JP2909741B2 - 磁気ディスク評価装置 - Google Patents

磁気ディスク評価装置

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JP2909741B2 JP63229470A JP22947088A JP2909741B2 JP 2909741 B2 JP2909741 B2 JP 2909741B2 JP 63229470 A JP63229470 A JP 63229470A JP 22947088 A JP22947088 A JP 22947088A JP 2909741 B2 JP2909741 B2 JP 2909741B2
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活弘 下川
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、磁気ディスク評価装置に関し、詳しく
は、複数回のリトライ読出しによりえられたエラーデー
タより、媒体欠陥を判定処理する手段をハード回路によ
り構成したものである。
[従来の技術] 情報記録に使用される磁気ディスクは、製造過程にお
いて磁気媒体になんらかの欠陥が生じて、記録情報のエ
ラーの原因となる。このような磁気媒体に対して、磁気
ディスク評価装置により媒体検査(サーティファイ)を
行い、テスト符号に生じたエラーを検出することにより
欠陥が検査されている。
第2図(a),(b)は、媒体検査においてテスト符
号に生ずるエラーとその検査方法を説明するもので、図
(a)において、磁気ディスク1に設定された多数のト
ラックTRは、円周方向に複数のセクタS1〜SSに等分割
され、各トラックのセクタに対して、図(b)の(イ)
に示すテスト符号が書込まれる。これを読出したとき
は、(ロ)に示すように、標準レベルL0より大きいパル
スPe、または小さいパルスNeが混在して現れる。これら
を一定の閾値LPに比較して大きいパルス群を正(Pe)
エラー、閾値LNに比較して小さいパルス群を負(Ne)
エラーとする。図中のMはパルスが欠落したミッシング
エラーである。また、(ハ)は、記録がイレーズ(消
去)されたディスクに対する読出しにより検出された、
湧出しエラー(エキストラエラー)Eを示す。これらの
各種の符号エラーには、媒体自体の固有欠陥(媒体欠
陥)によるものの他、付着した塵埃などの媒体以外によ
るものが含まれている。検出されたエラーデータにより
媒体を評価し、ディスクの製造工程にフィードバックす
るには、媒体以外の欠陥によるものを除外して媒体欠陥
のみのデータとすることが必要である。そこで、読出し
を複数回リトライし、出現回数が少ないものは、エラー
の原因となる塵埃などがリトライにより移動、発散した
ために再検出されないか、または途中からトラックに侵
入して検出されたものとしてデータから除外し、ある程
度以上の回数検出さあれたものを媒体欠陥とする方法が
行われている。
以上の媒体欠陥の検査方法として最も原理的な方法
は、ディスクを回転して読出したテスト符号にエラーが
検出されたとき、そのエラーのセクタ番号をレジスタな
どの小メモリに記憶しておき、次の回転により当該セク
タの位置でエラーの有無を調べ、回転を必要回数繰り返
し、各回転におけるエラー数を合計する方法であるが、
エラーが多数の場合には、極めて効率が低いことは明ら
かである。そこで、各回転において検出された各セクタ
のエラーをすべてメモリに記憶して、マイクロプロセッ
サの処理により媒体欠陥を判定する方法が行われてい
る。
第3図は、メモリを使用して複数回のリトライによる
エラーデータを記録し、マイクロプロセッサの処理によ
り媒体欠陥の判定方法を説明するもので、複数N回の読
出しによりえられたエラーはエラー種別識別回路により
種別が識別され、マイクロプロセッサの処理によりエラ
ーメモリ2に記載される。エラーメモリ2は、各読出し
回数に対応してN個のメモリエリア2-1,2-2,…2−N
を設け、各メモリエリアには、リトライされた読出しご
とに、検出されたエラーに対するセクタ番号(SNo)
と、種別を表すコード(Kcod)を記憶する。この場合、
同一セクタに存在する同一種別のエラーは、個数に拘ら
ず1個として記憶する。各メモリ空間に記憶されたエラ
ーは、各種別および各セクタごとの合計数nと、数nの
リトライ回数Nに対する比n/Nを求める。n/Nが一定の基
準値n0/Nより大きいときは媒体欠陥によるものとする。
また、n/Nがn0/Nに満たないとき、媒体以外の欠陥によ
るものとして除外する。例えば、リトライ回数Nを5、
基準値を2/5(n0=2)とするとき、エラーが2回以上
検出された場合は媒体欠陥であり、1回のみの場合は、
媒体以外とする。各トラックに対して以上の処理がなさ
れ、媒体欠陥のデータは、マイクロプロセッサの処理に
よりセクタ番号順に、欠陥種別のコードを付与して表示
され、またはプリント出力される。
[解決しようとする課題] 上記した、検出されたエラーデータのメモリ空間に対
する記録とそれらの合計の計算、および媒体欠陥の判定
処理はすべてマイクロプロセッサのプログラムにより行
われている。しかし、最近における大型磁気ディスクに
おいては、記録密度、容量が膨大であり、比例して欠陥
の数も増加し、N個のメモリエリアに対するエラーデー
タの記録と、各メモリエリアにおける同一セクタのエラ
ーデータをプロセッサに取り込んで比較照合する処理に
はかなりの長い時間を要する。一方、この場合における
メモリに対する記録ないし計算処理は、極めて単純なも
のであるので、ハード回路により処理する方が迅速で得
策と考えられる。
この発明は、以上に鑑みてなされたもので、マイクロ
プロセッサのプログラムによらず、ハード回路により、
検出されたエラーをメモリ空間に記録し、そのエラーデ
ータが媒体固有の欠陥によるものか、塵埃などの媒体以
外によるものかを、上記の基準値に比較して迅速に判定
し、これを集約して欠陥メモリに記録する磁気ディスク
評価装置を提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] このような目的を達成するこの発明の磁気ディスク評
価装置の特徴は、磁気ディスクのトラックの各セクタに
書込まれたテスト符号に対して、読出しを複数N回行い
磁気媒体の評価を行う磁気ディスク評価装置において、
読出し回数およびセクタの番号とがアドレスに対応して
いて、検出されるエラーの種別ごとのメモリエリアを有
するメモリと、複数N回のそれぞれの読出しにおいてテ
スト符号に発生し、エラー種別識別回路により種別が識
別されたエラーを、種別に対するメモリエリアの、エラ
ーのセクタ番号および読出し回数に対応するアドレスに
1ビットのエラービットとして書込むエラー書込み回路
と、メモリ空間のエラーデータに対して、種別およびセ
クタごとに、複数N回の読出しに対するエラー検出回数
を合計し、合計された数nの複数Nに対する比n/Nが基
準値n0/N以上のとき、エラーを媒体の固有の欠陥による
ものと判定する判定回路、およびこの判定回路により判
定された固有の欠陥に対するセクタ番号および欠陥種別
を、欠陥メモリに書込む制御回路とを備えるものであ
る。
[作用] 以上の構成による、この発明の磁気ディスク評価装置
においては、読出しにおいて検出されたテスト符号のエ
ラーは、種別ごとのメモリ空間の相当するセクタ番号と
回数をメモリのアドレスに対応させ、これらの情報をア
ドレスで管理してエラー種別に応じて対応するアドレス
に1ビットで記憶するようにする。このようにすること
で、ハード回路として処理できるようなデータにする。
そこで、複数回のリトライが終了すると、媒体欠陥判定
回路において、複数N回に対するエラー検出回数が各セ
クタごとに合計され、合計数nと、複数Nに対する比n/
Nが計算され、この値を一定の基準値n0/Nに比較し、そ
れ以上のとき媒体欠陥によるものと判定する。この判定
結果により、書込み制御回路により、媒体欠陥の存在す
るセクタ番号と、エラー(欠陥)種別が欠陥メモリにセ
クタ順に記録され、プリント出力される。以上におけ
る、エラーメモリに対する記録処理、エラー検出回数の
計算、および欠陥メモリに対する記録などは、すべてハ
ード構成による各回路により迅速に行われる。なお、基
準値のn0/Nは実情に合わせて設定するものである。
ここで、前記の構成における複数N回の読出し回数
と、種別に対するメモリエリアの、エラーのセクタ番号
および読出し回数に対応するアドレスに記憶された1ビ
ットのエラービットの合計数nとの処理関係について考
えてみると、ソフトウエア処理をしているものを単にハ
ード回路で置換える場合、そのまま、セクタのデータと
種別対応のエラーデータとをメモリに記憶することにな
るが、このようなものを媒体結果判定回路で処理しよう
とすると、セクタの判定回路とデータの判定回路と、さ
らにこれら判定回路の結果に応じて処理する回路とが必
要になり、その上に読出回数の関係まで考慮した処理回
路となって、これらを、実際にハード回路化するとなる
と、その回路は複雑になり、なかなか難しい。しかし、
前記のように、読出し回路およびセクタの番号とをメモ
リのアドレスに対応させて、エラーの種別ごとにエラー
をメモリに記憶するようにすれば、メモリからの読出ア
ドレスとエラーデータという2つの要素で判定処理を行
うことができるので、カウンタと演算回路などの簡単な
回路をもってハード回路化することができる。
[実施例] 第1図(a),(b)および(c)は、この発明によ
る磁気ディスク評価装置の実施例におけるブロック構成
と、判定処理の説明図である。図(a)において、磁気
ヘッド3により磁気ディスク1のトラックに対してテス
ト符号が、セクタごとに書込まれる。読出されたテスト
符号の信号はアンプ4により適当なレベルに調整され
て、エラー種別識別回路5に入力してエラー種別が識別
され、種別ごとにセクタ単位で、エラー数に拘らず1ビ
ットのエラービットで代表して表示される。このような
識別とビット処理は、従来行われている方法である。一
方、逐次読出されるテスト符号の間に設けられたセクタ
マークがセクタカウンタ5aによりカウントされてセクタ
番号がえられる。
以上によりえられたエラービットに対するセクタ番号
とエラー種別のコードがエラー書込み回路6によりエラ
ーメモリ7に書込まれる。エラーメモリ7は、第2図
(b)で説明した正(Pe)エラーに対する第1メモリエ
リア7−1と、負(Ne)エラーに対する第2メモリエリ
ア7−2、およびミッシングエラーMとエキストラエラ
ーEに共通の第3メモリエリア7−3よりなる。また、
各メモリエリアは図(b)に示すように、アドレスの横
方向をセクタ番号(SNo)に、縦方向を読出し回数
(N)に対応させたもので、エラービットが検出された
セクタの番号のアドレスに1ビットが記録される。逐次
行われる読出しの回数は、エラー書込み回路によりカウ
ントされており、その回数に対応するアドレスが指定さ
れて上記の書込みが行われる。次に、各メモリエリアの
エラーデータは、媒体欠陥判定回路8に転送されて、各
セクタ番号ごとのN回の読出しに対するエラー検出回数
の合計nと、複数Nに対する比n/Nが計算され、これが
予め設定された基準値n0/Nに比較され、前記した方法に
より、n/Nがn0/N以上のときは、エラーは媒体欠陥によ
るものと判定される。ここで、基準値のn0/Nは任意に変
更が可能で、実情に合わせて設定される。ついで、媒体
欠陥に対するセクタ番号と欠陥種別コードが、欠陥書込
み制御回路9により欠陥メモリ10に記録される。欠陥メ
モリ10は、図(c)のように、セクタ番号(SNo)と、
欠陥種別(Pe,Ne,M/E)をフラグで示すものである。こ
こで、欠陥メモリに記録するセクタ番号は、媒体欠陥判
定回路8の処理の回数をアドレスカウンタ8aによりカウ
ントしてえられる。なお、エキストラエラーEに対して
は、上記の読出しと同時に検出できないので、テスト符
号をイレーズした後に、上記と同様の読出しを行う。以
上のような読出しと判定処理を各トラックに対して順次
行い、ディスク全体の媒体評価がなされるものである。
[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明による磁
気ディスク評価装置においては、複数回読出しされたテ
スト符号のエラーに対して、ハード構成の各回路によ
り、エラーメモリに対する記録、記録されたエラーデー
タの判定処理および判定結果の欠陥メモリに対する記録
などが行われるもので、従来のプログラムによる処理方
法に比較して非常に迅速であり、高密度、大容量の磁気
ディスクに対する評価試験を短時間に完了できる効果に
は大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a),(b)および(c)は、この発明による
磁気ディスク評価装置の実施例におけるブロック構成と
エラーメモリおよび欠陥メモリの説明図、第2図(a)
および(b)は、磁気ディスクに発生するテスト符号の
エラーとその検査方法の説明図、第3図は第2図
(a),(b)に対する従来の媒体欠陥の判定方法の説
明図である。 1…磁気ディスク、2…エラーメモリ、3…磁気ヘッ
ド、4…書込み/読出しアンプ、5…エラー種別識別回
路、5a…セクタカウンタ、6…エラー書込み回路、7…
エラーメモリ、7−1…第1メモリエリア、7−2…第
2メモリエリア、7−3…第3メモリエリア、8…媒体
欠陥判定回路、8a…アドレスカウンタ、9…欠陥書込み
制御回路、10…欠陥メモリ。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−148402(JP,A) 特開 昭59−207020(JP,A) 特開 昭58−162877(JP,A) 特開 昭58−1258(JP,A) 特開 昭51−1110(JP,A) 実開 昭58−46160(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 20/18

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】磁気ディスクのトラックの各セクタに書込
    まれたテスト符号に対して、読出した複数N回行い磁気
    媒体の評価を行う磁気ディスク評価装置において、読出
    し回数および前記セクタの番号とがアドレスに対応して
    いて、検出されるエラーの種別ごとのメモリエリアを有
    するメモリと、前記複数N回のそれぞれの読出しにおい
    てテスト符号に発生し、エラー種別識別回路により種別
    が識別されたエラーを、該種別に対する前記メモリエリ
    アの、該エラーのセクタ番号および読出し回数に対応す
    るアドレスに1ビットのエラービットとして書込むエラ
    ー書込み回路と、該メモリ空間のエラーデータに対し
    て、上記種別およびセクタごとに、上記複数N回の読出
    しに対する上記エラー検出回数を合計し、該合計された
    数nの上記複数Nに対する比n/Nが基準値n0/N以上のと
    き、該エラーを媒体の固有の欠陥によるものと判定する
    判定回路、およびこの判定回路により判定された前記固
    有の欠陥に対するセクタ番号および欠陥種別を、欠陥メ
    モリに書込む制御回路とを備えたことを特徴とする、磁
    気ディスク評価装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5846160U (ja) * 1981-09-25 1983-03-28 日本電気株式会社 磁気デイスク検査装置
JPS63148402A (ja) * 1986-12-11 1988-06-21 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気記録媒体のドロツプアウト検査方法

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