JPH0432005A - 磁気ディスク装置におけるデータ破壊難易度の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 コンピュータシステムに使用する磁気ディスク装置にお
いて、磁気ディスク媒体が、データ破壊を生じ易いか否
かを試験するための方法に関し、磁気ディスク媒体の全
数について、加圧減磁試験を行なえるようにすることに
よって、データ破壊を発生しない信頼性の高い磁気ディ
スク装置を実現することを目的とし、 第１に、ＣＳＳゾーンに試験データを書き込み、第２に
、先に書き込んだＣＳＳゾーンの試験データを読み出し
、第３に、磁気ヘッドの位置にオフセットを与えて、先
に書き込んだ試験データのトラック上に、該磁気ヘッド
のスライダ部を位置させ、第４に、磁気ディスク装置の
ＣＳＳを複数回行い、第５に、先に磁気ヘッドの位置に
与えたオフセットを解除し、第６に、前記ＣＳＳ動作後
の試験データを読み出し、前記第２の読み出し試験デー
タと、前記第６の読み出し試験データとの信号振幅を比
較することによって、磁気ディスク媒体がデータ破壊を
生じ易いか否かを試験するよう構成する。

［産業上の利用分野］ 本発明は、コンピュータシステムのファイル装置として
使用する磁気ディスク装置において、磁気記録媒体であ
る磁気ディスク媒体が、データ破壊を生じ易いか否かを
試験するための方法に関する。

磁気ディスク装置は、回転する磁気ディスク媒体に、磁
気ヘッドを介してデータを磁気的に記録（書き込み／読
み出し）する装、置である。

したがって、記録したデータを安定に維持できることが
、磁気ディスク装置の信顛性を確保する上で重要である
。

一方、磁気ディスク装置に対する要求は、小型・大記憶
容量化にあり、該要求の中にあって、前記信鯨性を確保
することは一層重要である。

他方、磁気ディスク装置の小型・大記憶容量を実現する
には、磁気ディスク媒体に対する記録密度を高くする必
要があり、それにともなって、磁気ヘッドの浮上高を低
くする必要がある。

しかし、磁気ヘッド浮上高の低下は、磁気ディスク媒体
と磁気ヘッドの接触・衝突を生じ易くすることになり、
該接触・衝突によって記録データが破壊される原因とな
る。そのため、磁気ヘッドの浮上安定性を確保するため
の施策には、万全を期している。尚、該データ破壊は、
加圧減磁による場合と、磁気ディスク媒体の損傷による
場合とがある。

ところが、磁気ディスク媒体の個々について比較してみ
ると、それぞれの特性や品質には幾分かの偏差があり、
このことは、前記データ破壊の発生に対する潜在的要因
となっている。

そのため、前記データ破壊の潜在的要因を、磁気ディス
ク装置出荷前に検出し、予め排除するための試験方法が
求められている。そして、特に本発明は、加圧減磁試験
を行う方法に関する。

〔従来の技術］ （１）加圧減磁によるデータ破壊 回転する磁気ディスク媒体に、磁気ヘッドなどが接触し
て加圧力を受けると、該接触部分の記録磁気の強さが低
下する。すなわち、これが加圧減磁である。

加圧減磁は、磁気ヘッドが接触した時の圧力によって磁
性体に歪を生じるために発生し、また、該接触時の発熱
によっても発生する。

すなわち、磁気ヘッドが接触したことによって、磁性体
に化学変化を生じるところに原因がある。

そして、減磁は、記録データを破壊する可能性を有して
いる。

（２）磁気ディスク装置の試験方法 加圧減磁については、同じ製造工程を経て製造した磁気
ディスク媒体であっても、幾分かの偏差を有していて、
このことがデータ破壊に対する潜在的な不安定要因とな
っている。

そのため、磁気ディスク装置の製造ロフト毎に、加圧減
磁の抜き取り試験を行っている。

１）試験のための構成 第４図は、加圧減磁の試験方法を説明するブロック図で
ある。

基本的には、被試験装置である磁気ディスク装置１を、
試験装置２に接続して試験する。尚、オシロスコープ３
は、磁気ヘッド６で読み出したデータ信号を波形観測す
るために使用する。

すなわち、試験装置２は、磁気ディスク装置１のスピン
ドルモータ９、および磁気ヘッド移動用のアクチュエー
タ８を駆動制御しつつ、磁気ヘッド６を介して磁気ディ
スク媒体４に試験データの書き込み／読み出しを行って
試験する。

また、従来の試験方法では、磁気ヘッド６を一斉に移動
するためのキャリッジ７を、キャリッジ固定手段１２ａ
、１２ｂによって強制的に固定し、該磁気ヘッド６が移
動しないようにして、成る特定のトラックで試験を行っ
ている。

尚、磁気ヘッド６の強制的固定は、アクチュエータ８を
強制的に固定して行っても良い。

２）試験の手順 磁気ディスク装置の試験には、アナログ試験とディジタ
ル試験とが有り、加圧減磁の発生形態によって使い分け
している。

ｉ、アナログ試験の手順 アナログ試験は、主として、磁気ディスク媒体４の広範
囲に渡って存在する加圧減磁を発見するために行う。

第５図は、アナログ試験を行う手順を説明する図で、（
ａ）は作業手順を説明するフローチャート、（ｂ）はＣ
３Ｓ前の読み出しデータ信号波形を説明する図、（ｃ）
はＣＳＳ後の読み出しデータ信号波形を説明する図、で
ある。

すなわち、次の手順によって、加圧減磁の試験を行って
いる。尚、該手順は、手順■を除いて、試験装置２のプ
ログラムに従って順次に行う。

■キャリッジ固定手段１２ａ、１２ｂによって、キャリ
ッジ７を強制的に固定する。

■磁気ディスク媒体４に、試験データを書き込む。尚、
該試験データは、連続したパターンを用いる。

■前記■で書き込んだ試験データを読み出し、オシロス
コープ３で波形観測する。そして、トラック当たりの平
均振幅電圧Ｖ　ＴＡＡを求める。尚、この時の値をｖｙ
ＡＡ＋とする。

■磁気ディスク装置１のＣ３Ｓを繰り返し行う。

繰り返し回数は、例えば４０回程度である。

■再度、前記■で書き込んだ試験データを読み出し、オ
シロスコープ３で波形観測する。そして、トラック当た
りの平均振幅電圧■ＴＡＡを求める。

尚、この時の値を■アＡ０とする。

■減磁率ΔＭを次式で求める。

ΔＭ＝ＶアＡＡＺ／ＶアＡＡＩ ■減磁率ΔＭが、予め決めた所定の値内であるか否かを
判定する。そして、該判定の結果、所定値内であるなら
ば、データ破壊の原因となる加圧減磁は存在しないと判
定し、他方、所定値外であるならば、データ破壊の原因
となる加圧減磁が存在すると判定する。

以上の手順である。すなわち、Ｃ３Ｓによって磁気ディ
スク媒体４を加圧し、５ｃｓｓ前後のデータ信号振幅を
比較する方法である。

ｉｌ、ディジタル試験の手順 ディジタル試験は、主として、磁気ディスク媒体４の微
小部分に存在する加圧減磁を発見するために行う。

第６図は、ディジタル試験を行う手順を説明する図で、
（ａ）は作業手順を説明するフローチャート、（ｂ）は
Ｃ３Ｓ前の読み出しデータ信号波形を説明する図、（ｃ
）はＣ３Ｓ後の読み出しデータ信号波形を説明する図、
である。

すなわち、次の手順によって、加圧減磁の試験を行って
いる。尚、該手順は、手順■を除いて、試験装Ｗ２のプ
ログラムに従って順次に行う。

■キャリッジ固定手段１２ａ、　１２ｂによって、キャ
リッジ７を強制的に固定する。

■磁気ディスク媒体４に、試験データを書き込む、尚、
該試験データは、エラーを発見し易いワーストパターン
を用いる。

■前記■で書き込んだ試験データを読み出し、ベリファ
イする。すなわち、正しく試験データが書き込まれたか
否かを確認する。

■磁気ディスク装置１のＣ５Ｓを繰り返し行う。

繰り返し回数は、例えば４０回程度である。

■再度、前記■で書き込んだ試験データを読み出す。

■前記■で書き込んだ試験データと、前記■で読み出し
た試験データとを比較（ＤＡＴＡ　ＣＯＭＰＡＲＥ）す
る。

■データ比較（ＤＡＴＡ　ＣＯＭＰＡＲＥ）の結果、デ
ータが一致すれば、データ破壊の原因となる加圧減磁は
存在しないと判定し、他方、データが不一致であるなら
ば、データ破壊の原因となる加圧減磁が存在すると判定
する。

以上の手順である。すなわち、Ｃ３Ｓによって磁気ディ
スク媒体４を加圧し、該Ｃ３Ｓ前後のデータを比較（Ｄ
ＡＴＡ　ＣＯＭＰＡＲＰ）する方法である。

ちなみに、第６図（ｃ）に、微小欠陥１４が存在する場
合の波形図を示す。

３）抜き取り試験とする理由 ところで、加圧減磁試験を抜き取り試験としている理由
は、該加圧減磁試験を磁気ディスク媒体４のＤＡＴＡゾ
ーンで行っているからである。

すなわち、ＤＡＴＡゾーンにおけるＣ３Ｓは、磁気ヘッ
ド６が磁気ディスク媒体４に接触・摺動し、該磁気ディ
スク媒体４の表面にダメージを与えるためである。つま
り、該検査後の磁気ディスク媒体４は使用不能となる。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の試験方法では、次のような問題を有している。

１　）　ＤＡＴＡゾーンでのＣ３Ｓは、磁気ディスク媒
体４にダメージを与える。

したがって、磁気ディスク装置の全数について試験を行
うことはできない。

２）前記１）の理由による抜き取り試験は、加圧減磁に
ついて、磁気ディスク装置の製造ロフト毎の傾向を知る
ことができるが、該磁気ディスク装置個別の加圧減磁を
知ることができない。

３）アナログ試験の場合の、トラック当たりの平均デー
タ信号振幅（Ｖｔａａ　）の測定を、オシロスコープに
よる目視測定によって行っているため、正確な測定がで
きない。

４）磁気ヘッド６を固定するために、キャリンジ固定手
段１２ａ、１２ｂのような、機械的で強制的な固定手段
を用いているため、被試験磁気ディスク装Ｗ１の温度上
昇によるオフトラックを補正できない。

５　）　ｃｓｓによる磁気ヘッド６からの加圧は、加圧
面積が小さく、加圧効率が低い。

６）ディジタル試験の試験時間が長い。

以上の問題である。すなわち、試験精度が低く、したが
って、抜き取り試験の結果が良好な成績であっても、磁
気ディスク媒体を組み込んだ磁気ディスク装置が、フィ
ールドでの稼動において加圧Ｋ［生じ、コンピュータシ
ステムのシステムダウンを生じさせる可能性がある。

本発明の技術的課題は、従来の磁気ディスク装置におけ
る以上のような問題を解消し、磁気ディスク装置の全数
について、効率良く加圧減磁試験を行なえるようにする
ことによって、データ破壊を発生しない信頼性の高い磁
気ディスク装置を実現することにある。

［課題を解決するための手段〕 第１図は、本発明の基本原理を説明する図で、（ａ）は
磁気ディスク装置を試験するためのブロック図、（ｂ）
は磁気ヘッドの形状と磁気ディスク媒体との関係を説明
する図、（ｃ）は試験データ書き込み時に磁気ヘッドの
コア部が有った位置に、スライダ部が位置するように磁
気ヘッドを移動させた場合を説明する図、（ｄ）は試験
方法（試験手順）を説明するフローチャート、である。

本発明は、ＣＳＳゾーンに試験データを書き込み、かつ
、試験データを書き込んだトラックを磁気ヘッドのスラ
イダ部で加圧するところに特徴がある。

（１）基本的試験方法（試験手Ｆ＠） すなわち、磁気ディスク装置１において、第１に、Ｃ３
５（ＣＯＮＴＡＣＴ　５ＴＡＲＴ　５ＴＯＰ）ゾーン１
５に試験データを書き込む。

第２に、先に書き込んだＣ５Ｓゾーン１５の試験データ
を読み出す。

第３に、磁気ヘッド６の位置にオフセットを与えて、先
に書き込んだ試験データのトランク上に、該磁気ヘッド
６のスライダ部１７ａ、１７ｂを位置させる。

第４に、磁気ディスク装置１のＣ３Ｓ　（ＣＯＮＴＡＣ
ＴＳＴＡＲＴ　５ＴＯＰ）を複数回行う。

第５に、先に磁気ヘッド６の位置に与えたオフセットを
解除する。

第６に、前記ＣＳＳ動作後の試験データを読み出す。そ
して、前記第２の読み出し試験データと、前記第６の読
み出し試験データとの信号振幅を比較することによって
、磁気ディスク媒体４がデータ破壊を生じ易いか否かを
試験する。

（２）オフトラックを排除する試験方法前記（１）の基
本的試験方法において、ＣＳＳ動作後に試験データを読
み出す際に、読み出す試験データの信号振幅の平均値が
最大となる位置に磁気ヘッド６を移動させ、その時の読
み出し試験データ信号振幅をＣＳＳ動作後の読み出し試
験データとすることによって、磁気ディスク媒体４がデ
ータ破壊を生じ易いか否かを試験する。

（３）試験結果を成績として記録する試験方法前記（１
）および（２）において、試験結果を磁気ディスク装置
１に記憶させることによって、磁気ディスク媒体４がデ
ータ破壊を生じ易いか否かを試験する。

〔作用〕

磁気ディスク媒体４が停止している状態から定速回転状
態に至るまでの間、あるいは、定速回転状態から停止に
至るまでの間については、該磁気ディスク媒体４のＣＳ
Ｓゾーン１５には、磁気ヘッド４が接触と摺動を行う。

したがって、ＣＳＳゾーン１５にデータを記録し、磁気
ディスク装置１のＣＳＳを繰り返し行った場合は、磁気
ディスク媒体４のＣ５Ｓゾーンに記録したデータにとっ
ては、最も過酷な環境に置かれることになる。そのため
、Ｃ３Ｓゾーン１５にデータを記録することは行われて
いない。

本発明は、従来、データの記録を行わなかったＣＳＳゾ
ーン１５に試験データを書き込み、磁気ディスク媒体４
の加圧減磁によるデータ破壊に対する試験を行うもので
ある。

尚、本発明の試験方法は、ＣＳＳゾーン１５に試験デー
タを書き込むだけで、磁気ディスク装置１には全くダメ
ージを与えることが無い。したがって、磁気ディスク装
置の全数について試験を行うことが可能である。

（１）基本的試験方法 磁気ディスク装置１のＣ３Ｓは、該磁気ディスク装置ｌ
のＣ３Ｓゾーン１５に書き込んだ試験データにとって、
データ破壊の耐性を測定するには最も好適である。

したがって、ＣＳＳ前に書き込んだ試験データと、ＣＳ
Ｓ後に読み出した試験データとの信号振幅を比較し、そ
の相違を観測することによって、データ破壊の様子を知
ることができる。

すなわち、ＣＳＳ前後の読み出し試験データ信号振幅の
低下が、予め決めた所定値内であるならば、磁気ディス
ク媒体４にはデータ破壊の原因となる加圧減磁は存在し
ないと判定できる。しかし、所定値外であるならば、磁
気ディスク媒体４にはデータ破壊の原因となる加圧減磁
が存在すると判定することができる。

また、磁気へラド６のコア部１８は、スライダ部１７ａ
、１７ｂに比較して幅が狭く、例えば、コア部１８の幅
が２０μ報程度であるのに対して、スライダ部１７ａ、
１７ｂの幅は２閣程度である。

したがって、コア部１８で書き込んだ試験データのトラ
ック上を、スライダ部１７ａ、１７ｂでＣ５Ｓすること
によって、磁気ディスク媒体４の加圧を効率良く行うこ
とができる。

（２）オフトラックを排除する試験方法磁気ディスク装
置１の各機構部品は、温度変化に伴って膨張／収縮する
。そして、この膨張／収縮が磁気ヘッドのオフトラック
の原因となる。

