JPH06162681A - 検査用光ディスク媒体，検査用光ディスク媒体製造用光ディスク装置並びに光ディスク装置検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、光ディスク装置の十分な検査を短
時間に行うことを目的とする。 【構成】 この発明は、欠陥登録領域を持つ光ディスク
媒体１８であって、サーティファイ動作によりエラー発
生が大と判定されたセクタ以外のセクタが欠陥登録領域
に登録されているものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は検査用光ディスク媒体，
検査用光ディスク媒体製造用光ディスク装置並びに光デ
ィスク装置検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】特開平３ー２８８３７２号公報には、デ
ィスクのエラー検査を行うドライブ装置（サーティファ
イア）の回路のＡＧＣ作用を制限したりエラー検出の基
準電圧を変えたりしてエラー検出の誤動作をなくそうと
する磁気ディスクのエラー検出方式が記載されている。

【０００３】通常の光ディスク装置では、内部部品によ
って光ディスク媒体に対するエラー検出の誤動作が生ず
るものがあり、特開平３ー２８８３７２号公報記載のエ
ラー検出方式のような何らかの対策をとらなければ光デ
ィスク媒体に対するエラー検出の誤りがあることがある
（同一の光ディスク媒体に対してある光ディスク装置で
はエラーが発生し、別の光ディスク装置ではエラーが発
生しないことがある）。 特開平３ー２８８３７２号公
報には、ディスク媒体に対する各種の検査を行う検査機
能を付加した磁気ディスク装置が記載されている。ま
た、「光ディスク技術」ラジオ技術社発行第２３０〜２
３３頁には、光ディスク媒体において欠陥セクタに記録
されるべきデータを交代セクタに記録し、欠陥セクタの
物理的なアドレスとそれに対応する交代セクタのアドレ
スを欠陥登録領域に登録することが記載されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】光ディスク装置は、製
造工程において各部品が組み立てられた後に動作検査が
行われる。特に、光ディスク媒体に対して情報の記録及
び再生を行うことが光ディスク装置の主要目的であるの
で、光ディスク媒体に対して情報の記録及び再生を行っ
てもエラーが生じないことを確かめるというエラー検査
が最重用検査項目となっている。

【０００５】また、光ディスク装置は、上述のように内
部部品によってエラー検出の誤動作が生ずるものがある
ので、エラー検査でそのような光ディスク装置を取り除
き、市場に出荷されて使用者先で障害が発生するという
ことがないようにしなければならない。

【０００６】しかし、検査しようとする光ディスク装置
に多数の光ディスク媒体を順次に取り付けるにはたくさ
んの人手がかかり、また、検査で記録または再生を行う
セクタ数が多ければ検査時間が長くなり、生産性を上げ
ることが困難であった。例えば、エラー率に１／１０¹²
以下が必要になると、１０¹²ｂｉｔ以上の情報の記録，
再生を行って検査することになり、非常に時間がかか
る。

【０００７】光ディスク媒体の情報容量は１３０ｍｍ径
のＩＳＯ規格の光ディスク媒体で３００Ｍｂｙｔｅほど
あり、これは磁気フロッピーディスクの情報容量（１．
２Ｍｂｙｔｅ／枚）の２５０倍に当る。したがつて、光
ディスク媒体の情報容量を光ディスク媒体１つ当りのエ
ラー発生率（つまり、光ディスク媒体の使用時のエラー
発生率）を磁気フロッピーディスク並みとする場合に
は、光ディスク装置のエラー率を光ディスク媒体の情報
容量が磁気フロッピーディスクの情報容量に比べて大き
い分だけ低くしなければならない。このため、光ディス
ク装置は十分な検査を行ってエラー率の低いものを出荷
しなければならないが、それには磁気フロッピーディス
ク装置より長時間の検査が必要とされる。

【０００８】このように、光ディスク装置は、十分な検
査を行えば人手と時間がかかるので、生産性が悪くてコ
ストがかかり、また、検査を少なくすれば出荷した光デ
ィスク装置がエラーを生じてしまうという問題点があっ
た。

【０００９】本発明は、上記欠点を改善し、光ディスク
装置の十分な検査を行うことが可能で光ディスク装置の
エラー検査に要する時間を短縮することが可能となる検
査用光ディスク媒体及び光ディスク装置検査装置と、検
査用光ディスク媒体製造用光ディスク装置を提供するこ
とを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、欠陥登録領域を持つ光ディ
スク媒体であって、サーティファイ動作によりエラー発
生が大と判定されたセクタ以外のセクタが欠陥登録領域
に登録されているものである。

【００１１】請求項２記載の発明は、欠陥登録領域を再
定義する欠陥登録領域再定義手段を有し、この欠陥登録
領域再定義手段によりサーティファイ済み光ディスク媒
体に対してエラー発生が大と判定されているセクタ以外
のセクタを欠陥登録領域に登録するものである。

【００１２】請求項３記載の発明は、光ディスク装置に
対して光ディスク媒体の欠陥登録領域から欠陥セクタの
物理アドレスを読み出させる第１の手段と、この第１の
手段で読み出されたセクタの物理アドレスに対する記録
・再生動作を光ディスク装置に行わせてエラー発生を検
査する第２の手段とを備えたものである。

【００１３】

【作用】請求項１記載の発明では、サーティファイ動作
によりエラー発生が大と判定されたセクタ以外のセクタ
が欠陥登録領域に登録されているから、各光ディスク装
置毎の記録再生動作によるエラー発生の有無の差異が明
確に分かり、光ディスク装置の十分な検査を行うことが
可能で光ディスク装置のエラー検査に要する時間を短縮
することが可能となって生産性を向上させることが可能
となる。

【００１４】請求項２記載の発明では、欠陥登録領域再
定義手段によりサーティファイ済み光ディスク媒体に対
してエラー発生が大と判定されているセクタ以外のセク
タを欠陥登録領域に登録する。したがって、請求項１記
載の検査用光ディスク媒体を費用をあまりかけずに短時
間に得ることができる。

【００１５】請求項３記載の発明では、第１の手段が光
ディスク装置に対して光ディスク媒体の欠陥登録領域か
ら欠陥セクタの物理アドレスを読み出させ、第２の手段
が第１の手段で読み出されたセクタの物理アドレスに対
する記録・再生動作を光ディスク装置に行わせてエラー
発生を検査する。しがって、各光ディスク装置毎のエラ
ー発生の有無の差異が明確に分かり、光ディスク装置の
十分な検査を行うことが可能で光ディスク装置のエラー
検査に要する時間を短縮することが可能となって生産性
を向上させることが可能となる。

【００１６】

【実施例】まず、光ディスク媒体上の欠陥登録領域につ
いて説明する。光ディスク媒体上の欠陥登録領域は光デ
ィスク媒体上の情報記録領域の一部を占めている。光デ
ィスク媒体上の情報記録領域は実際に光ディスク媒体に
記録した情報がおかれる基本データ領域と、欠陥登録領
域にアドレスが登録されている欠陥セクタに情報を登録
するとエラーが生ずるためにその情報を欠陥セクタの代
りに記録する交代領域とを有する。

【００１７】欠陥登録領域は欠陥があってエラーが生ず
る欠陥セクタの物理セクタアドレスと、その欠陥セクタ
の代りに実際に情報が記録される交代領域における交代
セクタの物理セクタアドレスとが組になって記録され
る。この場合、その物理セクタアドレスが交代領域にお
かれる。交代領域の容量を大きくする技術は公知であ
る。欠陥登録領域に上記物理セクタアドレスを登録する
動作にはサーティファイがある。

【００１８】光ディスク媒体に対して通常の情報の記録
再生を行うセクタは論理セクタアドレスで示される。光
ディスク装置は与えられた論理セクタアドレスと、光デ
ィスク媒体上の欠陥登録領域に登録されている物理セク
タアドレスから情報の記録再生を行うセクタの物理セク
タアドレスを決め、この物理セクタアドレスのセクタに
情報の記録再生を行う。この場合、光ディスク装置はそ
の物理セクタアドレスのセクタが欠陥登録領域に登録さ
れている欠陥セクタである時にはその欠陥セクタの物理
セクタアドレスに対応する物理セクタアドレスの交代セ
クタに情報の記録再生を行う。

【００１９】請求項１記載の発明の実施例はサーティフ
ァイでエラー発生数が欠陥判定基準Ｌより多いと判定さ
れたセクタ以外の、エラー発生の少ないセクタを欠陥登
録領域に登録した検査用光ディスク媒体である。この検
査用光ディスク媒体では論理セクタアドレスから求めら
れた物理セクタアドレスのセクタは基本データ領域にお
かれるエラー発生の多い、つまり欠陥のあるセクタであ
り、このセクタに対して光ディスク装置で情報の記録再
生動作が行われることにより光ディスク装置の検査が実
施される。

【００２０】光ディスク装置においては、同じ光ディス
ク媒体の同じセクタに対する記録または再生動作を行っ
ても光ディスク装置毎にそのデータエラーなどの検出す
るエラー数が異なる。本発明者による研究の結果、これ
らのエラー数の光ディスク装置毎の差は主として光ディ
スク媒体における欠陥箇所の存在するセクタに対して記
録または再生動作を行った時に生ずるエラーの数が各光
ディスク装置毎に個別に大きく異なるためであることが
わかった。

【００２１】上記エラーの種別としては、光ディスク媒
体に対してテスト信号を記録して再生した場合再生した
テスト信号の波形が欠落するミッシングエラー、再生し
たステト信号の振幅が変動するモジュレーションエラ
ー、テスト信号を光ディスク媒体から消去した状態でそ
の再生信号にテスト信号が湧き出るエキストラエラーな
どがある。

【００２２】また、図２は同じ光ディスク媒体の同じセ
クタに対する記録または再生動作を３台の光ディスク装
置○，△，×で行った時のエラー数の例を示す。光ディ
スク媒体におけるセクタアドレスａのセクタに対しては
３台の光ディスク装置○，△，×ともエラー数が０また
は１個であり、各光ディスク装置○，△，×のエラー数
に大差が生じていない。

【００２３】ところが、光ディスク媒体におけるセクタ
アドレスｂのセクタに対しては光ディスク装置○はエラ
ー数が１３個であり、光ディスク装置△はエラー数が１
１個であり、光ディスク装置×はエラー数が２１個であ
り、各光ディスク装置○，△，×のエラー数に大差があ
る。また、光ディスク媒体全体に対するエラーレートは
光ディスク装置×が７８個、光ディスク装置△が５６
個、光ディスク装置○が５０個であり、光ディスク装置
×→光ディスク装置△→光ディスク装置○という順に悪
くなった。これはセクタアドレスａのセクタは媒体欠陥
がほとんどなく、セクタアドレスｂのセクタは媒体欠陥
が大きいためであり、セクタアドレスｃのセクタは２者
ａ，ｂの媒体欠陥の中ほどの大きさの媒体欠陥がある。

【００２４】このように光ディスク装置は媒体欠陥が存
在するセクタに対するエラー発生を見ることによりエラ
ーレートの良悪を判定することができる。セクタアドレ
スａのセクタのようなエラー発生の無いセクタに対する
エラー発生の有無で光ディスク装置毎のエラー発生数の
差を検査することは難しい。もちろん光ディスク装置で
大量のセクタに対するエラー発生の有無を検査すること
は可能であるが、従来装置と同様に検査に長時間を必要
としてしまう。

【００２５】エラー数が例えば１８個の欠陥判定基準Ｌ
より多いか否かでセクタに欠陥が存在するか否かを判定
するものとすれば、セクタアドレスｂのセクタは光ディ
スク装置×ではサーティファイ（光ディスク媒体の全面
欠陥検査）により欠陥と判定されるので、光ディスク媒
体の欠陥登録領域にセクタアドレスｂが登録される。し
たがって、セクタアドレスｂのセクタは通常の記録，再
生動作で使用されなくなり、つまり光ディスク装置で情
報が読めなくなる。

【００２６】そこで、請求項１記載の発明の実施例で
は、サーティファイでエラー発生数が欠陥判定基準Ｌよ
り多いと判定されたセクタ以外の、エラー発生の少ない
セクタを欠陥登録領域に登録したものとする。

【００２７】したがって、この実施例の検査用光ディス
ク媒体では、これを光ディスク装置にセットして通常の
記録，再生を行うように命令をホストコンピュータから
光ディスク装置に与えるだけで、この検査用光ディスク
媒体上の欠陥の存在するセクタに対して記録再生動作を
行えるので、検査用光ディスク媒体上の欠陥の存在する
セクタに対するエラー発生の有無の各光ディスク装置毎
の差異を明確にでき、光ディスク装置の検査を正しく短
時間で行うことができて生産性を向上させることができ
る。また、光ディスク装置は本実施例の欠陥登録領域に
登録されている、サーティファイでエラー発生数が欠陥
判定基準Ｌより多いと判定されたセクタ以外のセクタを
除いたセクタ、つまり欠陥登録領域に登録されていない
セクタのうちから使用可能なセクタを判断するので、光
ディスク装置が使用可能と判断するセクタが非常に少な
くなり、検査時間を短縮できて生産性を向上させること
ができる。

【００２８】そして、検査時間が短いことにより、生産
した全ての光ディスク装置に１つの検査用光ディスク媒
体を使用することができ、検査のばらつきを少なくでき
る。また、ホストコンピュータは本実施例のために特別
なコマンドを光ディスク装置に送る必要がないので、ホ
ストコンピュータはそのまま無改造で使用することがで
きる。

【００２９】請求項２記載の発明の実施例は上記実施例
の検査用光ディスク媒体を製造する検査用光ディスク媒
体製造用光ディスク装置である。サーティファイでは光
ディスク装置により光ディスク媒体の全面に対して記録
再生動作を実施するので、長時間を必要とする。したが
って、多数の光ディスク装置を検査するための検査用光
ディスク媒体が多数枚必要となる。

【００３０】請求項２記載の発明の実施例は光ディスク
媒体に対してサーティファイを行ってエラー発生が大と
判定したセクタ以外のセクタを欠陥登録領域に登録する
ことにより検査用光ディスク媒体を製造するが、このよ
うな光ディスク装置が１台だけであれば多数枚の検査用
光ディスク媒体を作るには長い時間がかかってしまう。
しかし、このような光ディスク装置は何台も作ると費用
がかかり、一度使ったらあまり使用しない特別な装置で
あるので、お金をかけにくいという問題がある。

【００３１】そこで、まず、通常の光ディスク装置で光
ディスク媒体に対してサーティファイを行ってエラー発
生が大と判定したセクタをその光ディスク媒体の欠陥登
録領域に登録する。これは多数の光ディスク装置で平行
して実施することができるので、短い時間で実施するこ
とができる。次に、その光ディスク媒体を請求項２記載
の発明の実施例にかけると、再度のサーティファイ動作
をせずに上記請求項１記載の発明の実施例の検査用光デ
ィスク媒体が得られる。請求項２記載の発明の実施例は
１台あれば十分であるので、費用があまりかからない。

【００３２】図３は請求項２記載の発明の実施例を示
す。この実施例の光ディスク媒体は、光磁気ディスク媒
体の例であり、ドライブメカ部１１，ドライブメカコン
トロール部１２及びドライブコントローラ１３を有す
る。ドライブメカ部１１は磁気ヘッド１４，モータ１
５，光ピックアップの可動部１６及び光ピックアップの
固定部１７を有する。

【００３３】光ディスク媒体１８はモータ１５により回
転され、磁気ヘッド１４により磁界が印加される。光ピ
ックアップ１６，１７は光源からの光を対物レンズによ
り集光して光スポットとして光ディスク媒体１８に照射
し、情報の記録，再生，消去を行う。この場合、光ディ
スク媒体１８は光ピックアップ可動部１６の移動により
光スポットが目標トラックに移動してトラックアクチュ
エータ１９による対物レンズの駆動で光スポットがトラ
ックを追従し、フォーカスアクチュエータ２０による対
物レンズの駆動で光スポットが合焦状態にされる。

