JPH0577029B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は記録媒体の欠陥位置検出方法に関す
る。更に詳細には、本発明はインデツクス検知位
置からのデイスク媒体の回転角度から欠陥位置を
求めることからなる記録媒体の欠陥位置検出方法
に関する。

［従来技術］ コンピユータやワードプロセツサなどの記録媒
体として磁気デイスクが一般に広く使用されてい
る。磁気デイスクはレコード盤のような円板上に
磁性体を塗布したもので、これを高速回転させ、
その上または下面もしくは上下面に設けられた磁
気ヘツドによつてデータを同心円状に磁気記録さ
せたり、また記録データを読み取る装置である。

また、最近は従来のダイヤモンド針などによる
物理的接触方式のレコード盤に代えて、レーザ光
などによる無接触式の、いわゆる光デイスクが使
用される傾向にある。光デイスクは音響の他に映
像も入出力できる優れた特長を有する。

磁気記録用デイスクの素材はアルミニウム合金
板またはマグネシウム合金板のような金属合金板
あるいはポリエチレンテレフタレート、ABSま
たはMMA樹脂のような有機高分子材料を基材と
して、その表面に磁性酸化鉄（γ−Fe₂O₃）、磁
性合金粉末または酸化クロムなどの磁性体塗装を
施す。光デイスクの場合、一般に磁性体塗装を施
す必要はない。

磁気デイスク、光デイスク等のデイスク媒体は
電気的にテストを行い、不良品または良品の別を
判定してから製品として使用する。

［発明が解決しようとする問題点］ デイスク媒体の記憶面に傷などの欠陥箇所が存
在すると、使用中にヘツドクラツシユなどの重大
障害を招いたり、傷の進行により記録情報の破壊
が起こる恐れがある。このため、欠陥の存在の有
無は必ずチエツクしなければならない。

従来、デイスク媒体、特に磁気デイスクの欠陥
位置はデイスクトラツク上に設けられたインデツ
クス・ポイントの検知から欠陥検知までの時間
（クロツク数）を測定し、代表的な回転数と前記
時間より求めていた。

このため、デイスク媒体の回転速度の誤差（回
転変動または回転ムラ、ワウ、フラツタ）を排除
することができなかつた。その結果、検査エラー
の発生する頻度が高まつて検査が非効率となるば
かりか、検査そのものに対する信頼性を損なうこ
ととなる。

［発明の目的］ 従つて、本発明の目的はデイスク媒体の回転速
度の誤差（回転変動または回転ムラ）に影響され
ない、磁気記録媒体の欠陥位置検出方法を提供す
ることである。

［問題点を解決するための手段］ 前記の問題点を解決するための手段として、こ
の発明は、欠陥検査すべきデイスク媒体の回転軸
と同軸上に、表面上に円形に規則的に配列された
マークを有する回転角度測定用円板を装着し、デ
イスク媒体上のインデツクスポイントに対応する
マーク位置からデイスク媒体上の欠陥箇所に対応
するマーク位置までのマーク数を光検出器により
検出し、この検出したマーク数に基づいて、デイ
スク媒体上のインデツクスポイントから欠陥箇所
までの角度を算出することを特徴とする記録媒体
の欠陥位置検出方法を提供する。

［作用］ 前記のようにこの発明は、その表面上に円形に
規則的に配列されたマークを有する回転角度測定
用円板を、欠陥検査すべきデイスク媒体の回転軸
と同軸上に装着する。そして、この回転角度測定
用円板に設けられたマークをホトインタラプタま
たはホトセンサのような光検出器で検出する。

デイスク媒体のトラツクには必ずインデツクス
ポイントが設けられているので、最初にこのイン
デツクスポイントに対応する位置のマーク（第１
マーク位置）を光検出器で検出し、ここを基点と
してマークを順次検出して、これをカウントして
行く。そして、デイスク媒体上の欠陥箇所に対応
する位置のマーク（第２マーク位置）まで光検出
器が検出したマーク数（カウント値）に基づき、
回転軸を中心として第１マーク位置から第２マー
ク位置までの回転角θを算出する。

欠陥検査すべきデイスク媒体の回転軸と回転角
度測定用円板の回転軸とは同軸なので、回転角度
測定用円板について求めた前記回転角θは、デイ
スク媒体のインデツクスポイントから欠陥箇所ま
での回転角θ′に等しい。

かくして、本発明の欠陥位置検出方法によれば
デイスク媒体の回転変動または回転ムラに影響さ
れることなく欠陥検査を実施できる。その結果、
検査精度が向上するとともに、極めて効率的に検
査を実施できるのでスループツトの向上にも寄与
する。また、検査に対する信頼性も飛躍的に高ま
る。

［実施例］ 以下、図面を参照しながら本発明の一実施例に
ついて更に詳細に説明する。

第１図は本発明の記録媒体欠陥位置検出方法が
実施される装置の一例の構成を示す概要図であ
る。

第１図において、符号１０はフロツピーデイス
クのような記録媒体を示す。フロツピーデイスク
１０は回転駆動機構（図示されていない）により
高速回転される。１２は、フロツピーデイスク１
０に対する情報の読み書きを行うためのヘツドで
あり、１４は、このヘツド１２の駆動機構であ
る。

フロツピーデイスク１０の回転軸１６と同軸上
に回転角度測定用円板１８が配設されている。こ
の回転角度測定用円板１８はフロツピーデイスク
１０と同時に一体となつて回転駆動される。

回転角度測定用円板１８の外周縁付近には、光
検出用のマーク２０が円形に規則的に配列されて
いる。マーク２０は微小貫通孔または白と黒が交
互に並べられた白黒パターンである。マークの数
は所望により適宜決定できる。一例として、360
または720個配列させることができる。検出精度
に応じて、これ以上配列させることもできる。マ
ークの数が多いほど欠陥箇所の位置の特定精度が
高まる。

このマーク２０に対応する位置に光検出器２２
が配設される。この実施例ではマーク２０を微小
貫通孔としているので、光検出器２２は光源２２
ａと受光部２２ｂとに分離された光透過型または
ホトインタラプタが使用される。

なお、マーク２０が白黒パターンである場合に
は、光検出器２２は光源と受光部が一体になつた
ホトセンサを使用できる。白黒パターンのマーク
２０は回転角度測定用円板１８の表面または裏面
のいづれにも設けられるので、光検出器２２は、
この白黒パターンマークの配設箇所に合わせて配
設すればよい。なお、このパターンは凹凸の溝で
あつてもよい。

更に、フロツピーデイスク１０の記憶面上のト
ラツクにはインデツクスポイント２６が設けられ
ている。検知機構２８はこのインデツクスポイン
ト２６を検知する。検知機構２８は、配設される
インデツクポイント２６の具体的構成に応じて、
光学式または磁気式のものが使用される。このよ
うなインダテクスポイント検知機構は当業者に周
知である。

次に、本発明の記録媒体欠陥位置検出方法によ
る具体的な測定動作について詳細に説明する。

フロツピーデイスク１０の回転と一体となつて
回転角度測定用円板１８も回転する。この回転に
応じて、光検出器２２は回転角度測定用円板１８
に設けられたマーク２０を検出し、検出したマー
クを増幅器３０ａを介して、カウントアツプ信号
としてカウンタ３２に入力する。

インデツクスポイント検知機構２８がトラツク
上のインデツクスポイントを検出すること、この
信号は増幅器３０ｂを介してカウンタ３２にリセ
ツト信号として入力される。このリセツト信号が
カウンタ３２に入力されると、それまでカウンタ
で計数されていたマークカウント数は一旦クリア
ーされてゼロに戻され、新たにインデツクスポイ
ントに対応する位置のマークからの検出マーク数
がカウントアツプ信号としてカウンタ３２に入力
される。

フロツピーデイスク１０の記憶面上のトラツク
２４に傷のような欠陥箇所３４が存在すると、例
えば、アナログ読み出し信号の局所的なレベル減
少（または、増加）が発生する。これはヘツド１
２により検出される。ヘツド１２により検出され
たレベル減少（または、増加）はヘツド駆動機構
１４および読み書き制御回路３６を介して欠陥検
出回路に入力され、ここから欠陥検出信号として
バツフアメモリ４０に送出される。

バツフアメモリ４０に欠陥検出信号が入力され
ると、カウンタ３２で計数されたマークカウント
数情報はバツフアメモリ４０に送出され、ここに
一旦蓄積される。同一トラツク上に複数個の欠陥
箇所が存在する場合でも、インデツクスポイント
に対応するマーク（第１マーク位置）を基準にし
て、このマークから各欠陥箇所に対応するマーク
ポイント（第２マーク位置）まで計数されたマー
ク数は、欠陥検出信号がバツフアメモリ４０に入
力される毎に、カウンタ３２からバツフアメモリ
４０に送出され、蓄積される。

デイスクが一回転して、インデツクスポイント
検知機構２８がトラツク２４上のインデツクスポ
イント２６を再び検知すると、増幅器３０ｂを介
してリセツト信号がデータ処理部４２に入力され
る。

このリセツト信号を受けて、データ処理部はバ
ツフアメモリ４０に蓄積されたマーク数を読み込
む。そして、この読み込まれたマーク数情報に基
づき、インデツクスポイントに対応するマークか
ら欠陥箇所に対応するマークまでの回転角θ（欠
陥が複数箇所の場合には、それに対応して複数の
θ）を算出する。この回転角θはフロツピーデイ
スク１０の検査トラツクであるトラツク２４上の
インデツクスポイント２６から欠陥箇所３４まで
の回転角θ′に等しい。かくして、フロツピーデイ
スク記憶面のトラツク上に存在する欠陥箇所を正
確に、しかも迅速に検出できる。なお、前記リセ
ツト信号により、同時にカウンタ３２の内容がゼ
ロとなる。

回転角θの演算が終了した時点で、データ処理
部４２からバツフアメモリ４０にリセツト信号が
送出され、バツフアメモリ４０に蓄積されていた
マーク数情報をすべてクリアーする。それと共
に、データ処理部４２から読み書き制御部３６に
トラツク指定信号が送出される。読み書き制御部
３６はこの信号を受けて、ヘツド駆動機構１４に
駆動制御信号を送り、ヘツド１２を新たに指定さ
れたトラツク位置に前後進させる。

インデツクスポイント検知機構２８が新たに指
定されたトラツクのインデツクスポイントを検知
すると増幅器３０ｂを介してリセツト信号がカウ
ンタ３２に入力され、前記のような欠陥検出動作
が繰り返される。なお、この時のリセツト信号を
データ処理部４２は受けるが、この最初のリセツ
ト信号では、バツフアメモリ４０からデータ読込
みは行わない。

以上、本発明の一実施例をフロツピーデイスク
について説明してきたが、本発明の欠陥位置研修
方法は磁気デイスクおよび光デイスクなどにも適
用可能である。

［発明の効果］ 以上の説明から明らかなように、この発明は、
その表面上に円形に規則的に配列されたマークを
有する回転角度測定用円板を、欠陥検査すべきデ
イスク媒体の回転軸と同軸上に装着し、そして、
この回転角度測定用円板に設けられたマークをホ
インタラプタまたはホトセンサのような光検出器
で検出する。

デイスク媒体のトラツクには必ずインデツクス
ポイントが設けられているので、最初にこのイン
デツクスポイントに対応する位置のマークを光検
出器で検出し、次いで、デイスク媒体上の欠陥箇
所に対応する位置のマークを光検出器で検出す
る。インデツクスポイントに対応する第１マーク
位置から欠陥箇所に対応する第２マーク位置まで
光検出器が検出したマーク数に基づき、回転軸を
中心として第１マーク位置から第２マーク位置ま
での回転角θを算出する。

欠陥検査すべきデイスク媒体の回転軸と回転角
度測定用円板の回転軸とは同軸なので、回転角度
測定用円板について求めた回転角θは、デイスク
媒体のインデツクスポイントから欠陥箇所までの
回転角θ′に等しい。

かくして、本発明の欠陥位置検出方法によれば
デイスク媒体の回転変動または回転ムラに影響さ
れることなく欠陥検査を実施できる。その結果、
検査精度が向上するとともに、極めて効率的に検
査を実施できるのでスループツトの向上にも寄与
する。また、検査に対する信頼性も飛躍的に高ま
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の記録媒体欠陥位置検出方式の
一例の構成を示す概要図である。 １０……フロツピーデイスク、１２……ヘツ
ド、１４……ヘツド駆動機構、１６……回転軸、
１８……回転角度測定用円板、２０……微小貫通
孔、２２……光検出器、２２ａ……光源、２２ｂ
……受光部、２４……トラツク、２６……インデ
ツクスポイント、２８……インデツクスポイント
検知機構、３０ａおよび３０ｂ……増幅器、３２
……カウンタ、３４……欠陥箇所、３６……読み
書き制御部、３８……欠陥検出回路、４０……バ
ツフアメモリ、４２……データ処理部。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 欠陥検査すべきデイスク媒体の回転軸と同軸
   上に、表面上に円形に規則的に配列されたマーク
   を有する回転角度測定用円板を装着し、デイスク
   媒体上のインデツクスポイントに対応するマーク
   位置からデイスク媒体上の欠陥箇所に対応するマ
   ーク位置までのマーク数を光検出器により検出
   し、この検出したマーク数に基づいて、検査トラ
   ツクにおけるデイスク媒体上のインデツクスポイ
   ントから欠陥箇所までの角度を算出することによ
   り前記検査トラツク上の欠陥位置を検出すること
   を特徴とする記録媒体の欠陥位置検出方法。 ２ 前記マークは微小貫通孔であり、かつ、前記
   光検出器は光透過型またはホトインタラプタであ
   る特許請求の範囲第１項に記載の記録媒体の欠陥
   位置検出方法。 ３ 前記マークは白黒パターンであり、かつ、前
   記光検出器は反射型またはホトセンサである特許
   請求の範囲第１項に記載の記録媒体の欠陥位置検
   出方法。