オフトラックは磁気ディスク装置の試験においても例外
なく現れる。

すなわち、ＣＳＳを繰り返し行うことによって磁気ディ
スク装置１は温度上昇し、ＣＳＳ前にオントラックして
いた磁気ヘッド６は、Ｃ３Ｓ後にはオフトラックを生じ
る。

そこで、Ｃ３Ｓ後に試験データを読み出す際に、読み出
し試験データの信号振幅の平均値が最大となるように、
磁気ヘッド６の位置を補正することによって、オフトラ
ックの影響を排除できる。

したがって、加圧減磁試験を高精度で行うことができる
。

（３）試験結果を成績として記録する試験方法試験結果
を被試験磁気ディスク装置１に記録しておくことによっ
て、フィールドでの稼動に伴って、該磁気ディスク装置
１の磁気ディスク媒体４に、どの程度の加圧減磁が新た
に発生したかを試験することができる。

すなわち、ＣＳＳゾーンに書き込んだ試験データを定期
的にフィールドにおいて読み出して試験し、該試験結果
を工場出荷時の試験結果と比較することによって、磁気
ディスク媒体４の長時間に渡る加圧減磁特性を試験する
ことができる。

［実施例〕 本発明による磁気ディスク装置におけるデータ破壊の試
験方法を、実際上どのように具体化できるかを実施例で
説明する。

（１）構成 試験に供するハードウェア上の構成は、従来通りのまま
で可能である。ちなみに、最も簡単に説明し得るブロッ
ク図は、第１図（ａ）　　と同一である。

しかし、従来の磁気ディスク装置°１および試験装置２
ａは、該両装置の制御部がＣＳＳゾーン１５へのデータ
の書き込み／読み出しを禁止している。

したがって、前記制御部のソフトウェアを変更し、試験
に際してのみＣ３Ｓゾーン１５へのデータの書き込み／
読み出しを可能とするよう変更する。

次に、試験装置２ａのデータ読み出し部分と、磁気ディ
スク装置制御部分とを具体的に図説し、各部の作動を説
明する。

第２図は、実施例を説明するブロック図である。

尚、同図においては、試験データ書き込み部分を省略し
ている。

１）制御部２６ 制御部２６は、マイクロコンピュータで構成し、磁気デ
ィスク装置１ａを制御すると同時に、該磁気ディスク装
置１ａの試験過程を制御する。

２）ドライブ制御回路２５ ドライブ制御回路２５は、制御部２６の指令に基づいて
、磁気ディスク装置１ａのＤＢ制御部２０のドライブ制
御回路２４と通信し、該磁気ディスク装置１ａの作動を
制御する。

３）増幅回路２７ 増幅回路２７は、磁気ディスク装置１ａから読み出した
データ信号３３を増幅する。

４）エンベロープディテクタ２８ エンベロープディテクタ２８は、増幅した読み出しデー
タ信号のエンベロープを検出する。

５）積分回路２９ 積分回路２９は、エンベロープの平均電圧３５を求める
。すなわち、試験データ信号のトラック当たりの平均振
幅電圧Ｖ　ＴＡＡを求める。

６　’）　Ａ／Ｄ変換回路３０ Ａ／Ｄ変換回路３０は、前記５）の試験データ信号のト
ラック当たりの平均振幅電圧■ア□をＡ／Ｄ変換し、制
御部２６へ測定結果３４として報告する。

７　）　Ｄ／Ａ変換回路３１ Ｄ／Ａ変換回路３１は、前記平均値電圧（ＶｔＡＡ）３
５を基準電圧（リファレンス電圧）とし、他方、制御部
２６からスライスレベル設定信号３６を受け、該平均値
電圧３５をスライスレベル設定信号３６によって分圧し
、ミッシングパルス（ＭＩＳＳＩＮＧ　ＰＵＬＳＥ）を
検出するためのＭＰスライス電圧信号３７と、ネガティ
ブモジュレーシ、Ｆ　７（ＮＥＧＡＴＶＥ　ＭＯＤＵＬ
ＡＳＩＯＮ）を検出するためのＮＭスライス電圧信号３
８を作成する。

８）比較回路３２ 比較回路３２にはコンパレータが２つ有り、一方のコン
パレータはミッシングパルス検出用であり、他方のコン
パレータはネガティブモジュレーション検出用である。

