장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6804076B2 (en) 2000-03-14 2004-10-12 Alps Electric Co., Ltd. Method and device for entering test mode in an integrated circuit for use in a floppy disk drive, and a floppy disk drive apparatus incorporating the method
KR20050122423A (ko) * 2004-06-24 2005-12-29 주식회사 대우일렉트로닉스 검사 시스템의 리셋 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6069758A (en) Technique for reducing read channel optimization time
JP2001216605A (ja) 情報リフレッシュ方法
US8169725B2 (en) Hard disk drive and method for managing scratches on a disk of the hard disk drive
KR20040025374A (ko) 하드디스크드라이브에서 인접트랙에 대한 오버라이트를방지하기 위한 방법 및 그 장치
US7057842B2 (en) Method, medium, and apparatus for offline self servo writing and disk drive using the same
US8289015B2 (en) Apparatus and test method for a head assembly in a depopulated configuration
KR100855981B1 (ko) 각각의 헤드들에 대하여 기록 팩터를 별도로 설정하는디스크 드라이브의 기록 팩터 설정 방법 및 디스크드라이브
KR100660913B1 (ko) 전력에 적응적인 테스트 방법 및 그 장치
US20060164747A1 (en) Method of determining format parameters of HDD
US6263462B1 (en) Testing method and tester
KR100699880B1 (ko) 데이터 저장 시스템에서의 메인터넌스 실린더의 트랙 디펙관리 방법 및 이를 이용한 디스크 드라이브
KR100699884B1 (ko) 적응적 디펙 처리 방법 및 그 장치
KR100512364B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 공정개선방법
KR100440792B1 (ko) 하드디스크드라이브의헤드테스트방법
KR980011015A (ko) 생산수율향상과 제조시간단축을 위한 하드디스크 드라이브의 생산 공정방법
KR100496180B1 (ko) 하드 디스크 드라이브에서의 디펙 처리방법
KR100594328B1 (ko) 자화 세기 변화에 따라 리드 채널 파라미터를 최적화하는방법 및 그 장치
KR100640606B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 서보 정보 검사 방법 그리고 이에적합한 기록 매체
KR100699883B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 라이트 신호 설정 방법
JP3533309B2 (ja) サーボ制御方法および磁気ディスク装置
KR100714865B1 (ko) 리드 채널 최적화 수행 방법 및 하드 디스크 드라이브
KR100403047B1 (ko) 스태거드엠베디드서보방식을채용한디스크기록장치의서보기록방법
US20070274000A1 (en) Disk drive, method for controlling the same, and method for manufacturing the same
JP2023136811A (ja) 磁気ディスク装置のｒｗパラメータ調整方法及び調整装置と磁気ディスク装置
KR100714878B1 (ko) 하드 디스크 드라이브, 하드 디스크 드라이브의 디펙트검출 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을기록한 기록 매체

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091214

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee