JPS63249978A - 磁気デイスク装置の検査方式 - Google Patents
磁気デイスク装置の検査方式Info
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- JPS63249978A JPS63249978A JP8343587A JP8343587A JPS63249978A JP S63249978 A JPS63249978 A JP S63249978A JP 8343587 A JP8343587 A JP 8343587A JP 8343587 A JP8343587 A JP 8343587A JP S63249978 A JPS63249978 A JP S63249978A
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Landscapes
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、磁気ディスクパックとコントローラとが一
体として構成された、インテリジェントな磁気ディスク
装置の記録性能の検査方式に関するものである。
体として構成された、インテリジェントな磁気ディスク
装置の記録性能の検査方式に関するものである。
［従来の技術］
コンピュータシステムの記憶媒体として、磁気ディスク
はますます高密度、高性能化されており製造段階におい
ては磁気ディスクの単体について厳密な検査が行われて
いるが、これが磁気ヘッドとともにアッセンブルされた
ヘッド・ディスクアッセンブリとしても、実使用状態で
総合特性が検査される。以下磁気ディスクアッセンブリ
の検査について簡単に説明する。
はますます高密度、高性能化されており製造段階におい
ては磁気ディスクの単体について厳密な検査が行われて
いるが、これが磁気ヘッドとともにアッセンブルされた
ヘッド・ディスクアッセンブリとしても、実使用状態で
総合特性が検査される。以下磁気ディスクアッセンブリ
の検査について簡単に説明する。
第４［Ｊ（ａ）、（ｂ）および（ｃ）は、磁気ディスク
のトラック、セクタを示すもので、図（ａ）において、
磁気ディスクＤＩには多数の同心円のトラックＴが設定
される。磁気ディスクＤＩは複数枚が図（ｂ）に示すよ
うに、積層されてディスクパ・・ツクを形成し、同一位
置のトラ・ツクＴは一括してシリンダＣとよばれ、コン
ピュータより同時にアクセスできる。なお、磁気ディス
クの１枚はサーボ情報の記録用に当てられる。
のトラック、セクタを示すもので、図（ａ）において、
磁気ディスクＤＩには多数の同心円のトラックＴが設定
される。磁気ディスクＤＩは複数枚が図（ｂ）に示すよ
うに、積層されてディスクパ・・ツクを形成し、同一位
置のトラ・ツクＴは一括してシリンダＣとよばれ、コン
ピュータより同時にアクセスできる。なお、磁気ディス
クの１枚はサーボ情報の記録用に当てられる。
各トラックＴは一定の角度のセクタＳに等分割され、さ
らに各セクタＳｎは制御コード用のフィールドとデータ
用のフィールドに区分さｔして設定される。このような
、セクタと制御コードおよびデータフィールドの区分は
本来任意であるが、互換性などのために１国際的なフォ
ーマ・ソト規格に統一され、これに従ったコンピュータ
とのインタフェースが使用されている。
らに各セクタＳｎは制御コード用のフィールドとデータ
用のフィールドに区分さｔして設定される。このような
、セクタと制御コードおよびデータフィールドの区分は
本来任意であるが、互換性などのために１国際的なフォ
ーマ・ソト規格に統一され、これに従ったコンピュータ
とのインタフェースが使用されている。
図（Ｃ）はフォーマットの１例を示すもので、トラック
の基準位置（インデックス、ＩＮＤ）を基準として第１
のギャップＧＡＰ□をおき、続いて１７個のセクタＳを
設定する。各セクタＳｎは。
の基準位置（インデックス、ＩＮＤ）を基準として第１
