JPH0362378A - ディスク試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ディスク試験システム、特にコンピュータ等
の外部記憶装置に用いられる信号記憶ディスク装置のデ
ィスク試験システムに関する。

〔従来の技術〕

近年のディスク試験システムは、ディスク装置の高密度
化・大容量化に伴って測定データが大容量化する傾向に
あり、信号記憶媒体の種類の多様化とディスクサイズの
多様化とディスク装置の高信頼性とに伴って、試験条件
、試験シーケンスの多様化、試験の種類の増加の傾向に
ある。

一般に、ディスク試験システムの測定は、ディスク上の
任意の位置において、以下に示す三種類の測定に大別さ
れる。

ａ）再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理
定数の変動を測定する物理特性測定。例えば、ディスク
の面振れ測定、磁気ディスクのディスク表面精度の測定
、光ディスクのプリグループトラックの偏心の測定、光
ディスクの反射率の測定等がある。

ｂ）信号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも１
つを行なった後の再生信号測定。例えば、記録強度（例
えば、光ディスクでは媒体への入力光パワー、磁気ディ
スクでは磁性媒体に加わる磁気密度等）を変化させて記
録した後の再生信号振幅を測定する媒体記録感度測定、
あるいは、消去強度（例えば、光磁気ディスクでは媒体
入力光パワーと入力磁束密度、磁気ディスクでは磁性媒
体に加わる磁束密度等）を変化させて消去した後の再生
信号振幅を測定する媒体消去感度測定、また、キャリア
周波数で記録した後の再生信号のキャリア周波数成分と
ある周波数におけるノイズ成分の比であるＣ／Ｎ比の測
定等々がある。

Ｃ〉無記録、記録、消去の少なくとも１つを行なった後
の信号記憶媒体欠陥に起因する再生信号の振幅変化を検
出する欠陥測定、例えば、媒体の欠陥に起因する無記録
時の再生信号に含まれる疑似記録信号を測定するエクス
トラレラー測定、あるいは記録時の再生信号に含まれる
媒体欠陥に起因する再生信号振幅の落ち込みを測定する
ドロップアウトエラー測定等々がある６ 従って、信号記憶ディスクの試験は、ディスク上の任意
の位置、信号記憶媒体と記′録再生を行なうヘッドとの
間の相対速度、記録周波数、記録強度、消去強度、欠陥
測定時の検出条件の少なくとも１つをそれぞれパラメー
タ、主変数にして、前記物理特性測定、前記再生信号測
定、前記欠陥測定を組み合わせて行なうことが出来た。

従来のディスク試験システムは、信号記録ディスク上の
位置や、記録条件、再生条件、消去条件など複数の測定
条件からなる測定条件群と、再生信号の振幅に影響を与
えるディスク表面の物理定数の変更を測定する複数の物
理特性測定や、信号記憶媒体に無記録、記録、消去の少
なくとも１つを行なった後の複数の再生信号測定や、無
記録、記録、消去の少なくとも１つを行なった後の信号
記憶媒体の複数の欠陥測定とから構成される実行測定モ
ジュール群と、前記測定条件群と実行測定モジュール群
とを含む主記憶手段と、前記主記録手段からの測定制御
信号で測定を行なう測定実行手段とを含んで構成される
。

第２図は従来のディスク試験システムの一例を示すブロ
ック図である。

第２図に示すディスク試験システムに含まれる主記憶手
段１５は測定条件群１２に基づき測定実行手段に対して
測定条件を設定し、さらに実行測定モジュール群１８に
基き測定制御信号Ｃを作成して測定実行手段１７に出力
し、測定実行手段１７が各種のディスク試験を行なう。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のディスク試験システムは、測定条件群を
主記憶手段に含んでおり主記憶手段内のメモリ上で管理
しているため、測定条件が多種多様化すると、主記憶手
段内のメモリ構成により制約を受けるという欠点があっ
た。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のディスク試験システムは、信号記憶ディスク上
の位置や、記録条件、再生条件、消去条件など複数の測
定条件からなり外部記憶手段に格納された測定条件群と
、 各種の試験に対応するシステムごとに必要な複数の測定
条件の種類が記述してある前記外部記憶手段に格納され
た実行測定条件抽出ファイルと、前記測定条件群と前記
実行測定条件抽出ファイルとを参照してシステムごとに
必要な測定条件のみで構成される実行測定条件群を主記
憶手段内に作成する実行測定条件抽出手段と、 再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理定数
の変更を測定する複数の物理特性測定のプログラム、信
号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも１つを行
なった後の複数の再生信号測定のプログラムならびに無
記録、記録および消去の少なくとも１つを行なった後の
信号記録媒体の複数の欠陥測定のプログラムから構成さ
れ前記主記憶手段内に格納された実行測定モジュール群
と、 前記実行測定モジュール群により作成される測定制御信
号で試験対象物の測定を行なう測定実行手段とを含んで
構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