すなわち、ミッシングパルス検出用のコンパレータでは
、ＭＰスライス電圧信号３７を基！１！電圧として、エ
ンベロープディテクタ２８の出力信号が該基！１！電圧
以下となった時に、ＭＰパルス信号３９ａを制御部２６
へ送出し、ミッシングパルスの存在を該制御部２６へ報
告する。

他方、ネガティブモジュレーション検出用のコンパレー
タでは、ＮＭスライス電圧信号３８を基準電圧として、
エンベロープディテクタ２８の出力信号が該基準電圧以
下となった時に、ＮＭパルス信号３９ｂを制御部２６へ
送出し、ネガティブモジュレーションの存在を該制御部
２６へ報告する。

以上が試験装置側の構成である。次に磁気ディスク装置
ｌａ側を簡単に説明する。

９）磁気ディスク装置１ａ 磁気ディスク装置１ａは、大別してＯＥ部１９とＤＥ制
御部２０とから成り、該ＤＢ制御部２０には、ドライブ
制御回路２４が有り、該ドライブ制御回路２４は試験装
置と通信し該ＤＥ部１９を制御する。

Ｐ（Ｖ　ＡＭＰ　２３は、磁気ヘッド６を移動させるア
クチュエータ８と磁気ディスク媒体４を回転するスピン
ドルモータ９とを電力駆動する。

また、ＰＲＥ　ＡＭＰ　２１とＭＡＩＮ　ＡにＰ　２２
は、磁気ヘッド６から読み出したデータ信号を増幅する
。

（２）試験手順 第３図は、実施例の試験手順を説明するフローチャート
である。

次に、試験手順を順を追って説明する。尚、該手順は、
制御部２６に予めプログラムした手順にしたがって行わ
れる。

■磁気ヘッド６をＣＳＳゾーンの最も内側（スピンドル
側）に位置させる。

■通常の書き込み周波数の３７４倍の周波数で、試験デ
ータを書き込む。尚、書き込み周波数およびデータパタ
ーンは、被試験装置である磁気ディスク装置１ａに合わ
せて、選択・決定すれば良い。

■試験装置のエラー検出レベルを、１１Ｐ（ＭＴＳＳＩ
ＮＧＰ［ＪＬＳＥ　ＬＥＶＥＬ）　を６０％、ＮＦ２（
ＮＥＧＡＴＶＥ　ＭＯＤｔｌＬＡＴＴＯＮＬＥＶＥＬ）
を７０％、に設定し、ＣＳＳシー７（７）試験データを
読み出す。

■トラック当たりの平均振幅電圧■アＡＡ　、ミッシン
グパルス肝、ネガティブモジュレーションＮＭを測定し
、該測定結果ＶＴＡＡＩ、　ＭＰ、　、ＮＭ、を磁気デ
ィスク装置１ａに記録する。尚、該記録を行うためのト
ラックは、試験データを書き込んだトラック以外であれ
ば、任意のトラックで良い。

■磁気ヘッド６の位置にオフセットを与え、試験データ
を書き込んだトラック上に、該磁気ヘッド６のスライダ
部を位置させる。

■磁気ディスク装置のＣ３Ｓを４０回行う。向、ＣＳＳ
の回数は、磁気ディスク装置に合わせて、選択・決定す
れば良い。

■前記■において磁気ヘッド６に与えたオフセットを解
除し、該磁気ヘッド６を通常の位置制御状態に戻す。

■試験データを読み出し、該読み出し時のデータ信号平
均振幅電圧Ｖ　ＴＡＡが最大となるように、磁気ヘッド
６の位置を制御・決定する。

■試験装置のエラー検出レベルを、ＭＰを６０％、ＮＭ
を７０％、に設定し、試験データを読み出す。

そして、トラック当たりの平均振幅電圧Ｖ　ＴＡＡミッ
シングパルスＭＰ、ネガティブモジュレーシ＝ｔ　ンＮ
Ｍヲ測定シ、該測定結果Ｖ　Ｔａａｔ、　ＭＰｔ　、　
ＮＭｔを磁気ディスク装置１ａに記録する。

