JPH0249669B2 - - Google Patents
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- JPH0249669B2 JPH0249669B2 JP59099168A JP9916884A JPH0249669B2 JP H0249669 B2 JPH0249669 B2 JP H0249669B2 JP 59099168 A JP59099168 A JP 59099168A JP 9916884 A JP9916884 A JP 9916884A JP H0249669 B2 JPH0249669 B2 JP H0249669B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 25
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は、記録媒体に規定電流以上の電流で所
定データを書込み、この所定データの再生レベル
の状態あるいは位相の状態により該記録媒体の欠
陥を検索する記録媒体の検査方法に関する。
定データを書込み、この所定データの再生レベル
の状態あるいは位相の状態により該記録媒体の欠
陥を検索する記録媒体の検査方法に関する。
(b) 技術の背景
情報処理システムに組込まれている外部記憶装
置等に使用される記録媒体上に記録されるデータ
は、重要なデータが記録されているため高信頼性
な記録媒体が要求される。そのため、例えば磁気
デイスクの場合は、(1)磁気デイスク単体での検
査、(2)磁気デイスク装置に組込まれた状態での検
査を行い出荷され、更にエラーの発生状況によ
り、(3)システムに組込まれた状態での磁気デイス
ク表面検査ルーテンでの検査が実施出来るように
なつている。
置等に使用される記録媒体上に記録されるデータ
は、重要なデータが記録されているため高信頼性
な記録媒体が要求される。そのため、例えば磁気
デイスクの場合は、(1)磁気デイスク単体での検
査、(2)磁気デイスク装置に組込まれた状態での検
査を行い出荷され、更にエラーの発生状況によ
り、(3)システムに組込まれた状態での磁気デイス
ク表面検査ルーテンでの検査が実施出来るように
なつている。
しかし、記録媒体の欠陥は常に記録媒体欠陥と
して簡単に発見されるものばかりではなく、間欠
的にデータエラーとなり最終段階までに発見され
ないものがある。一方、欠陥個所の発見時点とし
ては出来るだけ単体の状態で発見されることが望
ましい。
して簡単に発見されるものばかりではなく、間欠
的にデータエラーとなり最終段階までに発見され
ないものがある。一方、欠陥個所の発見時点とし
ては出来るだけ単体の状態で発見されることが望
ましい。
上記状況から、記録媒体単体又は装置に組込ま
れた状態までに発見される記録媒体欠陥の発見率
がより高率になる検査方法の実用化が要望される
ようになつた。
れた状態までに発見される記録媒体欠陥の発見率
がより高率になる検査方法の実用化が要望される
ようになつた。
(c) 従来技術と問題点
次に従来技術として、磁気デイスクの従来の欠
陥検査方法を図面を参照して説明する。
陥検査方法を図面を参照して説明する。
第１図は従来の磁気デイスクの欠陥検査方法を
示す。
示す。
第１図は磁気デイスク７にデータを書込む書込
みヘツド１、 磁気デイスク７に書込まれたデータを読取る読
取りヘツド２、 書込みヘツド１にデータ書込み電流を出力する
書込み増幅回路３、 読取りヘツド２で読取つたデータを所定レベル
幅に増幅する読取り増幅回路４、 磁気デイスク７検査用データを発生する書込み
データ発生回路５、 書込みデータ発生回路５からの出力データご書
込みヘツド１で書込むための電流を供給する書込
み電流供給回路６、 所定データを記録保持する磁気デイスク７、 読取り増幅回路４の出力レベルと位相余裕度を
もとに磁気デイスク７の欠陥を検索する試験装置
８、 から構成されている。
みヘツド１、 磁気デイスク７に書込まれたデータを読取る読
取りヘツド２、 書込みヘツド１にデータ書込み電流を出力する
書込み増幅回路３、 読取りヘツド２で読取つたデータを所定レベル
幅に増幅する読取り増幅回路４、 磁気デイスク７検査用データを発生する書込み
