JPH0447762Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0447762Y2 JPH0447762Y2 JP6370985U JP6370985U JPH0447762Y2 JP H0447762 Y2 JPH0447762 Y2 JP H0447762Y2 JP 6370985 U JP6370985 U JP 6370985U JP 6370985 U JP6370985 U JP 6370985U JP H0447762 Y2 JPH0447762 Y2 JP H0447762Y2
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- JP
- Japan
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- track
- magnetic disk
- magnetic
- tracks
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- Expired
Links
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 12
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910001566 austenite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910001234 light alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
〔概要〕
複数個の磁気ヘツドとヘツド選択回路との間に
切換え回路を設け、複数個の磁気ヘツドとヘツド
選択回路とを接続する信号線の切り換えを行うこ
とによつて、無欠陥トラツクの構成に関する要件
を容易に満たせるようにした。
切換え回路を設け、複数個の磁気ヘツドとヘツド
選択回路とを接続する信号線の切り換えを行うこ
とによつて、無欠陥トラツクの構成に関する要件
を容易に満たせるようにした。
本考案は、複数個のデータ記憶領域すなわち複
数個の磁気ヘツドを備える磁気デイスク装置に関
するものである。
数個の磁気ヘツドを備える磁気デイスク装置に関
するものである。
磁気デイスク装置は、ランダムアクセス性のた
めアクセス時間が短いこと、情報のビツト当たり
の価格が比較的安いこと、情報の信頼性が比較的
高いこと、などの理由によつて電子計算機の補助
記憶装置として最も多く用いられており、各種の
データの他、オペレーテイングシステムOSを起
動させるためのプログラムの記憶にも利用されて
いる。
めアクセス時間が短いこと、情報のビツト当たり
の価格が比較的安いこと、情報の信頼性が比較的
高いこと、などの理由によつて電子計算機の補助
記憶装置として最も多く用いられており、各種の
データの他、オペレーテイングシステムOSを起
動させるためのプログラムの記憶にも利用されて
いる。
記憶容量等に応じて何枚かの磁気デイスクを備
え、一般に、その両面をデータ記録面とし各デー
タ記録面毎に磁気ヘツドを備えているが、各デー
タ記録面を複数の領域に分割し別々の磁気ヘツド
によつて書込み読取りを行うものもある。
え、一般に、その両面をデータ記録面とし各デー
タ記録面毎に磁気ヘツドを備えているが、各デー
タ記録面を複数の領域に分割し別々の磁気ヘツド
によつて書込み読取りを行うものもある。
このため磁気デイスク装置のデータ記憶領域は
データ記録面の数ではなくデータ記憶領域の数に
よつて管理され、それぞれのデータ記憶領域およ
び磁気ヘツドには、例えば１から始まる番号が与
えられ、また、データ記録面のトラツクには各デ
ータ記憶領域毎に例えば１から始まる番号が与え
られ、同一番号のトラツクに対し各磁気ヘツドが
同時に位置決めできるように構成されている。
データ記録面の数ではなくデータ記憶領域の数に
よつて管理され、それぞれのデータ記憶領域およ
び磁気ヘツドには、例えば１から始まる番号が与
えられ、また、データ記録面のトラツクには各デ
ータ記憶領域毎に例えば１から始まる番号が与え
られ、同一番号のトラツクに対し各磁気ヘツドが
同時に位置決めできるように構成されている。
前記オペレーテイングシステム起動のためのプ
ログラムは、初期プログラムロード（IPL）によ
つて電子計算機にロードされるのであるが、ロー
ド時間を短縮するため、通常磁気デイスク上の最
初に読み出されるトラツク、すなわち第一トラツ
クに記憶するようにしている。
ログラムは、初期プログラムロード（IPL）によ
つて電子計算機にロードされるのであるが、ロー
ド時間を短縮するため、通常磁気デイスク上の最
初に読み出されるトラツク、すなわち第一トラツ
クに記憶するようにしている。
一方、磁気デイスク装置の記録媒体すなわち磁
