JPH02230538A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents

光磁気ディスク装置

Info

Publication number
JPH02230538A
JPH02230538A JP5114789A JP5114789A JPH02230538A JP H02230538 A JPH02230538 A JP H02230538A JP 5114789 A JP5114789 A JP 5114789A JP 5114789 A JP5114789 A JP 5114789A JP H02230538 A JPH02230538 A JP H02230538A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magneto
data
optical disk
fixed pattern
pattern data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5114789A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2615980B2 (ja
Inventor
Ryuichi Inoue
隆一 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5114789A priority Critical patent/JP2615980B2/ja
Publication of JPH02230538A publication Critical patent/JPH02230538A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2615980B2 publication Critical patent/JP2615980B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気ディスク板を使用して情報の記録および
再生を行う光磁気ディスク装置に関する。
〔従来の技術〕
光磁気ディスク板を使用して情報の記録と再生とを行う
従来の光磁気ディスク装置における光磁気ディスク板(
媒休〉の欠陥の増加を検出するための手段は、光磁気デ
ィスク装置内の統計情報を利用すること等の手段を採用
している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述のように、従来の光磁気ディスク装置においては、
出荷前に媒体にデータを記録してそれを読出すことによ
って媒体の欠陥に関する情報を求めて、それを媒体上に
記録していないため、媒体の欠陥の変化の状況が不明で
あり、従って一定期間経過後に媒体が劣化してきたが否
がを判断することが困難であるという欠点を有している
〔課題を解決するための手段〕
本発明の光磁気ディスク装置は、光磁気ディスク板のト
ラックをn個のゾーンに分割して各ゾーン毎にユーザト
ラック以外の特定のトラックを設け、この特定のトラッ
クに固定パターンデータを書込む手段と、この特定のト
ラックを読出してエラーを検査する手段と、この読出し
検査のときのエラーのアドレスを記録する手段と、固定
バタンデータのトラックに固定パターンデータを再び書
込む手段と、再書込み後の固定パターンデータの読出し
検査を行ってそのときのエラーアドレスと先に特定のト
ラックに書込んだ固定パターンデータを読出して検査し
たときのエラーアドレスとを比較する手段を有し、これ
らによって光磁気ディスク板の欠陥が増加したかを監視
することができるようにしたものである。
すなわち、本発明の光磁気ディスク装置は、あらかじめ
複数個のゾーンに分割し前記各ゾーンに固定パターンデ
ータおよびこの固定パターンデータを読出して検査した
ときのエラーアドレスを書込むと共に前記固定パターン
データを消去して再び書込むためのトラックを設けた光
磁気ディスク板と、ホスト装置との間で授受するデータ
または自己の装置内で発生する前記固定パターンデータ
または前記光磁気ディスク板から読出した固定パターン
データの異常情報を格納するバッファと、エラー訂正用
のデータを生成して前記バッファから読出したデータに
付加するエラー訂正エンコダと、前記光磁気ディスク板
上にデータを書込むための記録フォーマットを生成する
フォーマット生成回路と、前記光磁気ディスク板に記録
する前記固定パターンデータを生成して前記バッファに
格納し前記光磁気ディスク板から前記固定バタンデータ
を再生したときの異常情報を前記バッファに格納すると
共に前記固定パターンデータを再度前記光磁気ディスク
板に記録させ再度記録した前記固定パターンデータを前
記光磁気ディスク板から読出したときの異常情報と前記
バッファに格納してある異常情報とを比較してエラーが
増加したか否かを判断するマイクロプロセッサと、前記
光磁気ディスク板から前記固定パターンデータの読出し
を行う読出し制御回路と、前記読出し制御回路が読出し
た前記固定パターンデータのエラの検出と訂正とを行っ
てその結果を前記マイクロプロセッサに通知しかつ訂正
後のデータを前記バッファに格納するエラー訂正デコー
ダとを備えている。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図において、1はバッファであり、ホスト装置との
間で授受するデータまたはマイクロプロセッサ4で作成
する固定パターンデータまたは光磁気ディスク板から読
出した固定パターンデータを検査して作成したエラー情
報を格納する.2はエラー訂正エンコーダで、エラー訂
正用のデータを生成してバッファ1から読出したデータ
に付加する回路である。3はフォーマット生成回路で、
光磁気ディスク板上にデータを書込むときの記録フォー
マットを生成する.4はマイクロプロセッサで、光磁気
ディスク板に記録する固定パターンデータを生成してバ
ッファ1に格納し、光磁気デ=6 ィスク板から固定パターンデータを再生したときの異常
情報をバッファ1に格納すると共に固定パターンデータ
を光磁気ディスク板に再度記録させ、光磁気ディスク板
から再度記録した固定バタンデータを再度読出したとき
の異常情報と前にバッファ1に格納した異常情報とを比
較してエラが増加したか否かを判断する。6は読出し制
御回路で、光磁気ディスク板からデータの再生を行う。
5はエラー訂正デコーダで、読出し制御回路6が光磁気
ディスク板から読出したデータのエラの検出とその訂正
とを行う。7は消去制御回路で、光磁気ディスク板にデ
ータの書込みを行う前に消去を行う。
次に、上述のような構成の実施例の動作について第2図
〜第7図を参照して説明する。
第2図は第1図の実施例の光磁気ディスク板のトラック
フォーマットを示すフォーマット図である。
第2図に示すように、光磁気ディスク板はゾーン(0)
11からゾーン(n)15 (nは整数)までのn個の
ゾーンに分割され、各ゾーンは、ユザエリア以外の固定
のトラックに代替セクタエリアとテストエリアとを有し
ている。代替セクタエリアには、エラーセクタの代替セ
クタととしてデーターを記録する。テストエリアには、
媒体の出荷のときに固定パターンデータおよびそのエラ
のアドレス情報を記録しておく。
第3図は第2図のテストエリアの詳細を示すフォーマッ
ト図である。
第3図に示すように、テストエリアは、二つの固定デー
タトラック21および22を有し、デタトラック(I)
21は、出荷のときにデータを記録してベリファイを行
うと共に、保守のときにもそのデータを読出してベリフ
ァイを行うためのトラックである。データトラック(n
)22は、出荷の後の保守のときに消去して新なテータ
を書込み、そのデータを読出してベリファイを行うため
のトラックである。情報トラック23には、フラグ( 
F L A G )とエラーの発生したトラックアドレ
スおよびセクタアドレスを記録する。データトラック(
I)21用のフラグとデータトラック(II)22用の
フラグとは内容を変えて区別する。
第4図は第1図の実施例の出荷前に光磁気ディスク板を
イニシャライズするときの動作を示すフローチャートで
ある。
第4図に示すように、出荷前に光磁気ディスク板をイニ
シャライズするときは、マイクロプロセッサ4で発生さ
せた固定のデータをバッファ1とエラー訂正エンコーダ
2とフォーマット生成回路3とを用いてデータトラック
(I)21およびデータトラック(I[)22に書込む
(参照特号31)。次にこの書込んだデータを読出し制
御回路6とエラー訂正デコーダ5とを用いて読出し(参
照符号32)でベリファイする。この結果をマイクロプ
ロセッサ4で判断しく参照符号33)、エラーがなけれ
ば光磁気ディスク板の情報トラックには何も書込まずに
終了する。エラーがあるときは、エラー情報トラックに
フラッグとエラーのトラックアドレスおよびセクタアド
レスを記録する(参照符号34)。
第5図は第1図の実施例において出荷の後の保守のとき
に光磁気ディスク板の欠陥が増加したか否かをチェック
するときの動作を示すフローチャトである。
出荷後に光磁気ディスク板のテストを行うときは、第6
図に示すように、ホスト装置からディスクモニター命令
を受け、 データトラック(I)21のベリファイチェ
ックを行う(参照符号40)。このときのエラーの数と
出荷時に情報トラックに記録したエラーセクタのアドレ
スの数とを比較してエラーの数がとのぐらい増加したか
を調べ、その数が所定の値以上になったときは警告メッ
セージを出力してホスト装置に知らせる。また、保守者
が判断できるように、光磁気ディスク装置に設けてある
ランプを点灯する(参照符号42・43・46)。 次
に、データトラック(II)22のデータを消去して再
びデータを書込み、そのデータを読出してベリファイを
行い(参照符号41〉、そのときのエラの数と出荷時に
情=9 報トラックに記録したエラーセクタのアドレスの数とを
比較してエラーの数がどのくらい増加したかを調べ、そ
の数が所定の値以上になったときは警告メッセージを出
力してホス1・装置に知らせる(参照符号42・44・
45)。これによって媒体に対する書込み特性の変化を
、ユーサエリアを使用しなくても調べることができる。
このベリファイチェックの方法は、実際にユザエリアの
データを読出すときのチェック方法と比較すると厳しい
方法であるなめ、ベリファイエラーの数が増加しても直
にユーザエリアのデータの読出し不能になるわけではな
いが、この状態を放置しておくと、やがて劣化が激しく
なってデタの読出しが不可能になる。したがって本動作
は、この予防と保守のために有効である。
第6図(a)および(b)は第1図の実施例においてベ
リファイエラ−の検出時のエラーと読出し時に訂正でき
るエラーの分布状態の一例を示すパターン図である。
第6図(a)はベリファイのときにエラーとなるエラー
バイトの例であり、第6図(b)は後に欠陥が発生して
エラーとなっても訂正ができるパターンである。図中の
X印は、媒体上の欠陥てある。本例の場合は、ベリファ
イエラーが発生しても、充分にエラーの訂正が可能であ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の光磁気ディスク装置は、
出荷前に光磁気ディスク板の固定トラックにデータとそ
のデータに対するベリファイヂエックの情報とを記録し
ておき、出荷後にその固定トラックに新たに書込んだデ
ータを読出してベリファイし、そのときのエラーの数と
出荷前に書込んでおいたベリファイエラーの数とを比較
してエラーの数がどのぐらい増加したかを調べ、その数
が所定の値以−Fになったときに警告メッセージを出力
することによって、ユーサにおける媒体の劣化の状態を
判断することごてきるという効果があり、予防保守に対
して極めて有効てある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例の光磁気ディスク板のトラックフォーマ
ットを示すフォーマット図、第3図は第2図のテストエ
リアの詳細を示すフォーマット図、第4図は第1図の実
施例の出荷前に光磁気ディスク板をイニシャライズする
ときの動作を示すフローチャート、第5図は第1図の実
施例において出荷の後の保守のときに光磁気ディスク板
の欠陥が増加したか否かをチェックするときの動作を示
すフローチャート、第6図<a)および(b)は第1図
の実施例においてベリファイエラの検出時のエラーと読
出し時に訂正できるエラの分布状態の一例を示すパター
ン図である。 1・・・・・・バッファ、2・・・・・・エラー訂正エ
ンコダ、3・・・・・・フォーマット生成回路、4・・
・・・マイクロプロセッサ、5・・・・・・エラー訂正
テコータ、6・・・・・・読出し制御回路、7・・・・
・・消去制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. あらかじめ複数個のゾーンに分割し前記各ゾーンに固定
    パターンデータおよびこの固定パターンデータを読出し
    て検査したときのエラーアドレスを書込むと共に前記固
    定パターンデータを消去して再び書込むためのトラック
    を設けた光磁気ディスク板と、ホスト装置との間で授受
    するデータまたは自己の装置内で発生する前記固定パタ
    ーンデータまたは前記光磁気ディスク板から読出した情
    報データを格納するバッファと、エラー訂正用のデータ
    を生成して前記バッファから読出したデータに付加する
    エラー訂正エンコーダと、前記光磁気ディスク板上にデ
    ータを書込むための記録フォーマットを生成するフォー
    マット生成回路と、前記光磁気ディスク板に記録する前
    記固定パターンデータを生成して前記バッファに格納し
    前記光磁気ディスク板から前記固定パターンデータを再
    生したときの異常情報を前記バッファに格納すると共に
    前記固定パターンデータを再度前記光磁気ディスク板に
    記録させ再度記録させ再度記録した前記固定パターンデ
    ータを前記光磁気ディスク板から読出したときの異常情
    報と前記バッファに格納してある異常情報とを比較して
    エラーが増加したか否かを判断するマイクロプロセッサ
    と、前記光磁気ディスク板から前記固定パターンデータ
    の読出しを行う読出し制御回路と、前記読出し制御回路
    から読出した前記情報データのエラーの検出と訂正とを
    行ってその結果を前記マイクロプロセッサに通知しかつ
    訂正後のデータを前記バッファに格納するエラー訂正デ
    コーダとを備えることを特徴とする光磁気ディスク装置
JP5114789A 1989-03-02 1989-03-02 光磁気ディスク装置 Expired - Lifetime JP2615980B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5114789A JP2615980B2 (ja) 1989-03-02 1989-03-02 光磁気ディスク装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5114789A JP2615980B2 (ja) 1989-03-02 1989-03-02 光磁気ディスク装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02230538A true JPH02230538A (ja) 1990-09-12
JP2615980B2 JP2615980B2 (ja) 1997-06-04

Family

ID=12878711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5114789A Expired - Lifetime JP2615980B2 (ja) 1989-03-02 1989-03-02 光磁気ディスク装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2615980B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6683738B2 (en) 1996-03-08 2004-01-27 Hitachi, Ltd. Storage device for reliably maintaining data in a reproducible state for a long period of time
US7902107B2 (en) 2003-08-05 2011-03-08 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US8119075B2 (en) 2005-11-10 2012-02-21 Basf Corporation Diesel particulate filters having ultra-thin catalyzed oxidation coatings
US8318286B2 (en) 2007-01-31 2012-11-27 Basf Corporation Gas catalysts comprising porous wall honeycombs

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6683738B2 (en) 1996-03-08 2004-01-27 Hitachi, Ltd. Storage device for reliably maintaining data in a reproducible state for a long period of time
US9144795B2 (en) 2003-08-05 2015-09-29 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US8122603B2 (en) 2003-08-05 2012-02-28 Basf Corporation Method of forming a catalyzed selective catalytic reduction (SCR) filter
US9039984B1 (en) 2003-08-05 2015-05-26 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9121327B2 (en) 2003-08-05 2015-09-01 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US8899023B2 (en) 2003-08-05 2014-12-02 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9032709B2 (en) 2003-08-05 2015-05-19 Basf Corporation Method of forming a catalyzed selective catalytic reduction filter
US9040006B1 (en) 2003-08-05 2015-05-26 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment method
US9039983B1 (en) 2003-08-05 2015-05-26 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US10857529B2 (en) 2003-08-05 2020-12-08 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9039982B2 (en) 2003-08-05 2015-05-26 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US10518254B2 (en) 2003-08-05 2019-12-31 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US7902107B2 (en) 2003-08-05 2011-03-08 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9517455B2 (en) 2003-08-05 2016-12-13 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9517456B2 (en) 2003-08-05 2016-12-13 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US9757717B2 (en) 2003-08-05 2017-09-12 Basf Corporation Method for disposing SCR composition on a wall flow monolith
US10258972B2 (en) 2003-08-05 2019-04-16 Basf Corporation Catalyzed SCR filter and emission treatment system
US8119075B2 (en) 2005-11-10 2012-02-21 Basf Corporation Diesel particulate filters having ultra-thin catalyzed oxidation coatings
US8318286B2 (en) 2007-01-31 2012-11-27 Basf Corporation Gas catalysts comprising porous wall honeycombs

Also Published As

Publication number Publication date
JP2615980B2 (ja) 1997-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02216672A (ja) 光ディスクドライブ装置
KR20040015425A (ko) 결함 관리를 적용한 1회 기록용 고밀도 기록 매체, 결함관리 방법 및 그 장치
JPS6363169A (ja) 交代記録方法
JPH03222167A (ja) 光情報記録再生装置および光ディスク
US4769804A (en) Optical data recording and reproducing apparatus with erase function diagnosis
KR950014671B1 (ko) 광 정보기록재생장치, 매체 및 기록재생방법
JPH02230538A (ja) 光磁気ディスク装置
US6263462B1 (en) Testing method and tester
JPH1050005A (ja) 光ディスク欠陥管理方法および装置
JPS60121575A (ja) 光学的情報記録再生装置
JP2595318B2 (ja) 書替え可能形記録再生装置のデ−タ消去装置
JPH02226520A (ja) 光ディスク装置
JPH0714315A (ja) 情報記録再生装置の交代セクタ管理方法
JPH0287080A (ja) 磁気ディスク欠陥検査装置
KR100510444B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 테스트 이력 관리 방법
JPH1027319A (ja) Mrヘッドのサーマルアスペリティエラー検出方法および磁気ディスクサーティファイア
JPH0660560A (ja) 磁気ディスクドライバのecc機能検査方法
KR100672070B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체
JPS63157342A (ja) 光磁気デイスク装置
JPS62173654A (ja) 光学式記録担体
JPH03290872A (ja) 磁気ディスク検査装置のフォーマットデータ書き込み方式
JPH01106370A (ja) エラー検査装置
JPH03250442A (ja) 光磁気ディスク記録装置
JPH06162681A (ja) 検査用光ディスク媒体,検査用光ディスク媒体製造用光ディスク装置並びに光ディスク装置検査装置
JPH0772980B2 (ja) 書換え可能な光デイスクの初期化方法ならびに書換え可能な光デイスク装置