JPS59180300U - メモリ試験装置 - Google Patents

メモリ試験装置

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JPS59180300U
JPS59180300U JP7549183U JP7549183U JPS59180300U JP S59180300 U JPS59180300 U JP S59180300U JP 7549183 U JP7549183 U JP 7549183U JP 7549183 U JP7549183 U JP 7549183U JP S59180300 U JPS59180300 U JP S59180300U
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JP
Japan
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test equipment
memory test
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memory
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Pending
Application number
JP7549183U
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English (en)
Inventor
徳梅 孝啓
Original Assignee
日本電気株式会社
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Publication date
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来の検査装置のブロック図、第2図は本考案
の一実施例の装置のブロック図である。 1.1′・・・・・・被検査素子、2.2′・・・・・
・入力信号設定部、3,3′・・・・・・期待値データ
格納部、4′・・・・・・出力信号演算部、4.5′・
曲・出力信号比較部、5,6′・・曲制御部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数個のメモリ内容を読み出して演算する手段と、演算
    結果と予め定められたデータとを比較する手段と、比較
    結果に基いて次のメモリ内容の読み出しを制御する手段
    とを有することを特徴とするメモリ試験装置。
JP7549183U 1983-05-20 1983-05-20 メモリ試験装置 Pending JPS59180300U (ja)

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JP7549183U JPS59180300U (ja) 1983-05-20 1983-05-20 メモリ試験装置

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JP7549183U JPS59180300U (ja) 1983-05-20 1983-05-20 メモリ試験装置

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JPS59180300U true JPS59180300U (ja) 1984-12-01

Family

ID=30205557

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JP7549183U Pending JPS59180300U (ja) 1983-05-20 1983-05-20 メモリ試験装置

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JP (1) JPS59180300U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61178800A (ja) * 1985-02-05 1986-08-11 Nec Corp メモリ検査装置
JPH02297236A (ja) * 1989-05-11 1990-12-07 Yamaha Corp Ram同時テスト回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61178800A (ja) * 1985-02-05 1986-08-11 Nec Corp メモリ検査装置
JPH02297236A (ja) * 1989-05-11 1990-12-07 Yamaha Corp Ram同時テスト回路

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