JPS60229272A - 固定デイスク媒体の不良箇所スキツプ情報記録方式 - Google Patents
固定デイスク媒体の不良箇所スキツプ情報記録方式Info
- Publication number
- JPS60229272A JPS60229272A JP8364384A JP8364384A JPS60229272A JP S60229272 A JPS60229272 A JP S60229272A JP 8364384 A JP8364384 A JP 8364384A JP 8364384 A JP8364384 A JP 8364384A JP S60229272 A JPS60229272 A JP S60229272A
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- JP
- Japan
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- medium
- information
- circuit
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- defective part
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、固定媒体磁気ディスク装置における不良箇所
スキップ情報の記録方式に関する。
スキップ情報の記録方式に関する。
磁気ディスク装置の記録媒体は、近年高密度化や高信頼
度化に伴って固定媒体が多く使用されるようになったが
、媒体製造上不良スポットの発生を避けることができず
、媒体の歩留シを上けるためにトラック当シ数個の不良
箇所についてはＳＤ情報（不良箇所スキッゾ情報）を媒
体に記録しておき、該情報に基づいて不良箇所をスキ、
ゾさせる技術が一般的に採られるようになった。従来。
度化に伴って固定媒体が多く使用されるようになったが
、媒体製造上不良スポットの発生を避けることができず
、媒体の歩留シを上けるためにトラック当シ数個の不良
箇所についてはＳＤ情報（不良箇所スキッゾ情報）を媒
体に記録しておき、該情報に基づいて不良箇所をスキ、
ゾさせる技術が一般的に採られるようになった。従来。
磁気ディスクサブシステムにおいては高速制御が要求さ
れるため、フォーマット形式が異なる場合ニハ、各フォ
ーマットに対応するサブシステムを構築するのが一般的
で６Ｄ、ｓＤ情報は専用の試験器による媒体チェックの
結果、検出された不良箇所の位置に基づいたスキッゾ制
御情報であることから、各ディスクサブシステムに固有
なものであった０ しかし乍ら、固定ディスク媒体は同一規格の媒体であっ
ても、ＳＤ情報は適用されるサブシステムに対応する形
式で記録されているため、媒体をサブシステム間で交換
することができず１例えば。
れるため、フォーマット形式が異なる場合ニハ、各フォ
ーマットに対応するサブシステムを構築するのが一般的
で６Ｄ、ｓＤ情報は専用の試験器による媒体チェックの
結果、検出された不良箇所の位置に基づいたスキッゾ制
御情報であることから、各ディスクサブシステムに固有
なものであった０ しかし乍ら、固定ディスク媒体は同一規格の媒体であっ
ても、ＳＤ情報は適用されるサブシステムに対応する形
式で記録されているため、媒体をサブシステム間で交換
することができず１例えば。
保守用媒体として複数の種類の媒体を用意するか。
ＳＤ情報生成の基となる不良バイト位置情報をフロッピ
ィディスクに出力し、該情報をもとにソフトウェアで再
フォ−マツトするなどの回避策を講ぜねばならないとい
う問題があった。
ィディスクに出力し、該情報をもとにソフトウェアで再
フォ−マツトするなどの回避策を講ぜねばならないとい
う問題があった。
本発明の目的は、上記従来の問題を解決し、フォーマッ
ト形式の異なる複数の磁気ディスクサブシステムに適用
可能な固定ディスク媒体の不良箇所スキラグ情報記録方
式を提供することにある。
ト形式の異なる複数の磁気ディスクサブシステムに適用
可能な固定ディスク媒体の不良箇所スキラグ情報記録方
式を提供することにある。
本発明による固定ディスク媒体の不良箇所スキラグ情報
記録方式は、固定媒体を組込んだディスク装置に接続さ
れ、書込／読出動作を実行する手段と、媒体の不良箇所
を検出する手段と、検出された不良箇所を記憶する手段
と、記憶された不良箇所情報から複数のフォーマット形
式に対応する不良箇所スキップ情報を作成する手段と、
媒体の所定位置に各フォーマット形式の識別情報を付加
した複数の不良箇所スキラグ情報を記録する手段とから
構成された固定ディスク媒体試験器を備え。
記録方式は、固定媒体を組込んだディスク装置に接続さ
れ、書込／読出動作を実行する手段と、媒体の不良箇所
を検出する手段と、検出された不良箇所を記憶する手段
と、記憶された不良箇所情報から複数のフォーマット形
式に対応する不良箇所スキップ情報を作成する手段と、
媒体の所定位置に各フォーマット形式の識別情報を付加
した複数の不良箇所スキラグ情報を記録する手段とから
構成された固定ディスク媒体試験器を備え。
媒体の不良箇所を検出すると、それぞれ異なるフォーマ
ット形式に対応する複数の不良箇所スキラグ情報を、そ
れぞれの不良箇所スキップ情報の所定位置にフォーマッ
ト識別情報を付加したうえ。
ット形式に対応する複数の不良箇所スキラグ情報を、そ
れぞれの不良箇所スキップ情報の所定位置にフォーマッ
ト識別情報を付加したうえ。
記録することを特徴とする。
次に１本発明について実施例を挙げ２図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は１本発明による実施例の構成を示すブロック図
である。この図において、固定媒体ディスク装置１はＳ
Ｄ情報の記録される対象となるディスク装置を示してお
シ、装置インタフェース１０１及び試験用インタフェー
ス１０２を介して固定ディスク媒体試験器２に接続され
ている。固定ディスク媒体試験器２は、試験データの作
成、試験動作の実行制御、フォーマット形式に対応する
ＳＤ情報の作成、ＳＤ情報書込動作の実行制御等を行う
主制御部２−１と、主制御部２−１の指示によシ装置イ
ンタフェース１０１を制御するとともに、書込／読出動
作を実行する書込／読出回路２−２と。
である。この図において、固定媒体ディスク装置１はＳ
Ｄ情報の記録される対象となるディスク装置を示してお
シ、装置インタフェース１０１及び試験用インタフェー
ス１０２を介して固定ディスク媒体試験器２に接続され
ている。固定ディスク媒体試験器２は、試験データの作
成、試験動作の実行制御、フォーマット形式に対応する
ＳＤ情報の作成、ＳＤ情報書込動作の実行制御等を行う
主制御部２−１と、主制御部２−１の指示によシ装置イ
ンタフェース１０１を制御するとともに、書込／読出動
作を実行する書込／読出回路２−２と。
試験用インタフェース１０２を介して不良箇所検出のだ
衿の各種アナログ信号を入力し、媒体の不良を検出する
検出回路２−３と、検出回路２−３から信号線１０３を
介して送られた媒体の不良箇所と上記書込／読出回路２
−２から信号線１０４を介して送られた読出ビット位置
出力信号とを入力とし、不良ビット位置を順次記憶する
記憶回路２−４とから構成されている。
衿の各種アナログ信号を入力し、媒体の不良を検出する
検出回路２−３と、検出回路２−３から信号線１０３を
介して送られた媒体の不良箇所と上記書込／読出回路２
−２から信号線１０４を介して送られた読出ビット位置
出力信号とを入力とし、不良ビット位置を順次記憶する
記憶回路２−４とから構成されている。
このような構成において、主制御部２−１は。
操作員等からの指示を、第１図には図示されていないが
、公知の手段によシ認識すると、媒体の不良箇所検出の
だめの動作を開始する。主制御部２−１は信号線１０５
によシ試験対象シリンダ／トラックの選択、試験・にタ
ーンの書込／読出等の試験動作の実行指示を書込／読出
回路２−２に通知する。主制御部２−１及び書込／読出
回路２−２による試験動作実行のだめの方法は、一般の
ディスク制御装置に採用されている公知の技術が用いら
れる。固定媒体ディスク装置１の読出動作実行中におい
て、媒体不良検出に必要となるあらかじめ決められたア
ナログ情報を含む読出状態情報は。
、公知の手段によシ認識すると、媒体の不良箇所検出の
だめの動作を開始する。主制御部２−１は信号線１０５
によシ試験対象シリンダ／トラックの選択、試験・にタ
ーンの書込／読出等の試験動作の実行指示を書込／読出
回路２−２に通知する。主制御部２−１及び書込／読出
回路２−２による試験動作実行のだめの方法は、一般の
ディスク制御装置に採用されている公知の技術が用いら
れる。固定媒体ディスク装置１の読出動作実行中におい
て、媒体不良検出に必要となるあらかじめ決められたア
ナログ情報を含む読出状態情報は。
試験用インタフェース１０２を通して、常時、検出回路
２−３に入力される。検出回路２−３は上記の読出状態
情報により媒体不良を判断すると。
２−３に入力される。検出回路２−３は上記の読出状態
情報により媒体不良を判断すると。
媒体不良信号を信号線１０３に出力する。記憶回路２−
４には、読出動作中に書込／読出回路２−２から読出バ
イト位置情報が信号線１０４を介して入力されておシ、
信号線１０３を介して媒体不良信号が入力されると、そ
の時のバイト位置情報を記憶回路２−４が記憶する。
４には、読出動作中に書込／読出回路２−２から読出バ
イト位置情報が信号線１０４を介して入力されておシ、
信号線１０３を介して媒体不良信号が入力されると、そ
の時のバイト位置情報を記憶回路２−４が記憶する。
記憶回路２−４は１トラ、り当シの許容不良箇新教と同
数の不良バイト位置情報を発生順に記憶可能であり、そ
れ以上の不良箇所が検出されると不良トラックを記憶す
る。記憶回路２−４の記憶情報は主制御部２−１により
読取られるとリセットされる。主制御部２−１は１トラ
ツクにつき。
数の不良バイト位置情報を発生順に記憶可能であり、そ
れ以上の不良箇所が検出されると不良トラックを記憶す
る。記憶回路２−４の記憶情報は主制御部２−１により
読取られるとリセットされる。主制御部２−１は１トラ
ツクにつき。
いくつかの試験・ぐターンを用いて上記の動作を繰返し
、最終的な不良ビット位置を決定し、複数のフォーマッ
ト形式に対応するＳＤ情報を生成する。
、最終的な不良ビット位置を決定し、複数のフォーマッ
ト形式に対応するＳＤ情報を生成する。
生成された複数のＳＤ情報は、フォーマット形式毎に異
なる同期バイトと組合されて対象トラックの先端部の所
定位置に引続いて書込まれる。
なる同期バイトと組合されて対象トラックの先端部の所
定位置に引続いて書込まれる。
次に、上記実施例に適用されるトラックフォーマットに
ついて２例を挙げて説明する。第２図は。
ついて２例を挙げて説明する。第２図は。
固定長フォーマット形式（セクタ形式）によるトラック
フォーマットの１例でおる。この゛−セクタ形式によれ
ば、 ＳＤ情報は不良ブロック番号及び不良ブロック内
の相対バイト位置によシ構成されている。第３図は、可
変長フォーマット形式（レコード形式）によるトランク
フォーマットの１例である。このレコード形式によれば
、 ＳＤ情報はインデクスマークから不良箇所までのバ
イト数からなる。
フォーマットの１例でおる。この゛−セクタ形式によれ
ば、 ＳＤ情報は不良ブロック番号及び不良ブロック内
の相対バイト位置によシ構成されている。第３図は、可
変長フォーマット形式（レコード形式）によるトランク
フォーマットの１例である。このレコード形式によれば
、 ＳＤ情報はインデクスマークから不良箇所までのバ
イト数からなる。
なお、第２図及び第３図に示す破線部はソフトウェアに
よりフォーマットされるのが一般的であり。
よりフォーマットされるのが一般的であり。
試験器によるフォーマット時は″０″クリアされている
。第４図は、上記の例に見られる異なるフォーマット形
式のＳＤ情報が隣接してフォーマットされている例であ
る。一般に、 ＳＤ情報量はトラック容量に比較して極
めて微少でおるから、それぞれのディスクサブシステム
では自サブシステムに対応する同期バイト直後のデータ
をＳＤ情報と認識することによシ、他サブシステムのＳ
Ｄ情報を無視することは容易に実現可能である。
。第４図は、上記の例に見られる異なるフォーマット形
式のＳＤ情報が隣接してフォーマットされている例であ
る。一般に、 ＳＤ情報量はトラック容量に比較して極
めて微少でおるから、それぞれのディスクサブシステム
では自サブシステムに対応する同期バイト直後のデータ
をＳＤ情報と認識することによシ、他サブシステムのＳ
Ｄ情報を無視することは容易に実現可能である。
以上の説明により明らかなように１本発明によれば、異
なるフォーマット形式の固定ディスク媒体のＳＤ情報を
それぞれの所定位置にフォーマット識別情報を付して記
録することにより、異なるディスクサブシステムにも容
易に適用可能となり。
なるフォーマット形式の固定ディスク媒体のＳＤ情報を
それぞれの所定位置にフォーマット識別情報を付して記
録することにより、異なるディスクサブシステムにも容
易に適用可能となり。
保守用媒体の管理運用に適用して、その得られる効果は
大きい。
大きい。
第１図は本発明による実施例の構成を示すブロック図、
第２図は固定長フォーマット形式によるトラックフォー
マットの例、第３図は可変長フォーマット形式によるト
ラックフォーマットの例。 第４図は異なるフォーマ、ト形式のＳＤ情報力５隣接し
ている場合のフォーマットの例である。図において、１
は固定媒体ディスク装置、２は固定ディスク媒体試験器
、２−１は主制御部、２−２は書込／読出回路、２−３
は検出回路、２−４はｇ憶回路である。 第１図
第２図は固定長フォーマット形式によるトラックフォー
マットの例、第３図は可変長フォーマット形式によるト
ラックフォーマットの例。 第４図は異なるフォーマ、ト形式のＳＤ情報力５隣接し
ている場合のフォーマットの例である。図において、１
は固定媒体ディスク装置、２は固定ディスク媒体試験器
、２−１は主制御部、２−２は書込／読出回路、２−３
は検出回路、２−４はｇ憶回路である。 第１図
Claims (1)
- １、固定媒体を組込んだディスク装置に接続され、書込
／読出動作を実行する手段と、媒体の不良箇所を検出す
る手段と、検出された不良箇所を記憶する手段と、記憶
された不良箇所情報から複数のフォーマット形式に対応
する不良箇所スキップ情報を作成する手段と、媒体の所
定位置に各フォーマット形式の識別情報を付加した複数
の不良箇所スキソデ情報を記録する手段とから構成され
た固定ディスク媒体試験器を備え、媒体の不良箇所を検
出すると、それぞれ異なるフォーマット形式に対応する
複数の不良箇所スキップ情報を、それぞれの不良箇所ス
キップ情報の所定位置にフォーマント識別情報を付加し
たう夕、記録することを特徴とする固定ディスク媒体の
不良箇所スキッゾ情報記録方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8364384A JPS60229272A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | 固定デイスク媒体の不良箇所スキツプ情報記録方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8364384A JPS60229272A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | 固定デイスク媒体の不良箇所スキツプ情報記録方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60229272A true JPS60229272A (ja) | 1985-11-14 |
Family
ID=13808127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8364384A Pending JPS60229272A (ja) | 1984-04-27 | 1984-04-27 | 固定デイスク媒体の不良箇所スキツプ情報記録方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60229272A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62156743A (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-11 | Hitachi Ltd | 同時デ−タ転送制御装置 |
| KR100422428B1 (ko) * | 1996-11-28 | 2004-05-17 | 삼성전자주식회사 | 번-인테스트공정 시간 단축방법 |
-
1984
- 1984-04-27 JP JP8364384A patent/JPS60229272A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62156743A (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-11 | Hitachi Ltd | 同時デ−タ転送制御装置 |
| KR100422428B1 (ko) * | 1996-11-28 | 2004-05-17 | 삼성전자주식회사 | 번-인테스트공정 시간 단축방법 |
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