データ発生回路５、 書込みデータ発生回路５からの出力データご書
込みヘツド１で書込むための電流を供給する書込
み電流供給回路６、 所定データを記録保持する磁気デイスク７、 読取り増幅回路４の出力レベルと位相余裕度を
もとに磁気デイスク７の欠陥を検索する試験装置
８、 から構成されている。
通常、磁気デイスク７の欠陥検索は磁気デイス
ク７単体時点と磁気デイスク７を装置に実装した
デイスクエンクロージヤ状態とで行う。又検査項
目としては読取りレベルを基にしたテスト、即ち (1) ミツシングテスト（本来、読取り増幅回路４
の出力レベルは或る幅を持つて均一の出力レベ
ルが確保されるが規定値以下となり再生不可能
個所の有無のテスト）， (2) エキストラテスト（記録媒体上で消去された
部分に擬似信号がある場合、その振幅がある一
定値を越えた個所がないかどうかのテスト）， (3) モジユレーシヨンテスト（記録媒体上の塗膜
の不均一状態により規定周波数、規定レベルの
書込みデータが他の周波数で変調された状態で
読取られ、その変調度合が一定規格内にあるか
どうかのテスト）と， 主としてデイスクエンクロージヤ状態で行う
位相余裕度テスト（読取つたデータパルスを取
出すためのウインド対データパルスが最適位相
位置に対してデータエラーとなるまでの位相余
裕度）とがある。
ク７単体時点と磁気デイスク７を装置に実装した
デイスクエンクロージヤ状態とで行う。又検査項
目としては読取りレベルを基にしたテスト、即ち (1) ミツシングテスト（本来、読取り増幅回路４
の出力レベルは或る幅を持つて均一の出力レベ
ルが確保されるが規定値以下となり再生不可能
個所の有無のテスト）， (2) エキストラテスト（記録媒体上で消去された
部分に擬似信号がある場合、その振幅がある一
定値を越えた個所がないかどうかのテスト）， (3) モジユレーシヨンテスト（記録媒体上の塗膜
の不均一状態により規定周波数、規定レベルの
書込みデータが他の周波数で変調された状態で
読取られ、その変調度合が一定規格内にあるか
どうかのテスト）と， 主としてデイスクエンクロージヤ状態で行う
位相余裕度テスト（読取つたデータパルスを取
出すためのウインド対データパルスが最適位相
位置に対してデータエラーとなるまでの位相余
裕度）とがある。
上記テストのためのデータの書込みは、いずれ
もユーザデータ書込みに最適と思われる書込み電
流でテストデータを記録し、そのテストデータを
読取つて欠陥テストを行つていた。しかし、最適
書込み電流では微少な欠陥個所が存在する場合、
その欠陥個所が必ずしも発見出来ないと言う欠点
があつた。
もユーザデータ書込みに最適と思われる書込み電
流でテストデータを記録し、そのテストデータを
読取つて欠陥テストを行つていた。しかし、最適
書込み電流では微少な欠陥個所が存在する場合、
その欠陥個所が必ずしも発見出来ないと言う欠点
があつた。
(d) 発明の目的
本発明は、上記欠点を解消した新規な記録媒体
の検査方法を提供することを目的とし、特に最適
書込み電流では発見しにくい微少な欠陥個所も的
確に発見することが可能な記録媒体の検査方法を
実現することにある。
の検査方法を提供することを目的とし、特に最適
書込み電流では発見しにくい微少な欠陥個所も的
確に発見することが可能な記録媒体の検査方法を
実現することにある。
(e) 発明の構成
本発明は、書込みヘツドに規定電流を流すこと
により所定データを記録媒体に書込み、その所定
データを読取りヘツドにより記録媒体から読取
り、読取りヘツドからの再生出力のレベルの状態
あるいは位相の状態により該記録媒体の欠陥を検
索する記録媒体の検査方法であつて、該記録媒体
に所定データを書込む時に、前記書込みヘツドに
流す書込み電流を規定電流に所定電流を付加して
所定データを書込み、読取りヘツドからの再生出
力の低下あるいは位相余裕度の低下を検出して記
録媒体の欠陥を検索することを特徴とする記録媒
体の検査方法により達成することが出来る。
により所定データを記録媒体に書込み、その所定
データを読取りヘツドにより記録媒体から読取
り、読取りヘツドからの再生出力のレベルの状態
あるいは位相の状態により該記録媒体の欠陥を検
索する記録媒体の検査方法であつて、該記録媒体
に所定データを書込む時に、前記書込みヘツドに
流す書込み電流を規定電流に所定電流を付加して
所定データを書込み、読取りヘツドからの再生出
力の低下あるいは位相余裕度の低下を検出して記
録媒体の欠陥を検索することを特徴とする記録媒
体の検査方法により達成することが出来る。
(f) 発明の実施例
以下本発明を図面を参照して説明する。
第２図は本発明に係る一実施例である磁気デイ
スクの欠陥検査方法例、第３図は書込み電流対出
力レベル特性図、第４図は書込み電流対位相余裕
度特性図をそれぞれ示す。
スクの欠陥検査方法例、第３図は書込み電流対出
力レベル特性図、第４図は書込み電流対位相余裕
度特性図をそれぞれ示す。
図において、Iaは正規書込み電流、ΔIaは増加
書込み電流、SWはスイツチをそれぞれ示し、又
全図を通じて同一記号は同一対象物又は内容を示
す。
書込み電流、SWはスイツチをそれぞれ示し、又
全図を通じて同一記号は同一対象物又は内容を示
す。
尚第３図Ａ，Ｂの縦軸は読取り増幅回路４の出
力レベル、第３図Ａの横軸は時間ｔ、第３図Ｂの
横軸は書込み電流を示し、ａは飽和電流位置、ｂ
は正規電流Ia位置、ｃはテスト書込み電流（Ia＋
ΔIa）位置、ｄは正規電流Iaで書込んだ時に発見
される欠陥部分の正規レベルに対する低下したレ
ベル差（点線部分）、d′はテスト書込み電流（Ia
＋ΔIa）で書込んだ時に発見される欠陥部分の正
規レベルに対する低下したレベル差（実線部分）、
Ｌ１，Ｌ２は読取り増幅回路４で出力する正規レ
ベル、の実線は正常部分の特性、の点線は異
常部分の特性をそれぞれ示す。
力レベル、第３図Ａの横軸は時間ｔ、第３図Ｂの
横軸は書込み電流を示し、ａは飽和電流位置、ｂ
は正規電流Ia位置、ｃはテスト書込み電流（Ia＋
ΔIa）位置、ｄは正規電流Iaで書込んだ時に発見
される欠陥部分の正規レベルに対する低下したレ
ベル差（点線部分）、d′はテスト書込み電流（Ia
＋ΔIa）で書込んだ時に発見される欠陥部分の正
規レベルに対する低下したレベル差（実線部分）、
Ｌ１，Ｌ２は読取り増幅回路４で出力する正規レ
ベル、の実線は正常部分の特性、の点線は異
常部分の特性をそれぞれ示す。
又第４図Ｂの縦軸は位相余裕度、横軸は書込み
電流を示し、a′は飽和電流位置、b′は正規電流Ia
位置、c′はテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）位置、
Ｓは正規電流Iaで書込んだ時の欠陥部分の位相余
裕度、S′はテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）で書込
んだ時の欠陥部分の位相余裕度、ΔSは正規電流
Iaで書込んだ時の欠陥部分の正常部分の位相余裕
度からの位相余裕度の低下量、ΔS′はテスト書込
み電流（Ia＋ΔIa）で書込んだ時の欠陥部分の正
規位相位置からの位相ずれ、′の実線は正常部
分の特性、′の点線は異常部分の特性、はデ
ータパルス、はウインドパルスをそれぞれ示
す。
電流を示し、a′は飽和電流位置、b′は正規電流Ia
位置、c′はテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）位置、
Ｓは正規電流Iaで書込んだ時の欠陥部分の位相余
裕度、S′はテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）で書込
んだ時の欠陥部分の位相余裕度、ΔSは正規電流
Iaで書込んだ時の欠陥部分の正常部分の位相余裕
度からの位相余裕度の低下量、ΔS′はテスト書込
み電流（Ia＋ΔIa）で書込んだ時の欠陥部分の正
規位相位置からの位相ずれ、′の実線は正常部
分の特性、′の点線は異常部分の特性、はデ
ータパルス、はウインドパルスをそれぞれ示
す。
本実施例は第１図にて説明した従来の構成部分
と、 スイツチSW操作にて増加書込み電流ΔIaを書
込み増幅回路３に供給する増加電流供給回路９、 とから構成されている。
と、 スイツチSW操作にて増加書込み電流ΔIaを書
込み増幅回路３に供給する増加電流供給回路９、 とから構成されている。
次に本実施例による磁気デイスク７の欠陥検査
方法につき説明する。
方法につき説明する。
磁気デイスク７の欠陥検査用データを書込みデ
ータ発生回路５より出力し、磁気デイスク７に書