［相］■ＴＡＡ１、？’ｌＰｌ　、ＮＭＩ　とＶ　ＴＡ
Ａ！、ＭＰ、　、ＮＭｔとを比較する。

そして、Ｖ　ＴＡＡ！０ＶＴＡＡＩにたいする低下率が
、予め決めた所定値内であるならば、磁気ディスク媒体
４の広範囲に渡る加圧ｆｉ＆磁は存在しないと判定する
ことができる。他方、所定値以上に低下しているならば
、広範囲に渡る加圧減磁が存在すると判定できる。

また、ＭＰ、　、ＮＭ、に対してＭＰ２　、ＮＭ２に新
たにエラーが追加されていなければ、磁気ディスク媒体
４に部分的な加圧減磁は存在しないと判定することがで
きる。他方、新たにエラーが追加された場合は、部分的
な加圧減磁が存在すると判定することができる。

■前記［相］の試験結果を、磁気ディスク装置１ａに記
録する。

以上の手順によって、磁気ディスク装置ｌａ中の磁気デ
ィスク媒体４の加圧減磁番こ対する試験を行うことがで
きる。すなわち、磁気ディスク装置におけるデータ破壊
難易度の試験を行うことができる。

（３）記録した試験結果の利用 ＣＳＳゾーンに記録した試験データ、および測定結果Ｖ
ＴＡＡＩ、ＭＰ、　、ＮＭ、とＶ？ＡＡ２、ＭＰ２、Ｎ
Ｍｚ並びに試験結果は、被試験磁気ディスク装置１ａに
記録したまま工場出荷する。

すなわち、Ｃ５Ｓゾーンに記録した試験データは、フィ
ールドにおいて絶えず磁気ヘッドによる接触・摺動を受
ける。

したがって、万が一フィールドにおいて磁気ディスク装
置にデータ破壊を生じた場合は、−該磁気ディスク装置
を本実施例の試験方法によって試験を行い、その試験結
果を、該磁気ディスク装置に記録しておいた工場出荷時
の試験結果と比較することによって、加圧＄ｉ磁による
データ破壊で有るか否かを判定することができる。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、Ｃ３Ｓゾーンに試験デー
タを書き込み、データ破壊を生じる潜在的要因、特に磁
気ディスク媒体の加圧減磁に対する試験を高い精度で効
率良く行うことができる。

