JPS63117375A - 光デイスク検査装置 - Google Patents
光デイスク検査装置Info
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- JPS63117375A JPS63117375A JP26196786A JP26196786A JPS63117375A JP S63117375 A JPS63117375 A JP S63117375A JP 26196786 A JP26196786 A JP 26196786A JP 26196786 A JP26196786 A JP 26196786A JP S63117375 A JPS63117375 A JP S63117375A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 18
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光ディスク又は光磁気ディスク(これらを
総称して単に光ディスクという)についてドロップアウ
ト及び湧き出しの有無の検査を行なう装置に関する。
総称して単に光ディスクという)についてドロップアウ
ト及び湧き出しの有無の検査を行なう装置に関する。
光ディスク又は光磁気ディスクの品質検査のひとつに、
ドロップアウト及び湧き出しの有無の検査があることは
、周知の事項である。
ドロップアウト及び湧き出しの有無の検査があることは
、周知の事項である。
この検査を行なう従来の装置には、ドロップアウト及び
湧き出しの存在するディスク上の位置を高精度に求める
ことのできるものはなかった。
湧き出しの存在するディスク上の位置を高精度に求める
ことのできるものはなかった。
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、ドロップ
アウト及び湧き出しの存在する位置を高精度に求めるこ
とのできる検査装置を提供しようとするものである。
アウト及び湧き出しの存在する位置を高精度に求めるこ
とのできる検査装置を提供しようとするものである。
この発明に係る検査装置は、検査用のピットパターンデ
ータを発生する発生手段と、前記発生手段から発生した
ピットパターンデータを被検査ディスクに記録する記録
手段と、前記記録手段により前記ディスクに記録された
ピットパターンデータを読出す読出し手段と、前記読出
し手段により読出されたピットパターンデータと前記発
生手段から発生したピットパターンデータとをピット単
位で照合することにより、ドロップアウト又は湧き出し
の存在するディスク上のピット位置を検出する照合検出
手段とを具えたことを特徴としている。
ータを発生する発生手段と、前記発生手段から発生した
ピットパターンデータを被検査ディスクに記録する記録
手段と、前記記録手段により前記ディスクに記録された
ピットパターンデータを読出す読出し手段と、前記読出
し手段により読出されたピットパターンデータと前記発
生手段から発生したピットパターンデータとをピット単
位で照合することにより、ドロップアウト又は湧き出し
の存在するディスク上のピット位置を検出する照合検出
手段とを具えたことを特徴としている。
発生手段から発生したピットパターンデータが記録手段
によりディスクに記録された後、読出し手段によりディ
スクから該データが読出されると。
によりディスクに記録された後、読出し手段によりディ
スクから該データが読出されると。
照合検出手段では、該データと発生手段からのピットパ
ターンデータとがピット単位で照合されることにより、
ドロップアウト又は湧き出しの存在するピット位置が検
出される。
ターンデータとがピット単位で照合されることにより、
ドロップアウト又は湧き出しの存在するピット位置が検
出される。
このように、ドロップアウト又は湧き出しの存在する位
置がピット単位で検出されるので、該位置が高精度に求
められることになる。
置がピット単位で検出されるので、該位置が高精度に求
められることになる。
以下、添付図面を参照してこの発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第1図は、この発明に係る検査装置の一実施例を示す。
この装置において、ピットパターン発生回路1は、検査
用のピットパターンデータaを発生する。発生したデー
タaは、記録制御回路2゜照合及びエラ一種類弁別回路
3に与えられる。
用のピットパターンデータaを発生する。発生したデー
タaは、記録制御回路2゜照合及びエラ一種類弁別回路
3に与えられる。
記録制御回路2は、与えられたデータaと該データaを
光ディスクに記録する際の記録制御用信号とを含む情報
すを、レーザ記録駆動回路4に与える。回路4は、前記
記録制御用信号に基づき、検査対象である光ディスク5
にレーザ光Cを用いてデータaを記録する。
光ディスクに記録する際の記録制御用信号とを含む情報
すを、レーザ記録駆動回路4に与える。回路4は、前記
記録制御用信号に基づき、検査対象である光ディスク5
にレーザ光Cを用いてデータaを記録する。
アンプ及び再生回路6は、図示しない周知の読出し手段
により光ディスク5の記録内容を読出して得られた再生
ディテクタ出力dを入力し、該出力dをディジタル化し
た再生ディジタル化信号eを出力する。出力した信号e
は、前述の照合及びエラ一種類弁別回路39位置情報及
びタイミング発生回路7に与えられる。
により光ディスク5の記録内容を読出して得られた再生
ディテクタ出力dを入力し、該出力dをディジタル化し
た再生ディジタル化信号eを出力する。出力した信号e
は、前述の照合及びエラ一種類弁別回路39位置情報及
びタイミング発生回路7に与えられる。
照合及びエラ一種類弁別回路3は、信号eと回路1から
のデータaとをピット単位で照合し、ドロップアウト又
は湧き出しの存在するピットに対応してエラー信号f、
エラ一種別信号(ドロップアウトか湧き出しかを区別す
る信号)hを出力する。
のデータaとをピット単位で照合し、ドロップアウト又