【００３４】ドライブコントローラ１３はコントローラ
２１，バッファメモリ２２，ＥＣＣ部２３，ＯＤＣ部２
４及びＳＣＳＩインターフェース２５を有し、コントロ
ーラ２１はバッファメモリ２２を用いながらＳＣＳＩイ
ンターフェース２５を介してホストコンピュータとの間
でコマンドやデータ等の授受を行ってＯＤＣ部２４を介
してドライブメカコントロール部１２との間で制御信号
やデータの授受を行うことによりドライブメカコントロ
ール部１２を制御し、ＥＣＣ部２３によりデータのエラ
ーチェックを行う。

【００３５】ドライブメカコントロール部１２はコント
ローラ２６，磁気ヘッド制御系２７，回転制御系２８，
キャリッジ制御系２９，フォーカス制御系３０，トラッ
ク制御系３１，光ピックアップ用信号処理回路３２及び
符号化・復号部３３を有する。コントローラ２６はドラ
イブコントローラ１３からの制御信号に基づいて磁気ヘ
ッド制御系２７，回転制御系２８，キャリッジ制御系２
９，フォーカス制御系３０，トラック制御系３１，光ピ
ックアップ用信号処理回路３２を制御し、ドライブコン
トローラ１３からのデータを符号化・復号部３３を介し
て光ピックアップ用信号処理回路３２に転送すると共
に、光ピックアップ用信号処理回路３２から符号化・復
号部３３を介して転送されてきたデータをドライブコン
トローラ１３に転送する。

【００３６】磁気ヘッド制御系２７はコントローラ２６
からの制御信号をもとに磁気ヘッド１４を制御し、回転
制御系２８はコントローラ２６からの制御信号をもとに
モータ１５を制御する。キャリッジ制御系２９はコント
ローラ２６からの制御信号をもとに光ピックアップ可動
部１６の移動制御を行い、光ピックアップ用信号処理回
路３２は記録動作時に符号化・復号部３３からのデータ
により光ピックアップ固定部１７内の光源を変調して光
ディスク媒体１８の媒体にデータを記録させる。また、
光ピックアップ１６，１７は光源からの光を対物レンズ
により集光して光スポットとして光ディスク媒体１８に
照射し、その反射光を受光部で受光する。光ピックアッ
プ用信号処理回路３２は光ピックアップ１６，１７の受
光部からの信号を処理して再生信号やフォーカスエラー
信号，トラッキングエラー信号等を得、フォーカス制御
系３０はコントローラ２６からの制御信号をもとに光ピ
ックアップ用信号処理回路３２からのフォーカスエラー
信号によりフォーカスアクチュエータ２０を制御する。
トラック制御系３１はコントローラ２６からの制御信号
をもとに光ピックアップ用信号処理回路３２からのトラ
ッキングエラー信号によりトラックアクチュエータ１９
を制御する。

【００３７】図４はこの実施例に関する動作フローを示
す。まず、光ディスク媒体１８を通常の光ディスク装置
にセットし、この光ディスク装置にてサーティファイ動
作を行って光ディスク媒体１８の全面検査を行う。光デ
ィスク装置はサーティファイ動作では光ディスク媒体１
８上のエラー発生が欠陥判定基準Ｌより大きいセクタを
欠陥セクタとして判定して光ディスク媒体１８上の欠陥
登録領域にそのエラー発生が大きい欠陥セクタのセクタ
アドレスを登録する。

【００３８】しかる後に、光ディスク媒体１８を本実施
例にセットし、ホストコンピュータからドライブコント
ローラ１３に通常の記録再生動作を行うように命令を与
える。この命令によりコントローラ２１はドライブコン
トローラ１２を制御して光ディスク媒体１８の欠陥登録
領域に登録されている欠陥セクタのセクタアドレスを読
み出させ、次いで、その欠陥セクタのセクタアドレス以
外の欠陥判定基準Ｌよりエラー発生が少ないセクタのセ
クタアドレスを光ディスク媒体１８の欠陥登録領域に登
録させる。これにより、光ディスク１８は前記請求項１
記載の実施例の検査用光ディスク媒体となる。

【００３９】図１は請求項３記載の実施例を示す。この
実施例は請求項１記載の検査用光ディスク媒体を使用し
ない光ディスク装置検査装置３４であり、検査しようと
する光ディスク装置３５〜３７及び電源装置３８にＳＣ
ＳＩバス３９で接続される。光ディスク装置３５〜３７
は電源装置３８に接続されて動作用電圧が印加され、光
ディスク媒体４０〜４２がそれぞれセットされる。

【００４０】光ディスク媒体４０〜４２は通常のもので
あり、その欠陥登録領域にセクタアドレスが登録されて
いる欠陥セクタに対して情報の記録再生を行うために本
実施例が用いられる。検査装置３４は光ディスク装置３
５〜３７に対して光ディスク媒体４０〜４２の欠陥登録
領域から欠陥セクタの物理アドレスを読み出させてこれ
を保持する第１の手段４３と、この第１の手段４３で読
み出されたセクタの物理アドレスに対する記録・再生動
作を光ディスク装置３５〜３７に対して行わせてそのエ
ラー発生を検査し各光ディスク装置３５〜３７の合格・
不合格を判定する第２の手段４４とを有する。

【００４１】図５は検査装置３４の動作フローを示す。
検査装置３４は、まず、第１の手段４３により光ディス
ク装置３５〜３７に対してＳＣＳＩインターフェース３
９を介して光ディスク媒体４０〜４２の欠陥登録領域に
登録されている欠陥セクタの物理セクタアドレスを要求
し、この物理セクタアドレスが光ディスク装置３５〜３
７からＳＣＳＩインターフェース３９を介して送られて
くることによりこれを第１の手段４３に保持する。光デ
ィスク装置３５〜３７は検査装置３４による光ディスク
媒体４０〜４２の欠陥登録領域に登録されている欠陥セ
クタの物理セクタアドレスの要求により光ディスク媒体
４０〜４２の欠陥登録領域からそこに登録されている欠
陥セクタの物理セクタアドレスを読み出してＳＣＳＩイ
ンターフェース３９を介して検査装置３４に知らせる。

【００４２】検査装置３４は第２の手段４４により、光
ディスク装置３５〜３７からＳＣＳＩインターフェース
３９を介して送られてきた光ディスク媒体４０〜４２の
欠陥登録領域に登録されている欠陥セクタの物理セクタ
アドレスに対する記録再生動作命令をＳＣＳＩインター
フェース３９を介して光ディスク装置３５〜３７に送
る。光ディスク装置３５〜３７は検査装置３４からの光
ディスク媒体４０〜４２の欠陥登録領域に登録されてい
る欠陥セクタの物理セクタアドレスに対する記録再生動
作命令により、光ディスク媒体４０〜４２の欠陥登録領
域に登録されている欠陥セクタの物理セクタアドレスに
対して記録再生動作を行ってエラー発生の有無をＳＣＳ
Ｉインターフェース３９を介して検査装置３４に知らせ
る。検査装置３４は第２の手段４４により光ディスク装
置３５〜３７からの各エラー発生の有無から各光ディス
ク装置３５〜３７でのエラー発生が欠陥判定基準Ｌより
多いか否かを判定することにより各光ディスク装置３５
〜３７が合格か不合格かを判定する。

【００４３】この実施例では、光ディスク媒体４０〜４
２が請求項１記載の検査用光ディスク媒体でなくても光
ディスク媒体４０〜４２上の通常は記録再生が行えない
セクタに対して記録再生動作を実施して各光ディスク装
置３５〜３７毎のエラー発生の有無の差異を明確にで
き、検査時間を短縮することができて生産性を向上させ
ることができる。また、光ディスク装置３５〜３７は検
査装置３４の命令により光ディスク媒体４０〜４２の欠
陥登録領域にセクタアドレスが登録されていないセクタ
に対しても記録再生動作を行えるので、光ディスク媒体
４０〜４２と検査用光ディスク媒体とをかけかえる手間
を省略することが可能となる。

【００４４】

【発明の効果】以上のように請求項１記載の発明によれ
ば、欠陥登録領域を持つ光ディスク媒体であって、サー
ティファイ動作によりエラー発生が大と判定されたセク
タ以外のセクタが欠陥登録領域に登録されているので、
これを光ディスク装置にセットして通常の記録，再生を
行うように命令を光ディスク装置に与えるだけで、検査
用光ディスク媒体上の欠陥の存在するセクタに対して記
録再生動作を行えて検査用光ディスク媒体上の欠陥の存
在するセクタに対するエラー発生の有無の各光ディスク
装置毎の差異を明確にでき、光ディスク装置の検査を正
しく短時間で行うことができて生産性を向上させること
ができる。また、光ディスク装置が検査用光ディスク媒
体の欠陥登録領域に登録されている、サーティファイで
エラー発生数が欠陥判定基準より多いと判定されたセク
タ以外のセクタを除いたセクタ、つまり欠陥登録領域に
登録されていないセクタのうちから使用可能なセクタを
判断することにより、光ディスク装置が使用可能と判断
するセクタが非常に少なくなり、検査時間を短縮できて
生産性を向上させることができる。そして、検査時間が
短いことにより、生産した全ての光ディスク装置に１つ
の検査用光ディスク媒体を使用することができ、検査の
ばらつきを少なくできる。

【００４５】請求項２記載の発明によれば、欠陥登録領
域を再定義する欠陥登録領域再定義手段を有し、この欠
陥登録領域再定義手段によりサーティファイ済み光ディ
スク媒体に対してエラー発生が大と判定されているセク
タ以外のセクタを欠陥登録領域に登録するので、費用を
あまりかけずに短時間に請求項１記載の検査用光ディス
ク媒体を得ることが可能となる。

【００４６】請求項３記載の発明によれば、光ディスク
装置に対して光ディスク媒体の欠陥登録領域から欠陥セ
クタの物理アドレスを読み出させる第１の手段と、この
第１の手段で読み出されたセクタの物理アドレスに対す
る記録・再生動作を光ディスク装置に行わせてエラー発
生を検査する第２の手段とを備えたので、光ディスク媒
体が請求項１記載の検査用光ディスク媒体でなくても光
ディスク媒体上の通常は記録再生が行えないセクタに対
して記録再生動作を実施して各光ディスク装置毎のエラ
ー発生の有無の差異を明確にでき、検査時間を短縮する
ことができて生産性を向上させることができる。また、
光ディスク装置に命令を与えて光ディスク媒体の欠陥登
録領域にセクタアドレスが登録されていないセクタに対
しても記録再生動作を行えるので、光ディスク媒体と検
査用光ディスク媒体とをかけかえる手間を省略すること
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項３記載の発明の実施例を示すブロック図
である。

【図２】３台の光ディスク装置で記録再生動作をした時
のエラー数の例を示す図である。

【図３】請求項２記載の発明の実施例を示すブロック図
である。

【図４】同実施例に関する動作フローを示すフローチャ
ートである。

【図５】上記請求項３記載の発明の実施例の動作フロー
を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１１ ドライブメカ部 １２ ドライブメカコントロール部 １３ ドライブコントローラ ３４ 検査装置 ３５〜３７ 光ディスク装置

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】欠陥登録領域を持つ光ディスク媒体であっ
   て、サーティファイ動作によりエラー発生が大と判定さ
   れたセクタ以外のセクタが欠陥登録領域に登録されてい
   ることを特徴とする検査用光ディスク媒体。
2. 【請求項２】欠陥登録領域を再定義する欠陥登録領域再
   定義手段を有し、この欠陥登録領域再定義手段によりサ
   ーティファイ済み光ディスク媒体に対してエラー発生が
   大と判定されているセクタ以外のセクタを欠陥登録領域
   に登録することを特徴とする検査用光ディスク媒体製造
   用光ディスク装置。
3. 【請求項３】光ディスク装置に対して光ディスク媒体の
   欠陥登録領域から欠陥セクタの物理アドレスを読み出さ
   せる第１の手段と、この第１の手段で読み出されたセク
   タの物理アドレスに対する記録・再生動作を光ディスク
   装置に行わせてエラー発生を検査する第２の手段とを備
   えたことを特徴とする光ディスク装置検査装置。