JPH04362578A - ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法 - Google Patents
ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法Info
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- JPH04362578A JPH04362578A JP16350591A JP16350591A JPH04362578A JP H04362578 A JPH04362578 A JP H04362578A JP 16350591 A JP16350591 A JP 16350591A JP 16350591 A JP16350591 A JP 16350591A JP H04362578 A JPH04362578 A JP H04362578A
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 12
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- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ヘッド・ディスク・
アッセンブリの評価試験におけるエラーチェック方法に
関する。
アッセンブリの評価試験におけるエラーチェック方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】情報処理システムに使用されるハード磁
気ディスク（以下単にディスクという）は、製造過程で
各種の検査がなされる。まず、単板の段階で媒体の欠陥
や記録性能などが検査されて良品が選択され、つぎに良
品のディスクが複数枚積層されてディスクパッケージが
形成され、これに各ディスクに対応したヘッドを組み込
んでヘッド・ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ）が構成
される。ＨＤＡのディスクの各トラックに対してサーボ
ライターによりサーボ信号が書込み／読出し（ライト／
リード）されてエラーがチェックされる。ついで、イニ
シャライザーにより、フォーマット（以下ＦＯＲＭで表
す）がライト／リードされ、そのエラーのチェックによ
り検出された欠陥部分を除外して有効部分にＦＯＲＭが
イニシャライズされる。ＨＤＡの評価試験は、このＦＯ
Ｒにチェックデータ（以下ＣＫＤで表す）をライト／リ
ードし、エラーチェックを行ってその機能と性能を評価
するものである。
気ディスク（以下単にディスクという）は、製造過程で
各種の検査がなされる。まず、単板の段階で媒体の欠陥
や記録性能などが検査されて良品が選択され、つぎに良
品のディスクが複数枚積層されてディスクパッケージが
形成され、これに各ディスクに対応したヘッドを組み込
んでヘッド・ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ）が構成
される。ＨＤＡのディスクの各トラックに対してサーボ
ライターによりサーボ信号が書込み／読出し（ライト／
リード）されてエラーがチェックされる。ついで、イニ
シャライザーにより、フォーマット（以下ＦＯＲＭで表
す）がライト／リードされ、そのエラーのチェックによ
り検出された欠陥部分を除外して有効部分にＦＯＲＭが
イニシャライズされる。ＨＤＡの評価試験は、このＦＯ
Ｒにチェックデータ（以下ＣＫＤで表す）をライト／リ
ードし、エラーチェックを行ってその機能と性能を評価
するものである。
【０００３】図２はＨＤＡ１に対する評価試験システム
の概略の構成を示す。ＨＤＡ１を構成する各ディスク１
１はスピンドルモータ１２により回転する。２は評価試
験装置で、コンピュータ（ＣＰＵ）２１の指示を受けて
ライト回路２２よりＣＫＤが出力され、ライトアンプ２
３を経て磁気ヘッド１３により、各トラック（ＴＲ）に
設定されているＦＯＲＭに対してＣＫＤがライトされる
。ついでこれがリードされてリードアンプ２４を経てリ
ード回路２５よりリードデータが出力され、チェック部
２６においてＣＫＤのエラーがチェックされ、えられた
エラーデータはＣＰＵに取り込まれてＨＤＡが評価され
る。
の概略の構成を示す。ＨＤＡ１を構成する各ディスク１
１はスピンドルモータ１２により回転する。２は評価試
験装置で、コンピュータ（ＣＰＵ）２１の指示を受けて
ライト回路２２よりＣＫＤが出力され、ライトアンプ２
３を経て磁気ヘッド１３により、各トラック（ＴＲ）に
設定されているＦＯＲＭに対してＣＫＤがライトされる
。ついでこれがリードされてリードアンプ２４を経てリ
ード回路２５よりリードデータが出力され、チェック部
２６においてＣＫＤのエラーがチェックされ、えられた
エラーデータはＣＰＵに取り込まれてＨＤＡが評価され
る。
【０００４】図３によりＦＯＲＭの構成と従来のエラー
チェックの手順を説明する。（ａ） において、ＦＯＲ
Ｍはホームアドレス部（ＨＡ）と制御符号部（Ｒ０ Ｃ
，Ｒ１ Ｃ………、以下一括してＲＣで表す）およびデ
ータ部（Ｒ０ Ｄ，Ｒ１ Ｄ………、以下一括してＲＤ
で表す）よりなる。ディスクの回転基準を示すインデッ
クス信号（ＩＮＤＸ）の間のトラックの１周に対して、
ＦＯＲＭの各部にＣＫＤがライトされる。ただし、ＨＡ
には前記したＦＯＲＭのイニシャライズにおいて、欠陥
部分とされたエラーアドレスが欠陥情報として記録され
ている。 （ｂ） はＣＫＤのリード・チェックの手順を示し、デ
ィスクの第１回目の回転（第１回転）において、ＣＰＵ
からＨＡに対するリードが指示され、つづく第２回転に
よりＨＡのＣＫＤがリードされてエラーがチェックされ
る。 つづく第３回転において、ＨＡに記録されている欠陥情
報を参照して、ＦＯＲＭの各部に対するリードが指示さ
れ、つづく第４回転により各部のＣＫＤがリードされて
エラーがチェックされる。各トラックに対して上記のエ
ラーチェックを行い、えられたエラーデータによりＨＤ
Ａが評価される。
チェックの手順を説明する。（ａ） において、ＦＯＲ
Ｍはホームアドレス部（ＨＡ）と制御符号部（Ｒ０ Ｃ
，Ｒ１ Ｃ………、以下一括してＲＣで表す）およびデ
ータ部（Ｒ０ Ｄ，Ｒ１ Ｄ………、以下一括してＲＤ
で表す）よりなる。ディスクの回転基準を示すインデッ
クス信号（ＩＮＤＸ）の間のトラックの１周に対して、
ＦＯＲＭの各部にＣＫＤがライトされる。ただし、ＨＡ
には前記したＦＯＲＭのイニシャライズにおいて、欠陥
部分とされたエラーアドレスが欠陥情報として記録され
ている。 （ｂ） はＣＫＤのリード・チェックの手順を示し、デ
ィスクの第１回目の回転（第１回転）において、ＣＰＵ
からＨＡに対するリードが指示され、つづく第２回転に
よりＨＡのＣＫＤがリードされてエラーがチェックされ
る。 つづく第３回転において、ＨＡに記録されている欠陥情
報を参照して、ＦＯＲＭの各部に対するリードが指示さ
れ、つづく第４回転により各部のＣＫＤがリードされて
エラーがチェックされる。各トラックに対して上記のエ
ラーチェックを行い、えられたエラーデータによりＨＤ
Ａが評価される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】さて、ＨＤＡの各ディ
スクのトラック数は非常に多数で、各トラックに対して
上記のＣＫＤのライト／リードとエラーチェックを行う
には、かなりな長時間を必要とする。一方、ＦＯＲＭの
ＲＣとＲＤにエラーが発生する確率は、高々３％程度で
あるので、上記のエラーチェック手順を適切に改善すれ
ば試験時間を短縮することが可能と考えられる。この発
明は、以上に鑑みてなされたもので、試験時間を短縮で
きるＨＤＡのエラーチェック方法を提供することを目的
とするものである。
スクのトラック数は非常に多数で、各トラックに対して
上記のＣＫＤのライト／リードとエラーチェックを行う
には、かなりな長時間を必要とする。一方、ＦＯＲＭの
ＲＣとＲＤにエラーが発生する確率は、高々３％程度で
あるので、上記のエラーチェック手順を適切に改善すれ
ば試験時間を短縮することが可能と考えられる。この発
明は、以上に鑑みてなされたもので、試験時間を短縮で
きるＨＤＡのエラーチェック方法を提供することを目的
とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明はＨＤＡの評価
試験におけるエラーチェック方法であって、磁気ディス
クの第１回目の回転（第１回転）においてＦＯＲＭを構
成するＨＡ、ＲＣおよびＲＤの各部のＣＫＤをリードし
てエラーをチェックし、エラーが検出されないときは次
位のトラックに対するエラーチェックに移行する。エラ
ーが検出されたときは、第１回転につづく第２回転によ
りＨＡのリードを指示し、つづく第３回転によりＨＡを
リードし、エラーチェックとＨＡに記録されている欠陥
情報の解読を行う。つづく第４回転において、解読され
た欠陥情報を参照してＦＯＲＭの各部のリードを指示し
、つづく第５回転により、ＦＯＲＭの各部のＣＫＤをリ
ードしてエラーチェックを行うものである。
試験におけるエラーチェック方法であって、磁気ディス
クの第１回目の回転（第１回転）においてＦＯＲＭを構
成するＨＡ、ＲＣおよびＲＤの各部のＣＫＤをリードし
てエラーをチェックし、エラーが検出されないときは次
位のトラックに対するエラーチェックに移行する。エラ
ーが検出されたときは、第１回転につづく第２回転によ
りＨＡのリードを指示し、つづく第３回転によりＨＡを
リードし、エラーチェックとＨＡに記録されている欠陥
情報の解読を行う。つづく第４回転において、解読され
た欠陥情報を参照してＦＯＲＭの各部のリードを指示し
、つづく第５回転により、ＦＯＲＭの各部のＣＫＤをリ
ードしてエラーチェックを行うものである。
【０００７】
【作用】以上のエラーチェック方法においては、まずデ
ィスクの第１回転によりＦＯＲＭを構成する各部のＣＫ
Ｄがリードされてチェックされる。通常においては前記
したように、ＲＣとＲＤにエラーが発生する確率は、高
々３％程度であるので、エラーが検出されないトラック
が殆どであり、これらのトラックに対するエラーチェッ
クはディスクの１回転で終了し、次の検査順位のトラッ
クに移行する。もしエラーが検出されたときは、つづく
第２回転でＨＡのリードを指示し、第３回転でＨＡのリ
ードとエラーチェックを行うとともに、ＨＡに記録され
ている欠陥情報を解読する。つづく第４回転により欠陥
情報を参照してＦＯＲＭの各部のリードを指示し、第５
回転により各部のＣＫＤをリードしてエラーがチェック
される。上記のチェック方法によれば、殆どのトラック
はディスクの１回転でエラーチェックが終了するので、
試験時間が大幅に低減される。
ィスクの第１回転によりＦＯＲＭを構成する各部のＣＫ
Ｄがリードされてチェックされる。通常においては前記
したように、ＲＣとＲＤにエラーが発生する確率は、高
々３％程度であるので、エラーが検出されないトラック
が殆どであり、これらのトラックに対するエラーチェッ
クはディスクの１回転で終了し、次の検査順位のトラッ
クに移行する。もしエラーが検出されたときは、つづく
第２回転でＨＡのリードを指示し、第３回転でＨＡのリ
ードとエラーチェックを行うとともに、ＨＡに記録され
ている欠陥情報を解読する。つづく第４回転により欠陥
情報を参照してＦＯＲＭの各部のリードを指示し、第５
回転により各部のＣＫＤをリードしてエラーがチェック
される。上記のチェック方法によれば、殆どのトラック
はディスクの１回転でエラーチェックが終了するので、
試験時間が大幅に低減される。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例における、エラー
チェック手順のフローチャートを示す。図１のステップ
（１） においてトラック番号をｎとし、ｎ＝０を設定
する。（２）においてヘッドがｎ（＝０）をシークし、
（３）でこのトラックのＦＯＲＭのＨＡ、ＲＣおよびＲ
Ｄに対してＣＫＤをライトする。ついで（４） におい
てはディスクの第１回転で各ＣＫＤがリードされてエラ
ーがチェックされる。（５） によりエラーの有無が判
定され、エラーが無いときはステップは（６） に移り
、全トラックのエラーチェックが終了していなければ（
７） によりｎに１が加算され、（２） に戻って次位
のトラックのエラーチェックに移行する。または全トラ
ックの終了により当該ディスクの試験は終了する。（５
） においてエラーが有るとされたときは、（８） の
第２回転においてＨＡのリードが指示され、（９） の
第３回転によりＨＡのリードとエラーチェックがなされ
、これとともにＨＡに記録されている欠陥情報（Ｓ）が
解読される。つづく（１０）の第４回転によりＳを参照
してＦＯＲＭの各部に対するリードが指示され、（１１
）の第５回転において各部のＣＫＤがリードされてエラ
ーがチェックされる。この後、ステップは（６） に移
行して上記と同様の判定がなされる。以上のステップ（
９），（１１）のチェックにより検出されたエラーデー
タはＣＰＵに取り込まれてＨＤＡに対する評価データが
作成される。なお、上記のステップ（８） 〜（１１）
は前記の図３（ｂ） で説明した従来のリードチェック
手順と同一のもので、従って従来と同一の評価データが
えられるものである。
チェック手順のフローチャートを示す。図１のステップ
（１） においてトラック番号をｎとし、ｎ＝０を設定
する。（２）においてヘッドがｎ（＝０）をシークし、
（３）でこのトラックのＦＯＲＭのＨＡ、ＲＣおよびＲ
Ｄに対してＣＫＤをライトする。ついで（４） におい
てはディスクの第１回転で各ＣＫＤがリードされてエラ
ーがチェックされる。（５） によりエラーの有無が判
定され、エラーが無いときはステップは（６） に移り
、全トラックのエラーチェックが終了していなければ（
７） によりｎに１が加算され、（２） に戻って次位
のトラックのエラーチェックに移行する。または全トラ
ックの終了により当該ディスクの試験は終了する。（５
） においてエラーが有るとされたときは、（８） の
第２回転においてＨＡのリードが指示され、（９） の
第３回転によりＨＡのリードとエラーチェックがなされ
、これとともにＨＡに記録されている欠陥情報（Ｓ）が
解読される。つづく（１０）の第４回転によりＳを参照
してＦＯＲＭの各部に対するリードが指示され、（１１
）の第５回転において各部のＣＫＤがリードされてエラ
ーがチェックされる。この後、ステップは（６） に移
行して上記と同様の判定がなされる。以上のステップ（
９），（１１）のチェックにより検出されたエラーデー
タはＣＰＵに取り込まれてＨＤＡに対する評価データが
作成される。なお、上記のステップ（８） 〜（１１）
は前記の図３（ｂ） で説明した従来のリードチェック
手順と同一のもので、従って従来と同一の評価データが
えられるものである。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明によるエ
ラーチェック方法は、ＦＯＲＭの各部にライトされたＣ
ＫＤに発生するエラーの確率が非常に小さいことに着目
したもので、この方法により殆どのトラックはディスク
の第１回目の回転によりエラーが検出されずにチェック
が終了し、もしエラーが検出されたときは、つづく第２
