JPS6356570B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は外部記憶装置として使用される磁気デ
イスク装置等の記憶装置の試験方式に関し、特に
に記憶装置に試験用データを書込み、これを読出
して記憶装置の正常性を試験するものに関する。

情報処理システムの外部記憶装置として使用さ
れる磁気デイスク装置などにおいては、特に情報
を記憶する記録媒体の欠陥や、記録／再生回路な
どのマージンの試験を行うために、試験用データ
を書込み、それを読み出し正常に記録／再生が出
来たかを試験することが行われている。

このような記憶装置においては、例えば１トラ
ツクに試験用データを記憶するとしても最近の大
容量化に伴い、多量のデータが記憶できるため、
単純には試験用データが多量に必要となる。

また、試験の項目として例えば、記録媒体の欠
陥を検出することを想定した場合に、試験用デー
タを一種類記録するだけでは、欠陥を検出するこ
とが出来ず、複数の試験用データを記録する必要
があり、また記録／再生回路のマージン試験では
また欠陥を調べるための試験用データとは異なる
データを記録する必要がある。

このような磁気デイスク装置などのような記憶
装置の試験においては、試験用のデータの量およ
びパターンの種類が多く必要であるため、これら
の試験をハードウエアを増加させずにしかも単時
間で試験が行える試験方式が要望されている。

(2) 従来技術とその問題点 従来の記憶装置の試験方式としては、試験用デ
ータを試験装置内部に蓄えておき、このデータを
記憶装置に書込み、その後続み出して記憶装置に
蓄えられている試験用データと比較することによ
り各種の試験を行つている。

また、例えば特開昭52−47345号公報や特開昭
57−43252号公報に開示されているように記憶装
置に書き込むべきデータは、所定の繰り返しパタ
ーンが多いことに着目し、１周期の試験用パター
ンデータのみを発生するように構成しておき、こ
れを繰り返し使用することも行われている。

確かに従来の方法においては、一つの試験用デ
ータに着目した場合には、試験用データ長を減少
させることが出来る。

しかしながら、例えば、磁気デイスク装置の各
トラツクに異なる試験用データを記憶するような
場合には、記憶すべき試験用データすべてを試験
装置に格納しておく必要があり、試験装置のハー
ドウエアが増大するという欠点がある。

また、一つの試験用パターンデータのみを記憶
装置に書込み、読み出しして試験を行い、このこ
れを試験１周期として、次に試験すべき試験用パ
ターンを試験装置にロードして、同様に試験をお
こない、これを繰り返すことによつて試験を行う
方法も考えらるが、この方法では確かに試験装置
のハードウエアは減少するが、試験時間が長くな
るという欠点がある。

(3) 発明の目的 本発明は従来の問題点に鑑み、任意のデータパ
ターンにより書込み／読み出しを行い、データの
正常性を試験する時には、書込みデータを意識す
ることなく、試験を行うことが出来る記憶装置の
試験方式を提供することを目的とする。

(4) 発明の構成 本発明は、上記目的を達成するために、記憶装
置に対して試験用データを書込み、該書込まれた
該試験用データを読出して記憶装置の正常性を試
験する記憶装置の試験方式であつて、前記記憶装
置に書き込むための試験用データとして前記記憶
装置に書込むべきデータ長よりはるかに短い任意
のパターンのデータが記憶される第１のメモリ
と、前記第１のメモリと等しい記憶容量を有し、
前記記憶装置から読出されたデータが記憶される
第２のメモリと、前記記憶装置より読み出された
データを記憶する第３のメモリと、前記第２のメ
モリと第３のメモリの内容を読み出し比較する比
較回路とを備え、 前記記憶装置に対して、前記第１のメモリに格
納された試験用データを繰り返し書込んだ後、前
記記憶装置に書き込まれたデータを読み出して第
３のメモリに格納するとともに、読み出し当初か
ら前記第１のメモリに格納されたデータ長と等し
いデータ長分を第２のメモリに格納し、その後、
前記第２のメモリを繰り返し読み出しながら第３
のメモリに記憶された内容を順次読み出して比較
することにより前記記憶装置の正常性を試験する
ことによつて達成される。

(5) 発明の実施例 第１図は、本発明の記憶装置の試験方式を実現
するための一実施例であり、第２図は本発明の記
憶装置の読み出しデータの正常性の試験手法を説
明するための図である。