込む場合、正規書込み電流Iaに増加書込み電流
ΔIaを付加したテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）で
書込む。尚増加書込み電流ΔIaは正規書込み電流
Iaの10％〜100％とする。
ータ発生回路５より出力し、磁気デイスク７に書
込む場合、正規書込み電流Iaに増加書込み電流
ΔIaを付加したテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）で
書込む。尚増加書込み電流ΔIaは正規書込み電流
Iaの10％〜100％とする。
このテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）で書込んだ
データを読取つた時のレベルを第３図に示すよう
に正常部分の特性と異常部分の特性を比較す
ると、正規書込み電流Iaにて書込んだ場合に現れ
る正常部分の特性と異常部分の特性の差がが
ｄからd′となり、その差が顕著に現れる。
データを読取つた時のレベルを第３図に示すよう
に正常部分の特性と異常部分の特性を比較す
ると、正規書込み電流Iaにて書込んだ場合に現れ
る正常部分の特性と異常部分の特性の差がが
ｄからd′となり、その差が顕著に現れる。
即ち、第３図Ｂの書込み電流対出力レベルの特
性図で見た場合、正規書込み電流Iaで書込んだ時
正常部分のレベルに対して異常部分のレベル
が例えば90％のレベル低下ｄであつたものが、増
加書込み電流ΔIaを付加したテスト書込み電流
（Ia＋ΔIa）で書込んだ時は、80％のレベル低下
d′となりｃ項で説明した各テストで欠陥個所が発
見されやすくなる。
性図で見た場合、正規書込み電流Iaで書込んだ時
正常部分のレベルに対して異常部分のレベル
が例えば90％のレベル低下ｄであつたものが、増
加書込み電流ΔIaを付加したテスト書込み電流
（Ia＋ΔIa）で書込んだ時は、80％のレベル低下
d′となりｃ項で説明した各テストで欠陥個所が発
見されやすくなる。
又第３図Ａのｄ、d′はピーク値が発生する時間
は変化しない場合であるが、欠陥の状態によつて
はピーク値が発生する時間が変化する即ちピーク
シフトが発生する場合がある。このような場合に
は、第４図に示すように、正規書込み電流Iaで書
込んだ時、正常部分′での位相余裕度に対して
異常部分′の位相余裕度（点線で示す）はΔSだ
けの位相余裕度の低下量であつたが、増加書込み
電流ΔIaを付加したテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）
で書込んだ時はその位相余裕度の低下量がΔS′と
なり、位相ずれが顕著に現れている。
は変化しない場合であるが、欠陥の状態によつて
はピーク値が発生する時間が変化する即ちピーク
シフトが発生する場合がある。このような場合に
は、第４図に示すように、正規書込み電流Iaで書
込んだ時、正常部分′での位相余裕度に対して
異常部分′の位相余裕度（点線で示す）はΔSだ
けの位相余裕度の低下量であつたが、増加書込み
電流ΔIaを付加したテスト書込み電流（Ia＋ΔIa）
で書込んだ時はその位相余裕度の低下量がΔS′と
なり、位相ずれが顕著に現れている。
即ち、データパルスがウインドパルスより
はみ出しデータエラーとなるまでの位相余裕度が
正規書込み電流Iaでは余裕度Ｓであつたが、テス
ト書込み電流（Ia＋ΔIa）では余裕度S′となり、
欠陥個所がより発見されやすくなつている。
はみ出しデータエラーとなるまでの位相余裕度が
正規書込み電流Iaでは余裕度Ｓであつたが、テス
ト書込み電流（Ia＋ΔIa）では余裕度S′となり、
欠陥個所がより発見されやすくなつている。
尚本実施例では、増加書込み電流ΔIaの制御は
磁気デイスク装置に実装されたスイツチSWに依
つて制御する例で説明したが、図示してないコン
トローラ（制御装置）からのインターフエイス信
号により制御することも可能である。
磁気デイスク装置に実装されたスイツチSWに依
つて制御する例で説明したが、図示してないコン
トローラ（制御装置）からのインターフエイス信
号により制御することも可能である。
(g) 発明の効果
以上のような本発明によれば、最適書込み電流
では発見しにくい微少な欠陥個所も発見すること
