JPS5846160U - 磁気デイスク検査装置 - Google Patents

磁気デイスク検査装置

Info

Publication number
JPS5846160U
JPS5846160U JP14206181U JP14206181U JPS5846160U JP S5846160 U JPS5846160 U JP S5846160U JP 14206181 U JP14206181 U JP 14206181U JP 14206181 U JP14206181 U JP 14206181U JP S5846160 U JPS5846160 U JP S5846160U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
ram
magnetic disk
inspection
length
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14206181U
Other languages
English (en)
Inventor
美樹 山本
Original Assignee
日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP14206181U priority Critical patent/JPS5846160U/ja
Publication of JPS5846160U publication Critical patent/JPS5846160U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の一実施例を示す回路構成図で、1は
エラーラッチ回路、2はエラーアドレスラッチ回路、3
はエラー長カウンタ、4はマルチプレクサ、5はRAM
リードライトコントロ、−ル部、6はRAM、をそれぞ
れ示す。 第2図は、1つのエラーに対してRAM 6に格納する
エラーデータの格納型式の一例を示したものであり、M
、M+1.・・・・・・はRAMのアドレスである。第
3図は、第1図の動作を示すタイミング図のが例で、A
は端子104に入力するロック信号、Bは端子103に
入力するディスクの位置信号の内容で、X、 X+1.
・・・・・・はディスクのインデクスからのバイト数を
示す。Cは端子101に入るエラー信号の例、Dはアド
レスラッチ回路2の値、Eはエラー長カウンタ3の値、
FはRAM5の入力データ、GはRAM5の書込み信号
、HはRAM6のアドレスをそれぞれ示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 磁気ディスク媒体の表面欠陥を検査する装置において、
    表面欠陥、すなわちエラーの種類とエラー発生位置と今
    それぞれ一時記憶するラッチ回路と、エラーの長さをビ
    ット長でカウントするカウンタと、前記ラッチ回路の出
    力と前記カウンタの出力と検査くり返し回数とをエラー
    データとして格納するランダムアクセスメモリ(RAM
    )と、前記エラーデータを順次切り換えて前記RAMに
    供給するマルチプレクサ部と、前記RAMのアドレスと
    書込み・読出し動作とを制御するRAMリードライトコ
    ントロール部とを備え、ディスク面エラーの種類、検査
    くり返し回数、エラー発生位置、エラー長を1つのRA
    Mに格納子る′ようにしたことを特徴とする磁気ディス
    ク検査装置。
JP14206181U 1981-09-25 1981-09-25 磁気デイスク検査装置 Pending JPS5846160U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14206181U JPS5846160U (ja) 1981-09-25 1981-09-25 磁気デイスク検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14206181U JPS5846160U (ja) 1981-09-25 1981-09-25 磁気デイスク検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5846160U true JPS5846160U (ja) 1983-03-28

Family

ID=29935109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14206181U Pending JPS5846160U (ja) 1981-09-25 1981-09-25 磁気デイスク検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5846160U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0277660A (ja) * 1988-09-13 1990-03-16 Hitachi Electron Eng Co Ltd 磁気ディスク評価装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0277660A (ja) * 1988-09-13 1990-03-16 Hitachi Electron Eng Co Ltd 磁気ディスク評価装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5846160U (ja) 磁気デイスク検査装置
JPH0418388B2 (ja)
JPS6012893U (ja) テ−プレコ−ダ
JPS5983855U (ja) エレベ−タ制御装置の出力装置
JP2838912B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS59180577U (ja) 時間軸補正装置
JPH054036Y2 (ja)
JPH0535411A (ja) キヤツシユメモリ回路
JPS59180300U (ja) メモリ試験装置
JPS6112145U (ja) プログラムテスト装置
JPS5894197U (ja) 情報書込み器
JPS6297177A (ja) 磁気テ−プ装置
JPS59130295U (ja) システム制御装置
JPS5937643U (ja) デ−タ収録装置
JPS5949650A (ja) 画像デ−タ格納装置
JPS58101253U (ja) マルチクロツク形アナライザ
JPS61643U (ja) デ−タ入力装置
JPS6112144U (ja) プログラムテスト装置
JPS58144958U (ja) メモリ制御装置
JPS5852248B2 (ja) 読出デ−タ長取出方式
JPS59113841U (ja) 主記憶構成制御装置
JPS6242386A (ja) 磁気バブルメモリ装置
JPS59189797U (ja) 録音再生装置
JPS6065843U (ja) メモリアドレス拡張回路
JPS6125653U (ja) 画情報処理装置