〜第５回転によりＨＤＡを評価するエラーデータがえら
れるもので、ＨＤＡに対する評価試験時間を大幅に短縮
できる効果には大きいものがある。
ラーチェック方法は、ＦＯＲＭの各部にライトされたＣ
ＫＤに発生するエラーの確率が非常に小さいことに着目
したもので、この方法により殆どのトラックはディスク
の第１回目の回転によりエラーが検出されずにチェック
が終了し、もしエラーが検出されたときは、つづく第２
〜第５回転によりＨＤＡを評価するエラーデータがえら
れるもので、ＨＤＡに対する評価試験時間を大幅に短縮
できる効果には大きいものがある。
【図１】 この発明の一実施例におけるエラーチェッ
ク手順を示すフローチャートである。
ク手順を示すフローチャートである。
【図２】 ヘッド・ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ
）の評価試験システムの概略の構成図である。
）の評価試験システムの概略の構成図である。
【図３】 ＨＤＡのフォーマットに対するチェックデ
ータ（ＣＫＤ）の書込みと、従来のＣＫＤのエラーチェ
ック方法の説明図である。
ータ（ＣＫＤ）の書込みと、従来のＣＫＤのエラーチェ
ック方法の説明図である。
１…ヘッド・ディスク・アッセンブリ（ＨＤＡ）、１１
…ディスク、１２…スピンドルモータ、１３…磁気ヘッ
ド、２…評価試験装置、２１…コンピュータ（ＣＰＵ）
、２２…ライト回路、２３…ライトアンプ、２４…リー
ドアンプ、２５…リード回路、２６…チェック部、ＩＮ
ＤＸ…インデックス信号、ＴＲ…トラック、ＦＯＲＭ…
フォーマット、ＨＡ…ホームアドレス部、ＲＣ…制御符
号部、ＲＤ…データ部、ＣＫＤ…チェックデータ、ｎ…
トラック番号。
…ディスク、１２…スピンドルモータ、１３…磁気ヘッ
ド、２…評価試験装置、２１…コンピュータ（ＣＰＵ）
、２２…ライト回路、２３…ライトアンプ、２４…リー
ドアンプ、２５…リード回路、２６…チェック部、ＩＮ
ＤＸ…インデックス信号、ＴＲ…トラック、ＦＯＲＭ…
フォーマット、ＨＡ…ホームアドレス部、ＲＣ…制御符
号部、ＲＤ…データ部、ＣＫＤ…チェックデータ、ｎ…
トラック番号。
Claims (1)
- 【請求項１】 コンピュータの制御により、ヘッド・
ディスク・アッセンブリの磁気ディスクの各トラックに
対して、ホームアドレス部と制御符号部およびデータ部
よりなるフォーマットの該各部にチェックデータを書込
み／読出して、該チェックデータのエラーをチェックす
る評価試験において、該磁気ディスクの第１回目の回転
により前記フォーマットの各部のチェックデータを読出
してエラーをチェックし、エラーが検出されないときは
次位のトラックに対するエラーチェックに移行し、エラ
ーが検出されたときは、前記第１回目につづく第２回目
の回転により前記ホームアドレス部の読出しを指示し、
つづく第３回目の回転により該ホームアドレス部を読出
して、エラーチェックと該ホームアドレスに記録された
欠陥情報の解読とを行い、つづく第４回目の回転におい
て前記欠陥情報を参照して前記フォーマットの各部の読
出しを指示し、つづく第５回目の回転により該指示され
た前記各部のチェックデータを読出してエラーチェック
を行うことを特徴とする、ヘッド・ディスク・アッセン
ブリのエラーチェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16350591A JPH04362578A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16350591A JPH04362578A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04362578A true JPH04362578A (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=15775143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16350591A Pending JPH04362578A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04362578A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111002102A (zh) * | 2019-12-02 | 2020-04-14 | 珠海格力电器股份有限公司 | 主轴的回转误差的检测方法、装置、存储介质和处理器 |
-
1991
- 1991-06-07 JP JP16350591A patent/JPH04362578A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111002102A (zh) * | 2019-12-02 | 2020-04-14 | 珠海格力电器股份有限公司 | 主轴的回转误差的检测方法、装置、存储介质和处理器 |
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