が出来ると言う効果がある。
では発見しにくい微少な欠陥個所も発見すること
が出来ると言う効果がある。
第１図は磁気デイスクの従来の欠陥検査方法、
第２図は本発明に係る一実施例である磁気デイス
クの欠陥検査方法例、第３図は書込み電流対出力
レベル特性図、第４図は書込み電流対位相余裕度
特性図、をそれぞれ示す。 図において、１は書込みヘツド、２は読取りヘ
ツド、３は書込み増幅回路、４は読取り増幅回
路、５は書込みデータ発生回路、６は書込み電流
供給回路、７は磁気デイスク、８は試験装置、９
は増加電流供給回路、をそれぞれ示す。
第２図は本発明に係る一実施例である磁気デイス
クの欠陥検査方法例、第３図は書込み電流対出力
レベル特性図、第４図は書込み電流対位相余裕度
特性図、をそれぞれ示す。 図において、１は書込みヘツド、２は読取りヘ
ツド、３は書込み増幅回路、４は読取り増幅回
路、５は書込みデータ発生回路、６は書込み電流
供給回路、７は磁気デイスク、８は試験装置、９
は増加電流供給回路、をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 書込みヘツドに規定電流を流すことにより所
定データを記録媒体に書込み、その所定データを
読取りヘツドにより記録媒体から読取り、読取り
ヘツドからの再生出力のレベルの状態あるいは位
相の状態により該記録媒体の欠陥を検索する記録
媒体の検査方法であつて、 該記録媒体に所定データを書込む時、前記書込
みヘツドに流す書込み電流を規定電流に所定電流
を付加して所定データを書込み、読取りヘツドか
らの再生出力の低下あるいは位相余裕度の低下を
検出して記録媒体の欠陥を検索することを特徴と
する記録媒体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916884A JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916884A JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60243819A JPS60243819A (ja) | 1985-12-03 |
| JPH0249669B2 true JPH0249669B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=14240116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9916884A Granted JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60243819A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100527237B1 (ko) * | 1997-09-22 | 2006-02-01 | 삼성전자주식회사 | 서보섹터의 디펙 테스트 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141678A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Measuring method of magnetic characteristics of magnetic thin film |
-
1984
- 1984-05-17 JP JP9916884A patent/JPS60243819A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141678A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Measuring method of magnetic characteristics of magnetic thin film |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60243819A (ja) | 1985-12-03 |
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