第１図において、１は試験対象装置であり、磁
例えば磁気デイスク装置である。

２はビツト／バイト変換回路であり、試験用デ
ータを磁気デイスク装置に書き込むためにバイト
単位の試験用データをビツト単位に変換し、磁気
デイスク装置から読み出されたビツト単位のデー
タをバイト単位のデータに変換するための回路で
ある。

３はバイトカウンタであり、バイト単位のデー
タを読み出し、書込みするためのアドレスを指定
するためのカウンタである。

４は書込みデータメモリ（第１のメモリ）であ
り、かきたみデータパターン（試験用データ）例
えば16バイトを書き込むメモリである。

５は比較データメモリ（第２のメモリ）であ
り、読み出しデータのうち最初の16バイト分を記
憶するメモリである。

６は読み出しデータメモリ（第３のメモリ）で
あり、試験装置１から読み出されたデータを記録
する例えば256バイトのメモリである。

７は、制御用プロセツサであり、全体の制御お
よび、試験用データのメモリ４へのローデイング
等を行うものである。

８は比較回路であり、メモリ５の内容とメモリ
６の内容を比較するものである。

以下に上記の構成を使用した記憶装置に対する
書込み／読み出し試験のついて説明する。

(a) 記憶装置に対する試験用データの書込み。

まず、制御用プロセツサ７よりデータバス
を経由して、書込みデータメモリ４に試験用
データを書き込む。

この試験用データのデータパターンとして
は、例えば“12341234………1234”と書き込
むための基となる“1234”というデータが記
録される。

次に書込みデータメモリ４より試験装置に
データを書き込む。

即ち、書込みデータメモリ４にバイトカウ
ンタ３よりアドレスバスを経由してアドレス
を送出し、１バイト目を読み出して、データ
バスを経由してビツト／バイト変換回路２に
入力し、１バイトのデータをビツト変換して
試験対象装置１に順次送出して書き込む。次
に、バイトカウンタ３をインクリメントする
ことにより書込みデータメモリ４にアドレス
バスをアドレスを送出し、２バイト目を読み
出して、データバスを経由してビツト／バイ
ト変換回路２に入力し、１バイトのデータを
ビツト変換して試験対象装置１に順次送出し
て書き込む。これを繰り返すことにより、16
バイト分のデータを試験対象装置１に書込
み。

バイトカウンタ３は、例えば８ビツトカウ
ンタより構成されており、下位４ビツトのみ
をインクリメントさせることにより16バイト
分カウントするとまた零に戻るため、１バイ
ト目のアドレスを指定することになるため、
これを上記のように下位４ビツトのみを繰り
返しインクリメントすることによつて、前記
データメモリ４の16バイトのデータを繰り返
し試験対象装置１に書き込むことが可能とな
る。

例えば、試験対象装置１が磁気デイスク装
置の場合で、かつ１セクタに記憶されるデー
タ数が256バイトである場合、16回繰り返す
ことによりデータの書込みが完了する。

尚、これで１セクタに対するデータの書込
みが完了するが、別のトラツクにデータを書
き込む場合には、さらに制御用プロセツサ７
から別の試験用データを書込みデータメモリ
４に格納し、上記と同じ操作を行うことによ
り、データの書込みを行うことが出来る。

(b) 記憶装置からのデータの読み出し試験 次に、先のステツプにより試験対象記憶装
置１に記憶されたデータを読み出す。

この読み出し動作は、最初比較データメモ
リ５及び、読み出しデータメモリ６を指定し
て、８ビツトより構成されるバイトカウンタ
３により１バイト目のアドレスをアドレスバ
スを経由して指定し、試験対象記憶装置１か
ら読み出されたビツト単位のデータをバイ
ト／ビツト変換回路２でバイト単位のデータ
に変換しデータバスを経由してそれぞれに格
納する。

これを上述したようにバイトカウンタ３の
操作により順次アドレスを切り換え指定して
16バイト分のデータの読み出し格能を完了す
る。

その後、17バイト目からは、読み出しデー
タメモリ６のみを指定して、バイトカウンタ
３により17バイト目のアドレスをアドレスバ
スを経由して指定し、試験対象記憶装置１か
ら読み出されたビツト単位のデータをバイ
ト／ビツト変換回路２でバイト単位のデータ
に変換しデータバスを経由して読み出しデー
タメモリ６のみに格納を続け、１セクタ分の
データ256バイトの読み出しが完了するまで
続けられる。

