JP2529891B2 - 磁気ヘッドの劣化判定方法 - Google Patents
磁気ヘッドの劣化判定方法Info
- Publication number
- JP2529891B2 JP2529891B2 JP2053999A JP5399990A JP2529891B2 JP 2529891 B2 JP2529891 B2 JP 2529891B2 JP 2053999 A JP2053999 A JP 2053999A JP 5399990 A JP5399990 A JP 5399990A JP 2529891 B2 JP2529891 B2 JP 2529891B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic head
- inspection
- magnetic
- disk
- test signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ヘッドの劣化を判定する方法に関
し、詳しくは磁気ディスクサーティファイヤによる磁気
ディスクの検査中に、磁気ヘッドの劣化を判定する方法
である。
し、詳しくは磁気ディスクサーティファイヤによる磁気
ディスクの検査中に、磁気ヘッドの劣化を判定する方法
である。
［従来の技術］ 情報の記録媒体として多用されているハード磁気ディ
スクは、生産工程において磁気ディスクサーティファイ
ヤ（以下単にサーティファイヤという）により記録媒体
の品質が検査される。検査においては適当な周波数のテ
スト信号がトラックに書き込まれ、これを読み出して各
種の項目について検査が行われる。トラック数が多いの
で検査は長時間を必要とし、これを短縮するために媒体
エリアを２分割し、表裏の両面を並列に検査する方法が
行われている。
スクは、生産工程において磁気ディスクサーティファイ
ヤ（以下単にサーティファイヤという）により記録媒体
の品質が検査される。検査においては適当な周波数のテ
スト信号がトラックに書き込まれ、これを読み出して各
種の項目について検査が行われる。トラック数が多いの
で検査は長時間を必要とし、これを短縮するために媒体
エリアを２分割し、表裏の両面を並列に検査する方法が
行われている。
第２図（ａ）〜（ｄ）は、エリア２分割両面並列検査
方法によるサーティファイヤの概要と検査シーケンスの
１例を示す。図（ａ），（ｂ）において、被検査の磁気
ディスク（以下単に検査ディスクという）１の記録媒の
範囲は外周エリア1aと内周エリア1bに２分割され、各エ
リアの両面に対してそれぞれ磁気ヘッド部２−1,2−２
が設けられる。各磁気ヘッド部２の磁気ヘッド（HD1,HD
2）2a−１および磁気ヘッド（HD1,HD2）2a−２はそれぞ
れキャリッジ機構2b−１および2b−２により、外周エリ
ア1aおよび内周エリア1bの両面のトラックをシークす
る。図（ｃ）はサーティファイヤのブロック構成を示
す。各磁気ヘッド2aに対して書き込みアンプ3aと書き込
み制御回路3c、および読み出しアンプ3bとエラー検出回
路3dよりなる同一の検査部３がそれぞれ接続される。マ
イクロプロセッサ４の制御により、検査ディスク１を回
転してトラックシーク機構６により各エリアのトラック
がシークされ、コントローラ５の制御により、シークさ
れた各トラックに対するテスト信号の書き込み／読み出
しが並列に行われる。サーティファイヤにおいては、ま
ずテスト信号の波高値を検出して媒体の記録性能が計測
され、さらにテスト信号のエラーに関するテストが行わ
れる。図（ｄ）はエラーテストに対するシーケンスを示
す。別途にえられる検査ディスクの回転角度の基準点を
示すインデックス（INDEX）信号により、検査ディスク
の１回転ごとに、各エリアの両面のトラックがシークさ
れ、各トラックに対して各書込み制御回路3cによりテス
ト信号が書き込まれる。ついでエラー検出回路3dにより
次の項目が検査される。図示の平均電圧測定においては
テスト信号の波高値を検出してその平均電圧をマイクロ
プロセッサ４により算出する。この平均電圧を基準値と
して符号のミッシング（MIS）エラーテスト、およびモ
ジュレーション（MOD）テストが行われる。これが終了
するとテスト信号が消去され、続いて符号の湧き出し
（EXT）エラーがテストされる。以上により１トラック
のテストが終了し、次のトラックが順次にシークされて
上記のシーケンスが繰り返され、すべてのトラックがテ
ストされる。
方法によるサーティファイヤの概要と検査シーケンスの
１例を示す。図（ａ），（ｂ）において、被検査の磁気
ディスク（以下単に検査ディスクという）１の記録媒の
範囲は外周エリア1aと内周エリア1bに２分割され、各エ
リアの両面に対してそれぞれ磁気ヘッド部２−1,2−２
が設けられる。各磁気ヘッド部２の磁気ヘッド（HD1,HD
2）2a−１および磁気ヘッド（HD1,HD2）2a−２はそれぞ
れキャリッジ機構2b−１および2b−２により、外周エリ
ア1aおよび内周エリア1bの両面のトラックをシークす