のギャップＧＡＰ□をおき、続いて１７個のセクタＳを
設定する。各セクタＳｎは。
前頭に同期コード５ＹＮＣ，識別コードＩＤ、第２のギ
ャップＧＡＰ２よりなる制御コードフィールドＣ１をお
き、ついでデータフィールドＤがあり、その後にエラー
チェヅクコードＥＣＣ，第３のギヤ・ツブＧＡＰ、より
なる制御コードフィールドＣ２が設けられて構成されて
いる。
ャップＧＡＰ２よりなる制御コードフィールドＣ１をお
き、ついでデータフィールドＤがあり、その後にエラー
チェヅクコードＥＣＣ，第３のギヤ・ツブＧＡＰ、より
なる制御コードフィールドＣ２が設けられて構成されて
いる。
前記したイニシャライザは、このようなフォーマットを
磁気ディスクに設定することが目的の装置であるが、同
時に設定されたフォーマ・・ｌトの確認、すなわちサー
テイファイを併せて行うものである。このサーテイファ
イの方法には、設定された各セクタのデータフィールド
にテストコードをライト／リードする方法などの他に、
イニシャライズされる前に全トラックの全周について、
適当なテストコードにより磁気ヘッドを含めた磁気媒体
の記憶性能をテストするものがある。このテストにはア
ナログ的な要素が含まれているので、関係者はアナログ
テス１−と呼んでいる。以下、アナログテストの概要に
ついて説明する。
磁気ディスクに設定することが目的の装置であるが、同
時に設定されたフォーマ・・ｌトの確認、すなわちサー
テイファイを併せて行うものである。このサーテイファ
イの方法には、設定された各セクタのデータフィールド
にテストコードをライト／リードする方法などの他に、
イニシャライズされる前に全トラックの全周について、
適当なテストコードにより磁気ヘッドを含めた磁気媒体
の記憶性能をテストするものがある。このテストにはア
ナログ的な要素が含まれているので、関係者はアナログ
テス１−と呼んでいる。以下、アナログテストの概要に
ついて説明する。
第５図はアナログテスト用のコードを示すもので、磁気
ディスク装置のクロック周波数をｆとし、これに同期し
た１ｆコード（１６進のＡＡ）と、２倍周波数の２ｆコ
ード（同ＦＦ）が使用されている。第６図に示す構成に
より、イニシャライザ（ＴＮＴＩ）］よりこれらのテス
トコードを発生してコントローラ（ＣＯＮＴ）２に与え
ると、その制御によりヘッド・ディスクア・・ｌセンブ
リ（ＨＤＡ）３に入力してトラックの全周に亘って書き
込みが行われる、これが読み出されて、ｌＮＴｌ】にお
いて各種の解析がなされて性能が検査される。第７図は
、テストの手順を示すフローチャー１〜で、まず２ｆコ
ードが書き込まれ■、これを読み出してその平均値が算
出され■、この値を聞直として各ビットの波高性をチェ
・ツクして、ミ・ソシングのテストがなされる■。また
、多数のビットをグループとして、波高値の変動すなわ
ち変調度がテストされる■。ついで、２ｆコードを消去
し■、消去が完全であるか否かについて、残留ノイズテ
ストがなされる■。次に、１ｆコードの書き込み■、平
均値算出■、それらの比率の算出■などが行われるもの
である。
ディスク装置のクロック周波数をｆとし、これに同期し
た１ｆコード（１６進のＡＡ）と、２倍周波数の２ｆコ
ード（同ＦＦ）が使用されている。第６図に示す構成に
より、イニシャライザ（ＴＮＴＩ）］よりこれらのテス
トコードを発生してコントローラ（ＣＯＮＴ）２に与え
ると、その制御によりヘッド・ディスクア・・ｌセンブ
リ（ＨＤＡ）３に入力してトラックの全周に亘って書き
込みが行われる、これが読み出されて、ｌＮＴｌ】にお
いて各種の解析がなされて性能が検査される。第７図は
、テストの手順を示すフローチャー１〜で、まず２ｆコ
ードが書き込まれ■、これを読み出してその平均値が算
出され■、この値を聞直として各ビットの波高性をチェ
・ツクして、ミ・ソシングのテストがなされる■。また
、多数のビットをグループとして、波高値の変動すなわ
ち変調度がテストされる■。ついで、２ｆコードを消去
し■、消去が完全であるか否かについて、残留ノイズテ
ストがなされる■。次に、１ｆコードの書き込み■、平
均値算出■、それらの比率の算出■などが行われるもの
である。
さて、磁気ディスク装置は前記したように高密度化され
るとともに、アクセスタイムの短縮のために高速化が進
展しているが、反面これがホストコンピュータの大きな
負荷となっている。これに対応するために、ホストコン
ピュータと磁気ディスク装置のコントローラ間のインタ
フェースをインテリジェント化してコマンド指令により
、磁気ディスク装置の入出力制御をコントローラに分担
させる方式とするものがあり、これに対するインタフェ
ースには、５Ｃ３Ｉ（スモール・コンピュータ・システ
ム・インタフェース）などの国際規格がある。しかしな
がら、このインタフェース規格を採用した磁気ディスク
装置においては、上記したアナログテストの実施に問題
がある。すなわち、このような磁気ディスク装置におい
ては、第６図に示したＣ０ＮＴ２はホストコンピュータ
よりのコマンド指令により、予め設定されている特定の
フォーマＺトに関する動作のみを行いうるもので、上記
した磁気ディスクのトラックの全周にテストコードをラ
イ１〜／リードすることができず、ライト／リードのエ
リアはデータフィールドに限定されている９そこで、こ
のような磁気ディスク装置において、トラックの全周を
アナログテストする手段か是非とも必要となる次第であ
る。
るとともに、アクセスタイムの短縮のために高速化が進
展しているが、反面これがホストコンピュータの大きな
負荷となっている。これに対応するために、ホストコン
ピュータと磁気ディスク装置のコントローラ間のインタ
フェースをインテリジェント化してコマンド指令により
、磁気ディスク装置の入出力制御をコントローラに分担
させる方式とするものがあり、これに対するインタフェ
ースには、５Ｃ３Ｉ（スモール・コンピュータ・システ
ム・インタフェース）などの国際規格がある。しかしな
がら、このインタフェース規格を採用した磁気ディスク
装置においては、上記したアナログテストの実施に問題
がある。すなわち、このような磁気ディスク装置におい
ては、第６図に示したＣ０ＮＴ２はホストコンピュータ
よりのコマンド指令により、予め設定されている特定の
フォーマＺトに関する動作のみを行いうるもので、上記
した磁気ディスクのトラックの全周にテストコードをラ
イ１〜／リードすることができず、ライト／リードのエ
リアはデータフィールドに限定されている９そこで、こ
のような磁気ディスク装置において、トラックの全周を
アナログテストする手段か是非とも必要となる次第であ
る。
［発明の目的］
この発明は以上の事情に鑑み、５Ｃ３Ｉなどのインタフ
ェース規格によるコマンド指令方式によりリード／ライ
トが行われる磁気ディスク装置において、トラックの全
周のアナログテストを行うことのできる検査方式を提供
することを目的とするものである。
ェース規格によるコマンド指令方式によりリード／ライ
トが行われる磁気ディスク装置において、トラックの全
周のアナログテストを行うことのできる検査方式を提供
することを目的とするものである。
［問題点を解決するための手段］
この発明は、ディスク表面のトラックのインデックスを
基準として、制御コードフィールドおよびデータフィー
ルドよりなるセクタに区分した磁気ディスクの複数枚を
サーボ用の磁気ディスクとともに積層したディスクバッ
クと、各磁気ディスクに対応した磁気ヘッドとにより構
成されたべ・・７ド・ディスクア・・ｌセンブリに対し
て、イニシャライザよりデータフィールドにテストコー
ドを書き込み／読み出して検査する検査方式であって、
サーボディスクの回転によりえられる、インデックスの
信号をイニシャライザに入力して、該インテ・ソクス信
号および該インデックス信号に対して一定のバイト数に
相当する時間を遅延した遅延インデックス信号とを出力
して、それぞれデータフィールドおよび遅延データフィ
ールドを設定し、設定されたデータフィールドに対して
テストコードによる第１のテストを行い、さらに遅延デ
ータフィールドに対してテストコードによる第２のテス
トを行うものである。
基準として、制御コードフィールドおよびデータフィー
ルドよりなるセクタに区分した磁気ディスクの複数枚を
サーボ用の磁気ディスクとともに積層したディスクバッ
クと、各磁気ディスクに対応した磁気ヘッドとにより構
成されたべ・・７ド・ディスクア・・ｌセンブリに対し
て、イニシャライザよりデータフィールドにテストコー
ドを書き込み／読み出して検査する検査方式であって、
サーボディスクの回転によりえられる、インデックスの
信号をイニシャライザに入力して、該インテ・ソクス信
号および該インデックス信号に対して一定のバイト数に
相当する時間を遅延した遅延インデックス信号とを出力
して、それぞれデータフィールドおよび遅延データフィ
ールドを設定し、設定されたデータフィールドに対して
テストコードによる第１のテストを行い、さらに遅延デ
ータフィールドに対してテストコードによる第２のテス
トを行うものである。
上記の一定のバイト数に相当する時間を遅延した遅延イ
ンデックス信号は、これにより設定される遅延データフ
ィールドがトラック上の位置として、インデックス信号
（遅延しない）により設定される制御コードフィールド
の位置をカバーするように定められる。
ンデックス信号は、これにより設定される遅延データフ
ィールドがトラック上の位置として、インデックス信号
（遅延しない）により設定される制御コードフィールド
の位置をカバーするように定められる。
［作用］
一般にセクタ内のデータフィールドの長さは。
制御コードフィールドのそれよりかなり大きいので、こ
の発明による磁気ディスクの検査方式によれば、インテ
・ソクス信号と、それを遅延した遅延インデックス信号
により設定された、データフィールドと遅延データフィ
ールドがオーバラップしてトラックの全周をカバーする
ことができ２それぞれについて別個にテストを行い、ト
ラ・・ｌりの全周のアナログテストができるものである
［実施例］ 前記したごとく、コマンド指令形式による制御される磁
気ディスク装置においては、ライト／リードコマンド（
命令）により、一定のフォーマ・ソトのリード／ライト
に限定されており、トラックの全周に亘る検査ができな
い、そこでこの発明に一つ− おいては、まず、ヘッド・ディスクアッセンブリのサー
ボディスクより、インデックス信号を取り出し、これを
そのまま出力してコン１−ローラで、通常の方法により
、データフィールドにテストコードをライト／リードし
て第１のテストを行い、次に、インデックス信号をハー
ド回路により一定時間遅延してコントローラに与え、遅
延データフィールドを設定して、この遅延データフィー
ルドに対して同様のテストコードにより第２のテストを
行う方式とするものである。
の発明による磁気ディスクの検査方式によれば、インテ
・ソクス信号と、それを遅延した遅延インデックス信号
により設定された、データフィールドと遅延データフィ
ールドがオーバラップしてトラックの全周をカバーする
ことができ２それぞれについて別個にテストを行い、ト
ラ・・ｌりの全周のアナログテストができるものである
［実施例］ 前記したごとく、コマンド指令形式による制御される磁
気ディスク装置においては、ライト／リードコマンド（
命令）により、一定のフォーマ・ソトのリード／ライト
に限定されており、トラックの全周に亘る検査ができな
い、そこでこの発明に一つ− おいては、まず、ヘッド・ディスクアッセンブリのサー
ボディスクより、インデックス信号を取り出し、これを
そのまま出力してコン１−ローラで、通常の方法により
、データフィールドにテストコードをライト／リードし
て第１のテストを行い、次に、インデックス信号をハー
ド回路により一定時間遅延してコントローラに与え、遅
延データフィールドを設定して、この遅延データフィー
ルドに対して同様のテストコードにより第２のテストを
行う方式とするものである。
第１図は、この発明による磁気ディスクの検査方式を、
第４図（ｃ）に示したセクタ７オーマツ１〜に適用した
実施例におけるタイムチャートで、第２図は第１図に対
するハード構成図である。先ずハード構成について説明
すると、イニシャライザ（ＩＮＴＩ）１はホストコンピ
ュータ（Ｈ，Ｃ○ＭＰ）５に代わって、パスライン（Ｂ
ｕｓ）４によりコントローラ（ＣＯＮＴ）６に接続され
る。
第４図（ｃ）に示したセクタ７オーマツ１〜に適用した
実施例におけるタイムチャートで、第２図は第１図に対
するハード構成図である。先ずハード構成について説明
すると、イニシャライザ（ＩＮＴＩ）１はホストコンピ
ュータ（Ｈ，Ｃ○ＭＰ）５に代わって、パスライン（Ｂ
ｕｓ）４によりコントローラ（ＣＯＮＴ）６に接続され
る。
Ｃ０ＮＴ６とヘッド・ディスクアッセンブリ（ＨＤＡ）
３との間には、ケーブル接続Ｅがすでに行われているが
、ＨＤＡ３よりインデックス信号を取り出す配線Ｆを、
配線Ｆ１とＦ２とによりＩＮＴＩＩを経由してＣ０ＮＴ
６に転送するように変更する。この配線変更は、プリン
ト基板の端子により容易に行うことができる。
３との間には、ケーブル接続Ｅがすでに行われているが
、ＨＤＡ３よりインデックス信号を取り出す配線Ｆを、
配線Ｆ１とＦ２とによりＩＮＴＩＩを経由してＣ０ＮＴ
６に転送するように変更する。この配線変更は、プリン
ト基板の端子により容易に行うことができる。
第１、第２図において、（イ）はＨＤＡ３のサーボディ
スクよりえられるハード的なインテ・・Ｉクス信号（Ｐ
）（、ＩＮＤ）で、これがＩＮＴＩＩを経由してＣ０Ｎ
Ｔ６で（１７）に示す時間Δを遅延した論理的なインデ
ックスコード（Ｌ、ｒＮＤ）に変換され、Ｌ、丁ＮＤが
トラ・ツクの基準位置として磁気ディスクに設定される
。
スクよりえられるハード的なインテ・・Ｉクス信号（Ｐ
）（、ＩＮＤ）で、これがＩＮＴＩＩを経由してＣ０Ｎ
Ｔ６で（１７）に示す時間Δを遅延した論理的なインデ
ックスコード（Ｌ、ｒＮＤ）に変換され、Ｌ、丁ＮＤが
トラ・ツクの基準位置として磁気ディスクに設定される
。
このり、ＩＮＤを起点として（ハ）のように、ギヤ・７
７ Ｇ 、Ａ Ｐ ＋ 、制御コードＣ１，データフィ
ールドＤ、さらに制御コードＣ２，Ｃ，、データフィー
ルドＤ・・・・・・のｊ頃に設定される。ただしこの場
合は、データフィールドＤ以外のコードはテストに必要
がないので、プログラムにより禁止（インヒビット）し
て記録せず空白とされる。同時に。
７ Ｇ 、Ａ Ｐ ＋ 、制御コードＣ１，データフィ
ールドＤ、さらに制御コードＣ２，Ｃ，、データフィー
ルドＤ・・・・・・のｊ頃に設定される。ただしこの場
合は、データフィールドＤ以外のコードはテストに必要
がないので、プログラムにより禁止（インヒビット）し
て記録せず空白とされる。同時に。
データフィールドＤに対して、ＩＮＴＩＩより与えられ
るテストコードが書き込まれて、に）の第１のテストが
行われる。第１のテストが終了後、インデックス信号は
ＩＮＴＩＩにおいて、（ヨ）に示す一定時間Ｔ。遅延さ
れた遅延インデックス信号（ＤＥＬ、ＰＨ，ＩＮＤ＞と
されてＣ０ＮＴ６に転送されて遅延データフィールドＤ
′が設定され、これに書き込まれたテストコードにより
第２のテストが行われる。この場合、前記したように、
データフィールドＤ、Ｄ’の長さが制御コードフィール
ドに比して十分に長いので、遅延時間Ｔ。
るテストコードが書き込まれて、に）の第１のテストが
行われる。第１のテストが終了後、インデックス信号は
ＩＮＴＩＩにおいて、（ヨ）に示す一定時間Ｔ。遅延さ
れた遅延インデックス信号（ＤＥＬ、ＰＨ，ＩＮＤ＞と
されてＣ０ＮＴ６に転送されて遅延データフィールドＤ
′が設定され、これに書き込まれたテストコードにより
第２のテストが行われる。この場合、前記したように、
データフィールドＤ、Ｄ’の長さが制御コードフィール
ドに比して十分に長いので、遅延時間Ｔ。
は必ずしも精密なものとする必要はないが、第１図にお
いては、各コードのバイト数より、遅延データフィール
ドＤ゛の位置が制御コードＣ，、Ｃ２を中心とするよう
に定めたものである。
いては、各コードのバイト数より、遅延データフィール
ドＤ゛の位置が制御コードＣ，、Ｃ２を中心とするよう
に定めたものである。
第３図は、この発明による磁気ディスクの検査方式を適
用して行うアナログテストの実施例におけるプログラム
のフローチャートを示す。図において、丁ＮＴＩＩより
フォーマットのコマンドが指令され（１）、ついで書き
込みコマンドにより第５図に示したテストコード２ｆが
書き込み／読み出しされる（２）。この場合は、ＨＤＡ
３よりのインテ・ソクス信号はＩＮＴＴＩよりそのまま
Ｃ０ＮＴ６に転送される（Ｉ２）。これが終了すると、
Ｃ○ＮＴ６により、ＩＮＴＩＩはＢＵＳ４より解放され
て（３）、ここで２１コードの平均値が算出され（４）
、ミ・ソシングおよび変調度がテストされる（５）、つ
いで、２ｆコードの消去（６）、残留ノイズのテストが
行われ（７）、さらに、１ｆコードの書き込み／読み出
しコマンドが指令されて実行される（８）。この場合も
遅延しない生のインデックス信号がＣ０ＮＴ６にあたえ
られる（１２）。以下ＢＵＳ４の解放（９） 、 １
ｆコードの平均値の算出（ｌ １１ ＞、２ｆコードと
１ｆコードのそれぞれの平均値の比率の算出（１１）の
順となる。これらが終了すると。
用して行うアナログテストの実施例におけるプログラム
のフローチャートを示す。図において、丁ＮＴＩＩより
フォーマットのコマンドが指令され（１）、ついで書き
込みコマンドにより第５図に示したテストコード２ｆが
書き込み／読み出しされる（２）。この場合は、ＨＤＡ
３よりのインテ・ソクス信号はＩＮＴＴＩよりそのまま
Ｃ０ＮＴ６に転送される（Ｉ２）。これが終了すると、
Ｃ○ＮＴ６により、ＩＮＴＩＩはＢＵＳ４より解放され
て（３）、ここで２１コードの平均値が算出され（４）
、ミ・ソシングおよび変調度がテストされる（５）、つ
いで、２ｆコードの消去（６）、残留ノイズのテストが
行われ（７）、さらに、１ｆコードの書き込み／読み出
しコマンドが指令されて実行される（８）。この場合も
遅延しない生のインデックス信号がＣ０ＮＴ６にあたえ
られる（１２）。以下ＢＵＳ４の解放（９） 、 １
ｆコードの平均値の算出（ｌ １１ ＞、２ｆコードと
１ｆコードのそれぞれの平均値の比率の算出（１１）の
順となる。これらが終了すると。
ルーチンは（２）に戻って、上記と同様の手順により、
遅延インデックス信号による第２のテストが実行される
ものである６ 以上において、第１テストと第２テストのデータフィー
ルドがオーバラヅプするために、トラ、ツクの同一箇所
が２度テストされるが、テストによりえられる異常また
は欠陥は、そのアドレス位置が同時に判明するので、同
一のものをダブルカウントする恐れは生じない。
遅延インデックス信号による第２のテストが実行される
ものである６ 以上において、第１テストと第２テストのデータフィー
ルドがオーバラヅプするために、トラ、ツクの同一箇所
が２度テストされるが、テストによりえられる異常また
は欠陥は、そのアドレス位置が同時に判明するので、同
一のものをダブルカウントする恐れは生じない。
［発明の効果］
以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクの検査方式においては、コマンド指令形式のイ
ンタフェース規格の磁気ディスク装置に対して、インデ
ックス信号を遅延させて。
ディスクの検査方式においては、コマンド指令形式のイ
ンタフェース規格の磁気ディスク装置に対して、インデ
ックス信号を遅延させて。
データフィールドを設定することにより、トラ・ツクの
全周に亘ってアナログテストを実施可能とするもので、
配線の変更、プログラムの作成などは容易であるなど直
ちに実行できるものであり、イニシャライザによる磁気
ディスク装置の検査技術に貢献するところには大きいも
のがある。
全周に亘ってアナログテストを実施可能とするもので、
配線の変更、プログラムの作成などは容易であるなど直
ちに実行できるものであり、イニシャライザによる磁気
ディスク装置の検査技術に貢献するところには大きいも
のがある。
第１図は、この発明による磁気ディスク装置の検査方式
の実施例におけるタイムチャート、第２図は第１図に対
するハード構成図、第３図は、第１図および第２図に対
するプログラムのフローチャート、第４図（ａ）、（ｂ
）および＜ｃ）は、磁気ディスフ装置のトランクとセク
タを示す図、第５図は磁気ディスク装置のアナログテス
トのコードを示す図、第６図は、従来のアナログテスト
のハード構成図、第７図は、従来の磁気ディスク装置の
検査方式におけるアナログテストのフローチャートであ
る。 １・・・イニシャライザ（ＩＮＴＩ）、２．６・・・コ
ントローラ（ＣＯＮＴ）、３・・−ヘッド・ディスクア
ッセンブリ（ＨＤＡ）、４・・・パスライン（ＢＵＳ）
、 ５・・・ホストコンピュータ、（Ｈ，ＣＯＭＰ）。 ＤＩ・・・磁気ディスク、 Ｔ・・・トラック、Ｓ・・
・セクタ、 Ｈ・・・磁気ヘッド、Ｃ・・・シ
リンダ、 Ｄ・・・データフィールド、（：”
＋ 、Ｃ２・・・制御コードフィールド、ＴＮＤ・・・
インテ・ソクス。 ＰＨ，ＩＮＤ・・・インテ・ソクス信号、Ｌ、ＥＮＤ・
・・インデックスコード。 ＤＥＬ、ＰＨ，ＥＮＤ・・・遅延インデックス信号、Ｄ
ＥＬ、Ｌ、 ＩＮＤ・・・遅延イン・デックスコード
。 Δｔ、Ｔｏ・・・遅延時間。
の実施例におけるタイムチャート、第２図は第１図に対
するハード構成図、第３図は、第１図および第２図に対
するプログラムのフローチャート、第４図（ａ）、（ｂ
）および＜ｃ）は、磁気ディスフ装置のトランクとセク
タを示す図、第５図は磁気ディスク装置のアナログテス
トのコードを示す図、第６図は、従来のアナログテスト
のハード構成図、第７図は、従来の磁気ディスク装置の
検査方式におけるアナログテストのフローチャートであ
る。 １・・・イニシャライザ（ＩＮＴＩ）、２．６・・・コ
ントローラ（ＣＯＮＴ）、３・・−ヘッド・ディスクア
ッセンブリ（ＨＤＡ）、４・・・パスライン（ＢＵＳ）
、 ５・・・ホストコンピュータ、（Ｈ，ＣＯＭＰ）。 ＤＩ・・・磁気ディスク、 Ｔ・・・トラック、Ｓ・・
・セクタ、 Ｈ・・・磁気ヘッド、Ｃ・・・シ
リンダ、 Ｄ・・・データフィールド、（：”
＋ 、Ｃ２・・・制御コードフィールド、ＴＮＤ・・・
インテ・ソクス。 ＰＨ，ＩＮＤ・・・インテ・ソクス信号、Ｌ、ＥＮＤ・
・・インデックスコード。 ＤＥＬ、ＰＨ，ＥＮＤ・・・遅延インデックス信号、Ｄ
ＥＬ、Ｌ、 ＩＮＤ・・・遅延イン・デックスコード
。 Δｔ、Ｔｏ・・・遅延時間。
Claims (2)
- （１）、ディスク表面のトラックのインデックスを基準
として、制御コードフィールドおよびデータフィールド
よりなるセクタに区分した磁気ディスクの複数枚をサー
ボ用の磁気ディスクとともに積層したディスクパックと
、各磁気ディスクに対応した磁気ヘッドとにより構成さ
れたヘッド・ディスクアッセンブリに対して、イニシャ
ライザより上記データフィールドにテストコードを書き
込み／読み出して行う上記アッセンブリの検査において
、上記サーボ用の磁気ディスクの回転によりえられる、
上記インデックスの信号を上記イニシャライザに入力し
て、該インデックス信号および該インデックス信号に対
して一定のバイト数に相当する時間を遅延した遅延イン
デックス信号とを出力して、それぞれ上記データフィー
ルドおよび遅延データフィールドを設定し、該設定され
たデータフィールドに対して上記テストコードによる第
１のテストを行い、さらに該遅延データフィールドに対
して上記テストコードによる第２のテストを行うことを
特徴とする、磁気ディスク装置の検査方式。 - （２）、上記インデックス信号により設定される制御コ
ードフィールドの位置をカバーするトラック位置に上記
遅延データフィールドを設定できる、上記一定のバイト
数に相当する時間を遅延した遅延インデックス信号とす
る、特許請求の範囲第１項記載の磁気ディスク装置の検
査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8343587A JPS63249978A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 磁気デイスク装置の検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8343587A JPS63249978A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 磁気デイスク装置の検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63249978A true JPS63249978A (ja) | 1988-10-17 |
Family
ID=13802353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8343587A Pending JPS63249978A (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | 磁気デイスク装置の検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63249978A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008192220A (ja) * | 2007-02-02 | 2008-08-21 | Showa Denko Kk | 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
| JPS61229273A (ja) * | 1985-04-03 | 1986-10-13 | Nec Corp | 磁気デイスク媒体欠陥検出方式 |
| JPS62212976A (ja) * | 1986-03-12 | 1987-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気記録イニシヤライズ装置 |
-
1987
- 1987-04-03 JP JP8343587A patent/JPS63249978A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
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| JPS62212976A (ja) * | 1986-03-12 | 1987-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気記録イニシヤライズ装置 |
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| JP2008192220A (ja) * | 2007-02-02 | 2008-08-21 | Showa Denko Kk | 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法 |
| US7936529B2 (en) | 2007-02-02 | 2011-05-03 | Showa Denko K.K. | Testing apparatus for magnetic recording medium and testing method for magnetic recording medium |
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