JPH0727637B2

JPH0727637B2 - 磁気ディスク欠陥検査装置

Info

Publication number: JPH0727637B2
Application number: JP24025988A
Authority: JP
Inventors: 卓白壁
Original assignee: 日立電子エンジニアリング株式会社
Priority date: 1988-09-26
Filing date: 1988-09-26
Publication date: 1995-03-29
Anticipated expiration: 2010-03-29
Also published as: JPH0287080A

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、磁気ディスク欠陥検査装置（以下サーティ
ファイア）に関し、詳しくは、磁気ディスクの試験トラ
ックに2f周波数（最大周波数）の書込みクロック信号等
をテストデータとして書込み、又は書込みテストデータ
を消去してミッシングエラーや湧き出しエラー（エキス
トラエラー）等を欠陥として検出するサーティファイア
において、欠陥データを効率よく採取でき、そのデータ
処理時間が短くて済むようなその改良に関する。

［従来の技術］コンピュータシステムに使用される磁気ディスク装置
は、その磁気媒体に不均一な欠陥があるときは、書込み
データの記録が不完全となり、ミッシングエラー又はエ
キストラエラー等が発生する。このような欠陥をなくし
て良好な品質を維持し、また、向上させるために、その
生産過程ではサーティファイアにより各種の検査が行わ
れている。そしてその１つに磁気媒体の欠陥検査があ
る。

磁気媒体の欠陥検査は、まず、試験トラックに書込みク
ロック信号（１ビットの連続するビットデータ，テスト
パターン等）のテストデータを書込み、それを読出して
その判定を行い、不良ビット（ミッシング）の個数や長
さを集計してトラックの良否を判定する。また、書込ん
だテストデータを消去してエキストラエラーの判定を行
う。さらに、全トラックにある不良トラックの数により
その等級の判定を行う。そして、このような判定に基づ
いて、磁気ディスクの評価を行い、ある程度以上の欠陥
があると不合格とする。また、サーティファイアを内部
に有するイニシャライザにあってはサーティファイアに
より検出した欠陥データに応じて使用できないセクタ或
いはトラックに対して代替セクタや代替トラックの割り
当て処理、欠陥のスキップ処理などを行い、磁気ディス
クのフォーマッテングをして磁気ディスクを初期化（イ
ニシャライズ）する。

ところで、磁気ディスクに記録されるデータの密度は、
年々向上し、高密度化されてきており、それに応じて前
述のサーティファイア或いはイニシャライザ（サーティ
ファイア＋フォーマッタを含む）が検出してデータ処理
しなければならない欠陥数が従来より一層増加してきて
いる。また、欠陥の長さについても種々のものが生じ
て、コレクトエラーやアンコレクトエラーについても一
様には決定できなくなって来ている。

［解決しようとする課題］磁気ディスクにおいける欠陥についての情報は、通常、
その磁気ディスク上の欠陥位置情報とともに採取される
ため、高密度化されるに従ってその位置を示すデータも
長くなり、かつ欠陥数の増加とともにその数も増加す
る。このことは、欠陥データを記憶するメモリの容量の
増加をまねき、それに加えて、種々の長さの欠陥を管理
することになると、それを解析するデータ処理時間が増
加する。特に、イニシャライズをする場合などには、代
替セクタとか代替トラックのテーブル作成処理等に多く
の時間が必要になり、欠陥の解析効率を低下させてい
る。

この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決
するものであって、欠陥を記憶するメモリの容量が小さ
くて済み、かつ欠陥についての解析処理時間が短くて済
むサーティファイアを提供することにある。

［課題を解決するための手段］この発明のサーティファイアの構成は、試験トラックに
テストデータを書込み、これを読出し、或いは消去して
読出して欠陥を検出する磁気ディスク欠陥検査装置にお
いて、試験トラックをｎバイト単位（ｎは正の整数）に
アドレス付けして欠陥を検出したときに、その欠陥の位
置に対応するアドレス付けされたアドレス値を欠陥位置
データとしてメモリに順次記憶するものである。

［作用］このように、試験トラックをバイト単位にアドレス付け
して管理することで、欠陥データは、バイト単位の位置
データを欠陥対応に記憶すれば済み、欠陥データが試験
トラック上においてバイト対応のものとなることから、
たとえ欠陥数が多くなっても、処理すべき位置データ量
は減少する。また、欠陥がバイト単位の位置として得ら
れることからその後のデータ処理も簡単となる。さら
に、バイト単位の位置データを欠陥に応じて順次記憶す
れば済むため、欠陥データメモリの容量は、１トラック
（或いは総トラック）に対応する最大欠陥数が、それよ
り少し大きい値のものであれば足りる。

したがって、欠陥データメモリの容量が少なくでき、欠
陥解析のデータ処理時間が短くなる。しかも、欠陥解析
処理を行う処理装置側への欠陥データの転送処理時間も
同時に短縮される。

［実施例］以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。

第１図は、この発明によるサーティファイアの欠陥デー
タ抽出回路部分を中心とする一実施例のブロック図、第
２図は、その欠陥データメモリ部の説明図、第３図は、
その動作についての説明図である。なお、これら各図に
おいて、同等の構成要素は同一の符号で示し、その説明
を割愛する。

第１図において、１は、磁気ディスクを１枚づつ駆動す
る磁気ディスク駆動装置であって、そのスピンドルモー
タ２に検査対象となる磁気ディスク３が装着され、磁気
ディスク３が磁気ヘッド４によりアクセスされてデータ
の書込み／読出しが行われる。スピンドルモータ２に
は、その回転軸にエンコーダ５が装着されていて、回転
位置情報がエンコーダ５から回転位置検出回路６に入力
され、回転位置検出回路６で磁気ディスク３の各トラッ
クに記憶されるデータの１ビットに対応して発生するク
ロック信号が生成される。回転位置検出回路６で生成さ
れたこのクロック信号は、次に欠陥データ抽出回路７の
８ビットで一巡する（８進）リングカウンタ８に入力さ
れる。

リングカウンタ８は、回転位置検出回路６からデータの
書込み位置に対応して発生するクロック信号を受けてこ
れをカウントし、８個カウントするごとにカウント完了
信号を出力する。そして、これを１バイト分の検出信号
としてバイトカウンタ11に加える。

バイトカウンタ11は、この１バイト分の検出信号を受け
てそのカウント値が更新され、そのカウント値を欠陥デ
ータメモリ部12に書込みデータとして送出する。このバ
イトカウンタ11は、回転位置検出回路６がインデックス
を検出したとき、そのインデックス検出信号を受けてリ
セットされる。そこで、その各カウント値,0〜ｉ〜ｎ
は、第３図に示すように、試験トラックをバイト単位に
分割してアドレス付けした各アドレスを示す。そして、
欠陥が発生したときに、その位置に対応するアドレス値
ｉが後述するように欠陥データメモリ部12の欠陥データ
メモリ12cに送出されて記憶される。

書込み／読出し制御回路９は、検査シーケンス制御回路
13の制御に応じてヘッドキャリッジ（図示せず）を制御
して磁気ヘッド４を所定の試験トラックに位置決めし、
そのトラックに対するデータの書き込み／読出しの制御
を行い、読出信号をエラー検出回路10に送出する。

エラー検出回路10は、前記の読出信号からエラーを検出
したときに、エラー検出信号S₁とミッシングエラー，ピ
ークシフトエラー，モジュレーションエラー，エキスト
ラエラー等の検出エラーの種別を示す種別データS₂とを
発生して、これらの信号を欠陥データメモリ部12に送出
する。なお、エキストラエラーの検出の場合には、試験
トラックに書込まれたテストデータが一旦消去されてデ
ータの読出しが行われるので、このとき検出されるエラ
ーはエキストラエラー１種類となる。

マイクロプロセッサ（MPU）15は、プログラムで制御さ
れ、バス14を介して欠陥データ抽出回路７と検査シーケ
ンス制御回路13とを制御する。検査シーケンス制御回路
13は、MPU15からの試験トラック番号等を指定したテス
ト指令に応じて動作し、磁気ディスク駆動装置１と欠陥
データ抽出回路７の書込み／読出し制御回路９とを制御
する。

そこで、欠陥検査に際しては、まず、MPU15の制御に応
じて動作する検査シーケンス制御回路13により磁気ディ
スク駆動装置１と書込み／読出し制御回路９とが制御さ
れ、2f周波数の書込みクロック信号（或いはその他のテ
ストパターン）のテストデータが磁気ヘッド４により磁
気ディスク３の指定された試験トラックに書込まれる。
ついで、書込まれたテストデータが磁気ヘッド４により
試験トラックから読出されて、書込み／読出し制御回路
９を経てエラー検出回路10に入力され、ここで、基準レ
ベル若しくはウインドパルス信号と読出し信号若しくは
そのパルス化信号とが比較されて前記のミッシングエラ
ー，ピークシフトエラー，モジュレーションエラー，エ
キストラエラー等の各種のエラー検出が行われる。

第２図は、このエラー検出に応じてエラー検出回路10か
ら得られるエラー検出信号S₁,エラーの種別データS₂と
を受ける欠陥データメモリ部12の詳細を示していて、欠
陥データメモリ部12は、データレジスタ12aとアドレス
カウンタ12bと欠陥データメモリ12cとを有している。デ
ータレジスタ12aは、バイトカウンタ11のカウント値と
前記のエラー検出回路10からの検出エラーの種別を示す
種別データS₂とを受けてこれらをラッチする。欠陥デー
タメモリ12cは、エラー検出信号S₁を書込み信号として
受けてラッチしたデータレジスタ12aのデータをアドレ
スカウンタ12bが示すアドレスへ記憶する。そして、ア
ドレスカウンタ12bは、この書込み後のタイミングでエ
ラー検出信号S₁によりその書込みアドレスがインクリメ
ントされて更新される。その結果、次のエラー検出信号
S₁に応じて次のデータが欠陥データメモリ12cの更新さ
れたアドレスに記憶されることになる。

欠陥データメモリ12cは、欠陥位置記憶欄121とエラー種
別欄122,123,124,・・・とで構成されていて、欠陥位置
記憶欄121には、データレジスタ12aに記憶された前記デ
ータのうち欠陥のあるバイトカウンタ11の値（aaaa,bbb
b,cccc,・・・）がエラー検出信号S₁ごとに、言い換え
れば、欠陥検出ごとに欠陥位置記憶欄121に順次記憶さ
れていく。このとき同時に、エラー種別欄122,123,124,
・・・には、前記の種別データS₂が対応して書込まれ
る。この書込みは、種別データS₂のデータの各ビット位
置が各欄に対応して配置されるように行われ、エラーの
種類に対応する各エラー種別欄122,123,124,・・・に１
ビットの情報が種別のフラグ情報として記憶されるもの
となり、これが“1"となっているところに、割り当てら
れた種別のエラーがあることが示される。

したがって、欠陥データメモリ12cには、欠陥が検出さ
れる都度、その位置データと欠陥の種別を示すフラグ情
報とが対応して記憶されて行く。そして、このときの各
位置データは、第３図に示されるように、試験トラック
をバイト単位で分解してアドレス付けした場合の欠陥の
ある位置を示すデータである。このことからそのデータ
の長さはバイト単位に分割していないときよりも短くな
る。すなわち、欠陥についてのデータ量がビット単位か
らバイト単位となるため、1/8に圧縮される。さらに、
欠陥検出ごとに位置データを記憶するため、１トラック
ごとに欠陥データを記録する欠陥データメモリ12cで
は、その１トラックにおける最大欠陥の個数分又はそれ
より少し多いだけのデータ記憶容量があればよい。ま
た、欠陥データメモリ12cが磁気ディスク３の試験トラ
ック全体についての欠陥データを記憶するようなもので
は、欠陥データメモリ12cの容量は、検査対象となる磁
気ディスク３の最大欠陥発生数と等しいかそれよりも大
きく採れば足りる。したがって、解析処理を行うMPU15
側へのデータ転送時間もそれだけ短くなり、しかも、こ
のときの欠陥データとしては、欠陥の位置そのものが欠
陥の種別対応にバイト単位で得られるので、その後の解
析処理が簡単なものとなる。

ここで、MPU15が１試験トラック対応に欠陥データを欠
陥データメモリ12cから採取するものとすると、試験ト
ラックの１周分のデータが欠陥データメモリ部12の欠陥
データメモリ12cに記憶される都度、検査シーケンス制
御回路13の制御の応答信号をMPU15が受けて、これに応
じてMPU15は、バス14を介して欠陥データメモリ12の１
トラック分の欠陥データを読出し、そのデータを内部メ
モリ16に転送して試験トラック対応にそのデータを記憶
する。

その結果、検査が終了した時点では、磁気ディスク３の
すべてのトラックについての欠陥データが各試験トラッ
ク対応にかつバイト単位のアドレスで管理されて内部メ
モリ16の所定の領域に記憶されていることになる。