は湧き出しの存在するピットに対応してエラー信号f、
エラ一種別信号(ドロップアウトか湧き出しかを区別す
る信号)hを出力する。
他方、位置情報及びタイミング発生回路7は、信号eに
基づき、光ディスク5上の各ピットの位置情報を得るた
めのパルス(位置情報開始パルスとクロックパルス)g
を出力する。
基づき、光ディスク5上の各ピットの位置情報を得るた
めのパルス(位置情報開始パルスとクロックパルス)g
を出力する。
出力したエラー信号fとパルスgは、セクタ内位置情報
発生回路8に与えられる。回路8は、パルスgを利用し
て、光ディスクS上の各ピットのうち信号fに対応する
ピット(即ちドロップアウト又は湧き出しの存在するピ
ット)のセクタ内における位置を表わすセクタ内位置情
報信号iを出力する。また回路8は、パルスgを利用し
て、光ディスク5上の各ピットに対応するメモリアドレ
スを指定するアドレス信号jを出力する。これらの回路
3,7.8が、照合検出手段に該当する。
発生回路8に与えられる。回路8は、パルスgを利用し
て、光ディスクS上の各ピットのうち信号fに対応する
ピット(即ちドロップアウト又は湧き出しの存在するピ
ット)のセクタ内における位置を表わすセクタ内位置情
報信号iを出力する。また回路8は、パルスgを利用し
て、光ディスク5上の各ピットに対応するメモリアドレ
スを指定するアドレス信号jを出力する。これらの回路
3,7.8が、照合検出手段に該当する。
上記エラ一種別信号りとそのエラー位置に対応するセク
タ内位置情報信号iは、2ボートメモリ9のデータ入力
に与えられる。上記アドレス信号jは、オア回路1oを
介してメモリ9のアドレス指定入力に与えられる。メモ
リ9は、信号jの指定するアドレスに信号り、iを記憶
する。
タ内位置情報信号iは、2ボートメモリ9のデータ入力
に与えられる。上記アドレス信号jは、オア回路1oを
介してメモリ9のアドレス指定入力に与えられる。メモ
リ9は、信号jの指定するアドレスに信号り、iを記憶
する。
メモリ9のアドレス指定入力にはまた編集処理装置ED
Tか、らもアドレス信号Kがオア回路10を介して与え
られる。信号にの指定するアドレスの記憶内容は、メモ
リ9から読出されて編集処理装置EDTに与えられ、適
宜編集処理されてメモリMEMに記憶される。
Tか、らもアドレス信号Kがオア回路10を介して与え
られる。信号にの指定するアドレスの記憶内容は、メモ
リ9から読出されて編集処理装置EDTに与えられ、適
宜編集処理されてメモリMEMに記憶される。
次に、この検査装置における検査動作の一例を、第2図
を参照して説明する。
を参照して説明する。
まず、検査を行なうべき光ディスクS上のトラックへの
位置付けを行なう(第2図ステップ101)。そして、
回路1からデータaを発生させ。
位置付けを行なう(第2図ステップ101)。そして、
回路1からデータaを発生させ。
該データaを回路4により光ディスク5上の前記被検査
トラックに記録する(同図ステップ102)。
トラックに記録する(同図ステップ102)。
記録が終了すると、前記被検査トラックへの位置付けを
再び行なう(同図ステップ103)、そして、該トラッ
クに記録したデータaを順次読出すとともに回路1から
データaを再び発生させ、読出しに基づいて得られた信
号eと回路1からのデータaを用いて、回路3,7.8
により信号り。
再び行なう(同図ステップ103)、そして、該トラッ
クに記録したデータaを順次読出すとともに回路1から
データaを再び発生させ、読出しに基づいて得られた信
号eと回路1からのデータaを用いて、回路3,7.8
により信号り。
iを得る(同図ステップ104)。
このようにして得た信号り、iを、メモリ9に記憶する
(同図ステップ105)。そして、メモリ9に記憶した
信号り、iを適宜読出して分類・編集する(同図ステッ
プ106)。例えば2ポ・−トメモリ9の記憶が飽和し
たとき(ここにはピット単位の検査結果を記録するので
、限定された容量では飽和に達し易い)、この記憶内容
を編集処理装置EDTに移し、そこでドロップアウト及
び湧き出しに対応するエラ一種別情報と位置情報のみを
抽出し、このようにデータ圧縮した状態でこれらの情報
をメモリMEMに記憶する。
(同図ステップ105)。そして、メモリ9に記憶した
信号り、iを適宜読出して分類・編集する(同図ステッ
プ106)。例えば2ポ・−トメモリ9の記憶が飽和し
たとき(ここにはピット単位の検査結果を記録するので
、限定された容量では飽和に達し易い)、この記憶内容
を編集処理装置EDTに移し、そこでドロップアウト及
び湧き出しに対応するエラ一種別情報と位置情報のみを
抽出し、このようにデータ圧縮した状態でこれらの情報
をメモリMEMに記憶する。
こうして、ドロップアウト又は湧き出しの存在する光デ
ィスク5上の位置が、信号り、iというかたちでピット
単位で正確に検出されることになり、しかもピット単位
の検査でありながら検査結果のデータを圧縮した形で記
憶することができる。
ィスク5上の位置が、信号り、iというかたちでピット
単位で正確に検出されることになり、しかもピット単位
の検査でありながら検査結果のデータを圧縮した形で記
憶することができる。
以上の通り、この発明に係る検査装置によれば、光ディ
スク又は光磁気ディスクについて、ドロップアウト又は
湧き出しの存在するディスク上の位置をピット単5位で
検出することができる。したがって、該位置を高精度に
求めることができるようになる。
スク又は光磁気ディスクについて、ドロップアウト又は
湧き出しの存在するディスク上の位置をピット単5位で
検出することができる。したがって、該位置を高精度に
求めることができるようになる。
第1図はこの発明に係る検査装置の一実施例を示すブロ
ック図、第2図は前記検査装置における検査動作の一例
を示すフローチャートである。 1・・・ピットパターン発生回路、2・・・記録制御回
路。 3・・・照合及びエラ一種類弁別回路、4・・・レーザ
記録駆動回路、5・・・光ディスク、6・・・アンプ及
び再生回路、7・・・位置情報及びタイミング発生回路