また、ミッシングパルス肝も同時に試験することができ
るので、ディジタル試験を省略することも可能である。

その結果、磁気ディスク媒体の全数について、短時間で
加圧減磁試験を行なえるようになり、データ破壊を発生
しない、信顛性の高い磁気ディスク装置を安価に実現す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の基本原理を説明する図で、（ａ）は
磁気ディスク装置を試験するためのブロック図、（ｂ）
は磁気ヘッドの形状と磁気ディスク媒体との関係を説明
する図、（ｃ）は試験データ書き込み時に磁気ヘッドの
コア部が有った位置に、スライダ部が位置するように磁
気ヘッドを移動させた場合を説明する図、（ｄ）は試験
方法（試験手順）を説明するフローチャート、 第２図は、実施例を説明するブロック図、第３図は、実
施例の試験手順を説明するフローチャート、 第４図は、加圧減磁の試験方法を説明するブロック図、 第５図は、アナログ試験を行う手順を説明する図で、（
ａ）は作業手順を説明するフローチャート、（ｂ）はＣ
ＳＳ前の読み出しデータ信号波形を説明する図、（ｃ）
はＣ３Ｓ後の読み出しデータ信号波形を説明する図、 第６図は、ディジタル試験を行う手順を説明する図で、
（ａ）は作業手順を説明するフローチャート、（ｂ）は
Ｃ３Ｓ前の読み出しデータ信号波形を説明する図、（ｃ
）はＣＳＳ後の読み出しデータ信号波形を説明する図、
である。 図において、１，１ａは磁気ディスク装置、２，２ａ試
験装置、３はオシロスコープ、４は磁気ディスク媒体、
５はスピンドル、６は磁気ヘッド、６Ａは試験データ書
き込み時の磁気ヘッドの位置、７はキャリンジ、８はア
クチュエータ、９はスピンドルモータ、１０はストッパ
、１１はキャリッジストッパ、１２ａ、　１２ｂはキャ
リッジ固定手段、１３はインデックス、１４は微小欠陥
、１５はＣＳＳゾーン、１６はＤＡＴＡゾーン、１７ａ
、１７ｂはスライダ部、１８はコア部、１９はＤＨ部、
２０はＤＨ制御部、２１はＰＲＥ　ＡＭＰ　、２２はＭ
ＡＩＮ　ＡＭＰ、２３はＰＯＷ　ＡＭＰ　、２４．２５
はドライブ制御回路、２６は制御部、２７は増幅回路、
２８はエンベロープディテクタ、２９は積分回路、３０
はＡ／Ｄ変換回路、３１はＤ／Ａ変換回路、３２は比較
回路、３３は読み出しデータ信号、３４は平均値電圧Ｖ
　ＴＡＡ測定結果、３５は平均値電圧（リファレンス電
圧）、３６はスライスレベル設定信号、３７は肝スライ
ス電圧信号、３８はＮＭスライス電圧信号、３９ａ　、
　３９ｂはＭＰ、ＮＭパルス信号、４０は−／Ｒ１１Ｊ
？ｉｌ信号およびアクセス制御信号、をそれぞれ示して
いる。 妃乎均逅電江Ｖ７ＡＡ」Ｉ虎、情取 Ｊ９ａ、Ｊ９ｂ　ＭｐＮＭノ当レスｌし号特許出願人　
　　　　冨士通株式会社 復代理人　弁理士　　福　島　康　文 ′ｔｙ２図 図面の＋書ｌ囚ｔ ！クシ） （ａ） ｌ晟ヲ１テンスワそ（を 力ロｉ’ＨＡ腐１の客氏１町町万殖 英４区 （ａ） 嘱６図 手続補正書（方式） 事件の表示 発明の名称 田 文 毅 殿 平成２年 特許願 第１３８６８２号 磁気ディスク装置におけるデータ破壊難易度の試験方法 ３、補正をする者 事件との関係 住所 名称 ４、代理人 住所 氏名 ５、復代理人 住所 ６、補正命令の日付 ７、補正の対象

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、磁気ディスク装置（１）において、磁気ディスク媒
   体（４）がデータ破壊を生じ易いか否かを試験するため
   の方法であって、 第１に、ＣＳＳ（ＣＯＮＴＡＣＴ　ＳＴＡＲＴ　ＳＴＯ
   Ｐ）ゾーン（１５）に試験データを書き込み、 第２に、先に書き込んだＣＳＳゾーン（１５）の試験デ
   ータを読み出し、 第３に、磁気ヘッド（６）の位置にオフセットを与えて
   、先に書き込んだ試験データのトラック上に、該磁気ヘ
   ッド（６）のスライダ部（１７ａ，１７ｂ）を位置させ
   、 第４に、磁気ディスク装置（１）のＣＳＳ（ＣＯＮＴＡ
   ＣＴＳＴＡＲＴ　ＳＴＯＰ）を複数回行い、 第５に、先に磁気ヘッド（６）の位置に与えたオフセッ
   トを解除し、 第６に、前記ＣＳＳ動作後の試験データを読み出し、 前記第２の読み出し試験データと、前記第６の読み出し
   試験データとの信号振幅を比較することによって、磁気
   ディスク媒体（４）がデータ破壊を生じ易いか否かを試
   験すること、 を特徴とする磁気ディスク装置におけるデータ破壊難易
   度の試験方法。 ２、請求項１記載の磁気ディスク装置におけるデータ破
   壊難易度の試験方法において、 ＣＳＳ動作後に試験データを読み出す際に、読み出す試
   験データの信号振幅の平均値が最大となる位置に磁気ヘ
   ッド（６）を移動させること、を特徴とする磁気ディス
   ク装置におけるデータ破壊難易度の試験方法。 ３、請求項１および請求項２記載の磁気ディスク装置に
   おけるデータ破壊難易度の試験方法において、 試験結果を磁気ディスク装置（１）に記憶させること、 を特徴とする磁気ディスク装置におけるデータ破壊難易
   度の試験方法。