そこで、MPU15は、内部メモリ16に記憶されたこの欠陥
データを欠陥解析処理プログラムに従って読出し、この
バイト単位にアドレス付けされて管理された欠陥データ
の欠陥解析処理を行うことができる。この場合、欠陥位
置がバイト単位のアドレスとなっているので、セクタと
かトラックについて代替セクタ或いは代替トラックを割
り当てて使用できるか否かの判定、細部のビット単位で
の試験がさらに必要か否かの判定が容易となる。使用不
可のトラックでも、再度のビット単位の検査によって
は、使用可能なトラックとなるようなものについての判
定も簡単にできる。そして、このようなトラックについ
ては、再度検査対象となるセクタ或いはトラックについ
てのみビット単位の詳細な欠陥検査をすることができ
る。このことで、歩留まりを向上させることができ、ト
ータルな検査時間、欠陥データ解析時間全体を短縮させ
ることができる。

以上説明してきたが、実施例では、検出する欠陥に対応
して欠陥の種別を記憶するようにしているが、エラー検
出回路がエキストラエラーのような単一の指定された欠
陥を検出するような場合には、検出回路で欠陥の種別信
号を発生する必要はなく、また、欠陥データメモリにお
いて欠陥の種別を欠陥位置に対応して記憶する必要もな
い。なお、単一の欠陥についてそれぞれ欠陥データメモ
リに記憶するような場合には、検出する欠陥の種類に応
じてそれぞれ別の記憶エリアを割り当ててるようにして
もよい。

したがって、実施例におけるエラー検出回路は、種別に
応じた欠陥を検出する機能がなくてもよく、バイト単位
で管理された同一アドレスにおいて複数の種類の欠陥が
ある場合には種別分けせずに１つの欠陥としてそれらを
取扱えばよい。これは、最初の欠陥が検出されたときに
そのアドレスを欠陥データメモリに記憶すればよく、例
えば、最初の欠陥が検出された時点で次のアドレスに更
新されるまで欠陥のアドレスを記憶しないようにすれば
よい。すなわち、そのような回路は、次に欠陥がけ出さ
れたとしてもその欠陥についての検出信号を阻止する回
路を設けるだけで簡単に実現できる。

実施例では、欠陥の位置データとして試験トラックを１
バイト単位で管理してアドレス付けして欠陥位置として
いるが、これは、ｎバイト（ｎは正の整数）単位に行え
ればよく、この発明は１バイトのアドレス管理に限定さ
れるものではない。ところで、この発明は、ハードディ
スクに限らず、いわゆるフレキシブルディスクについて
も適用もできることはもちろんである。

［発明の効果］以上のように、この発明にあっては、試験トラックをバ
イト単位にアドレス付けして管理することで、欠陥デー
タは、バイト単位の位置データを欠陥対応に記憶すれば
済み、欠陥データが試験トラック上においてバイト対応
のものとなることから、たとえ欠陥数が多くなっても、
処理すべき位置データ量は減少する。また、欠陥がバイ
ト単位の位置として得られることからその後のデータ処
理も簡単となる。さらに、バイト単位の位置データを欠
陥に応じて順次記憶すれば済むため、欠陥データメモリ
の容量は、１トラック（或いは総トラック）に対応する
最大欠陥数か、それより少し大きい値のものであれば足
りる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明によるサーティファイアの欠陥デー
タ抽出回路部分を中心とする一実施例のブロック図、第
２図は、その欠陥データメモリ部の説明図、第３図は、
その動作についての説明図である。１……磁気ディスク駆動装置、２……スピンドルモー
タ、３……磁気ディスク、４……磁気ヘッド、５……エ
ンコーダ、６……回転位置検出回路、７……欠陥データ
抽出回路、８……リングカウンタ、９……書込み／読出
し制御回路、10……エラー検出回路、11……バイトカウ
ンタ、12……欠陥データメモリ部、13……検査シーケン
ス制御回路、14……バス、15……マイクロプロセッサ
（MPU）、16……内部メモリ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試験トラックにテストデータを書込み、こ
れを読出し、或いは消去して読出して欠陥を検出する磁
気ディスク欠陥検査装置において、前記試験トラックを
ｎバイト単位（ｎは正の整数）にアドレス付けして欠陥
を検出したときに、その欠陥の位置に対応する前記アド
レス付けされたアドレス値を欠陥位置データとしてメモ
リに順次記憶することを特徴とする磁気ディスク欠陥検
査装置。