JPS5846160U - 磁気デイスク検査装置 - Google Patents
磁気デイスク検査装置Info
- Publication number
- JPS5846160U JPS5846160U JP14206181U JP14206181U JPS5846160U JP S5846160 U JPS5846160 U JP S5846160U JP 14206181 U JP14206181 U JP 14206181U JP 14206181 U JP14206181 U JP 14206181U JP S5846160 U JPS5846160 U JP S5846160U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- ram
- magnetic disk
- inspection
- length
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は、本考案の一実施例を示す回路構成図で、1は
エラーラッチ回路、2はエラーアドレスラッチ回路、3
はエラー長カウンタ、4はマルチプレクサ、5はRAM
リードライトコントロ、−ル部、6はRAM、をそれぞ
れ示す。 第2図は、1つのエラーに対してRAM 6に格納する
エラーデータの格納型式の一例を示したものであり、M
、M+1.・・・・・・はRAMのアドレスである。第
3図は、第1図の動作を示すタイミング図のが例で、A
は端子104に入力するロック信号、Bは端子103に
入力するディスクの位置信号の内容で、X、 X+1.
・・・・・・はディスクのインデクスからのバイト数を
示す。Cは端子101に入るエラー信号の例、Dはアド
レスラッチ回路2の値、Eはエラー長カウンタ3の値、
FはRAM5の入力データ、GはRAM5の書込み信号
、HはRAM6のアドレスをそれぞれ示す。
エラーラッチ回路、2はエラーアドレスラッチ回路、3
はエラー長カウンタ、4はマルチプレクサ、5はRAM
リードライトコントロ、−ル部、6はRAM、をそれぞ
れ示す。 第2図は、1つのエラーに対してRAM 6に格納する
エラーデータの格納型式の一例を示したものであり、M
、M+1.・・・・・・はRAMのアドレスである。第
3図は、第1図の動作を示すタイミング図のが例で、A
は端子104に入力するロック信号、Bは端子103に
入力するディスクの位置信号の内容で、X、 X+1.
・・・・・・はディスクのインデクスからのバイト数を
示す。Cは端子101に入るエラー信号の例、Dはアド
レスラッチ回路2の値、Eはエラー長カウンタ3の値、
FはRAM5の入力データ、GはRAM5の書込み信号
、HはRAM6のアドレスをそれぞれ示す。
Claims (1)
- 磁気ディスク媒体の表面欠陥を検査する装置において、
表面欠陥、すなわちエラーの種類とエラー発生位置と今
それぞれ一時記憶するラッチ回路と、エラーの長さをビ
ット長でカウントするカウンタと、前記ラッチ回路の出
力と前記カウンタの出力と検査くり返し回数とをエラー
データとして格納するランダムアクセスメモリ(RAM
)と、前記エラーデータを順次切り換えて前記RAMに
供給するマルチプレクサ部と、前記RAMのアドレスと
書込み・読出し動作とを制御するRAMリードライトコ
ントロール部とを備え、ディスク面エラーの種類、検査
くり返し回数、エラー発生位置、エラー長を1つのRA
Mに格納子る′ようにしたことを特徴とする磁気ディス
ク検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14206181U JPS5846160U (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 磁気デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14206181U JPS5846160U (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 磁気デイスク検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5846160U true JPS5846160U (ja) | 1983-03-28 |
Family
ID=29935109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14206181U Pending JPS5846160U (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 磁気デイスク検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5846160U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0277660A (ja) * | 1988-09-13 | 1990-03-16 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 磁気ディスク評価装置 |
-
1981
- 1981-09-25 JP JP14206181U patent/JPS5846160U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0277660A (ja) * | 1988-09-13 | 1990-03-16 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 磁気ディスク評価装置 |
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