。 8・・・セクタ内位置情報発生回路、9・・・2ボート
メモリ、10・・・オア回路 出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
飯 塚 義 化 第 1 図
ック図、第2図は前記検査装置における検査動作の一例
を示すフローチャートである。 1・・・ピットパターン発生回路、2・・・記録制御回
路。 3・・・照合及びエラ一種類弁別回路、4・・・レーザ
記録駆動回路、5・・・光ディスク、6・・・アンプ及
び再生回路、7・・・位置情報及びタイミング発生回路
。 8・・・セクタ内位置情報発生回路、9・・・2ボート
メモリ、10・・・オア回路 出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
飯 塚 義 化 第 1 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ディスク又は光磁気ディスクについてドロップアウト
及び湧き出しの有無の検査を行なう装置であって、 検査用のピットパターンデータを発生する発生手段と、 前記発生手段から発生したピットパターンデータを被検
査ディスクに記録する記録手段と、前記記録手段により
前記ディスクに記録されたピットパターンデータを読出
す読出し手段と、前記読出し手段により読出されたピッ
トパターンデータと前記発生手段から発生したピットパ
ターンデータとをピット単位で照合することにより、ド
ロップアウト又は湧き出しの存在するディスク上のピッ
ト位置を検出する照合検出手段と を具えたことを特徴とする光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61261967A JP2649038B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 光デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61261967A JP2649038B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 光デイスク検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63117375A true JPS63117375A (ja) | 1988-05-21 |
JP2649038B2 JP2649038B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=17369143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61261967A Expired - Fee Related JP2649038B2 (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 光デイスク検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2649038B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0782138A3 (en) * | 1995-12-25 | 1999-06-30 | Sony Corporation | Apparatus and method for decoding a coded digital signal |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54161851A (en) * | 1978-05-30 | 1979-12-21 | Xerox Corp | Method of and device for transferring data |
JPS59154651A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Canon Inc | 情報記録再生装置 |
JPS6121060U (ja) * | 1984-07-06 | 1986-02-06 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | デイスク型記録媒体検査装置におけるエラ−位置検出装置 |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP61261967A patent/JP2649038B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54161851A (en) * | 1978-05-30 | 1979-12-21 | Xerox Corp | Method of and device for transferring data |
JPS59154651A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Canon Inc | 情報記録再生装置 |
JPS6121060U (ja) * | 1984-07-06 | 1986-02-06 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | デイスク型記録媒体検査装置におけるエラ−位置検出装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0782138A3 (en) * | 1995-12-25 | 1999-06-30 | Sony Corporation | Apparatus and method for decoding a coded digital signal |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2649038B2 (ja) | 1997-09-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |