JPS63117375A - 光デイスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスク又は光磁気ディスク（これらを
総称して単に光ディスクという）についてドロップアウ
ト及び湧き出しの有無の検査を行なう装置に関する。

〔従来の技術〕

光ディスク又は光磁気ディスクの品質検査のひとつに、
ドロップアウト及び湧き出しの有無の検査があることは
、周知の事項である。

この検査を行なう従来の装置には、ドロップアウト及び
湧き出しの存在するディスク上の位置を高精度に求める
ことのできるものはなかった。

〔発明が解決、しようとする問題点〕

この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、ドロップ
アウト及び湧き出しの存在する位置を高精度に求めるこ
とのできる検査装置を提供しようとするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る検査装置は、検査用のピットパターンデ
ータを発生する発生手段と、前記発生手段から発生した
ピットパターンデータを被検査ディスクに記録する記録
手段と、前記記録手段により前記ディスクに記録された
ピットパターンデータを読出す読出し手段と、前記読出
し手段により読出されたピットパターンデータと前記発
生手段から発生したピットパターンデータとをピット単
位で照合することにより、ドロップアウト又は湧き出し
の存在するディスク上のピット位置を検出する照合検出
手段とを具えたことを特徴としている。

〔作用〕

発生手段から発生したピットパターンデータが記録手段
によりディスクに記録された後、読出し手段によりディ
スクから該データが読出されると。

照合検出手段では、該データと発生手段からのピットパ
ターンデータとがピット単位で照合されることにより、
ドロップアウト又は湧き出しの存在するピット位置が検
出される。

このように、ドロップアウト又は湧き出しの存在する位
置がピット単位で検出されるので、該位置が高精度に求
められることになる。

〔実施例〕

以下、添付図面を参照してこの発明の実施例を詳細に説
明する。

第１図は、この発明に係る検査装置の一実施例を示す。

この装置において、ピットパターン発生回路１は、検査
用のピットパターンデータａを発生する。発生したデー
タａは、記録制御回路２゜照合及びエラ一種類弁別回路
３に与えられる。

記録制御回路２は、与えられたデータａと該データａを
光ディスクに記録する際の記録制御用信号とを含む情報
すを、レーザ記録駆動回路４に与える。回路４は、前記
記録制御用信号に基づき、検査対象である光ディスク５
にレーザ光Ｃを用いてデータａを記録する。

アンプ及び再生回路６は、図示しない周知の読出し手段
により光ディスク５の記録内容を読出して得られた再生
ディテクタ出力ｄを入力し、該出力ｄをディジタル化し
た再生ディジタル化信号ｅを出力する。出力した信号ｅ
は、前述の照合及びエラ一種類弁別回路３９位置情報及
びタイミング発生回路７に与えられる。

照合及びエラ一種類弁別回路３は、信号ｅと回路１から
のデータａとをピット単位で照合し、ドロップアウト又
は湧き出しの存在するピットに対応してエラー信号ｆ、
エラ一種別信号（ドロップアウトか湧き出しかを区別す
る信号）ｈを出力する。

他方、位置情報及びタイミング発生回路７は、信号ｅに
基づき、光ディスク５上の各ピットの位置情報を得るた
めのパルス（位置情報開始パルスとクロックパルス）ｇ
を出力する。

出力したエラー信号ｆとパルスｇは、セクタ内位置情報
発生回路８に与えられる。回路８は、パルスｇを利用し
て、光ディスクＳ上の各ピットのうち信号ｆに対応する
ピット（即ちドロップアウト又は湧き出しの存在するピ
ット）のセクタ内における位置を表わすセクタ内位置情
報信号ｉを出力する。また回路８は、パルスｇを利用し
て、光ディスク５上の各ピットに対応するメモリアドレ
スを指定するアドレス信号ｊを出力する。これらの回路
３，７．８が、照合検出手段に該当する。