気デイスクには、針状磁性粒子γ−Fe2O3等をバ
インダと混合し軽合金円板上に塗布したものが用
いられているが、全面にわたつて不良部分を皆無
にすることは製造コストの面から現状では事実上
不可能に近い。
気デイスクには、針状磁性粒子γ−Fe2O3等をバ
インダと混合し軽合金円板上に塗布したものが用
いられているが、全面にわたつて不良部分を皆無
にすることは製造コストの面から現状では事実上
不可能に近い。
したがつて、磁気デイスク記憶装置として組み
立てたあと、たとえば不良ビツトの有無をトラツ
ク単位に検査し、不良ビツトが発見されたトラツ
クは不良トラツクとして識別し、これを使用せず
に次のトラツクを使用する（デイフエクトスキツ
ピング）等の手法が用いられている。
立てたあと、たとえば不良ビツトの有無をトラツ
ク単位に検査し、不良ビツトが発見されたトラツ
クは不良トラツクとして識別し、これを使用せず
に次のトラツクを使用する（デイフエクトスキツ
ピング）等の手法が用いられている。
しかし、前記のような理由によつて、第一トラ
ツクに対しては不良ビツトが全く無い無欠陥トラ
ツクであることを要求される場合が多い。
ツクに対しては不良ビツトが全く無い無欠陥トラ
ツクであることを要求される場合が多い。
また、オペレーテイングシステム起動プログラ
ムが１トラツクに収用できず、複数トラツクが必
要になる場合には、複数本の第一トラツクが用い
られることになるが、この場合には、１から始ま
つて連続する番号のデータ記憶領域の第一トラツ
クが用いられる。
ムが１トラツクに収用できず、複数トラツクが必
要になる場合には、複数本の第一トラツクが用い
られることになるが、この場合には、１から始ま
つて連続する番号のデータ記憶領域の第一トラツ
クが用いられる。
従つて、磁気デイスク記憶装置においては、例
えば１から始まつて連続するいくつかのデータ記
憶領域の第一トラツクがすべて無欠陥トラツクで
あるように構成されることが重要な条件にされて
いる。
えば１から始まつて連続するいくつかのデータ記
憶領域の第一トラツクがすべて無欠陥トラツクで
あるように構成されることが重要な条件にされて
いる。
無欠陥トラツクに対する要件を満たすため、従
来、磁気デイスク記憶装置を組み立てたあと、ま
ず最初に１から始まつて連続する所定数のデータ
記憶領域の第一トラツクの検査を行い、不良トラ
ツクが検出された場合には、(a)不良トラツクの発
見された磁気デイスクを他の磁気デイスクと交換
する。(b)サーボトラツクを書き替えることによ
り、データトラツクを半径方向に微少距離シフト
させる、等の方法が用いられている。
来、磁気デイスク記憶装置を組み立てたあと、ま
ず最初に１から始まつて連続する所定数のデータ
記憶領域の第一トラツクの検査を行い、不良トラ
ツクが検出された場合には、(a)不良トラツクの発
見された磁気デイスクを他の磁気デイスクと交換
する。(b)サーボトラツクを書き替えることによ
り、データトラツクを半径方向に微少距離シフト
させる、等の方法が用いられている。
上記従来例には何れも工数を必要とするいう問
題点があり、したがつて本考案の目的は無欠陥ト
ラツクに関する要件を満たすために必要とされる
工数を排除しコストダウンを図ることにある。
題点があり、したがつて本考案の目的は無欠陥ト
ラツクに関する要件を満たすために必要とされる
工数を排除しコストダウンを図ることにある。
第１図は本考案の原理ブロツク図であり、
１１〜１ｎはｎ個所のデータ記憶領域の各々に
対応して設けられるｎ個の磁気ヘツド、 ２は、外部から与えられたアドレスによつて複
数の磁気ヘツド１１〜１ｎの中の一つを選択する
ヘツド選択回路、 ３は、複数の磁気ヘツド１１〜１ｎとヘツド選
択回路２との間に設けられ、複数本の信号線の接
続を切り換える切換え回路である。
対応して設けられるｎ個の磁気ヘツド、 ２は、外部から与えられたアドレスによつて複
数の磁気ヘツド１１〜１ｎの中の一つを選択する
ヘツド選択回路、 ３は、複数の磁気ヘツド１１〜１ｎとヘツド選
択回路２との間に設けられ、複数本の信号線の接
続を切り換える切換え回路である。
すなわち、磁気デイスク記憶装置の組立てが終
わつたあと、最初はｎ個の磁気ヘツド１１〜１ｎ
が、それぞれ、ヘツド選択回路２の端子T1〜Tn
に正順に接続されるように切換えスイツチ３を切
換えておき、この状態で無欠陥トラツクに関する
要件を満たしているか否かの検査を行い、満たさ
れていない場合には、切換えスイツチ３を切り換
えて、ｎ個の磁気ヘツド１１〜１ｎとヘツド選択
回路２の端子T1〜Tnとの接続を逆順に変更し、
再度無欠陥トラツクの要件の検査を行う。
わつたあと、最初はｎ個の磁気ヘツド１１〜１ｎ
が、それぞれ、ヘツド選択回路２の端子T1〜Tn
に正順に接続されるように切換えスイツチ３を切
換えておき、この状態で無欠陥トラツクに関する
要件を満たしているか否かの検査を行い、満たさ
れていない場合には、切換えスイツチ３を切り換
えて、ｎ個の磁気ヘツド１１〜１ｎとヘツド選択
回路２の端子T1〜Tnとの接続を逆順に変更し、
再度無欠陥トラツクの要件の検査を行う。
第２図はデータ記憶領域が８個所の場合すなわ
ちデータ書込み読取り用の磁気ヘツドが８個の場
合の実施例の構成図であり、切換え回路３は８回
路の２接点切換えスイツチによつて構成され、図
示のように、８本の信号線の接続を正順と逆順と
に切り換えられるように接続されている。
ちデータ書込み読取り用の磁気ヘツドが８個の場
合の実施例の構成図であり、切換え回路３は８回
路の２接点切換えスイツチによつて構成され、図
示のように、８本の信号線の接続を正順と逆順と
に切り換えられるように接続されている。
すなわち、最初は磁気ヘツド１１〜１ｎを、図
示のらうに選択回路２の端子T1〜T8に対し正順
に接続しておき、無欠陥トラツクの要件が満たさ
れない場合には、この接続を逆順に切り換える。
示のらうに選択回路２の端子T1〜T8に対し正順
に接続しておき、無欠陥トラツクの要件が満たさ
れない場合には、この接続を逆順に切り換える。
例えば、４本の第一トラツクを無欠陥トラツク
する要求があつた場合、１〜４の４個所のデータ
記憶領域の第一トラツク中に不良トラツクが検出
された場合、５〜８の４個所のデータ記憶領域の
第一トラツク中に不良トラツクが生ずる確立は非
常に少ない。従つて、８個の磁気ヘツド１１〜１
ｎと選択回路２との間の信号線を逆順に切り換え
ることによつて、無欠陥トラツクに関する要件を
満たせる確立は非常に高い。
する要求があつた場合、１〜４の４個所のデータ
記憶領域の第一トラツク中に不良トラツクが検出
された場合、５〜８の４個所のデータ記憶領域の
第一トラツク中に不良トラツクが生ずる確立は非
常に少ない。従つて、８個の磁気ヘツド１１〜１
ｎと選択回路２との間の信号線を逆順に切り換え
ることによつて、無欠陥トラツクに関する要件を
満たせる確立は非常に高い。
以上説明したように、本考案によれば、無欠陥
トラツクに関する要件を容易に満たすことができ
るので、磁気デイスク記憶装置の製造コストを逓
減することができる。
トラツクに関する要件を容易に満たすことができ
るので、磁気デイスク記憶装置の製造コストを逓
減することができる。
第１図は本考案の原理ブロツク図、第２図は実
施例の構成図である。 図中、１１〜１ｎは磁気ヘツド、２はヘツド選
択回路、３は切換え回路である。
施例の構成図である。 図中、１１〜１ｎは磁気ヘツド、２はヘツド選
択回路、３は切換え回路である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の磁気ヘツド１１〜１ｎと外部から与え
られたアドレスによつて複数の磁気ヘツド１１
〜１ｎの一つを選択するヘツド選択回路２とを
備え磁気デイスク上でデータの読取り書込みを
行う磁気デイスク装置において、 前記複数の磁気ヘツド１１〜１ｎと前記ヘツ
ド選択回路２との間に設けられて複数本の信号
線の接続を切り換える切換え回路３を設けたこ
とを特徴とする磁気デイスク記憶装置。 (2) 前記切換え回路３は前記複数本の信号線の接
続を正順と逆順とに切り換えるものであること
を特徴とする実用新案登録請求の範囲第(1)項記
載の磁気デイスク記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6370985U JPH0447762Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6370985U JPH0447762Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61182909U JPS61182909U (ja) | 1986-11-14 |
| JPH0447762Y2 true JPH0447762Y2 (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=30594115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6370985U Expired JPH0447762Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0447762Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0321939Y2 (ja) * | 1986-11-21 | 1991-05-14 |
-
1985
- 1985-04-27 JP JP6370985U patent/JPH0447762Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61182909U (ja) | 1986-11-14 |
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