CN100505068C - 盘存储装置和盘存储装置不良判定方法 - Google Patents
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Abstract
提供一种盘存储装置和盘存储装置不良判定方法，该盘存储装置包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；可以预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元；比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间，并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元；以及在上述访问时间不良判定单元中将判定为不良的访问区域的位置作为不良区域位置，登录于缺陷表单中的缺陷登录单元。由此，可以在AV数据记录、重放中使用盘存储装置的场合，在规定时间内进行访问、重放映像不发生中断或进行录像不发生数据丢失。
Description
技术领域
本发明涉及在磁盘及磁光盘等盘存储媒体上记录数据或读出数据的盘存储装置，特别涉及包含盘存储媒体上的不良位置判定的盘存储装置的不良判定方法。
背景技术
在盘存储装置中，在记录数据的盘存储媒体上存在由损伤等造成的缺陷的场合，如从包含该缺陷部分的扇区读出写入的数据，就会发生读出错误。另外，在上述缺陷部分存在于数据存储媒体上的为了读写头构造物定位而预先记录的伺服信号部分中的场合，会对读写头构造物的定位精度有影响，也有不能确定读出数据或写入数据的目的扇区的位置的情况，在这种场合，会发生目的扇区的读写错误。
于是，因为对上述盘存储媒体上的写入或读出时发生错误的扇区不能信赖，一般，在盘存储装置中读出或写入时，或是跳过该扇区，或是实施以备用扇区进行替代的处理而不使用发生错误的扇区。
所以，在现有技术中，对于上述盘存储媒体上的错误部分，为了进行上述的替代处理等，一直是通过对该盘存储媒体上的全部扇区实施读写测试，预先判断有无读写错误而进行盘存储媒体上的不良位置的调查处理。
在上述现有的盘存储媒体上的不良位置的调查处理中，实施该读写测试，即使是在该测试中有一次读写失败，只要进行数次恢复处理能够正常写入或读出数据，就不判断该扇区有错。
比如，在盘存储装置中，在记录数据的盘存储媒体上存在由损伤等造成的缺陷，从包含该缺陷部分的扇区读出写入的数据，就会发生读出错误的场合，在盘存储装置中，一般或是通过ECC纠错等的数据纠错处理尝试纠错，或是对发生读出错误的扇区进行数次读出尝试一直到正常读出为止而进行错误恢复处理，另外，当该缺陷部分存在于上述伺服信号部分，影响读写头构造物的定位精度，不能确定读写数据的目的扇区的位置的场合，在盘存储装置中，一般是进行数次定位处理尝试一直到确定目的扇区位置为止的读写头构造物定位的恢复处理。
于是，如果在上述现有的盘存储装置中，实行以上的恢复处理，对盘存储媒体上的扇区可以正常地读出数据或写入数据的话，即使该数据的读出或写入时间比通常更长时，也不能判断该扇区具有错误。
不过，在将上述盘存储装置应用于AV数据的记录重放用途的场合，为了重放映像不发生中断或记录数据不发生丢失，要求在规定时间内将必需的数据从盘存储装置的盘存储媒体中读出或写入到盘存储媒体。所以，在将上述盘存储装置应用于AV数据的记录重放用途的场合，正常读出所保存的数据自不待言，并且还必须保证在规定时间内结束读写处理，而在现有方式的扇区不良判定方法中，对访问时间超过规定时间的位置不判定为不良，在对该位置进行记录或重放的场合，存在在记录时数据脱落和重放时数据丢失的问题。
本发明正是为了解决上述现有问题而完成的发明，其目的为提供在AV数据记录、重放中使用盘存储装置的场合，重放映像不发生中断或进行录像不发生数据丢失的盘存储装置、盘存储装置不良的判定方法以及用来对其进行计算机处理的程序记录媒体。
发明内容
根据本发明的第1方面提供一种盘存储装置，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；可以预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元；比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间，并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元；以及在上述访问时间不良判定单元中将判定为不良的访问区域的位置作为不良区域位置，登录于缺陷表单中的缺陷登录单元。
由此，就可以检出在规定时间内不能访问的数据保存位置，为了不使用检出的该不良扇区块而跳过该扇区块或实施利用备用扇区进行替代的处理，就可以实现在将上述盘存储装置应用于AV数据的记录重放用途的场合，为了重放映像不发生中断或记录数据不发生丢失，要求在规定时间内将必需的数据从盘存储装置的盘存储媒体中读出或写入到盘存储媒体。
根据本发明的第2方面提供一种盘存储装置不良判定方法，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间，预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间，比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间，并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定。
由此，就可以检出在规定时间内不能访问的数据保存位置，为了不使用检出的该不良扇区块而跳过该扇区块或实施利用备用扇区进行替代的处理。
根据本发明的第3方面的程序记录媒体，是记录用来在计算机中执行盘存储装置的不良判定处理的程序的记录媒体，上述程序，通过计测规定量的数据的读出时间或写入时间和设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间而比较上述计测的访问时间和上述设定的限制时间并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行访问区域的不良判定。
由此，就可以由计算机进行处理而检出在规定时间内不能访问的数据保存位置，为了不使用检出的该不良扇区块而跳过该扇区块或实施利用备用扇区进行替代的处理。
根据本发明的第4方面提供一种盘存储装置，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；存储上述计测得到的访问时间的访问时间数据存储单元；以在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储的基准时间数据存储单元；以及比较上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述基准时间数据，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行上述盘存储装置的不良判定的不良判定单元。
由此，就可以判断盘存储装置制造后的性能劣化。
根据本发明的第5方面提供一种盘存储装置不良判定方法，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间，将该计测得到的访问时间作为访问时间数据进行存储，将在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储，以及比较上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述存储的访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述存储的基准时间数据，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行上述盘存储装置的不良判定。
由此，就可以判断盘存储装置制造后的性能劣化。
根据本发明的第6方面的程序记录媒体是记录用来在计算机中执行盘存储装置的不良判定处理的程序的记录媒体，上述程序，计测规定量的数据的读出时间或写入时间，将该计测的访问时间作为访问时间数据进行存储，以在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测的访问时间数据作为基准时间数据进行存储，以及比较存储的上述访问时间数据和存储的上述基准时间数据而进行上述盘存储装置的不良判定。
由此，就可以通过计算机处理判断盘存储装置制造后的性能劣化。
根据本发明的第7方面提供一种盘存储装置，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；存储上述计测得到的访问时间的访问时间数据存储单元；以在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储的基准时间数据存储单元；比较上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述基准时间数据，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行上述盘存储装置的不良判定的不良判定单元；以及根据上述不良判定单元的结果，在判断上述盘存储装置为不良的场合，将该盘存储装置不良这一情况通知控制上述盘存储装置的上位装置或显示数据的显示单元的不良警告单元。
由此，就可以在盘存储装置的不良判定单元中，在判断盘存储装置为不良的场合，进行将记录于盘存储装置内的盘存储媒体上的数据疏散到其他记录媒体，或是进行盘存储装置的交换等处置。
根据本发明的第8方面提供一种盘存储装置不良判定方法，其特征在于包括：对于每个预定量尺寸的访问区域，计测规定量的数据的读出时间或写入时间，将该计测得到的访问时间作为访问时间数据进行存储，将在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储，对上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述存储的访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述存储的基准时间数据进行比较，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行上述盘存储装置的不良判定，以及在该不良判定中判断为不良的场合，将该盘存储装置不良这一情况通知控制上述盘存储装置的上位装置或显示数据的显示单元。
由此，就可以进行将记录于盘存储装置内的数据疏散到其他记录媒体，或是进行盘存储装置的交换等处置。
根据本发明的第9方面的程序记录媒体是记录用来在计算机中执行盘存储装置的不良判定处理的程序的记录媒体，上述程序，计测规定量的数据的读出时间或写入时间，将该计测的访问时间作为访问时间数据进行存储，以在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测的访问时间数据作为基准时间数据进行存储，比较存储的上述访问时间数据和存储的上述基准时间数据而进行上述盘存储装置的不良判定，以及在判断上述盘存储装置为不良的场合，将该盘存储装置不良一事通知控制上述盘存储装置的上位装置或显示数据的显示单元。
由此，就可以进行将记录于盘存储装置内的数据疏散到其他记录媒体，或是进行盘存储装置的交换等处置。
附图说明
图1为示出本发明的实施方案1的盘存储装置的构成的一例的框图。
图2为示出本发明的实施方案1的盘存储装置的处理的一例的流程图。
图3为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的构成的一例的框图。
图4为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的制造时处理的一例的流程图。
图5为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的使用时处理的一例的流程图。
图6为示出本发明的实施方案2的基准时间数据及访问时间数据的数据结构的一例的示图。
图7为示出本发明的实施方案2的访问时间频数分布数据的数据结构的一例的示图。
图8为示出本发明的实施方案3的盘存储装置的构成的一例的框图。
图9为示出本发明的实施方案3的盘存储装置的处理的一例的流程图。
具体实施方式
(实施方案1)
下面利用图1及图2对本发明的实施方案1予以说明。
图1为示出本发明的实施方案1的盘存储装置的构成的一例的框图。图中，上位装置1，向盘存储装置100，输出指示对该盘存储装置100内的用作记录区域的盘存储器4上的区域进行测试的指示开始命令。
另外，本发明的实施方案1的盘存储装置100包括：访问命令发出单元2；盘存储器I/F单元3；盘存储器4；缓存单元5；主机I/F单元6；结束状态检出单元7；访问时间计测单元8；访问时间不良判定单元9；限制时间设定单元10；缺陷登录单元11以及缺陷表单12。
访问命令发出单元2，如经主机I/F单元6从上位装置1接受测试开始命令，就在向盘存储器I/F单元3指示对盘存储器4上的规定量的区域进行顺序读或写的同时，指示访问时间计测单元8开始计测访问时间。于是，如果由盘存储器I/F单元3对盘存储器4上的规定量的区域的访问结束，上述访问命令发出单元2，就指示盘存储器I/F单元3及访问时间计测单元8，对下一个规定量的区域，重复执行上述处理，每次移动规定量大小的区域，访问盘存储器4上的规定区域的全部区域。
盘存储器I/F单元3，控制和盘存储器4的数据传送，从盘存储器4将数据读出到缓存单元5，或是将存储于缓存单元5中的数据写入盘存储器4。
结束状态检出单元7，在检出从上述盘存储器I/F单元3对盘存储器4的访问的结束状态、发生错误的场合，就将发生错误的盘存储器4上的区域的位置通知缺陷登录单元11。另外，在不发生错误的场合，指示访问时间计测单元8结束访问时间计测。
访问时间计测单元8，在接收到从上述访问命令发出单元2发出的访问时间开始指示之后，就将接收到从上述结束状态检出单元7发出的时间计测结束指示为止的时间作为访问时间予以计测。
限制时间设定单元10，设定并存储由上位装置1经主机I/F单元6的规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间。此限制时间设定单元10，也可以是能够设定双列直插式开关等的值的输入装置及存储器。
访问时间不良判定单元9，通过将利用访问时间计测单元8计测的访问时间和由上述限制时间设定单元10设定的限制时间进行比较，调查访问时间是否超过限制时间，在超过的场合，就将访问过的盘存储器4上的区域的位置作为不良位置通知缺陷登录单元11。
缺陷登录单元11，根据上述结束状态检出单元7及上述访问时间不良判定单元9发出的不良区域检出的通知，将不良区域的位置登录于缺陷表单12。
下面利用图2所示的流程图对本发明的实施方案1的盘存储装置100的处理予以说明。图2为示出本发明的实施方案1的盘存储装置的处理的一系列的处理的流程图。
首先，访问命令发出单元2，在由上位装置1经主机I/F单元6取得测试开始命令的同时，还取得实施测试的盘存储器4上的指定区域的开始位置及结束位置、访问方法(只写、只读、读写)、作为访问区域大小的一次访问的区域的大小，以及对于该访问区域大小的访问限制时间(步骤S1)。
于是，将取得的访问的限制时间保持于限制时间设定单元10中，其他的变数保持于访问命令发出单元2中。另外，作为从上位装置1取得的各种变数的实施测试的盘存储器4上的指定区域的开始位置及结束位置、访问方法(只写、只读、读写)、作为访问区域大小的一次访问的区域的大小，以及对于该访问区域大小的访问限制时间，也可以固定地保持于盘存储装置100内，在此场合，也可由上位装置1发出测试开始命令。
于是，接受上述各种变数的访问命令发出单元2，从实施测试的盘存储器4上的指定区域的开始位置起顺序地以对访问区域大小每一个进行访问的方式决定该盘存储器4上的访问区域(步骤S2)。
其次，上述访问命令发出单元2，对在上述步骤S2中决定的访问区域，将利用在上述步骤S1中取得的访问方法指定的访问命令，经盘存储器I/F单元3向盘存储器4发出的同时(步骤S3)，向访问时间计测单元8发出指示访问时间的计测开始的访问时间计测开始指示，访问时间计测单元8就开始计测访问时间(步骤S4)。
于是，在结束状态检出单元7中等待来自盘存储器I/F单元3的和盘存储器4之间的数据传送结束的通知(步骤S5)。
在上述步骤S5中，结束状态检出单元7，如接收到来自盘存储器I/F单元3的数据传送结束的通知，结束状态检出单元7就根据从盘存储器I/F单元3接收到的作为上述处理结束的通知内容的处理结束状态检出盘存储器I/F单元3和盘存储器4之间发生的数据传送错误或盘存储器4内的错误的发生(步骤S6)。
于是，在上述步骤S6中，在利用结束状态检出单元7检出发生错误的场合，就由缺陷登录单元11将该错误发生的访问区域登录于缺陷表单12(步骤S9)。
另一方面，在上述步骤S6中，在利用结束状态检出单元7未检出发生错误的场合，就向访问时间计测单元8指示结束访问时间的计测而结束访问时间计测(步骤S7)。
其次，访问时间不良判定单元9，将在上述步骤7中访问时间计测单元8计测的访问时间和保持于限制时间设定单元10中的限制时间进行比较(步骤S8)。
于是，由上述步骤S8的比较结果，在访问时间超过限制时间的场合，利用缺陷登录单元11将此访问区域登录于缺陷表单12(步骤S9)。
于是，在访问命令发出单元2中，确认是否访问了盘存储器4的全部指定区域，并且，在未结束的场合，重复上述步骤S2至步骤9的处理。
如上所述，在本实施方案1中，因为盘存储装置100包括计测盘存储器4上的规定量的数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元8，可以设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元10，以及将计测的上述访问时间和由上述设定的限制时间进行比较，根据访问时间是否超过限制时间，进行访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元9，就可以检出在规定时间内不能访问的盘存储器4上的数据保存位置，为了不使用包含该数据保存位置的不良扇区或不良扇区块而跳过或实施利用备用扇区进行替代的处理，就可以实现在将上述盘存储装置应用于AV数据的记录重放用途的场合，为了重放映像不发生中断或记录数据不发生丢失，在规定时间内将必需的数据从盘存储装置100的盘存储媒体4中读出或写入到盘存储媒体4。
另外，本实施方案1的盘存储装置100的盘存储器4上的访问区域的不良判定，也可以利用软件实现。
(实施方案2)
下面利用图3至图7对本发明的实施方案2予以说明。
在本实施方案2中，在将盘存储装置应用于AV数据的记录重放用途的场合，为了重放映像不发生中断或记录数据不发生丢失，对盘存储器4上有无不良区域存在进行判断，对该不良区域不仅跳过或实施替代处理，还根据盘存储装置制造时的访问时间的各信息判断在AV数据的记录重放用途中的盘存储装置的寿命，防止与盘存储装置的性能劣化伴随的在轨(on-track)性能劣化及重试处理的增加。
图3为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的构成的框图的一例。在图中，上位装置1，向盘存储装置100a输出指示进行盘存储器4上的区域测试的测试开始命令。另外，上位装置1还向盘存储装置100a输出指示将记录于盘存储器4上的数据读出或进行写入的访问命令。
另外，本发明的实施方案2的盘存储装置100a包括：访问命令发出单元2；盘存储器I/F单元3；盘存储器4；缓存单元5；主机I/F单元6；结束状态检出单元7；访问时间计测单元8；基准时间数据存储单元13；访问时间数据存储单元14以及盘存储器不良判定单元15。
首先，在盘存储装置100a的制造中，访问命令发出单元2，如果经主机I/F单元6从上位装置1接受测试开始命令，就在向盘存储器I/F单元3指示对盘存储器4上的规定量的区域进行顺序读或写，同时，指示访问时间计测单元8开始计测访问时间。于是，如果上述访问处理结束，为了对盘存储器4上的下一个规定量的区域进行访问，一边将该区域移动规定量的大小，同时访问盘存储器4上的规定区域的全部区域而重复执行上述处理。
盘存储器I/F单元3，控制和盘存储器4的数据传送，从盘存储器4将数据读出到缓存单元5，或是将存储于缓存单元5中的数据写入盘存储器4。
结束状态检出单元7，检出从上述盘存储器I/F单元3对盘存储器4的访问的结束状态，就指示访问时间计测单元8结束访问时间计测。
访问时间计测单元8，在接收到从上述访问命令发出单元2发出的访问时间开始指示之后，就将接收到从上述结束状态检出单元7发出的时间计测结束指示为止的时间作为访问时间予以计测，更新基准时间数据存储单元13上的基准时间数据18。关于记录于此基准时间数据存储单元13中的基准时间数据18在后面予以说明。
其次，在盘存储器4使用中，如果访问命令发出单元2，由上位装置1经主机I/F单元6取得对规定量的数据区域进行访问的命令时，就向上述盘存储器I/F单元3，指示对该盘存储器4上的区域进行读或写处理，同时，指示上述访问时间计测单元8开始访问时间计测。
盘存储器I/F单元3控制和盘存储器4的数据传送，从盘存储器4将数据读出到缓存单元5，或是将存储于缓存单元5中的数据写入盘存储器4。
主机I/F单元6控制和上位装置1的命令及数据传送，将存储于缓存单元5中的数据输出到上位装置1，或是将来自上位装置1的数据存放于缓存单元5中。
结束状态检出单元7，检出从上述盘存储器I/F单元3对盘存储器4的访问的结束状态，就指示访问时间计测单元8结束访问时间计测。
访问时间计测单元8，在接收到从上述访问命令发出单元2发出的访问时间开始指示之后，就将接收到从上述结束状态检出单元7发出的时间计测结束指示为止的时间作为访问时间予以计测，更新访问时间数据存储单元14上的访问时间数据19。关于记录于此访问时间数据存储单元14中的访问时间数据19在后面予以说明。
盘存储器不良判定单元15，调查在上述访问时间计测单元8中计测的访问时间是否超过可以认为盘存储器4上的区域为不良区域的预先设定的规定时间。另外，每当发生预先设定的规定次数的数据访问时，就通过比较存储于上述访问时间数据存储单元14中的访问时间数据19和存储于上述基准时间数据存储单元13中的基准时间数据18调查盘存储器4内是否存在不良区域和盘存储器4的整体性能劣化。
此处，利用图6及图7对记录于上述基准时间数据存储单元13中的基准时间数据18及记录于上述访问时间数据存储单元14中的访问时间数据19予以说明。
上述基准时间数据18及访问时间数据19，是同一格式的数据，上述基准时间数据18，是以在盘存储装置100a制造时以对盘存储器4上的指定区域的访问时间作为基准进行计测的访问时间数据为基础生成的数据，上述访问时间数据19，是利用在盘存储器4使用时对该盘存储器4上的规定量的数据区域的访问时间进行计测的访问时间数据进行更新的数据。
此基准时间数据18及访问时间数据19，由写入访问时间数据21及读出访问时间22构成，并且，两者又分别由最大访问时间23、27，将访问时间分成为阶梯的访问时间频数分布数据24、28，基于访问时间频数分布数据算出的众数25、29以及相加平均值26、30构成。另外，访问时间频数分布数据24、28的构成，如图7所示，阶梯的幅度为5ms，将0～100ms为止的范围分割，可以对频数进行计测。此格式是考虑到作为对象的盘存储器4的访问性能而决定的。
于是，在访问时间数据19的最大访问时间及众数及相加平均值，相对基准时间数据18的各个数据，超过规定值的场合，判断盘存储器4的性能劣化。
下面利用图4及图5所示的流程图对本发明的实施方案2的盘存储装置100a的处理予以说明。
图4为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的制造时处理的一系列的处理的流程图，图5为示出本发明的实施方案2的盘存储装置的使用时的一系列的处理的流程图。
首先，在盘存储装置100a制造时，访问命令发出单元2，如经主机I/F单元6从上位装置1接受测试开始命令，访问命令发出单元2，就对盘存储器4上的全部数据区域按照地址从小到大的顺序以每次一个规定量的大小顺序地进行访问测试，决定访问区域(步骤S20)。
其次，访问命令发出单元2，对在上述步骤S20中决定的盘存储器4的访问区域，将写访问命令，经盘存储器I/F单元3向盘存储器4发出的同时(步骤S21)，向访问时间计测单元8发出指示访问时间的计测开始的访问时间计测开始指示，访问时间计测单元8就开始计测访问时间(步骤S22)。
于是，在结束状态检出单元7中等待来自盘存储器I/F单元3的和盘存储器4之间的数据传送结束的通知(步骤S23)。
在上述步骤S22中，结束状态检出单元7，如接收到来自盘存储器I/F单元3的数据传送结束的通知，结束状态检出单元7就向访问时间计测单元8指示结束访问时间的计测，而访问时间计测单元8就结束访问时间计测(步骤S24)。
其次，访问时间计测单元8，根据计测的访问时间，更新基准时间数据存储单元13上的基准时间数据18(步骤S25)。
于是，在访问命令发出单元2中，确认是否访问了盘存储器4的全部指定区域，并且，在未结束的场合，重复上述步骤S20至步骤25的处理。
关于写访问，在对盘存储器4的全部区域结束上述步骤S20至步骤S25止的一系列处理之后，关于读访问实施同样的处理，访问命令发出单元2，如经主机I/F单元6从上位装置1接受测试开始命令，就对盘存储器4上的全部数据区域按照地址从小到大的顺序以每次一个规定量的大小顺序地进行访问测试，决定访问区域(步骤S27)。
于是，对在上述步骤S27中决定的区域，将读访问命令，经盘存储器I/F单元3向盘存储器4发出的同时(步骤S28)，向访问时间计测单元8发出访问时间计测开始指示，访问时间计测单元8就开始计测上述访问时间(步骤S29)。
于是，在结束状态检出单元7中等待来自盘存储器I/F单元3的和盘存储器4之间的数据传送结束的通知(步骤S30)。
在上述步骤S29中，结束状态检出单元7，如接收到来自盘存储器I/F单元3的数据传送结束的通知，结束状态检出单元7就向访问时间计测单元8指示结束访问时间的计测，而访问时间计测单元8就结束访问时间计测(步骤S31)。
其次，访问时间计测单元8，根据计测的访问时间，更新基准时间数据存储单元13上的基准时间数据18(步骤S32)。
于是，在访问命令发出单元2中，确认是否访问了盘存储器4的全部指定区域(步骤S33)，并且，在未结束的场合，重复上述步骤S27至步骤32的处理。
在对盘存储器4上的全部区域的访问结束之后，将在上述基准时间数据存储单元13上生成的关于盘存储装置制造时的盘存储装置100a的访问时间的基准时间数据18经盘存储器I/F单元3保存于盘存储器4上的系统区域中(步骤S34)。
保存于盘存储器4上的系统区域中的基准时间数据18，在盘存储装置100a的电源接通时，读出到RAM上的基准时间数据存储单元13中。
下面利用图5对使用盘存储器4时对盘存储装置100a的处理予以说明。
首先，在盘存储器使用时，访问命令发出单元2，如果经主机I/F单元6从上位装置1接受访问命令，就判断该访问命令是否是对规定量的数据区域进行访问的命令(步骤S40)。
于是，在上述步骤40中，在上述访问命令与对规定量的数据区域的访问命令不同的场合，将对该盘存储器4上的区域访问的命令经盘存储器I/F单元3发送到盘存储器4(步骤S41)而结束处理。
另一方面，在上述步骤40中，在上述访问命令是对规定量的数据区域的访问命令的场合，访问命令发出单元2，在将对该盘存储器4上的区域访问的命令经盘存储器I/F单元3发送到盘存储器4的同时(步骤S42)，向访问时间计测单元8发出8发出指示访问时间的计测开始的访问时间计测开始指示，访问时间计测单元8就开始计测访问时间(步骤S43)。
于是，在结束状态检出单元7中等待来自盘存储器I/F单元3的和盘存储器4之间的数据传送结束的通知(步骤S44)。
在上述步骤S44中，结束状态检出单元7，如果接收到来自盘存储器I/F单元3的数据传送结束的通知，结束状态检出单元7就向访问时间计测单元8指示结束访问时间的计测，而访问时间计测单元8就结束访问时间计测(步骤S45)。
其次，访问时间计测单元8，根据计测的访问时间，更新访问时间数据存储单元14上的访问时间数据访问时间数据19(步骤S46)。
于是，在盘存储器不良判定单元15中，调查在上述步骤45中计测的访问时间是否超过可以认为盘存储器4上的区域为不良区域的预先设定的规定时间，在超过的场合，就更新访问时间数据存储单元14上的不良区域检出数20(步骤S47)。
此外，在盘存储器不良判定单元15中，计测访问时间数据的取得数，调查该访问时间数据取得数是否达到预先设定的规定次数(步骤S48)。
于是，在该访问时间数据取得数达到上述规定次数的场合，就通过比较存储于上述访问时间数据存储单元14中的访问时间数据19和存储于上述基准时间数据存储单元13中的基准时间数据18调查盘存储器4内是否存在不良区域和盘存储器4的整体性能劣化(步骤S49)而结束处理。
另外，存储于访问时间数据存储单元14中的访问时间数据19及不良区域检出数20，在不妨碍盘存储装置100a的数据传送处理的定时，保存于盘存储器4上的系统区域，保持于此盘存储器4上的系统区域中的访问时间数据19及不良区域检出数20，在盘存储装置100a的电源接通时，读出到RAM上的基准时间数据存储单元13。
如上所述，在本实施方案2中，因为盘存储装置100a的构成包括计测规定量的数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元8，将上述计测的访问时间作为访问时间数据19进行存储的访问时间数据存储单元14，将对上述盘存储装置制造时全部区域进行计测的访问时间作为基准时间数据18进行存储的基准时间数据存储单元13，比较上述访问时间数据19和基准时间数据18判定盘存储器4内是否存在不良区域及其整体性能劣化的不良判定单元15，就可以实现在将盘存储装置100a应用于AV数据的记录重放用途的场合，为了重放映像不发生中断或记录数据不发生丢失，在规定时间内将必需的数据从盘存储装置100a的盘存储媒体4中读出或写入到盘存储媒体4，并且，可以判断盘存储装置制造后的盘存储器4的性能劣化，其结果，可以防止伴随盘存储器4的性能劣化的在轨性能劣化及发生的重试处理的增加。
另外，本实施方案2的盘存储装置100a的盘存储器4上的访问区域的不良判定也可以利用软件实现。
(实施方案3)
下面利用图8至图9对本发明记载的实施方案3予以说明。
在本实施方案3中，不仅判断盘存储装置制造后的盘存储器的性能劣化，在判断为不良的场合，还对上位装置或用户发出警告。
图8为示出本发明的实施方案3的盘存储装置的构成的框图的一例。在图中，上位装置1，向盘存储装置100b输出指示进行盘存储器4上的区域测试的测试开始命令。另外，上位装置1还向盘存储装置100b输出指示将记录于盘存储器4上的数据读出或进行写入的访问命令。
另外，本发明的实施方案3的盘存储装置100b的构成包括：访问命令发出单元2；盘存储器I/F单元3；盘存储器4；缓存单元5；主机I/F单元6；结束状态检出单元7；访问时间计测单元8；基准时间数据存储单元13；访问时间数据存储单元14；盘存储器不良判定单元15；盘存储器不良警告单元16以及显示单元17。
另外，本发明的实施方案3的盘存储装置100b，在上述实施方案2中说明的盘存储装置100a上还设置有盘存储器不良警告单元16及显示单元17，除盘存储器不良警告单元16和显示单元17以外的与盘存储装置100a相同的构成要素，因为与上述实施方案2的盘存储装置100a的动作相同，使用相同的符号，其说明省略。
盘存储器不良警告单元16，在盘存储器不良判定单元15中检出在盘存储器4内存在不良区域及盘存储器4的整体性能劣化而判定盘存储器4不良的场合，将该情况通知显示单元17。另外，经主机I/F单元6通知上位装置1。
显示单元17，根据关于盘存储器4不良的通知，将其内容显示于LED(发光二极管)及显示器上。另外，不仅是上述LED及显示器等的视觉显示单元17，也包含使用蜂鸣器声音及音声等音源的显示单元。
下面利用图9所示的流程图对本发明的实施方案3的盘存储装置100b的处理予以说明。
盘存储器不良警告单元16，在盘存储器不良判定单元15中检出在盘存储器4内存在不良区域及盘存储器4的整体性能劣化而判定盘存储器4不良的场合(步骤S50)，经显示单元17，显示其主旨为盘存储器4不良的显示内容(步骤S51)。
于是，经主机I/F单元6将要旨为盘存储器4不良的不良内容通知上位装置1(步骤S52)。