上記エラ一種別信号りとそのエラー位置に対応するセク
タ内位置情報信号ｉは、２ボートメモリ９のデータ入力
に与えられる。上記アドレス信号ｊは、オア回路１ｏを
介してメモリ９のアドレス指定入力に与えられる。メモ
リ９は、信号ｊの指定するアドレスに信号り、ｉを記憶
する。

メモリ９のアドレス指定入力にはまた編集処理装置ＥＤ
Ｔか、らもアドレス信号Ｋがオア回路１０を介して与え
られる。信号にの指定するアドレスの記憶内容は、メモ
リ９から読出されて編集処理装置ＥＤＴに与えられ、適
宜編集処理されてメモリＭＥＭに記憶される。

次に、この検査装置における検査動作の一例を、第２図
を参照して説明する。

まず、検査を行なうべき光ディスクＳ上のトラックへの
位置付けを行なう（第２図ステップ１０１）。そして、
回路１からデータａを発生させ。

該データａを回路４により光ディスク５上の前記被検査
トラックに記録する（同図ステップ１０２）。

記録が終了すると、前記被検査トラックへの位置付けを
再び行なう（同図ステップ１０３）、そして、該トラッ
クに記録したデータａを順次読出すとともに回路１から
データａを再び発生させ、読出しに基づいて得られた信
号ｅと回路１からのデータａを用いて、回路３，７．８
により信号り。

ｉを得る（同図ステップ１０４）。

このようにして得た信号り、ｉを、メモリ９に記憶する
（同図ステップ１０５）。そして、メモリ９に記憶した
信号り、ｉを適宜読出して分類・編集する（同図ステッ
プ１０６）。例えば２ポ・−トメモリ９の記憶が飽和し
たとき（ここにはピット単位の検査結果を記録するので
、限定された容量では飽和に達し易い）、この記憶内容
を編集処理装置ＥＤＴに移し、そこでドロップアウト及
び湧き出しに対応するエラ一種別情報と位置情報のみを
抽出し、このようにデータ圧縮した状態でこれらの情報
をメモリＭＥＭに記憶する。

こうして、ドロップアウト又は湧き出しの存在する光デ
ィスク５上の位置が、信号り、ｉというかたちでピット
単位で正確に検出されることになり、しかもピット単位
の検査でありながら検査結果のデータを圧縮した形で記
憶することができる。

〔発明の効果〕

以上の通り、この発明に係る検査装置によれば、光ディ
スク又は光磁気ディスクについて、ドロップアウト又は
湧き出しの存在するディスク上の位置をピット単５位で
検出することができる。したがって、該位置を高精度に
求めることができるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る検査装置の一実施例を示すブロ
ック図、第２図は前記検査装置における検査動作の一例
を示すフローチャートである。 １・・・ピットパターン発生回路、２・・・記録制御回
路。 ３・・・照合及びエラ一種類弁別回路、４・・・レーザ
記録駆動回路、５・・・光ディスク、６・・・アンプ及
び再生回路、７・・・位置情報及びタイミング発生回路
。 ８・・・セクタ内位置情報発生回路、９・・・２ボート
メモリ、１０・・・オア回路 出願人　日立電子エンジニアリング株式会社代理人　　
　　飯　　塚　　義　　化 第　１　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 光ディスク又は光磁気ディスクについてドロップアウト
   及び湧き出しの有無の検査を行なう装置であって、 検査用のピットパターンデータを発生する発生手段と、 前記発生手段から発生したピットパターンデータを被検
   査ディスクに記録する記録手段と、前記記録手段により
   前記ディスクに記録されたピットパターンデータを読出
   す読出し手段と、前記読出し手段により読出されたピッ
   トパターンデータと前記発生手段から発生したピットパ
   ターンデータとをピット単位で照合することにより、ド
   ロップアウト又は湧き出しの存在するディスク上のピッ
   ト位置を検出する照合検出手段と を具えたことを特徴とする光ディスク検査装置。