JPS60243819A - 記録媒体の検査方法 - Google Patents
記録媒体の検査方法Info
- Publication number
- JPS60243819A JPS60243819A JP9916884A JP9916884A JPS60243819A JP S60243819 A JPS60243819 A JP S60243819A JP 9916884 A JP9916884 A JP 9916884A JP 9916884 A JP9916884 A JP 9916884A JP S60243819 A JPS60243819 A JP S60243819A
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- Japan
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- data
- current
- writing
- recording medium
- test
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）発明の技術分野
本発明は、記録媒体に規定電流以上の電流で所定データ
を書込み、この所定データの再生レベルの状態により該
記録媒体の欠陥を検索する記録媒体の検査方法に関する
。
を書込み、この所定データの再生レベルの状態により該
記録媒体の欠陥を検索する記録媒体の検査方法に関する
。
（ｂ）技術の背景
情報処理システムに組込まれている外部記憶装置等に使
用される記録媒体上に記録されるデータは１重要なデー
タが記録されているため高信頼性な記録媒体が要求され
る。そのため１例えば磁気ディスクの場合は、（１）磁
気ディスク単体での検査。
用される記録媒体上に記録されるデータは１重要なデー
タが記録されているため高信頼性な記録媒体が要求され
る。そのため１例えば磁気ディスクの場合は、（１）磁
気ディスク単体での検査。
（２）磁気ディスク装置に組込まれた状態での検査を行
い出荷され、更にエラーの発生状況により、（３）シス
テムに組込まれた状態での磁気ディスク表面検査ルーテ
ンでの検査が実施出来るようになっている。
い出荷され、更にエラーの発生状況により、（３）シス
テムに組込まれた状態での磁気ディスク表面検査ルーテ
ンでの検査が実施出来るようになっている。
しかし、記録媒体の欠陥は常に記録媒体欠陥として簡単
に発見されるものばかりではなく１間欠的にデータエラ
ーとなり最終段階までに発見されないものもある。一方
、欠陥個所の発見時点としては出来るだけ単体の状態で
発見されることが望ましい。
に発見されるものばかりではなく１間欠的にデータエラ
ーとなり最終段階までに発見されないものもある。一方
、欠陥個所の発見時点としては出来るだけ単体の状態で
発見されることが望ましい。
上記状況から、記録媒体単体又は装置に組込まれた状態
までに発見される記録媒体欠陥の発見率がより高率にな
る検査方法の実用化が要望されるようになった。
までに発見される記録媒体欠陥の発見率がより高率にな
る検査方法の実用化が要望されるようになった。
（ｃ）従来技術と問題点
次に従来技術として、磁気ディスクの従来の欠陥検査方
法を図面を参照して説明する。
法を図面を参照して説明する。
第１図は従来の磁気ディスクの欠陥検査方法を示す。
第１図は磁気ディスク７にデータを書込む書込みへノド
ｌ。
ｌ。
磁気ディスク７に書込まれたデータを読取る読取りヘッ
ド２゜ 書込みへノド１にデータ書込み電流を出力する書込み増
幅回路３゜ 読取りヘッド２で読取ったデータを所定レベル幅に増幅
する読取り増幅回路４゜ 磁気ディスク７検査用データを発生する書込みデータ発
生回路５゜ 書込みデータ発生回路５からの出力データを書込みヘッ
ド１で書込むための電流を供給する書込み電流供給回路
６゜ 所定データを記録保持する磁気ディスク７゜読取り増幅
回路４の出力レベルをもとに磁気ディスク７の欠陥を検
索する試験装置８゜ から構成されている。
ド２゜ 書込みへノド１にデータ書込み電流を出力する書込み増
幅回路３゜ 読取りヘッド２で読取ったデータを所定レベル幅に増幅
する読取り増幅回路４゜ 磁気ディスク７検査用データを発生する書込みデータ発
生回路５゜ 書込みデータ発生回路５からの出力データを書込みヘッ
ド１で書込むための電流を供給する書込み電流供給回路
６゜ 所定データを記録保持する磁気ディスク７゜読取り増幅
回路４の出力レベルをもとに磁気ディスク７の欠陥を検
索する試験装置８゜ から構成されている。
通常、磁気ディスク７の欠陥検索は磁気ディスク７単体
時点と磁気ディスク７を装置に実装したディスクエンク
ロージャ状態とで行う。又検査項目としては読取りレベ
ルを基にしたテスト、即ち＋１）ミッシングテスト（本
来゛、読取り増幅回路４の出力レベルは成る幅を持って
均一の出力レベルが確保されるが規定値以下となり再生
不可能個所の有無のテスト）。
時点と磁気ディスク７を装置に実装したディスクエンク
ロージャ状態とで行う。又検査項目としては読取りレベ
ルを基にしたテスト、即ち＋１）ミッシングテスト（本
来゛、読取り増幅回路４の出力レベルは成る幅を持って