如上所述，在本实施方案3中，因为盘存储装置100b的构成包括：计测规定量的数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元8；将上述计测的访问时间作为访问时间数据19进行存储的访问时间数据存储单元14；将对上述盘存储装置制造时全部区域进行计测的访问时间作为基准时间数据18进行存储的基准时间数据存储单元13，比较上述访问时间数据19和基准时间数据18判定盘存储器4内是否存在不良区域及其整体性能劣化的，进行盘存储器100b的不良判定的不良判定单元15；以及在由上述盘存储器不良判定单元15的判定结果判断盘存储装置100b不良的场合将盘存储装置100b不良一点通知上位装置1或显示单元17的盘存储器不良警告单元16，就可以通过检出盘存储器制造后的性能劣化并将其通知上位装置1或用户而采取将记录于盘存储装置100b内的数据疏散到其他记录媒体，或是进行盘存储装置100b的交换等措施。
本发明的盘存储装置、盘存储装置不良判定方法及可以将其在计算机中进行处理的程序记录媒体，对于在AV数据记录、重放中使用盘存储装置重放映像不发生中断或进行录像不发生数据丢失的录像而言，极为有用。
Claims (6)
1.一种盘存储装置，其特征在于包括：
从盘存储器的指定区域的全部区域的开始位置起，对于每个预定量尺寸的访问区域，以顺序访问方式进行访问测试，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；
可以预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元；
比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间，并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元；以及
将在上述访问时间不良判定单元中判定为不良的访问区域的位置作为不良区域位置，登录于缺陷表单中的缺陷登录单元。
2.一种盘存储装置不良判定方法，其特征在于：
从盘存储器的指定区域的全部区域的开始位置起，对于每个预定量尺寸的访问区域，以顺序访问方式进行访问测试，计测数据的读出时间或写入时间，
预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间，
比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间，并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定。
3.一种盘存储装置，其特征在于包括：
从盘存储器的指定区域的全部区域的开始位置起，对于每个预定量尺寸的访问区域，以顺序访问方式进行访问测试，计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元；
存储上述计测得到的访问时间的访问时间数据存储单元；
以在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储的基准时间数据存储单元；以及
比较上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述基准时间数据，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行该盘存储装置的不良判定的不良判定单元。
4.如权利要求3所述的盘存储装置，其特征在于还包括：
根据上述不良判定单元的结果，在判断上述盘存储装置为不良的场合，将该盘存储装置不良这一情况通知控制上述盘存储装置的上位装置或显示数据的显示单元的不良警告单元。
5.一种盘存储装置不良判定方法，其特征在于：
从盘存储器的指定区域的全部区域的开始位置起，对于每个预定量尺寸的访问区域，以顺序访问方式进行访问测试，计测数据的读出时间或写入时间，将该计测得到的访问时间作为访问时间数据进行存储，
将在该盘存储装置制造时对全部访问区域计测得到的各访问时间数据作为基准时间数据进行存储，
比较上述盘存储装置使用时对每个访问区域计测得到的上述存储的访问时间数据和上述盘存储装置制造时对每个访问区域计测得到的上述存储的基准时间数据，并根据上述访问时间数据是否超过上述基准时间数据进行上述盘存储装置的不良判定。
6.如权利要求5所述的盘存储装置不良判定方法，其特征在于：
在该不良判定中判断为不良的场合，将该盘存储装置不良这一情况通知控制上述盘存储装置的上位装置或显示数据的显示单元。
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