JPH0287080A

JPH0287080A - 磁気ディスク欠陥検査装置

Info

Publication number: JPH0287080A
Application number: JP24025988A
Authority: JP
Inventors: Taku Shirokabe; 白壁　卓
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1988-09-26
Filing date: 1988-09-26
Publication date: 1990-03-27
Anticipated expiration: 2010-03-29
Also published as: JPH0727637B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コこの発明は、磁気ディスク欠陥検査装置（以下サーティ
ファイア）に関し、詳しくは、磁気ディスクの試験トラ
ックに２ｆ周波数（最大周波数）の書込みクロック信号
等をテストデータとして書込み、又は書込みテストデー
タを消去してミッシングエラーや湧き出しエラー（エキ
ストラエラー）等を欠陥として検出するサーティファイ
アにおいて、欠陥データを効率よく採取でき、そのデー
タ処理時間が短くて済むようなその改良に関する。

［従来の技術］コンビュータンステムに使用される磁気ディスク装置は
、その磁気媒体に不均一な欠陥があるときは、書込みデ
ータの記録が不完全となり、ミッシングエラー又はエキ
ストラエラー等が発生する。

このような欠陥をなくして良好な品質を維持し、また、
向上させるために、その生産過程ではサーティファイア
により各種の検査が行われている。

そしてその１つに磁気媒体の欠陥検査がある。

磁気媒体の欠陥検査は、まず、試験トラックに書込みク
ロック信号（１ビツトの連続するビットデータ、テスト
パターン等）のテストデータを書込み、それを読出して
その判定を行い、不良ビット（ミッシング）の個数や長
さを集８１シてトラックの良否を判定する。また、書込
んだテストデータを消去してエキストラエラーの判定を
行う。さらに、全トラックにある不良トラックの数によ
りその等級の判定を行う。そして、このような判定に基
づいて、磁気ディスクの評価を行い、ある程度以上の欠
陥があると不合格とする。また、サーティファイアを内
部に有するイニシャライザにあっては、サーティファイ
アにより検出した欠陥データに応じて使用できないセク
タ或いはトラ、ツクに対して代替セクタや代替トラック
の割り当て処理、欠陥のスキップ処理などを行い、磁気
ディスクのフォーマツチングをして磁気ディスクを初期
化（イニシャライズ）する。

ところで、磁気ディスクに記録されるデータの密度は、
年々向上し、高密度化されてきており、それに応じて前
述のサーティファイア或いはイニシャライザ（サーティ
ファイア＋フォーマツタを含む）が検出してデータ処理
しなければならない欠陥数が従来より一層増加してきて
いる。また、欠陥の長さについても種々のものが生じて
、コレクトエラーやアンコレクトエラーについても一様
には決定できなくなって来ている。

［解決しようとする課題］磁気ディスクにおいける欠陥についての情報は、通常、
その磁気ディスク−１−の欠陥位置情報とともに採取さ
れるため、高密度化されるに従ってその位置を示すデー
タも長くなり、かつ欠陥数の増加とともにその数も増加
する。このことは、欠陥データを記憶するメモリの容量
の増加をまねき、それに加えて、種々の長さの欠陥を管
理することになると、それを解析するデータ処理時間が
増加する。特に、イニシャライズをする場合などには、
代替セクタとか代替トラックのテーブル作成処理等に多
くの時間が必要になり、欠陥の解析効率を低下させてい
る。

この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決
するものであって、欠陥を記憶するメモリの容量が小さ
くて済み、かつ欠陥についての解析処理時間が短くて済
むサーティファイアを提供することにある。

［課題を解決するための手段］この発明のサーティファイアの構成は、試験トラックに
テストデータを書込み、これを読出し、或いは消去して
読出して欠陥を検出する磁気ディスク欠陥検査装置にお
いて、試験トラックをｎバイト単位（ｎは正の整数）に
アドレス付けして欠陥を検出したときに、その欠陥の位
置に対応するアドレス付けされたアドレス値を欠陥位置
データとしてメモリに順次記憶するものである。

［作用コこのように、試験トラックをバイト単位にアドレス付け
して管理することで、欠陥データは、バイト単位の位置
データを欠陥対応に記憶すれば済み、欠陥データが試験
トラック七においてバイト対応のものとなることから、
たとえ欠陥数が多くなっても、処理すべき位置データ量
は減少する。

また、欠陥がバイト単位の位置として得られることから
その後のデータ処理も簡単となる。さらに、バイト単位
の位置データを欠陥に応じて順次記憶すれば済むため、
欠陥データメモリの容量は、１トラツク（或いは総トラ
ック）に対応する最大欠陥数か、それより少し大きい値
のものであれば足りる。