次に、読み出しデータの正常性を試験は、
下記の方法によつて行われる。

即ち、比較データメモリは、バイトカウン
タ３の下位４ビツトによりアドレスがインク
リメントされて１バイト単位のデータが読み
出され、比較回路８に送られる。

一方、読み出しデータメモリ６は、バイト
カウンタ３の８ビツト全ビツトによりアドレ
スがインクリメントされて、１バイト単位の
データが順次読み出され、比較器８に送るら
れる。

従つて、比較器８においては、比較データ
メモリ５からは、16バイト単位の繰り返しデ
ータが送られ、読み出しデータメモリから
は、順次256バイト分のデータが送られてく
ることになる。

そして、この比較回路８において両者のデ
ータが比較されるため、読み出しデータの正
常性を判断することが出来る。

そして、比較の結果一致しなかつた場合に
は、その時のバイトカウンタ３の値を制御用
プロセツサ７に不一致の通知とともに取り込
むことにより異常のあつた位置を判別するこ
とが出来る。

さらにこの値より比較データメモリ５およ
び読み出しデータメモリ６をアクセスするこ
とにより、比較データエラーのデータを知る
ことが出来る。

次に第２図を使用して本発明の比較原理に
ついて説明する。

本発明の特徴は、試験対象記憶装置に対し
て所定の長さ（この例では16バイト）の試験
用データを繰り返して書き込むように構成し
ている。

従つて、書き込むまれたデータは、必ず16
バイトの繰り返しパターンとなつている。

このように書込みを行つておくと、試験対
象記憶装置から読み出されたどのような試験
用データパターンであつても16バイトの繰り
返しのデータパターンが正常なパターンであ
る。

従つて、この繰り返し単位と等しいデータ
単位の比較データメモリを用意し、最初に読
み出されたデータをこの比較データメモリに
記憶しておき、 このデータを使用して、その後に読み出さ
れるデータを比較すれば、読み出しデータの
みで正常性の試験を行うことが可能となる。

例えば第２図に示すように読み出しデータ
が：“1234”の繰り返しで記録されていると
すると、最初の“1234”のみを比較データメ
モリに格納しておき、その後この比較データ
メモリの内容と読み出しデータとを比較する
ことによつてデータの正常性を判断すること
が出来る。

(6) 発明の効果 異常説明したように、本発明の記憶装置の試験
方式によれば、試験用データとして書込むデータ
は、任意のデータパターンを繰り返して書き込む
のみで良く、データの読み出しの時には、書込み
データパターンを何等意識せずに比較試験が可能
となつたため、試験機の構成を簡単にすることが
可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る記憶装置の試験方式を実
現するための一実施例、第２図は読み出しデータ
として使われる繰り返しデータの一例を説明する
図である。 図において１は試験対象記憶装置、２はビツ
ト／バイト変換回路、３はバイトカウンタ、４は
書込みデータメモリ、５は比較データメモリ、６
は読み出しデータメモリ、７は制御用プロセツ
サ、８は比較回路をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 記憶装置に対して試験用データを書込み、該
   書込まれた該試験用データを読出して記憶装置の
   正常性を試験する記憶装置の試験方式であつて、 前記記憶装置に書き込むための試験用データと
   して前記記憶装置に書込むべきデータ長よりはる
   かに短い任意のパターンのデータが記憶される第
   １のメモリと、 前記第１のメモリと等しい記憶容量を有し、前
   記記憶装置から読出されたデータが記憶される第
   ２のメモリと、 前記記憶装置より読み出されたデータを記憶す
   る第３のメモリと、 前記第２のメモリと第３のメモリの内容を読み
   出し比較する比較回路と、 を備え、 前記記憶装置に対して、前記第１のメモリに格
   納された試験用データを繰り返し書込んだ後、 前記記憶装置に書き込まれたデータを読み出し
   て第３のメモリに格納するとともに、読み出し当
   初から前記第１のメモリに格納されたデータ長と
   等しいデータ長分を第２のメモリに格納し、 その後、前記第２のメモリを繰り返し読み出し
   ながら第３のメモリに記憶された内容を順次読み
   出して比較することにより前記記憶装置の正常性
   を試験するようにしたことを特徴とする記憶装置
   の試験方式。