JPS59210359A - 磁気デイスク媒体欠陥シミユレ−タ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）発明の技術分野 本発明は磁気ディスク装置内に組込まれる磁気ディスク
媒体と磁気ヘッドとが一体となった構成品を試験し、前
記磁気ディスク媒体の欠陥を検出し、該欠陥位置を前記
磁気ディスク媒体に記録するエラー・テスター・フォー
マツタ（以後ＥＴＦと略す）のシミュレータに係り、特
に該ＥＴＦが検出して記録する磁気ディスク媒体の欠陥
位置と該欠陥情報を表すフォーマントが正常に該磁気デ
ィスク媒体に記録されているか否かをシミュレートする
磁気ディスク媒体欠陥シミュレータに関する。

（ｂ）従来技術と問題点 従来はパルス発生器を使用し、磁気ディスク装置から送
出されるトランクの索引を読出したパルス信号により、
前記パルス発生器にトリガをかυノ、前記索引パルス信
号から任意の遅延時間を持つパルスを発生させ、該パル
スを磁気ディスク媒体の欠陥によるパルスとみなし、Ｅ
ＴＦに該パルスを与えＥＴＦが該パルスに基づき磁気デ
ィスク媒体に記録するデータを復調して確認していた。

しかしパルス発生器が発生ずるパルスの前記遅延時間は
変動して正確にシミュレートすることが出来ず、且つＥ
ＴＦを構成する各部を分割して試験することが出来ない
為、試験工数も多く必要とする欠点がある。

（Ｃ）発明の目的 本発明の目的は上記欠点を除く為、磁気ディスク媒体の
欠陥により発生ずるパルスに対する擬似エラーパルスを
トランクの索引信号に対し正確な任意の位置と任意の幅
とを持つパルスとしてＥＴＦに供給し、且つ該ＥＴＦの
重要な構成回路を分割して試験をなし得る如く構成した
磁気ディスク媒体欠陥シミュレータを提供することにあ
る。

（ｄ）発明の構成 本発明の構成は磁気ディスク装置内に組込まれる磁気デ
ィスク媒体と磁気へノドとが一体となった構成品を試験
し、前記磁気ディスク媒体の欠陥を検出し、該欠陥位置
を前記磁気ディスク媒体に記録するエラー・テスター・
フォーマツタのシミュレータであって、前記磁気ディス
ク装置よりトラックの索引信号とピッ１−クロックとを
受信し、前記索引信号から任意のビットクロック数遅延
した位置に任意のピントクロック数の幅を持つ擬似エラ
ーパルスを発生させ、該擬似エラーパルスを前記エラー
・テスター・フォーマツタに供給し、該エラー・テスタ
ー・フォーマツタで前記擬似エラーパルスが正常に処理
されているか否かをシミュレートするようにしたもので
ある。

（ｅ）発明の実施例 本発明はマイクロプロセッサを用い擬似エラーパルスの
発生位置を索引信号から正確な距離に任意に発生させ、
且つ該擬似エラーパルスの幅も任意の大きさで発生させ
ることを可能とし、エラーデータを記憶するメモリと前
記擬似エラーパルスから磁気ディスク媒体に記録する一
定の形式に従ったフォーマットを持つデータを作成する
フォーマットデータ作成部の中間データを抽出して試験
し、且つフォーマノ１〜データ作成部から送出されるフ
ォーマントされたデータと該フォーマットデークを磁気
ティスフ媒体に書込み、再度読出したものと比較し良否
を判定するヘリファイ部の試験を可能としたものである
。

図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図である。

ＥＴＦ２は磁気ディスク装置１が内臓する磁気ディスク
媒体の欠陥を試験し、該欠陥をフォーマノ１−されたデ
ータで前記磁気ディスク媒体に書込む装置である。磁気
ディスク媒体欠陥シミュレータ３ば前記ＥＴＦの機能が
正常か否かシミニレ−１−シて試験するシミュレータで
ある。

まずＥＴＦ’２の動作に付き概略説明する。磁気ディス
ク装置１から読出されたデータばＥＴＦ２の増幅器４に
入り増幅されて比較器５に送出される。比較器５は闇値
と前記データとを比較しエラーの有無を検出する。該エ
ラーの有無は切替器６を経てメモリ７に記憶される。メ
モリ７に記憶されたエラーの内容は切替器８を経てフォ
ーマットデータ作成部９に送られ、前記エラーの内容に
よりフォーマ／１−されたデータが切替器１０を経てイ
ンクフェース回路１２から磁気ディスク装置１に送出さ
れ、磁気ディスク媒体に書込まれる。該書込まれたデー
タは読出されインタフェース回路１２を経てヘリファイ
部１１に入り、フォーマットデータ作成部９より送出さ
れた前記書込みデータと比較され、正常に磁気ディスク
媒体に書込まれたか否かチェックされる。

上記動作が正常に実施されているか否かをシミニレ−１
−シて試験する為、磁気ディスク媒体欠陥シミュレータ
３はマイクロプロセッサ１４の制御により、擬似エラー
パルス発生部１３に擬似エラーパルスを発生させる。即
ち磁気ディスク装置１より索引信号とビットクロックと
を擬似エラーパルス発生部１３に取込み、前記索引信号
から任意のピッ１−クロック数遅延した位置に任意のビ
ットクロック数の幅を持つ擬似エラーパルスを発生し切
替器６よりメモリ７に記憶させ、切替器８を経てマイク
ロプロセッサ１４のハスに取込み照合し、その結果をプ
リンタ１５に打ち出す。又前記メモリ７に格納した擬似
エラーパルスのデータを切替器８を経てフォーマットデ
ータ作成部９に送出させ、切替器ＩＯを経てマイクロブ
ロセ・ノサ１４のハスに取込み予めプロクラムしておい
たフォーマ・ノドと照合し、その結果をプリンタ１５に
士］ち出ず。又更に前記擬似エラーパルスのフォーマン
トデークを切替器ｌＯ、インタフェース回路１２を経て
磁気ディスク装置１に書込ませ、その書込みデータを読
出してヘリファイ部１１でチェックさせ、該チェックの
結果をマイクロプロセッサ１４のハスに取込め、予めプ
ログラムしておいた結果と照合してヘリファイ部の良否
を判定し、プリンタ１５に打ち出す。

（ｆ）発明の詳細 な説明した如く、本発明はＥＴＦの機能を自動的に試験
することが出来る為、信頼性が高（、且つ少ない工数で
ＥＴＦの性能維持が可能となり、製品である磁気ディス
ク媒体に誤った欠陥データを誤ったフォーマントで記録
することを防止出来る為、その効果は人なるものがある
。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図１波磁気
デイスク装置、２はエラー・テスター・フノーマ・ツタ
（ＥＴＦ）、３は磁気ディスク媒体欠陥シミュレータ、
４は増幅器、５Ｌま比較器、６．８．１０は切替器、７
はメモリ、９４まフＡ−−マットデータ作成部、１１は
ヘリファイ部、１２はインクフェース回路、１３は擬似
エラーノくルス発生部、１４はマイクロプロセ・ノサ、
１５番まブＩＪンタである。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気ディスク装置内に組込まれる磁気ディスク媒体と磁
   気ヘッドとが一体となった構成品を試験し、前記磁気デ
   ィスク媒体の欠陥を検出し、該欠陥位置を前記磁気ディ
   スク媒体に記録するエラー・テスター・フォーマツタの
   シミュレータであって、前記磁気ディスク装置よりトラ
   ンクの索引信号とピントクロックとを受信し、前記索引
   信号から任意のビットクロック数遅延した位置に任意の
   ピノ１−クロック数の幅を持つ擬似エラーパルスを発生
   させ、該擬似エラーパルスを前記エラー・テスター・フ
   ォーマツタに供給し、該エラー・テスター・フォーマツ
   タで前記擬似エラーパルスが正常に処理されているか否
   かをシミュレートすることを特徴とする磁気ディスク媒
   体欠陥シミュレータ。