る。図（ｃ）はサーティファイヤのブロック構成を示
す。各磁気ヘッド2aに対して書き込みアンプ3aと書き込
み制御回路3c、および読み出しアンプ3bとエラー検出回
路3dよりなる同一の検査部３がそれぞれ接続される。マ
イクロプロセッサ４の制御により、検査ディスク１を回
転してトラックシーク機構６により各エリアのトラック
がシークされ、コントローラ５の制御により、シークさ
れた各トラックに対するテスト信号の書き込み／読み出
しが並列に行われる。サーティファイヤにおいては、ま
ずテスト信号の波高値を検出して媒体の記録性能が計測
され、さらにテスト信号のエラーに関するテストが行わ
れる。図（ｄ）はエラーテストに対するシーケンスを示
す。別途にえられる検査ディスクの回転角度の基準点を
示すインデックス（INDEX）信号により、検査ディスク
の１回転ごとに、各エリアの両面のトラックがシークさ
れ、各トラックに対して各書込み制御回路3cによりテス
ト信号が書き込まれる。ついでエラー検出回路3dにより
次の項目が検査される。図示の平均電圧測定においては
テスト信号の波高値を検出してその平均電圧をマイクロ
プロセッサ４により算出する。この平均電圧を基準値と
して符号のミッシング（MIS）エラーテスト、およびモ
ジュレーション（MOD）テストが行われる。これが終了
するとテスト信号が消去され、続いて符号の湧き出し
（EXT）エラーがテストされる。以上により１トラック
のテストが終了し、次のトラックが順次にシークされて
上記のシーケンスが繰り返され、すべてのトラックがテ
ストされる。
［解決しようとする課題］ さて、上記の媒体検査においては当然、磁気ヘッド自
体の機能、性能に異常がないことが前提である。しか
し、多数のトラックまたは検査ディスク数に対してテス
トを重ねるときは、その使用頻度により磁気ヘッド2aは
性能が漸次に低下する。また、テスト中にキャリッジ機
構の動作不良や検査ディスクの表面の異常などにより急
激に劣化する場合がある。性能低下に対しては、ある程
度の範囲では予め補正係数を設定して読み出し電圧が補
正され、劣化に対しては磁気ヘッドを交換することが行
われている。以上に対する従来の判定方法は、検査ディ
スクごとに、その検査初期におけるテスト信号の平均読
み出し電圧を判定基準とし、テストの進行に従って検査
ディスクの適当な枚数ごとの平均読み出し電圧をこの判
定基準と比較し、両者の差が一定の範囲内にあるか否か
により、劣化を判定するものであった。しかしながら、
このような判定方法は的確でない。その理由は各検査デ
ィスクには記録性能にバラツキがあり、また、検査初期
における磁気ヘッドが良品であるとの保証がないので、
上記の判定基準は妥当ではない。一方、最近使用されて
いる薄膜ヘッドはやや脆弱であるので、上記した理由に
より検査中に急激に劣化する事態がしばしば発生してい
る。このような劣化した磁気ヘッドによる検査データは
信頼性が低くて再検査を必要とするが、劣化が速やかに
検出されないために、再検査のロスが大きくて検査効率
が低下する弊害があった。
体の機能、性能に異常がないことが前提である。しか
し、多数のトラックまたは検査ディスク数に対してテス
トを重ねるときは、その使用頻度により磁気ヘッド2aは
性能が漸次に低下する。また、テスト中にキャリッジ機
構の動作不良や検査ディスクの表面の異常などにより急
激に劣化する場合がある。性能低下に対しては、ある程
度の範囲では予め補正係数を設定して読み出し電圧が補
正され、劣化に対しては磁気ヘッドを交換することが行
われている。以上に対する従来の判定方法は、検査ディ
スクごとに、その検査初期におけるテスト信号の平均読
み出し電圧を判定基準とし、テストの進行に従って検査
ディスクの適当な枚数ごとの平均読み出し電圧をこの判
定基準と比較し、両者の差が一定の範囲内にあるか否か
により、劣化を判定するものであった。しかしながら、
このような判定方法は的確でない。その理由は各検査デ
ィスクには記録性能にバラツキがあり、また、検査初期
における磁気ヘッドが良品であるとの保証がないので、
上記の判定基準は妥当ではない。一方、最近使用されて
いる薄膜ヘッドはやや脆弱であるので、上記した理由に
より検査中に急激に劣化する事態がしばしば発生してい
る。このような劣化した磁気ヘッドによる検査データは
信頼性が低くて再検査を必要とするが、劣化が速やかに
検出されないために、再検査のロスが大きくて検査効率
が低下する弊害があった。
この発明は以上に鑑みてなされたもので、サーティフ
ァイヤに正しい判定基準を設定し、磁気ヘッドの劣化を
的確、かつ速やかに判定し、劣化が発生したときは、直
ちに磁気ヘッドを交換して検査ロスを最小限にとどめる
ための磁気ヘッドの劣化判定方法を提供することを目的
とするものである。
ァイヤに正しい判定基準を設定し、磁気ヘッドの劣化を
的確、かつ速やかに判定し、劣化が発生したときは、直
ちに磁気ヘッドを交換して検査ロスを最小限にとどめる
ための磁気ヘッドの劣化判定方法を提供することを目的
とするものである。
［課題を解決するための手段］ この発明は、マイクロプロセッサの制御のもとに、磁
気ヘッドにより被検査ディスクのトラックに対して逐次
テスト信号の書き込み／読み出しを行い、読み出しされ
たテスト信号のエラーを検出して記録媒体を検査するサ
ーティファイヤにおける磁気ヘッドの劣化判定方法であ
る。検査ディスクの適当な個数のトラックに対するテス
トの終了ごとに、検査ディスクに代わって、標準的な記
録性能を有する基準磁気ディスク（以下単に基準ディス
クという）を書き換えて判定基準とする。置き換えられ
た基準ディスクの１トラックに対するテスト信号の平均
読み出し電圧を算出して逐次比較し、これが一定の小さ
い比率で低下するときは使用頻度による磁気ヘッドの性
能の低下と判定し、大きい比率で急激に低下したとき磁
気ヘッドが劣化したと判定するものである。
気ヘッドにより被検査ディスクのトラックに対して逐次
テスト信号の書き込み／読み出しを行い、読み出しされ
たテスト信号のエラーを検出して記録媒体を検査するサ
ーティファイヤにおける磁気ヘッドの劣化判定方法であ
る。検査ディスクの適当な個数のトラックに対するテス
トの終了ごとに、検査ディスクに代わって、標準的な記
録性能を有する基準磁気ディスク（以下単に基準ディス
クという）を書き換えて判定基準とする。置き換えられ
た基準ディスクの１トラックに対するテスト信号の平均
読み出し電圧を算出して逐次比較し、これが一定の小さ
い比率で低下するときは使用頻度による磁気ヘッドの性
能の低下と判定し、大きい比率で急激に低下したとき磁
気ヘッドが劣化したと判定するものである。
［作用］ 以上のこの発明による磁気ヘッドの劣化判定方法にお
いては、検査ディスクの適当な個数のトラックに対する
テストの終了ごとに、基準ディスクが置き換えられ、そ
の１トラックに対してテスト信号のテスト信号の平均読
み出し電圧が逐次比較される。これが一定の小さい比率
で低下するときは使用頻度による磁気ヘッドの性能低下
と判定し、また大きい比率で急激に低下したときは磁気
ヘッドが劣化したものと判定する。基準ディスクは標準
的な記録性能を有するので、磁気ヘッドは常に正しい判
定基準により劣化が的確に判定されるとともに、置き換
えのサイクルを適切に設定することにより、検査中に発
生した磁気ヘッドの劣化が速やかに検出され、直ちに検
査を中止して磁気ヘッドを交換することができるので、
再検査のロスが最小限にとどめられる。
いては、検査ディスクの適当な個数のトラックに対する
テストの終了ごとに、基準ディスクが置き換えられ、そ
の１トラックに対してテスト信号のテスト信号の平均読
み出し電圧が逐次比較される。これが一定の小さい比率
で低下するときは使用頻度による磁気ヘッドの性能低下
と判定し、また大きい比率で急激に低下したときは磁気
ヘッドが劣化したものと判定する。基準ディスクは標準
的な記録性能を有するので、磁気ヘッドは常に正しい判
定基準により劣化が的確に判定されるとともに、置き換
えのサイクルを適切に設定することにより、検査中に発
生した磁気ヘッドの劣化が速やかに検出され、直ちに検
査を中止して磁気ヘッドを交換することができるので、
再検査のロスが最小限にとどめられる。
［実施例］ 第１図はこの発明による磁気ヘッドの劣化判定方法の
原理を示す曲線図である。比検査ディスクのｓ個のトラ
ックに対するテストが終了するごとに基準ディスクが置
き換えられ、その置き換え番号1,2,3……に対する平均
読み出し電圧ｖ（１）,v（２）,v（３）……が逐次算出
されてメモリに記憶される。電圧ｖの低下の比率をｋと
すると、ｋは一般に、［ｖ（ｎ−１）−ｖ（ｎ）］/v
（ｎ−１））により求められる。図においては、番号1,
2,3に対する比率ｋは一定の小数Ｋに等しいか、または
より小さく、使用頻度により磁気ヘッドの性能が漸次低
下したものとする。これに対しては、別途マイクロプロ
セッサに予め設定された補正係数により補正される。こ
こでは補正方法の説明を省略する。次に、図示のように
ｖ（ｍ）が急激に低下したときは、ｖ（ｍ−１）に対す
る比率ｋがＫより大きいので磁気ヘッドが劣化したもの
と判定し、良品の磁気ヘッドに交換してテストが再開さ
れる。
原理を示す曲線図である。比検査ディスクのｓ個のトラ
ックに対するテストが終了するごとに基準ディスクが置
き換えられ、その置き換え番号1,2,3……に対する平均
読み出し電圧ｖ（１）,v（２）,v（３）……が逐次算出
されてメモリに記憶される。電圧ｖの低下の比率をｋと
すると、ｋは一般に、［ｖ（ｎ−１）−ｖ（ｎ）］/v
（ｎ−１））により求められる。図においては、番号1,
2,3に対する比率ｋは一定の小数Ｋに等しいか、または
より小さく、使用頻度により磁気ヘッドの性能が漸次低
下したものとする。これに対しては、別途マイクロプロ
セッサに予め設定された補正係数により補正される。こ
こでは補正方法の説明を省略する。次に、図示のように
ｖ（ｍ）が急激に低下したときは、ｖ（ｍ−１）に対す
る比率ｋがＫより大きいので磁気ヘッドが劣化したもの
と判定し、良品の磁気ヘッドに交換してテストが再開さ
れる。
以上において、基準ディスクの置き換えのサイクルは
短いほど劣化が速やかに検出されるが、反面、置き換え
とテスト信号の書き込み／読み出しなどに時間がかかっ
て検査効率が低下するので、磁気ヘッドの性能の低下、
または劣化の実情に合わせて適当なトラック数ｓを選定
する。また、小定数Ｋは数ｓに関係するが、実績データ
により例えば１〜２％とする。なお、上記の基準ディス
クに対するテスト信号の書き込み／読み出し、および平
均読み出し電圧の算出などは、検査ディスクに対する場
合と同様に、第３図（ｃ），（ｄ）の検査部３とマイク
ロプロセッサ（４）により行われる。
短いほど劣化が速やかに検出されるが、反面、置き換え
とテスト信号の書き込み／読み出しなどに時間がかかっ
て検査効率が低下するので、磁気ヘッドの性能の低下、
または劣化の実情に合わせて適当なトラック数ｓを選定
する。また、小定数Ｋは数ｓに関係するが、実績データ
により例えば１〜２％とする。なお、上記の基準ディス
クに対するテスト信号の書き込み／読み出し、および平
均読み出し電圧の算出などは、検査ディスクに対する場
合と同様に、第３図（ｃ），（ｄ）の検査部３とマイク
ロプロセッサ（４）により行われる。
第２図はこの発明による磁気ヘッドの劣化判定方法の
実施例におけるフローチャートを示す。サーティファイ
ヤに対して、基準ディスクが置き換えて装着され、磁
気ヘッドによりその適当な１トラックに対してテスト信
号の書き込み／読み出しを行い、マイクロプロセッサに
より平均読み出し電圧ｖ（ｎ）（最初はｎ＝１とする）
を算出する。ついで前回の平均読み出し電圧ｖ（ｎ−
１）をメモリより読み出して、比率ｋ＝［ｖ（ｎ−
１）−ｖ（ｎ）］/v（ｎ−１）が計算されて、一定の
小数Ｋと比較され、ｋがＫより小さいかまたは等しい
ときは使用頻度による磁気ヘッドの性能低下とされ、ｖ
（ｎ）をメモリに記憶する。次に、被検査ディスクを
装着して所定のテストを行い、所定のｓ個のトラック
に対するテストが終了したか否かを判定し、終了した
ときはステップはに戻って再び基準ディスクが置き換
えられ、以下同様の処理が繰り返される。の比較にお
いて、比率ｋがＫより大きいときは、磁気ヘッドが劣化
したものとして良品の磁気ヘッドに交換され、に戻っ
て前記と同様な処理がなされる ［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁
気ヘッドの劣化判定方式においては、判定基準として標
準的な記録性能を有する基準磁気ディスクが、被検査の
磁気ディスクの検査中に適当なサイクルで磁気ディスク
サーティファイヤに置き換えて装着され、その１トラッ
クに対するテスト信号の平均読み出し電圧が逐次比較さ
れ、この比率を一定の小数に比較して、磁気ヘッドの性
能低下と劣化がそれぞれ的確、かつ速やかに判定される
もので、検査中に磁気ヘッドの劣化が判定されたとき
は、直ちに検査を中止して磁気ヘッドを良品に交換する
ことにより、再検査のロスが最小限にとどめられ、磁気
ディスクサーティファイヤの信頼性の向上と稼働効率の
低下の防止に寄与する効果には大きいものがある。
実施例におけるフローチャートを示す。サーティファイ
ヤに対して、基準ディスクが置き換えて装着され、磁
気ヘッドによりその適当な１トラックに対してテスト信
号の書き込み／読み出しを行い、マイクロプロセッサに
より平均読み出し電圧ｖ（ｎ）（最初はｎ＝１とする）
を算出する。ついで前回の平均読み出し電圧ｖ（ｎ−
１）をメモリより読み出して、比率ｋ＝［ｖ（ｎ−
１）−ｖ（ｎ）］/v（ｎ−１）が計算されて、一定の
小数Ｋと比較され、ｋがＫより小さいかまたは等しい
ときは使用頻度による磁気ヘッドの性能低下とされ、ｖ
（ｎ）をメモリに記憶する。次に、被検査ディスクを
装着して所定のテストを行い、所定のｓ個のトラック
に対するテストが終了したか否かを判定し、終了した
ときはステップはに戻って再び基準ディスクが置き換
えられ、以下同様の処理が繰り返される。の比較にお
いて、比率ｋがＫより大きいときは、磁気ヘッドが劣化
したものとして良品の磁気ヘッドに交換され、に戻っ
て前記と同様な処理がなされる ［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁
気ヘッドの劣化判定方式においては、判定基準として標
準的な記録性能を有する基準磁気ディスクが、被検査の
磁気ディスクの検査中に適当なサイクルで磁気ディスク
サーティファイヤに置き換えて装着され、その１トラッ
クに対するテスト信号の平均読み出し電圧が逐次比較さ
れ、この比率を一定の小数に比較して、磁気ヘッドの性
能低下と劣化がそれぞれ的確、かつ速やかに判定される
もので、検査中に磁気ヘッドの劣化が判定されたとき
は、直ちに検査を中止して磁気ヘッドを良品に交換する
ことにより、再検査のロスが最小限にとどめられ、磁気
ディスクサーティファイヤの信頼性の向上と稼働効率の
低下の防止に寄与する効果には大きいものがある。
第１図は、この発明による磁気ヘッドの劣化判定方法の
判定原理の説明図、第２図はこの発明による磁気ヘッド
の劣化判定方法の実施例におけるフローチャート、第３
図（ａ），（ｂ），（ｃ）および（ｄ）は、磁気ディス
クサーティファイヤの概要とエラーテストシーケンスの
説明図である。 １……被検査磁気ディスク（検査ディスク）、 ２……磁気ヘッド部、2a……磁気ヘッド、 2b……キャリッジ機構、３……検査部、 3a……書き込みアンプ、3b……読み出しアンプ、 3c…書き込み制御回路、3d……エラー検出回路、 ４……マイクロプロセッサ、５……コントローラ、 ６……トラックシーク機構、 〜……フローチャートのステップ番号。
判定原理の説明図、第２図はこの発明による磁気ヘッド
の劣化判定方法の実施例におけるフローチャート、第３
図（ａ），（ｂ），（ｃ）および（ｄ）は、磁気ディス
クサーティファイヤの概要とエラーテストシーケンスの
説明図である。 １……被検査磁気ディスク（検査ディスク）、 ２……磁気ヘッド部、2a……磁気ヘッド、 2b……キャリッジ機構、３……検査部、 3a……書き込みアンプ、3b……読み出しアンプ、 3c…書き込み制御回路、3d……エラー検出回路、 ４……マイクロプロセッサ、５……コントローラ、 ６……トラックシーク機構、 〜……フローチャートのステップ番号。
Claims (1)
- 【請求項１】マイクロプロセッサの制御のもとに、磁気
ヘッドにより被検査磁気ディスクのトラックに逐次テス
ト信号の書き込み／読み出しを行い、該読出しされたテ
スト信号のエラーを検出して記録媒体を検査する磁気デ
ィスクサーティファイヤにおいて、上記被検査磁気ディ
スクの適当な個数のトラックに対するテストの終了ごと
に、上記被検査の磁気ディスクに代わって、標準的な記
録性能を有する基準磁気ディスクを置き換えて判定基準
とし、該置き換えられた各基準磁気ディスクの１トラッ
クに対するテスト信号の平均読み出し電圧をそれぞれ算
出して逐次比較し、該平均読み出し電圧が、一定の小さ
い比率で低下するときは使用頻度による該磁気ヘッドの
性能低下と判定し、大きい比率で急激に低下したとき該
磁気ヘッドが劣化したと判定することを特徴とする、磁
気ヘッドの劣化判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2053999A JP2529891B2 (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 磁気ヘッドの劣化判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2053999A JP2529891B2 (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 磁気ヘッドの劣化判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03256211A JPH03256211A (ja) | 1991-11-14 |
| JP2529891B2 true JP2529891B2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=12958305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2053999A Expired - Lifetime JP2529891B2 (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 磁気ヘッドの劣化判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2529891B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998001104A1 (en) * | 1996-07-08 | 1998-01-15 | Daikin Industries, Ltd. | Cosmetic preparations containing fluorinated oils |
| KR100640627B1 (ko) * | 2005-01-06 | 2006-10-31 | 삼성전자주식회사 | 씨에스엠 테스트를 이용한 하드디스크 드라이브의 ｍｒ헤드 스큐튜닝 방법 |
| US7288935B2 (en) | 2005-04-15 | 2007-10-30 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | System, method, and apparatus for dynamic electrical testing of workpieces by multiplexing test sites with shared electronics |
-
1990
- 1990-03-06 JP JP2053999A patent/JP2529891B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03256211A (ja) | 1991-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7134051B2 (en) | Disk memory device, disk memory device defect detecting method, and program recording medium | |
| US6381710B1 (en) | Error logging method utilizing temporary defect list | |
| US9728215B2 (en) | Magnetic disk apparatus and data recording method | |
| US7529058B2 (en) | Track pitch examination method of storage apparatus, program, and storage apparatus | |
| GB2326755A (en) | Method of establishing the capacity of a hard disk drive | |
| KR100714876B1 (ko) | 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 스크래치처리방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한기록매체 | |
| US4929894A (en) | Method and apparatus for increasing throughput on disk drive quality control testing | |
| JP2529891B2 (ja) | 磁気ヘッドの劣化判定方法 | |
| US6263462B1 (en) | Testing method and tester | |
| US7417816B2 (en) | Surface analysis test with mixed ECC symbol | |
| JPH04216369A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| US6724552B1 (en) | Magnetic disk apparatus with lower probability of occurrence of read errors due to scratch or the like on magnetic disk surface | |
| JP4335946B2 (ja) | 磁気記録再生装置 | |
| US7957087B2 (en) | Servo write method and servo write system for hard-disk drive | |
| US6785077B2 (en) | Disc drive pattern zero verification test | |
| TWI451407B (zh) | 光碟機及讀取光碟片之碟片管理資料的方法 | |
| JP2588038B2 (ja) | 磁気ディスクサーティファイヤの磁気ヘッド異常チェック方式 | |
| JPH0714315A (ja) | 情報記録再生装置の交代セクタ管理方法 | |
| KR100630771B1 (ko) | 위크 라이트 테스트 방법 및 그 장치 | |
| JP2007157304A (ja) | ディスク装置、そのテスト方法、及びその製造方法 | |
| KR100699884B1 (ko) | 적응적 디펙 처리 방법 및 그 장치 | |
| JPH056517A (ja) | 薄膜ヘツドのノイズ検査方法 | |
| KR19990003466A (ko) | 테스트 디스크에 의한 에러 정정 능력 검사방법 | |
| JPH09320207A (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JPH04362578A (ja) | ヘッド・ディスク・アッセンブリのエラーチェック方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080614 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090614 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100614 Year of fee payment: 14 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100614 Year of fee payment: 14 |