均一の出力レベルが確保されるが規定値以下となり再生
不可能個所の有無のテスト）。
ｒ２＋エキストラテスト（記録媒体上で消去された部分
に擬似信号がある場合、その振幅がある一定値を越えた
個所がないかどうかのテスト）。
に擬似信号がある場合、その振幅がある一定値を越えた
個所がないかどうかのテスト）。
（３）モジュレーションテスト（記録媒体上の塗膜の不
均一状態により規定周波数、規定レベルの書込みデータ
が他の周波数で変調された状態で読取られ、その変調度
合が一定規格内にあるかどうかのテスト）と。
均一状態により規定周波数、規定レベルの書込みデータ
が他の周波数で変調された状態で読取られ、その変調度
合が一定規格内にあるかどうかのテスト）と。
主としてディスクエンクロージャ状態で行う位相余裕度
テスト（読取ったデータパルスを取出すだめのウィンド
対データパルスが最適位相位置に対してデータエラーと
なるまでの位相余裕度）とがある。
テスト（読取ったデータパルスを取出すだめのウィンド
対データパルスが最適位相位置に対してデータエラーと
なるまでの位相余裕度）とがある。
上記テストのためのデータの書込みは、いずれもユーザ
データ書込みに最適と思われる書込み電流でテストデー
タを記録し、そのテストデータを読取って欠陥テストを
行っていた。しかし、最適書込み電流では微少な欠陥個
所が存在する場合。
データ書込みに最適と思われる書込み電流でテストデー
タを記録し、そのテストデータを読取って欠陥テストを
行っていた。しかし、最適書込み電流では微少な欠陥個
所が存在する場合。
その欠陥個所が必ずしも発見出来ないと言う欠点があっ
た。
た。
（ｄ）発明の目的
本発明は、上記欠点を解消した新規な記録媒体の検査方
法を提供することを目的とし、特に最適書込み電流では
発見しにくい微少な欠陥個所も的確に発見することが可
能な記録媒体の検査方法を実現することにある。
法を提供することを目的とし、特に最適書込み電流では
発見しにくい微少な欠陥個所も的確に発見することが可
能な記録媒体の検査方法を実現することにある。
＜ｅ＞発明の構成
本発明は、書込みヘッドに規定電流を流して記録媒体に
書込まれた所定データを読取りへ・ノドで読取り、読取
った所定データのレベルの状態により該記録媒体の欠陥
を検索する記録媒体の検査方法であって、該記録媒体に
所定データを書込む時。
書込まれた所定データを読取りへ・ノドで読取り、読取
った所定データのレベルの状態により該記録媒体の欠陥
を検索する記録媒体の検査方法であって、該記録媒体に
所定データを書込む時。
前記書込み−・ノドに流す書込み電流を規定電流に所定
電流を付加して所定データを書込むことにより、該規定
電流では発見しにくい微少な欠陥個所も的確に発見する
ことが可能となることを特徴とする記録媒体の検査方法
により達成することが出来る。
電流を付加して所定データを書込むことにより、該規定
電流では発見しにくい微少な欠陥個所も的確に発見する
ことが可能となることを特徴とする記録媒体の検査方法
により達成することが出来る。
（ｆ）発明の実施例
以下本発明を図面を参照して説明する。
第２図は本発明に係る一実施例である磁気ディスクの欠
陥検査方法例、第３図は書込み電流対出力レベル特性図
、第４図は書込み電流対位相余裕度特性図をそれぞれ示
す。
陥検査方法例、第３図は書込み電流対出力レベル特性図
、第４図は書込み電流対位相余裕度特性図をそれぞれ示
す。
図において、 Ｉａは正規書込み電流、ΔＩａは増加書
込み電流、 ＳＷはスイッチをそれぞれ示し、又企図を
通じて同一記号は同一対象物又は内容を示す。
込み電流、 ＳＷはスイッチをそれぞれ示し、又企図を
通じて同一記号は同一対象物又は内容を示す。
尚第３図（Ａ）、（Ｂ）の縦軸は読取り増幅回路４の出
力レベル、第３図（Ａ）の横軸は時間（ｔ）、第３図（
Ｂ）の横軸は書込み電流を示し。
力レベル、第３図（Ａ）の横軸は時間（ｔ）、第３図（
Ｂ）の横軸は書込み電流を示し。
ａは飽和電流位置、ｂは正規電流１ａ位置、Ｃはテスト
書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）位置、ｄは正規電流Ｉａで
書込んだ時に発見される欠陥部分の正規レベルに対する
低下したレベル差（点線部分）、ｄ′はテスト書込み電
流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時に発見される欠陥部分
の正規レベルに対する低下したレベル差（実線部分）
、 Ｌｌ、Ｌ２は読取り増幅回路４で出力する正規レベ
ル、■の実線は正常部分の特性、■の点線は異常部分の
特性をそれぞれ示す。
書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）位置、ｄは正規電流Ｉａで
書込んだ時に発見される欠陥部分の正規レベルに対する
低下したレベル差（点線部分）、ｄ′はテスト書込み電
流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時に発見される欠陥部分
の正規レベルに対する低下したレベル差（実線部分）
、 Ｌｌ、Ｌ２は読取り増幅回路４で出力する正規レベ
ル、■の実線は正常部分の特性、■の点線は異常部分の
特性をそれぞれ示す。
又第４図（Ｂ）の縦軸は位相余裕度、横軸は書込み電流
を示し、ａ′は飽和電流位置、ｂ′は正規電流１ａ位置
、Ｃ′はテスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）位置、Ｓは
正規電流１ａで書込んだ時の欠陥部分の位相余裕度、Ｓ
′はテスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時の
欠陥部分の位相余裕度、ΔＳは正規電流Ｉａで書込んだ
時の欠陥部分の正規位相位置からの位相ずれ、ΔＳ′は
テスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時の欠陥
部分の正規位相位置からの位相ずれ７■′の実線は正常
部分の特性、■′の点線は異常部分の特性、■はデータ
パルス、■はウィンドパルスをそれぞれ示す。
を示し、ａ′は飽和電流位置、ｂ′は正規電流１ａ位置
、Ｃ′はテスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）位置、Ｓは
正規電流１ａで書込んだ時の欠陥部分の位相余裕度、Ｓ
′はテスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時の
欠陥部分の位相余裕度、ΔＳは正規電流Ｉａで書込んだ
時の欠陥部分の正規位相位置からの位相ずれ、ΔＳ′は
テスト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込んだ時の欠陥
部分の正規位相位置からの位相ずれ７■′の実線は正常
部分の特性、■′の点線は異常部分の特性、■はデータ
パルス、■はウィンドパルスをそれぞれ示す。
本実施例は第１図にて説明した従来の構成部分と。
スイッチＳＷ操作にて増加書込み電流Δ１ａを書込み増
幅回路３に供給する増加電流供給回路９゜とから構成さ
れている。
幅回路３に供給する増加電流供給回路９゜とから構成さ
れている。
次に本実施例による磁気ディスク７の欠陥検査方法につ
き説明する。
き説明する。
磁気ディスク７の欠陥検査用データを書込みデータ発生
回路５より出力し、ＶＡ気ディスク７に書込む場合、正
規書込み電流１ａに増加書込み電流ΔＩａを付加したテ
スト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込む。尚増加書込
み電流ΔＩａは正規書込み電流Ｉａの１０％〜１００％
とする。
回路５より出力し、ＶＡ気ディスク７に書込む場合、正
規書込み電流１ａに増加書込み電流ΔＩａを付加したテ
スト書込み電流（Ｉａ＋ΔＩａ）で書込む。尚増加書込
み電流ΔＩａは正規書込み電流Ｉａの１０％〜１００％
とする。
このテスト書込み電流（ｌａ＋ΔＩａ）で書込んだデー
タを読取った時のレベルを第３図で示すように正常部分
の特性■と異常部分の特性■を比較すると、正規書込み
電流１ａにて書込んだ場合に現れる正常部分の特性■と
異常部分の特性■の差がｄからｄ′となり、その差が顕
著に現れる。
タを読取った時のレベルを第３図で示すように正常部分
の特性■と異常部分の特性■を比較すると、正規書込み
電流１ａにて書込んだ場合に現れる正常部分の特性■と
異常部分の特性■の差がｄからｄ′となり、その差が顕
著に現れる。
即ち、第３図（Ｂ）の書込み電流対出力レベルの特性図
で見た場合、正規書込み電流１ａで書込んだ時正常部分
■のレベルに対して異常部分■のレベルが例えば９０％
のレベル低下ｄであったものが。
で見た場合、正規書込み電流１ａで書込んだ時正常部分
■のレベルに対して異常部分■のレベルが例えば９０％
のレベル低下ｄであったものが。
増加書込み電流ΔＩａを付加したテスト書込め電流（Ｉ
ａ＋ΔＩａ）で書込んだ時は、８０％のレベル低下ｄ′
となり （Ｃ）項で説明した各テストで欠陥個所が発見
されやすくなる。
ａ＋ΔＩａ）で書込んだ時は、８０％のレベル低下ｄ′
となり （Ｃ）項で説明した各テストで欠陥個所が発見
されやすくなる。
又第４図に示すように、正規書込み電流１ａで書込んだ
時、正常部分■′での正規位相位置に対して異常部分■
′の位相位置（点線で示す部分）はΔＳだけの位相ずれ
であったが、増加書込み電流ΔＩａを付加したテスト書
込み電流（ｌａ＋ΔＩａ）で書込んだ時はその位相ずれ
がΔＳ′となり１位相ずれが顕著に現れている。
時、正常部分■′での正規位相位置に対して異常部分■
′の位相位置（点線で示す部分）はΔＳだけの位相ずれ
であったが、増加書込み電流ΔＩａを付加したテスト書
込み電流（ｌａ＋ΔＩａ）で書込んだ時はその位相ずれ
がΔＳ′となり１位相ずれが顕著に現れている。
即ち、データパルス■がウィンドパルス■よりはみ出し
データエラーとなるまでの位相余裕度が正規書込み電流
１ａでは余裕度Ｓであったが、テスト書込み電流（ｒａ
＋ΔＩａ）では余裕度Ｓ′となり。
データエラーとなるまでの位相余裕度が正規書込み電流
１ａでは余裕度Ｓであったが、テスト書込み電流（ｒａ
＋ΔＩａ）では余裕度Ｓ′となり。
欠陥個所がより発見されやすくなっている。
尚本実施例では、増加書込み電流ΔＩａの制御は磁気デ
ィスク装置に実装されたスイッチＳ−に依って制御する
例で説明したが１図示してないコントローラ（制御装置
）からのインターフェイス信号により制御することも可
能である。
ィスク装置に実装されたスイッチＳ−に依って制御する
例で説明したが１図示してないコントローラ（制御装置
）からのインターフェイス信号により制御することも可
能である。
（ｇ）発明の効果
以上のような本発明によれば、最適書込み電流では発見
しにくい微少な欠陥個所も発見することが出来ると言う
効果がある。
しにくい微少な欠陥個所も発見することが出来ると言う
効果がある。
第１図は磁気ディスクの従来の欠陥検査方法。
第２図は本発明に係る一実施例である磁気ディスクの欠
陥検査方法例。 第３図は書込み電流対出力レベル特性図。 第４図は書込み電流対位相余裕度特性図。 をそれぞれ示す。 図において。 １は書込みヘッド、 ２は読取りヘッド。 ３は書込み増幅回路、４は読取り増幅回路。 ５ば書込みデータ発生回路。 ６は書込み電流供給回路。 ７は磁気ディスク、 ８は試験装置。 ９は増加電流供給回路。 をそれぞれ示す。 代理人 弁理″ 牟公岡宏−，ｊｆｊ：。 −′− 事？酊 Ｙ−３司 （Ｂン ＠ｂ ｔｉ（；丸 Ｊ＃４叫 （Ａ） Ｌ電線 ト相
陥検査方法例。 第３図は書込み電流対出力レベル特性図。 第４図は書込み電流対位相余裕度特性図。 をそれぞれ示す。 図において。 １は書込みヘッド、 ２は読取りヘッド。 ３は書込み増幅回路、４は読取り増幅回路。 ５ば書込みデータ発生回路。 ６は書込み電流供給回路。 ７は磁気ディスク、 ８は試験装置。 ９は増加電流供給回路。 をそれぞれ示す。 代理人 弁理″ 牟公岡宏−，ｊｆｊ：。 −′− 事？酊 Ｙ−３司 （Ｂン ＠ｂ ｔｉ（；丸 Ｊ＃４叫 （Ａ） Ｌ電線 ト相
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 書込みヘッドに規定電流を流して記録媒体に書込まれた
所定データを読取りヘッドで読取り、読取った所定デー
タのレベルの状態により該記録媒体の欠陥を検索する記
録媒体の検査方法であって。 該記録媒体に所定データを書込む時、前記書込みヘッド
に流す書込み電流を規定電流に所定電流を付加して所定
データを書込むことを特徴とする記録媒体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916884A JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9916884A JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60243819A true JPS60243819A (ja) | 1985-12-03 |
| JPH0249669B2 JPH0249669B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=14240116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9916884A Granted JPS60243819A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-17 | 記録媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60243819A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100527237B1 (ko) * | 1997-09-22 | 2006-02-01 | 삼성전자주식회사 | 서보섹터의 디펙 테스트 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141678A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Measuring method of magnetic characteristics of magnetic thin film |
-
1984
- 1984-05-17 JP JP9916884A patent/JPS60243819A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141678A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Measuring method of magnetic characteristics of magnetic thin film |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100527237B1 (ko) * | 1997-09-22 | 2006-02-01 | 삼성전자주식회사 | 서보섹터의 디펙 테스트 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0249669B2 (ja) | 1990-10-30 |
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