信号記憶ディスク上の位置や、記録条件、再生条件、消
去条件など複数の測定条件からなる測定条件群１２と、
本実施例において各種の試験に対応して構成されるシス
テムごとに必要な複数個の測定条件の種類が記述してあ
る実行測定条件抽出ファイル１３が外部記憶手段１１に
格納されている。

測定条件群１２のデータのうちシステムに応じて必要な
ものを実行測定条件抽出ファイル１３の条件に従い選択
する実行測定条件抽出手段１４と、再生信号の振幅に影
響を与えるディスク表面の物理定数の変更を測定する複
数の物理特性測定のプログラムや、信号記憶媒体に無記
録、記録、消去の少なくとも１つを行なった後の複数の
再生信号測定のプログラムや、無記録、記録、消去の少
なくとも１つを行なった後の信号記憶媒体の複数の欠陥
測定のプログラムとから構成される実行測定モジュール
群が主記憶手段１５に格納されている。

主記憶手段１５に格納された実行測定条件抽出手段１４
は、外部記憶手段１１に格納された実行測定条件抽出フ
ァイル１３を参照して測定条件群１２から構成しようと
するシステムに必要な測定条件ａを抽出し、主記憶手段
１５内に実行測定条件群１６として格納する。さらに実
行測定モジュール群１８は実行測定条件群１６に基づき
測定条件を測定実行手段１７に設定し、測定制御信号す
を作成して測定実行手段１７に出力し、測定実行手段１
７が各種のディスク試験を行なう。

すなわち、本実施例は実行測定条件抽出手段１４の内容
を変更することにより各種の試験ごとに異ったシステム
を構成する。

〔発明の効果〕

本発明のディスク試験システムは、外部記憶手段内の測
定条件群から実行測定条件群を抽出して主記憶手段内に
格納する実行測定条件抽出手段を備えることにより、 測定条件が多種多様化しても外部記憶手段内に納められ
るた・め、主記憶領域手段のメモリ構成による制約を受
けることはなく、測定条件の自由な増加が可能となる。

さらに、実行測定条件群の内容を変更、追加する場合に
は、実行測定抽出ファイルに記述されている内容を変更
するだけで容易に実行測定条件群を更新することができ
るので、多種多様な試験への対応が容易であるという効
果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
従来のディスク試験システムを示すブロック図である。 １１・・・外部記憶手段、１２・・・測定条件群、１３
・・・実行測定条件抽出ファイル、１４・・・実行測定
条件抽出手段、１５・・・主記憶手段、１６・・・実行
測定条件群、１７・・・測定実行手段、１８・・・実行
測定モジュール群、ａ・・・測定条件、ｂ・・・測定制
御信号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 外部記憶手段に格納された複数の測定条件からなる測定
   条件群と、 各種の試験に対応するシステムごとに必要な複数の測定
   条件の種類が記述してある前記外部記憶手段に格納され
   た実行測定条件抽出ファイルと、前記測定条件群と前記
   実行測定条件抽出ファイルとを参照してシステムごとに
   必要な測定条件のみで構成される実行測定条件群を主記
   憶手段内に作成する実行測定条件抽出手段と、 再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理定数
   の変更を測定する複数の物理特性測定のプログラム、信
   号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも１つを行
   なつた後の複数の再生信号測定のプログラムならびに無
   記録、記録および消去の少なくとも１つを行なった後の
   信号記録媒体の複数の欠陥測定のプログラムから構成さ
   れ前記主記憶手段内に格納された実行測定モジュール群
   と、 前記実行測定モジュール群により作成される測定制御信
   号で試験対象物の測定を行なう測定実行手段とを含むこ
   とを特徴とするディスク試験システム。