したがって、欠陥データメモリの容量が少なくでき、欠
陥解析のデータ処理時間が短くなる。しかも、欠陥解析
処理を行う処理装置側への欠陥データの転送処理時間も
同時に短縮される。

［実施例コ以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。

第１図は、この発明によるサーティファイアの欠陥デー
タ抽出回路部分を中心とする一実施例のブロック図、第
２図は、その欠陥データメモリ部の説明図、第３図は、
その動作についての説明図である。なお、これら各図に
おいて、同等の構成要素は同一の符号で示し、その説明
を割愛する。

第１図において、１は、磁気ディスクを１枚づつ駆動す
る磁気ディスク駆動装置であって、そのスピンドルモー
タ２に検査対象となる磁気ディスク３が装着され、磁気
ディスク３が磁気ヘッド４によりアクセスされてデータ
の書込み／読出しが行われる。スピンドルモータ２には
、その回転軸にエンコーダ５が装着されていて、回転位
置情報がエンコーダ５から回転位置検出回路６に入力さ
一〇− れ、回転位置検出回路６て磁気ディスク３の各トラック
に記憶されるデータの１ビツトに対応して発生するクロ
ック信号が生成される。回転位置検出回路６で生成され
たこのクロック信号は、次に欠陥データ抽出回路７の８
ピントで一巡する（８進）リングカウンタ８に入力され
る。

リングカウンタ８は、回転位置検出回路６からデータの
書込み位置に対応して発生するクロック信号を受けてこ
れをカウントし、８個カウントするごとにカウント完了
信号を出力する。そして、これを１バイト分の検出信号
としてバイトカウンタ１１に加える。

バイトカウンタ１１は、この１バイト分の検出信号を受
けてそのカウント値が更新され、そのカウント値を欠陥
データメモリ部１２に書込みデータとして送出する。こ
のバイトカウンタ１１は、回転位置検出回路６がインデ
ックスを検出したとき、そのインデックス検出信号を受
けてリセットされる。そこで、その各カウント値、０〜
ｉ　−ｎは、第３図に示すように、試験トラックをバイ
ト単位に分割してアドレス付けした各アドレスを示す。

そして、欠陥が発生したときに、その位置に対応するア
ドレス値ｉが後述するように欠陥データメモリ部１２の
欠陥データメモリ１２ｃに送出されて記憶される。

書込み／読出し制御回路９は、検査シーケンス制御回路
１３の制御に応じてヘッドキャリッジ（図示せず）を制
御して磁気ヘッド４を所定の試験トラックに位置決めし
、そのトラックに対するデータの書き込み／読出しの制
御を行い、続出信号をエラー検出回路１０に送出する。

エラー検出回路１０は、前記の続出信号からエラーを検
出したときに、エラー検出信号Ｓｌとミッシングエラー
、ピークシフトエラー、モジュレーションエラー、エキ
ストラエラー等の検出エラーの種別を示す種別データＳ
２とを発生して、これらの信号を欠陥データメモリ部１
２に送出する。

なお、エキストラエラーの検出の場合には、試験トラッ
クにＳ込まれたテストデータが−・旦消去されてデータ
の読出しが行われるので、このとき検出されるエラーは
エキストラエラー１種類となる。

マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）１５は、プログラムで制
御され、バス１４を介して欠陥データ抽出回路７と検査
シーケンス制御回路１３とを制御する。検査シーケンス
制御回路１３は、ＭＰＵｌ５からの試験トラック番号等
を指定したテスト指令に応じて動作し、磁気ディスク駆
動装置１と欠陥データ抽出回路７の書込み／読出し制御
回路９とを制御する。

そこで、欠陥検査に際しては、まず、ＭＰＵｌ５の制御
に応じて動作する検査シーケンス制御回路１３により磁
気ディスク駆動装置１と書込み／続出し制御回路９とが
制御され、２ｆ周波数の書込みクロック信号（或いはそ
の他のテストパターン）のテストデータが磁気ヘッド４
により磁気ディスク３の指定された試験トラックに書込
まれる。

ついで、書込まれたテストデータが磁気ヘッド４により
試験トラックから読出されて、書込み／読出し制御回路
９を経てエラー検出回路１０に入力サレ、ここで、基準
レベル若しくはウィンドパルス信号と読出し信号若しく
はそのパルス化信号とが比較されて前記のミッシングエ
ラー　ピークシフトエラー、モジュレーションエラー、
エキストラエラー等の各種のエラー検出が行われる。

第２図は、このエラー検出に応じてエラー検出回路１０
から得られるエラー検出信号Ｓｌ、エラーの種別データ
Ｓ２とを受ける欠陥データメモリ部１２の詳細を示して
いて、欠陥データメモリ部１２は、データレジスタ１２
ａとアドレスカウンタ１２ｂと欠陥データメモリ１２ｃ
とを有している。

データレジスタ１２ａは、バイトカウンタ１１のカウン
ト値と前記のエラー検出回路１ｏがらの検出エラーの種
別を示す種別データｓ２とを受けてこれらをラッチする
。欠陥データメモリ１２ｃは、エラー検出信号Ｓｌを書
込み信号として受けてラッチしたデータレジスタ１２ａ
のデータをアドレスカウンタ１２ｂが示すアドレスへ記
憶する。そして、アドレスカウンタ１２ｂは、この書込
み後のタイミングでエラー検出４ｍ号Ｓｌ　によりその
書込みアドレスがインクリメントされて更新される。

一１〇− その結果、次のエラー検出信号Ｓ１に応じて次のデータ
が欠陥データメモ’Ｊ　１２　ｃの更新されたアドレス
に記憶されることになる。

欠陥データメモ’Ｊ　１２　ｃは、欠陥位置記憶欄１２
１とエラ一種別欄１２２，１２３，１２４゜・拳とで構
成されていて、欠陥位置記憶欄１２１には、データレジ
スタ１２ａに記憶された前記データのうち欠陥のあるバ
イトカウンタ１１の値（ａａａａｌ　　ｂｂｂｂ、ＣＣ
ＣＣｌ　　働ｅ　＊）がエラー検出信号８１　ごとに、
言い換えれば、欠陥検出ごとに欠陥位置記憶欄１２１に
順次記憶されていく。このとき同時に、エラ一種別欄１
２２，１２３．１２４．　　・Ｏ・には、前記の種別デ
ータＳ２が対応して書込まれる。この書込みは、種別デ
ータＳ２のデータの各ビット位置が各欄に対応して配置
されるように行われ、エラーの種類に対応する各エラ一
種別欄１２２，１２３，１２４．　　・・・に１ビツト
の情報が種別のフラグ情報として記憶されるものとなり
、これが“１”となっているところに、割り当てられた
種別のエラーがあることか示される。

したがって、欠陥データメモ’Ｊ　１２　ｃには、欠陥
が検出される都度、その位置データと欠陥の種別を２１
＜すフラグ情報とが対応して記憶されて行く。

そして、このときの各位置データは、第３図に示される
ように、試験トラックをパイトリ１位で分割してアドレ
ス付けした場合の欠陥のある位置を示すデータである。

このことからそのデータの長さはバイト中位に分割して
いないときよりも短くなる。すなわち、欠陥についての
データ量がビット単位からバイト単位となるため、１／
８に圧縮される。さらに、欠陥検出ごとに位置データを
記憶するため、１トラツクごとに欠陥データを記録する
欠陥データメモリ１２ｃでは、そのｌトラックにおける
最大欠陥の個数分又はそれより少し多いだけのデータ記
憶容量があればよい。また、欠陥データメモリ１２ｃが
磁気ディスク３の試験トラック全体についての欠陥デー
タを記憶するようなものでは、欠陥データメモリ１２ｃ
の容量は、検査対象となる磁気ディスク３の最大欠陥発
生数と等しいかそれよりも太き（採れば足りる。したが
って、解析処理を行うＭＰＵ１５側へのデータ転送時間
もそれだけ短くなり、しかも、このときの欠陥データと
しては、欠陥の位置そのものが欠陥の種別対応にバイト
単位で得られるので、その後の解析処理が簡単なものと
なる。

ここで、ＭＰＵＬ５が１試験トラツク対応に欠陥データ
を欠陥データメモ’Ｊ　１２　ｃから採取するものとす
ると、試験トラックの１周分のデータが欠陥データメモ
リ部１２の欠陥データメモリ１２Ｃに記憶される都度、
検査シーケンス制御回路１３の制御の応答信号をＭＰＵ
１５が受けて、これに応じてＭＰＵ１５は、バス１４を
介して欠陥データメモリ１２の１トラツク分の欠陥デー
タを読出し、そのデータを内部メモリ１６に転送して試
験トラック対応にそのデータを記憶する。

その結果、検査が終了した時点では、磁気ディスク３の
すべてのトラックについての欠陥データが各試験トラッ
ク対応にかつパイ１位のアドレスで管理されて内部メモ
リ１６の所定の領域に記憶されていることになる。

そこで、ＭＰＵ１５は、内部メモリ１６に記憶されたこ
の欠陥データを欠陥解析処理プログラムに従って読出し
、このバイト単位にアドレス付けされて管理された欠陥
データの欠陥解析処理を行うことができる。この場合、
欠陥位置がバイト中位のアドレスとなっているので、セ
クタとかトラックについて代替セクタ或いは代替トラッ
クを割り当てて使用できるか否かの判定、細部のビット
単位での試験がさらに必要か否かの判定が容易となる。

使用不可のトラックでも、再度のビット単位の検査によ
っては、使用可能なトラックとなるようなものについて
の判定も簡単にできる。そして、このようなトラックに
ついては、再度検査対象となるセクタ或いはトラックに
ついてのみビット中位の詳細な欠陥検査をすることがで
きる。このことで、歩留まりを向１ユさせることができ
、トータルな検査時間、欠陥データ解析時間全体を短縮
させることができる。

以上説明してきたが、実施例では、検出する欠陥に対応
して欠陥の種別を記憶するようにしているが、エラー検
出回路かエキストラエラーのように単一の指定された欠
陥を検出するような場合には、検出回路で欠陥の種別信
号を発生する必要はな（、また、欠陥データメモリにお
いて欠陥の種別を欠陥位置に対応して記憶する必要もな
い。なお、単一の欠陥についてそれぞれ欠陥データメモ
リに記憶するような場合には、検出する欠陥の種類に応
じてそれぞれ別の記憶エリアを割り当ててるようにして
もよい。

したがって、実施例におけるエラー検出回路は、種別に
応じた欠陥を検出する機能がなくてもよく、バイト単位
で管理された同一アドレスにおいて複数の種類の欠陥が
ある場合には種別分けせずに１つの欠陥としてそれらを
取扱えばよい。これは、最初の欠陥が検出されたときに
そのアドレスを欠陥データメモリに記憶すればよく、例
えば、最初の欠陥が検出された時点で次のアドレスに更
新されるまで欠陥のアドレスを記憶しないようにすれば
よい。すなわち、そのような回路は、次に欠陥が検出さ
れたとしてもその欠陥についての検出信号を阻止する回
路を設けるだけで簡単に実現できる。

実施例では、欠陥の位置データとして試験トラックを１
バイト単位で管理してアドレス付けして欠陥位置として
いるか、これは、ｎバイト（ｎは正の整数）単位に行え
ればよく、この発明は１バイトのアドレス管理に限定さ
れるものではない。

ところで、この発明は、ハードディスクに限らず、いわ
ゆるフレキシブルディスクについても適用もできること
はもちろんである。

［発明の効果コ以東のように、この発明にあっては、試験トランクをバ
イト単位にアドレス付けして管理することで、欠陥デー
タは、パイ）　ｌｊ−位の位置データを欠陥対応に記憶
すれば済み、欠陥データが試験トラックににおいてバイ
ト対応のものとなることから、たとえ欠陥数が多くなっ
ても、処理すべき位置データ量は減少する。また、欠陥
がバイト単位の位置として得られることからその後のデ
ータ処理も簡単となる。さらに、バイト単位の位置デー
タを欠陥に応じて順次記憶すれば済むため、欠陥データ
メモリの容量は、■トランク（或いは総トラック）に対
応する最大欠陥数か、それより少し大きい値のものであ
れば足りる。

したがって、欠陥データメモリの容量が少なくでき、欠
陥解析のデータ処理時間が短（なる。しかも、欠陥解析
処理を行う処理装置側への欠陥データの転送処理時間も
同時に短縮される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明によるサーティファイアの欠陥デー
タ抽出回路部分を中心とする一実施例のブロック図、第
２図は、その欠陥データメモリ部の説明図、第３図は、
その動作についての説明図である。１・・・磁気ディスク駆動装置、２・・・スピンドルモ
ータ、３・・・磁気ディスク、４・・・磁気ヘッド、５
・・・エンコーダ、６・・・回転位置検出回路、７・・
・欠陥データ抽出回路、８・・・リングカウンタ、９・
・・書込み／読出し制御回路、１０・・・エラー検出回路、１１・・・バイトカウンタ
、１２・・・欠陥データメモリ部、１３・・・検査シーケンス制御回路、１４・・・バス、１５・・・マイクロプロセッサ（ＭＰ
Ｕ）、１６・・・内部メモリ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）試験トラックにテストデータを書込み、これを読
出し、或いは消去して読出して欠陥を検出する磁気ディ
スク欠陥検査装置において、前記試験トラックをｎバイ
ト単位（ｎは正の整数）にアドレス付けして欠陥を検出
したときに、その欠陥の位置に対応する前記アドレス付
けされたアドレス値を欠陥位置データとしてメモリに順
次記憶することを特徴とする磁気ディスク欠陥検査装置
。